JPH0347793B2 - - Google Patents
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- JPH0347793B2 JPH0347793B2 JP59042603A JP4260384A JPH0347793B2 JP H0347793 B2 JPH0347793 B2 JP H0347793B2 JP 59042603 A JP59042603 A JP 59042603A JP 4260384 A JP4260384 A JP 4260384A JP H0347793 B2 JPH0347793 B2 JP H0347793B2
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- JP
- Japan
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- channel
- line
- time slot
- terminal device
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- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 18
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 20
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- 101710112715 Endoribonuclease ZC3H12A Proteins 0.000 description 5
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- 108700012361 REG2 Proteins 0.000 description 4
- 101150108637 REG2 gene Proteins 0.000 description 4
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- 101100033865 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) RFA1 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100524516 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) RFA2 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100422768 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) SUL2 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100048260 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) UBX2 gene Proteins 0.000 description 3
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明は回線多重型ループ状伝送路を有するデ
ータハイウエイの通信回線試験方式に係り、特に
効率的に実施出来る通信回線試験方式に関するも
のである。
ータハイウエイの通信回線試験方式に係り、特に
効率的に実施出来る通信回線試験方式に関するも
のである。
(b) 従来技術の問題点
第１図のａは従来の回線多重型ループ状伝送路
を有するデータハイウエイ通信回線試験の一実施
例を示すブロツク図であり、ｂはフレームフオー
マツトを示す図である。
を有するデータハイウエイ通信回線試験の一実施
例を示すブロツク図であり、ｂはフレームフオー
マツトを示す図である。
図中、SVは監視制御装置、LINEはデータハ
イウエイ通信回線、NODE１〜NODEnは夫々ノ
ード、LS１１〜LS１ｎは夫々ノードNODE１に
接続するチヤンネル盤、LS２１〜LS２ｎは夫々
ノードNODE２に接続するチヤンネル盤、LSn１
〜LSnnは夫々ノードNODEnに接続するチヤン
ネル盤、Ｔ１１〜Ｔ１ｎはチヤンネル盤LS１１
〜LS１ｎに夫々接続される端末装置、Tn１〜
Tnnはチヤンネル盤LSn１〜LSnnに夫々接続さ
れる端末装置、Ｐはパターン、TS１〜TSmは
夫々タイムスロツトである。
イウエイ通信回線、NODE１〜NODEnは夫々ノ
ード、LS１１〜LS１ｎは夫々ノードNODE１に
