JPH11317193A - イオントラップを利用した質量分析方法 - Google Patents

イオントラップを利用した質量分析方法

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JPH11317193A JP11054372A JP5437299A JPH11317193A JP H11317193 A JPH11317193 A JP H11317193A JP 11054372 A JP11054372 A JP 11054372A JP 5437299 A JP5437299 A JP 5437299A JP H11317193 A JPH11317193 A JP H11317193A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 イオントラップをＭＳ／ＭＳと呼ばれる動作
モードで動作させる新しい方法を提供する。 【解決手段】 トラッピング電解でトラップ空間の中に
捕捉された、質量対電荷量比が所定範囲内にあるイオン
を検出する方法であって、前記トラッピング電界に重畳
する補助交流電界を加え、その混合された電界が前記質
量対電荷量比が所定範囲内にあるイオンを捕捉し、その
後、前記混合された電界を走査して前記トラップ空間か
ら連続する質量対電荷量比のイオンを放出し、前記放出
されたイオンを検出する、ことから成る方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、イオントラップをＭＳ
／ＭＳモードで使用する方法に関するものである。
【０００２】
【発明が解決しようとする問題点】イオントラップ質量
分析計、すなわち四極子イオン貯蔵装置は、かなり前か
ら知られており、解説書も多数ある。これらは、無線周
波数（ＲＦ）、直流（ＤＣ）およびそれらの組合せ等の
静電界を用いた物理的構造の中でイオンを作り、貯蔵す
る装置である。一般に、４極子電界は、双曲線電極構造
または同等な４極子トラッピング電界を発生する球形電
極構造を使用してイオン貯蔵領域を提供する。
【０００３】一般に、質量貯蔵は、質量対電荷量比が有
限範囲内にあるイオンが、装置内部で安定して捕捉され
るように設定したＲＦ電圧Ｖ、その周波数ｆ、直流電圧
Ｕ、および装置サイズｒ0 の値でトラップ電極を動作さ
せることによって行なわれる。上記のパラメータは、操
作パラメータと呼ばれることもあり、捕捉されたイオン
の質量対電荷量比と一定の関係がある。捕捉されたイオ
ンについては、質量対電荷量比の各値に対し明確な固有
振動数（secuiar frequency)がある。イオンを検出する
一方法では、これらの固有振動数をトラップ内のイオン
の振動連動に結合する周波数共振回路で測定したあと、
改良された分析技術を用いて質量対電荷量比を求めるこ
とができる。
【０００４】イオントラップ質量分析計とそれを使用し
て試料の質量分析を行なう方法がかなり以前より知られ
ていたにもかかわらず、最近まで普及しなかったのは、
質量選別技術が十分であいこと、実施が難かしいこと、
質量分析結果が劣ること、さらに質量範囲に制限がある
ことのためである。新しいイオントラップ動作方法（米
国特許第2,939,952 号、同特許出願第453,351 号）は、
過去の制約の大部分を克服したものであり、イオントラ
ップ検出装置と呼ばれる製品として評判を得ている。
【問題点を解決するための手段】本発明の目的は、イオ
ントラップをＭＳ／ＭＳと呼ばれる動作モードで動作さ
せる新しい方法を提供することである。
【０００５】本発明に従って提供される、イオントラッ
プをＭＳ／ＭＳモードで使用する新しい方法は、イオン
トラップ内でイオンを作って貯蔵すること、それらを質
量分析計で質量選別を行なうこと、ガスまたは表面によ
る衝突を用いてそれらを解離すること、および質量すな
わちエネルギー分析計によってイオン片を分析すること
の諸ステップから成っている。
【０００６】
【実施例】図１を参照すると、３次元イオントラップ１
０は、リング電極１１と互いに向い合った２つのエンド
・キャップ１２、１３を備えている。リング電極１１に
接続された無線周波数（ＲＦ）電圧発生器１４は、エン
ドキャップとリング電極の間に無線周波数電圧Ｖsin wt
（基本ＲＦ電圧）を供給して、イオン貯蔵領域すなわち
半径ｒ0 と垂直寸法Ｚ0 (Z0 2＝ｒ0 2 ／２）を有する空
間１６内にイオンを捕える４極子電界を発生させる。捕
捉に必要な電界は、図示のように結合変成器３２を介し
て同相接地されたキャップ電極１２、１３とリング電極
１１との間にＲＦ電圧を印加して形成される。エンドキ
ャップ２２、２３に接続された補助ＲＦ電圧発生器３５
は、両エンドキャップ間に無線周波数電圧Ｖ2 sin w2t
を供給し、捕択したイオンをその主軸共振周波数で共振
させる。イオン貯蔵領域１６に導入された試料分子をイ
オン化するために、フィラメント電源１８に接続され、
イオン化電子ビームを発生するフィラメント１７が設置
されている。円筒形ゲート電極とレンズ１９は、フィラ
メントレンズ制御器２１で駆動される。ゲート電極は、
所望通り電子ビームをゲートするオンオフ制御を行な
う。エンドキャップ１２には、電子ビームが通過する開
口が設けられている。反対側のエンドキャップ１３には
多数の孔があけられている。それらの孔を通って出たイ
オントラップ電界内の不安定イオンは、電子増倍管２４
が検出して線２６にイオン信号を発生する。線２６上の
信号は、静電電位計２７によって電流から電圧に変換さ
れる。この信号は、装置２８によって加算されたあと記
憶され、装置２９によって処理される。制御器３１は、
基本ＲＦ電圧発生器１４に接続されていて、質量選別の
ため、基本ＲＦ電圧の大きさと（または）周波数を変化
させる。また、制御器３１は、補助ＲＦ電圧発生器３５
にも接続されていて、補助ＲＦ電圧の大きさと（また
は）周波数を変化させる、すなわちゲートする。また、
制御器３１は、線３２を通じて、フィラメントレンズ制
御器２１をゲートし、走査時間以外の時間だけイオン化
電子ビームを供給する。イオントラップの機械的細部構
造は、たとえば米国特許第2,939,952 号、最近のもので
は本出願人による米国特許出願第454,351 号に記載され
ている。
【０００７】イオントラップ１０の対称電界により図２
に示すような周知の安定度グラフが得られる。図２のパ
ラメータａとｑは、次式で定義される。
【０００８】ａ＝−８ｅＵ／mr0 2ｗ2 ｑ＝４ｅＶ／mr0 2ｗ2 ここで、ｅとｍは、それぞれ荷電粒子の電荷量と質量で
ある。任意の特定イオンについて、もしそのイオンがイ
