JPH107985A - ワニス - Google Patents
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- JPH107985A JPH107985A JP8181140A JP18114096A JPH107985A JP H107985 A JPH107985 A JP H107985A JP 8181140 A JP8181140 A JP 8181140A JP 18114096 A JP18114096 A JP 18114096A JP H107985 A JPH107985 A JP H107985A
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Abstract
ピンホールの発生がなく均一な膜厚の薄膜を形成するポ
リアミド酸系ワニスを提供する。 【解決手段】 ポリマ−0.1−40重量%と溶剤60
−99.9重量%とからなるポリアミド酸系ワニスにお
いて、溶剤が、第1成分として下記の化合物群Aから選
ばれる少なくとも1種の化合物の5−80重量%と、第
2成分として下記の化合物群Bから選ばれる少なくとも
1種の化合物の95−20重量%とからなる混合溶媒で
あるポリアミド酸系ワニス: 化合物群A; N−メチル−2−ピロリドン、N−メチルカプロラクタ
ム、N−メチルプロピオンアミド、N,N−ジメチルア
セトアミド、ジメチルスルホオキシド、N,Nジメチル
ホルムアミド等。 化合物群B; シクロヘプタノン、メチルシクロヘキサノン
Description
いは、液晶カラ−フィルタ−或いはその保護膜等に使用
されるポリイミド膜の原料であるポリアミド酸系ワニス
に関するものである。特に、本発明は、塗布性に優れ、
毒性が低く、粘度の経時変化の小さいワニスに関するも
のである。
或いはその保護膜等に広く使用されているポリイミド被
膜は、ポリイミド前駆体であるポリアミド酸を有機溶媒
に溶解したポリアミド酸系ワニスを塗布し、加熱するこ
とにより溶剤を溜去すると共にイミド化反応を行わせる
ことにより得られる。一般にポリアミド酸系ワニスの溶
媒として、ポリアミド酸の合成時に溶媒として使用され
るNメチル−2−ピロリドン(以後NMPと略記するこ
とがある)等の非プロトン性極性有機溶媒がそのまま用
いられている。しかし、このような溶媒を用いたワニス
では、塗布時にピンホールやハジキが発生したり、均一
な膜厚を有する薄膜を形成しにくいという欠点がある。
ここでハジキとは、ワニスが塗布面になじまず油滴状に
凝集したり、塗膜に粟粒大ないし豆粒大のへこみが発生
する状態をいう。例えば、液晶配向膜用ワニスにおい
て、塗膜にピンホールやハジキが発生すると、液晶材料
に配向不良の部分を生じ、表示品位が著しく損なわれ
る。液晶素子の保護膜として使用されるワニスにおいて
も、部分的に保護されない箇所が発生して、素子の表示
品位のみならず信頼性(寿命)にも悪影響が出る。カラ
−フィルタ−用ワニスにおいては、色調が不均一となる
等の不具合が生じる。又、明かなピンホールに到らない
までも、塗膜の厚みが不均一であると液晶表示素子の表
示むらが発生しやすく問題である。これを改良する目的
で、ブチルセロソルブ等のセロソルブ系溶媒を併用した
り、オルガノポリシロキサン化合物やフッ素系界面活性
剤を添加する等の手段が用いられている。しかし、セロ
ソルブ系の溶媒は毒性が強い事は周知の通りであり、作
業環境の安全性を確保するうえで問題となる。また、N
MPとブチルセロソルブを併用したワニスでは、ワニス
の粘度の経時変化が大きく、1日放置すると2割近くも
粘度が低下してしまう場合ががあるとか、ブチルセロソ
ルブのポリアミド酸に対する溶解性が低いいため、ワニ
スを低温で保管するとワニス中のポリマ−が析出してく
る等、ワニスのポットライフが短いという欠点を有す
る。
系ワニスの上記諸欠点改良を目的とする。具体的には、
課題のその1はピンホールの発生しない塗布性の改良さ
れたワニスを提供することにあり、課題のその2は毒性
の改良された溶媒組成にあり、更に、課題のその3はポ
リアミド酸系ワニスの粘度の不安定さ及び低温保存性の
改良である。
題を解決するため鋭意研究の結果、ポリアミド酸を溶解
する溶剤として下記の化合物を使用することにより所期
の目的が達成されることを知り本発明を完成するに至っ
た。即ち、本発明は、ポリマ−0.1−40重量%と溶
剤60−99.9重量%とからなるポリアミド酸系ワニ
スにおいて、溶剤が、第1成分として下記の化合物群A
から選ばれる化合物の少なくとも1種と、第2成分とし
て下記の化合物群Bから選ばれる化合物の少なくとも1
種、または、化合物群Bから選ばれる化合物の少なくと
も1種と化合物群Cから選ばれる化合物を少なくとも1
種とを含有する混合溶剤であることを特徴とするポリア
ミド酸系ワニスである。
