JPS63122342A - テスト装置およびテスト方法を伴う回路装置と通信ネットワーク - Google Patents
テスト装置およびテスト方法を伴う回路装置と通信ネットワークInfo
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- JPS63122342A JPS63122342A JP62268016A JP26801687A JPS63122342A JP S63122342 A JPS63122342 A JP S63122342A JP 62268016 A JP62268016 A JP 62268016A JP 26801687 A JP26801687 A JP 26801687A JP S63122342 A JPS63122342 A JP S63122342A
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- test
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- test signal
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- 238000004891 communication Methods 0.000 title claims description 9
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04Q—SELECTING
- H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
- H04Q11/04—Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing
- H04Q11/0421—Circuit arrangements therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04Q—SELECTING
- H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
- H04Q11/04—Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing
- H04Q11/0428—Integrated services digital network, i.e. systems for transmission of different types of digitised signals, e.g. speech, data, telecentral, television signals
- H04Q11/0478—Provisions for broadband connections
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- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
- Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は信号入力と、信号出力と、信号入力から信号出
力への信号路と、信号路が開かれテスト信号が信号路の
残りの部分へ注入されることを許容する選択マルチプレ
クサと、選択マルチプレクサを191mするためのM御
データを入力するための制御入力と、および動作パラメ
ータを出力するためのデータ出力とを備える回路装置と
、選択可能な信号路によって内部連結されているかまた
はこのような信号路を確立するように動作する複数の装
置を備えている通信ネットワーク、およびこのような通
信ネットワークのテスト方法に関するものである。
力への信号路と、信号路が開かれテスト信号が信号路の
残りの部分へ注入されることを許容する選択マルチプレ
クサと、選択マルチプレクサを191mするためのM御
データを入力するための制御入力と、および動作パラメ
ータを出力するためのデータ出力とを備える回路装置と
、選択可能な信号路によって内部連結されているかまた
はこのような信号路を確立するように動作する複数の装
置を備えている通信ネットワーク、およびこのような通
信ネットワークのテスト方法に関するものである。
