JPH04251497A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
- Publication number
- JPH04251497A JPH04251497A JP3011543A JP1154391A JPH04251497A JP H04251497 A JPH04251497 A JP H04251497A JP 3011543 A JP3011543 A JP 3011543A JP 1154391 A JP1154391 A JP 1154391A JP H04251497 A JPH04251497 A JP H04251497A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switching circuit
- voltage level
- level switching
- decoder
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Microcomputers (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路に関
し、特にシングルチップマイクロコンピュータに内蔵さ
れたメモリ集積回路に関するものである。
し、特にシングルチップマイクロコンピュータに内蔵さ
れたメモリ集積回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】通常状態と異なる電圧を印加することに
よりデータを記憶する読みだし専用記憶装置では、メモ
リトランジスタのワード線にメモリ記憶電圧(以下Vp
pと略す)を印加するためにメモリトランジスタのワー
ド線毎に電圧レベル切り替え回路を挿入していた。図3
は従来の半導体集積回路(RPROM)を示す構成図で
ある。図において、1はワード線デコーダ、2はこのワ
ード線デコーダ1とCPU(図示せず)との間に接続さ
れたアドレス線及びコントロール線、3はワード線デコ
ーダ1に接続され、書き込み時の電圧Vppと0ボルト
、読み出し時の電圧Vccと0ボルトのレベルを切り替
える電圧レベル切り替え回路、4はこの電圧レベル切り
替え回路(3)に接続され、書き込み時の電源電圧Vp
pと読み出し時の電源電圧Vccを切り替える電源切り
替え回路、6はワード線5により電圧レベル切り替え回
路3を介してワード線デコーダ1に接続されたメモリト
ランジスタである。
よりデータを記憶する読みだし専用記憶装置では、メモ
リトランジスタのワード線にメモリ記憶電圧(以下Vp
pと略す)を印加するためにメモリトランジスタのワー
ド線毎に電圧レベル切り替え回路を挿入していた。図3
は従来の半導体集積回路(RPROM)を示す構成図で
ある。図において、1はワード線デコーダ、2はこのワ
ード線デコーダ1とCPU(図示せず)との間に接続さ
れたアドレス線及びコントロール線、3はワード線デコ
ーダ1に接続され、書き込み時の電圧Vppと0ボルト
、読み出し時の電圧Vccと0ボルトのレベルを切り替
える電圧レベル切り替え回路、4はこの電圧レベル切り
替え回路(3)に接続され、書き込み時の電源電圧Vp
pと読み出し時の電源電圧Vccを切り替える電源切り
替え回路、6はワード線5により電圧レベル切り替え回
路3を介してワード線デコーダ1に接続されたメモリト
ランジスタである。
【0003】次に、図3に示した従来の半導体集積回路
の動作について説明する。CPUよりアドレス線及びコ
ントロール線2を介して供給されたアドレス情報はデコ
ーダ1でデコーされ、このデコードされたアドレス情報
が電圧レベル切り替え回路3に供給される。この電圧レ
ベル切り替え回路3は電源切り替え回路4により書き込
み時には電源電圧Vppに切り替えられ、読み出し時に
は電源電圧Vccに切り替えられる。従って、書き込み
時には電圧レベル切り替え回路3からアドレス情報に応
じた所定レベルの電圧Vppがメモリトランジスタ6に
供給されて、所定のアドレスにデータが書き込まれ、又
読み出し時には電圧レベル切り替え回路3からアドレス
情報に応じた所定レベルの電圧Vccがメモリトランジ
スタ6に供給されて、所定のアドレスよりデータが読み
出される。
の動作について説明する。CPUよりアドレス線及びコ
ントロール線2を介して供給されたアドレス情報はデコ
ーダ1でデコーされ、このデコードされたアドレス情報
が電圧レベル切り替え回路3に供給される。この電圧レ
ベル切り替え回路3は電源切り替え回路4により書き込
み時には電源電圧Vppに切り替えられ、読み出し時に
は電源電圧Vccに切り替えられる。従って、書き込み
時には電圧レベル切り替え回路3からアドレス情報に応
じた所定レベルの電圧Vppがメモリトランジスタ6に
供給されて、所定のアドレスにデータが書き込まれ、又
読み出し時には電圧レベル切り替え回路3からアドレス
情報に応じた所定レベルの電圧Vccがメモリトランジ