機溶剤類 NMP、N−メチルカプロラクタム、N,メチルプロピ
オンアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−
ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホオキシド、N,
N−ジエチルホルムアミド、ジエチルアセトアミド、ジ
メチルイミダゾリジノン、γ−ブチルラクトン。 化合物群B: シクロヘプタノン、メチルシクロヘキサノン 化合物群C: ジエチレングリコ−ルモノメチルエ−テル ジエチレングリコ−ルモノエチルエ−テル トリエチレングリコ−ルモノメチルエ−テル トリエチレングリコ−ルモノエチルエ−テル プロピレングリコ−ルモノブチルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノメチルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノエチルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノプロピルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノブチルエ−テル トリプロピレングリコ−ルモノメチルエ−テル
γ−ブチルラクトン等の毒性の少ない溶剤と、化合物群
Bに属するシクロヘプタノン、メチルシクロヘキサノン
等とを組合せることにより、低毒性でかつ塗布性に優れ
たワニスを提供する事が出来る。更にこれらの溶剤系で
は、従来のワニス組成物(例えば、NMPとブチルセロ
ソルブとの組合せ)では粘度の経時変化が大きいという
欠点を改善することができる。 2)更に、化合物群Aから選ばれた化合物と化合物群B
から選ばれた化合物に、化合物群Cから選ばれる化合物
を配合することにより、一層の塗布性の改良を図ること
ができる。印刷法やスピンナ−法等でワニスを塗布され
た基板は、通常は塗布後直ちに乾燥工程へ移行される
が、工程の都合により、室温でしばらく放置される場合
もある。このような場合には、NMPとブチルセロソル
ブを組合せた従来のワニスでは、放置している間にハジ
キが発生しやすいが、本発明のワニスでは、このような
欠点を解消できた。
5重量%が好ましく、60−10重量%が更に好まし
い。混合溶剤中の第1成分が80重量%を超すと、ピン
ホールの発生や塗膜厚さが不均一となる等の塗布性に問
題が生じやすい。又、混合溶剤中の第1成分の含有量は
小さいと、ポリアミド酸、あるいはポリイミドの溶解能
が低下し、ポリマーが析出し易くなり好ましくない。ワ
ニス中のポリマ−濃度が小さい場合は、第1成分の含量
を低くできるが、一般に使用されるワニスでは第1成分
の含有量は5重量%以上が好ましい。混合溶剤の第1成
分として使用される化合物群Aの中では、NMP、DM
I、およびγ−ブチルラクトンは、沸点が適度であり、
引火点も高く、毒性も比較的小さいので特に好ましい。
混合溶剤中の第2成分の含有量は20−95重量%が好
ましく、40−90%が更に好ましい。混合溶剤中の第
2成分が20重量%未満では、塗布性に問題が生じやす
く、又、95重量%を超すと、ポリマ−が析出(特に低
温時)しやすくなり、いずれも好ましくない。
物群Cから選ばれた化合物を併用する場合においては、
化合物群Cから選ばれる化合物の濃度は、60%以下で
あることが好ましい。更に好ましくは、B/Cの比が1
/3〜3/1の範囲にあるものが効果的である。このよ
うにすることにより、塗布後予備乾燥処理なしに室温に
放置されたり、湿度の高い作業環境で塗布工程が実施さ
れる場合にも、ピンホールやハジキの発生を防止する効
果が得られる。なお、本発明の効果を損なわない限りに
おいて、本発明のワニスに前記第1成分及び第2成分以
外の他の溶剤を配合することができる。。本発明のワニ
スにおいては、ポリアミド酸の濃度を0.1−40重量
%とするが、スピンナ−法、印刷法、浸漬法、スプレイ
法等の通常の塗布方法を用いるには、1−10%程度の
濃度が適当である。
アミド酸としては、液晶配向膜、カラ−フィルタ−或い
はその保護膜等に広く使用されているポリイミド被膜の
前駆体である各種のポリアミド酸がいずれも使用でき
る。ここで、ポリアミド酸とはテトラカルボン酸二無水
物とジアミノ化合物との縮合物であるが、未反応のテト
ラカルボン酸やジアミノ化合物、さらには、ポリアミド
酸の一部がイミド化されたポリアミド・イミドを含有し
た状態をも意味する。ポリアミド酸の原料としては以下
に示す各種のテトラカルボン酸二無水物及び各種のジア
ミノ化合物を例示できるが、これらに限定されるもので
はない。
ニルテトラカルボン酸二無水物、2,2’,3,3’−
ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、2,3,3’,