[従来の技術]
上記のような特徴を備える回路装置は、ヨーロッパ特許
公報0 123 243 A2で明らかにされている
。その装置において、信号入力および正常信号路を介し
て外側からのテスト信号を注入することが可能である。
公報0 123 243 A2で明らかにされている
。その装置において、信号入力および正常信号路を介し
て外側からのテスト信号を注入することが可能である。
このテスト信号はそれから信号入力の直後に取出され、
そしてバイパスされている一部の信号路によって、選択
マルチプレクサを経てもう一方の点で信号路へと再注入
され得る。もしこのような装置が、動作中規則的な間隔
でテストされるなら、それは、例えば電話スイッチング
システムにおいては慣例的であるように、規則的に除去
され測定設備へ連結さ、れなければならないか、あるい
は存在する信号路を経て測定設備へ連結されなければな
らない。一方では、これは測定設備からおよび測定設備
への2つの付加的な連結を必要とし、それは付加的なト
ラフィック負荷を表し、他方では、このような付加的路
上のエラーは完全にエラー測定へと入る。これらの従来
技術の装置において、はんのわずかのテストのみが同時
、に成され得る1、長期測定はそれ故実質的には不可能
である。
そしてバイパスされている一部の信号路によって、選択
マルチプレクサを経てもう一方の点で信号路へと再注入
され得る。もしこのような装置が、動作中規則的な間隔
でテストされるなら、それは、例えば電話スイッチング
システムにおいては慣例的であるように、規則的に除去
され測定設備へ連結さ、れなければならないか、あるい
は存在する信号路を経て測定設備へ連結されなければな
らない。一方では、これは測定設備からおよび測定設備
への2つの付加的な連結を必要とし、それは付加的なト
ラフィック負荷を表し、他方では、このような付加的路
上のエラーは完全にエラー測定へと入る。これらの従来
技術の装置において、はんのわずかのテストのみが同時
、に成され得る1、長期測定はそれ故実質的には不可能
である。
[発明の解決すべきrm題点〕
DE−O83331403から、要求に応じて装置をテ
ストし、そのテストの結果をアクセスできる電子装置へ
完全なテスト装置を組込むことは知られている。原則と
して、例えば電話交換機においては、このようなテスト
装置を備えた全てのまたは多数の組立体を装備すること
は可能である。大規模集積組立体の場合、付加的な費用
はこのことをほとんど妨げない。テストを始め、慢に結
果についてテスト装置に質問することが必要とされるの
みであるので、環境に伴う情報の必要な交換もまた認め
られる。しかしながら2つ以上の組立体をカバーするテ
ストについて、このような集積テスト装置は不適切であ
る。即ち、そのような場合は付加的テスト装置が必要と
される。
ストし、そのテストの結果をアクセスできる電子装置へ
完全なテスト装置を組込むことは知られている。原則と
して、例えば電話交換機においては、このようなテスト
装置を備えた全てのまたは多数の組立体を装備すること
は可能である。大規模集積組立体の場合、付加的な費用
はこのことをほとんど妨げない。テストを始め、慢に結
果についてテスト装置に質問することが必要とされるの
みであるので、環境に伴う情報の必要な交換もまた認め
られる。しかしながら2つ以上の組立体をカバーするテ
ストについて、このような集積テスト装置は不適切であ
る。即ち、そのような場合は付加的テスト装置が必要と
される。
[問題点解決のための手段]
本発明は信号入力と、信号出力と、信号入力から信号出
力への信号路と、信号路が開かれテスト信号が信号路の
残りの部分へ注入されることを許容する選択マルチプレ
クサと、選択マルチプレクサを1IiIJIllするた
めの制卯データを入力するための制御入力と、および動
作パラメータを出力するためのデータ出力とを備える回
路装置において、選択マルチプレクサを経てテスト信号
を注入するためのテスト信号発生器と、テスト信号が送
信エラーについてチェックされ得ることができ、この信
号が少な(とも信号路の1点でテストの目的のためアク
セスできるエラー検出回路とを具備し、エラーメツセー
ジがデータ出力を経て出力されることができる回路装置
によってこれを解決する。本発明の更に有利な特徴は特
許請求の範囲第2項乃至第411に記載されている。通
信ネットワークにおいて本発明に従った回路装置の使用