接続するチヤンネル盤、LS２１〜LS２ｎは夫々
ノードNODE２に接続するチヤンネル盤、LSn１
〜LSnnは夫々ノードNODEnに接続するチヤン
ネル盤、Ｔ１１〜Ｔ１ｎはチヤンネル盤LS１１
〜LS１ｎに夫々接続される端末装置、Tn１〜
Tnnはチヤンネル盤LSn１〜LSnnに夫々接続さ
れる端末装置、Ｐはパターン、TS１〜TSmは
夫々タイムスロツトである。
以下図に従つて回線多重型通信の動作を説明す
る。
る。
監視制御装置SVは第１図のｂに示す様なフレ
ームをデータハイウエイ通信回線LINEに送出す
る。
ームをデータハイウエイ通信回線LINEに送出す
る。
此のフレームはフレームの先頭位置を示すパタ
ーンＰと此れに続く複数個のタイムスロツトTS
より構成されている。
ーンＰと此れに続く複数個のタイムスロツトTS
より構成されている。
又監視制御装置SVにはテーブルが設けられて
いて、或る端末装置Ｔが或る特定の端末装置と通
信する時使用すべきタイムスロツトTSが規定さ
れている。例えば端末装置Ｔ１１が端末装置Ｔ２
１と通信する時はタイムスロツトTS１を、端末
装置Ｔ１１が端末装置Ｔ３１と通信する時はタイ
ムスロツトTS２を使用すると云う様に予め規定
し、テーブルにしておく。従つて此のテーブルで
規定された端末装置でのみ通信が可能である。
いて、或る端末装置Ｔが或る特定の端末装置と通
信する時使用すべきタイムスロツトTSが規定さ
れている。例えば端末装置Ｔ１１が端末装置Ｔ２
１と通信する時はタイムスロツトTS１を、端末
装置Ｔ１１が端末装置Ｔ３１と通信する時はタイ
ムスロツトTS２を使用すると云う様に予め規定
し、テーブルにしておく。従つて此のテーブルで
規定された端末装置でのみ通信が可能である。
尚一つのタイムスロツトTSは普通８ビツトで
構成されている。
構成されている。
各ノードNODE１〜NODEnは前記フレームを
常に受信し、前記フレーム中のパターンＰを識別
し、此処でタイムスロツトTSのアドレスを作り
出し、タイムスロツトTSと共に此のタイムスロ
ツトアドレスを各チヤンネル盤LSに渡す。
常に受信し、前記フレーム中のパターンＰを識別
し、此処でタイムスロツトTSのアドレスを作り
出し、タイムスロツトTSと共に此のタイムスロ
ツトアドレスを各チヤンネル盤LSに渡す。
各チヤンネル盤LSは此のタイムスロツトアド
レスを識別し、割り付けられたタイムスロツトを
選択する。
レスを識別し、割り付けられたタイムスロツトを
選択する。
此の様にして任意の端末装置間でデータの授受
を行うのが回線多重型通信方式である。
を行うのが回線多重型通信方式である。
此の様な回線多重型通信方式に於ける従来の回
線試験方法はタイムスロツトを変更することなく
回線試験を行つていたので、Ｐ−Ｐ回線（ポイン
ト間回線）はＰ−Ｐ回線の侭、マルチドロツプ回
線はマルチドロツプ回線の侭でしか試験出来ない
ので試験方法に幅がないと云う欠点があつた。
線試験方法はタイムスロツトを変更することなく
回線試験を行つていたので、Ｐ−Ｐ回線（ポイン
ト間回線）はＰ−Ｐ回線の侭、マルチドロツプ回
線はマルチドロツプ回線の侭でしか試験出来ない
ので試験方法に幅がないと云う欠点があつた。
(c) 発明の目的
本発明の目的は従来技術の有する上記の欠点を
除去し、任意のチヤンネルで任意の折り返し試験
が可能な通信回線試験方式を提供することであ
る。
除去し、任意のチヤンネルで任意の折り返し試験
が可能な通信回線試験方式を提供することであ
る。
(d) 発明の構成
上記の目的は本発明によれば、端末装置とチヤ
ンネル盤の組合せからなる複数のチヤンネルを収
容するノードを複数個接続し、該複数のノードに
各チヤンネル毎のタイムスロツトと試験用タイム
スロツトからなるフレーム信号を送出する監視制
御装置を接続する、回線多重型ループ状伝送路を
有するデータハイウエイ通信回線において、 上記試験用タイムスロツトを送出する監視制御
装置に、チヤンネル盤で折り返して使用タイムス
ロツトを試験用タイムスロツトに変更する第１の
設定手段と、チヤンネル盤で折り返しをせずに使
用タイムスロツトのみを試験用タイムスロツトに
変更する第２の設定手段を設け、 上記端末装置とノード間を接続するチヤンネル
盤に、該監視制御装置からの第１の設定手段によ
り該端末装置とノード間の回線を切離してそれぞ
れ折り返しループ接続するセレクタを設け、 上記監視制御装置からの第１の設定手段と第２
の設定手段の組合せにより、任意のチヤンネルで
任意の折り返し試験を行うことを特徴とする通信
回線試験方式を提供することにより達成される。
ンネル盤の組合せからなる複数のチヤンネルを収
容するノードを複数個接続し、該複数のノードに
各チヤンネル毎のタイムスロツトと試験用タイム
スロツトからなるフレーム信号を送出する監視制
