JPH10186393A - 液晶表示パネルの表示検査用コネクタ及びその製造方法 - Google Patents

液晶表示パネルの表示検査用コネクタ及びその製造方法

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JPH10186393A
JPH10186393A JP8339962A JP33996296A JPH10186393A JP H10186393 A JPH10186393 A JP H10186393A JP 8339962 A JP8339962 A JP 8339962A JP 33996296 A JP33996296 A JP 33996296A JP H10186393 A JPH10186393 A JP H10186393A
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driver
circuit board
chip
display panel
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Tsutomu Ogino
勉 荻野
Hirotaka Komatsu
博登 小松
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Shin Etsu Polymer Co Ltd
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】表示パネルを実装に準じた状態で表示検査する
ことができる表示検査用コネクタ及びその製造方法を提
供する。 【解決手段】表示検査用コネクタ1は、回路基板5の出
力側端子電極3に接続ワイヤ6が接続され、回路基板5
の出力側端子電極3の裏面側にループ状に伸び、蓋体7
が回路基板5に固設され、接続ワイヤ6の周囲は突起状
端子部9のみが露出するように絶縁性エラストマ樹脂で
充填され、蓋体7側縁の下端面に設けられた凹部または
溝部の底面に、絶縁性エラストマシート10を介して被検
液晶表示パネルのガラス基板の表示出力信号授受電極部
と同様のパターン、ピッチ配列を有する端子電極部11を
備えたドライバーICチップ12が配設されてなり、これを
ガラス基板上の実装位置に合わせたとき、突起状端子部
9が前記ガラス基板の表示入力信号授受電極部上にあ
り、ドライバーICチップ12の端子電極部11とが同一平面
上にある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネル用
のガラス基板上に直接ドライバーICチップが実装され
た、いわゆるCOG(チップオングラス)実装方式によ
る液晶表示パネルの表示検査に適した検査用コネクタに
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、液晶表示パネルのドライバーICの
実装形態として TAB(テープオートメイテッドボンディ
ング)実装方式が採用されてきたが、最近では、小型情
報機器の出現により、液晶表示パネルに対して、薄型
・軽量・小型化、高精細・高分解能、コストダウン
などの要求が高まり、材料、工程の省略によるコストダ
ウンやファインピッチ化が可能となるCOG実装方式が
広く採用されるようになってきている。COG実装方式
による液晶表示パネル(以下、単に表示パネルという)
の表示検査は、図4に示すように、先ず、ガラス基板31
の回路検査を行った後、ドライバーICチップ32をCOG
実装方式により実際に異方導電性膜33を介してガラス基
板31上に実装し、ドライバーICチップ32の端子電極34、
34’に、ガラス基板31の表示入力信号授受電極部35と表
示出力信号授受電極部36とをそれぞれ接続し、さらに、
異方導電性膜33を介して表示入力信号授受電極部35と F
PC(フレキシブルプリント基板)37の電極部38とを接続
した実装状態、すなわち製品に準じた実装状態で信号を
供給し、表示パネル39の最終的な表示検査を行ってい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、ドライバー
ICチップは、通常、バーンインテストの無検査状態で実
装しているため、上記表示検査で見出された不良表示パ
ネルの不良原因が、ドライバーICチップ側にあるのか、
表示パネル側にあるのか判断できない場合が多く、この
ためドライバーICチップや FPCなどをリペアと交換修理
を行いながら検査していくため、収率の低下、生産コス
ト増大の大きな一因となっている。
【0004】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たもので、表示パネルを実装に準じた状態で表示検査す
ることができ、かつ表示パネルの組み立て収率を向上さ
せることのできる検査用コネクタ及びその製造方法を提
