JP3001505B2 - 通話路インタフェースの試験方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、各種通話路インタ
フェースを持つ交換システムに係り、時分割通話路装置
における各インタフェースに対応する時分割通話路の正
常性を試験する通話路インタフェースの試験方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、各種通話路インタフェースを持つ
交換システムは、通話路部に拡張性を持たせる場合が多
く、拡張度合いは、システムが導入される場所（環境）
により異なる。このため、対向側システムの増加により
自システムのインタフェース部が拡張可能となるよう任
意搭載となっている。

【０００３】上記のようなシステムの出荷試験では、イ
ンタフェース部の搭載数が最大数に満たない場合、接続
される時分割通話路装置の機能試験をするために、各種
方法が提供されている。例えば、全インタフェース分の
対向装置を設備として準備する方法、またはインタフェ
ース部を未搭載位置へ載せ換えながら試験する方法、も
しくは全インタフェースに保守試験装置を接続して試験
するか、時分割通話路装置に保守試験装置用インタフェ
ースを用意する方法がある。

【０００４】ここで、図５は、各種通話路インタフェー
スを持つ一般的な交換システムの構成を示すブロック図
である。図５において、一般的な時分割通話路装置１
は、複数の通話路インタフェース装置２とのインタフェ
ースを備える。該構成において、通話用入力ハイウェイ
（時分割通話路）３の正常性を試験する時は、接続され
る通話路インタフェース装置２との全てのインタフェー
スを試験する必要性が有り、その際に通話路インタフェ
ース装置２が搭載最大数分必要となっていた。最大数存
在しない場合には、搭載位置を変更させながら全インタ
フェース分の試験を行うか、または複数の通話路インタ
フェース装置２の替りに各インタフェースに保守試験装
置を接続して試験するか、あるいは時分割通話路装置１
に保守試験装置用のインタフェースを持たせる必要があ
る。

【０００５】ここで、図６は、上述した、保守試験装置
を用いる場合の試験方法を説明するためのシステム構成
（特開昭５６−８５９６５号）を示すブロック図であ
る。図において、時分割通話路装置１は、複数本の通話
用入出力ハイウェイ３と、保守試験用に接続されている
１本の試験用入出力ハイウェイ２０を収容する。試験用
入出力ハイウェイ２０は、通話用入力ハイウェイ３のす
べての受信回路にマルチ接続されている。

【０００６】また、時分割通話路装置１は、さらに、切
り替え回路２１および選択回路２４を備えている。切り
替え回路２１は、両ハイウェイのいずれか一方を選択す
る。選択回路２４は、更に通話用出力ハイウェイ２３の
うち任意の１本を、保守試験装置１１に接続される試験
用出力ハイウェイ２５へ出力することで、時分割通話路
７を試験する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術による上記試験方法においては、試験のためには、時
分割通話路装置１に保守試験装置用インタフェースが必
要となり、さらに保守試験装置１１も必要になるため、
操作が煩雑になるとともに、コストを低減化できないと
いう問題があった。

【０００８】この発明は上述した事情に鑑みてなされた
もので、もともと存在する特定の対向装置インタフェー
スを利用することで、特別な保守試験装置用インタフェ
ースを必要とせずに時分割通話路装置の機能試験を行う
ことで、操作性を向上させることができるとともに、コ
ストの低減化を実現することができる通話路インタフェ
ースの試験方法を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上述した問題点を解決す
るために、請求項１記載の発明では、複数の対向装置と
通話路入出力ハイウェイで接続される時分割通話路装置
の通話路インタフェースの試験方法において、入力側の
特定の１つの対向装置が発生する試験データを、通話路
入力ハイウェイを順次切り替えながら前記時分割通話路
装置へ供給するステップと、前記時分割通話路装置を介
して出力される試験データを、通話路出力ハイウェイを
順次切り替えながら出力側の特定の１つの対向装置に供
給するステップと、前記出力側の特定の１つの対向装置
で、試験データが正常であるか異常であるかを判別する
ステップとを有することを特徴とする。

【００１０】また、請求項２記載の発明では、請求項１
記載の通話路インタフェースの試験方法において、前記
通話路入力ハイウェイと前記通話路出力ハイウェイと
は、互いに対向する通話路インタフェースに対応するこ
とを特徴とする。

【００１１】また、請求項３記載の発明では、請求項１
記載の通話路インタフェースの試験方法において、前記
通話路入力ハイウェイと前記通話路出力ハイウェイと
は、互いに別々に選択された通話路インタフェースに対
応することを特徴とする。