スタ6に供給されて、所定のアドレスよりデータが読み
出される。
【0004】図2は電圧レベル切り替え回路3の一例を
示す構成図であり、P−chトランジスタ31、32、
N−chトランジスタ33、34及びインバータ35か
ら構成されている。トランジスタ31、32のソース端
子は電圧Vpp又はVccが印加される電源端子36に
接続され、トランジスタ33、34のソース端子は接地
される。そして、トランジスタ32、34のドレイン端
子とトランジスタ31のゲート端子は出力端子37に接
続され、トランジスタ31、33のドレイン端子はトラ
ンジスタ32のゲート端子に接続される。入力端子38
はトランジスタ33のゲート端子とインバータ35の入
力側に接続され、インバータ35の出力側はトランジス
タ34のゲート端子に接続される。入力端子38に0の
電圧が入力されたとき、トランジスタ33はオフし、ト
ランジスタ34はオンする。よって、トランジスタ31
はオンし、トランジスタ32はオフする。この結果、出
力端子37には0の電圧が出力される。同様に、入力端
子38にVccの電圧が入力されたとき、トランジスタ
33はオンし、トランジスタ34はオフする。よって、
トランジスタ32はオンし、トランジスタ31はオフす
る。この結果、出力端子37にはVpp又はVccの電
圧が出力される。即ち、電圧レベル切り替え回路3はそ
の入力が0又はVccに変化したとき、電源がVppの
ときは出力に0又はVppの電圧を、電源がVccのと
きは出力に0又はVccを出力するように働く。
示す構成図であり、P−chトランジスタ31、32、
N−chトランジスタ33、34及びインバータ35か
ら構成されている。トランジスタ31、32のソース端
子は電圧Vpp又はVccが印加される電源端子36に
接続され、トランジスタ33、34のソース端子は接地
される。そして、トランジスタ32、34のドレイン端
子とトランジスタ31のゲート端子は出力端子37に接
続され、トランジスタ31、33のドレイン端子はトラ
ンジスタ32のゲート端子に接続される。入力端子38
はトランジスタ33のゲート端子とインバータ35の入
力側に接続され、インバータ35の出力側はトランジス
タ34のゲート端子に接続される。入力端子38に0の
電圧が入力されたとき、トランジスタ33はオフし、ト
ランジスタ34はオンする。よって、トランジスタ31
はオンし、トランジスタ32はオフする。この結果、出
力端子37には0の電圧が出力される。同様に、入力端
子38にVccの電圧が入力されたとき、トランジスタ
33はオンし、トランジスタ34はオフする。よって、
トランジスタ32はオンし、トランジスタ31はオフす
る。この結果、出力端子37にはVpp又はVccの電
圧が出力される。即ち、電圧レベル切り替え回路3はそ
の入力が0又はVccに変化したとき、電源がVppの
ときは出力に0又はVppの電圧を、電源がVccのと
きは出力に0又はVccを出力するように働く。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の半導体集積回路
は以上のように構成されているので、ワード線の数だけ
電圧レベル切り替え回路を必要とし、この回路は上述の
ごとく1ワード線当たりトランジスタを6個(インバー
タはトランジスタを2個)必要としており、それだけパ
ターン面積が大きくなるという問題点があった。この発
明は上記のような問題点を解決するためになされたもの
で、回路のパターン面積を減らすことができる半導体集
積回路を得ることを目的とする。
は以上のように構成されているので、ワード線の数だけ
電圧レベル切り替え回路を必要とし、この回路は上述の
ごとく1ワード線当たりトランジスタを6個(インバー
タはトランジスタを2個)必要としており、それだけパ
ターン面積が大きくなるという問題点があった。この発
明は上記のような問題点を解決するためになされたもの
で、回路のパターン面積を減らすことができる半導体集
積回路を得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体集
積回路は、同一の半導体基板上に演算手段、記憶手段及
び入出力手段を集積したシングルチップマイクロコンピ
ュータにおいて、上記記憶手段が、上記演算手段からの
アドレス情報をデコードするデコーダ部と、このデコー
ダ部からのアドレス情報に基ずいてデータを書き込み又
読み出す記憶部と、上記デコーダ部に結合されるアドレ
ス線及びコントロール線に接続された電圧レベル切り替
え回路と、上記デコーダ部と上記電圧レベル切り替え回
路に接続された電源切り替え回路とを備えたものである
。
積回路は、同一の半導体基板上に演算手段、記憶手段及
び入出力手段を集積したシングルチップマイクロコンピ
ュータにおいて、上記記憶手段が、上記演算手段からの
アドレス情報をデコードするデコーダ部と、このデコー
ダ部からのアドレス情報に基ずいてデータを書き込み又
読み出す記憶部と、上記デコーダ部に結合されるアドレ
