JPH04188810A - 複合セラミックコンデンサ - Google Patents
複合セラミックコンデンサInfo
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- JPH04188810A JPH04188810A JP2319333A JP31933390A JPH04188810A JP H04188810 A JPH04188810 A JP H04188810A JP 2319333 A JP2319333 A JP 2319333A JP 31933390 A JP31933390 A JP 31933390A JP H04188810 A JPH04188810 A JP H04188810A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES OR LIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/02—Mountings
- H01G2/06—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support
- H01G2/065—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support for surface mounting, e.g. chip capacitors
-
- H—ELECTRICITY
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- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は複数個の積層セラミックチップコンデンサを接
着剤を介して重ね合せた複合セラミックコンデンサに関
する。更に詳しくは複数個のチップコンデンサの外部電
極同士を導通可能な金属製の面材がはんだ付けにより接
着された複合セラミックコンデンサに関するものである
。
着剤を介して重ね合せた複合セラミックコンデンサに関
する。更に詳しくは複数個のチップコンデンサの外部電
極同士を導通可能な金属製の面材がはんだ付けにより接
着された複合セラミックコンデンサに関するものである
。
[従来の技術]
積層セラミックコンデンサは、内部電極として電極材料
を印刷したセラミック誘電体を積層した後、これを焼成
してベアチップを形成し、このベアチップの外面に内部
電極に導通する外部電極を形成して作製される。
を印刷したセラミック誘電体を積層した後、これを焼成
してベアチップを形成し、このベアチップの外面に内部
電極に導通する外部電極を形成して作製される。
この積層セラミックコンデンサを高容量化するための手
段として、構成するセラミック誘電体を大型にしかつ多
層化する方法、或いは構成するセラミック誘電体を高誘
電率化する方法が試みられている。しかし、前者の方法
は多層化か技術的に困難で歩留りの低下が大きく、後者
の方法は量産に適した高誘電率のセラミック誘電体が開
発されていないため、ともに工業上現実的でない。
段として、構成するセラミック誘電体を大型にしかつ多
層化する方法、或いは構成するセラミック誘電体を高誘
電率化する方法が試みられている。しかし、前者の方法
は多層化か技術的に困難で歩留りの低下が大きく、後者
の方法は量産に適した高誘電率のセラミック誘電体が開
発されていないため、ともに工業上現実的でない。
このため、従来より複数個の積層セラミ・ツクコンデン
サをチップコンデンサの形態で接着剤を介して重合した
複合セラミックコンデンサが高容量化したコンデンサと
して量産されている。
サをチップコンデンサの形態で接着剤を介して重合した
複合セラミックコンデンサが高容量化したコンデンサと
して量産されている。
この複合セラミックコンデンサは、ベアチップの端部に
外部電極を形成した積層セラミツクチ・ツブコンデンサ
を複数個それぞれ外部電極を揃えて接着剤を介して重合
した後、第11図に示すように、重合して得られた接合
体1の端部に金属板2を直接はんだ3付けして接合体端
部に現れる複数の外部電極4同士を導通するようにして
いる。
外部電極を形成した積層セラミツクチ・ツブコンデンサ
を複数個それぞれ外部電極を揃えて接着剤を介して重合
した後、第11図に示すように、重合して得られた接合
体1の端部に金属板2を直接はんだ3付けして接合体端
部に現れる複数の外部電極4同士を導通するようにして
いる。
上記複合セラミックコンデンサを基板上に共晶はんだに
より230℃の温度ではんだ付けして実装する場合には
、上記金属板のはんだ付けは共晶はんだより高い、例え
ば290℃以上の高温で行われる。
