JPH0941163A - 銅および銅合金のマイクロエッチング剤 - Google Patents

銅および銅合金のマイクロエッチング剤

Info

Publication number
JPH0941163A
JPH0941163A JP7196637A JP19663795A JPH0941163A JP H0941163 A JPH0941163 A JP H0941163A JP 7196637 A JP7196637 A JP 7196637A JP 19663795 A JP19663795 A JP 19663795A JP H0941163 A JPH0941163 A JP H0941163A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
copper
acid
ion source
etching
agent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7196637A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2923524B2 (ja
Inventor
Yoshiaki Maki
善朗 牧
Toshiko Nakagawa
登志子 中川
Yasushi Yamada
康史 山田
Takashi Haruta
孝史 春田
Maki Arimura
摩紀 有村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MEC Co Ltd
Original Assignee
MEC Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MEC Co Ltd filed Critical MEC Co Ltd
Priority to JP7196637A priority Critical patent/JP2923524B2/ja
Priority to TW085108076A priority patent/TW366368B/zh
Priority to CN96110803A priority patent/CN1090686C/zh
Priority to DE69612336T priority patent/DE69612336T2/de
Priority to EP96111792A priority patent/EP0757118B1/en
Priority to US08/686,068 priority patent/US5807493A/en
Priority to KR1019960031430A priority patent/KR100409189B1/ko
Publication of JPH0941163A publication Critical patent/JPH0941163A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2923524B2 publication Critical patent/JP2923524B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/16Acidic compositions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/16Acidic compositions
    • C23F1/18Acidic compositions for etching copper or alloys thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23GCLEANING OR DE-GREASING OF METALLIC MATERIAL BY CHEMICAL METHODS OTHER THAN ELECTROLYSIS
    • C23G1/00Cleaning or pickling metallic material with solutions or molten salts
    • C23G1/02Cleaning or pickling metallic material with solutions or molten salts with acid solutions
    • C23G1/10Other heavy metals
    • C23G1/103Other heavy metals copper or alloys of copper
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/382Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal
    • H05K3/383Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal by microetching
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/12Using specific substances
    • H05K2203/125Inorganic compounds, e.g. silver salt
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/061Etching masks
    • H05K3/064Photoresists
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/28Applying non-metallic protective coatings
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 銅表面および銅合金表面を、ソルダーレジス
ト等との密着性に優れた深い凹凸を有する表面形状に粗
面化することができ、さらにはんだ付け性に適した表面
状態にすることができるマイクロエッチング剤を提供す
る。 【解決手段】 第二銅イオン源、酸解離定数が5以下の
有機酸およびハロゲンイオン源を含有する水溶液からな
る銅および銅合金のマイクロエッチング剤。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は銅表面および銅合金
