JPH0463580B2 - - Google Patents

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JPH0463580B2
JPH0463580B2 JP57232962A JP23296282A JPH0463580B2 JP H0463580 B2 JPH0463580 B2 JP H0463580B2 JP 57232962 A JP57232962 A JP 57232962A JP 23296282 A JP23296282 A JP 23296282A JP H0463580 B2 JPH0463580 B2 JP H0463580B2
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JP
Japan
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jitter
output
digital data
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pulse
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JP57232962A
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JPS59125142A (ja
Inventor
Hiroshi Ooikami
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Sony Corp
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Sony Corp
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/20Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
    • H04L1/205Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector jitter monitoring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、NRZ(Non Return to Zero)方式
のデジタルデータの時間軸変動すなわちジツタを
検出するジツタ検出装置に関し、例えば、光学デ
イスクを情報記録媒体として用いた光学式デイス
クシステムにおける光学ピツクアツプのMTF
(Modulation Transfer Function)の評価装置
等に適用されるものである。
〔背景技術とその問題点〕
一般に、情報記録媒体として光学デイスクを用
いた光学式デイスクシステムでは、デイスクの回
転歪等に起因する低い周波数での変動分すなわち
低周波ジツタと、光学ピツクアツプのMTFに起
因する高い周波数での変動分すなわち高周波ジツ
タとが再生信号に含まれる。従つて、上記再生信
号中の高周波ジツタを検出できれば、光学ピツク
アツプのMTFの評価やMTF補償を行うことがで
きる。
また、基本クロツクを搬送波として伝送される
デジタルデータのジツタすなわち時間軸変動は、
伝送されたデジタルデータの基本クロツクを再生
できれば、再生した基本クロツクに基づいて検出
することができる。従来、例えばRZ(Return to
Zero)方式のデジタルデータの場合には、伝送
されたデジタルデータについて、タンク回路によ
り基本クロツクを抽出してFM復調することによ
つてジツタ検出を行つている。
しかし、NRZ(Non Return to Zero)方式の
デジタルデータの場合には、その周波数スペクト
ラムが広範囲に分布しているため、上述の如きタ
ンク回路により基本クロツクを抽出する方法では
ジツタ検出を行うことが困難であり、比較基準信
号源を用いてジツタ検出を行う必要があつた。
ところで、上記光学式デイスクシステムでは、
上記NRZ方式のデジタルデータを再生する場合
に、光学ピツクアツプのMTFに起因する高周波
ジツタを検出するのに必要な比較基準信号を作り
出すことが困難であり、従来より、上記高周波ジ
ツタの検出を確実に行い得るようにすることが解
決すべき技術課題の一つとなつている。
〔発明の目的〕
そこで、本発明は、NRZ方式のデジタルデー
タに生じたジツタ成分を確実に検出可能にしたジ
ツタ検出装置を提供し、上記光学ピツクアツプの
MTFの評価やMTF補償を簡単に行い得るように
することを目的とするものである。
〔目的を達成するための手段〕
本発明に係るジツタ検出装置は、上述の如き目
的を達成するため、入力デジタルデータの立上り