より230℃の温度ではんだ付けして実装する場合には
、上記金属板のはんだ付けは共晶はんだより高い、例え
ば290℃以上の高温で行われる。
[発明が解決しようとする課題]
従来の複合セラミックコンデンサはその製造過程におけ
る金属板の高温のはんだ付けに起因して、或いはチップ
部品として基板上にはんだ付けされるときに、金属板自
体が熱膨張又は熱収縮しその熱応力のために、ベアチッ
プに形成した外部電極が損傷し、内部電極との導通が不
十分になったり、或いは電極食われが生じ、結果として
外部電極に欠陥か生じ、複合セラミックコンデンサの特
性か損われることがあった。
る金属板の高温のはんだ付けに起因して、或いはチップ
部品として基板上にはんだ付けされるときに、金属板自
体が熱膨張又は熱収縮しその熱応力のために、ベアチッ
プに形成した外部電極が損傷し、内部電極との導通が不
十分になったり、或いは電極食われが生じ、結果として
外部電極に欠陥か生じ、複合セラミックコンデンサの特
性か損われることがあった。
本発明の目的は、高容量で高耐電圧の性能を有し、コン
デンサとして要求される各種特性に優れ、外部電極に熱
的損傷が起こりにくい複合セラミックコンデンサを提供
することにある。
デンサとして要求される各種特性に優れ、外部電極に熱
的損傷が起こりにくい複合セラミックコンデンサを提供
することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明者らは、高温はんだ付けによる金属製面材の熱膨
張又は熱収縮に伴う応力は面材の面積に比例することに
着目し、本発明に到達した。
張又は熱収縮に伴う応力は面材の面積に比例することに
着目し、本発明に到達した。
第1図〜第7図に示すように、本発明の複合セラミック
コンデンサ10は、外部電極11b、12b、13b、
14b、15bをベアチップ11a、12a、13a、
14a、15aの端部に形成した積層セラミックチップ
コンデンサ1112.13,14.15が複数個それぞ
れ外部電極11b〜15bを揃えて接着剤16を介して
重合されて接合体17に形成され、接合体17の端部に
外部電極同士を導通可能な金属製の面材19がはんだ1
8付けにより接着された複合セラミックコンデンサの改
良である。
コンデンサ10は、外部電極11b、12b、13b、
14b、15bをベアチップ11a、12a、13a、
14a、15aの端部に形成した積層セラミックチップ
コンデンサ1112.13,14.15が複数個それぞ
れ外部電極11b〜15bを揃えて接着剤16を介して
重合されて接合体17に形成され、接合体17の端部に
外部電極同士を導通可能な金属製の面材19がはんだ1
8付けにより接着された複合セラミックコンデンサの改
良である。
その特徴あるところは、面材19に1又は2以上の熱歪
吸収用の孔21a、21b、21c、21d又は切欠き
22a、22bのいずれか又は双方が設けられたことに
ある。
吸収用の孔21a、21b、21c、21d又は切欠き
22a、22bのいずれか又は双方が設けられたことに
ある。
以下、本発明を詳述する。
本発明の複合セラミックコンデンサ10を構成する積層
セラミックチップコンデンサ11〜15は、内部電極を
有するセラミック誘電体が積層焼成されたベアチップ1
1a〜15aと、ベアチップの外面に内部電極に導通す
る外部電極11b〜15bとにより構成される。このセ
ラミック誘電体には、鉛系、チタン酸バリウム系の誘電
体か用いられ、内部電極にはPd、Pt、Ag/Pd等
の貴金属、或いはNi、Fe、Co等の卑金属か用いら
れる。また外部電極11b〜15bは、Agを含む金属
粉末にガラスフリットを加えたベーストをヘアチップ1
1a〜15aの外面に塗布して焼付けることにより形成
される。
セラミックチップコンデンサ11〜15は、内部電極を
有するセラミック誘電体が積層焼成されたベアチップ1
1a〜15aと、ベアチップの外面に内部電極に導通す
る外部電極11b〜15bとにより構成される。このセ
ラミック誘電体には、鉛系、チタン酸バリウム系の誘電
体か用いられ、内部電極にはPd、Pt、Ag/Pd等
の貴金属、或いはNi、Fe、Co等の卑金属か用いら
れる。また外部電極11b〜15bは、Agを含む金属
粉末にガラスフリットを加えたベーストをヘアチップ1
1a〜15aの外面に塗布して焼付けることにより形成
される。
本発明の複合セラミックコンデンサ10は、上記積層セ
ラミックチップコンデンサ11〜15を複数個それぞれ
外部電極11b〜15bを揃えて接着剤16を介して重
合させて形成される。積層セラミックチップコンデンサ
の重合数は、第1図、第2図及び第8図〜第10図では
5個の例を示すか、本発明はこれに限らない。この重合
数は2個以上であって、要求される静電容量又はベアチ