は特許請求の範囲第5項で特徴を述べられている。この
ような通信ネットワークは特許請求の範囲第6項で記載
されたような方法によってテストされ得る。
力への信号路と、信号路が開かれテスト信号が信号路の
残りの部分へ注入されることを許容する選択マルチプレ
クサと、選択マルチプレクサを1IiIJIllするた
めの制卯データを入力するための制御入力と、および動
作パラメータを出力するためのデータ出力とを備える回
路装置において、選択マルチプレクサを経てテスト信号
を注入するためのテスト信号発生器と、テスト信号が送
信エラーについてチェックされ得ることができ、この信
号が少な(とも信号路の1点でテストの目的のためアク
セスできるエラー検出回路とを具備し、エラーメツセー
ジがデータ出力を経て出力されることができる回路装置
によってこれを解決する。本発明の更に有利な特徴は特
許請求の範囲第2項乃至第411に記載されている。通
信ネットワークにおいて本発明に従った回路装置の使用
は特許請求の範囲第5項で特徴を述べられている。この
ような通信ネットワークは特許請求の範囲第6項で記載
されたような方法によってテストされ得る。
本発明に従った回路装置は、組込まれたテスト信号発生
器と、テスト信号発生器とは独立した組込まれたエラー
検出回路とを含む。外部の刺激によって、信号路は与え
られた点で開放されることができ、そしてテスト発生器
からの信号はそこへ注入される。他方から得られた信号
は、信号路の外部の選択可能な点と同様にエラー検出回
路中でチェックされる。その結果は与えられる。
器と、テスト信号発生器とは独立した組込まれたエラー
検出回路とを含む。外部の刺激によって、信号路は与え
られた点で開放されることができ、そしてテスト発生器
からの信号はそこへ注入される。他方から得られた信号
は、信号路の外部の選択可能な点と同様にエラー検出回
路中でチェックされる。その結果は与えられる。
このような回路装置では、同様の多数の回路装置が大き
な通信ネットワークに合体される。本発明は多数の広帯
域スイッチングモジュールを含む広帯域スイッチングネ
ットワークに適用されるとして説明される。テスト信号
発生器とエラー検出回路は互いに独立であり、システム
テストは全く付加的テスト路を形成する必要を伴わず実
行され得る。
な通信ネットワークに合体される。本発明は多数の広帯
域スイッチングモジュールを含む広帯域スイッチングネ
ットワークに適用されるとして説明される。テスト信号
発生器とエラー検出回路は互いに独立であり、システム
テストは全く付加的テスト路を形成する必要を伴わず実
行され得る。
提案された回路装置はまた、加えられそして取除かれた
高周波数テスト信号がないので、ウェハ上で既に大規模
に集積された回路のテストを容易にする。
高周波数テスト信号がないので、ウェハ上で既に大規模
に集積された回路のテストを容易にする。
[実施例]
本発明の実施例を添附図面を参照して詳細に説明する。
まず、本発明に従った回路の基本的な構造は第1図によ
って説明される。この図は、スイッチングマトリックス
Kによって任意の16の入口E1・・・E16を任意の
16の出口A1・・・A16へ選択的に連結できる広帯
域スイッチングモジュールの部分を示す。スイッチング
マトリックスには内部制御データバスstbを介して解
読および制御ロジック6によって制御される。解読およ
び制御ロジック6は外部の制御データバスBUSによっ
て外部制御装置へ連結される。制御データバスBtJS
上で、新しい制御データが入力するだけでなく、スイッ
チングマトリックスに中の交差点の電流結線のように、
様々な動作パラメータを出力することもまた可能である
。入力マルチプレクサEMUXは入口E1・・・E16
とスイッチングマトリックスにの間に挿入きれる。同様
に、出力マルチプレクサAM(JXはスイッチングマト
リックスにと出口A1・・・A16の間に挿入される。
って説明される。この図は、スイッチングマトリックス
Kによって任意の16の入口E1・・・E16を任意の
16の出口A1・・・A16へ選択的に連結できる広帯
域スイッチングモジュールの部分を示す。スイッチング
マトリックスには内部制御データバスstbを介して解
読および制御ロジック6によって制御される。解読およ
び制御ロジック6は外部の制御データバスBUSによっ
て外部制御装置へ連結される。制御データバスBtJS
上で、新しい制御データが入力するだけでなく、スイッ