4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、3,
3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸二無
水物、2,3,3’,4’−ベンゾフェノンテトラカル
ボン酸二無水物、2,2’,3,3’,−ベンゾフェノ
ンテトラカルボン酸二無水物、ビス(3,4−ジカルボ
キシフェニル)スルホン二無水物、1,2,5,6−ナ
フタリンテトラカルボン酸二無水物、2,3,6,7−
ナフタリンテトラカルボン酸二無水物、シクロブタン、
シクロヘキサン、シクロオクタン、ビシクロオクタン,
ル]シクロヘキサン、1,1−ビス[4ー(4ーアミノ
フェノキシ)フェニル]−4−メチルシクロヘキサン、
1,1−ビス[4ー(4ーアミノフェノキシ)フェニ
ル]ー4ーエチルシクロヘキサン、1,1−ビス[4ー
(4ーアミノフェノキシ)フェニル]−4−nプロピル
シクロヘキサン、1,1−ビス[4ー(4ーアミノフェ
ノキシ)フェニル]−4−nブチルシクロヘキサン、
1,1−ビス[4ー(4ーアミノフェノキシ)フェニ
ル]−4−nペンチルシクロヘキサン、1,1−ビス
[4ー(4ーアミノフェノキシ)フェニル]−4−nヘ
キシルシクロヘキサン、1,1−ビス[4ー(4ーアミ
ノフェノキシ)フェニル]−4−nヘプチルシクロヘキ
サン、1,1−ビス[4ー(4ーアミノフェノキシ)フ
ェニル]−4−nオクチルシクロヘキサン、
シ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(4−ア
ミノフェノキシ)フェニル]ブタン、2,2−ビス[4
−(4−アミノフェノキシ)フェニル]ペンタン、2,
2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]ヘ
キサン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)
フェニル]ヘプタン、2,2−ビス[4−(4−アミノ
フェノキシ)フェニル]オクタン、2,2−ビス[4−
(4−アミノフェノキシ)フェニル]ノナン、2,2−
ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]デカ
ン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェ
ニル]ドデカン、1,1−ビス[4ー(4ーアミノベン
ジル)フェニル]シクロヘキサン、1,1−ビス[4ー
(4ーアミノベンジル)フェニル]−4−メチルシクロ
ヘキサン、1,1−ビス[4ー(4ーアミノベンジル)
フェニル]ー4ーエチルシクロヘキサン、1,1−ビス
[4ー(4ーアミノベンジル)フェニル]−4−nプロ
ピルシクロヘキサン、1,1−ビス[4ー(4ーアミノ
ベンジル)フェニル]−4−nブチルシクロヘキサン、
1,1−ビス[4ー(4ーアミノベンジル)フェニル]
−4−nペンチルシクロヘキサン、1,1−ビス[4ー
(4ーアミノベンジル)フェニル]−4−nヘキシルシ
クロヘキサン、1,1−ビス[4ー(4ーアミノベンジ
ル)フェニル]−4−nヘプチルシクロヘキサン、1,
1−ビス[4ー(4ーアミノベンジル)フェニル]−4
−nオクチルシクロヘキサン、1,1−ビス[4ー(4
ーアミノベンジル)フェニル]メタン、
4,4’−ジアミノジフェニルメタ 4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジ
アミノジフェニルスルフィド、4,4’−ジ(メタ−ア
ミノフェノキシ)ジフェニルスルホン、4,4’−(パ
ラ−アミノフェノキシ)ジフェニルスルホン、オルト−
フェニレンジアミン、メタ−フェニレンジアミン、パラ
−フェニレンジアミン、ベンジジン、2,2’−ジアミ
ノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノ
ン,4,4’−ジアミノジフェニル−2,2−プロパ
ン、1,5−ジアミノナフタレン、1,8−ジアミノナ
フタレン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキ
シ)フェニル]ヘキサメチルプロパン、1,4−ジアミ
ノシクロヘキサン、4,4’−ジアミノジシクロヘキシ
ルメタン。
るアミン化合物を例示できる。上記の酸無水物及びジア
ミン化合物はいずれも単一種の化合物を選んで用いるこ
とができるが、2種類以上の化合物を併用することもで
きる。
明する。 試験方法 *塗布性の評価:きれいに洗浄したガラス基板(5×5
cm)上にワニスを数滴滴下し、2000rpmの回転
速度で10秒間スピンナーにかけた後、下記の2水準の
評価を行う。 1)40℃のホットプレ−ト上で5分間予備乾燥して、
ハジキの発生を観察する。 2)溶剤が揮散するまで室温で放置して、ハジキの発生