ップの厚みに応じて決められる。接着剤16としてはエ
ポキシ系、シリコーン系の樹脂接着剤か使用される。重
合して得られた接合体17の端部には金属製の面材19
がはんだ18付けにより接着される。このはんだ18に
は、複合セラミックコンデンサが融点が230℃程度の
共晶はんだにより基板上に実装されるため、融点が29
0℃以上の高温はんだが用いられる。
ラミックチップコンデンサ11〜15を複数個それぞれ
外部電極11b〜15bを揃えて接着剤16を介して重
合させて形成される。積層セラミックチップコンデンサ
の重合数は、第1図、第2図及び第8図〜第10図では
5個の例を示すか、本発明はこれに限らない。この重合
数は2個以上であって、要求される静電容量又はベアチ
ップの厚みに応じて決められる。接着剤16としてはエ
ポキシ系、シリコーン系の樹脂接着剤か使用される。重
合して得られた接合体17の端部には金属製の面材19
がはんだ18付けにより接着される。このはんだ18に
は、複合セラミックコンデンサが融点が230℃程度の
共晶はんだにより基板上に実装されるため、融点が29
0℃以上の高温はんだが用いられる。
金属製の面材19は、導電性かあればその材質に特に制
限はないが、次に述べる孔明は加工又は切欠き加工が容
易で、熱応力が小さく、はんだ濡れ性のあるものが好ま
しい。例示すれば、厚さ0.1〜0.3mmのりん青銅
、銅等にSn又はSn / P bのめっき処理をした
ものが挙げられる。
限はないが、次に述べる孔明は加工又は切欠き加工が容
易で、熱応力が小さく、はんだ濡れ性のあるものが好ま
しい。例示すれば、厚さ0.1〜0.3mmのりん青銅
、銅等にSn又はSn / P bのめっき処理をした
ものが挙げられる。
面材19の接着部分の外形は接合体17の端部の外形に
相応するものか好ましい。
相応するものか好ましい。
面材19には、はんだ付は時の面材の熱歪を吸収するた
めに、第2図及び第3図に示すような角孔21a、第4
図に示すような丸孔21b1第5図に示すような長細孔
21C1又は第6図に示すような切欠き22aが設けら
れる。第3図に示すように角孔21aに金網23を張設
してもよい。
めに、第2図及び第3図に示すような角孔21a、第4
図に示すような丸孔21b1第5図に示すような長細孔
21C1又は第6図に示すような切欠き22aが設けら
れる。第3図に示すように角孔21aに金網23を張設
してもよい。
金網23は面材と同一の材質であって、Sn又はS n
/ P bのめっき処理をしたものが好ましい。
/ P bのめっき処理をしたものが好ましい。
なお、本発明の孔もしくは切欠きの形状、寸法、及び数
は上記例に限らず適宜法められる、孔もしくは切欠きに
金網を張設してもよい。或いは第7図に示すように面材
19に孔21dと切欠き22bの双方を設けてもよい。
は上記例に限らず適宜法められる、孔もしくは切欠きに
金網を張設してもよい。或いは第7図に示すように面材
19に孔21dと切欠き22bの双方を設けてもよい。
面材の接合体端部への装着を容易にするために、第1図
〜第6図に示すように面材19の下端に接合体17の下
端を被包する折曲部24を設けることが好ましい。なお
、第7図に示すように面材19の全ての端部に折曲部2
5を設け、面材19をキャップ状にすると、自動装着が
より一層容易になり好ましい。
〜第6図に示すように面材19の下端に接合体17の下
端を被包する折曲部24を設けることが好ましい。なお
、第7図に示すように面材19の全ての端部に折曲部2
5を設け、面材19をキャップ状にすると、自動装着が
より一層容易になり好ましい。
本発明の複合セラミックコンデンサを製造するには、先
ず複数個の積層セラミックチップコンデンサを作製する
。このチップコンデンサは、内部電極として電極材料を
印刷したセラミック誘電体を積層した後、これを焼成し
てベアチップを形成し、このベアチップの外面に内部電
極に導通ずる外部電極を形成して作製される。
ず複数個の積層セラミックチップコンデンサを作製する
。このチップコンデンサは、内部電極として電極材料を
印刷したセラミック誘電体を積層した後、これを焼成し
てベアチップを形成し、このベアチップの外面に内部電
極に導通ずる外部電極を形成して作製される。
次いで第8図及び第9図に示すように、本発明の複合セ
ラミックコンデンサ10は、複数個の積層セラミックチ
ップコンデンサ1112,13゜14.15がそれぞれ
外部電極11b、12b。
ラミックコンデンサ10は、複数個の積層セラミックチ
ップコンデンサ1112,13゜14.15がそれぞれ
外部電極11b、12b。
13b、14b、15bを揃えて接着剤16を介して重
合され、所定の圧力でチップコンデンサ11〜15を圧