表面の処理に有用なマイクロエッチング剤に関する。
【0002】
【従来の技術】プリント配線板の製造において、銅表面
をエッチングレジストやソルダーレジストで被覆する
際、接着性を向上させるために、銅表面を研磨すること
が行われている。この研磨の方法には、バフ研磨、スク
ラブ研磨等の機械研磨と、マイクロエッチング(化学研
磨)とがあるが、細線パターンを有する基板の処理には
マイクロエッチングが適用されている。一般にマイクロ
エッチングでは、銅表面が1〜5μm程度エッチングさ
れる。
【0003】また、はんだレベラー工程の前や電子部品
実装の前に銅表面の酸化皮膜を除去してはんだ付け性を
向上させるためにもマイクロエッチングが行われてい
る。前記マイクロエッチングには、通常硫酸と過酸化水
素とを主成分とする水溶液や、過硫酸塩を主成分とする
水溶液が使用されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、プリント配
線板に形成される回路パターンの高密度化に伴い、ソル
ダーレジストは従来の熱硬化型から細線パターン形成に
優れた紫外線硬化型に移行しつつある。ところが、この
紫外線硬化型ソルダーレジストは従来のソルダーレジス
トに比べて銅表面との接着性に劣るため、従来のマイク
ロエチングで得られる表面では接着性が不充分であり、
その後の金メッキ工程、はんだレベラー工程、電子部品
実装時等にレジスト皮膜のはがれやふくれ等が生じるこ
とがある。
【0005】一方、はんだレベラー工程においても、プ
リント配線板には表面実装部品用のパッドが増えてお
り、従来のマイクロエッチングで得られる表面でははん
だ付け性が不充分で、はんだ付け不良が生じることがあ
る。
【0006】本発明は、銅表面および銅合金表面を、ソ
ルダーレジスト等との接着性に優れた深い凹凸を有する
形状に粗面化することができ、さらにはんだ付け性に適
した表面状態にすることができるマイクロエッチング剤
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】そこで本発明者らは前記
目的を達成するべく鋭意研究を重ねた結果、第二銅イオ
ン源、酸解離定数pKaが5以下の有機酸およびハロゲ
ンイオン源を含有する水溶液からなるマイクロエッチン
グ剤を見出し、本発明を完成した。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明に用いる第二銅イオン源
は、金属銅などを酸化するための酸化剤として作用する
ものである。本発明においては酸化剤として第二銅イオ
ン源を用いるため、マイクロエッチング剤として適度な
エッチングスピードを発現させることができ、しかも銅
表面に深い凹凸を有する形状を安定してつくることがで
きる。前記第二銅イオン源としては、例えば有機酸の銅
塩や、塩化銅(II)、臭化銅(II)、水酸化銅(I
I)等があげられる。前記銅塩を形成する有機酸に特に
限定はないが、後述するpKaが5以下の有機酸が好ま
しい。前記第二銅イオン源は2種以上を併用してもよ
い。
【0009】前記第二銅イオン源の含有量は、金属銅に
換算して0.01〜20%(重量%、以下同様)が好ま
しく、さらに0.1〜10%が好ましい。前記含有量が
少なすぎるとエッチングスピードが遅くなり、一方多す
ぎると溶解しにくくなり、スマットのようなものが生じ
るようになる。
【0010】本発明に用いるpKaが5以下の有機酸
は、第二銅イオン源によって酸化された銅を溶解させる
ため、またpH調整のためにもに配合されるものであ
る。前記有機酸のpKaが5をこえると酸化銅を充分に
溶解することができなくなる。pKaが5以下の有機酸
の具体例としては、例えばギ酸、酢酸、プロピオン酸、
酪酸、吉草酸、カプロン酸等の飽和脂肪酸、アクリル
酸、クロトン酸、イソクロトン等の不飽和脂肪酸、シュ
ウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、
ピメリン酸等の脂肪族飽和ジカルボン酸、マレイン酸な
どの脂肪族不飽和ジカルボン酸、安息香酸、フタル酸、
桂皮酸等の芳香族カルボン酸、グリコール酸、乳酸、リ
ンゴ酸、クエン酸等のオキシカルボン酸、スルファミン
酸、β−クロロプロピオン酸、ニコチン酸、アスコルビ
ン酸、ヒドロキシピバリン酸、レブリン酸等の置換基を
有するカルボン酸、それらの誘導体等があげられる。前
記有機酸は2種以上を併用してもよい。
【0011】前記有機酸の含有量は0.1〜30%程度
が好ましい。前記含有量が少なすぎると酸化銅を充分に
溶解することができずスマットのようなものが残り、安
定したエッチングスピードが得られなくなり、また多す
ぎると銅の溶解安定性が低下し、銅表面に再酸化が生じ
たりする。
【0012】本発明に用いるハロゲンイオン源は、銅の
溶解を補助し、接着性やはんだ付け性に優れた銅表面を
作るために配合されるものである。前記ハロゲンイオン
源としては、例えば塩素イオン、臭素イオン等のイオン
源である、例えば塩酸、臭化水素酸、塩化ナトリウム、
塩化カルシウム、塩化カリウム、塩化アンモニウム、臭
化カリウム、塩化銅、臭化銅、塩化亜鉛、塩化鉄、臭化
錫等やその他溶液中でハロゲンイオンを解離しうる化合
物があげられる。前記ハロゲンイオン源は2種以上を併
用してもよい。なお、例えば塩化銅(II)は、ハロゲ
ンイオン源と第二銅イオン源の両方の作用を有するもの
として使用することができる。
【0013】前記ハロゲンイオン源の含有量はハロゲン
イオンとして0.01〜20%程度が好ましい。前記含
有量が少なすぎる場合や多すぎる場合は樹脂との接着性
やはんだ付け性のよい銅表面が得られなくなる。
【0014】さらに本発明のマイクロエッチング剤に
は、エッチング処理中のpHの変動を少なくするために
有機酸のナトリウム塩やカリウム塩やアンモニウム塩等
の塩や、銅の溶解安定性を向上させるためにエチレンジ
アミン、ピリジン、アニリン、アンモニア、モノエタノ
ールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミ
ン、N−メチルジエタノールアミン等の錯化剤を添加し
てもよく、必要に応じてその他の種々の添加剤等を添加
してもよい。
【0015】本発明のマイクロエッチング剤の使用方法
に特に限定はないが、例えば処理される銅または銅合金
にスプレーして吹き付ける方法、銅または銅合金を表面
処理剤中に浸漬する方法等があげられる。浸漬による場
