KR960015576B1 - 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법 - Google Patents
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내용없음
Description
제1도는 전전자 교환기에서 스위칭 정합 스스탬의 주변 구성도.
제2도는 종래의 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 경로 예시도.
제3도는 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법의 일실시예에 따른 시험경로 예시도.
제4도는 본 발명에 따른 전전자 교환기에서 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법의 다른 실시예에 따른 시험경로 예시도.
제5도는 제3도에 따른 전전자 교환기에서 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법의 일실시예를 단계별로 나타낸 순서도.
제6도는 제4도에 따른 전전자 교환기에서 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법의 다른 실시예를 단계별로 나타낸 순서도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
15 내지 18 : 4조의 시분할/공간분할 스위치 정합장치 19 : 제어장치
20 : 스위칭 정합 시스템 39 : 프로세서 장치
본 발명은 전전자 교환기에서 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법에 관한 것으로서, 특히 전전자 교환기의 스위칭 정합 시스템에서 공간 분할 스의칭 시스템과의 입출력 기능을 담당하는 부분을 시험하도록 하기에 적합한 전전자 교환기에서 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법에 관한 것이다.
제1도는 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 주변 구성도로서, 도면에서 11내지 14는 시분할 스위치 시스템, 15내지 18은 시분할/공간분할 스위치 정합장치, 19는 제어장치, 20은 스위치 정합 시스템, 21은 공간분할 스위칭 시스템을 각각 나타낸다.
도면에 도시한 바와 같이 전전자 교환기에 있어서, 스위칭 정합 시스템(20)은 시분할 스위칭 시스템(11 내지 14)으로부터 1,024 채널의 직렬 데이터를 수신하여 8비트 병렬로 변환한 뒤, 공간 분할 시위칭 시스템(21)으로 송신하고 반대로, 공간분할 스위칭 시스템(21)으로부터 8비트 병렬 데이터를 수신하여 직렬로 변환 후, 시분할 스위칭 시스템(11 내지 14)으로 송신하는 기능을 갖는다.
이러한 스위치 정합 시스템(20)은 제어장치(19)와 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15 내지 18)로 구성되며, 하나의 스위치 정합 시스템(20)은 제어 장치(19) 1조, 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15 내지 18) 4조로 구비한다.
이러한 스위칭 정합 시스템(20)의 데이터 송수신 기능을 시험하기 위한 종래의 시험방법은 제2도와 같다.
제2도는 종래의 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 경로 예시도로서, 도면에서 31은 공간분할 스위치 데이터 입력부, 32는 다중화부, 33은 직렬변환부, 34는 제어장치 데이터 입력부, 35는 공간분할 스위치데이터 출력부, 36은 역다중화부, 37은 병렬 변환부, 38은 제어장치 데이터 출력부, 39는 프로세서 장치를 각각 나타낸다.
해당 시험 프로그램에 의해 프로세서 장치(39)에서 발생된 임의의 시험 데이터가 제어장치(19)의 송신 메모리에 수록되고 송신 메모리(도면 중에 도시되지 않음)에서 순차적으로 일혀진 시험 데이터는 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)의 제어장치 데이터 입력부(34), 다중화부(32), 직렬 변환부(33)를 차례로 거쳐 해당 시분할 스위칭 시분할 스위칭 시스템으로 송신되는데, 스위치 정합 시스템(20)의 시험장치는 시분할 스위칭 시스템으로의 송신 부분이 시분할 스위칭 시스템으로부터의 수신부분으로 케이블 루프되어 있으므로 송신 데이터는 다시 병렬 변환부(37), 역다중화부(36), 제어장치 데이터 출력부(38)를 차례로 거쳐 제어장치(19)의 수신 메모리(도면 중에 도시되지 않음)에 순차적으로 수록되게 된다.
그러면, 프로세서 장치(39)는 수신 메모리로부터 송신했던 채널에 해당하는 주소의 데이터를 읽어서 송신했던 데이터와 비교한 후, 스위치 정합 시스템(20)의 기능에 대해 정상/비정상 유무를 판단하게 된다.
이러한 종래의 기술에 의한 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)의 시험방법에 의해서 시험을 하면 대부분의 경로가 시험되지만, 공간분할 스위칭 시스템(21)과의 입/출력 부분의 시험은 불가능하다.