供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、COG実装方
式による表示パネルの組み立て時の収率を向上させる方
法について種々検討した結果、表示検査用コネクタ(以
下、単に検査用コネクタという)に、ドライバーICチッ
プを実装に準じて組み込むことにより、表示パネルの表
示検査が簡易にできることを見出し、接続ワイヤの周囲
に絶縁性エラストマ樹脂を充填しかつ接続ワイヤを保護
するための蓋体の一部にドライバーICチップを装着する
ことにより、本発明を完成するに至った。
【0006】すなわち、本発明の表示パネルの検査用コ
ネクタは、入力側端子電極と出力側端子電極を有する回
路基板を備え、この回路基板の出力側端子電極に接続ワ
イヤが接続され、回路基板の出力側端子電極の裏面側に
ループ状に伸び、この接続ワイヤを覆うように蓋体が回
路基板に固設され、接続ワイヤの周囲は突起状端子部の
みが露出するように絶縁性エラストマ樹脂で充填され、
前記蓋体側縁の下端面に設けられた凹部または溝部の底
面に、絶縁性エラストマシートを介して被検液晶表示パ
ネルのガラス基板の表示出力信号授受電極部と同様のパ
ターン、ピッチ配列を有する端子電極部を備えたドライ
バーICチップが配設されてなり、このドライバーICチッ
プを前記ガラス基板上の実装位置に合わせたとき、前記
突起状端子部が前記ガラス基板の表示入力信号授受電極
部上にあり、前記突起状端子部とドライバーICチップの
端子電極部とが同一平面上にあることを特徴としてい
る。
【0007】本発明の表示検査用コネクタの製造方法
は、入力側端子電極と出力側端子電極を有する回路基板
とボンディング基板とを位置合わせして一体化した後、
回路基板の出力側端子電極とボンディング基板との間を
接続ワイヤでボンディングする第1の工程、ドライバー
ICチップを装着するための凹部または溝部を側縁の下端
面に有する蓋体を、前記接続ワイヤを覆うようにボンデ
ィング基板上に固定し、液状の絶縁性エラストマ樹脂を
蓋体に設けられた注入孔より蓋体内に充填し硬化して接
続ワイヤを封止する第2の工程、ボンディング基板をエ
ッチングにより除去する第3の工程、絶縁性エラストマ
樹脂より露出している接続ワイヤの端部に金属メッキを
施す第4の工程、及び蓋体の前記断面矩形の凹部または
溝部の底部に絶縁性エラストマシートを敷設した後、ド
ライバーICチップを挿入し位置合わせして接着し一体化
する第5の工程を有することを特徴とする。
【0008】本発明の表示検査用コネクタに使用される
回路基板は、ガラス・エポキシ基板、ガラス・BTレジ
ン基板などのガラス樹脂系基板、セラミック基板、多層
基板、FPC、リードフレームなどが使用されるが、製
作コストを安価にあげたいときは、ガラス・エポキシ基
板を使用するとよい。
【0009】回路基板の出力側端子電極に接続される接
続ワイヤは、その周囲が絶縁性エラストマ樹脂によって
覆われ、接続ワイヤの端子部の先端のみが絶縁性エラス
トマ樹脂から露出している。接続ワイヤは、金属細線を
ワイヤボンディングして植設されるが、金属細線として
はワイヤボンディングが可能な金、金合金、銅、アルミ
ニウム、アルミニウム−珪素合金、ベリリウム銅、真
鍮、ニッケル、モリブデン、タングステン、ステンレス
などを細線加工したもの、あるいはこれらの細線に金や
金合金をメッキしたものが用いられる。なかでも金細線
が最も好ましい。接続ワイヤの直径は、被検液晶表示パ
ネル側の電極ピッチ等に応じて選択されるが、微細ピッ
チの電極にも対応することのできる直径が18〜50μm、
特には25〜30μm程度の金ワイヤが好ましい。
【0010】また、接続ワイヤの端子部に、被検液晶表
示パネル側の電極との接続をより良好にするために、金
属メッキを施し、突起状端子部を形成する。金属メッキ
の材質としては、金、銀、ニッケル、パラジウム、ロジ
ウム、錫、または半田などが挙げられるが、これらの2
種以上を組み合わせたものとすることもできる。なかで
も接触抵抗が低く、耐腐食性を有する金メッキとするの
が最も好ましい。金属メッキの厚さは、薄すぎると被接
触側の電極との接触が不安定となり、厚すぎると接続ワ
イヤの突起状端子部の先端部が使用時に剥離し易くなる
ので、通常1〜100 μm、好ましくは10〜50μmであ
る。
【0011】絶縁性エラストマ樹脂には、シリコーンゴ
ム、ポリブタジエンゴム、天然ゴム、ポリイソプレンゴ
ム、ウレタンゴム、クロロプレンゴム、スチレン−ブタ
ジエン共重合体ゴムなどの合成ゴムや熱可撓性エラスト
マ樹脂等の絶縁性のゴム弾性材料、さらにはこれらの発
泡材料などが挙げられる。またこれらの材料中に接続ワ
イヤとの接着性を付与する添加剤を加えてもよい。絶縁
性エラストマ樹脂に弾性材料を選択することによって、
弾性材料は接続ワイヤの屈曲にともない一体に弾性変形
するため、常に接点との好ましい接触状態が得られる。