合には、銅や銅合金のエッチングによって処理剤中に生
成した第一銅イオンを第二銅イオンに酸化するため、バ
ブリング等による空気の吹き込みが行われる。また、本
発明のマイクロエッチング剤は使用後の廃液処理が容易
であり、例えば中和、高分子凝集剤等を利用する一般的
な簡便な方法で処理できる。
【0016】本発明のマイクロエッチング剤による処理
の後、樹脂との密着性をさらに向上させるために、例え
ば米国特許第3645772号明細書に開示されている
ように、アゾール類の水溶液やアルコール溶液で処理し
てもよい。また、本発明のマイクロエッチング剤による
処理の後、ブラウンオキサイドやブラックオキサイドと
よばれる酸化処理を行なってもよい。
【0017】本発明のマイクロエッチング剤は銅や銅合
金の化学研磨等に広く使用することができる。特に処理
された銅等の表面には深い凹凸が形成されており、プリ
プレグ、ソルダーレジスト、ドライフィルムレジスト、
電着レジスト等の樹脂との密着性が良好であり、または
んだ付け性にも優れた表面であるため、ピングリッドア
レイ(PGA)用やボールグリッドアレイ(BGA)用
を含む種々のプリント配線板の製造に特に有用である。
さらにリードフレームの表面処理にも有用である。
【0018】例えば、プリント配線板用銅張積層板の製
造において、銅箔を本発明のマイクロエッチング剤で処
理して粗面化すると、プリプレグとの接着強さに優れ、
しかもパターン形成の際のエッチング性に優れた表面に
なる。また、多層プリント配線板を製造する際の内層基
板の銅表面の粗面化に用いると、プリプレグとの接着強
さに優れ、かつ耐ピンクリング性に優れた表面をつくる
ことができる。さらに、本発明のマイクロエッチング剤
で処理された表面は、従来の硫酸・過酸化水素系エッチ
ング剤等による表面に比べて光沢が少ないため、感光性
樹脂を塗布または積層した場合、樹脂との密着性向上と
いう効果に加え、露光の際の光散乱が少なくなり、感光
性樹脂の解像度が向上するという効果も得られる。
【0019】
【実施例】
実施例1〜4 表1に示す成分を混合して、本発明のマイクロエッチン
グ剤を調製した。次に、プリント配線板用銅張積層板
(FR−4)を前記マイクロエッチング剤で40℃、6
0秒の条件でスプレー処理した後、ソルダーレジスト
(PSR−4000、太陽インキ製造(株)製)を塗布
し、露光、現像、硬化(ポストキュア)させて種々のパ
ターンを形成した。次に無洗浄タイプのポストフラック
ス(AP−4626、メック(株)製)を塗布し、噴流
式の自動はんだ付け装置によりはんだ付けを行い、その
後のソルダーレジストの状態を観察した。なお、ソルダ
ーレジストのはがれが生じやすいようにソルダーレジス
トのポストキュア時間を標準よりも短くし、ポストフラ
ックスの濃度を3倍にした。結果を表2に示す。
【0020】また、直径1mmの円形パッドを多数有
し、それ以外の部分をソルダーレジストで被覆したプリ
ント配線板用銅張積層板(FR−4)を、表1に示すマ
イクロエッチング剤で40℃、60秒の条件でスプレー
処理した後、はんだレベラー用フラックス(W−255
6、メック(株)製)を塗布して水平型はんだレベラー
によりはんだ付けを行い、はんだ付け合格率(はんだが
着いたパッドの割合)を調べた。結果を表2に示す。
【0021】比較例1〜4 実施例1と同様にして表1に示すマイクロエッチング剤
を調整し、評価した。結果を表2に示す。
【0022】
【表1】
【0023】
【表2】
【0024】
【発明の効果】本発明のマイクロエッチング剤で銅また
は銅合金を処理することにより、プリプレグやレジスト
等の樹脂との接着性が良好であり、またはんだ付け性に
も優れた表面を形成することができる。しかも、得られ
た表面は従来のマイクロエッチングによる表面に比べて
光沢が少ないため、感光性樹脂の下地とした場合に解像
度が向上する効果や、プリント配線板の回路の自動光学
検査機(AOI)による検査における誤動作が少なくな
るという効果も得られる。したがって、本発明のマイク
ロエッチング剤は今後ますますパターンの細線化や高密
度化が進むプリント配線板の製造に充分対応できるマイ
クロエッチング剤である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 春田 孝史 兵庫県尼崎市東初島町1番地 メック株式 会社内 (72)発明者 有村 摩紀 兵庫県尼崎市東初島町1番地 メック株式 会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第二銅イオン源、酸解離定数pKaが5
    以下の有機酸およびハロゲンイオン源を含有する水溶液
    からなる銅および銅合金のマイクロエッチング剤。
JP7196637A 1995-08-01 1995-08-01 銅および銅合金のマイクロエッチング剤並びにマイクロエッチング方法 Expired - Lifetime JP2923524B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7196637A JP2923524B2 (ja) 1995-08-01 1995-08-01 銅および銅合金のマイクロエッチング剤並びにマイクロエッチング方法
TW085108076A TW366368B (en) 1995-08-01 1996-07-04 Microetching composition for copper or copper alloy
CN96110803A CN1090686C (zh) 1995-08-01 1996-07-10 铜及铜合金的微蚀刻剂
EP96111792A EP0757118B1 (en) 1995-08-01 1996-07-22 Method for microetching copper or copper alloy
DE69612336T DE69612336T2 (de) 1995-08-01 1996-07-22 Verfahren zum Mikroätzen von Kupfer und Kupferlegierungen
US08/686,068 US5807493A (en) 1995-08-01 1996-07-24 Microetching method for copper or copper alloy
KR1019960031430A KR100409189B1 (ko) 1995-08-01 1996-07-30 구리또는구리합금용마이크로엣칭조성물