실제로 전전자 교환기의 운용 현장에서는 운용 시험을 위하여 해당 장치를 임의로 탈/실장하는 경우가 많으며 이렇게 할 경우 입출력 송, 수신 IC가 손상을 받아 제 기능을 발휘하지 못하는 경우가 잦은데, 이러한 불량이 발생된 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)는 종래 기술에 의한 시험장치로는 항상 정상으로 판정되어 전전자 교환기의 신뢰성을 저하시키는 요인이 되는 문제점이 있다.
따라서, 상술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 안출된 본 발명은, 전전자 교환기의 시분할/공간분할 스위치 정합장치에서의 입/출력 부분을 포함한 모든 부분이 시험가능하도록 하는 전전자 교환기의 스위칭 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법에 따른 일실시예는, 공간 분할 스위치 데이터 입력부, 제어장치 데이터 입력부, 다중화부, 직렬변환부, 병렬변환부, 역다중화부, 공간분할 스위치 데이터 출력부, 제어장치 데이터 출력부를 각각 구비한 4조의 시분할/공간분할 스위치 정합장치와 제어장치를 포함하고 있는 스위치 정합 시스템과, 상술한 제어장치에 연결된 프로세서 장치를 구비한 하드웨어에 적용되어 스위칭 정합 시스템의 입출력정합부 시험방법에 있어서, 시험횟수를 지정하고, 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치 스위치 정합장치(15)를 시험모드로 세팅시키고, 제어장치의 송신 메모리에 시험데이터를 쓰는 제1단계와, 시험데이터를 송출하여 시험데이터가 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합 장치의 제어장치 데이터 입력부, 다중화부, 직렬 변환부, 병렬 변환부, 역다중화부, 공간분할 스위치 데이터 출력부를 차례로 거쳐 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치의 공간분할 스위치 데이터 입력부, 다중화부, 직렬변환부, 병렬 변환부, 역다중화부, 제어장치 데이터 출력부를 차례로 거쳐 공출되게 하는 제2단계와, 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치를 거친 데이터를 수신 메모리에 쓰고, 송신 및 수신 메모리에 데이터가 같은지를 판단하여, 같으면 정상(OK)카운터를 증가시키고, 다르면 비정상(NOK) 카운터를 증가시키는 제3단계, 및 지정된 시험횟수 만큼 시험했는지 판단하여 모자라면 제어장치의 송신 메모리에 시험 데이터를 쓰는 상술한 제1단계로 리턴하도, 지정된 횟수만큼 진행되었으면 결과를 출력하고 종료하는 제4단계를 구비하여 수행한다.
또한, 본 발명 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험방법에 따른 다른 실시예는, 시험횟수를 지정하고, 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치를 시험모드로 세팅시키고, 제어장치의 송신메모리에 시험데이터를 쓰는 제1단계와, 시험데이터를 송출하여 시험데이터가 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치의 제어장치 데이터 입력부, 다중화부, 직렬변환부, 병렬변환부, 역다중화부, 공간분할 스위치 데이터 출력부를 차례로 거쳐 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치의 공간분할 스위치 데이터 입력부, 다중화부, 직렬변환부, 병렬 변환부, 다중화부, 제어장치 데이터 출렵부를 차례로 거쳐 송출되게 하는 제2단계와, 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치를 거친 데이터를 수신 메모리에 쓰고 송신 및 수신 메모리의 데이터가 같은지를 판단하여, 같으면 정상(OK) 카운터를 증가시키고, 다르면 비정상(NOK) 카운터를 증가시키는 제3단계, 및 지정된 시험횟수만큼 시험했는지 판단하여 모자라면 제어장치의 송신 메모리에 시험 데이터를 쓰는 상술한 제1단계로 리턴하고 지정된 횟수만큼 진행되었으면 결과를 출력하고 종료하는 제4단계를 포함하여 이루어진다.
이하, 첨부된 제3도 이하를 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
종래의 스위치 정합 시스템이 총 4조의 시분할/공간분할 스위치 정합장치 1조 각각에 대하여 시험하는 방식인데 비하여 본 발명의 기본적 구성은 총 4조의 시분할/공간분할 스위치 정합장치 2조를 한쌍으로 하여 시험하며 서로이 시분할/공간분할 스위치 정합장치끼리의 데이터 송수신을 위한 연결 케이블이 추가된다.
제3도는 스위치 정합 시스템(20)중에서 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)의 공간분할 스위칭 시스템으로의 데이터 송신부분과 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)로부터의 수신부분을 시험할 수 있는 시험 경로를 나타낸 것이다.