チングマトリックスに中の交差点の電流結線のように、
様々な動作パラメータを出力することもまた可能である
。入力マルチプレクサEMUXは入口E1・・・E16
とスイッチングマトリックスにの間に挿入きれる。同様
に、出力マルチプレクサAM(JXはスイッチングマト
リックスにと出口A1・・・A16の間に挿入される。
入力マルチプレクサEMUXと出力マルチプレクサAM
UXはII!lj 10データバスstbを介して解読
および制御ロジック6によって制御される。
UXはII!lj 10データバスstbを介して解読
および制御ロジック6によって制御される。
入力マルチプレクサEMUXは任意の入口E1・−[1
8から来る任意の信号路が開けられ、テスト信号TSが
開いた信号路へ注入されることを許容する。出力マルチ
プレクサAMUXは出口A1・・・A16へ導く任意の
16の信号路へ選択的にアクセスすることを許容する。
8から来る任意の信号路が開けられ、テスト信号TSが
開いた信号路へ注入されることを許容する。出力マルチ
プレクサAMUXは出口A1・・・A16へ導く任意の
16の信号路へ選択的にアクセスすることを許容する。
この目的のため出力マルチプレクサAMLIX中の信号
路の中断は必要とされない。
路の中断は必要とされない。
第1図の回路装置は更にテスト信号発生器TGおよびテ
スト受信器PEを含む。テスト信号発生器TGにおいて
、テスト信号TSはフィードバックシフトレジスタR8
Rによって疑似ランダム2進シーケンスとして生成され
、スイッチ可能な遅延ラインVLによって位相が変えら
れる。遅延ラインVLは制御データバスstbを介して
解読およびMIaロジック6によって制御される。テス
ト信号発生器TG、従って、フィードバックシフトレ・
ジスタSRに対してシステムクロックTが供給さ。
スト受信器PEを含む。テスト信号発生器TGにおいて
、テスト信号TSはフィードバックシフトレジスタR8
Rによって疑似ランダム2進シーケンスとして生成され
、スイッチ可能な遅延ラインVLによって位相が変えら
れる。遅延ラインVLは制御データバスstbを介して
解読およびMIaロジック6によって制御される。テス
ト信号発生器TG、従って、フィードバックシフトレ・
ジスタSRに対してシステムクロックTが供給さ。
れる。このテスト信号TSの位相がスイッチ可能な遅延
ラインVL中のシステムクロックT1.:関して選択的
に変えらることができるので、位相エラーを含む入力信
号中の回路の反応がシミュレーションされる。
ラインVL中のシステムクロックT1.:関して選択的
に変えらることができるので、位相エラーを含む入力信
号中の回路の反応がシミュレーションされる。
このテスト受信器PEの構造は図には示されていない。
フィードバックシフトレジスタ中で生成された疑似ラン
ダム信号がいかにして検出され得るかということは当業
者においてよ(知られている。フィードバック路が開い
ており、信号フィードバックが入力信号と比較されるこ
とを除いてフィードバックシフトレジスタR8Rと同じ
方法で結線されているシフトレジスタは簡単な方法でこ
の目的を果たす。たとえテスト信号発生器TGが連続的
に循環しても、そしてテスト信号TSが任意の時間にテ
スト受信器PEに供給されても、テスト受信器PE中の
シフトレジスタの入力での信号およびフィードバックに
よって得られた信号は、もしシフトレジスタがシステム
クロックTにょっ4てクロックされ、テスト信@TSが
テスト受信器PEにエラーなく到達するなら、最後にお
ける全体のシフトレジスタを通る1ビツトの通過侵同−
である。テスト受信器PEは、エラーが一体起こるかど
うかを(第1のピットの経過慢)検出するためのみに設
計されても良く、あるいは与えられたゲーティング時間
の設定のためまたはエラーを数えるためのカウンタ、お
よび例えばエラー分布統計を作土げるためのエラー評価
用装置によって拡張されても良い。実行される測定の種
類、特に測定結果のための所望されたゲーティング時間
と質問は、制御データバスstb上の解読および制御ロ
ジック6によって設定される。
ダム信号がいかにして検出され得るかということは当業
者においてよ(知られている。フィードバック路が開い
ており、信号フィードバックが入力信号と比較されるこ
とを除いてフィードバックシフトレジスタR8Rと同じ
方法で結線されているシフトレジスタは簡単な方法でこ