【0012】絶縁性エラストマ樹脂を蓋体内に注入し
て、接続ワイヤの周囲に充填する際の液状樹脂の粘度
は、高すぎるとループ状の接続ワイヤが変形したり、位
置ずれを生じる。また、低すぎると充填領域から漏出す
るため、液状樹脂の粘度は500CP〜1000P 、好ましくは1
0P 〜500Pである。なお、成形硬化後の接続ワイヤの位
置精度をよくするため、できるだけ低い温度、例えば常
温で架橋、硬化させて、硬化収縮量を小さくするのが望
ましい。
【0013】また、蓋体には、剛性を有する汎用のエン
ジニアリングプラスチック材、セラミック材、金属材な
どが使用されるが、寸法精度、機械的強度に優れる金属
材が好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的態様を図1
〜図3を用いて詳細に説明する。なお、本発明の表示パ
ネルの表示検査用コネクタは、以下の実施例に限定され
るものではなく、さまざまな態様が可能である。
【0015】
【実施例】図1は、本発明の表示パネルの表示検査用コ
ネクタを示し、(a)は概略断面図であり、(b)はそ
の平面図である。図において、表示検査用コネクタ1
は、入力側端子電極2、出力側端子電極3及び配線パタ
ーン4を有する回路基板5を備え、この回路基板5の出
力側端子電極3に接続ワイヤ6が接続され、この接続ワ
イヤ6は、回路基板5の出力側端子電極3の裏面側にル
ープ状に伸びている。出力側端子電極3と接続ワイヤ6
の上方には、これらを覆うように蓋体7が設けられ、回
路基板5に固定されている。蓋体7の内側には、絶縁性
エラストマ樹脂8が充填され、接続ワイヤ6の突起状端
子部9のみが絶縁性エラストマ樹脂8から露出してい
る。さらに、蓋体7側縁の下端面には断面矩形の凹部
(または溝部)が設けられ、この凹部に絶縁性エラスト
マシート10を介して、端子電極部11を有するドライバー
ICチップ12が装着され固定されている。
【0016】図2において、上記構成からなる本発明の
表示検査用コネクタ1を用いた、COG実装方式による
被検液晶表示パネルの検査状態が示されている。なお、
前記ドライバーICチップ12の端子電極部11は、被検液晶
表示パネル15のガラス基板16上に設けられた表示出力信
号授受電極部17と同様のパターン、ピッチ配列を有し、
端子電極部11、11' は突起状端子部9と同一平面上に位
置している。被検液晶表示パネルの表示検査に際して、
ドライバーICチップ12をガラス基板16の実装位置に合わ
せたとき、ガラス基板16上に設けられた表示入力信号授
受電極部18と表示検査用コネクタ1の突起状端子部9と
が電気的に接続する位置にドライバーICチップ12は装着
されている。
【0017】このような構成としたことにより、本発明
の表示検査用コネクタ1のドライバーICチップ12の端子
電極11を、被検液晶表示パネル15のガラス基板16上の表
示出力信号授受電極部17に合わせて圧接するだけで、ガ
ラス基板16上の表示入力信号授受電極部18とコネクタ側
の突起状端子部9とが電気的に接続され、回路基板5の
入力側端子電極2から信号を供給して、被検液晶表示パ
ネル15の表示検査を容易に行うことができる。
【0018】次に本発明の表示検査用コネクタの製造方
法を図3にもとづき工程順に示す。 ボンディング工程:先ず、ボンディング基板21上に回路
基板5を位置決めした後、所定のボンディングエリアに
金などの金属メッキを施し、汎用のワイヤーボンダーを
用いて、回路基板5の出力側端子電極3との間に接続ワ
イヤ6をボンディングする。ボンディング基板21は、ケ
ミカルエッチングで溶解除去可能な銅などの金属板が用
いられる。なお、図に示すように、ボンディング基板21
に設けた溝部の底面をボンディングエリアとすることに
よつて、ボンディングされた接続ワイヤ6の先端部は、
回路基板5の下面より突出した状態となり、接続端子と
して好ましい構造となる。(図3(a)参照)
【0019】封止工程:ボンディング基板21と回路基板
5の上部に蓋体7を位置決めして固定する。ボンディン
グ基板21と接する蓋体7側縁の下端面には、ドライバー
ICチップを装着するための凹部または溝部が設けられ、
蓋体7の上面には、絶縁性エラストマ樹脂を注入するた
めの注入孔23が設けられている。この注入孔23から液状
の絶縁性エラストマ樹脂を充填し、接続ワイヤ6の周囲
を絶縁性エラストマ樹脂8で封止する。(図3(b)参
照)
【0020】エッチング工程:ボンディング基板21をケ
ミカルエッチングにより除去する。ケミカルエッチング
は、例えば、塩化第二鉄を含むエッチング液中にボンデ
ィング基板21を浸して行えばよい。なお、蓋体7が、エ
ッチング液によって腐食される金属材からなるときは、
蓋体7を取りはづしてエッチング処理するか、または蓋
体7の表面を耐エッチング剤で予め表面被覆処理してお
く必要がある。(図3(c)参照)
