JPH11342650A - 画像形成装置および光量補正データ作成方法 - Google Patents

画像形成装置および光量補正データ作成方法

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JPH11342650A
JPH11342650A JP23992598A JP23992598A JPH11342650A JP H11342650 A JPH11342650 A JP H11342650A JP 23992598 A JP23992598 A JP 23992598A JP 23992598 A JP23992598 A JP 23992598A JP H11342650 A JPH11342650 A JP H11342650A
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light
light emitting
amount
light emission
emitting element
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Atsushi Takehara
淳 竹原
Takehisa Maeda
雄久 前田
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Ricoh Co Ltd
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Publication date
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    • H04N1/40Picture signal circuits
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    • H04N1/4015Compensating positionally unequal response of the pick-up or reproducing head of the reproducing head
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • B41J2/435Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of radiation to a printing material or impression-transfer material
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 LEDアレイヘッドの発光素子の解像度を充
分に維持しながらも、静電潜像のドットの面積のバラツ
キを押さえて画質を向上する。 【解決手段】 この画像形成装置は、光書き込みにLE
Dアレイヘッド1を用いている。この光書き込みは、R
OMに格納されている固定データをルックアップして、
発光素子6,6、……のすべてで、そのビームプロファ
イルで閾値を上回っている発光量が一定になるように制
御する。より具体的には、全発光素子6,6、……の光
量ピーク値の平均値の10%以上40%以下の範囲内の
値を閾値とすることが望ましい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、プリンタ、デジ
タル複写機、ファクシミリなど、LEDアレイヘッドで
光書き込みを行なう電子写真方式の画像形成装置、およ
び、このLEDアレイヘッドの発光素子の発光量を制御
するデータを作成する光量補正データ作成方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】電子写真方式の画像形成装置で、感光体
の露光に用いられるLEDアレイヘッドは、その分解能
分の数の発光素子が設けられており、この各発光素子の
ビームプロファイルにはバラツキが生じる。図10は、
3例の異なる発光素子によるビームプロファイルの例を
示したグラフである。このグラフからわかるように、ビ
ームプロファイルの裾部の形状は、発光素子により大き
くバラつく。
【0003】そこで、従来は発光素子の光量を一定にす
る補正(以下、「光量一定補正」という)や、感光体に
形成される1ドットの径の大きさを一定にする補正(以
下、「径一定補正」という)を行なっている。光量を一
定にする補正は、パワーメータなどを用いて各発光素子
の光量の測定を行ない、各発光素子への供給電流を増減
することにより、各発光素子の光量を一定にするもので
あり、通常は、各発光素子の光量の変動を±2%の範囲
内に納めている。
【0004】従来の光量一定補正は、ビームプロファイ
ルの裾部も含めたトータルの光量での補正を行なってい
るが、各発光素子でビームプロファイルにバラツキがあ
ることから、光量一定補正を行なうと露光ビームの径の
大きさが異なり、特にハーフトーン調の画像パターンで
は、光書き込みにレーザダイオードを用いた場合に比較
し、形成した画像に縦筋が発生しやすい。これは、現像
後の1ドットの面積がばらつくからである。
【0005】一方、径一定補正では、形成される1ドッ
トの径の大きさは一定となるが、発光素子の光量にバラ
ツキを生じ、画像濃度が変動することとなって縦筋を減
少させることはできない。
【0006】そこで、特開平4−288248号公報に
