JPH054330A - インキ制御および領域毎のインキ調量素子予調整方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 インキ領域予調整値ないし局所的インキ需要
量をより正確に検出する。 【構成】 面面積率から検出された値に相応して２次元
制御のインキ配分を行い、これはインキ塗布および／ま
たはインキ配分の際に、各インキ領域（９，１０）内の
局所的インキ需要量を考慮して行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、領域毎に検出された面
面積率に相応して、インキ制御および輪転機、例えばオ
フセット輪転機のインキ装置におけるインキ調量素子を
領域毎に予調整する方法および請求項１の上位概念に記
載された方法を実施するための装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＤＥ−ＯＳ２９５０６０６およびＤＥ−
ＯＳ２９５０６５０から既に、フィルムまたは印刷版
を、光電測定装置を用いて、その面積率に関して領域毎
に走査し、走査した値を積分ないし累積した後、インキ
調量素子、例えばオフセット輪転機のインキ装置におけ
るインキペンに対して予調整情報を計算することが公知
である。走査素子はインキ領域の幅をそれぞれ検出す
る。通常の印刷機の場合、５ｍｍ×７２０ｍｍのオーダ
を有している。走査子または被走査原画、すなわちフィ
ルムまたは版の相応の運動によって、それぞれのインキ
領域において面積率から予調整値を導出することができ
る。現実にはこのように検出された予調整値は十分には
正確ではなく、非常にコストのかかる後調整および補正
が必要である。そのため刷り損じが増加し、それにより
印刷時間が増大する。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、イン
キ領域−予調整値ないし局所的インキ需要量をより正確
に検出ないし制御できる方法および該方法を実施するた
めの装置を提供することである。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記課題は、請求項１の
特徴部分の構成を本発明の方法に適用することにより解
決される。請求項３から１０には本発明の方法を実施す
るための装置の有利な構成が示されている。

【０００５】本発明による方法によって、インキ領域調
量に対する予調整値が格段に正確に検出される。という
のは、例えば微構造（ラスタ、微細ライン）のような小
さな面部分と、粗構造（全平面）とを、印刷版ないしフ
ィルムまたは印刷紙上で区別することができるからであ
る。従って本発明の基礎となる技術思想を適用すればイ
ンキ領域調整値の検出の際に、ラスタトーン面ないし微
細線面に比較して僅かであるフルトーン面での消費が特
に考慮される。これは有利には印刷すべき面部分ないし
走査ラスタの相応の重付けにより行われる。本発明の実
施形態では、補正係数が印刷過程（例えば紙、インキ、
湿潤剤組成、印刷速度、着色特性等）の各パラメータ状
態に応じて、学習型システムまたはいわゆるエキスパー
トシステムにより変形され、パラメータに関連して、例
えば重ね刷りのために記憶される。さらに本発明の方法
を使用すれば、カラー印刷でのインキ受容障害が考慮さ
れる。これは本発明の方法により順次印刷される面成分
ないし順次印刷される走査ラスタの面成分を検出するこ
とによって行われる。カラー印刷版の印刷面部分を検出
する従来の方法によっては、順次連結して印刷されるカ
ラー面の相互に隣接する面の位置を区別することができ
なかった。そのため検出した予調整値での位置に関する
考慮を行うことはできなかった。これに対し提案された
方法によって、順次連結して印刷面を個々のインキ毎に
検出することが可能である。このようにして検出された
値から（インキ受容障害が強く予想される）個々のイン
キ領域に対して補正係数を導出することができる。

【０００６】このようにして補正係数によりインキ予調
整値検出の際にインキ予調整を最適化することができ
る。予想されるインキ受容障害の知識はインキ制御に対
しても同様に重要である。本発明により検出可能な補正
係数を考慮することにより、インキ流のダイナミックを
個々のインキないしインキ領域でインキ流が変化した際
に算入することができる。