ス線及びコントロール線に接続された電圧レベル切り替
え回路と、上記デコーダ部と上記電圧レベル切り替え回
路に接続された電源切り替え回路とを備えたものである
。
【0007】
【作用】この発明においては、ワード線それぞれに電圧
レベル切り替え回路を設けず、デコーダ部に結合される
アドレス線及びコントロール線に電圧レベル切り替え回
路を接続するようにしたので、回路の占めるパターン面
積を大幅に小さくできる。
レベル切り替え回路を設けず、デコーダ部に結合される
アドレス線及びコントロール線に電圧レベル切り替え回
路を接続するようにしたので、回路の占めるパターン面
積を大幅に小さくできる。
【0008】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの発明の一実施例を示す構成図であり、
1〜6は前述と同様のものである。本実施例では、電圧
レベル切り替え回路3と電源切り替え回路4の接続方法
を変える。即ち、アドレス線及びコントロール線2を電
圧レベル切り替え回路3を介してワード線デコーダ1に
接続すると共に電源切り替え回路4をデコーダ1及び電
圧レベル切り替え回路3に接続する。
する。図1はこの発明の一実施例を示す構成図であり、
1〜6は前述と同様のものである。本実施例では、電圧
レベル切り替え回路3と電源切り替え回路4の接続方法
を変える。即ち、アドレス線及びコントロール線2を電
圧レベル切り替え回路3を介してワード線デコーダ1に
接続すると共に電源切り替え回路4をデコーダ1及び電
圧レベル切り替え回路3に接続する。
【0009】次に、図1に示したこの発明の一実施例の
動作について説明する。まず、書き込み時には電源切り
替え回路4によりデコーダ1と電圧レベル切り替え回路
3の電源電圧を例えばVppとする。アドレス線及びコ
ントロール線2より電圧レベル切り替え回路3へ入力さ
れるアドレス情報が0又はVccであれば電圧レベル切
り替え回路3の出力は0又はVppであり、この情報が
ワード線デコーダ1でデコードされ、所定のワード線5
が選択されて、このワード線5に接続されたメモリトラ
ンジスタ6にデータが書き込まれる。又、読み出し時に
は電源切り替え回路4によりデコーダ1と電圧レベル切
り替え回路3の電源電圧を例えばVccとする。アドレ
ス線及びコントロール線2より電圧レベル切り替え回路
3へ入力されるアドレス情報が0又はVccであれば電
圧レベル切り替え回路3の出力は0又はVccであり、
この情報がワード線デコーダ1でデコードされ、所定の
ワード線5が選択されて、このワード線5に接続された
メモリトランジスタ6よりデータが読み出される。
動作について説明する。まず、書き込み時には電源切り
替え回路4によりデコーダ1と電圧レベル切り替え回路
3の電源電圧を例えばVppとする。アドレス線及びコ
ントロール線2より電圧レベル切り替え回路3へ入力さ
れるアドレス情報が0又はVccであれば電圧レベル切
り替え回路3の出力は0又はVppであり、この情報が
ワード線デコーダ1でデコードされ、所定のワード線5
が選択されて、このワード線5に接続されたメモリトラ
ンジスタ6にデータが書き込まれる。又、読み出し時に
は電源切り替え回路4によりデコーダ1と電圧レベル切
り替え回路3の電源電圧を例えばVccとする。アドレ
ス線及びコントロール線2より電圧レベル切り替え回路
3へ入力されるアドレス情報が0又はVccであれば電
圧レベル切り替え回路3の出力は0又はVccであり、
この情報がワード線デコーダ1でデコードされ、所定の
ワード線5が選択されて、このワード線5に接続された
メモリトランジスタ6よりデータが読み出される。
【0010】このように本実施例では電圧切り替え回路
は例えば32KByteのEPROMにおいてアドレス
線は15本、コントロール線は2本なので、計17個必
要となる。一方従来は電圧レベル切り替え回路はワード
線の数である1024個必要となり、この結果、本実施
例では差し引き1007個分のパターン面積が不必要と
なる。尚、上記実施例ではEPROMの場合について説
明したが、EEPROM等の通常状態と異なる電圧を印
加することによりデータを記憶する読みだし専用記憶装
置において実施すると、上記実施例と同様の効果を得る
ことができる。
は例えば32KByteのEPROMにおいてアドレス
線は15本、コントロール線は2本なので、計17個必
要となる。一方従来は電圧レベル切り替え回路はワード
線の数である1024個必要となり、この結果、本実施
例では差し引き1007個分のパターン面積が不必要と
なる。尚、上記実施例ではEPROMの場合について説
明したが、EEPROM等の通常状態と異なる電圧を印
加することによりデータを記憶する読みだし専用記憶装
置において実施すると、上記実施例と同様の効果を得る
ことができる。
【0011】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、同一の
半導体基板上に演算手段、記憶手段及び入出力手段を集