は、各発光素子の光量を、これ以上はドットの径が太ら
なくなる程度まで上げて、ドットの径の大きさと、発光
素子の光量のどちらも一定にあわせようとする技術が開
示されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記特開平4
−288248号公報に開示の技術では、ドットの径が
太ってしまうので、充分な解像度を得ることができない
という不具合がある。
【0008】この発明の目的は、LEDアレイヘッドの
発光素子の解像度を充分に維持しながらも、静電潜像の
ドットの面積のバラツキおよび画像濃度の変動を押さえ
て画質を向上することができる光量補正データ作成方法
および画像形成装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】LEDアレイヘッドの発
光素子のビームプロファイルは、裾部においてバラツキ
が特に大きい。これを言い換えると、ビームプロファイ
ルの光量ピーク値に対してビーム裾部を回避したある閾
値で区切ったビームプロファイルの幅のバラツキが小さ
いところが存在する。また、実際にトナーで現像される
領域は、ビームプロファイルを、このビームプロファイ
ルの裾部より単位面積の光量(露光エネルギ)の大きい
閾値でカットしたレベル以上の露光エネルギで露光され
ている領域に限られる。そこで、ビームプロファイルの
幅のバラツキがビーム裾部より小さく、かつ実際に現像
にあずかる露光ビームの発光量を発光素子間で一定に合
わせることで、この発明の目的を達成することができ
る。
【0010】請求項1に記載の発明は、感光体と、この
感光体を露光して静電潜像を形成するLEDアレイヘッ
ドと、このLEDアレイヘッドの個々の発光素子は、そ
のビームプロファイルで閾値を上回っている発光量が一
定になるように制御する制御手段と、を備えている。
【0011】したがって、実際に現像への寄与が大きい
露光ビームの発光量を発光素子間で一定に合わせること
が可能となる。
【0012】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の発明において、閾値は、全発光素子の光量ピーク値の
平均値の40%以下に設定している。
【0013】したがって、全発光素子の光量ピーク値の
平均値の40%以下を閾値とすることにより、露光ビー
ム径のバラツキが充分に小さくなる。
【0014】請求項3に記載の発明は、請求項1または
2に記載の発明において、閾値は、全発光素子の光量ピ
ーク値の平均値の10%以上に設定している。
【0015】したがって、全発光素子の光量ピーク値の
平均値の10%以上を閾値とすることにより、露光ビー
ム径のバラツキが充分に小さくなる。
【0016】請求項4に記載の発明は、電子写真方式の
画像形成装置で感光体の露光に用いるLEDアレイヘッ
ドの光量測定を行なう工程と、この光量測定の結果に基
づいて、前記LEDアレイヘッドの個々の発光素子の1
ドットあたりの所定の閾値を上回る発光量が一定になる
ように前記各発光素子の発光量を決定する工程と、この
決定した発光量に基づいて、前記LEDアレイヘッドの
発光量を制御するデータを作成する工程と、を含んでな
る。
【0017】したがって、LEDアレイヘッドの個々の
発光素子の1ドットあたりの閾値を上回る発光量が一定
になるように各発光素子の発光量を制御するデータを作
成することができ、実際に現像への寄与が大きい露光ビ
ームの発光量を発光素子間で一定に合わせることが可能
となる。
【0018】請求項5に記載の発明は、請求項4に記載
の発明において、所定の閾値は、全発光素子の光量ピー
ク値の平均値の40%以下に設定する。
【0019】したがって、全発光素子の光量ピーク値の
平均値が40%以下を閾値とすることにより、露光ビー
ム径のバラツキが充分に小さくなる。
【0020】請求項6に記載の発明は、請求項4または
5に記載の発明において、所定の閾値は、全発光素子の
光量ピーク値の平均値の10%以上に設定する。
【0021】したがって、全発光素子の光量ピーク値の
平均値が10%以上を閾値とすることにより、露光ビー
ム径のバラツキが充分に小さくなる。
【0022】請求項7に記載の発明は、感光体と、この
感光体を露光して静電潜像を形成するLEDアレイヘッ
ドと、このLEDアレイヘッドを構成する各発光素子の
発光量を制御して、この個々の発光素子を、その各ビー
ムプロファイルのピークを通る中心軸から所定の距離以
上離れている裾部分の光を除外したときの発光量が一律
となるようにする制御手段と、を備えている。
【0023】したがって、発光素子が発する露光ビーム
のうち、現像にあずからないビームプロファイルの裾部
分の光を除外し、現像にあずかる露光ビームの発光量だ
けを発光素子間でそろえることができる。
【0024】請求項8に記載の発明は、請求項7に記載
の発明において、制御手段は、所定の距離を平均スポッ
ト径の半値以下としてビームプロファイルの裾部分の光
を除外したときに、各発光素子の発光量が一律となるよ
うにする。
【0025】したがって、所定の距離を平均スポット径
の半値以下として、それより外側にあるバラツキが大き
いビームプロファイルの裾部分の光を除外することがで
きる。
【0026】請求項9に記載の発明は、請求項7に記載
の発明において、制御手段は、所定の距離を一画素の一
辺の半値以下としてビームプロファイルの裾部分の光を
除外したときに、各発光素子の発光量が一律となるよう