オントラップの４極子電界内に捕捉されるものであれ
ば、ａとｑの値は、安定包絡線内になければならない。
【０００９】荷電粒子が前述の３次元４極子電界内でと
る軌道の形は、安定度グラフの上に位置するように、粒
子の比質量ｍ／ｅと、電界パラメータＵ、Ｖ、ｒ0 、ｗ
がどのように組み合わされるかによって決まる。もし走
査パラメータが安定包絡線の内側に位置するように組み
合わされれば、一定の粒子は形成された電界内で安定軌
道をとる。３次元４極子電界内で安定軌道をとる荷電粒
子は、電界の中心まわりの周期的軌道に拘束され、この
ような粒子は、電界によって捕捉されたと考えることが
できる。もし、粒子ｍ／ｅについて、Ｕ、Ｖ、ｒ0 およ
びｗが安定度グラフの安定包絡線の外側に位置するよう
に組み合わされれば、その一定の粒子は形成された電界
内で不安定な軌道をとる。３次元４極子電界内で不安定
な軌道をとる粒子は、電界の中心から偏れていき、時間
の経過と共に無限大に近ずく。このような粒子は、電界
から離脱していると考えられ、したがって捕捉できない
とみなされる。
【００１０】Ｕ、Ｖ、ｒ0 、およびｗで定義される３次
元４極子電界に対して、全ての可能な質量対電荷量比の
軌跡は、原点を通り勾配が−２Ｕ／Ｖの１本の直線とし
て安定度グラフ上に描かれる（この軌跡は、走査線とも
呼ばれる）。全ての可能な質量対電荷量比の軌跡のうち
安定領域内に位置する部分は、粒子が加えた電界内に捕
択されるべきものであれば、その粒子がとることのでき
る質量対電荷量比の領域を規定する。ＵとＶの大きさを
適当に選ぶことによって、捕捉可能な粒子に対する比質
量の範囲を選択することができる。もし、可能な比質量
の軌跡が安定領域の頂点を通るように（図２の直線Ａ）
ＵとＶの比を選べば、非常に限られた範囲内の比質量を
もつ粒子のみが安定軌道をとるであろう。これに対し、
可能な比質量の軌跡が安定領域の中央を通るように（図
２の直線Ｂ）、ＵとＶの比を選べば、広い範囲の比質量
をもつ粒子が安定軌跡をとるであろう。
【００１１】本発明によれば、上述形式のイオントラッ
プは、以下のように操作される。まず電子のバーストを
フィラメント１７からトラップの中にゲートすることに
よってトラップの空間１６内にイオンが作られる。所望
する質量または質量範囲のイオンは安定であるが、他の
全てのイオンは不安定であり、トラップ構造から追い出
されるように、ＤＣおよびＲＦ電圧が３次元電極構造に
印加される。このステップは、捕捉されたイオンが図２
の安定度グラフの原点を通る水平線上にあるように（ａ
＝０）、ＲＦ電圧のみを使って実施することができる。
次に電子ビームが遮断され、この過程を通じて捕捉され
た全ての安定イオンの軌跡が安定度グラフの安定領域の
内側にとどまるようなやり方で、Ｕが０にあるまでトラ
ッピング電圧が下げられる。関心のあるイオンばかりで
なく、以下に延べる次の解離過程においてそれらから生
じた全てのイオン片も捕捉されたままであるように、ｑ
の値を減少させ十分低くしなければならない（質量対電
荷量が小さいことは、ｑ値が大きいことを意味するから
である）。
【００１２】解離過程では、関心のあるイオンがイオン
片に解離され、それらがトラップ内に、すなわち図２の
安定領域内に残るように、ガスと衝突させられる。破砕
すべきイオンは、ガスとの衝突によって破砕されるだけ
の十分なエネルギーを有しているとは限らないので、シ
ステムがイオンの破砕を引き起す十分なエネルギーをも
っているように、関心のあるイオンにエネルギーを付与
するか、あるいは高エネルギー状態すなわち励起された
中性粒子と衝突させる必要があるかもしれない。解離の
あと、イオン片は、検出のため、図２の水平線（ａ＝
０）に沿ってＲＦ電圧によりイオントラップから追い出
される。
【００１３】上記ステップにおいて、活動的中性粒子
は、既知のどの方法を用いて作ってもよい。アルゴンま
たはヘキサノンの励起された中性粒子を適当な時間にパ
ルス駆動されたガンから注入してもよいし、代りに放電
源を使用してもよい。また、イオンもしくは中性粒子の
どちらかを介してシステムにエネルギーを供給するため
レーザーパルスを使用してもよい。
【００１４】次に、ニトロベンゼンイオン（分子量Ｍ＝
１２３、電離度Ｚ＝１）のケースにおいて、背景ガスた
とえばアルゴンと衝突させることにより親イオンの解離
を生じさせたとき、イオン片（娘イオン）、イオン片の
イオン片（孫娘イオン）等が生じたことも判定するいく
つかの実験結果を示す。得られたイオンは、イオントラ
ップから出され、それらの質量スペクトルを求めるため
走査される。
【００１５】図３Ａは、ニトロベンゼンの電子イオン化
質量スペクトログラムである。線Ｍ／Ｚ＝１２４は、光
子をＭ／Ｚ＝１２３に加えるイオン分子反応によって生
じる。
【００１６】Ｕ＝０、アルゴンの圧力が１×１０-4トル
の状態のモードで動作中、最初に、１２０以上のＭ／Ｚ
を有するイオンのみが、試料のイオン化が終ったとき、
イオントラップ内に貯蔵されるように、ＲＦ電圧を調整
した。次に、カットオフ値（この値より大きいＭ／Ｚを
有するイオンは、イオントラップの中で捕捉される、す
なわち安定である）がＭ／Ｚ＝２０であるように、ＲＦ
電圧を下げた。イオン化後、イオントラップの中に捕捉
されて残ったＭＺ＝１２３を有する親イオンは、アルゴ
ンの背景ガスと衝突して、解離された。次に、ＲＦ電圧
を上げて走査し、図３Ｂに示す質量スペクトログラムを
得た。この質量スペクトログラムは、Ｍ／Ｚ＝１２３を
有する親イオンからイオン片が生じたことを表わしてい
る。 ＲＦ電界などＡＣ電界を重畳することにより、い
ろいろな新しい走査モードが可能である。イオントラッ
プ内に貯蔵された任意のイオンについて、任意の空間座
標における偏位は、時間の周期関数の合成でなければな
らない。もし、個々のイオン粒子について運動の部分振
動数のどれかに一致する補助ＲＦ電圧を印加すれば、そ
のイオンはその座標に沿って増大した振幅で振動し始め
るであろう。イオンは、トラップから放出されるか、電
極に当るか、それとも十分な圧力の試料または減衰用不
活性ガスの存在のもとで補助ＲＦ電位の印加前よりも大
きな平均偏位の安定軌道をトラップ内でとるかもしれな
い。もし、補助ＲＦ電圧を限られた時間印加すれば、低
い圧力状態のもとであっても安定軌道をとることがてで
きる。
【００１７】図４は、ノッチフィルタモードのとき使用
することができるプログラムを示す。この図を参照する
と、期間Ａにおいて関心のある質量範囲のイオンが作ら
れたあと貯蔵される。次に、一定値以下のＭ／Ｚの全て
のイオンを追い出すため、リング電極に印加される基本
