JP2522510B2

JP2522510B2 - 自動選択回路

Info

Publication number: JP2522510B2
Application number: JP63004007A
Authority: JP
Inventors: 直則西岡
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1988-01-12
Filing date: 1988-01-12
Publication date: 1996-08-07
Anticipated expiration: 2011-08-07
Also published as: JPH01180145A

Description

【発明の詳細な説明】〔概要〕信号や音声を伝送する多数の通話路の入力側と出力側
とを自動的に切替えて所定通話路の選択と、選択した通
話路のループバック接続及びタンデム接続を一連の動作
にて自動的に処理する自動選択回路に関し、効率的に自動的にCHの選択，ループバック接続及びタ
ンデム接続を実現出来る自動選択回路を提供することを
目的とし、信号や音声を伝送する複数の通話路からなる通話路群
の中の所定の通話路、あるいは、所定の数の通等路を選
択して、試験を行なう選択回路において、通話路群か
ら、所定の通話路を選択して試験を行なう時、所定の通
話路を通話路群から選択する手段と、選択された該通話
路の出力側と入力側をループバック接続し、該信号や音
声を折り返えす通話路折り返し手段と、通話路群から、
任意の数の通話路を選択して試験を行なう時、所定の数
の通話路を通話路群から選択する手段と、該通話路の出
力側と次位の通話路の入力側を接続する次通路間接続手
段とを具備する第１及び第２の切替系と、通話路群中の
全ての通話路の選択状況や接続情報を表示する接続状態
表示手段とを備え構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、信号や音声を伝送する多数の通話路の入力
側と出力側とを自動的に切替えて所定通話路の選択と、
選択した通話路のループバック接続及びタンデム接続を
一連の動作にて自動的に処理する自動選択回路に関す
る。

例えば、ディジタル網伝送システムの多重変換装置の
ように多数の通話路（以下CHと称する）を有する装置の
CHの伝送特性等を試験する場合、CHが有する機能（例え
ば、CH自局折り返し接続，次CH間接続（タンデム接続）
等を含む）を簡易にしかも機能的に切り替えて短時間に
試験出来ることが要求される。

〔従来の技術〕

第５図は多重変換装置を説明するブロック図、第６図
はディジタル網伝送装置の共通部分の試験方法を説明す
るブロック図、第７図は従来例の試験方法を説明するブ
ロック図をそれぞれ示す。第５図は多重変換装置１を示
し、低速側通話路の信号を多重して高速側通話路に出力
する多重部1Aと、高速側通話路の信号を分離して低速側
通話路に出力する分離部1Bから構成された例であり、例
えば、多重部1Aでは64kpbsの信号を24CH多重して1.5Mbp
sの信号として出力し、分離部1Bでは1.5Mbpsの信号を64
kbpsの24CHの信号に分離して出力する。図の構成では、
多重部1Aは低速側通話路CH1〜CH4の信号を多重にして、
高速側通話路に出力し、分離部1BはCH1〜CH4の信号が多
重された高速側通話路の信号を低速側の信号に分離して
CH1〜CH4に出力する。ここで、高速側通話路の入力側と
出力側を接続することにより、信号のループバックが行
なわれ、CH1のINから入力した信号は、CH1のOUTへ出力
され、以下、同様にCH2〜CH4のINから入力された信号は
CH2〜CH4のOUTへ出力される。また、低速側通話路の入
力側と出力側を接続することにより、それぞれの低速側
通話路の信号がループバックされ、高速側通話路から入
力した信号が、高速側通話路の出力側に出力される。こ
のような構成において、例えば、CH2に対してCH1を前位
の通話路、CH1に対してCH2を次位の通話路と称してい
る。第６図に示すブロック図は、ディジタル網伝送装置
の内、多重変換位置１の伝送特性を試験するための接続
図であり、複数の信号を多重化し伝送するための多数のCHを有す
る多重変換装置１と、多重変換装置１内CHの入力側を走査し選択する入力側
スキャナ部2aと、多重変換装置１内CHの出力側を走査し選択する出力側
スキャナ部2bと、各CHの誤り率等の伝送特性を測定するデータ回線測定
器3a,3bと、選択さすべきCHに対応する入力側，出力側へ通話路系
を切替える切替部４と、切替部４からの切替え制御信号を入力側スキャナ部
2aと出力側スキャナ部2bとのインタフェースを取り、多
重変換装置１の入力側及び出力側の切替えを制御する信
号′，″を出力するインタフェース部５と、データ回線測定器3a,3bや多重変換装置１等の動作を
制御する処理制御部（以下CPUと称する）６とを具備し
ている。

例えば、製品出荷前の時点で多重変換装置１の接続や
伝送特性等の試験を行う場合の一例が第６図に示すブロ
ック図であり、多重変換装置１以外の機能ブロックは試
験装置に組み込まれているか、それぞれを組み合わせる
ことにより試験装置を構成する。