にする。
【0027】したがって、所定の距離を一画素の一辺の
半値以下として、それより外側にあるバラツキが大きい
ビームプロファイルの裾部分の光を除外することができ
る。
【0028】請求項10に記載の発明は、請求項7に記
載の発明において、制御手段は、所定の距離を現像後の
感光体上におけるドット径の半値以下としてビームプロ
ファイルの裾部分の光を除外したときに、各発光素子の
発光量が一律となるようにする。
【0029】したがって、所定の距離を現像後の感光体
上におけるドット径の半値以下として、それより外側に
あるバラツキが大きいビームプロファイルの裾部分の光
を除外することができる。
【0030】請求項11に記載の発明は、電子写真方式
の画像形成装置で感光体の露光に用いるLEDアレイヘ
ッドの各発光素子の発光量を、その各ビームプロファイ
ルのピークを通る中心軸から所定の距離以上離れている
裾部分の光を除外して測定する工程と、この測定により
個々の発光素子の発光量を、そのビームプロファイルの
前記裾部分の光を除外したときの発光量が一律となるよ
うに決定する工程と、この決定した発光量となるように
前記を作成する工程と、を含んでなる。
【0031】したがって、作成したデータにより各発光
素子の発光を制御すれば、発光素子が発する露光ビーム
のうち、現像にあずからないビームプロファイルの裾部
分の光を除外し、現像にあずかる露光ビームの発光量だ
けを発光素子間でそろえることができる。
【0032】請求項12に記載の発明は、請求項11に
記載の発明において、発光量決定の工程は、所定の距離
を平均スポット径の半値以下としてビームプロファイル
の裾部分の光を除外したときに、各発光素子の発光量が
一律となるように決定する。
【0033】したがって、所定の距離を平均スポット径
の半値以下として、それより外側にあるバラツキが大き
いビームプロファイルの裾部分の光を除外することがで
きる。
【0034】請求項13に記載の発明は、請求項11に
記載の発明において、発光量決定の工程は、所定の距離
を一画素の一辺の半値以下としてビームプロファイルの
裾部分の光を除外したときに、各発光素子の発光量が一
律となるように決定する。
【0035】したがって、所定の距離を一画素の一辺の
半値以下として、それより外側にあるバラツキが大きい
ビームプロファイルの裾部分の光を除外することができ
る。
【0036】請求項14に記載の発明は、請求項11に
記載の発明において、発光量決定の工程は、所定の距離
を現像後の感光体上におけるドット径の半値以下として
ビームプロファイルの裾部分の光を除外したときに、各
発光素子の発光量が一律となるように決定する。
【0037】したがって、所定の距離を現像後の感光体
上におけるドット径の半値以下として、それより外側に
あるバラツキが大きいビームプロファイルの裾部分の光
を除外することができる。
【0038】
【発明の実施の形態】〔画像形成装置について〕図1
は、この発明の一実施の形態である画像形成装置に用い
られるLEDアレイヘッド1の縦断面図である。同図に
示すように、このLEDアレイヘッド1は、画像形成装
置の所定位置のフレーム2に固定されている固定台3、
3に、ねじ作用により止められる焦点位置合わせねじ
4,4により、位置調節可能に左右を支持されている。
LEDアレイヘッド1の一方の面は感光体5側に対峙し
ていて、発光素子6,6、…が所定の配列で配置されて
いる。さらに、LEDアレイヘッド1の感光体5側に
は、レンズ7が設けられ、発光素子6,6、…の発する
露光ビームは、このレンズ7を介して感光体5を照ら
す。そして、このLEDアレイヘッド1は、感光体5上
を露光して、静電潜像を形成する。
【0039】なお、図示は省略するが、この実施の形態
の画像形成装置は、感光体5を帯電する帯電装置、感光
体5上の静電潜像をトナーで現像する現像装置、この現
像後のトナー画像を用紙に転写する転写装置、この転写
後のトナー画像を用紙に定着する定着装置、前記転写後
の感光体の残存トナーをクリーニングするクリーニング
装置など、従来周知の装置を有し、電子写真プロセスに
よる画像の形成を行なう。
【0040】図2は、この画像形成装置の制御系のブロ
ック図である。同図に示すように、この制御系は、CP
U21に、ROM22、RAM23、LEDアレイヘッ
ド1を駆動するLED駆動回路24が、バス25で接続
されている。また、図示は省略するが、バス25には、
前記の帯電装置、現像装置、転写装置、定着装置、クリ
ーニング装置など、従来周知の装置を制御するための各
種センサ、アクチュエータが接続されている。ROM2
2には、この画像形成装置の各部を制御するためのプロ
グラムや固定データが格納されている。特に、このRO
M22には、各発光素子6,6、……への供給電流を制
御するための、固定データを格納している。
【0041】図3は、この固定データがROM22に格
納された画像形成装置による画像形成プロセスを説明す
るフローチャートである。同図に示すように、この画像
形成プロセスでは、CPU21が各発光素子6,6、…
…への供給電流を制御するための、固定データを読み込
み、各発光素子6,6、……の発光量を設定する(ステ
ップS1)。そして、前記の帯電装置、現像装置、転写
装置、定着装置、クリーニング装置などを制御して、帯
電プロセス(ステップS2)、露光プロセス(ステップ
S3)、現像プロセス(ステップS4)、転写・定着・