ＲＦ電圧が増加される。そのあと、基本ＲＦ電圧は、別
の一定値以上のＭ／Ｚの全てのイオンを捕捉する一定レ
ベルに保たれる（期間Ｄ）。次に、両エンドキャップ間
に適当な周波数と大きさの補助ＲＦ電圧が印加され、特
定のＭ／Ｚ値の全てのイオンがトラップから追い出され
る。次に、補助ＲＦ電圧がターンオフされたあと、トラ
ップ内になお残っているイオンの質量スペクトルを得る
ため、基本ＲＦ電圧が走査される（期間Ｅ）。
【００１８】図５Ａは、ヘキサノンのスペクトルを示
す。このケースでは、図４と同様に、基本ＲＦ電圧が走
査されるが、補助ＲＦ電圧は使用されない。図５Ｂは、
期間ＤにおいてＭ／Ｚ−１３１のイオンを追い出すため
適当な周波数と大きさの補助ＲＦ電圧が使用されている
ことを除いて同じ条件のもとで得られたスペクトルを示
す。図５Ｂは、上記のイオンの大部分がトラップから除
去されたことを示している。ノッチフィルタモードを実
際に使うには多くのやり方がある。たとえば、イオン化
期間は、補助ＲＦ電圧をターンオンし、他の全ての時間
はターンオンすれば、大量に存在するイオンが追い出さ
れるのでわずかに存在するイオンの調査は容易になるで
あろう。
【００１９】基本ＲＦ電圧またはその関連ＤＣ成分が一
定レベルに維持される期間でなく、走査される期間にお
いて、補助電界を使用すれば、別の有効な走査モードが
可能である。たとえば、もし、期間Ｅ（期間Ｄの代り
に）のとき十分な振幅と一定の周波数の補助電圧をター
ンオンすれば、基本ＲＦ電圧により、補助電圧の周波数
に一致する共振振動が各イオン粒子内に連続的に発生す
るので、トラップから連続的にイオンが放出される。こ
のように、基本ＲＦ電圧の減少した最大値により、特定
範囲のＭ／Ｚ値について質量スペクトルを得ることがで
きる、すなわち、基本ＲＦ電圧の一定の最大値に対し、
より大きな最大Ｍ／Ｚ値を達成することができる。通常
の走査モードにおける質量範囲は、基本ＲＦ電圧の最大
達成可能値によって制限されるから、補助ＲＦ電圧によ
って装置の質量範囲が拡張される。また、補助ＲＦ電圧
の周波数を走査することによって、有効な走査モードが
可能である。たとえば、基本ＲＦ電圧を固定しておいて
補助ＲＦ電圧の周波数を走査することができる。これ
は、期間Ｅを除いて、期間Ｄのとき補助ＲＦ電圧の周波
数を走査するようにした図４に相当する。イオンが連続
的に共振されるので、質量スペクトルが得られる。この
動作モードにおいては、高い質量分解能が可能である。
また、基本ＲＦ電圧が一定であるため、拡張された質量
範囲が得られる。
【００２０】補助ＲＦ電圧が存在することによって、共
振もしくはそれに近い状態でイオンの破砕を引き起すこ
とができる。図６Ａは、図４の走査プログラムにより、
ただし補助ＲＦ電圧なしで得られたニトロベンゼンの質
量スペクトル（１×10-3トルのヘリウムを用いて）を示
す。Ｍ／Ｚが１１８以下の全てのイオンは、周期Ｂへの
前およびその間に追い出されるから、Ｍ／Ｚ＝９３にお
ける小ピークは、周期Ｂのあとであって、周期Ｅにおい
てＭ／Ｚ＝９３のイオンが放出される前に形成されたに
違いない。図６Ｂは、周期ＤのときＭ／Ｚ＝１２３の共
振周波数で補助ＲＦ電圧を印加したことを除いて同一条
件のもとで得られたスペクトルを示す。この質量スペク
トルは、Ｍ／Ｚ＝９３と６５における大量の破砕を示し
ている。同様に、図６Ｃは、Ｍ／Ｚが８８以上の全ての
イオンが期間Ｂの前およびその間に放出されたことを除
いて、図６Ａと同じ条件のもとで得たものである。図６
Ｄは、期間ＤのときＭ／Ｚ＝９３の共振周波数で補助Ｒ
Ｆ電圧を印加したことを除いて図６Ｃと同じ条件のもと
で得られたものである。この質量スペクトルは、Ｍ／Ｚ
＝６５における大量の破砕を示している。
【００２１】補助ＲＦ電圧により娘イオンが生じ、次
に、娘イオンが共振状態になるように、基本ＲＦ電界ま
たは補助ＲＦ電界の電圧もしくは周波数などの条件を調
節することによって、これらの娘イオンから孫娘イオン
が生じるような逐次実験が可能である。図７は、娘イオ
ンを作ることができる独自の方法を示す。補助ＲＦ電圧
は、一定のままであるが、娘イオンが発生するように個
々の親イオンを共振させるため、期間ＤＡのとき、基本
ＲＦ電圧が調節される。次に孫娘イオンが発生するよう
に個々の娘イオンを共振させるため、期間ＤＢのとき、
基本ＲＦ電圧が調節される。図８Ａは、補助ＲＦ電圧を
使っていないことを除いて、図７の走査プログラムを使
って得たｎ−ヘプタンのスペクトルを示す。Ｍ／Ｚが９
５以下のすべてのイオンは期間Ｂの前およびその間に放
出されるので、Ｍ／Ｚ＝７０、７１における小ピーク
は、期間Ｂのあとに形成されたイオンによるものに違い
ない。図８Ｂは、補助ＲＦ電圧の周波数をＭ／Ｚ＝１０
０の共振周波数にして、図４の走査プログラムを使って
得たものである。Ｍ／Ｚ＝７０、７１において大量の娘
イオンが見られ、またＭ／Ｚ＝５５、５６、５７におけ
る微弱なピークもはっきりわかる。図８Ｃは、補助ＲＦ
電圧を使ったことを除き、図８Ａのとき使った走査プロ
グラムで得たものである。期間ＤＡとＤＢにおける基本
ＲＦ電圧および補助ＲＦ電圧の周波数は、娘イオンが発
生するように、期間ＤＡにおいてＭ／Ｚ＝１００が共振
状態であるように、選んだ。期間ＤＡのとき発生したＭ
／Ｚ＝７０の個々の娘イオンから孫娘イオンが発生する
ように期間ＤＢにおいて共振状態にされた。これらの孫
娘イオンは、図８ＣにおいてＭ／Ｚ＝５５、５６、５７
における増大したピークの強さから明らかである。図８
Ｄは、期間ＤＡにおいてＭ／Ｚ＝１００が共振状態であ
り、期間ＤＢにおいてＭ／Ｚ＝７１が共振状態にあるこ
とを除いて、図８Ａに類似した図である。
【００２２】逐次娘走査は、他の多くの方法を用いて実
施できる。たとえば、補助ＲＦ電圧を変化させる代り
に、補助ＲＦ電圧の周波数を変化させてもよい。また、
娘イオンが発生したあと、孫娘イオンが発生する前に、
不用のイオンをトラップから追い出すことができる。も
ちろん、基本ＲＦ電圧もしくは補助ＲＦ電圧の周波数を
逐次変化させ、連続する破砕の生成物を共振させること
によって、その次の破砕を引き起すことができる。
【００２３】以上により、限られた数の実例についての
み本発明を説明したが、本発明の範囲内で、なお、それ
らに対しなし得るさまざまな修正が考えられる。たとえ
ば、印加するＲＦ電圧は正弦波である必要はなく、周期
的でありさえすればよい。異なる安定度グラフができる
であろうが、その一般的特性は、走査線を含め、類似し
ている。言い替えると、ＲＦ電圧は、方形波、三角形波
等で構成することができよう。それでも、４極子イオン
トラップは、順次同様に動作するであろう。以上、イオ