の目的を果たす。たとえテスト信号発生器TGが連続的
に循環しても、そしてテスト信号TSが任意の時間にテ
スト受信器PEに供給されても、テスト受信器PE中の
シフトレジスタの入力での信号およびフィードバックに
よって得られた信号は、もしシフトレジスタがシステム
クロックTにょっ4てクロックされ、テスト信@TSが
テスト受信器PEにエラーなく到達するなら、最後にお
ける全体のシフトレジスタを通る1ビツトの通過侵同−
である。テスト受信器PEは、エラーが一体起こるかど
うかを(第1のピットの経過慢)検出するためのみに設
計されても良く、あるいは与えられたゲーティング時間
の設定のためまたはエラーを数えるためのカウンタ、お
よび例えばエラー分布統計を作土げるためのエラー評価
用装置によって拡張されても良い。実行される測定の種
類、特に測定結果のための所望されたゲーティング時間
と質問は、制御データバスstb上の解読および制御ロ
ジック6によって設定される。
複数の異なる信号路への上述のアクセスは1つのおよび
同じ信号路の異なる点へのアクセスによりて置換される
ことができた。更に、テストのため用いられたシステム
クロックがないときは、周波数選択の可能なりロックが
テスト信号発生器TG中で発生される。テスト受信器P
E中で、このクロックはまた通常の方法で信号自身から
得られる。
同じ信号路の異なる点へのアクセスによりて置換される
ことができた。更に、テストのため用いられたシステム
クロックがないときは、周波数選択の可能なりロックが
テスト信号発生器TG中で発生される。テスト受信器P
E中で、このクロックはまた通常の方法で信号自身から
得られる。
第2図は広帯域スイッチングモジュールの完全なブロッ
ク図を示す。このモジュールは第1図に゛よつて既に説
明された素子を含む。それは更に、′入力同期器1、出
力量WA器2、入力分離増II器3、出力分離増幅器4
、およびモニター装置5を含む。
ク図を示す。このモジュールは第1図に゛よつて既に説
明された素子を含む。それは更に、′入力同期器1、出
力量WA器2、入力分離増II器3、出力分離増幅器4
、およびモニター装置5を含む。
各出口A1・・・A16は、スイッチングモジュールの
カスケード連結を可能にするような拡張入口EXI・・
・EX16を割当てられる。システムクロックTはクロ
ック入力TEを経て供給され、クロック出力TAを経て
通過する。スイッチングマトリックスには出力マルチプ
レクサAMUXに連結される付加的出力を有し、テスト
の付加的な可能性を与える。テスト信号発生1lTG中
に含まれるスイッチ可能な遅延ラインVLは同期器1と
2の効果的なテストを許容する。モニター装M5は、信
号が全部送信されているかどうかを動作中に決定するよ
うに設計されている。信号の正確さはチェックできない
。
カスケード連結を可能にするような拡張入口EXI・・
・EX16を割当てられる。システムクロックTはクロ
ック入力TEを経て供給され、クロック出力TAを経て
通過する。スイッチングマトリックスには出力マルチプ
レクサAMUXに連結される付加的出力を有し、テスト
の付加的な可能性を与える。テスト信号発生1lTG中
に含まれるスイッチ可能な遅延ラインVLは同期器1と
2の効果的なテストを許容する。モニター装M5は、信
号が全部送信されているかどうかを動作中に決定するよ
うに設計されている。信号の正確さはチェックできない
。
このような広帯域スイッチングモジュールの動作は、い
かなる高価な付加的設備をも必要とせず、特に多数の高
周波数入力信号を供給し、多数の高周波数出力信号を取
出すことも必要としない門生な方法によって非常に大き
なR囲に対してテストされ得る。このことは正当な費用
でつIハ上で既にこのようなLSI広帯域スイッチング
モジュールをテストすることを可能にするだけである。
かなる高価な付加的設備をも必要とせず、特に多数の高
周波数入力信号を供給し、多数の高周波数出力信号を取
出すことも必要としない門生な方法によって非常に大き
なR囲に対してテストされ得る。このことは正当な費用
でつIハ上で既にこのようなLSI広帯域スイッチング
モジュールをテストすることを可能にするだけである。
このことはまた、DE−O33331403号の参照文
献により上述されたようなテスト装W2により可能にさ
れるけれども、本発明に従った回路配列はまたII単な
方法でシステムワイドのテストを実施することを可能に