クリーニングプロセス(ステップS5)を経て、画像の
形成を行なう。露光プロセス(ステップS3)において
は、前記デューティー比のデータに基づいて、CPU2
1がLED駆動回路24によりLED発光素子6,6、
…の発光量を制御する。
【0042】すなわち、ROM22に格納されている固
定データをルックアップして、発光素子6,6、……の
すべてで、請求項1〜3に記載の発明では、そのビーム
プロファイルで閾値を上回っている発光量が一定になる
ように制御するものである(図10参照)。これによ
り、この発明の制御手段を実現している。より具体的に
は、全発光素子6,6、……の光量ピーク値の平均値の
10%以上40%以下の範囲内の値を閾値とすることが
望ましい。
【0043】また、請求項7〜10に記載の発明の一例
として、発光素子6,6、……のすべてで、そのビーム
プロファイルで中心軸からの所定の幅以内の範囲の発光
量が一定になるように制御し(図10参照)、これによ
り、この発明の制御手段を実現する場合について説明す
る。より具体的には、各発光素子6,6、……のピーク
を通る中心軸からの距離が、平均スポット径の半値、書
込み密度で決まる1画素の1辺の半値、感光体5上のド
ット径の半値付近となっていることが望ましい。
【0044】したがって、前記のいずれの制御を行なっ
ても、現像にあずからないビーム裾部を無視し、実際に
現像への寄与が大きい、閾値以上の露光ビームのみの発
光量を発光素子6,6、……間で一定に合わせることが
可能となり、静電潜像のドットの面積のバラツキを押さ
えて画質を向上することができるが、従来技術のように
ドットを太らせることはないので、発光素子6,6、…
…の解像度を充分に維持することができる。
【0045】図4は、請求項1〜3に記載の発明の一例
を説明するもので、LEDアレイヘッド1の発光素子
6,6、……の光量ピーク値の平均値を1としたときの
閾値を変えて、この閾値と、露光ビームのビーム径や、
発光素子6,6、……の発光量のバラツキとの関係を示
すグラフである。このバラツキは、発光素子6,6、…
…のビーム径や発光量の大きさの平均値に対して、その
発光素子6,6、……の中の“最大値−最小値”の値の
占めるパーセンテージである。発光量のバラツキについ
ては、この実施の形態の画像形成装置のものと、従来の
画像形成装置のものとの両方を示している。この“発光
量”とは、各閾値での、その閾値以上の発光量のトータ
ルをいう。
【0046】図4から、この実施の形態の画像形成装置
では、ビーム径は光量ピーク平均値を1としたときの閾
値比が約0.3のときに最小となっている。これは、ビ
ーム裾部とビームの頭部の各発光素子6間のバラツキが
大きくなっていることを示している。従来の光量一定補
正の手法では、閾値比の値を0としたとき(すなわちビ
ームプロファイルのトータル光量)の光量一定補正を行
なっていた。しかし、この光量一定補正は、実際の現像
に寄与しないビーム裾部の光量を含むことになり、さら
にはビーム裾部のバラツキが発光素子6,6、……によ
り大きいため、実際の現像に寄与する閾値比0.1〜
0.4付近での発光量バラツキは大きくなってしまう。
そして、閾値比0.1〜0.4の範囲内であればビーム
径のバラツキも小さいので、光量一定補正が非常に効果
的である。
【0047】そこで、全発光素子6,6、……の光量ピ
ーク値の平均値の10%以上40%以下の範囲内の値を
閾値とすれば、露光ビームのビーム径のバラツキも、発
光量のバラツキも充分に小さくできるので、より確実に
感光体5上に形成される静電潜像のドット面積のバラツ
キを均一化することができる。
【0048】図9は、請求項7〜10に記載の発明の一
例について説明するもので、LEDアレイヘッド1の各
発光素子6,6、……の中心軸からの所定の距離を変え
て、この所定の距離と、発光素子6,6、……の発光量
バラツキとの関係を示すグラフである。ここで、バラツ
キは、発光素子6,6、……の発光量の大きさの平均値
に対して、その発光素子6,6、……の中の“最大値−
最小値”の値の占めるパーセンテージである。発光量の
バラツキについては、この実施の形態の光量一定補正を
用いた場合と、従来の例の光量一定補正を用いた場合の
両方を示している。ここでいう“発光量”とは、各所定
距離での、その中心軸からの所定距離以内の発光量のト
ータルをいう。
【0049】図9から、従来の光量一定補正の手法で
は、所定の距離を無限大(∞)としたとき(すなわち、
ビームプロファイルの前光量)の光量一定補正を行なっ
ていた。しかし、この光量一定補正は、実際の現像に寄
与しないビーム裾部の光量を含むことになり、さらには
ビーム裾部バラツキが発光素子6,6、……により大き
いため、実際の現像に寄与する所定の距離19〜37μ
m付近の発光量バラツキは大きくなってしまう。したが
って、この実施の形態の光量のバラツキのように、所定
距離21μm付近での発光量バラツキが最小となるよう
に光量一定補正を行なえば、現像に寄与する光量を一定
にできるだけではなく、その近傍のビーム径のバラツキ
も小さいので非常に効果的である。
【0050】そこで、全発光素子6,6、……の中心軸
からの所定の距離を平均スポット径の半値、1画素一辺
の半値、感光体5の上に形成されるドット径の半値以下
とすれば、発光量のバラツキも十分に小さくできるの
で、より確実に感光体5上に形成される静電潜像のドッ
ト面積のバラツキを均一化することができる。
【0051】帯電プロセス(ステップS2)、現像プロ