【０００７】さらに本発明により有利には、型取り効果
（Ｓｃｈａｂｌｏｎｉｅｒｅｆｆｅｋｔｅｎ）の除去が
可能である。というのは新種の検出により、予想される
型取りに関する予測が可能だからである。インキ装置で
の横方向の配分により、有利にはインキ配分器を用い
て、型取り効果を反対に作用して打消すことができる。
別の利点は、従来検出された通常の面成分と比較して小
さい、本発明の面成分の検出の際に、従来使用したハー
ドウェアを変形して使用することができることである。
本発明の実質的な利点は次のようにして得られる。すな
わち、印刷面成分から検出された走査ラスタ値を、和形
成前にインキ領域内で重付けし、これにより補正係数を
用いてインキ領域毎のインキ需要量を最適化するのであ
る。従い本発明では、インキ領域毎の和形成前に、順次
連続し相互に隣接する面成分の状態および場合により同
じ位置の状態さらに所属の別の色の原画での走査ラスタ
の状態の検出および評価が行われ、これから補正係数が
導出可能である。この補正係数はインキ領域予調整ない
しインキ制御に対して利点をもたらす。重付けおよび計
算は別個の計算機または既に印刷機に備わっている計算
機で行う。実際は、走査列に相応し丁度走査されたラス
タ面に対してそれぞれ考慮するために、メモリに保持さ
れている補正係数の経験的検出がしばしば行われる。

【０００８】

【実施例】模式的に示された印刷機へ、例えば印刷搬送
路または枚葉紙を印刷するためのオフセット輪転機はイ
ンキ領域予調整装置２と接続されている。インキ領域予
調整装置は電気的制御素子と、調量素子（例えば図示し
ないインキペン）を領域毎に予調整するために必要な機
構とを有する。インキ領域予調整装置２にはインキ需要
検出計算機３が接続されている。この検出計算機には、
フィルムまたは版スキャナ４により検出された、各領域
のインキ面積率に関する情報を供給することができる。
フィルムおよび版スキャナにより走査された値は、例え
ばテープまたはディスクに記憶することができ、ここか
らその情報をインキ需要検出計算機に読込むことができ
る。

【０００９】フィルムまたは版スキャナ４は走査子の少
なくとも１列に設けられている。図１には簡単化のため
それぞれ１つの走査子５ないし６のみが示されている。
本発明ではこの走査子５ないし６は、有利には２ｍｍ×
２．５ｍｍの走査ラスタが検出されるように構成されて
いる。これにより、Ｘ方向で見て２０ｍｍから６０ｍｍ
幅の従来のインキ領域と比較して、それぞれ１つのイン
キ領域内でより多数の相互に隣接する走査ラスタを検出
することができる。

【００１０】本発明の技術思想を適用すれば従来の技術
とは反対に、走査子５ないし６はＸ及びＹ方向で、イン
キ領域よりも格段に小さくなることとなる。評価精度
は、走査ラスタが小さければ小さい程、すなわち微細で
あればある程良好となる。図示のように走査ラスタ５，
６の有利な大きさは、Ｘ方向で２．５ｍｍ、Ｙ方向で
２．０ｍｍである。簡単化のため、走査ラスタ７を検出
するのに必要な走査子５ないし６は一度しか図示してい
ないが、Ｘ方向で見て多数のこの種の走査子５．６がイ
ンキ領域のほぼ全幅にわたり列の形で配置されている。

【００１１】図１には２つの印刷原画８，９が配置され
ている。この原画は例えば２色印刷を行うために同時
に、または順次走査可能である。印刷原画８，９は版ま
たはフィルムであり得る。印刷原画８，９上にはそれぞ
れインキ領域１０，１１が示されている。このインキ領
域は従来技術と比較して改善され、より微細に解像され
る。走査ラスタ７のスケールが小さいための、従来技術
と比較して格段に正確なインキ面積率の検出が行われ
る。印刷原画８，９の走査の際に、複数の走査素子５の
うちの唯１つの列のみを使用するだけでよいことがわか
る。このため走査素子６の他の列は、印刷原画８，９の
走査が順次連結して行われるならば省略することができ
る。走査子５ないし６により検出され、面面積率を表す
値はフィルムないし版スキャナ４の電子回路に到達し、
これらの値と共に同時にＸ座標およびＹ座標がそれぞれ
走査子５（Ｘ−，Ｙ−）および（Ｘ′−，Ｙ′−）の１
つによってＸＹ座標検出論理回路にて検出され、処理さ
れる。フィルムないし版スキャナ４により検出された値
は面面積率検出論理回路１３にてさらに処理することが
できる。さらにインキ面積率検出論理回路１４が設けら
れている。これを用いてインキ面が重なって印刷された
か否かを検出するために、異なる（カラー）原画８，９
間の同じ位置の走査ラスタのＸ−Ｙ−値を比較する。従
い、重ね印刷によりしばしば発生するインキ受容障害を
補償するために、インキ領域予調整値に影響を及ぼす相
応の補正値を検出しなければならない。Ｘ−Ｙ座標検出
論理回路１２、面面積率検出論理回路１３およびインキ
面積率検出論理回路１４内で処理された値は重付け計算
機１６に到達する。この計算機は詳細には示していない
重付けメモリを有する。入力装置１５を介して、経験的
に検出された補正係数を入力することができる。選択的
に、補正係数の計算を個々のラスタ毎に行うこともでき
る。

