JP2850200B2 - 積層セラミック電子部品 - Google Patents
積層セラミック電子部品Info
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チップコンデンサ、チ
ップインダクタ、チップバリスタ等の積層セラミック体
の内部電極取り出し端面にチップ端子電極を形成して構
成された積層セラミック電子部品に関する。
ップインダクタ、チップバリスタ等の積層セラミック体
の内部電極取り出し端面にチップ端子電極を形成して構
成された積層セラミック電子部品に関する。
【0002】
【従来の技術】従来からこの種の積層セラミック電子部
品にチップコンデンサがある。このチップコンデンサの
外部電極として、Ag、もしくはAg−Pdにガラスフ
リットを含有して電極材料として、塗布・焼付処理して
外部電極としている。更に、半田喰われを防止し、かつ
半田濡れ性を良好にするため、ニッケル1〜2μm−半
田(Sn/Pb)2μm以上のめっき層が形成されてい
る。ところが、電極材料内のガラスフリットにより、セ
ラミックとの接着強度を確保する目的でガラスフリット
の軟化点400〜500℃より高温の600〜800℃
にて焼付けて電極を形成するために、図5に示すような
電極材料の収縮歪みによる層間剥離9やセラミックの割
れ8等が発生して、絶縁不良を起こす問題があった。な
お、部分的に過焼結を起こし、図4に示すように、空洞
6が発生して多孔質となるために、めっき層を形成する
際に、めっき液が外部電極内に浸透して、水洗い後も、
このめっき液が少量残留してしまい、これがチップコン
デンサとして使用している時、経時変化により、絶縁劣
化してしまう問題があった。
品にチップコンデンサがある。このチップコンデンサの
外部電極として、Ag、もしくはAg−Pdにガラスフ
リットを含有して電極材料として、塗布・焼付処理して
外部電極としている。更に、半田喰われを防止し、かつ
半田濡れ性を良好にするため、ニッケル1〜2μm−半
田(Sn/Pb)2μm以上のめっき層が形成されてい
る。ところが、電極材料内のガラスフリットにより、セ
ラミックとの接着強度を確保する目的でガラスフリット
の軟化点400〜500℃より高温の600〜800℃
にて焼付けて電極を形成するために、図5に示すような
電極材料の収縮歪みによる層間剥離9やセラミックの割
れ8等が発生して、絶縁不良を起こす問題があった。な
お、部分的に過焼結を起こし、図4に示すように、空洞
6が発生して多孔質となるために、めっき層を形成する
際に、めっき液が外部電極内に浸透して、水洗い後も、
このめっき液が少量残留してしまい、これがチップコン
デンサとして使用している時、経時変化により、絶縁劣
化してしまう問題があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の技術的課題
は、外部電極形成時のクラック、層間剥離を防止し、更
に、端子電極のめっき層形成時の電極内へのめっき液浸
入をなくして、経時変化による絶縁劣化を起こさない積
層セラミック電子部品を提供することである。
は、外部電極形成時のクラック、層間剥離を防止し、更
に、端子電極のめっき層形成時の電極内へのめっき液浸
入をなくして、経時変化による絶縁劣化を起こさない積
層セラミック電子部品を提供することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決・改善す
るために、セラミック体の端面より露出する内部電極と
電気的に接続する外部電極を形成する積層セラミック電
子部品において、該外部電極に導電粉末と、二酸化珪素
アルカリとを溶融して得られる珪酸アルカリ塩を85%
水溶液換算で40〜80重量%含有した有機ビヒクル
(バインダー)とからなる導電性ペーストにより外部電
極を形成して、積層セラミック電子部品を構成する。
るために、セラミック体の端面より露出する内部電極と
電気的に接続する外部電極を形成する積層セラミック電
子部品において、該外部電極に導電粉末と、二酸化珪素
アルカリとを溶融して得られる珪酸アルカリ塩を85%
水溶液換算で40〜80重量%含有した有機ビヒクル
(バインダー)とからなる導電性ペーストにより外部電
極を形成して、積層セラミック電子部品を構成する。
【0005】
【作用】本発明の積層セラミック電子部品は、二酸化珪
素とアルカリとを溶融して得られる珪酸アルカリ塩の8
5%水溶液を含有した導電性ペーストを外部電極に用い
ることにより、導電性ペースト中の濃厚水溶液自体が接
着作用を兼ね備えることで、セラミックとの接合が焼付
温度100〜200℃の低温でも可能になり、電極材料
の収縮歪みによる層間剥離やセラミックの割れも発生せ
ず、なお、部分的に過焼結を起こし、多孔質性を有する
こともないために、めっき層を形成する際に、めっき液
が外部電極内に浸透して、水洗後も、このめっき液が少
量残留してしまい、これがチップコンデンサとして使用
している時、経時変化により、絶縁劣化してしまうとい
うこともない。
素とアルカリとを溶融して得られる珪酸アルカリ塩の8
5%水溶液を含有した導電性ペーストを外部電極に用い
ることにより、導電性ペースト中の濃厚水溶液自体が接
着作用を兼ね備えることで、セラミックとの接合が焼付
温度100〜200℃の低温でも可能になり、電極材料
の収縮歪みによる層間剥離やセラミックの割れも発生せ
ず、なお、部分的に過焼結を起こし、多孔質性を有する
こともないために、めっき層を形成する際に、めっき液