セス(ステップS4)、転写・定着・クリーニングプロ
セス(ステップS5)については、従来周知の技術と同
様のプロセスであり詳細な説明は省略する。
【0052】〔固定データの作成方法〕次に、請求項4
〜6に記載の発明の一例として、前記のROM22に格
納する固定データの作成方法について説明する。
【0053】まず、図5に示すような測定装置を用意す
る。図5は、各発光素子6,6、……の発光量を制御す
る固定データを作成するための測定装置の断面図であ
る。
【0054】同図に示すように、測定対象となるLED
アレイヘッド1のレンズ7の先にCCD32を配置す
る。このときのCCD32の読み込み位置がレンズ7の
焦点位置すなわちLEDアレイヘッド1と感光体5との
距離と同等に配置されていることが望ましい。そして、
CCD32を矢印33の方向に移動しながら、レンズ7
を透過した各発光素子6,6、……の発光量を1発光素
子ずつ測定する。このCCD32では、1×1μm2
たりの光量を最小単位として読み取り、XY2次元的に
DATAn(x,y)として取り込むことができる。こ
の得られたDATAn(x,y)のxy積分値が1つの
発光素子6から得られるトータル光量となる。
【0055】取り込んだDATAn(x,y)のイメー
ジ図が図8である。同図は、1つの発光素子6から得ら
れる光量分布を2次元的に表現したものであり、図中の
数字の大小は光量強度レベルを表わす。実際のデータで
は、各発光素子6から得られるDATAn(x,y)の
x、y積分値がそれぞれの発光素子6のトータル光量と
なるように、光量強度レベルが合わせられている。
【0056】図6は、請求項4〜6の発明において、R
OM22に格納する固定データを作成する作業をフロー
チャートの形式にして示したものである。この例では、
LEDアレイヘッド1には、1番〜5120番の発光素
子6,6、……が設けられている(n=1〜5120
番)。同図に示すように、最初に次のような初期設定を
行なっておく。まず、CCD32により全発光素子6,
6、……のDATAn(x,y)を取得し、各発光素子
6のDATAn(x,y)の最大値MAXの平均Dを求
め、全発光素子6,6、……の光量のピーク値に対し、
閾値を30%とする場合なら、0.3Dを閾値として設
定する(ステップS1)。次に、各発光素子6,6、…
…の1ドットあたりの供給電流値Anは、この例では1
6段階に調節することができる(An=1〜16段
階)。閾値を0.3Dとした場合、各発光素子6,6、
……の各DATAn(x,y)ごとに、0.3Dを上回
っているDATAn(x,y)の値だけを利用してxy
積分を行ない、その演算結果をP30%nとし、その基
準値をP30%とする。
【0057】そして、初期値を、n=1(番)、An=
7(段階)、P30%=0.5(μW)として(ステッ
プS2、S3)、CCD32で、1番の発光素子6から
順に、n番の発光素子6のDATAn(x,y)を測定
し(ステップS4)、閾値(この例では、0.3D)以
上の値をxy積分することにより、発光量P30%nを
算出する(ステップS5)。これにより、この発明の光
量測定の工程を実現している。閾値以上の発光量P30
%nが基準値P30%の±2%の範囲内にあるか否かを
判断する(P30%×0.98<P30%n<P30%
×1.02)(ステップS6)。
【0058】発光量P30%nが基準値P30%の±2
%の範囲内にあるときは(ステップS6のY)、基準値
P30%に対して許容範囲内であると考えて、n番の発
光素子6の1ドットあたりの供給電流値Anを現在の値
に設定する(ステップS7)。これにより、この発明の
発光量を決定する工程を実現している。発光量P30%
nが基準値P30%の±2%の範囲から外れているとき
は(ステップS6のN)、かかる範囲内より大きいか小
さいかにより、供給電流値Anの値を1段階づつ上げ下
げする処理(An−1=An、An+1=An)(ステ
ップS8〜S10)を、発光量P30%nが基準値P3
0%の±2%の範囲内になるまで繰り返して(ステップ
S4〜S6、ステップS8〜S10)、n番の発光素子
6の1ドットあたりの供給電流値Anを決定する(ステ
ップS7)。
【0059】そして、1番目の発光素子6から5120
番目の発光素子6について、順次上記の作業を行ない
(ステップS11、S12)、供給電流値A1〜A51
20のすべてを決定する。後は、この供給電流値A1〜
A5120のデータを固定データとして、ROM22に
格納する。これにより、この発明のデータを作成する工
程を実現している。
【0060】なお、この例では、閾値以上の発光量を、
閾値を上回っている各発光素子6,6、……から得られ
たDATAn(x,y)値のxy積分値として求めてい
るが、正確には1度すべてのデータに対し、“DATA
n(x,y)−閾値=DATAn(x,y)”と置き直
し、DATAn(x,y)のxy積分を行なうほうが、
より丁寧な作業とすることができる。
【0061】図7は、請求項11〜14にかかる発明の
一例として、ROM22に格納する固定データを作成す
る作業をフローチャートの形式で示したものである。
【0062】ここでは、ビームプロファイルのピークを
通る中心線から所定の距離を1画素の一辺の半値とし
て、各発光素子6,6、……発光量が一律となるように
制御する場合を例として説明する。また、このときのC
CD32で得られるDATAn(x,y)のx、yの最
小分解能は、1μmとする。