御装置を接続する、回線多重型ループ状伝送路を
有するデータハイウエイ通信回線において、 上記試験用タイムスロツトを送出する監視制御
装置に、チヤンネル盤で折り返して使用タイムス
ロツトを試験用タイムスロツトに変更する第１の
設定手段と、チヤンネル盤で折り返しをせずに使
用タイムスロツトのみを試験用タイムスロツトに
変更する第２の設定手段を設け、 上記端末装置とノード間を接続するチヤンネル
盤に、該監視制御装置からの第１の設定手段によ
り該端末装置とノード間の回線を切離してそれぞ
れ折り返しループ接続するセレクタを設け、 上記監視制御装置からの第１の設定手段と第２
の設定手段の組合せにより、任意のチヤンネルで
任意の折り返し試験を行うことを特徴とする通信
回線試験方式を提供することにより達成される。
(e) 発明の実施例
第２図は本発明に依るノードNODE及びチヤ
ンネル盤LSの構成を示す図である。
ンネル盤LSの構成を示す図である。
第３図は本発明に依るWRAP０、及びWRAP
１の動作を説明する図である。
１の動作を説明する図である。
図中、MUXはマルチプレクサ、MPUはマイ
クロコンピユータ、Ａ−LINEはアドレス線、Ｄ
−LINEはデータ線でノードNODEに収容され、
REG１はタイムスロツトレジスタ、COMPは比
較器、BUF１、BUF２は夫々バツフア、REG２
はラツプレジスタ、SEL１，SEL２は夫々セレク
タ、Ｐ／Ｓ，Ｓ／Ｐは夫々パラレル→シリアル変
換器、シリアル→パラレル変換器で、何れもチヤ
ンネル盤LSに収容される。
クロコンピユータ、Ａ−LINEはアドレス線、Ｄ
−LINEはデータ線でノードNODEに収容され、
REG１はタイムスロツトレジスタ、COMPは比
較器、BUF１、BUF２は夫々バツフア、REG２
はラツプレジスタ、SEL１，SEL２は夫々セレク
タ、Ｐ／Ｓ，Ｓ／Ｐは夫々パラレル→シリアル変
換器、シリアル→パラレル変換器で、何れもチヤ
ンネル盤LSに収容される。
図に示す様に各チヤンネル盤LSは夫々タイム
スロツトレジスタREG１を持ち、此のレジスタ
に設定されているアドレスとマルチプレクサ
MUXが作り出したアドレスを比較器COMPで比
較し、アドレスが一致した時はバツフアBUF１、
及びBUF２を開いて該タイムスロツト上のデー
タを端末装置Ｔに送り、又データを端末装置Ｔか
らのデータを該タイムスロツト上に乗せる。
スロツトレジスタREG１を持ち、此のレジスタ
に設定されているアドレスとマルチプレクサ
MUXが作り出したアドレスを比較器COMPで比
較し、アドレスが一致した時はバツフアBUF１、
及びBUF２を開いて該タイムスロツト上のデー
タを端末装置Ｔに送り、又データを端末装置Ｔか
らのデータを該タイムスロツト上に乗せる。
本発明は回線試験を行おうとするチヤンネルに
対しテスト設定をする時、使用タイムスロツトを
試験用タイムスロツトに変更することにより任意
の折り返し試験が出来る様にするものである。
対しテスト設定をする時、使用タイムスロツトを
試験用タイムスロツトに変更することにより任意
の折り返し試験が出来る様にするものである。
一例として第１図のｂに於いてタイムスロツト
TSmが試験用タイムスロツトであるとする。
TSmが試験用タイムスロツトであるとする。
今任意の端末装置（例えばＴ１１とする）で試
験をしようとする場合、監視制御装置SVは其の
端末装置の所属するノードNODE１に対し指令
を送る。此の場合の指令にはWRAP０とWRAP
１の二種類がある。
験をしようとする場合、監視制御装置SVは其の
端末装置の所属するノードNODE１に対し指令
を送る。此の場合の指令にはWRAP０とWRAP
１の二種類がある。
ノードNODEに収容されているマイクロコン
ピユータMPUは監視制御装置SVからラツプの指
示を受信すると、タイムスロツトレジスタREG
１にラツプ用タイムスロツトアドレスを、ラツプ
レジスタREG２にラツプコードを夫々設定する。
ピユータMPUは監視制御装置SVからラツプの指
示を受信すると、タイムスロツトレジスタREG
１にラツプ用タイムスロツトアドレスを、ラツプ
レジスタREG２にラツプコードを夫々設定する。
今ノードNODE１がWRAP０の指令を受信す
るとタイムスロツトレジスタREG１に試験用タ
イムスロツトTSmのアドレスが設定され、其の
時迄使用していたタイムスロツトTS１の代わり
にタイムスロツトTSmを使用して通信する状態
に変更される。此の為端末装置Ｔ１１からの送信
信号はデータハイウエイ通信回線LINEに送出さ
れるが受信するものがいないのでデータハイウエ
イ通信回線LINEを一巡して帰つて来て端末装置
Ｔ１１が受信する。第３図のｂは此の様に使用タ
イムスロツトを試験用タイムスロツトTSmに変
更する設定をした場合を示す図であり、此の設定