ントラップの側面を双曲線として述べたが、イオントラ
ップを円筒形すなわち円筒トラップ側面で作ることもで
きる。近似的３次元４極子電圧を発生するものであれ
ば、どの電極構造でも使うことができよう。本発明の範
囲は、特許請求の範囲によってのみ限定される。
【図面の簡単な説明】
【図１】４極子イオントラップの略図と本発明の方法に
従って使用されるように構成された関連電荷回路のブロ
ック図である。
【図２】図１に示した形式のイオン貯蔵装置の安定度包
絡線を示すグラフである。
【図３Ａ】本発明の方法を用いて、ニトロベンゼン試料
について一連の実験で得られたスペクトログラムを示す
グラフである。
【図３Ｂ】本発明の方法を用いて、ニトロベンゼン試料
について一連の実験で得られたスペクトログラムを示す
グラフである。
【図４】ノッチフィルタ走査モードの場合に、補助電圧
について使用することができるプログラムを示すタイム
チャートである。
【図５Ａ】図４の方法を用いて、ヘキサノン試料で得ら
れたスペクトログラムを示すグラフである。
【図５Ｂ】図４の方法を用いて、ヘキサノン試料で得ら
れたスペクトログラムを示すグラフである。
【図６Ａ】図４の方法を用いて、ニトロベンゼン試料で
得られたスペクトログラムを示すグラフである。
【図６Ｂ】図４の方法を用いて、ニトロベンゼン試料で
得られたスペクトログラムを示すグラフである。
【図６Ｃ】図４の方法を用いて、ニトロベンゼン試料で
得られたスペクトログラムを示すグラフである。
【図６Ｄ】図４の方法を用いて、ニトロベンゼン試料で
得られたスペクトログラムを示すグラフである。
【図７】本発明のイオン走査モードのための別のプログ
ラムを示すタイムチャートである。
【図８Ａ】図４と図７の両方法を用いた一連の実験で得
られたｎ−ヘプタン試料についてのスペクトログラムを
示すグラフである。
【図８Ｂ】図４と図７の両方法を用いた一連の実験で得
られたｎ−ヘプタン試料についてのスペクトログラムを
示すグラフである。
【図８Ｃ】図４と図７の両方法を用いた一連の実験で得
られたｎ−ヘプタン試料についてのスペクトログラムを
示すグラフである。
【図８Ｄ】図４と図７の両方法を用いた一連の実験で得
られたｎ−ヘプタン試料についてのスペクトログラムを
示すグラフである。
【符号の説明】
１０ イオントラップ １１ リング電極 １２ エンドキャップ １３ エンドキャップ １４ 無線周波数（ＲＦ）電圧発生器 １６ イオン貯蔵領域 １７ フィラメント １８ フィラメント電源 １９ 円筒形ゲート電極とレンズ ２１ フィラメントレンズ制御器 ２２ エンドキャップ ２３ エンドキャップ ２４ 電子増倍管 ２６ 線 ２７ 静電電位計 ２８ 信号出力記憶加算装置 ２９ 処理装置 ３１ 計算機制御器 ３２ 結合変成器 ３５ 補助ＲＦ電圧発生器
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１１年３月２５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジョン ネイサン ローリス アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94086 サニーヴェイル アパートメント 114 ウエスト カリフォルニア アベ ニュー 201 (72)発明者 ポール イー ケリー アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95132 サン ホセ ロザリオ ドライヴ 2898 (72)発明者 ジョージ シー スタッフォード アメリカ合衆国 カリフォルニア州 95118 サン ホセ イリカイ アベニュ ー 1463 (72)発明者 ウォルター イー レイノルズ アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94062 ウッドサイド スウェット ロー ド 360

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 トラッピング電界でトラップ空間の中に
    捕捉された、質量対電荷量比が所定範囲内にあるイオン
    を検出する方法であって、 前記トラッピング電界に重畳する補助交流電界を加え、
    その混合された電界が前記質量対電荷量比が所定範囲内
    にあるイオンを捕捉し、 その後、前記混合された電界を走査して前記トラップ空
    間から連続する質量対電荷量比のイオンを放出し、 前記放出されたイオンを検出する、ことから成る方法。
  2. 【請求項２】 試料を質量分析する方法であって、 質量対電荷量比が所定の広い範囲内にあるイオンを捕捉
    するように構成された実質的に３次元４極子電界をもつ
    トラップ空間を形成するステップを有し、 前記４極子電界は、リング電極と隔置されたエンドキャ
    ップ電極を有するイオントラップにより発生され、該エ
    ンドキャップ電極及びリング電極の間に直流電圧及び無
    線周波数電圧を加えることにより定められ、 さらに、前記エンドキャップ電極の間に、前記３次元４
    極子電界に重畳する補助交流電界を加えることにより混
    合電界を形成するステップと、 前記トラップ空間の中に試料イオンを形成するか又は注
    入して前記質量対電荷量比が所定の広い範囲内にあるイ
    オンを前記トラップ空間の中に捕捉するステップと、 前記無線周波数電圧を走査することにより前記混合電界
    を制御し、連続する質量のイオンを前記トラップ空間か
    ら放出させて検出するステップと、を有する方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007033322A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Osaka Prefecture Univ 質量分析方法及び装置

Families Citing this family (137)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4755670A (en) * 1986-10-01 1988-07-05 Finnigan Corporation Fourtier transform quadrupole mass spectrometer and method
GB8625529D0 (en) * 1986-10-24 1986-11-26 Griffiths I W Control/analysis of charged particles