尚、入力側スキャナ部2aと出力側スキャナ部2bの構成
は同一内容を有するものであり、その内容はCH数や使用
周波数帯域により相違するため、多種多様のスキャナが
実用化されている。

例えば、第６図（Ａ）で示すように１点と多点とを1:
1で接続するように構成されたものや、第７図（Ｂ）に
示すように多点と多点とを1:1で接続するように構成さ
れたもの等が実用化され、現在使用されている。

第７図（Ａ）で示す例は１点と５点とを1:1で接続す
るスキャナであり、１点の入力側Ｃを５点（１〜５）の
出力側の１点をインタフェース部５を介して送出される
切替部４からの切替制御信号′，″により選択し、
接続路系を形成する。

尚、切替制御信号′は入力側スキャナ部2aに対して
送出する制御信号であり、制御信号″は出力側スキャ
ナ部2bに対して送出する制御信号である。

次に、第７図（Ｂ）に示す例は、３点の入力側C1〜C3
を切替制御信号′にて１点選択すると共に、切替制御
信号″にて出力側の５点（１〜５）のうち１点を選択
して入力側と出力側との接続路系を形成する例である。

第７図（Ａ），（Ｂ）に示す上述のスキャナを組み合
わせて、多重変換装置１内のCHのように入力側と出力側
を有するCHを選択し、選択されたCHの伝送特性を測定す
る。

尚、上述のように入力側と出力側を有するCHへ伝送さ
れる信号の伝送レベルを測定する場合、ループバック接
続，タンデム接続を行い測定する場合がある。

即ち、例えば、同一CHの入力側と出力側を接続して信
号を折り返えすループバック接続や、前位CHと次位CHと
の間を接続するタンデム接続を必要とすることがある。

上述のループバック接続やタンデム接続を第７図
（Ａ），（Ｂ）に示すスキャナを組み合わせた入力側ス
キャナ部2aと出力側スキャナ部2bとで行う場合、これら
スキャナ部2a,2bを切り離して操作者によりループバッ
ク接続やタンデム接続を行うか、専用の切替器を準備し
通話路系を形成し、データ回線測定器3a,3bにて測定し
ていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述のように、ループバック接続やタンデム接続を行
いながらCHを選択し、選択されたCHの伝送特性を試験す
る場合、CHの選択とループバック接続やタンデム接続と
は切り離し行うことになるため、その分余分な手間が必
要になる。

このような接続方法では特に、CH数が多い場合に必要
となる試験の自動化及び効率化を推進する観点から見た
場合、阻害要因となる。

本発明は、効率的に自動的にCHの選択，ループバック
接続及びタンデム接続を実現出来る自動選択回路を提供
することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理を説明するブロック図を示す。

第１図に示す本発明の原理ブロック図中の10は信号や
音声を伝送する複数の通話路からなる通話路群であり、 20、20′は通話路群10から、所定の通話路ｉを選択し
て試験を行なう時、所定の通話路ｉを通話路群10から選
択する手段と、選択された該通話路ｉの出力側と入力側
をループバック接続し、該信号や音声を折り返えす通話
路折り返し手段20aと、通話路群10から、所定の数の通
話路ｉ〜ｋを選択して試験を行なう時、所定の数の通話
路ｉ〜ｋを通話路群10から選択する手段と、該通話路の
出力側と次位の通話路の入力側を接続する次通路間接続
手段20bとを具備する第１及び第２の切替系であり、70
は通話路群10中の全ての通話路１〜ｎの選択状況や接続
情報を表示する接続状態表示手段であり、これらを具備
することにより本問題点を解決するための手段とする。

〔作用〕

例えば、通話路群10の入力側へ入力する信号や音声
を、通話路群10中の所定通話路を選択し、選択された通
話路ｉを介して伝送させる場合、第１の切替系20は通話
路群10中の所定通話路の入力側を選択する。

一方、第２の切替系20′は通話路群10中の当該通話路
ｉの出力側を選択し、１つの通話路系を形成する。

又、選択された通話路ｉの入力側又は出力側をループ
バック接続する場合には、通話路折り返し手段20aを制
御してループバックした通話路系を形成すると共に、タ
ンデム接続にする場合には次通話路間接続手段20bを制
御して行う。

更に、選択された通話路ｉ及びその通話路ｉの接続状
態を接続状態表示手段70上へ一目で操作者に分かるよう
に表示することにより、ループバック接続やタンデム接
続を一連の制御で一括して処理し、通話路群10等のよう
に多数の通話路１〜ｎを有する装置の試験がより効率化
される。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第２図〜第４図に示す実施例によ
り具体的に説明する。