をWRAP０と呼ぶ。
るとタイムスロツトレジスタREG１に試験用タ
イムスロツトTSmのアドレスが設定され、其の
時迄使用していたタイムスロツトTS１の代わり
にタイムスロツトTSmを使用して通信する状態
に変更される。此の為端末装置Ｔ１１からの送信
信号はデータハイウエイ通信回線LINEに送出さ
れるが受信するものがいないのでデータハイウエ
イ通信回線LINEを一巡して帰つて来て端末装置
Ｔ１１が受信する。第３図のｂは此の様に使用タ
イムスロツトを試験用タイムスロツトTSmに変
更する設定をした場合を示す図であり、此の設定
をWRAP０と呼ぶ。
又ノードNODE１がWRAP１の指令を受信す
るとWRAP０の場合と同様にタイムスロツトレ
ジスタREG１に試験用タイムスロツトTSmのア
ドレスが設定され、其の時迄使用していたタイム
スロツトTS１の代わりにタイムスロツトTSmを
使用し、且つラツプレジスタREG２にラツプコ
ードが設定され、第２図に於いて点線で示す様に
セレクタSEL１、SEL２の接続変更が行われ、折
り返し状態になる。
るとWRAP０の場合と同様にタイムスロツトレ
ジスタREG１に試験用タイムスロツトTSmのア
ドレスが設定され、其の時迄使用していたタイム
スロツトTS１の代わりにタイムスロツトTSmを
使用し、且つラツプレジスタREG２にラツプコ
ードが設定され、第２図に於いて点線で示す様に
セレクタSEL１、SEL２の接続変更が行われ、折
り返し状態になる。
第３図のａはチヤンネル盤LS１１の内部で折
り返し回路を作りタイムスロツトを試験用タイム
スロツトに変更した状態を図示するもので、此の
設定をWRAP１と呼ぶ。
り返し回路を作りタイムスロツトを試験用タイム
スロツトに変更した状態を図示するもので、此の
設定をWRAP１と呼ぶ。
尚以下の説明に於いて端末装置Tnとチヤンネ
ル盤LSnを総称してチヤンネルCHnと云う。第４
図は本発明に依る自局折り返しの一実施例を示す
ブロツク図である。
ル盤LSnを総称してチヤンネルCHnと云う。第４
図は本発明に依る自局折り返しの一実施例を示す
ブロツク図である。
第４図に於いてチヤンネルCH１はWRAP１に
設定され、チヤンネルCH２はWRAP０に設定さ
れている。チヤンネルCH１とチヤンネルCH２
が通信している時に第４図の状態に変化させるこ
とによりチヤンネルCH１の折り返し試験が出来
る。
設定され、チヤンネルCH２はWRAP０に設定さ
れている。チヤンネルCH１とチヤンネルCH２
が通信している時に第４図の状態に変化させるこ
とによりチヤンネルCH１の折り返し試験が出来
る。
第５図は本発明に依る相手局折り返しの一実施
例を示すブロツク図である。
例を示すブロツク図である。
第５図に於いてチヤンネルCH１はWRAP０に
設定され、チヤンネルCH２はWRAP１に設定さ
れている。チヤンネルCH１とチヤンネルCH２
が通信している時に第５図の状態に変化させるこ
とによりチヤンネルCH２の折り返し（相手局折
り返し）試験が出来る。
設定され、チヤンネルCH２はWRAP１に設定さ
れている。チヤンネルCH１とチヤンネルCH２
が通信している時に第５図の状態に変化させるこ
とによりチヤンネルCH２の折り返し（相手局折
り返し）試験が出来る。
第６図は本発明に依る伝送路折り返しの一実施
例を示すブロツク図である。
例を示すブロツク図である。
第６図に於いてチヤンネルCH１はWRAP０に
設定され、チヤンネルCH２はWRAPなしに設定
されている。チヤンネルCH１とチヤンネルCH
２が通信している時に第６図の状態に変化させる
ことにより伝送路折り返し試験が出来る。此れは
或る一つのチヤンネル盤の試験をすると云う場合
該チヤンネルの設定だけでよく、相手局の設定が
不要である為操作が大変簡単となる。
設定され、チヤンネルCH２はWRAPなしに設定
されている。チヤンネルCH１とチヤンネルCH
２が通信している時に第６図の状態に変化させる
ことにより伝送路折り返し試験が出来る。此れは
或る一つのチヤンネル盤の試験をすると云う場合
該チヤンネルの設定だけでよく、相手局の設定が
不要である為操作が大変簡単となる。
第７図はマルチドロツプ回線を示す。図はチヤ
ンネルCH１がチヤンネルCHn、チヤンネルCH
（ｎ＋１）、及びチヤンネルCH（ｎ＋２）と通信
する場合で、今チヤンネルCH１とチヤンネル
CH（ｎ＋１）の間のみで試験したいと思う時は
第７図に示す構成を取ることにより容易に試験出
来る。
ンネルCH１がチヤンネルCHn、チヤンネルCH
（ｎ＋１）、及びチヤンネルCH（ｎ＋２）と通信
する場合で、今チヤンネルCH１とチヤンネル
CH（ｎ＋１）の間のみで試験したいと思う時は
第７図に示す構成を取ることにより容易に試験出
来る。
第８図はチヤンネルCH１とチヤンネルCH（ｎ