【0021】メッキ工程:次に、絶縁性エラストマ樹脂
8から露出している接続ワイヤ6の先端に形成された突
起状端子部9に金属メッキを施す。金属メッキは、回路
基板5の入力側端子電極2から電極をとり電解メッキを
行えばよい。(図3(d)参照)
【0022】ドライバーICチップ装着工程:蓋体7側縁
の下端面に設けた凹部22の底部に、両面に接着剤層を有
する絶縁性エラストマシート10を挿入し固定した後、ド
ライバーICチップ12を挿入し位置合わせして接着一体化
し、本発明の表示検査用コネクタ1を得た。なお、ドラ
イバーICチップ12の端子電極部11を被検液晶表示パネル
の電極部17、18 に接続したとき、絶縁性エラストマシー
ト10の弾性によって両電極部は加圧接続され、電気的接
続性が向上する。このため、絶縁性エラストマシート10
の厚さは、0.1 〜2.0mm とされ、より好ましくは0.5 〜
1.0mm である。また、ドライバーICチップ12の端子電極
部11は、バンプ状にしておくと接続性が向上する。(図
3(e)参照)
【0023】このようにして製作された表示検査用コネ
クタを用いて、COG実装方式による被検液晶表示パネ
ルの表示検査を行ったところ、精度の高い検査結果が得
られ、表示検査を十分に満足する機能を有していた。
【0024】
【発明の効果】本発明の表示検査用コネクタは、被検液
晶表示パネルのガラス基板上に設けられた表示出力信号
授受電極部上に、表示検査用コネクタに装着されたドラ
イバーICチップの端子電極部を位置合わせして圧接する
ことにより、表示検査用コネクタの突起状端子部とガラ
ス基板上の表示入力信号授受電極部とは電気的に確実に
接続され、回路基板の入力側端子電極から信号を供給す
ることにより、表示パネルの表示検査を容易にかつ高い
精度で行うことができ、従来の検査方法に比べ検査工程
が大幅に簡略化され、さらには、表示パネル、ドライバ
ーICチップなどの収率が大幅に向上し、生産コストが低
減された。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の表示パネルの表示検査用コネクタを示
し、(a)は概略断面図であり、(b)はその平面図で
ある。
【図2】本発明の表示検査用コネクタを用いた、COG
実装方式による被検液晶表示パネルの検査状態を示す概
略断面図である。
【図3】本発明の表示検査用コネクタの製造方法を工程
順に示す概略断面図である。
【図4】従来の表示検査用コネクタを用いた、COG実
装方式による被検液晶表示パネルの検査状態を示す概略
断面図である。
【符号の説明】
1 ……… 表示検査用コネクタ、 2 ……… 入力側端子電極、 3 ……… 出力側端子電極、 4 ……… 配線パターン、 5 ……… 回路基板、 6 ……… 接続ワイヤ、 7 ……… 蓋体、 8 ……… 絶縁性エラストマ樹脂、 9 ……… 突起状端子部、 10 ……… 絶縁性エラストマシート、 11 ……… 端子電極部、 12、32…… ドライバーICチップ、 15 ……… 被検液晶表示パネル、 16,31…… ガラス基板、 17、36…… 表示出力信号授受電極部、 18、35…… 表示入力信号授受電極部、 21 ……… ボンディング基板、 22 ……… 凹部、 23 ……… 注入孔、 33 ……… 異方導電性膜、 34,34' … 端子電極、 37 ……… フレキシブルプリント基板、 38 ……… 電極部、 39 ……… 表示パネル。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力側端子電極と出力側端子電極を有する
    回路基板を備え、この回路基板の出力側端子電極に接続
    ワイヤが接続され、回路基板の出力側端子電極の裏面側
    にループ状に伸び、この接続ワイヤを覆うように蓋体が
    回路基板に固設され、接続ワイヤの周囲は突起状端子部
    のみが露出するように絶縁性エラストマ樹脂で充填さ
    れ、前記蓋体側縁の下端面に設けられた凹部または溝部
    の底面に、絶縁性エラストマシートを介して被検液晶表
    示パネルのガラス基板の表示出力信号授受電極部と同様
    のパターン、ピッチ配列を有する端子電極部を備えたド
    ライバーICチップが配設されてなり、このドライバーIC
    チップを前記ガラス基板上の実装位置に合わせたとき、
    前記突起状端子部が前記ガラス基板の表示入力信号授受
    電極部上にあり、前記突起状端子部とドライバーICチッ
    プの端子電極部とが同一平面上にあることを特徴とする
    液晶表示パネルの表示検査用コネクタ。
  2. 【請求項2】入力側端子電極と出力側端子電極を有する
    回路基板とボンディング基板とを位置合わせして一体化
    した後、回路基板の出力側端子電極とボンディング基板
    との間を接続ワイヤでボンディングする第1の工程、ド