エツジあるいは立下りエツジによりセツトされる
双安定マルチバイブレータと、上記双安定マルチ
バイブレータの出力を積分する積分器と、上記積
分器の出力を基準レベルと比較する比較器と、上
記比較器の出力に応じて所定幅を有するウインド
を形成する単安定マルチバイブレータとを有し、
上記ウインドの中心がジツタのない状態で上記立
上りエツジあるいは立下りエツジと一致するよう
に予め上記基準レベルが初期設定され、上記ウイ
ンド内における上記入力デジタルデータの立上り
エツジあるいは立下りエツジの上記ウインドの中
心に対する相対的なずれをジツタとして検出する
とともに、上記検出出力の低域周波数成分に応じ
て上記基準レベルを制御するように構成したもの
である。
〔実施例〕
以下、本発明に係るジツタ検出装置の一実施例
について図面に従い詳細に説明する。
第1図は、本発明に係るジツタ検出装置の回路
構成を示すブロツク図である。
この第1図に示すジツタ検出装置において、信
号入力端子1には、例えば第2図Aに示す如き
NRZ方式のデジタルデータSINが供給されるもの
とする。このデジタルデータSINは、上記信号入
力端子1から、第1の単安定マルチバイブレータ
2に供給されるとともに、インバータ3を介して
第2の単安定マルチバイブレータ4に供給され
る。
上記第1の単安定マルチバイブレータ2は、上
記デジタルデータSINの立上りエツヂ毎にトリガ
ーされる。また、上記第2の単安定マルチバイブ
レータ4は、上記デジタルデータSINの立下りエ
ツヂ毎にトリガーれる。上記第1の単安定マルチ
バイブレータ2から出力される第2図Bに示す如
き波形のMM1出力と上記第2の単安定マルチバ
イブレータ4から出力される第2図Cに示す如き
波形のMM2出力は、EX・ORゲート5を介して
微分器6に供給される。上記微分器6は、上記
EX・ORゲート5の第2図Dに示す如き波形の
排他的論理和出力OREXを微分して、上記デジタ
ルデータSINの各エツヂ毎のタイミングで第2図
Eに示す如き波形の微分パルスDPを出力する。
上記微分器6により得られる微分パルスDPは、
ANDゲート7を介してサンプルホールド回路8
にサンプリングパルスSPとして供給される。
また、上記第1の単安定マルチバイブレータ2
のMM1出力は、RSフリツプフロツプ9のセツト
入力に供給されており、その立上りエツヂで上記
RSフリツプフロツプ9をセツトする。このRSフ
リツプフロツプ9は、後述する第3の単安定マル
チバイブレータ12からのMM3出力の立上りエ
ツヂでリセツトされるようになつており、第2図
Fに示す如き波形のQ出力を第1の積分器10に
供給する。
そして、上記第1の積分器10により得られる
第2図Gに示す如き鋸歯状の積分出力IS1がレベ
ルコンパレータ11に供給されている。このレベ
ルコンパレータ11は、上記積分出力IS1が基準
レベルVREFを越えると、その出力が論理「0」か
ら論理「1」に変化するようになつており、第2
図Hに示す如き波形の比較出力CPにより第3の
単安定マルチバイブレータ12をトリガーする。
この第3の単安定マルチバイブレータ12は、上
記デジタルデータSINの基本クロツク周期例えば
230nsに略等しいパルス幅Wを有する第2図に
示す如き波形のMM3出力を上記ANDゲート7と
第2の積分器13に供給する。すなわち、上記第
3の単安定マルチバイブレータ12のMM3出力
は、上記ANDゲート7のゲート制御パルスすな
わち該ANDゲート7を介して出力される第2図
Kに示す如き波形のサンプリングパルスSPのウ
インドパルスWPとして用いられている。
ここで、一般に、NRZ方式のデジタルデータ
において、あるパルスのエツヂから他のエツヂ若
しくは他のパルスのエツヂまでの時間は、チヤン
ネルビツトで定義されるビツト周期の整数倍にな
つているので、上記第3の単安定マルチバイブレ
ータ12のMM3出力は、上記デジタルデータSIN
にジツタが全く含まれていない状態で、上記サン
プリングパルスSPがウインドWの中心位置に位
置するように、上記レベルコンパレータ11の基
準レベルVREFにより可変調整される。
そして、上記第3の単安定マルチバイブレータ
12のMM3出力が供給される上記第2の積分器
13から出力される第2図Jに示す如き鋸歯状の
積分出力IS2を、上記サンプルホールド回路8に
おいて上記サンプリングパルスSPによりサンプ
ルホールドするとによつて、第2図Lに示すよう
なジツタ検出出力JDputを得て信号出力端子20
から出力するようになつている。
なお、上記第2の積分器13から出力される鋸
歯状の積分出力IS2は、上記ウインドパルスWP
の中心位置が0Vになるように第1の信号合成器
14によりバイアス電圧V1が与えられている。
上記サンプルホールド回路8により得られるジ