する。このことは第3図によって説明される。
献により上述されたようなテスト装W2により可能にさ
れるけれども、本発明に従った回路配列はまたII単な
方法でシステムワイドのテストを実施することを可能に
する。このことは第3図によって説明される。
第3図は、大きな広帯域スイッチングネットワークの部
分であり、個々の広帯域スイッチングモジュール311
・・・334から構成されている広帯域スイッチングユ
ニットを示す。このような広帯域スイッチングユニット
は64の広帯域信号入口および64の広帯域信号出口を
有する。このユニットの中で、非常に多数の異なる信号
路が可能である。もしこれらの広帯域スイッチングモジ
ュール811・・・1334の各々が第2図に示されて
いるように設計されているなら、即ち、テスト信号発生
器TGおよびこのテスト発生器と独立したテスト受信B
PEを含むなら、テスト信号を任意の信号路の入力へ供
給し、通常もう1つの広帯域スイッチングモジュール中
のこの信号路の出力からこのテスト信号を得ることが可
能であり、それをテストする。いくつかのスイッチング
ユニットを横切る信号路をテストすることもまた可能で
ある。もし同種のテスト受信器がそこにあるなら、ある
いはリモートコントロール下の反対側の方向で信号路へ
のループを確立することが可能なら、加入者または遠い
交換機への信号路でさえテストされ得る。このような可
能性は多分将来は普通になるであ械ろう。
分であり、個々の広帯域スイッチングモジュール311
・・・334から構成されている広帯域スイッチングユ
ニットを示す。このような広帯域スイッチングユニット
は64の広帯域信号入口および64の広帯域信号出口を
有する。このユニットの中で、非常に多数の異なる信号
路が可能である。もしこれらの広帯域スイッチングモジ
ュール811・・・1334の各々が第2図に示されて
いるように設計されているなら、即ち、テスト信号発生
器TGおよびこのテスト発生器と独立したテスト受信B
PEを含むなら、テスト信号を任意の信号路の入力へ供
給し、通常もう1つの広帯域スイッチングモジュール中
のこの信号路の出力からこのテスト信号を得ることが可
能であり、それをテストする。いくつかのスイッチング
ユニットを横切る信号路をテストすることもまた可能で
ある。もし同種のテスト受信器がそこにあるなら、ある
いはリモートコントロール下の反対側の方向で信号路へ
のループを確立することが可能なら、加入者または遠い
交換機への信号路でさえテストされ得る。このような可
能性は多分将来は普通になるであ械ろう。
例えば、接続は確立され、加入者のビデオ電話への広帯
域スイッチングネットワーク中のテスト信号発生器から
、そして広帯域スイッチングネットワーク中の任意のテ
スト受信器へ戻る優者からテストされる。このことはた
だ、この要求は通常他の目的のため果ださ・れるのだが
、個々の広帯域スイッチングモジュールが中心的な制御
ユニットまたは内部連結された分散した制御ユニットS
Tへ連結されることを必要とするだけである。
域スイッチングネットワーク中のテスト信号発生器から
、そして広帯域スイッチングネットワーク中の任意のテ
スト受信器へ戻る優者からテストされる。このことはた
だ、この要求は通常他の目的のため果ださ・れるのだが
、個々の広帯域スイッチングモジュールが中心的な制御
ユニットまたは内部連結された分散した制御ユニットS
Tへ連結されることを必要とするだけである。
従って、もう一方の方法でほとんど実施され得ない、特
に広帯域スイッチングネットワークおよび広帯域スイッ
チングモジュールにおいて、テストの様々な可能性は比
較的低コストで与えられる。
に広帯域スイッチングネットワークおよび広帯域スイッ
チングモジュールにおいて、テストの様々な可能性は比
較的低コストで与えられる。
第1図は本発明に従った回路装置のブロック図である。
第2図は本発明に従った回路装置として実施された広帯
域スイッチングモジュールのブロック図である。 第3図は、本発明に従った通信ネットワークの例として
、第2図で示されたいくつかの広帯域スイッチングモジ
ュールから構成された広帯域スイッチングユニットを示
す。 E1〜E16・・・入口、A1−A16・・・出口、K
・・・スイッチングマトリックス、stb・・・内部制
御データバス、BUS・・・外部制御データバス、EM
tJX・・・入力マルチプレクサ、AMLJX・・・出