EP0321819B2 (de) * 1987-12-23 2002-06-19 Bruker Daltonik GmbH Verfahren zur massenspektroskopischen Untersuchung eines Gasgemisches und Massenspektrometer zur Durchführung dieses Verfahrens
EP0336990B1 (en) * 1988-04-13 1994-01-05 Bruker Franzen Analytik GmbH Method of mass analyzing a sample by use of a quistor and a quistor designed for performing this method
JPH02103856A (ja) * 1988-06-03 1990-04-16 Finnigan Corp イオントラップ型質量分析計の操作方法
US4850371A (en) * 1988-06-13 1989-07-25 Broadhurst John H Novel endotracheal tube and mass spectrometer
EP0362432A1 (en) * 1988-10-07 1990-04-11 Bruker Franzen Analytik GmbH Improvement of a method of mass analyzing a sample
ATE101942T1 (de) * 1989-02-18 1994-03-15 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren und geraet zur massenbestimmung von proben mittels eines quistors.
US5075547A (en) * 1991-01-25 1991-12-24 Finnigan Corporation Quadrupole ion trap mass spectrometer having two pulsed axial excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning and selected reaction monitoring
US5128542A (en) * 1991-01-25 1992-07-07 Finnigan Corporation Method of operating an ion trap mass spectrometer to determine the resonant frequency of trapped ions
US5171991A (en) * 1991-01-25 1992-12-15 Finnigan Corporation Quadrupole ion trap mass spectrometer having two axial modulation excitation input frequencies and method of parent and neutral loss scanning
US5206507A (en) * 1991-02-28 1993-04-27 Teledyne Mec Mass spectrometry method using filtered noise signal
US5256875A (en) * 1992-05-14 1993-10-26 Teledyne Mec Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry
US5105081A (en) * 1991-02-28 1992-04-14 Teledyne Cme Mass spectrometry method and apparatus employing in-trap ion detection
US5196699A (en) * 1991-02-28 1993-03-23 Teledyne Mec Chemical ionization mass spectrometry method using notch filter
US5436445A (en) * 1991-02-28 1995-07-25 Teledyne Electronic Technologies Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form
US5187365A (en) * 1991-02-28 1993-02-16 Teledyne Mec Mass spectrometry method using time-varying filtered noise
US5449905A (en) * 1992-05-14 1995-09-12 Teledyne Et Method for generating filtered noise signal and broadband signal having reduced dynamic range for use in mass spectrometry
US5200613A (en) * 1991-02-28 1993-04-06 Teledyne Mec Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals
US5451782A (en) * 1991-02-28 1995-09-19 Teledyne Et Mass spectometry method with applied signal having off-resonance frequency
US5381007A (en) * 1991-02-28 1995-01-10 Teledyne Mec A Division Of Teledyne Industries, Inc. Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form
US5274233A (en) * 1991-02-28 1993-12-28 Teledyne Mec Mass spectrometry method using supplemental AC voltage signals
ES2106177T3 (es) * 1991-02-28 1997-11-01 Teledyne Ind Metodo de espectrometria de masas que usa señales de voltajes alternos suplementarios.