먼저, 스위치 정합 시스템(20)의 해당 시험 프로그램에 의해 프로세서 장치(39)로부터 제어장치(19) 송신 메모리(도면중에 도시되지 않음)에 수록된 시험 데이터는 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)로 송신되고, 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)이 제어장치 데이터 입력부(354), 다중화부(32), 직렬변환부(33)를 차례로 거쳐 다시 병렬 변환부(37), 역다중화부(36)의 순서로 시험 데이터가 송신된다.
이때 종래 기술에 의한 시험 방법에 의해서는 역다중화부(36)에서 출력된 데이터를 바로 제어장치(19)이 수신 메모리(도면 중에 도시되지 않음)에 수록되어 프로세서 장치(39)에 의해 읽혀진 뒤 정상/비정상 유무가 판별되게 되지만, 본 발명에 의해서는 역다중화부(36)에서 출력된 데이터는 공간분할 스위치 데이터 출력부(35)를 거쳐 공간 분할 스위칭 시스템으로 인가되며, 이는 본 발명에 의해 추가되어진 루프 케이블에 의해 두번재 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 공간분할 스위치 데이터 입력부(41)로 입력된다.
그러면 이 데이터는 다시 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 다중화부(42), 직렬변환부(43)를 차례로 거쳐 다시 병렬 변환부(47), 역다중화부(46), 제어장치 데이터 출력부(48)의 차례로 시험 데이터가 송신되며 이 데이터는 제어장치(19)의 수신 메모리에 수록되고 프로세서 장치(39)는 수신 메모리의 데이터를 읽어서 경로의 정상/비정상 여부를 판단하게 된다.
이때, 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15, 16)는 공간분할 스위칭 시스템에서 입력 부분의 데이터 타이밍과 출력부분의 데이터 타이밍이 다르므로 제어장치(19)는 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)에서 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)로 데이터가 송신됨에 의한 데이터 타이밍의 변화를 감안하여 수신 메모리의 데이터르 읽을 때 타이밍의 변화만큼 지연된 주소의 데이터를 읽어서 비교해야 할 것이다.
제4도는 스위칭 정합 시스템(20) 중에서 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 공간분할 스위칭 시스템으로 데이터를 출력시키는 공간분할 스위치 데이터 출력부(45)와 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)의 공간 분할 스위치 데이터 입력부(31)를 시험할 수 있는 시험경로를 나타낸 것이다.
먼저, 데이터의 흐름은 제3도의 데이터 흐름과 반대이며 기본적인 시험방법은 제3도이 경우와 동일하므로 상세히 설명은 생략하기로 한다.
제5도는 제3도에서 설정한 시험경로를 이용한 시험방법이 처리 흐름도로서, 제어장치(19)에 탑재된 제어프로그램에 의해 수행된다.
먼저, 시험횟수를 지정하고(51), 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)를 시험모드로 세팅시킨다(52).
즉, 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)이 다중화부(32)가 제어장치 데이터 입력부(34)로부터의 데이터를 선택하도록 지정해 준다.
그리고 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험데이터를 쓰고(53), 시험 데이터를 송출하여 시험데이터가 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)이 제어장치 데이터 입력부(34), 다중화부(32), 직렬 변환부(33), 병렬 변환부(37), 역다중화부(36), 공간분할 스위치 데이터 출력부(35)를 차례로 거쳐 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 공간분할 스위치 데이터 입력부(41), 다중화부(42), 직렬변환부(43), 병렬 변환부(47), 역다중화부(46), 제어장치 데이터 출력부(48)의 차례로 송출되게 한다(54).
다음, 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)을 거친 데이터르 제어장치(19)의 수신 메모리에 쓰고(55), 제어장치(19)의 송신 및 수신 메모리의 데어터가 같은지를 판단하여(56)같으면 정상(OK) 카운터를 증가시키고(57), 다르면 비정상(NOK)카운터를 증가시킨다(58).
그런후, 지정된 시험횟수만큼 시험했는지 판단하여(59) 모자라면 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험 데이터를 쓰는 상술한 단계(53)로 리턴하고, 지정된 횟수만큼 진행되었으면 결과를 출력하고(60) 종료한다.
제6도는 제4도에서 설정한 시험경로를 이용한 시험방법의 처리 흐름도로서,제어장치(19)에 탑재된 제어프로그램에 의해 수행된다.
먼저, 시험횟수를 지정하고(61), 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)를 시험모드로 세팅시킨다(62).
즉, 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 다중화부(42)가 제어장치 데이터 입력부(44)로부터의 데이터를 선택하도록 지정해 준다.