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7196637A JP2923524B2 (ja) 1995-08-01 1995-08-01 銅および銅合金のマイクロエッチング剤並びにマイクロエッチング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0941163A true JPH0941163A (ja) 1997-02-10
JP2923524B2 JP2923524B2 (ja) 1999-07-26

Family

ID=16361086

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7196637A Expired - Lifetime JP2923524B2 (ja) 1995-08-01 1995-08-01 銅および銅合金のマイクロエッチング剤並びにマイクロエッチング方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5807493A (ja)
EP (1) EP0757118B1 (ja)
JP (1) JP2923524B2 (ja)
KR (1) KR100409189B1 (ja)
CN (1) CN1090686C (ja)
DE (1) DE69612336T2 (ja)
TW (1) TW366368B (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004536220A (ja) * 2000-07-27 2004-12-02 アトテック・ドイチュラント・ゲーエムベーハー 金属表面への高分子材料の接着性改善
JP2009521597A (ja) * 2005-12-21 2009-06-04 マクダーミッド インコーポレーテッド マイクロエッチング組成物及びその使用方法
JP2013527323A (ja) * 2010-05-26 2013-06-27 アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 銅および銅合金のマイクロエッチングのための組成物および方法
WO2013187537A1 (ja) 2012-09-28 2013-12-19 メック株式会社 銅のマイクロエッチング剤及びその補給液、並びに配線基板の製造方法
WO2014017115A1 (ja) 2012-07-24 2014-01-30 メック株式会社 銅のマイクロエッチング剤及びその補給液、並びに配線基板の製造方法
WO2017141799A1 (ja) 2016-02-19 2017-08-24 メック株式会社 銅のマイクロエッチング剤および配線基板の製造方法
US11053594B2 (en) 2016-02-19 2021-07-06 Mec Company Ltd. Microetchant for copper and method for producing wiring board
KR20210151835A (ko) 2020-06-02 2021-12-14 멕크 가부시키가이샤 마이크로 에칭제 및 배선 기판의 제조 방법