【００１２】この発明では、複数の対向装置と通話路入
出力ハイウェイで接続される時分割通話路装置の試験に
おいて、特定の１つ対向装置との通話路入出力ハイウェ
イを試験用として切り替えながら実施する。したがっ
て、対向装置を全搭載数分必要とせず、また保守試験装
置を使用せずに対向装置が未接続となっているインタフ
ェース部の試験も行える。また、保守試験装置を全ての
通話路インタフェースに接続する必要も無く、また時分
割通話路装置１に保守試験装置用のインタフェースを持
たせる必要も無いので、経済的かつ短時間で時分割通話
路３の試験を実現することができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態を説明する。 Ａ．実施例の構成 図１は、本発明の実施例による通話路系交換システムの
構成を示すブロック図である。図において、１は、時分
割通話路装置であり、複数の入力側ハイウェイ３，４と
出力側ハイウェイ１６，１７とで通話路インタフェース
装置２と接続される。通話路インタフェース装置２は、
入力側と出力側で同一装置であるが、分けて示してい
る。３は、通話路インタフェース装置（＃０）２からの
入力側ハイウェイであり、時分割通話路装置１内で、マ
ルチ接続ハイウェイ５として、各インタフェースに対応
した入力ハイウェイ選択回路６にマルチ接続されてい
る。

【００１４】４は、通話路インタフェース装置（＃１〜
＃ｎ）２からの入力側ハイウェイである。入力ハイウェ
イ選択回路６は、デコーダ９で変換された、切り替え制
御部１２からの指示（入力ハイウェイ選択信号８）に従
って、マルチ接続された入力側ハイウェイ５か、あるい
は対応する各々の入力側ハイウェイ４のいずれか一方を
選択し、時分割通話路入力ハイウェイ７として時分割通
話路１３に供給する。

【００１５】１２は、切り替え制御部であり、入力ハイ
ウェイ選択回路６と出力ハイウェイ選択回路１５とに任
意の試験ハイウェイ選択指示を行う。入力側は、切り替
え制御部１２からハイウェイ選択制御信号１０を解読
し、デコーダ９で入力ハイウェイ選択信号８に変換す
る。出力側は、同じく切り替え制御部１２からのハイウ
ェイ選択制御信号１０が出力ハイウェイ選択回路１５を
直接制御する。

【００１６】時分割通話路１３は、＃０〜＃ｎまでの時
分割通話路入力ハイウェイ７を、＃０〜＃ｎの時分割通
話路出力ハイウェイ１４として出力する。出力ハイウェ
イ選択回路１５は、切り替え制御部１２からのハイウェ
イ選択制御信号１０に従って、＃０〜＃ｎの各時分割通
話路出力ハイウェイ１４の中から１本を選択し、最若番
の通話路インタフェース装置２へと出力する。

【００１７】また、１６は、通話路インタフェース装置
（＃０）２への出力側ハイウェイ、である。該出力側ハ
イウェイ１６としては、各時分割通話路出力ハイウェイ
１４のうち１本を、切り替え制御部１２からの指示によ
り出力ハイウェイ選択回路１５にて選択されたものが出
力される。１７は、時分割通話路１３から各々出力され
る時分割通話路出力ハイウェイ１４と対応し、通話路イ
ンタフェース装置（＃１〜＃ｎ）２への出力側ハイウェ
イである。各ハイウェイにより時分割通話路装置１と複
数の通話路インタフェース装置２とが接続されている。
また、通話路インタフェース装置２の他方には、図示し
ない加入者側接続装置、または交換網側接続装置とイン
タフェースが設けられている。

【００１８】上述した通話路インタフェース装置２は、
通話路正常性確認用の試験データ発生回路および試験デ
ータ受信チェック回路を備え、同試験データの送受信確
認にて試験を実施する。なお、それら試験データ送受信
機能を持たない対向装置に接続された場合には、最若番
インタフェースのみに保守試験装置を接続して試験す
る。

【００１９】このようにして、時分割通話路の複数本の
入出力インタフェースを試験時に、対向装置が最小数の
場合でも、通話路インタフェース装置（＃０）２のよう
に最若番に接続された対向装置のみを使用し、その接続
を切り替えながら全インタフェース分の試験を可能とす
る。