그리고 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험데이터를 쓰고(63), 시험데이터를 송출하여 시험데이터가 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 제어장치 데이터 입력부(44), 다중화부(42), 직렬 변환부(43), 병렬 변환부(47), 역다중화부(46), 공간분할 스위치 데이터 출력부(45)를 차례로 거쳐 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)의 공간분할 스위치 데이터 입력부(31), 다중화부(32), 직렬변환부(33), 병렬 변환부(37), 역다중화부(36), 제어장치 데이타 출력부(38)의 차례로 송출되게 한다(64).
다음, 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)를 거친 데이터를 수신 메모리에 쓰고(65), 제어장치(19)의 송신 및 수신 메모리의 데이터가 같은지를 판단하여(66)같으면 정상(OK) 카운터를 증가시키고(67), 다르면 비정상(NOK) 카운터를 증가시킨다(68).
그런 후, 지정된 시험횟수만큼 시험했는지 판단하여(69) 모자라면 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험 데이타를 쓰는 상술한 단계(63)로 리턴하고, 지정된 횟수만큼 진행되었으면 결과를 출력하고(70) 종료한다.
즉, 제1도와 같은 스위치 정합 시스템(20)의 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15, 16, 17, 18)를 시험하기 위해서는 4개의 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15, 16, 17, 18) 중에서 2개를 한쌍으로하여 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15, 16)를 하나의 쌍으로 보았을때 제3와 제5도는 시분할/공간분할 스위치 데이터 입력부(41)를 시험하는 방법이고 제4도와 제6도는 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)이 공간분할 스위치 데이터 입력부(31) 및 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 공간분할 스위치 데이터 출력부(45)를 시험하는 방법이다.
이때, 제3도 및 제4도이 도면은 거의 동일하고 제5도 및 제6도의 도면도 거의 동일화라지만 상술한 바와 같이 각각의 실시예를 설명하기 위해 각각 도시하여 나타내기로 한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 전전자 교환 스위치 정합 시스템을 시험하기 위한 시험장치에서 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)와 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)끼리, 그리고 세번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(17)와 네번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(18)끼리 데이터 송수신 경로를 제공함으로써 제어장치(19)의 제어에 의해 공간 분할 스위칭 시스템으로의 공간분할 스위치 데이터 출력부(35, 45)와 공간분할 스위칭 시스템에서의 공간분할 스위치 데이터 입력부(31, 41)의 시험을 가능하게 하여 시험의 신뢰성을 높이는 효과가 있다.
Claims (6)
- 공간 분할 스위치 데이터입력부, 제어장치 데이터 입력부, 다중화부, 직렬 환부, 병렬 변환부, 역다중화부, 공간분할 스위치 데이터 출력부, 제어장치 데이터 출력부를 각각 구비한 4조의 시분할/공간분할 스위치 정합 장치(5 내지 18), 제어장치(19)를 포함하고 있는 스위치 정합 시스템(20)과, 상기 제어장치(19)에 연결된 프로세서장치(39)를 구비한 하드웨어에 적용디ㅗ어 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험방법에 있어서, 시험횟수를 지정하고, 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)를 시험모드로 세팅시키고, 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험데이터를 쓰는 제1단계(51 내지 53)와; 상기 제1단계(51 내지 53)수행 후, 시험데이터를 송출하여 시험데이터가 첫번째 시분할/공간 분할 스위치 정합장치(15)의 제어장치 데이터 입력부, (34), 다중화부(32), 직렬 변환부(33), 병렬 변환부(37), 역다중화부(36), 공간분할 스위치 데이터 출력부(35)를 차례로 거쳐 두번째 시분할/공간 분할 스위치 정합장치(16)의 공간분할 스위치 데이터 입력부(41), 다중화부(42), 직렬변환부(43), 병렬 변환부(47), 역다중화부(46), 제어장치 데이터 출력부(48)의 차례로 송출되게 하는 제2단계(54); 상기 제2단계(54) 수행 후, 두번째 시분할/공간 분할 스위치 정합장치(16)을 거친 데이터를 상기 제어장치(19)의 수신 메모리에 쓰고, 상기 제저장치(19)의 송신 수신 메모리의 데이터가 같은지를 판단하여, 같으면 정상(OK) 카운터를 증가시키고, 다르면 비정상(NOK) 카운터를 증가시키는 제3단계(55 내지 58)와; 상기 제3단계(55 내지 58) 수행 후, 지정된 시험횟수 만큼 시험했는지 판단하여 모자라면 상기 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험 데이터를 쓰는 상기 제1단계로 리턴하고, 지정된 횟수만큼 진행되었으면 결과를 출력하고 종료하는 제4단계(59, 60)를 구비하여 수행하는 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험방법.