力マルチプレクサ、TG・・・テスト信号発生器、PE
・・・テスト受信器、TS・・・テスト信号、R8R・
・・、フィード・バックシフトレジスタ、VL・・・遅
延ライン、T・・・システムクロック、1・・・入力同
期器、2・・・出力同期器、3・・・入力分離増幅器、
4・・・出力分離増幅器、5・・・モニター装置、6・
・・解読および制御ロジック。
域スイッチングモジュールのブロック図である。 第3図は、本発明に従った通信ネットワークの例として
、第2図で示されたいくつかの広帯域スイッチングモジ
ュールから構成された広帯域スイッチングユニットを示
す。 E1〜E16・・・入口、A1−A16・・・出口、K
・・・スイッチングマトリックス、stb・・・内部制
御データバス、BUS・・・外部制御データバス、EM
tJX・・・入力マルチプレクサ、AMLJX・・・出
力マルチプレクサ、TG・・・テスト信号発生器、PE
・・・テスト受信器、TS・・・テスト信号、R8R・
・・、フィード・バックシフトレジスタ、VL・・・遅
延ライン、T・・・システムクロック、1・・・入力同
期器、2・・・出力同期器、3・・・入力分離増幅器、
4・・・出力分離増幅器、5・・・モニター装置、6・
・・解読および制御ロジック。
Claims (6)
- (1)信号入力と、信号出力と、信号入力から信号出力
への信号路と、信号路が開かれテスト信号が信号路の残
りの部分へ注入されることを許容する選択マルチプレク
サと、選択マルチプレクサを制御するための制御データ
を入力するための制御入力と、および動作パラメータを
出力するためのデータ出力とを備える回路装置において
、 選択マルチプレクサを経てテスト信号を注入するための
テスト信号発生器と、テスト信号が送信エラーについて
チェックされることができ、この信号が少なくとも信号
路の1点でテストの目的のためアクセスできるエラー検
出回路とを具備し、エラーメッセージがデータ出力を経
て出力されることができることを特徴とする回路装置。 - (2)テスト信号発生器が基準信号に関してテスト信号
の位相を調整するための装置を含み、この装置が制御入
力によって調整可能であることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の回路装置。 - (3)位相を調整するための装置がスイッチ可能な遅延
ラインであることを特徴とする特許請求の範囲第2項記
載の回路装置。 - (4)信号路の2つ以上の点または2つ以上の信号路が
選択マルチプレクサを経てテスト信号発生器によって到
達され得、信号路の2つ以上の点または2つ以上の信号
路がエラー検出回路にアクセスされることを特徴とする
特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか1項に記載
の回路装置。 - (5)選択可能な信号路によって内部連結されているか
またはこのような信号路を確立するように動作する複数
の装置を備えている通信ネットワークにおいて、 少なくともいくつかのこの装置が特許請求の範囲第1項
乃至第4項に記載された回路装置のように設計され、制
御装置が制御ラインによって前記装置に連結されること
を提供することを特徴とする通信ネットワーク。 - (6)テストされる信号路が特許請求の範囲第1項乃至
第4項のいずれかに記載された回路装置のように設計さ
れた第1の装置から特許請求の範囲第1項乃至第4項の
いずれかに記載された回路装置のように設計された第2
の装置へ設定され、第1の装置のテスト信号発生器が前
記信号路へテスト信号を注入することを行われ、第2の
装置のエラー検出回路が前記信号路上の信号をチェック
することを特徴とする特許請求の範囲第5項記載の通信
ネットワークをテストする方法。
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DE3636427.4 | 1986-10-25 | ||
DE19863636427 DE3636427A1 (de) | 1986-10-25 | 1986-10-25 | Schaltungsanordnung und nachrichtennetzwerk mit pruefeinrichtung und pruefverfahren |
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