着して接合体17に形成される。
合され、所定の圧力でチップコンデンサ11〜15を圧
着して接合体17に形成される。
次に第2図〜第7図に示される金属製のいずれかの面材
19を高温はんだを介して接合体17の端部に当接し、
更に290℃以上に加熱して、第1図及び10図に示す
ように、接合体17の端部にはんだ付けにより接着され
る。面材19は接合体17の複数個の外部電極11b〜
15bを互いに導通させるために接着され、接着が完了
すると、第1図に示す複合セラミックコンデンサ10か
得られる。
19を高温はんだを介して接合体17の端部に当接し、
更に290℃以上に加熱して、第1図及び10図に示す
ように、接合体17の端部にはんだ付けにより接着され
る。面材19は接合体17の複数個の外部電極11b〜
15bを互いに導通させるために接着され、接着が完了
すると、第1図に示す複合セラミックコンデンサ10か
得られる。
[作 用]
本発明の複合セラミックコンデンサは、複数個の積層チ
ップコンデンサの外部電極同士を導通するための金属製
の面材が単なる板でなく、孔又は切欠きを有する面材で
あるため、接合体の端部を覆う面材の実質的な面積は小
さく、この面材をはんだ付けしたときの熱膨張又は熱収
縮に伴う応力は減少し、その応力による外部電極の欠陥
が生じない。
ップコンデンサの外部電極同士を導通するための金属製
の面材が単なる板でなく、孔又は切欠きを有する面材で
あるため、接合体の端部を覆う面材の実質的な面積は小
さく、この面材をはんだ付けしたときの熱膨張又は熱収
縮に伴う応力は減少し、その応力による外部電極の欠陥
が生じない。
更に、面材の端部に折曲部を設けたり、或いは面材をキ
ャップ状にすることにより、面材の接合体端部の位置決
めが容易になり、自動化に好適になる。
ャップ状にすることにより、面材の接合体端部の位置決
めが容易になり、自動化に好適になる。
[発明の効果]
以上述べたように、従来金属板を接合体の端部に高温は
んだではんだ付けしていたため、積層セラミックチップ
コンデンサの外部電極に熱的損傷か生じていたものを、
本発明によれば、上記金属板に代わりに孔又は切欠きの
設けられた金属製の面材を接合体の端部に接着するよう
に構成したので、従来の複合セラミックコンデンサと同
等又はそれ以上の高容量で高耐電圧のコンデンサ特性を
具備し得るとともに、はんだ付けに起因した積層チップ
コンデンサの外部電極の欠陥を防止することができ、信
頼性の高い複合セラミックコンデンサが得られる。
んだではんだ付けしていたため、積層セラミックチップ
コンデンサの外部電極に熱的損傷か生じていたものを、
本発明によれば、上記金属板に代わりに孔又は切欠きの
設けられた金属製の面材を接合体の端部に接着するよう
に構成したので、従来の複合セラミックコンデンサと同
等又はそれ以上の高容量で高耐電圧のコンデンサ特性を
具備し得るとともに、はんだ付けに起因した積層チップ
コンデンサの外部電極の欠陥を防止することができ、信
頼性の高い複合セラミックコンデンサが得られる。
また孔又は切欠きに金網を設けると、より一層面材の面
積が減少するため熱膨張又は熱収縮に伴う応力も減少し
、外部電極の損傷は小さくなる。
積が減少するため熱膨張又は熱収縮に伴う応力も減少し
、外部電極の損傷は小さくなる。
特に金属製の面材の端部に折曲部を設けることにより、
面材が所定の位置に正確にしかも容易に接着でき、自動
装着に適したチップ部品となる。
面材が所定の位置に正確にしかも容易に接着でき、自動
装着に適したチップ部品となる。
[実施例コ
次に本発明の実施例を比較例とともに詳しく説明する。
〈実施例1〉
定格電圧50Vで静電容量33μFの特性を有する長さ
5 、7 m m X幅!5.ommx高さ0.95m
mの積層セラミックチップコンデンサ(EIAコード2
220タイプ、三菱鉱業セメント■製)を5個用意した
。上記積層セラミックチップコンデンサは、鉛ペロブス
カイト系のセラミック誘電体にPdの内部電極を有し、
外部電極としてガラスフリットを含んだAgペーストの
焼付は電極層を有する。5個の積層セラミックチップコ
ンデンサをそれぞれの外部電極を揃えてエポキシ系樹脂
接着剤(ウルトラダイン$5111 W−5、四国化成
工業■製)を介して重合した後、120℃の温度で自重
により接着して長さ54mmX幅50mmx高さ4.7
5mmの接合体に形成した。
5 、7 m m X幅!5.ommx高さ0.95m
mの積層セラミックチップコンデンサ(EIAコード2
220タイプ、三菱鉱業セメント■製)を5個用意した
。上記積層セラミックチップコンデンサは、鉛ペロブス
カイト系のセラミック誘電体にPdの内部電極を有し、
外部電極としてガラスフリットを含んだAgペーストの
焼付は電極層を有する。5個の積層セラミックチップコ