【００１２】従い、従来はフィルム／版スキャナ４から
インキ需要計算機３に単純に供給された値が本発明では
重付け計算機１６により、インキ領域で走査値を加算す
る前に、各走査ラスタ毎に補正係数ないし補正値と重畳
される。この補正係数ないし補正値は重付け計算機１６
が、前述の仕方で供給された情報に基づき検出する。

【００１３】このようにして検出される各インキ領域１
０，１１毎の予調整値は、インキペンまたはインキカッ
タ部の形態のインキ調量素子を予調整するために印刷機
１の相応のインキ装置に到達する。既に述べたように本
発明の予調整は公知のものと比較して格段に正確であ
る。そのため刷り損じが減少し、ゲラ刷りの期間が短縮
する。

【００１４】補正した走査情報から型取り計算機１７に
て、塗布すべきインキの配分制御を２次元（Ｘ−Ｙ）方
向で新たに可能にするような情報を検出すると有利であ
る。すなわち本発明によれば、例えば配分器２１（軸方
向に変化する往復ローラ）がその位置、すなわち軸方向
摺動のずれに関して、塗布すべきインキをＸ−Ｙ−方向
に配分するために行程および配分周波数において制御さ
れる。印刷すべき対象物をほぼ推測することのできる走
査値を考慮して、印刷機１の図示しない印刷版に塗布す
べきインキが、有利には配分器を用いて、着色過程中に
Ｘ−Ｙ方向で配分される。このことは不所望の型取りを
回避することとなる。

【００１５】インキ調量素子の予調整は次のようにさら
に改善される。すなわち、対象物計算機２０を用いて、
印刷機１の詳細に図示しないインキ装置のそれぞれの昇
降機２２の当接時点および当接持続時間を、後続のイン
キ装置ドラムおよび当接時点での当接持続時間に関して
制御可能にするとさらに改善される。これにより例えば
本発明で制御される配分器２１と関連して、Ｙ方向での
インキ配分の有利な制御が得られる。従い公知の装置の
ようにインキ領域毎のインキ需要量のみが考慮されるの
ではなく、例えば１つのインキ領域内のそれぞれの個所
が考慮される。すなわち、配分器２１および／またはイ
ンキ昇降機２２の制御により、インキが版周方向（２６
ないしＹ）でも正しく配分されすり込まれる。

【００１６】本発明の枠内で、印刷原画８，９を走査す
る代わりに、電子画像処理の際に設定された画像情報
（ピクセル）の入力されている電子画像メモリ１９から
の出力値を領域毎の予調整の検出のために使用すること
もできる。ＤＥ−ＯＳ３８０４４９１から既に、この種
の画像情報（ピクセル）を、平均濃度値算出のために評
価することが公知である。しかし従来技術では、これに
より複雑な処理論理回路を伴う大容量メモリ−現在ほと
んど入手不可能−が必要となり不利である。本発明の枠
内ではこの種の情報を圧縮する、すなわち過度に大きな
面ユニットを例えば走査ラスタ面７の次元に統合し、こ
の値を本発明の方法に従いさらに処理する、すなわち補
正係数と共にファイルするので有利である。

【００１７】本発明の枠内の別の実施例では、印刷機１
により作製された印刷画が、例えば濃度または色度につ
いて走査され、そこから得られた値がインキベヒクル走
査論理回路の投入下で学習型システムまたはいわゆるエ
キスパートシステムによりインキ需要検出計算機３に供
給可能である。それによりゲラ刷り中および連続印刷中
に予調整値を連続的にさらに精密に定めることができ
る。