＋１）の間のみで試験する時の構成図である。
＋１）の間のみで試験する時の構成図である。
此の場合はチヤンネルCH１はWRAP０に、チ
ヤンネルCH（ｎ＋１）はWRAP０に設定する。
尚チヤンネルCHn及びチヤンネルCH（ｎ＋２）
は共にWRAPなしとする。
ヤンネルCH（ｎ＋１）はWRAP０に設定する。
尚チヤンネルCHn及びチヤンネルCH（ｎ＋２）
は共にWRAPなしとする。
此の様にすることによりチヤンネルCH１とチ
ヤンネルCH（ｎ＋１）はＰ−Ｐ回線となり、チ
ヤンネルCHnとチヤンネルCH（ｎ＋２）は共に
線路から切り離され、対向で試験することが出来
る。
ヤンネルCH（ｎ＋１）はＰ−Ｐ回線となり、チ
ヤンネルCHnとチヤンネルCH（ｎ＋２）は共に
線路から切り離され、対向で試験することが出来
る。
又チヤンネルCH１或いはチヤンネルCH（ｎ＋
１）をWRAP１とすれば、折り返し試験も出来
る。
１）をWRAP１とすれば、折り返し試験も出来
る。
第９図は本発明の一応用例を示す図である。
第９図では、チヤンネルCH１はWRAP０、チ
ヤンネルCH２〜CHnをWRAP１に設定すること
により、任意のチヤンネル盤を任意の個数一度は
試験することが出来る。
ヤンネルCH２〜CHnをWRAP１に設定すること
により、任意のチヤンネル盤を任意の個数一度は
試験することが出来る。
又試験用タイムスロツトを複数個設けることに
より、同時に複数組の回線試験を行うことも可能
である。
より、同時に複数組の回線試験を行うことも可能
である。
(f) 発明の効果
以上詳細に説明した様に本発明によれば、任意
のチヤンネルで任意の折り返し試験が実施出来る
為効率の良い試験を行うことが出来ると云う大き
い効果がある。
のチヤンネルで任意の折り返し試験が実施出来る
為効率の良い試験を行うことが出来ると云う大き
い効果がある。
第１図のａは従来の回線多重型ループ状伝送路
を有するデータハイウエイ通信回線試験の一実施
例を示すブロツク図であり、ｂは回線多重型通信
の動作を説明する為の図である。第２図は本発明
に依るノードNODE及びチヤンネル盤LSの構成
を示す図である。第３図のａは設定WRAP１を
示す図であり、第３図のｂは設定WRAP０を示
す図である。第４図は本発明に依る自局折り返し
の一実施例を示すブロツク図である。第５図は本
発明に依る相手局折り返しの一実施例を示すブロ
ツク図である。第６図は本発明に依る伝送路折り
返しの一実施例を示すブロツク図である。第７図
はマルチドロツプ回線を示す。第８図はチヤンネ
ルCH１とチヤンネルCH（ｎ＋１）の間のみで試
験する時の構成図である。第９図は本発明の一応
用例を示す図である。 図中、SVは監視制御装置、LINEはデータハ
イウエイ通信回線、NODE１〜NODEnは夫々ノ
ード、LS１１〜LS１ｎは夫々ノードNODE１に
接続するチヤンネル盤、LS２１〜LS２ｎは夫々
ノードNODE２に接続するチヤンネル盤、LSn１
〜LSnnは夫々ノードNODEnに接続するチヤン
ネル盤、Ｔ１１〜Ｔ１ｎはチヤンネル盤LS１１
〜LS１ｎに夫々接続される端末装置、Tn１〜
Tnnはチヤンネル盤LSn１〜LSnnに夫々接続さ
れる端末装置、Ｐはパターン、TS１〜TSmは
夫々タイムスロツト、MUXはマルチプレクサ、
MPUはマイクロコンピユータ、Ａ−LINEはア
ドレス線、Ｄ−LINEはデータ線、REG１はタイ
ムスロツトレジスタ、COMPは比較器、BUF１，
BUF２は夫々バツフア、REG２はラツプレジス
タ、SEL１，SEL２は夫々セレクタ、Ｐ／Ｓ，
Ｓ／Ｐは夫々パラレル→シリアル変換器、シリア
ル→パラレル変換器である。
を有するデータハイウエイ通信回線試験の一実施
例を示すブロツク図であり、ｂは回線多重型通信
の動作を説明する為の図である。第２図は本発明
に依るノードNODE及びチヤンネル盤LSの構成
を示す図である。第３図のａは設定WRAP１を
示す図であり、第３図のｂは設定WRAP０を示
す図である。第４図は本発明に依る自局折り返し
の一実施例を示すブロツク図である。第５図は本
発明に依る相手局折り返しの一実施例を示すブロ
ツク図である。第６図は本発明に依る伝送路折り
返しの一実施例を示すブロツク図である。第７図
はマルチドロツプ回線を示す。第８図はチヤンネ
ルCH１とチヤンネルCH（ｎ＋１）の間のみで試
験する時の構成図である。第９図は本発明の一応
用例を示す図である。 図中、SVは監視制御装置、LINEはデータハ
イウエイ通信回線、NODE１〜NODEnは夫々ノ
ード、LS１１〜LS１ｎは夫々ノードNODE１に
接続するチヤンネル盤、LS２１〜LS２ｎは夫々
ノードNODE２に接続するチヤンネル盤、LSn１
〜LSnnは夫々ノードNODEnに接続するチヤン