【0063】まず、最初に初期設定として、600dp
iの光書込み密度をもつものとし、1画素の1辺の半値
である21μmとして所定の距離を決定する。図6を参
照して既に説明した例のように、次のような初期設定を
行なっておく。すなわち、この例では、LEDアレイヘ
ッド1には、1番〜5120番の発光素子6,6、……
が設けられている(n=1〜5120番)。各発光素子
6,6、……の1ドットあたりの供給電流値Anは、こ
の例では、16段階に調節することができる(An=1
〜16段階)。所定の距離を1画素の1辺の半値、この
場合600dpiの光書込み密度を持つものとして、そ
の半値である21μmとする(ステップS1)。次にC
CD32により、各発光素子6のDATAn(x,y)
を取り込み、その最大値のときの座標(xn’、y
n’)を求める(ステップS2)。この(xn’,y
n’)は、その発光素子6のビームプロファイルの中心
線の座標とする。
【0064】そして、初期値を、n=1(番)、An=
7(段階)、P(21)=0.5(μW)とする(ステ
ップS3、S4)。ここで、P(21)は、ビームプロ
ファイルのピークを通る中心軸からの距離が21μm以
内にある発光量の基準値である。次に、CCD32を用
いて、1番の発光素子6から順に、n番の発光素子6ま
でのDATAn(x,y)を測定し(ステップS5)、
“(xn’−x)2+(yn’−y)2≦212”を満た
す(x、y)についてのみのDATAn(x,y)のx
y積分を行ない、各発光素子6毎のP(21)nを算出
する(ステップS6)。これにより、この発明の光量測
定の工程を実現している。所定距離である21μm以内
の発光量P(21)nが基準値P(21)の±2%の範
囲内にあるか否かを判断する(P(21)×0.98<
P(21)n<P(21)×1.02)(ステップS
7)。
【0065】発光量P(21)nが基準値P(21)の
±2%の範囲内にあるときは、基準値P(21)に対し
て許容範囲内にあるとして、n番の発光素子6の1ドッ
トあたりの供給電流値Anを現在の値に設定する(ステ
ップS8)。これにより、この発明の発光量を決定する
工程を実現している。発光量P(21)nが基準値P
(21)の±2%の範囲から外れているときは(ステッ
プS7のN)、かかる範囲内より大きいか小さいかによ
り、供給電流値Anの値を1段階づつ上げ下げする処理
(An−1=An,An+1=An)(ステップS9〜
S11)を,発光量P(21)nが基準値P(21)の
±2%の範囲内になるまで繰り返して(ステップS5〜
S7)、n番の発光素子6の1ドットあたりの供給電流
値Anを決定する(ステップS8)。
【0066】そして、1番目の発光素子6から5120
番目の各発光素子6,6、……について、順次上記の作
業を行ない(ステップS12、S13),供給電流値A
1〜A5120をすべて決定する。後は、この供給電流
値A1〜A5120のデータを固定データとして、RO
M22に格納する。これにより、この発明のデータを作
成する工程を実現している。
【0067】
【実施例】請求項1〜6の発明に対応し、前記実施の形
態で説明したLEDアレイヘッド1、前記実施の形態で
説明した測定装置を用いて行なった測定の結果を、図4
を参照し、この発明の一実施例として説明する。図4
は、横軸に発光素子6のビームプロファイルにおける裾
部をカットする際の各発光素子6,6、……の光量のピ
ーク平均値を1としたときの閾値の値を示し、縦軸に発
光素子6の光量およびビーム径の測定値の平均値に対す
る最大値(max)と最小値(min)との差の割合
(%)、すなわちバラツキを示すものである。光量につ
いては、従来の全光量を一定とする光量一定補正の場合
(閾値=0でバラツキを最小とする)と、この実施の形
態のビームプロファイルにおける裾部をカットしたとき
の光量を一定とする場合の両方について示している。こ
こでの光量とは、各閾値での、その閾値以上の発光量の
トータルを示す。全光量を一定とする場合については、
縦軸のバラツキの値を4%となるようにした。
【0068】ビームプロファイルの裾部はバラツキが大
きいため、図4に示す測定結果からわかるように、従来
の全光量を一定とする場合(閾値=0でバラツキを最小
とする)には、ビーム径のバラツキが約30%と大きく
なった。このビーム径のバラツキは、閾値=0.3とし
たときに最小となった。そこで、閾値=0.3での光量
バラツキが最小となるように光量一定補正を行なうこと
で、図4の本実施の形態の発光量のバラツキ曲線を得ら
れた。
【0069】この測定の対象としたLEDアレイヘッド
1では、閾値=0.3以上のトータル光量のバラツキと
閾値=0.3でのビーム径のバラツキを共に最小にとど
めることができることがわかる。逆に、本実施の形態で
は、従来ではバラツキが最小となっていた全光量のバラ
ツキ(閾値=0以上のトータル光量のバラツキ)は、2
5%と大きくなる。
【0070】
【発明の効果】請求項1に記載の発明は、実際に現像に
あずかる露光ビームの発光量だけを発光素子間で一定に
合わせることが可能となるので、LEDアレイヘッドの
発光素子の解像度を充分に維持しながらも、静電潜像の
ドットの面積のバラツキを押さえて画質を向上すること
ができる。
【0071】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の発明について、全発光素子の光量ピーク値の平均値の