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW374802B (en) * 1996-07-29 1999-11-21 Ebara Densan Ltd Etching composition, method for roughening copper surface and method for producing printed wiring board
US5869130A (en) * 1997-06-12 1999-02-09 Mac Dermid, Incorporated Process for improving the adhesion of polymeric materials to metal surfaces
US6146701A (en) * 1997-06-12 2000-11-14 Macdermid, Incorporated Process for improving the adhension of polymeric materials to metal surfaces
US6162503A (en) * 1997-06-12 2000-12-19 Macdermid, Incorporated Process for improving the adhesion of polymeric materials to metal surfaces
KR100361565B1 (ko) * 1997-07-08 2002-11-22 이비덴 가부시키가이샤 인쇄 배선판 및 이의 제조방법
US6141870A (en) 1997-08-04 2000-11-07 Peter K. Trzyna Method for making electrical device
US6284309B1 (en) 1997-12-19 2001-09-04 Atotech Deutschland Gmbh Method of producing copper surfaces for improved bonding, compositions used therein and articles made therefrom
US6331490B1 (en) * 1998-03-13 2001-12-18 Semitool, Inc. Process for etching thin-film layers of a workpiece used to form microelectric circuits or components
TW367415B (en) * 1998-06-18 1999-08-21 United Microelectronics Corp Test method for ball grid array integrated circuit
EP1102523A4 (en) * 1998-07-08 2005-11-30 Ibiden Co Ltd PRINTED CIRCUIT BOARD AND MANUFACTURING METHOD
JP4063475B2 (ja) * 1999-11-10 2008-03-19 メック株式会社 銅または銅合金のエッチング剤
US6383272B1 (en) 2000-06-08 2002-05-07 Donald Ferrier Process for improving the adhesion of polymeric materials to metal surfaces
US6419784B1 (en) 2000-06-21 2002-07-16 Donald Ferrier Process for improving the adhesion of polymeric materials to metal surfaces
DE10066028C2 (de) * 2000-07-07 2003-04-24 Atotech Deutschland Gmbh Kupfersubstrat mit aufgerauhten Oberflächen
US6554948B1 (en) 2000-08-22 2003-04-29 Donald Ferrier Process for improving the adhesion of polymeric materials to metal surfaces
KR100379824B1 (ko) * 2000-12-20 2003-04-11 엘지.필립스 엘시디 주식회사 식각용액 및 식각용액으로 패턴된 구리배선을 가지는전자기기용 어레이기판
JP4309602B2 (ja) 2001-04-25 2009-08-05 メック株式会社 銅または銅合金と樹脂との接着性を向上させる方法、ならびに積層体
US6627546B2 (en) * 2001-06-29 2003-09-30 Ashland Inc. Process for removing contaminant from a surface and composition useful therefor
US6746547B2 (en) * 2002-03-05 2004-06-08 Rd Chemical Company Methods and compositions for oxide production on copper
US7232478B2 (en) * 2003-07-14 2007-06-19 Enthone Inc. Adhesion promotion in printed circuit boards
US20050067378A1 (en) * 2003-09-30 2005-03-31 Harry Fuerhaupter Method for micro-roughening treatment of copper and mixed-metal circuitry
JP2005150554A (ja) * 2003-11-18 2005-06-09 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板の製造方法
US7393461B2 (en) * 2005-08-23 2008-07-01 Kesheng Feng Microetching solution
ATE482303T1 (de) * 2005-10-25 2010-10-15 Atotech Deutschland Gmbh Zusammensetzung und verfahren zur haftfähigkeitsverbesserung der polymerischen materialien auf kupfer- oder kupferlegierungsoberflächen
US7875558B2 (en) * 2005-12-21 2011-01-25 Kesheng Feng Microetching composition and method of using the same
US8518281B2 (en) * 2008-06-03 2013-08-27 Kesheng Feng Acid-resistance promoting composition
EP2241653B1 (en) 2009-04-15 2017-09-06 ATOTECH Deutschland GmbH Composition and method for micro etching of copper and copper alloys
JP5682624B2 (ja) * 2010-06-18 2015-03-11 三菱瓦斯化学株式会社 銅層及びモリブデン層を含む多層構造膜用エッチング液
EP2591645B1 (en) 2010-07-06 2018-09-05 Namics Corporation Methods of treating copper surfaces for enhancing adhesion to organic substrates for use in printed circuit boards
KR102042940B1 (ko) 2010-07-06 2019-11-27 아토테크 도이칠란드 게엠베하 인쇄회로기판
CN102181865A (zh) * 2011-04-29 2011-09-14 广州市天承化工有限公司 可循环再用铜和铜合金表面微蚀刻处理剂及处理系统
CN104694909B (zh) * 2014-07-03 2017-01-25 广东丹邦科技有限公司 一种铜表面粗化剂
EP3034654B1 (en) 2014-12-19 2017-10-25 ATOTECH Deutschland GmbH Composition and method for micro etching of copper and copper alloys
KR102663554B1 (ko) * 2016-06-10 2024-05-08 삼성디스플레이 주식회사 식각액 조성물 및 이를 이용한 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법
CN108930038B (zh) * 2017-05-22 2021-03-16 东友精细化工有限公司 银薄膜蚀刻液组合物、蚀刻方法和金属图案的形成方法
JP6338232B1 (ja) 2017-09-22 2018-06-06 メック株式会社 銅表面の粗化方法および配線基板の製造方法
CN110408932A (zh) * 2018-04-27 2019-11-05 惠州市鸿宇泰科技有限公司 用于线路板夹具除铜的除铜剂
CN109267127B (zh) * 2018-08-30 2023-09-05 扬州虹扬科技发展有限公司 一种铜基材处理液及预处理工艺
CN113881993A (zh) * 2021-09-29 2022-01-04 新阳硅密(上海)半导体技术有限公司 一种可优化电镀填孔能力的工艺方法
CN115110085A (zh) * 2021-10-23 2022-09-27 赵晓峰 一种铜及合金过氧化氢化学抛光体系中改进脱膜工序的新方法
CN114457335B (zh) * 2022-02-15 2023-10-27 江西省科学院应用物理研究所 一种铜铁碳合金金相浸蚀剂及其使用方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5144532A (ja) * 1974-10-15 1976-04-16 Hodogaya Chemical Co Ltd Donokokushokueki