- 제1항에 있어서, 상기 세번째 시분할/공간분할 스위치(17)와 상기 네번째 시분할 공간분할 스위치(18)에 대해서도 상기 첫번째 시분할/공간분할 스위치(15) 및 상기 두번째 시분할 공간분할 스위치(16)와 동일한 시험으 수행함을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험방법.
- 제1항에 있어서, 상기 제3단계(55 내지 58)에서의 제어장치(19)의 송신 및 수신 메모리의 데이터의 비교는, 첫번째 시분할/공간부할 스위치 정합장치(15)에서 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)로 데이터가 송신됨에 의한 데이터 타이밍의 변화를 감안하여 수신 메모리의 데이터를 읽을 때 타이밍의 변화만큼 지연된 주소의 데이터를 읽어서 비교하도록 하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험방법.
- 제1항에 있어서, 상기 단계(51 내지 60)대신에 시험횟수를 지정하고, 상기 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)를 시험모드로 세팅시키고, 상기 제어장치(19)의 송신 메모리에 시험데이터를 쓰는 제1단계(61 내지 63)와; 상기 제1단계(61 내지 63) 수행 후, 시험데이터를 송출하여 시험데이타가 상기 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)의 제어장치 데이터 입력부(44), 다중화부(42), 직렬 변환부(43), 병렬변환부(47), 역다중화부(46), 공간분할 스위치 데이터 출력부(45)를 차례로 거쳐 상기 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)의 공간분할 스위치 데이터 입력부(31), 다중화부(32), 직렬 환부(33), 병렬 변환부(37), 역다중화부(36), 제어장치 데이터 출력부(38)로 송출되게 하는 제2단계(64) 상기 제2단계(64) 수행후, 상기 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)를 거친 데이터를 상기 제어장치(19)의 수신 메모리에 쓰고, 상기 제어장치(19)이 송신 및 수신 메모리의 데이터가 같은지를 판단하여, 같으면 정상OK) 카운터를 증가시키고, 다르면 비정상(NOK) 카운터를 증가시키는 제3단계(65 내지 68)와; 상기 제3단계(65 내지 68) 수행 후, 지정된 시험횟수 만큼 시험했는지 판단하여, 모자라면 상기 제어장치(19)이 송신 메모리에 시험 데이터를 쓰는 상기 제1단계로 리턴하고, 지정된 횟수만큼 진행되었으면 결과를 출력하고 종료하는 제4단계(69, 70)를 구비하는 수행하는 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템 정합 시스템의 입추력 정합부 시험방법.
- 제4항에 있어서, 세번째 시분할/공간분할 스위치(17)와 네번째 시분할 공간분할 스위치(18)에 대해서도 상기 첫번째 시분할/공간분할 스위치(15) 및 상기 두번째 시분할 공간분할 스위치(16)와 동일한 시험을 수행함을 특징으로 하는 전전가 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험방법.
- 제4항에 있어서, 상기 제3단계(65 내지 68)에서의 상기 제어장치(19)의 송신 및 수신 메모리의 데이터의 비교는, 두번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(16)에서 첫번째 시분할/공간분할 스위치 정합장치(15)로 데이터가 송신됨에 의한 데이터 타이밍의 변화를 감안하여 상기 제어장치(19)의 수신 메모리의 데이터를 읽을 때 타이밍의 변화만큼 지연된 주소의 데이터를 읽어서 비교하도록 하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험방법.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019930021303A KR960015576B1 (ko) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019930021303A KR960015576B1 (ko) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR950013307A KR950013307A (ko) | 1995-05-17 |
| KR960015576B1 true KR960015576B1 (ko) | 1996-11-18 |
Family
ID=19365803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019930021303A KR960015576B1 (ko) | 1993-10-14 | 1993-10-14 | 전전자 교환기에서 스위치 정합 시스템의 입출력 정합부 시험 방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR960015576B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100425490B1 (ko) * | 1997-01-11 | 2004-06-30 | 엘지전자 주식회사 | 핸드셋전화기의오디오신호절환장치 |
-
1993
- 1993-10-14 KR KR1019930021303A patent/KR960015576B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950013307A (ko) | 1995-05-17 |
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