第２図は本発明の実施例を説明するブロック図、第３
図は本発明の実施例における接続状態表示手段を説明す
る図、第４図は本発明の実施例におけるループバック状
況を説明する図をそれぞれ示す。尚、全図を通じて同一
符号は同一対象物を示す。

第２図〜第４図で示す本発明の実施例は第１図で説明
した通話路群10として、第５図で説明した多重変換装置
１、第１の切替系20として、１×10のスキャナ20c₁（ｉ）
と、８個の３×１のスキャナ20c₂（１）〜20c₂（８）と
からなる入力側スキャナ部20c、第２の切替系20′として、１×10のスキャナ20d
₁（ｉ）と、８個の３×１のスキャナ20d₂（１）〜20d₂
（８）とからなる出力側スキャナ部20d、接続状態表示手段70として、入力側スキャナ部20c及
び出力側スキャナ部20dの表面上に第３図に示すように
装機されているLED表示部70aから構成した例である。

尚、第１図で説明した通話路折り返し手段20aは、第
４図に示すループバック接続を形成するための接点Ｌ及
びこの接点Ｌを制御する制御信号Ｌ（ｉ）とからなる。

即ち、CPU6から出力されるループバック接続のための
制御信号Ｌ（１）〜Ｌ（８）でスキャナ20c₂（ｉ），ス
キャナ20d₂（ｉ）内の接点Ｌを閉にする状態である。

又、第４図で示す制御信号IN（ｉ）,OUT（ｉ）は接点
I/Nの開閉を制御するためのもので、同じくCPU6から出
力される制御信号の１つであり、接点Ｔは制御信号Ｔ
（ｉ）にて制御されるタンデム接続用接点を示す。

上述の入力側スキャナ部20c及び出力側スキャナ部20d
を活性化するための制御は、第６図で説明したインタフ
ェース部５から送出される制御信号′及び″により
行う。

尚、インタフェース部５から送出される制御信号′
及び″により選択されたスキャナ20c₁（ｉ）,20c
₂（ｉ）,20c₂（ｉ＋１）又はスキャナ20d₁（ｉ）,20d₂
（ｉ）,20d₂（ｉ＋１）や、選択されたスキャナがどの
ような接続状態（例えば、ループバック接続状態やタン
デム接続状態）にあるか等は、例えばスキャナ20c
₁（ｉ）及びスキャナ20d₁（ｉ）の表面上に設置されて
いるLED表示部70aにより、第３図に示すように表示させ
ることにより操作者が容易に認識することが可能とな
る。

即ち、LED表示部70aは第３図に示す丸の部分がLEDを
示し、入力側（IN）の状態及び出力側（OUT）の状態を
示すものと、丸にＴ及びＬで示すタンデム接続状態及び
ループバック接続状態を示すものと、更に拡張（BXT）
を示すものとがある。

ループバック接続状態及びタンデム接続状態の詳細は
第４図に示す通りである。

即ち、第４図に示すように入力側スキャナ部20c内の
スキャナ20c₂（ｉ）と対応する出力側スキャナ部20d内
のスキャナ20d₂（ｉ）間をループバック接続状態にして
いる。また、タンデム接続はスキャナ20d₂（ｉ）の出力
側と次位のスキャナ20d₂（ｉ＋１）の入力側を接続する
ことにより行なわれる。

尚、第２図で示すように指定のCH数の他に増設（EX
T）用CH（EX9,10）のタンデム接続が可能となる構成と
している。

即ち、第２図の破線で示す増設（EXT）用スキャナ20c
（EXT1）,20cEXT2）及びスキャナ20d（EXT1）,20d（EXT
2）とのタンデム接続を第４図の例で説明すると、最初
のCH（スキャナ20c₂（１））の外部へ接続されるEXTタ
ンデムINに接続される接点I/Nと、最終のCH（スキャ
ナ20d₂（８））のEXTタンデムOUTと接続される接点I/
Nを通じて接続する。

次に、例えば入力側スキャナ部20c内のスキャナ20c₂
（ｉ）と対応する出力側スキャナ部20d内のスキャナ20d
₂（ｉ）間をループバック接続状態にするためには、ス
キャナ20c₂（ｉ）の接点Ｌとスキャナ20d₂（ｉ）の接点
ＬとをCPU6から出力される制御信号Ｌ（ｉ）にてループ
バック接続動作状態してスキャナ20d₂（ｉ）のCH OUT
（ｉ）→20d₂（ｉ）の接点Ｌ→スキャナ20c₂（ｉ）の接
点Ｌ→20c₂（ｉ）のCH IN（ｉ）と接続される。このよ
うな接続により、多重変換装置１の高速側通話路に接続
された試験器から入力された、CH（ｉ）の試験信号は、
分離されて低速側通話路に出力され、低速側のCH（ｉ）
でループバックされ、多重変換装置１へ入力される。そ
して、ループバックした試験信号は多重して出力され、
高速側通話路に接続した試験器で伝送特性の試験を行な
う。