ンデンサをそれぞれの外部電極を揃えてエポキシ系樹脂
接着剤(ウルトラダイン$5111 W−5、四国化成
工業■製)を介して重合した後、120℃の温度で自重
により接着して長さ54mmX幅50mmx高さ4.7
5mmの接合体に形成した。
得られた接合体の端部に5個の外部電極にわたるように
融点295℃のSn8重量%pb合金の高温はんだ(5
PT−70−OF−295、千住金属工業■製)を塗布
した。この高温はんだの上から表面をSn/Pb (9
: 1)でめっき処理し、下端に折曲部を有する、第3
図に示す銅製の面材を接合体の端部に当接した。面材の
サイズは幅5.0mmX長さ4.5mmX厚さ0.1
mmであって、中央の幅3.0mmX長さ2.5mmの
角孔には3.0mmX2.5mmのメツシュの金網が張
られていた。
融点295℃のSn8重量%pb合金の高温はんだ(5
PT−70−OF−295、千住金属工業■製)を塗布
した。この高温はんだの上から表面をSn/Pb (9
: 1)でめっき処理し、下端に折曲部を有する、第3
図に示す銅製の面材を接合体の端部に当接した。面材の
サイズは幅5.0mmX長さ4.5mmX厚さ0.1
mmであって、中央の幅3.0mmX長さ2.5mmの
角孔には3.0mmX2.5mmのメツシュの金網が張
られていた。
また折曲部の折曲長さは1.0mmであった。当接後、
350℃の温度に加熱してメツシュ付き面材を接合体の
端部に接着し、複合セラミックコンデンサを作製した。
350℃の温度に加熱してメツシュ付き面材を接合体の
端部に接着し、複合セラミックコンデンサを作製した。
く比較例1〉
メツシュ付き面材の代わりに、幅5.OmmX長さ4.
5mmX厚さ0.1mmの実施例1と同一材質の第11
図に示す金属板を用いた以外は実施例1と同様にして複
合セラミックコンデンサを作製した。
5mmX厚さ0.1mmの実施例1と同一材質の第11
図に示す金属板を用いた以外は実施例1と同様にして複
合セラミックコンデンサを作製した。
上記実施例1及び比較例1で作製した複合セラミックコ
ンデンサに対して、緒特性を次の方法により調べた。
ンデンサに対して、緒特性を次の方法により調べた。
(a)静電容量(μF)及び誘電正接(%)1kHz、
IVrmsで測定した。
IVrmsで測定した。
(b)絶縁抵抗(Ω)
25Vの直流電圧を印加した後、30秒経過後の抵抗を
測定した。
測定した。
CC)直流破壊電圧(V)
昇圧速度70v/秒で直流電圧を印加し、絶縁破壊を生
じたときの電圧を測定した。
じたときの電圧を測定した。
(d)初期不良
定格の2.5倍の電圧を印加したときに破壊したか否か
調べ、破壊した試料数を数えた。
調べ、破壊した試料数を数えた。
(e)温度サイクル試験
一50℃で30分間維持しそこから昇温して室温で3分
間維持し、更に昇温しで+125℃で30分間維持した
後、維持時間を同一にして反対に降温させるサイクルを
50サイクル行う。静電容量か10%以上低下した試料
数を数えた。
間維持し、更に昇温しで+125℃で30分間維持した
後、維持時間を同一にして反対に降温させるサイクルを
50サイクル行う。静電容量か10%以上低下した試料
数を数えた。
実施例1及び比較例1の複合セラミックコンデンサを上
記(a)〜(C)及び(e)についてはそれぞれ30個
ずつ試験し、上記(d)については100個確認した。
記(a)〜(C)及び(e)についてはそれぞれ30個
ずつ試験し、上記(d)については100個確認した。
その結果を第1表に示す。表において、M a xは最
大値、M i nは最小値、σ。−1は標準偏差をそれ
ぞれ示す。
大値、M i nは最小値、σ。−1は標準偏差をそれ
ぞれ示す。
(以下、本頁余白)
第 1 表
第1表より、実施例1のコンデンサは比較例1のコンデ
ンサと比べて、温度サイクル不良が格段に少なく、熱的
な環境変化に対する歪により発生する応力は金属製面材
の方が金属板より小さいことが明らかとなった。
ンサと比べて、温度サイクル不良が格段に少なく、熱的
な環境変化に対する歪により発生する応力は金属製面材
の方が金属板より小さいことが明らかとなった。
また実施例1のコンデンサは比較例1のコンデンサと比
べて、誘電正接のデータを除いて静電容量、絶縁抵抗、
直流破壊電圧の各データが高めの値を示し、これにより
、実施例1のコンデンサ特性は比較例1のコンデンサ特
性と比べて優れていることが判った。
べて、誘電正接のデータを除いて静電容量、絶縁抵抗、
直流破壊電圧の各データが高めの値を示し、これにより
、実施例1のコンデンサ特性は比較例1のコンデンサ特
性と比べて優れていることが判った。
第1図は本発明の複合セラミックコンデンサの断面図。
第2図はその金属製の面材を接着する状況を示す斜視図