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3458371A (en) * 1965-11-12 1969-07-29 Photo Engravers Research Inst Composition and process for powderless etching
US3458372A (en) * 1965-11-12 1969-07-29 Photo Engravers Research Inst Powderless etching
DE1621516B1 (de) * 1967-10-11 1971-10-07 Siemens Ag Verfahren zur Verbesserung der Loetbarkeit von Leiterplatten aus Kupfer oder Kupferlegierungen durch AEtzen
GB1294804A (en) * 1970-07-24 1972-11-01 Shipley Co Etchant for cupreous metals
US3650958A (en) * 1970-07-24 1972-03-21 Shipley Co Etchant for cupreous metals
JPS4894502A (ja) * 1972-03-18 1973-12-05
SU558037A1 (ru) * 1975-10-30 1977-05-15 Украинский Научно-Исследовательский Институт Полиграфической Промышленности Водный раствор дл травлени меди и ее сплавов
JPS52110235A (en) * 1976-03-03 1977-09-16 Nippon Paint Co Ltd Industrial process for forming patina
JPS5330435A (en) * 1976-09-02 1978-03-22 Sumitomo Metal Mining Co Etching liquid
EP0364132A1 (en) * 1988-09-29 1990-04-18 Shikoku Chemicals Corporation Method for forming conversion coating on surface of copper or copper alloy
JP2666470B2 (ja) * 1989-05-09 1997-10-22 日立化成工業株式会社 無電解めっき法
JPH0375386A (ja) * 1989-08-18 1991-03-29 Metsuku Kk 錫又は錫‐鉛合金の剥離方法
EP0428383A1 (en) * 1989-11-13 1991-05-22 Shikoku Chemicals Corporation Process for surface treatment of copper and copper alloy
US5037482A (en) * 1990-02-16 1991-08-06 Macdermid, Incorporated Composition and method for improving adhesion of coatings to copper surfaces
DE4118764A1 (de) * 1991-06-07 1992-12-10 Chema Technologien Gmbh Verfahren zum aetzen von kupfer
TW217426B (ja) * 1992-01-08 1993-12-11 Mekku Kk
JPH06287774A (ja) * 1993-04-05 1994-10-11 Metsuku Kk 銅および銅合金の表面処理剤
TW270944B (ja) * 1993-05-10 1996-02-21 Shikoku Kakoki Co Ltd
TW263534B (ja) * 1993-08-11 1995-11-21 Makkusu Kk
JP2781954B2 (ja) * 1994-03-04 1998-07-30 メック株式会社 銅および銅合金の表面処理剤