【００１８】さらに本発明の方法を適用することによ
り、シリンダ孔経路による不可避の、インキ装置におけ
るインキ堆積を考慮することができる。これは印刷開始
と印刷終了との間で昇降機ないし昇降ドラム２２の装入
点を相応に制御することおよび配分器２１の変化を制御
することにより行われる。従い本発明では、印刷方向で
の不均一なインキ配分が低減ないし除去される。すなわ
ち、被印刷対象物が考慮される。

【００１９】図２は２の形をした対象物を示す。この図
示から、模式的に示したインキ領域１０内に、７で示し
たような多数の走査面が来ることがわかる。これは本発
明では走査ラスタ７がインキ領域１０の幅よりも格段に
小さい（２．５ｍｍ×２ｍｍ）からである。従いインキ
領域内における印刷領域および非印刷領域の格段に微細
な検出が行われる。すなわち、当該領域が“ほぼ碁盤目
状”に網目構成されている。

【００２０】図３は版２４上に“インキ山ないしインキ
隆起部”２５を示す。これは本発明により矢印２６の方
向（Ｙ−方向）および矢印２７の方向（Ｘ−方向）で既
述のように制御ドラム２１，２２を使用して配分可能
（塗布可能）であり延展可能である。そのため従来技術
と比較して、被印刷対象物に依存して着色が格段に改善
される。

【００２１】重付け計算機１６により検出ないし補正さ
れた予調整データおよび制御データは、例えば画像面上
に、またはプロトコルの形で視覚化することができる。

【００２２】本発明の別の実施形態では、一方で重付け
計算機１６、対象物計算機２０および型取り補正計算機
１７と、他方で学習型システムまたはエキスパートシス
テム１８との間で計算機結合がなされる。この学習型シ
ステムまたはエキスパートシステム１８は先行する塗布
過程のすべての自動および手動調整と補正を、繰り返し
の塗布のために記憶し、補正に基づいて制御パラメータ
を重付け計算機１６、対象物計算機２０および型取り補
正計算機１７で変形する。

【００２３】

【発明の効果】本発明により、インキ領域予調整値ない
し局所インキ需要量をより正確に検出し、制御すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明の方法を実施するための装置のブ
ロック回路図である。

【図２】図２は本発明を説明するための模式図である。

【図３】図３は本発明を説明するための模式図である。

【符号の説明】

１ 印刷機 ２ インキ領域予調整装置 ３ インキ需要検出計算機 ４ フィルム−版スキャナ ５，６ 走査子 ７ 走査ラスタ ８，９ 印刷原画 １０，１１ インキ領域 １２ Ｘ−Ｙ座標検出論理回路 １３ 面面積率検出論理回路 １４ インキ面積率検出論理回路 １５ 入力装置 １６ 重付け計算機 １７ 型取り計算機 ２１ 配分器 ２２ 昇降機

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヴエルナー マイアー ドイツ連邦共和国 アウグスブルク ロー ベルト−ボツシユ−シユトラーセ 12 ベ ー (72)発明者 ゲルト シユタイナー ドイツ連邦共和国 ホイゼンシユタム ツ アイジツヒヴエーク ７ (72)発明者 ヨーゼフ シユナイダー ドイツ連邦共和国 デイードルフ−レツテ ンバツハ レツテンヴエーク １