。 第3図、第4図、第5図、第6図及び第7図は本発明の
面材の斜視図。 第8図、第9図及び第10図はその複合セラミックコン
デンサを製造する過程を示す断面図。 第11図は比較例の金属板を接着する状況を示す斜視図
。 10:複合セラミックコンデンサ、 11〜15:積層セラミックチップコンデンサ、11a
〜15a:ベアチップ、 11b〜15b:外部電極、 16:接着剤、 17:接合体、 18:高温はんだ、 19:金属製の面材、 21a〜21d:熱歪吸収用の孔、 22a、22b:熱歪吸収用の切欠き、23:金網、 24.25:折曲部。
。 第3図、第4図、第5図、第6図及び第7図は本発明の
面材の斜視図。 第8図、第9図及び第10図はその複合セラミックコン
デンサを製造する過程を示す断面図。 第11図は比較例の金属板を接着する状況を示す斜視図
。 10:複合セラミックコンデンサ、 11〜15:積層セラミックチップコンデンサ、11a
〜15a:ベアチップ、 11b〜15b:外部電極、 16:接着剤、 17:接合体、 18:高温はんだ、 19:金属製の面材、 21a〜21d:熱歪吸収用の孔、 22a、22b:熱歪吸収用の切欠き、23:金網、 24.25:折曲部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)ベアチップ(11a〜15a)の端部に外部電極(
11b〜15b)を形成した積層セラミックチップコン
デンサ(11〜15)が複数個それぞれ前記外部電極(
11b〜15b)を揃えて接着剤(16)を介して重合
されて接合体(17)に形成され、前記接合体(17)
の端部に前記外部電極同士を導通可能な金属製の面材(
19)がはんだ(18)付けにより接着された複合セラ
ミックコンデンサ(10)において、 前記面材には1又は2以上の熱歪吸収用の孔(21a,
21b,21c,21d)又は切欠き(22a,22b
)のいずれか又は双方が設けられたことを特徴とする複
合セラミックコンデンサ。 2)熱歪吸収用の孔(21a,21b,21c,21d
)又は切欠き(22a,22b)に金網(23)が張設
された請求項1記載の複合セラミックコンデンサ。 3)面材(19)の端部に接合体(17)の端部を被包
する折曲部(24,25)が形成された請求項1又は2
記載の複合セラミックコンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2319333A JP2900596B2 (ja) | 1990-11-22 | 1990-11-22 | 複合セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2319333A JP2900596B2 (ja) | 1990-11-22 | 1990-11-22 | 複合セラミックコンデンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04188810A true JPH04188810A (ja) | 1992-07-07 |
JP2900596B2 JP2900596B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=18109010
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2319333A Expired - Lifetime JP2900596B2 (ja) | 1990-11-22 | 1990-11-22 | 複合セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2900596B2 (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6515844B1 (en) | 1998-05-28 | 2003-02-04 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Electronic part |
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-
1990
- 1990-11-22 JP JP2319333A patent/JP2900596B2/ja not_active Expired - Lifetime
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---|---|
JP2900596B2 (ja) | 1999-06-02 |
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