    ライバーICチップを装着するための凹部または溝部を側
    縁の下端面に有する蓋体を、前記接続ワイヤを覆うよう
    にボンディング基板上に固定し、液状の絶縁性エラスト
    マ樹脂を蓋体に設けられた注入孔より蓋体内に充填し硬
    化して接続ワイヤを封止する第2の工程、ボンディング
    基板をエッチングにより除去する第3の工程、絶縁性エ
    ラストマ樹脂より露出している接続ワイヤの端部に金属
    メッキを施す第4の工程、及び蓋体の前記断面矩形の凹
    部または溝部の底部に絶縁性エラストマシートを敷設し
    た後、ドライバーICチップを挿入し位置合わせして接着
    し一体化する第5の工程を有することを特徴とする液晶
    表示パネルの表示検査用コネクタの製造方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1316293C (zh) * 2002-12-10 2007-05-16 统宝光电股份有限公司 平面显示器组装结构
CN100354718C (zh) * 2001-05-17 2007-12-12 三星电子株式会社 具有导线固定元件的液晶显示装置
CN100451741C (zh) * 2007-10-16 2009-01-14 华映视讯(吴江)有限公司 Ic芯片安装方法、ic芯片安装架构以及液晶显示器
KR100991367B1 (ko) * 2010-03-15 2010-11-02 (주)아테코 표시장치용 검사 모듈

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6429120B1 (en) 2000-01-18 2002-08-06 Micron Technology, Inc. Methods and apparatus for making integrated-circuit wiring from copper, silver, gold, and other metals
US6266119B1 (en) * 1998-01-13 2001-07-24 Canon Kabushiki Kaisha Liquid crystal apparatus and production process thereof
US6509590B1 (en) * 1998-07-20 2003-01-21 Micron Technology, Inc. Aluminum-beryllium alloys for air bridges
US6556268B1 (en) * 1999-03-31 2003-04-29 Industrial Technology Research Institute Method for forming compact LCD packages and devices formed in which first bonding PCB to LCD panel and second bonding driver chip to PCB
US6420262B1 (en) 2000-01-18 2002-07-16 Micron Technology, Inc. Structures and methods to enhance copper metallization
JP4649706B2 (ja) * 2000-06-08 2011-03-16 ソニー株式会社 表示装置およびこれを用いた携帯端末
JP2002196298A (ja) * 2000-12-22 2002-07-12 Fujitsu Ltd 液晶表示ユニットとその製造方法
US6944032B1 (en) 2001-04-12 2005-09-13 Rockwell Collins Interconnect for flat panel displays
US7446261B2 (en) 2001-09-06 2008-11-04 Finisar Corporation Flexible circuit boards with tooling cutouts for optoelectronic modules
US7439449B1 (en) 2002-02-14 2008-10-21 Finisar Corporation Flexible circuit for establishing electrical connectivity with optical subassembly
US6685487B2 (en) * 2002-06-12 2004-02-03 Siemens Information & Communication Mobile Llc Elastomeric connector assembly