【００２０】以上、詳細に実施例の構成を述べたが、図
１に示す時分割通話路１３と、通話路インタフェース装
置２が有する試験データ送受信機能、および保守試験装
置は、当業者にとってよく知られており、また本発明と
は直接関係しないので、その詳細な構成は省略する。

【００２１】Ｂ．実施例の動作 次に、図１に示す本実施例の動作を、図２に示すブロッ
ク図（＃１試験時）と図３に示す試験制御フローチャー
トを参照して説明する。時分割通話路装置１と通話路イ
ンタフェース装置２とのインタフェースが複数（＃０〜
＃ｎ）存在する場合、まず、その最若番位置の通話路イ
ンタフェース装置（＃０）２ａ，２ｂのみを試験用とし
て接続する（図３のステップＳ１）。

【００２２】時分割通話路装置１における時分割通話路
１３の全インタフェースを試験するには、対応するｎ＋
１個の通話路インタフェース装置２の全インタフェース
（＃０〜＃ｎ）を用いて実施する必要がある。通話路イ
ンタフェース装置（＃０〜＃ｎ）２に対応する通話路の
試験は、通話路毎に設けられた入力ハイウェイ選択回路
６および通話路＃０にのみ設けられた出力ハイウェイ選
択回路１５において、＃０〜＃ｎの入出力ハイウェイを
選択するため、切り替え制御回路１２から＃０〜＃ｎへ
の切り替え指示を行う。本実施例では、１回の切り替え
指示で、同一の入出力ハイウェイが試験対象ハイウェイ
として選択される構成である。

【００２３】入力側は、切り替え制御回路１２からの切
り替え指示により、ハイウェイ選択制御信号１０がデコ
ーダ９で変換され、入力ハイウェイ選択信号８として、
対応する入力側ハイウェイ３，４を選択する符号、また
は他方のマルチ接続ハイウェイ５を選択する符号のどち
らかで、各々の入力ハイウェイ選択回路６を順次制御す
る。

【００２４】但し、デコーダ９は、１／ｎデコードであ
り、マルチ接続ハイウェイ５を選択できるのは、図２に
示す＃０〜＃ｎの入力ハイウェイ選択回路６のうち、切
り替え制御回路１２から指示した１回路のみとなる。

【００２５】また、出力側は、ハイウェイ選択制御信号
１０からの制御信号がデコーダ９を介さず、通話路イン
タフェース装置（＃０）２ｂにのみ対応する出力ハイウ
ェイ選択回路１５を直接制御し、＃０〜＃ｎの時分割通
話路出力ハイウェイ１４から入力側同様に１／ｎ選択す
る（図３のステップＳ２）。

【００２６】次に、通話路インタフェース装置（＃０）
２ａから通話路正常性確認用の試験データを発生し（図
３のステップＳ３）、通話路インタフェース装置（＃
０）２ｂで、時分割通話路装置内を導通して受信された
試験データの正常性を確認することで、１つのインタフ
ェースの試験が完了する（図３のステップＳ４）。通話
路インタフェース装置（＃０）２ｂの試験データの確認
において、結果が異常の場合には、該当通話路ハイウェ
イの障害と判断する（図３のステップＳ５）。

【００２７】一方、結果が正常の場合には、時分割通話
路１３を全て試験するために、通話路インタフェース装
置２の各インタフェース毎に＃０〜＃ｎまで繰返し実施
する（図３のステップＳ６，ステップＳ７）。

【００２８】Ｃ．他の実施例 次に、本発明の他の実施例について説明する。本発明の
他の実施例では、その基本的構成は上記の通りである
が、切り替え制御回路１２についてさらに工夫してい
る。その構成を図４に示す。図において、切り替え制御
回路１２は、入力ハイウェイ選択回路６と出力ハイウェ
イ選択回路１５のそれぞれに対して別々に選択ハイウェ
イを指示する。時分割通話路１３に時分割通話路スイッ
チがある場合など、異なる入出力ハイウェイ間のスイッ
チングを試験する場合に、図５に示す実施例の構成が必
要となる。

【００２９】入力側のハイウェイ選択は、次のようにし
て行われる。切り替え制御回路１２からインタフェース
番号（＃０〜＃ｎ）を指示することにより、ハイウェイ
選択制御信号１０がデコーダ９で変換され、入力ハイウ
ェイ選択信号８として、各入力ハイウェイ選択回路６に
供給される。