US5173604A (en) * 1991-02-28 1992-12-22 Teledyne Cme Mass spectrometry method with non-consecutive mass order scan
US5134286A (en) * 1991-02-28 1992-07-28 Teledyne Cme Mass spectrometry method using notch filter
JPH0774838B2 (ja) * 1991-03-26 1995-08-09 工業技術院長 荷電粒子の捕獲方法及び装置
US5182451A (en) * 1991-04-30 1993-01-26 Finnigan Corporation Method of operating an ion trap mass spectrometer in a high resolution mode
US5179278A (en) * 1991-08-23 1993-01-12 Mds Health Group Limited Multipole inlet system for ion traps
DE4139037C2 (de) * 1991-11-27 1995-07-27 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zum Isolieren von Ionen einer auswählbaren Masse
US5206509A (en) * 1991-12-11 1993-04-27 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Universal collisional activation ion trap mass spectrometry
US5272337A (en) * 1992-04-08 1993-12-21 Martin Marietta Energy Systems, Inc. Sample introducing apparatus and sample modules for mass spectrometer
JPH07112539B2 (ja) * 1992-04-15 1995-12-06 工業技術院長 微小粒子の作製方法及びその装置
US5381006A (en) * 1992-05-29 1995-01-10 Varian Associates, Inc. Methods of using ion trap mass spectrometers
EP0786796B1 (en) * 1992-05-29 2000-07-05 Varian, Inc. Methods of using ion trap mass spectrometers
US5448061A (en) * 1992-05-29 1995-09-05 Varian Associates, Inc. Method of space charge control for improved ion isolation in an ion trap mass spectrometer by dynamically adaptive sampling
US5404011A (en) * 1992-05-29 1995-04-04 Varian Associates, Inc. MSn using CID
DE69333589T2 (de) * 1992-05-29 2005-02-03 Varian, Inc., Palo Alto Verfahren zum Betreiben eines Ionenfallen-Massenspektrometers
US5302826A (en) * 1992-05-29 1994-04-12 Varian Associates, Inc. Quadrupole trap improved technique for collisional induced disassociation for MS/MS processes
US5198665A (en) * 1992-05-29 1993-03-30 Varian Associates, Inc. Quadrupole trap improved technique for ion isolation
GB2267385B (en) * 1992-05-29 1995-12-13 Finnigan Corp Method of detecting the ions in an ion trap mass spectrometer
US5300772A (en) * 1992-07-31 1994-04-05 Varian Associates, Inc. Quadruple ion trap method having improved sensitivity
DE4316738C2 (de) * 1993-05-19 1996-10-17 Bruker Franzen Analytik Gmbh Auswurf von Ionen aus Ionenfallen durch kombinierte elektrische Dipol- und Quadrupolfelder
US5378891A (en) * 1993-05-27 1995-01-03 Varian Associates, Inc. Method for selective collisional dissociation using border effect excitation with prior cooling time control
US5399857A (en) * 1993-05-28 1995-03-21 The Johns Hopkins University Method and apparatus for trapping ions by increasing trapping voltage during ion introduction
DE4324224C1 (de) * 1993-07-20 1994-10-06 Bruker Franzen Analytik Gmbh Quadrupol-Ionenfallen mit schaltbaren Multipol-Anteilen
US5420425A (en) * 1994-05-27 1995-05-30 Finnigan Corporation Ion trap mass spectrometer system and method
DE4425384C1 (de) * 1994-07-19 1995-11-02 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren zur stoßinduzierten Fragmentierung von Ionen in Ionenfallen
US5572022A (en) * 1995-03-03 1996-11-05 Finnigan Corporation Method and apparatus of increasing dynamic range and sensitivity of a mass spectrometer
US5783824A (en) * 1995-04-03 1998-07-21 Hitachi, Ltd. Ion trapping mass spectrometry apparatus
JP3495512B2 (ja) * 1996-07-02 2004-02-09 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析装置
JP3509267B2 (ja) * 1995-04-03 2004-03-22 株式会社日立製作所 イオントラップ質量分析方法および装置
US5572025A (en) * 1995-05-25 1996-11-05 The Johns Hopkins University, School Of Medicine Method and apparatus for scanning an ion trap mass spectrometer in the resonance ejection mode
JPH095298A (ja) * 1995-06-06 1997-01-10 Varian Assoc Inc 四重極イオントラップ内の選択イオン種を検出する方法
US5576540A (en) * 1995-08-11 1996-11-19 Mds Health Group Limited Mass spectrometer with radial ejection
US5672870A (en) * 1995-12-18 1997-09-30 Hewlett Packard Company Mass selective notch filter with quadrupole excision fields
US5598001A (en) * 1996-01-30 1997-01-28 Hewlett-Packard Company Mass selective multinotch filter with orthogonal excision fields
US6177668B1 (en) 1996-06-06 2001-01-23 Mds Inc. Axial ejection in a multipole mass spectrometer
US5756996A (en) * 1996-07-05 1998-05-26 Finnigan Corporation Ion source assembly for an ion trap mass spectrometer and method
US5650617A (en) * 1996-07-30 1997-07-22 Varian Associates, Inc. Method for trapping ions into ion traps and ion trap mass spectrometer system thereof
US5793038A (en) * 1996-12-10 1998-08-11 Varian Associates, Inc. Method of operating an ion trap mass spectrometer
US6147348A (en) * 1997-04-11 2000-11-14 University Of Florida Method for performing a scan function on quadrupole ion trap mass spectrometers
JP3413079B2 (ja) * 1997-10-09 2003-06-03 株式会社日立製作所 イオントラップ型質量分析装置
CA2227806C (en) † 1998-01-23 2006-07-18 University Of Manitoba Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use
US6124592A (en) * 1998-03-18 2000-09-26 Technispan Llc Ion mobility storage trap and method
US6392225B1 (en) 1998-09-24 2002-05-21 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for transferring ions from an atmospheric pressure ion source into an ion trap mass spectrometer