ツタ検出出力JDputは、上記信号入力端子1に供
給されるデジタルデータSINにジツタが全く含ま
れていないときには上記サンプリングパルスSP
により上記積分出力IS2の0V位置をサンプルホー
ルドするので0Vで一定になる。また、上記デジ
タルデータSINにジツタが含まれていると、その
ジツタに応じて上記サンプリングパルスSPの位
置が変化することによつてサンプルホールドされ
る上記積分出力IS2の位置が変化し、その電位が
変化する。これにより、上記ジツタ検出出力
JDputは、上記デジタルデータSINに含まれるジツ
タの量を示す交流信号として上記信号出力端子2
0から出力されることになる。
また、上記サンプルホールド回路8により得ら
れるジツタ検出出力JDputは、増幅器15により
増幅された後に低域フイルタ16に供給されてい
る。この低域フイルタ16は、第3図に示す如き
フイルタ特性を有しており、上記ジツタ検出出力
JDout中の低域周波数成分SLPFを取り出す。この
低域フイルタ16により得られる低域周波数成分
SLPFは、第4図に示すような入出力特性を有する
リミツタ回路17を介して第2の信号合成器18
に供給される。
この第2の信号合成器18は、上記ジツタ検出
出力JDput中の低域周波数成分SLPFを直流電圧V2
に加算して上記基準電圧VREFを形成し、この基準
電圧VREFを上記レベルコンパレータ11に供給す
る。
すなわち、このジツタ検出装置では、上記サン
プルホールド回路8により得られるジツタ検出出
力JDput中の低域周波数成分SLPFを上記レベルコン
パレータ11の基準電圧VREFとして帰還すること
により、ウインドパルスWPの位置を帰還制御す
るようになつている。従つて、信号入力端子1に
供給されるデジタルデータSINの基本クロツクが
ドリフトあるいは低い周波数での変動を受けた場
合すなわち低周波ジツタがあつた場合に、第5図
に示すようにサンプリングパルスSPのジツタの
中心が鋸歯状の積分出力IS2の中心位置から上記
低周波数ジツタの分だけずれて、上記サンプルホ
ールド回路8により得られるジツタ検出出力
JDputに直流オフセツトが与えられてしまうが、
上記ジツタ検出出力JDput中の低域周波数成分SLPF
すなわち上記直流オフセツト分によりウインドパ
ルスWPの位置を帰還制御することによつて、上
記リミツタ回路17による制限範囲内の誤差電圧
量で上記直流オフセツト分を吸収して、常に、サ
ンプリングパルスSPのジツタの中心を積分出力
IS2の中心位置に一致させるように上記レベルコ
ンパレータ11の基準電圧VREFを自動的に制御す
ることができる。
すなわち、このジツタ検出装置では、上記信号
入力端子1に供給されるデジタルデータSINの1
のパルスのエツヂから該デジタルデータSINのビ
ツト周期の整数倍後のタイミングにあるべきパル
スのエツヂを中心とする所定パルス幅Wのウイン
ドパルスWPを上記第3の単安定マルチバイブレ
ータ12により形成しているので、上記デジタル
データSINがNRZ方式のものであつても上記ウイ
ンドパルスWP内に入つた任意のパルスエツヂを
サンプリングパルスSPとして上記ウインドパル
スWPに対応する鋸歯状の積分出力IS2をサンプ
ルホールドすることにより、ジツタ検出を確実に
行うことができる。また、得られるジツタ検出出
力JDputの低域周波数成分SLPFにより上記ウンドパ
ルスWPの位置を帰還制御することによつて、低
周波ジツタによるジツタ検出出力の直流オフセツ
トを除去することができ、高周波ジツタのみを安
定に検出することができる。
〔発明の効果〕
上述のように、本発明に係るジツタ検出装置で
は、入力デジタルデータの立上りエツヂあるいは
立下りエツヂを基準として上記入力デジタルデー
タのビツト周期の整数倍後のタイミングを中心と
する所定幅のウインドを形成し、このウインド内
における上記入力デジタルデータの立上りエツヂ
あるいは立下りエツヂの上記ウインドの中心に対
する相対的なずれをジツタとして検出するととも
に、このジツタ検出出力の低域周波数成分にて上
記ウインドの位置を帰還制御することによつて、
例えば光学式デイスクシステムにおける回転歪等
に起因する低周波ジツタによるジツタ検出出力の
直流オフセツトを除去して、光学ピツクアツプの
MTFに起因する高周波ジツタのみを安定に検出
することができる。従つて、本発明よれば、
NRZ方式のデジタルデータに生じたジツタ成分
を確実に検出することのできるジツタ検出装置を
提供することができ、光学式デイスクシステムに
おける光学ピツクアツプのMTFの評価やMTF補
償等を簡単に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るジツタ検出装置の一実施
例を示すブロツク図である。第2図は上記実施例