が外部電極内に浸透して、水洗後も、このめっき液が少
量残留してしまい、これがチップコンデンサとして使用
している時、経時変化により、絶縁劣化してしまうとい
うこともない。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を積層セラミック電子
部品である積層セラミックコンデンサについて、図を用
いて詳細に説明する。
部品である積層セラミックコンデンサについて、図を用
いて詳細に説明する。
【0007】表1に、本発明例、従来例を含む各導電性
ペーストの構成を示す。
ペーストの構成を示す。
【0008】
【0009】表1に示した金属粉に粒径0.2〜0.5μ
の銀粉を用いた。有機バインダーにエチルセルロース樹
脂とブチルカルビトール等の溶剤を混合したものを用い
た。そして、表1に示す分量の85%水溶液と有機バイ
ンダーを予め混合して混合バインダーとし、その混合バ
インダーと銀粉を混合し、3本ロールミルにて混合し
て、表1に示す組成1〜組成6の導電性ペーストを得
た。
の銀粉を用いた。有機バインダーにエチルセルロース樹
脂とブチルカルビトール等の溶剤を混合したものを用い
た。そして、表1に示す分量の85%水溶液と有機バイ
ンダーを予め混合して混合バインダーとし、その混合バ
インダーと銀粉を混合し、3本ロールミルにて混合し
て、表1に示す組成1〜組成6の導電性ペーストを得
た。
【0010】セラミック粉末に鉛系ペロブスカイトセラ
ミック、内部電極にAg−Pd系を用いた。セラミック
シートと内部電極を形成したセラミックシートとを複数
枚、積層して、100〜150kg/cm2の圧力で熱
圧着して、対向端面に内部電極が引き出されるようにセ
ラミック体を形成し、800〜1200℃にて焼成し、
図1に示すように、積層セラミックコンデンサ素子1を
得た。次に、外部電極として、組成1〜組成6の導電性
ペーストを積層セラミックコンデンサ素子1の対向端面
に塗布して、100〜200℃、120分にて焼付(キ
ュア)させて外部電極4を形成する。最後に、図2に示
すように、外部電極4aの表面にニッケルめっきを施し
た後、半田めっきを施して、めっき層5を形成する。こ
れにより、図1に示すような積層セラミックコンデンサ
が完成する。
ミック、内部電極にAg−Pd系を用いた。セラミック
シートと内部電極を形成したセラミックシートとを複数
枚、積層して、100〜150kg/cm2の圧力で熱
圧着して、対向端面に内部電極が引き出されるようにセ
ラミック体を形成し、800〜1200℃にて焼成し、
図1に示すように、積層セラミックコンデンサ素子1を
得た。次に、外部電極として、組成1〜組成6の導電性
ペーストを積層セラミックコンデンサ素子1の対向端面
に塗布して、100〜200℃、120分にて焼付(キ
ュア)させて外部電極4を形成する。最後に、図2に示
すように、外部電極4aの表面にニッケルめっきを施し
た後、半田めっきを施して、めっき層5を形成する。こ
れにより、図1に示すような積層セラミックコンデンサ
が完成する。
【0011】本発明の外部電極構造の積層セラミック電
子部品と従来の外部電極構造の積層セラミック電子部品
(幅2.5mm、長さ3.2mm、厚さ2.0mmの実施
例品としてのチップコンデンサ、及び同一形状の従来
品)との電気特性を表2に、経時変化による絶縁劣化頻
度を表3に、外部電極の端子強度を図3に比較して示し
ている。なお、比較試験とは、チップコンデンサを厚さ
1.5mmのアルミナ基板上に半田付け実装させ、40
℃−90%RHの環境下にて定格電圧を印加しながら放
置し、20日及び50日に絶縁抵抗を測定した。又、端
子強度は、両端子にφ1mmのリード線を半田付けして
引っ張り試験を行った。
子部品と従来の外部電極構造の積層セラミック電子部品
(幅2.5mm、長さ3.2mm、厚さ2.0mmの実施
例品としてのチップコンデンサ、及び同一形状の従来
品)との電気特性を表2に、経時変化による絶縁劣化頻
度を表3に、外部電極の端子強度を図3に比較して示し
ている。なお、比較試験とは、チップコンデンサを厚さ
1.5mmのアルミナ基板上に半田付け実装させ、40
℃−90%RHの環境下にて定格電圧を印加しながら放
置し、20日及び50日に絶縁抵抗を測定した。又、端
子強度は、両端子にφ1mmのリード線を半田付けして
引っ張り試験を行った。
【0012】
【0013】
【0014】このように、本比較試験からも明かなよう
に、本発明による積層セラミック電子部品は、従来の積
層セラミック電子部品に比べて、メッキ液浸入による経
時変化での絶縁劣化が見られず、高信頼性であることが
わかる。なお、端子強度も従来品と同等であり、回路基
板実装時の剥がれ等の心配もない。そして、本発明の範
囲以外の組成1及び組成5のように、85%水溶液を4
0重量%以下、もしくは80重量%以上の電極組成の場
合は、セラミックとの接着強度が取れない、電極形成で
きない等の不具合が生じることがわかる。
に、本発明による積層セラミック電子部品は、従来の積
層セラミック電子部品に比べて、メッキ液浸入による経
時変化での絶縁劣化が見られず、高信頼性であることが
わかる。なお、端子強度も従来品と同等であり、回路基
板実装時の剥がれ等の心配もない。そして、本発明の範
囲以外の組成1及び組成5のように、85%水溶液を4
0重量%以下、もしくは80重量%以上の電極組成の場
合は、セラミックとの接着強度が取れない、電極形成で
きない等の不具合が生じることがわかる。
【0015】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、導電性