US6124591A (en) * 1998-10-16 2000-09-26 Finnigan Corporation Method of ion fragmentation in a quadrupole ion trap
DE19932839B4 (de) * 1999-07-14 2007-10-11 Bruker Daltonik Gmbh Fragmentierung in Quadrupol-Ionenfallenmassenspektrometern
US6153880A (en) * 1999-09-30 2000-11-28 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for performance improvement of mass spectrometers using dynamic ion optics
GB9924722D0 (en) 1999-10-19 1999-12-22 Shimadzu Res Lab Europe Ltd Methods and apparatus for driving a quadrupole device
JP2001160373A (ja) 1999-12-02 2001-06-12 Hitachi Ltd イオントラップ質量分析方法並びにイオントラップ質量分析計
US6528784B1 (en) 1999-12-03 2003-03-04 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer system including a double ion guide interface and method of operation
WO2001041427A1 (en) * 1999-12-06 2001-06-07 Dmi Biosciences, Inc. Noise reducing/resolution enhancing signal processing method and system
DE10028914C1 (de) 2000-06-10 2002-01-17 Bruker Daltonik Gmbh Interne Detektion von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen
DE10058706C1 (de) * 2000-11-25 2002-02-28 Bruker Daltonik Gmbh Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang in Hochfrequenz-Ionenfallen
US6700120B2 (en) * 2000-11-30 2004-03-02 Mds Inc. Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry
US6608303B2 (en) 2001-06-06 2003-08-19 Thermo Finnigan Llc Quadrupole ion trap with electronic shims
GB2381653A (en) * 2001-11-05 2003-05-07 Shimadzu Res Lab Europe Ltd A quadrupole ion trap device and methods of operating a quadrupole ion trap device
US6710336B2 (en) 2002-01-30 2004-03-23 Varian, Inc. Ion trap mass spectrometer using pre-calculated waveforms for ion isolation and collision induced dissociation
JP3840417B2 (ja) 2002-02-20 2006-11-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US6674067B2 (en) 2002-02-21 2004-01-06 Hitachi High Technologies America, Inc. Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps
US6570151B1 (en) 2002-02-21 2003-05-27 Hitachi Instruments, Inc. Methods and apparatus to control charge neutralization reactions in ion traps
JP3951741B2 (ja) * 2002-02-27 2007-08-01 株式会社日立製作所 電荷調整方法とその装置、および質量分析装置
US6781117B1 (en) 2002-05-30 2004-08-24 Ross C Willoughby Efficient direct current collision and reaction cell
US7511246B2 (en) 2002-12-12 2009-03-31 Perkinelmer Las Inc. Induction device for generating a plasma
US20040119014A1 (en) * 2002-12-18 2004-06-24 Alex Mordehai Ion trap mass spectrometer and method for analyzing ions
JP3936908B2 (ja) * 2002-12-24 2007-06-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置及び質量分析方法
US7019289B2 (en) * 2003-01-31 2006-03-28 Yang Wang Ion trap mass spectrometry
EP1609167A4 (en) * 2003-03-21 2007-07-25 Dana Farber Cancer Inst Inc MASS SPECTROSCOPY SYSTEM
US7064319B2 (en) * 2003-03-31 2006-06-20 Hitachi High-Technologies Corporation Mass spectrometer
GB0312940D0 (en) * 2003-06-05 2003-07-09 Shimadzu Res Lab Europe Ltd A method for obtaining high accuracy mass spectra using an ion trap mass analyser and a method for determining and/or reducing chemical shift in mass analysis
JP4690641B2 (ja) * 2003-07-28 2011-06-01 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析計
JP3912345B2 (ja) * 2003-08-26 2007-05-09 株式会社島津製作所 質量分析装置
CA2559260C (en) 2004-03-12 2015-05-12 University Of Virginia Patent Foundation Electron transfer dissociation for biopolymer sequence analysis
US20050253059A1 (en) * 2004-05-13 2005-11-17 Goeringer Douglas E Tandem-in-time and-in-space mass spectrometer and associated method for tandem mass spectrometry
US7772549B2 (en) 2004-05-24 2010-08-10 University Of Massachusetts Multiplexed tandem mass spectrometry
WO2005116378A2 (en) 2004-05-24 2005-12-08 University Of Massachusetts Multiplexed tandem mass spectrometry
US7034293B2 (en) * 2004-05-26 2006-04-25 Varian, Inc. Linear ion trap apparatus and method utilizing an asymmetrical trapping field
US7102129B2 (en) * 2004-09-14 2006-09-05 Thermo Finnigan Llc High-Q pulsed fragmentation in ion traps
US6949743B1 (en) 2004-09-14 2005-09-27 Thermo Finnigan Llc High-Q pulsed fragmentation in ion traps
US7749769B2 (en) 2004-10-08 2010-07-06 University Of Virginia Patent Foundation Simultaneous sequence analysis of amino- and carboxy-termini
WO2006047889A1 (en) * 2004-11-08 2006-05-11 The University Of British Columbia Ion excitation in a linear ion trap with a substantially quadrupole field having an added hexapole or higher order field
DE102005005743B4 (de) * 2005-02-07 2007-06-06 Bruker Daltonik Gmbh Ionenfragmentierung durch Beschuss mit Neutralteilchen
AU2006223254B2 (en) 2005-03-11 2012-04-26 Perkinelmer U.S. Llc Plasmas and methods of using them
US7183545B2 (en) * 2005-03-15 2007-02-27 Agilent Technologies, Inc. Multipole ion mass filter having rotating electric field
DE102005025497B4 (de) * 2005-06-03 2007-09-27 Bruker Daltonik Gmbh Leichte Bruckstückionen mit Ionenfallen messen
JP4636943B2 (ja) * 2005-06-06 2011-02-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
US8622735B2 (en) * 2005-06-17 2014-01-07 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Boost devices and methods of using them