【００３０】指示した入力ハイウェイ選択回路６は、マ
ルチ接続ハイウェイ５を選択する符号で制御され、それ
以外の入力ハイウェイ選択回路６は、対応する入力側ハ
イウェイ３，４を選択する符号で制御される。デコーダ
９は、前述した実施例と同様に、１／ｎデコードであ
り、マルチ接続ハイウェイ５を選択できるのは切り替え
指示した１回路、例えば＃０の入力ハイウェイ選択回路
６のみとなる。

【００３１】また、出力側のハイウェイ選択は、次のよ
うにして行われる。切り替え制御回路１２からインタフ
ェース番号（＃０〜＃ｎ）を入力側とは別に指示するこ
とにより、出力ハイウェイ選択信号１１が通話路インタ
フェース装置（＃０）２ａにのみ対応する出力ハイウェ
イ選択回路１５を直接制御し、入力側同様に、＃０〜＃
ｎの時分割通話路出力ハイウェイ１４のうち、１／ｎを
選択する。

【００３２】このように、本他の実施例では、時分割通
話路装置１の入出力ハイウェイを別々に制御しているの
で、様々な試験ルートに対応できるという効果が得られ
る。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
対向装置が通話路試験機能を持ち、保守試験装置を使用
しない場合、代表の通話路インタフェースを他インタフ
ェースへマルチ接続しているので、通話路インタフェー
ス装置の搭載位置を移し替えながら試験せずに済み、ま
た、保守試験装置の接続操作が必要無くなるので、操作
性を向上させることができるという利点が得られる。ま
た、保守試験装置を使用せずに済むので、コストの低減
化を図ることができるという利点が得られる。

【００３４】また、対向装置が通話路試験機能を持た
ず、保守試験装置を使用する場合、代表の通話路インタ
フェースに保守試験装置を接続することにより、他イン
タフェースへマルチ接続しているので、時分割通話路装
置側に保守試験装置用インタフェースを持たせずに済
み、また、保守試験装置側の時分割通話路装置インタフ
ェースを複数持たせず単一にできるので、コストの低減
化を図ることができるという利点が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施例による通話路系交換システム
の構成を示すブロック図である。

【図２】 本実施例による通話路インタフェースの試験
方法を説明するためのブロック図である。

【図３】 通話路インタフェースの試験方法の手順を説
明するための試験制御フローチャートである。

【図４】 本発明の他の実施例による通話路系交換シス
テムの構成を示すブロック図である。

【図５】 各種通話路インタフェースを持つ一般的な交
換システムの構成を示すブロック図である。

【図６】 従来技術による保守試験装置を用いる場合の
試験方法を説明するためのブロック図である。

【符号の説明】

１ 時分割通話路装置 ２ 通話路インタフェース装置（対向装置） ３ 入力側ハイウェイ（通話路入力ハイウェイ） ４ 入力側ハイウェイ ５ マルチ接続ハイウェイ（通話路入力ハイウェイ） ６ 入力ハイウェイ選択回路 ７ 時分割通話路入力ハイウェイ ８ 入力ハイウェイ選択信号 ９ デコーダ １０ ハイウェイ選択制御信号 １２ 切り替え制御部 １３ 時分割通話路 １５ 出力ハイウェイ選択回路 １４ 時分割通話路出力ハイウェイ（通話路出力ハイウ
ェイ） １６，１７ 出力側ハイウェイ

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の対向装置と通話路入出力ハイウェ
   イで接続される時分割通話路装置の通話路インタフェー
   スの試験方法において、 入力側の特定の１つの対向装置が発生する試験データ
   を、通話路入力ハイウェイを順次切り替えながら前記時
   分割通話路装置へ供給するステップと、 前記時分割通話路装置を介して出力される試験データ
   を、通話路出力ハイウェイを順次切り替えながら出力側
   の特定の１つの対向装置に供給するステップと、 前記出力側の特定の１つの対向装置で、試験データが正
   常であるか異常であるかを判別するステップとを有する
   ことを特徴とする通話路インタフェースの試験方法。
2. 【請求項２】 前記通話路入力ハイウェイと前記通話路
   出力ハイウェイとは、互いに対向する通話路インタフェ
   ースに対応することを特徴とする請求項１記載の通話路
   インタフェースの試験方法。
3. 【請求項３】 前記通話路入力ハイウェイと前記通話路
   出力ハイウェイとは、互いに別々に選択された通話路イ
   ンタフェースに対応することを特徴とする請求項１記載
   の通話路インタフェースの試験方法。