又、スキャナ20d₂（ｉ）と図示省略している次位のス
キャナ間をタンデム接続状態にし、高速側はループバッ
ク接続することにより、スキャナ20d₂（ｉ）のCH OUT
（ｉ）→20d₂（ｉ）の接点Ｔ→次位の入力側のスキャナ
内接点Ｔ→次位の入力側のスキャナのCH IN→次位の出
力側のスキャナ内CH OUT→次位の出力側のスキャナ内接
点Ｔと繰り返し、出力側のスキャナ内接点I/Nが閉じて
いるところから対外部へ接続される。このような接続に
より、任意のCH（ｉ）の入力側から信号を入力し、任意
のCH（ｋ）の出力側から信号を取り出すことにより、任
意の数のCH（ｉ）〜CH（ｋ）（ｉ〜ｋは連続した任意の
数）をタンデムに接続して同時に試験を行なうことがで
きる。

上述のような入力側スキャナ部20c及び出力側スキャ
ナ部20dを用いて第６図に示す多重変換装置１内の多数
のCHを選択して、その伝送特性を試験する場合の接続は
第６図と同じように接続して行われる。

この場合は、伝送特性を試験するためのループバック
接続やタンデム接続等の各種接続は全て自動的に処理さ
れることになる。

〔発明の効果〕

以上のような本発明によれば、チャネル数が多く、チ
ャネルを試験するための接続が多様になる場合でも効率
的に試験接続が出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を説明するブロック図、第２図は本発明の実施例を説明するブロック図、第３図は本発明の実施例における接続状態表示手段を説
明する図、第４図は本発明の実施例におけるループバック状況を説
明する図、第５図は多重変換装置を説明するブロック
図、第６図はディジル網伝送装置の共通部分の試験方法を説
明するブロック図、第７図は従来例の試験方法を説明するブロック図をそれ
ぞれ示す。図において、１は多重変換装置、 2a,20cは入力側スキャナ部、 2b,20dは出力側スキャナ部、 3a,3bはデータ回線測定器、４は切替部、５はインタフェース部、６はCPU、10は通話路群、 20は第１の切替系、 20aは通話路折り返し手段、 20bは次通話路間接続手段、 20c₁（ｉ）,20c₂（１）〜（８）,20d₁（ｉ）20d₂（１）
〜（８），（ｉ）はスキャナ、 20c（EXT1）,20c（EXT2）,20d（EXT1）,20d（EXT2）は
拡張用スキャナ、 20′は第２の切替系、 70は接続状態表示手段、 70aはLED表示部、をそれぞれ示す。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】信号や音声を伝送する複数の通話路（１〜
ｎ）からなる通話路群（10）の中の所定の通話路
（ｉ）、あるいは、所定の数の通等路（ｉ〜ｋ）を選択
して、試験を行なう選択回路において、前記通話路群（10）から、所定の通話路（ｉ）を選択し
て試験を行なう時、所定の通話路（ｉ）を前記通話路群
（10）から選択する手段と、選択された該通話路（ｉ）
の出力側と入力側をループバック接続し、該信号や音声
を折り返えす通話路折り返し手段（20a）と、前記通話
路群（10）から、所定の数の通話路（ｉ〜ｋ）を選択し
て試験を行なう時、所定の数の通話路（ｉ〜ｋ）を前記
通話路群（10）から選択する手段と、該通話路の出力側
と次位の通話路の入力側を接続する次通路間接続手段
（20b）とを具備する第１及び第２の切替系（20、2
0′）と、前記通話路群（10）中の全ての通話路（１〜ｎ）の選択
状況や接続情報を表示する接続状態表示手段（70）とを
備え、所定の通話路（ｉ）の試験は、前記通話路群（10）の中
の所定の通話路（ｉ）を前記第１及び第２の切替系（2
0,20′）にて選択し、選択された所定通話路（ｉ）のル
ープバック接続を前記通話路折り返し手段（20a）で行
ない、高速側に接続した試験器で試験し、所定の数の通話路（ｉ〜ｋ）の試験は、前記通話路群
（10）の中の所定の数の通話路（ｉ〜ｋ）を前記第１及
び第２の切替系（20,20′）にて選択し、選択された所
定の数通話路（ｉ〜ｋ）の出力側は前記次通話路間接続
手段（20b）により次位通話路の入力側にタンデム接続
し、高速側はループバック接続し、選択された所定の数
の通話路（ｉ〜ｋ）の先頭通話路（ｉ）の入力側と、選
択された所定の数の通話路（ｉ〜ｋ）の最後の通話路
（ｋ）の出力側に接続した試験器で、所定の数の通話路
（ｉ〜ｋ）の同時試験を行なうことを特徴とする自動選
択回路。