40%以下を閾値とすることにより、露光ビーム径のバ
ラツキが充分に小さくなるので、より確実に感光体上に
形成される静電潜像のドット面積のバラツキを均一化す
ることができる。
【0072】請求項3に記載の発明は、請求項1または
2に記載の発明について、全発光素子の光量ピーク値の
平均値の10%以上を閾値とすることにより、露光ビー
ム径のバラツキが充分に小さくなるので、より確実に感
光体上に形成される静電潜像のドット面積のバラツキを
均一化することができる。
【0073】請求項4に記載の発明は、LEDアレイヘ
ッドの個々の発光素子の1ドットあたりの閾値を上回る
発光量が一定になるように各発光素子の発光量を制御す
るデータを作成することができるので、LEDアレイヘ
ッドの発光素子の解像度を充分に維持しながらも、静電
潜像のドットの面積のバラツキを押さえて画質を向上す
ることができる画像形成装置を提供できる。
【0074】請求項5に記載の発明は、請求項4に記載
の発明について、全発光素子の光量ピーク値の平均値の
40%以下を閾値とすることにより、露光ビーム径のバ
ラツキが充分に小さくなるので、より確実に感光体上に
形成される静電潜像のドット面積のバラツキを均一化す
ることができる。
【0075】請求項6に記載の発明は、請求項4または
5に記載の発明について、全発光素子の光量ピーク値の
平均値の10%以上を閾値とすることにより、露光ビー
ム径のバラツキが充分に小さくなるので、より確実に感
光体上に形成される静電潜像のドット面積のバラツキを
均一化することができる。
【0076】請求項7に記載の発明は、発光素子が発す
る露光ビームのうち、現像にあずからないビームプロフ
ァイルの裾部分の光エネルギを除外し、現像に大きく寄
与する露光ビームの発光量を発光素子間でそろえること
ができる。そのため、感光体上に形成したドットの面積
のバラツキを抑えられ、また、過度に光量を上げる必要
がないので、発光素子の解像度を十分に維持できる。よ
って、従来のものより画質を向上することができる。
【0077】請求項8に記載の発明は、請求項7に記載
の発明において、所定の距離を平均スポット径の半値以
下として、それより外側にあるバラツキが大きいビーム
プロファイルの裾部分の光を除外することができるの
で、より確実に静電潜像のドット面積のバラツキを抑え
ることができる。
【0078】請求項9に記載の発明は、請求項7に記載
の発明において、所定の距離を一画素の一辺の半値以下
として、それより外側にあるバラツキが大きいビームプ
ロファイルの裾部分の光を除外することができるので、
より確実に静電潜像のドット面積のバラツキを抑えるこ
とができる。
【0079】請求項10に記載の発明は、請求項7に記
載の発明において、所定の距離を現像後の感光体上にお
けるドット径の半値以下として、それより外側にあるバ
ラツキが大きいビームプロファイルの裾部分の光を除外
することができるので、より確実に静電潜像のドット面
積のバラツキを抑えることができる。
【0080】請求項11に記載の発明は、作成したデー
タにより各発光素子の発光を制御すれば、発光素子が発
する露光ビームのうち、現像にあずからないビームプロ
ファイルの裾部分の光エネルギを除外し、現像に大きく
寄与する露光ビームの発光量を発光素子間でそろえるこ
とができる。そのため、感光体上に形成したドットの面
積のバラツキを抑えられ、また、過度に光量を上げる必
要がないので、発光素子の解像度を十分に維持できる。
よって、従来のものより画質を向上することができる。
【0081】請求項12に記載の発明は、請求項11に
記載の発明において、所定の距離を平均スポット径の半
値以下として、それより外側にあるバラツキが大きいビ
ームプロファイルの裾部分の光を除外することができる
ので、より確実に静電潜像のドット面積のバラツキを抑
えることができる。
【0082】請求項13に記載の発明は、請求項11に
記載の発明において、所定の距離を一画素の一辺の半値
以下として、それより外側にあるバラツキが大きいビー
ムプロファイルの裾部分の光を除外することができるの
で、より確実に静電潜像のドット面積のバラツキを抑え
ることができる。
【0083】請求項14に記載の発明は、請求項11に
記載の発明において、所定の距離を現像後の感光体上に
おけるドット径の半値以下として、それより外側にある
バラツキが大きいビームプロファイルの裾部分の光を除
外することができるので、より確実に静電潜像のドット
面積のバラツキを抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態である画像形成装置に
用いられるLEDアレイヘッドの縦断面図である。
【図2】前記画像形成装置の制御系のブロック図であ
る。
【図3】前記画像形成装置による画像形成プロセスを説
明するフローチャートである。
【図4】前記画像形成装置でLEDアレイヘッドの発光
素子の光量ピーク値の平均値を1としたときの閾値を変
えて、この閾値と、露光ビームのビーム径や、発光素子
の発光量のバラツキとの関係を示すグラフである。
【図5】前記発光素子の発光量を測定するための測定装
置の縦断面図である。
【図6】前記画像形成プロセスで用いる固定データを作
成する作業を説明するフローチャートである。
【図7】前記画像形成プロセスで用いる固定データを作
成する作業を説明するフローチャートである。
【図8】各発光素子の取得DATAn(x,y)のイメ
ージ図である。