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5144532A (ja) * 1974-10-15 1976-04-16 Hodogaya Chemical Co Ltd Donokokushokueki

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004536220A (ja) * 2000-07-27 2004-12-02 アトテック・ドイチュラント・ゲーエムベーハー 金属表面への高分子材料の接着性改善
JP4668518B2 (ja) * 2000-07-27 2011-04-13 アトテック・ドイチュラント・ゲーエムベーハー 金属表面への高分子材料の接着性改善
JP2009521597A (ja) * 2005-12-21 2009-06-04 マクダーミッド インコーポレーテッド マイクロエッチング組成物及びその使用方法
JP4866915B2 (ja) * 2005-12-21 2012-02-01 マクダーミッド インコーポレーテッド マイクロエッチング組成物及びその使用方法
JP2013527323A (ja) * 2010-05-26 2013-06-27 アトテツク・ドイチユラント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 銅および銅合金のマイクロエッチングのための組成物および方法
WO2014017115A1 (ja) 2012-07-24 2014-01-30 メック株式会社 銅のマイクロエッチング剤及びその補給液、並びに配線基板の製造方法
US9441303B2 (en) 2012-07-24 2016-09-13 Mec Company Ltd. Microetching solution for copper, replenishment solution therefor and method for production of wiring board
US9932678B2 (en) 2012-07-24 2018-04-03 Mec Company Ltd. Microetching solution for copper, replenishment solution therefor and method for production of wiring board
WO2013187537A1 (ja) 2012-09-28 2013-12-19 メック株式会社 銅のマイクロエッチング剤及びその補給液、並びに配線基板の製造方法
US9011712B2 (en) 2012-09-28 2015-04-21 Mec Company Ltd. Microetching solution for copper, replenishment solution therefor and method for production of wiring board
WO2017141799A1 (ja) 2016-02-19 2017-08-24 メック株式会社 銅のマイクロエッチング剤および配線基板の製造方法
US11053594B2 (en) 2016-02-19 2021-07-06 Mec Company Ltd. Microetchant for copper and method for producing wiring board
KR20210151835A (ko) 2020-06-02 2021-12-14 멕크 가부시키가이샤 마이크로 에칭제 및 배선 기판의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
EP0757118B1 (en) 2001-04-04
US5807493A (en) 1998-09-15
KR100409189B1 (ko) 2004-06-04
CN1147025A (zh) 1997-04-09
KR970011017A (ko) 1997-03-27
TW366368B (en) 1999-08-11
EP0757118A1 (en) 1997-02-05
DE69612336T2 (de) 2001-09-20
CN1090686C (zh) 2002-09-11
DE69612336D1 (de) 2001-05-10
JP2923524B2 (ja) 1999-07-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2923524B2 (ja) 銅および銅合金のマイクロエッチング剤並びにマイクロエッチング方法
JP2781954B2 (ja) 銅および銅合金の表面処理剤
EP0855454B1 (en) Microetching composition for copper or copper alloy
JP3458036B2 (ja) 銅および銅合金のマイクロエッチング剤
US6426020B1 (en) Etchant for copper or copper alloys
CN111094628B (zh) 微蚀刻剂、铜表面的粗化方法以及配线基板的制造方法
JPH1129883A (ja) 銅および銅合金のマイクロエッチング剤
US9011712B2 (en) Microetching solution for copper, replenishment solution therefor and method for production of wiring board
JP4264679B2 (ja) プリント配線板の製造方法
JP6598917B2 (ja) 銅のマイクロエッチング剤
KR19980066842A (ko) 구리 또는 구리합금에 대한 마이크로에칭 조성물
Feng et al. Cupric Chloride-Hydrochloric acid Microetch roughening Process and Its Applications

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090507

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090507

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100507

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110507

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110507

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120507

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130507

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140507

Year of fee payment: 15

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term