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 領域毎に検出された面面積率に相応し
   て、輪転機のインキ装置でのインキ調量素子をインキ制
   御および領域毎に予調整するための方法であって、個々
   のインキ領域での面面積率を走査ラスタを用いて検出
   し、該走査ラスタはインキ領域幅よりも小さく、それに
   より各インキ領域にて面面積率の２次元の碁盤目状の検
   出が可能である、インキ制御および領域毎の予調整方法
   において、前記面面積率から検出された値に相応して２
   次元制御のインキ配分を行い、これはインキ塗布および
   ／またはインキ配分の際に、各インキ領域（９，１０）
   内の局所的インキ需要量を考慮して行うことを特徴とす
   るインキ制御および領域毎の予調整方法。
2. 【請求項２】 各走査ラスタ（７）の位置座標（Ｘ，
   Ｙ）を検出し、走査ラスタ（７）により検出されたそれ
   ぞれの面面積率を領域毎の加算の前に重付けする請求項
   １記載の方法。
3. 【請求項３】 印刷機（１）の領域調整装置（２）とイ
   ンキ需要検出計算機（３）が接続されており、該計算機
   （３）にて、フィルムまたは版スキャナ（４）により形
   成されたインキ面積率が、２次元の網目構成に相応して
   それぞれ１つのインキ領域（９，１０）内で、重付けメ
   モリを備えた重付け計算機（１６）によって補正され、
   その際補正は１つのインキ領域（９，１０）内で走査面
   （７）により検出された値を加算する前にそれぞれ行わ
   れる、請求項１または２記載の方法を実施するための装
   置。
4. 【請求項４】 予調整値および制御値が走査ラスタ
   （７）からの個々の走査値の重付けに相応してフルトー
   ンおよびラスタに従い補正される請求項３記載の装置。
5. 【請求項５】 フィルムまたは版スキャナ（４）と、そ
   れぞれ走査したラスタ面（７）の位置を検出するための
   Ｘ−Ｙ座標検出回路とが接続されており、当該座標検出
   回路と共働する重付け計算機（１６）にて、種々のカラ
   ー原画（８，９）から検出された走査値に依存して当該
   走査値に対して、同じＸ−Ｙ座標で加算前に予調整値の
   補正を行い、これは重ね印刷されるインキ面によるイン
   キ受容障害の補償または阻止のために行うものである。
   請求項３記載の装置。
6. 【請求項６】 塗布すべきインキを、インキ領域（９，
   １０）の方向で、すなわちシリンダ周方向（２６）で制
   御ないし配分するために、対象物計算機（２０）により
   昇降機（２２）の当接時間点および／または当接接続時
   間を制御する請求項３から５までのいずれか１項記載の
   装置。
7. 【請求項７】 型取り計算機（１７）により、対象物に
   起因して予想されるインキプロフィルに相応して原画
   （２４）のＸ−Ｙ方向で変化する配分器（２１）が、変
   化する位相、周波数および行程状態に関して制御される
   請求項２から６までのいずれか１項記載の装置。
8. 【請求項８】 二次元のインキ配分ないし分散のため
   に、シリンダ孔経路および対象物、配分器（２１）およ
   び／または昇降機（２２）を考慮して制御する請求項１
   から７までのいずれか１項記載の装置。
9. 【請求項９】 学習型システムまたはエキスパートシス
   テムを備えた印刷支持体走査論理回路（１８）により、
   走査面ないし走査ラスタ（７）に対する補正係数を変形
   し、再塗布のために記憶する請求項２から８までのいず
   れか１項記載の装置。
10. 【請求項１０】 一方で重付け計算機（１６）、対象物
    計算機（２０）および型取り補正計算機（１７）と、他
    方で学習型システムまたはエキスパートシステム（１
    ８）との間の計算機接続が形成されており、当該学習型
    システムまたはエキスパートシステム（１８）は、先行
    する塗布の自動および手動のすべての調整および補正を
    再塗布のために記憶し、補正に基づき制御パラメータを
    重付け計算機（１６）、対象物計算機（２０）および型
    取り補正計算機（１７）にて変形する請求項３から９ま
    でのいずれか１項記載の装置。
11. 【請求項１１】 走査子（５，６）は、２ｍｍ×２．５
    ｍｍの走査面ないし走査ラスタを検出するように構成さ
    れており、インキ領域（９，１１）の幅は２０ｍｍから
    ６０ｍｍの間であり、それぞれ複数の走査子（例えば
    ６）が並列して配置されている請求項２から１０までの
    いずれか１項記載の装置。
12. 【請求項１２】 走査子（５，６）により検出された値
    の代わりに、面面積率を検出するため画像メモリ（１
    ９）からデータ（ピクセル）を取り出し、該データは走
    査ラスタの大きさに圧縮した後、予調整値および制御値
    の補正に使用される請求項３から１１までのいずれか１
    項記載の装置。
13. 【請求項１３】 重付け計算機（１６）により検出され
    た予調整データおよび制御データを視覚化する請求項３
    から１２までのいずれか１項記載の装置。