ネル盤、Ｔ１１〜Ｔ１ｎはチヤンネル盤LS１１
〜LS１ｎに夫々接続される端末装置、Tn１〜
Tnnはチヤンネル盤LSn１〜LSnnに夫々接続さ
れる端末装置、Ｐはパターン、TS１〜TSmは
夫々タイムスロツト、MUXはマルチプレクサ、
MPUはマイクロコンピユータ、Ａ−LINEはア
ドレス線、Ｄ−LINEはデータ線、REG１はタイ
ムスロツトレジスタ、COMPは比較器、BUF１，
BUF２は夫々バツフア、REG２はラツプレジス
タ、SEL１，SEL２は夫々セレクタ、Ｐ／Ｓ，
Ｓ／Ｐは夫々パラレル→シリアル変換器、シリア
ル→パラレル変換器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 端末装置とチヤンネル盤の組合せからなる複
数のチヤンネルを収容するノードを複数個接続
し、該複数のノードを各チヤンネル毎のタイムス
ロツトと試験用タイムスロツトからなるフレーム
信号を送出する監視制御装置を接続する、回線多
重型ループ状伝送路を有するデータハイウエイ通
信回線において、 上記試験用タイムスロツトを送出する監視制御
装置に、チヤンネル盤で折り返して使用タイムス
ロツトを試験用タイムスロツトに変更する第１の
設定手段と、チヤンネル盤で折り返しをせずに使
用タイムスロツトのみを試験用タイムスロツトに
変更する第２の設定手段を設け、 上記端末装置とノード間を接続するチヤンネル
盤に、該監視制御装置からの第１の設定手段によ
り該端末装置とノード間の回線を切離してそれぞ
れ折り返しループ接続するセレクタを設け、 上記監視制御装置からの第１の設定手段と第２
の設定手段の組合せにより、任意のチヤンネルで
任意の折り返し試験を行うことを特徴とする通信
回線試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59042603A JPS60186155A (ja) | 1984-03-06 | 1984-03-06 | 通信回線試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59042603A JPS60186155A (ja) | 1984-03-06 | 1984-03-06 | 通信回線試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60186155A JPS60186155A (ja) | 1985-09-21 |
| JPH0347793B2 true JPH0347793B2 (ja) | 1991-07-22 |
Family
ID=12640620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59042603A Granted JPS60186155A (ja) | 1984-03-06 | 1984-03-06 | 通信回線試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60186155A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5612156A (en) * | 1979-07-12 | 1981-02-06 | Toshiba Corp | Diagnostic system of data transfer system |
| JPS5619248A (en) * | 1979-07-24 | 1981-02-23 | Fujitsu Ltd | Loop circuit diagnosing system for communication control device |
-
1984
- 1984-03-06 JP JP59042603A patent/JPS60186155A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5612156A (en) * | 1979-07-12 | 1981-02-06 | Toshiba Corp | Diagnostic system of data transfer system |
| JPS5619248A (en) * | 1979-07-24 | 1981-02-23 | Fujitsu Ltd | Loop circuit diagnosing system for communication control device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60186155A (ja) | 1985-09-21 |
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