ペースト中に濃厚水溶液を含有することで、外部電極形
成時の焼付け温度を低温(100〜200℃)にするこ
とができ、焼付け時の金属収縮による収縮歪をなくし、
かつ過焼結による電極の多孔質性もなくなり、めっき処
理を施しても無孔質性の外部電極が形成されているため
に、従来品のようなめっき液の浸入による絶縁劣化もな
く、高信頼性の積層セラミック電子部品を提供できる。
なお、端子強度も従来品と同等であり、回路基板実装後
の剥離現象も発生しない。
ペースト中に濃厚水溶液を含有することで、外部電極形
成時の焼付け温度を低温(100〜200℃)にするこ
とができ、焼付け時の金属収縮による収縮歪をなくし、
かつ過焼結による電極の多孔質性もなくなり、めっき処
理を施しても無孔質性の外部電極が形成されているため
に、従来品のようなめっき液の浸入による絶縁劣化もな
く、高信頼性の積層セラミック電子部品を提供できる。
なお、端子強度も従来品と同等であり、回路基板実装後
の剥離現象も発生しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の積層セラミック電子部品の構造断面
図。
図。
【図2】本発明の外部電極とセラミック体端面との界面
接続部を拡大して示す説明図。
接続部を拡大して示す説明図。
【図3】本発明、比較例及び従来品の端子強度を示す
図。
図。
【図4】従来の外部電極とセラミック体端面との界面接
続部を拡大して示す説明図。
続部を拡大して示す説明図。
【図5】従来の積層セラミック電子部品における不良モ
ードを説明する断面図。
ードを説明する断面図。
1 積層セラミックコンデンサ素子 2 セラミック 3 内部電極 4 外部電極 4a (本発明の)外部電極 4b (従来の)外部電極 5 めっき層 6 (外部電極内の)空洞 7 銀粉 8 セラミックの割れ 9 層間剥離
Claims (3)
- 【請求項1】 導電粉末と珪酸アルカリ塩を85%水溶
液換算で40〜80重量%含有した有機ビヒクルとから
なる導電性ペーストを用いて形成した外部電極を有する
ことを特徴とする積層セラミック電子部品。 - 【請求項2】 積層セラミック体の内部電極取り出し端
面を覆って外部電極が形成された請求項1記載の積層セ
ラミック電子部品。 - 【請求項3】 前記外部電極上に、ニッケルめっき層と
該ニッケルめっき層を覆う半田めっき層とを形成して端
子電極としたことを特徴とする請求項2記載の積層セラ
ミック電子部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28892594A JP2850200B2 (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 積層セラミック電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28892594A JP2850200B2 (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 積層セラミック電子部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08130149A JPH08130149A (ja) | 1996-05-21 |
JP2850200B2 true JP2850200B2 (ja) | 1999-01-27 |
Family
ID=17736584
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28892594A Expired - Fee Related JP2850200B2 (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 積層セラミック電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2850200B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3535998B2 (ja) * | 1999-03-29 | 2004-06-07 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミック電子部品 |
FR2793949B1 (fr) * | 1999-05-21 | 2001-08-10 | Thomson Plasma | Melange pour realiser des electrodes et procede de formation d'electrodes |
JP3630056B2 (ja) * | 2000-01-26 | 2005-03-16 | 株式会社村田製作所 | チップ型電子部品及びチップ型コンデンサ |
JP6431687B2 (ja) | 2014-04-24 | 2018-11-28 | キーサイト テクノロジーズ, インク. | 3端子デバイスの端子間容量測定方法及びその装置 |
-
1994
- 1994-10-28 JP JP28892594A patent/JP2850200B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08130149A (ja) | 1996-05-21 |
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