積したシングルチップマイクロコンピュータにおいて、
上記記憶手段が、上記演算手段からのアドレス情報をデ
コードするデコーダ部と、このデコーダ部からのアドレ
ス情報に基ずいてデータを書き込み又読み出す記憶部と
、上記デコーダ部に結合されるアドレス線及びコントロ
ール線に接続された電圧レベル切り替え回路と、上記デ
コーダ部と上記電圧レベル切り替え回路に接続された電
源切り替え回路とを備えたので、電圧レベル切り替え回
路の個数を減ずることができ、パターン面積を減らすこ
とができる半導体集積回路が得られる効果がある。
半導体基板上に演算手段、記憶手段及び入出力手段を集
積したシングルチップマイクロコンピュータにおいて、
上記記憶手段が、上記演算手段からのアドレス情報をデ
コードするデコーダ部と、このデコーダ部からのアドレ
ス情報に基ずいてデータを書き込み又読み出す記憶部と
、上記デコーダ部に結合されるアドレス線及びコントロ
ール線に接続された電圧レベル切り替え回路と、上記デ
コーダ部と上記電圧レベル切り替え回路に接続された電
源切り替え回路とを備えたので、電圧レベル切り替え回
路の個数を減ずることができ、パターン面積を減らすこ
とができる半導体集積回路が得られる効果がある。
【図1】この発明の一実施例を示す構成図である。
【図2】慣用の電圧レベル切り替え回路の一例を示す回
路図である。
路図である。
【図3】従来の半導体集積回路を示す構成図である。
1 ワード線デコーダ
2 アドレス線及びコントロール線3 電
圧レベル切り替え回路 4 電源切り替え回路 5 ワード線 6 メモリトランジスタ
圧レベル切り替え回路 4 電源切り替え回路 5 ワード線 6 メモリトランジスタ
Claims (1)
- 【請求項1】 同一の半導体基板上に演算手段、記憶
手段及び入出力手段を集積したシングルチップマイクロ
コンピュータにおいて、上記記憶手段が、上記演算手段
からのアドレス情報をデコードするデコーダ部と、この
デコーダ部からのアドレス情報に基ずいてデータを書き
込み又読み出す記憶部と、上記デコーダ部に結合される
アドレス線及びコントロール線に接続された電圧レベル
切り替え回路と、上記デコーダ部と上記電圧レベル切り
替え回路に接続された電源切り替え回路とを備えたこと
を特徴とする半導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3011543A JPH04251497A (ja) | 1991-01-08 | 1991-01-08 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3011543A JPH04251497A (ja) | 1991-01-08 | 1991-01-08 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04251497A true JPH04251497A (ja) | 1992-09-07 |
Family
ID=11780881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3011543A Pending JPH04251497A (ja) | 1991-01-08 | 1991-01-08 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04251497A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61270921A (ja) * | 1985-05-25 | 1986-12-01 | Toshiba Corp | デコ−ダ回路 |
JPS63188895A (ja) * | 1987-01-31 | 1988-08-04 | Toshiba Corp | 不揮発性メモリ |
JPH04106794A (ja) * | 1990-08-27 | 1992-04-08 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
-
1991
- 1991-01-08 JP JP3011543A patent/JPH04251497A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61270921A (ja) * | 1985-05-25 | 1986-12-01 | Toshiba Corp | デコ−ダ回路 |
JPS63188895A (ja) * | 1987-01-31 | 1988-08-04 | Toshiba Corp | 不揮発性メモリ |
JPH04106794A (ja) * | 1990-08-27 | 1992-04-08 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
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