US7526207B2 (en) * 2002-10-18 2009-04-28 Finisar Corporation Flexible circuit design for improved laser bias connections to optical subassemblies
KR20040075377A (ko) * 2003-02-20 2004-08-30 삼성전자주식회사 구동 아이씨 및 이를 갖는 디스플레이 장치
WO2004093508A1 (ja) * 2003-04-18 2004-10-28 Ibiden Co., Ltd. フレックスリジッド配線板
US7311240B2 (en) 2004-04-30 2007-12-25 Finisar Corporation Electrical circuits with button plated contacts and assembly methods
US7425135B2 (en) * 2004-04-30 2008-09-16 Finisar Corporation Flex circuit assembly
US7306377B2 (en) * 2004-04-30 2007-12-11 Finisar Corporation Integrated optical sub-assembly having epoxy chip package
US7275937B2 (en) * 2004-04-30 2007-10-02 Finisar Corporation Optoelectronic module with components mounted on a flexible circuit
JP4536430B2 (ja) * 2004-06-10 2010-09-01 イビデン株式会社 フレックスリジッド配線板
US7629537B2 (en) * 2004-07-09 2009-12-08 Finisar Corporation Single layer flex circuit
TWI288267B (en) * 2004-09-03 2007-10-11 Innolux Display Corp Liquid crystal display panel and method of fabricating the circuit substrate of the liquid crystal display panel
JP4178417B2 (ja) * 2005-07-25 2008-11-12 セイコーエプソン株式会社 半導体装置の製造方法
TW200719002A (en) * 2005-11-07 2007-05-16 Au Optronics Corp Liquid crystal display panel module and flexible printed circuit board thereof
JP2007139912A (ja) * 2005-11-15 2007-06-07 Sharp Corp 駆動素子実装表示装置
JP4945140B2 (ja) * 2006-02-01 2012-06-06 テクダイヤ株式会社 波長可変光フィルター及びこれを用いた外部共振器型半導体レーザ装置
TWI301201B (en) * 2006-03-15 2008-09-21 Au Optronics Corp Display circuits
JP4884288B2 (ja) * 2007-04-27 2012-02-29 三洋電機株式会社 コネクタ装置およびその製造方法並びにそれを用いた電池パック
JP2011059149A (ja) * 2009-09-07 2011-03-24 Hitachi Displays Ltd 電子機器
CN101908520A (zh) * 2010-08-03 2010-12-08 福建合顺微电子有限公司 一种引线框架塑胶复合体联接结构
CN104576411A (zh) * 2013-10-25 2015-04-29 飞思卡尔半导体公司 双角部顶部闸道模制
JP6348759B2 (ja) * 2014-04-16 2018-06-27 オリンパス株式会社 半導体モジュール、接合用治具、および半導体モジュールの製造方法
CN108450012A (zh) * 2015-07-03 2018-08-24 奥金斯电子有限公司 测试插座、测试插座制造方法及测试插座用夹具组件
JP6844455B2 (ja) * 2017-07-04 2021-03-17 株式会社オートネットワーク技術研究所 回路装置
CN107819447A (zh) * 2017-09-11 2018-03-20 上海亚明照明有限公司 集线式滤波器
WO2019123647A1 (ja) * 2017-12-22 2019-06-27 堺ディスプレイプロダクト株式会社 表示装置および表示装置の製造方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5237744A (en) * 1975-09-19 1977-03-23 Seiko Epson Corp Electronic desk computer with liquid crystal display