【図9】前記画像形成装置でLEDアレイヘッドの発光
素子の中心軸から所定の距離を変えて、この所定の距離
と、発光素子の発光量のバラツキとの関係を示すグラフ
である。
【図10】3例の異なる発光素子によるビームプロファ
イルの例を示したグラフである。
【符号の説明】
1 LEDアレイヘッド 2 LEDアレイヘッド固定台 3 LEDアレイヘッド固定台 4 LEDヘッド焦点合せネジ 5 感光体 6 発光素子 7 等倍結像素子 32 CCD 33 CCD移動方向

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 感光体と、 この感光体を露光して静電潜像を形成するLEDアレイ
    ヘッドと、 このLEDアレイヘッドの個々の発光素子は、そのビー
    ムプロファイルで所定の閾値を上回っている発光量が一
    定になるように制御する制御手段と、を備えていること
    を特徴とする電子写真方式の画像形成装置。
  2. 【請求項2】 閾値は、全発光素子の光量ピーク値の平
    均値の40%以下に設定していることを特徴とする請求
    項2に記載の画像形成装置。
  3. 【請求項3】 閾値は、全発光素子の光量ピーク値の平
    均値の10%以上に設定していることを特徴とする請求
    項1または2に記載の画像形成装置。
  4. 【請求項4】 電子写真方式の画像形成装置で感光体の
    露光に用いるLEDアレイヘッドの光量測定を行なう工
    程と、 この光量測定の結果に基づいて、前記LEDアレイヘッ
    ドの個々の発光素子の1ドットあたりの所定の閾値を上
    回る発光量が一定になるように前記各発光素子の発光量
    を決定する工程と、 この決定した発光量に基づいて、前記LEDアレイヘッ
    ドの発光量を制御するデータを作成する工程と、を含ん
    でなることを特徴とする光量補正データ作成方法。
  5. 【請求項5】 所定の閾値は、全発光素子の光量ピーク
    値の平均値の40%以下に設定することを特徴とする請
    求項4に記載の光量補正データ作成方法。
  6. 【請求項6】 所定の閾値は、全発光素子の光量ピーク
    値の平均値の10%以上に設定することを特徴とする請
    求項4または5に記載の光量補正データ作成方法。
  7. 【請求項7】 感光体と、 この感光体を露光して静電潜像を形成するLEDアレイ
    ヘッドと、 このLEDアレイヘッドを構成する各発光素子の発光量
    を制御して、この個々の発光素子を、その各ビームプロ
    ファイルのピークを通る中心軸から所定の距離以上離れ
    ている裾部分の光を除外したときの発光量が一律となる
    ようにする制御手段と、を備えていることを特徴とする
    電子写真方式の画像形成装置。
  8. 【請求項8】 制御手段は、所定の距離を平均スポット
    径の半値以下としてビームプロファイルの裾部分の光を
    除外したときに、各発光素子の発光量が一律となるよう
    にすることを特徴とする請求項7に記載の画像形成装
    置。
  9. 【請求項9】 制御手段は、所定の距離を一画素の一辺
    の半値以下としてビームプロファイルの裾部分の光を除
    外したときに、各発光素子の発光量が一律となるように
    することを特徴とする請求項7に記載の画像形成装置。
  10. 【請求項10】 制御手段は、所定の距離を現像後の感
    光体上におけるドット径の半値以下としてビームプロフ
    ァイルの裾部分の光を除外したときに、各発光素子の発
    光量が一律となるようにすることを特徴とする請求項7
    に記載の画像形成装置。
  11. 【請求項11】 電子写真方式の画像形成装置で感光体
    の露光に用いるLEDアレイヘッドの各発光素子の発光
    量を、その各ビームプロファイルのピークを通る中心軸
    から所定の距離以上離れている裾部分の光を除外して測
    定する工程と、 この測定により個々の発光素子の発光量を、そのビーム
    プロファイルの前記裾部分の光を除外したときの発光量
    が一律となるように決定する工程と、 この決定した発光量となるように前記各発光素子の発光
    を制御するデータを作成する工程と、を含んでなる発光
    量制御データ作成方法。
  12. 【請求項12】 発光量決定の工程は、所定の距離を平
    均スポット径の半値以下としてビームプロファイルの裾
    部分の光を除外したときに、各発光素子の発光量が一律
    となるように決定することを特徴とする請求項11に記
    載の発光量制御データ作成方法。
  13. 【請求項13】 発光量決定の工程は、所定の距離を一
    画素の一辺の半値以下としてビームプロファイルの裾部
    分の光を除外したときに、各発光素子の発光量が一律と
    なるように決定することを特徴とする請求項11に記載
    の発光量制御データ作成方法。
  14. 【請求項14】 発光量決定の工程は、所定の距離を現
    像後の感光体上におけるドット径の半値以下としてビー
    ムプロファイルの裾部分の光を除外したときに、各発光
    素子の発光量が一律となるように決定することを特徴と
    する請求項11に記載の発光量制御データ作成方法。
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