の動作を示すタイムチヤートである。第3図は上
記実施例における低域フイルタのフイルタ特性を
示す特性線図である。第4図は上記実施例におけ
るリミツタ回路の入出力特性を示す特性線図であ
る。第5図は上記実施例におめるデジタルデータ
の低周波ジツタの影響を説明するためのタイムチ
ヤートである。 1……信号入力端子、2,4,12……単安定
マルチバイブレータ、6……微分器、7……
ANDゲート、8……サンプルホールド回路、9
……フリツプフロツプ、10,13……積分器、
11……レベルコンパレータ、16……低域フイ
ルタ、17……リミツタ回路、20……信号出力
端子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 入力デジタルデータの立上りエツジあるいは
    立下りエツジによりセツトされる双安定マルチバ
    イブレータと、 上記双安定マルチバイブレータの出力を積分す
    る積分器と、 上記積分器の出力を基準レベルと比較する比較
    器と、 上記比較器の出力に応じて所定幅を有するウイ
    ンドを形成する単安定マルチバイブレータとを有
    し、 上記ウインドの中心がジツタのない状態で上記
    立上りエツジあるいは立下りエツジと一致するよ
    うに予め上記基準レベルが初期設定され、 上記ウインド内における上記入力デジタルデー
    タの立上りエツジあるいは立下りエツジの上記ウ
    インドの中心に対する相対的なずれをジツタとし
    て検出するとともに、 上記検出出力の低域周波数成分に応じて上記基
    準レベルを制御することを特徴とするジツタ検出
    装置。
JP23296282A 1982-12-30 1982-12-30 ジツタ検出装置 Granted JPS59125142A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23296282A JPS59125142A (ja) 1982-12-30 1982-12-30 ジツタ検出装置

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JP23296282A JPS59125142A (ja) 1982-12-30 1982-12-30 ジツタ検出装置

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Publication Number Publication Date
JPS59125142A JPS59125142A (ja) 1984-07-19
JPH0463580B2 true JPH0463580B2 (ja) 1992-10-12

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ID=16947596

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JP23296282A Granted JPS59125142A (ja) 1982-12-30 1982-12-30 ジツタ検出装置

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6415315U (ja) * 1987-07-17 1989-01-26
US5748672A (en) * 1995-08-11 1998-05-05 Cenrad, Inc. System for measuring jitter in a non-binary digital signal
EP1286493B1 (en) 2001-02-23 2008-09-03 Anritsu Corporation Instrument for measuring characteristic of data transmission system with high accuracy and clock reproducing circuit used therefor

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5590162A (en) * 1978-12-28 1980-07-08 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> Speed distortion detection system

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JPS59125142A (ja) 1984-07-19

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