を観察する。 *粘度保持率の評価:ELD形回転粘度計(東京計器
製)を使用し、試験用ワニスの製造直後、及び室温で1
日及び5日保存した後の粘度を測定温度25℃で測定
し、次式により粘度保持率を求める。 粘度保持率(%)=(経日後の粘度/テスト開始時の粘
度)×100 ポリマーの析出 ワニスを−20℃のフリーザー中に保存し、1日後およ
び7日後にワニス中にポリマーが析出しているか観察す
る。
窒素導入管を備えた300mlのフラスコ中で、窒素雰
囲気下に、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキ
シ)フェニル]オクタン10.0gを脱水精製したNM
P85.8mlに溶解させた後、5℃に氷冷し、ピロメ
リット酸二無水物5.2gを投入し、冷却しながら1時
間攪拌反応させた。次いで、パラアミノフェニルトリメ
トキシシラン1.14gを加え、10℃で1時間攪伴反
応させて、ピロメリット酸二無水物、2,2−ビス[4
−(4−アミノフェノキシ)フェニル]オクタン及び、
パラアミノフェニルトリメトキシシランのモル比がそれ
ぞれ8:7:1.8 からなるポリアミド酸の透明な溶
液(母液1)約100mlを得た。この溶液の25℃に
おける粘度は、約1400cPs、濃度は16重量%で
あった。 2)試料ワニスの調合:母液1に各種溶剤を添加して表
1に示した溶剤濃度に調合し、塗布性の評価を行った。
その結果を表1に示した。
合し、塗布性の評価を行った。その結果を表2に示す。
ニスを10mlのガラス瓶に入れ25℃の室温に放置し
粘度の粘度保持率を評価した。測定結果を表3に示し
た。
溶剤を使用することにより、毒性が小さく、塗布性およ
び保存安定性に優れたポリアミド酸系のワニスを提供す
ることができる。
Claims (4)
- 【請求項1】 ポリマ−0.1−40重量%と溶剤60
−99.9重量%とからなるポリアミド酸系ワニスにお
いて、溶剤が、第1成分として下記の化合物群(A)か
ら選ばれる少なくとも1種の化合物の5−80重量%
と、第2成分として下記の化合物群Bから選ばれる少な
くとも1種の化合物の95−20重量%とを含有する混
合溶剤であることを特徴とするポリアミド酸系ワニス: 化合物群A; N−メチル−2−ピロリドン、 N−メチルカプロラクタム、 N−メチルプロピオンアミド、 N,Nジメチルホルムアミド、 N,N−ジメチルアセトアミド、 N,N−ジエチルホルムアミド、 ジエチルアセトアミド、 ジメチルスルホオキシド、 ジメチルイミダゾリジノン、 γ−ブチルラクトン、 化合物群B; シクロヘプタノン、 メチルシクロヘキサノン。 - 【請求項2】 ポリマ−0.1−40重量%と溶剤60
−99.9重量%とからなるポリアミド酸系ワニスにお
いて、溶剤が、第1成分として下記の化合物群Aから選
ばれる少なくとも1種の化合物の5−80重量%と、第
2成分として下記の化合物群Bから選ばれる少なくとも
1種の化合物と下記の化合物群Cから選ばれる少なくと
も1種の化合物との合計量の95−20重量%とを含有
する混合溶媒であることを特徴とするポリアミド酸系ワ
ニス: 化合物群A; N−メチル−2−ピロリドン、 N−メチルカプロラクタム、 N−メチルプロピオンアミド、 N,N−ジメチルアセトアミド、 ジメチルスルホオキシド、 N,Nジメチルホルムアミド、 N,N−ジエチルホルムアミド、 ジエチルアセトアミド、 ジメチルイミダゾリジノン、 γ−ブチルラクトン、 化合物群B; シクロヘプタノン、 メチルシクロヘキサノン、 化合物群C; ジエチレングリコ−ルモノメチルエ−テル ジエチレングリコ−ルモノエチルエ−テル トリエチレングリコ−ルモノメチルエ−テル トリエチレングリコ−ルモノエチルエ−テル プロピレングリコ−ルモノブチルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノメチルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノエチルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノプロピルエ−テル ジプロピレングリコ−ルモノブチルエ−テル トリプロピレングリコ−ルモノメチルエ−テル - 【請求項3】 請求項1又は2のいずれか1項に記載の
ワニスを使用した液晶配向膜。 - 【請求項4】 請求項3に記載の液晶配向膜を使用した
液晶表示素子。
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- 1996-06-21 JP JP18114096A patent/JP4154736B2/ja not_active Expired - Fee Related
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