JPS60130721A (ja) * 1983-12-19 1985-07-12 Citizen Watch Co Ltd 液晶表示装置
JPS60238817A (ja) * 1984-05-12 1985-11-27 Citizen Watch Co Ltd 液晶表示装置
JPH0682765B2 (ja) * 1985-12-25 1994-10-19 株式会社日立製作所 液晶表示素子
KR940006185Y1 (ko) * 1990-06-07 1994-09-10 가시오 게이상기 가부시끼가이샤 Ic 모듈
JP2801487B2 (ja) * 1992-04-30 1998-09-21 シャープ株式会社 パネルの実装構造および実装方法並びに樹脂供給硬化方法
US5429510A (en) * 1993-12-01 1995-07-04 Aehr Test Systems, Inc. High-density interconnect technique
US5729316A (en) * 1994-07-07 1998-03-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display module
WO1996008746A1 (fr) * 1994-09-16 1996-03-21 Seiko Epson Corporation Affichage a cristaux liquides, sa structure de montage, et dispositif electronique
TW378276B (en) * 1995-01-13 2000-01-01 Seiko Epson Corp Liquid crystal display device and its fabrication method
KR100405119B1 (ko) * 1995-06-29 2004-03-22 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. 디스플레이디바이스
JP2730536B2 (ja) * 1995-12-27 1998-03-25 日本電気株式会社 液晶表示装置
JPH09297318A (ja) * 1996-03-06 1997-11-18 Seiko Epson Corp 液晶装置、液晶装置の製造方法および電子機器
JP3423855B2 (ja) * 1996-04-26 2003-07-07 株式会社デンソー 電子部品搭載用構造体および電子部品の実装方法
US5738530A (en) * 1996-05-28 1998-04-14 Packard Hughes Interconnect Company Contact pad having metallically anchored elastomeric electrical contacts
US5860815A (en) * 1997-02-21 1999-01-19 Minnesota Mining And Manufacturing Company Edge mount connector having location recesses for solder tail registration
US5777705A (en) * 1997-05-30 1998-07-07 International Business Machines Corporation Wire bond attachment of a liquid crystal display tile to a tile carrier

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100354718C (zh) * 2001-05-17 2007-12-12 三星电子株式会社 具有导线固定元件的液晶显示装置
CN1316293C (zh) * 2002-12-10 2007-05-16 统宝光电股份有限公司 平面显示器组装结构
CN100451741C (zh) * 2007-10-16 2009-01-14 华映视讯(吴江)有限公司 Ic芯片安装方法、ic芯片安装架构以及液晶显示器
KR100991367B1 (ko) * 2010-03-15 2010-11-02 (주)아테코 표시장치용 검사 모듈

Also Published As

Publication number Publication date
EP0849603B1 (en) 2004-05-06
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