US7742167B2 (en) 2005-06-17 2010-06-22 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Optical emission device with boost device
GB2477657B (en) * 2005-12-22 2011-12-07 Bruker Daltonik Gmbh Method for mass spectrometry of peptide ions
DE102005061425B4 (de) 2005-12-22 2009-06-10 Bruker Daltonik Gmbh Rückgesteuerte Fragmentierung in Ionenfallen-Massenspektrometern
US8097844B2 (en) * 2006-02-23 2012-01-17 Shimadzu Corporation Mass-analysis method and mass-analysis apparatus
JP4369454B2 (ja) 2006-09-04 2009-11-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ質量分析方法
WO2008072326A1 (ja) * 2006-12-14 2008-06-19 Shimadzu Corporation イオントラップ飛行時間型質量分析装置
US7842918B2 (en) * 2007-03-07 2010-11-30 Varian, Inc Chemical structure-insensitive method and apparatus for dissociating ions
US7656236B2 (en) 2007-05-15 2010-02-02 Teledyne Wireless, Llc Noise canceling technique for frequency synthesizer
US7847240B2 (en) * 2007-06-11 2010-12-07 Dana-Farber Cancer Institute, Inc. Mass spectroscopy system and method including an excitation gate
DE102007042436B3 (de) * 2007-09-06 2009-03-19 Brandenburgische Technische Universität Cottbus Verfahren und Vorrichtung zur Auf-, Um- oder Entladung von Aerosolpartikeln durch Ionen, insbesondere in einen diffusionsbasierten bipolaren Gleichgewichtszustand
WO2009105080A1 (en) * 2007-11-09 2009-08-27 The Johns Hopkins University Low voltage, high mass range ion trap spectrometer and analyzing methods using such a device
US8334506B2 (en) 2007-12-10 2012-12-18 1St Detect Corporation End cap voltage control of ion traps
US7880147B2 (en) * 2008-01-24 2011-02-01 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Components for reducing background noise in a mass spectrometer
US8179045B2 (en) * 2008-04-22 2012-05-15 Teledyne Wireless, Llc Slow wave structure having offset projections comprised of a metal-dielectric composite stack
US7973277B2 (en) 2008-05-27 2011-07-05 1St Detect Corporation Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter
JP5039656B2 (ja) * 2008-07-25 2012-10-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置および質量分析方法
US7947948B2 (en) * 2008-09-05 2011-05-24 Thermo Funnigan LLC Two-dimensional radial-ejection ion trap operable as a quadrupole mass filter
US7804065B2 (en) * 2008-09-05 2010-09-28 Thermo Finnigan Llc Methods of calibrating and operating an ion trap mass analyzer to optimize mass spectral peak characteristics
US8178835B2 (en) * 2009-05-07 2012-05-15 Thermo Finnigan Llc Prolonged ion resonance collision induced dissociation in a quadrupole ion trap
JP5107977B2 (ja) * 2009-07-28 2012-12-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ質量分析装置
EP2474021B1 (en) * 2009-09-04 2022-01-12 DH Technologies Development Pte. Ltd. Method and apparatus for filtering ions in a mass spectrometer
US8507846B2 (en) 2011-08-05 2013-08-13 Academia Sinica Step-scan ion trap mass spectrometry for high speed proteomics
US8384022B1 (en) 2011-10-31 2013-02-26 Thermo Finnigan Llc Methods and apparatus for calibrating ion trap mass spectrometers
DE102012013038B4 (de) * 2012-06-29 2014-06-26 Bruker Daltonik Gmbh Auswerfen einer lonenwolke aus 3D-HF-lonenfallen
US9259798B2 (en) 2012-07-13 2016-02-16 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Torches and methods of using them
US9202660B2 (en) 2013-03-13 2015-12-01 Teledyne Wireless, Llc Asymmetrical slow wave structures to eliminate backward wave oscillations in wideband traveling wave tubes
US9117646B2 (en) * 2013-10-04 2015-08-25 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for a combined linear ion trap and quadrupole mass filter
US9847218B2 (en) 2015-11-05 2017-12-19 Thermo Finnigan Llc High-resolution ion trap mass spectrometer
CN106908511B (zh) * 2017-03-07 2019-08-02 清华大学 一种小型离子阱质谱进行大范围离子持续分析的方法
US11145502B2 (en) 2019-12-19 2021-10-12 Thermo Finnigan Llc Emission current measurement for superior instrument-to-instrument repeatability

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT528250A (ja) * 1953-12-24
US3527949A (en) * 1967-02-15 1970-09-08 Gen Electric Low energy,interference-free,pulsed signal transmitting and receiving device
US3527939A (en) * 1968-08-29 1970-09-08 Gen Electric Three-dimensional quadrupole mass spectrometer and gauge
US4105917A (en) * 1976-03-26 1978-08-08 The Regents Of The University Of California Method and apparatus for mass spectrometric analysis at ultra-low pressures
US4540884A (en) * 1982-12-29 1985-09-10 Finnigan Corporation Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007033322A (ja) * 2005-07-28 2007-02-08 Osaka Prefecture Univ 質量分析方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE3650304T2 (de) 1995-10-12
CA1242536A (en) 1988-09-27
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DE3688215T2 (de) 1993-07-22
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DE3688215D1 (de) 1993-05-13
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EP0202943A3 (en) 1988-02-17
JP3020490B2 (ja) 2000-03-15
DE3650304D1 (de) 1995-05-24
US4736101A (en) 1988-04-05
JPH0821365B2 (ja) 1996-03-04
USRE34000E (en) 1992-07-21
EP0202943A2 (en) 1986-11-26
JPS6237861A (ja) 1987-02-18
EP0409362B1 (en) 1995-04-19

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