JPH02153655A - 保守試験方法 - Google Patents
保守試験方法Info
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- JPH02153655A JPH02153655A JP63307568A JP30756888A JPH02153655A JP H02153655 A JPH02153655 A JP H02153655A JP 63307568 A JP63307568 A JP 63307568A JP 30756888 A JP30756888 A JP 30756888A JP H02153655 A JPH02153655 A JP H02153655A
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- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
「産業上の利用分野」
この発明は通信制御集積回路およびこれを含む通信シス
テムの保守試験方法に関する。 「従来の技術」 端末装置、交換機等を通信回線を介して接続してなる通
信システムにおいて、システムを構成する各部の保守試
験が実施される。 第６図および第７図は従来の通信システムの保守試験を
示したもので、ＣＣＩＴＴ（国際電信電話諮問委員会）
勧告に基づくループバック試験（折り返し試験）の実施
態様が例示されている。第６図および第７図において、
１は端末装置１２（ＴＥ；Ｔｅｒｔａｉｎａｌ Ｅｑ
ｕｉｐａ＋ｅｎｔ）であり、内蔵された通信制御集積回
路の制御により外部との通信を行う。この端末装置ｌは
、通信回線２を介して網終端装置（ＮＴ；Ｎｅｔｗｏｒ
ｋ Ｔｅｒａ＋１ｎａｔｉｏｎ）３と接続される。 そして、さらに網終端装置３は通信回線を介して交換機
へ接続される。 第６図および第７図の通信システムは、時分割多重通信
システムであり、各通信ユニット（端末装置ｌ、網終端
装置３等）は所定時間（フレーム）単位で同期化されて
おり、！フレーム２５０μＳ内を構成する４８個のタイ
ムスロットの中の空いているタイムスロットを利用して
他の通信ユニットとの通信を行う。 保守試験か開始されると、端末装置１は、内部の信号経
路が切り換えられ、第６図に示すようにループバック動
作を行う。すなわち、交換機側から下り回線２ａを介し
て信号Ｂ１、Ｂ、およびＤが送られ受信端１ａに入力さ
れると、これらの信号はそのまま送信端１ｂから出力さ
れ、上り回線２ｂを介して交換機側に折り返し送信され
る。ここで、信号Ｂ１、Ｂ、およびＤの各名称は、これ
らの信号が上記フレーム内において占有するタイムスロ
ット位置（チャネル）に対応して付けたものである。 そして、交換機側では、端末装置ｌから送り返されて来
る信号が検出され、交換機側から端末装置ｌに至る通信
経路の障害の有無が判定される。 また、第７図は、折り返し試験中、入力された信号Ｂ１
、Ｂ１、Ｄに対して、通常モード時に行う信号処理Ｌｌ
ａを実施し、その結果を確認するものであり、この試験
により信号処理Ｌｌａに係る回路の障害の有無が判定さ
れる。 「発明が解決しようとする課題」 ところで、従来は、通信システムにおいて、交換機側か
ら端末装置■に至るまでの通信経路の保守試験あるいは
端末装置１に信号が入力されるか否かの保守試験は行わ
れていたが、端末装置ｌ内部の障害の有無を判定する保
守試験は行われていなかった。このため、端末装置ｌ内
部に障害が発生した場合に、その障害箇所を明確に診断
することができないという問題があった。 この発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、端末
装置内部をも含めて通信システムの障害箇所を明確に診
断することが可能な保守試験方法を提供することを目的
としている。 「課題を解決するための手段」 上記課題を解決するため、第１の発明は、通信回線を介
して外部との通信を行う通信ユニットであって、通常モ
ード時は、通信回線からの受信信号を処理すると共に、
該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信信号
を通信回線へ出力す。 る通信制御集積回路および該集積回路を含む通信システ
ムの保守試験方法において、 保守試験モード時、 前記受信信号が前記集積回路内部で処理されるのを阻止
すると共に、前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出
し、 通信テストデータを発生し、この通信テストデータに対
し、通常モード時に送信データの信号処理を行う回路に
よって信号処理を行い、この結果得られる送信テスト信
号を前記通話回線に出力する直前で折り返した後、通常
モード時に受信信号の信号処理を行う回路によって信号
処理を行い、この結果得られる受信データと該通信テス
トデータとの比較試験を行い、さらに、 前記信号処理に係る回路以外かつ試験に係る回路に対し
て、前記試験実行前に、テストデータを入力し、該テス
トデータ１こ対する出力応答を一貫して試験することを
特徴としている。 また、第２の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 保守試験モード時、 前記受信信号が前記集積回路内部で処理されるのを阻止
すると共に、前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出
し、 前記各階層毎に、通信テストデータを発生し、これら各
階層の通信テストデータに対し、通常モード時に当該階
層の送信データの信号処理を行う回路によって信号処理
を行い、この結果得られる送信テスト信号を該階層に対
応して設けられた回路内の所定の節点で折り返した後、
通常モード時に当該階層の受信信号の信号処理を行う回
路によって信号処理を行い、この結果得られる受信デー
タと該通信テストデータとの比較試験を行い、さらに、 前記信号処理に係る回路以外かつ試験に係る回路に対し
て、前記試験前に、テストデータを入力し、該テストデ
ータに対する出力応答を一貫して試験することを特徴と
している。 また、第３の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記集積回路の受信信号をそのまま前記通信回線へ折り
返し送信し、 第２の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行う
ことを特徴としている。 また、第４の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行い
、 第２の保守試験モード時は、第１の発明と同等の試験を
行うことを特徴としている。 また、第５の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行い
、 第２の保守試験モード時は、第２の発明と同等の試験を
行うことを特徴としている。 また、第６の発明は、第１の発明と同等の保守試験およ
び第３の発明と同等の保守試験を共に実施することを特
徴としている。 また、第７の発明は、第２の発明と同等の保守試験およ
び第３の発明と同等の保守試験を共に実施することを特
徴としている。 「作用」 第１の発明の保守試験方法によれば、通信制御集積回路
における受信信号の処理が正常に行われるか否かが判定
されると共に、その他の回路各部の機能が判定される。 また、第１２の発明の保守試験方法によれば、各階層毎
に信号処理機能が正常か否かが判定されると共に、その
池の回路各部の機能が判定される。 また、第３の発明の保守試験方法によれば、第１の保守
試験モードにおいて、外部から通信制御集積回路に至る
通信経路の障害の有無が、この通信経路に接続された外
部の通信ユニットによって判定される。また、第２の保
守試験モードにおいて、特定の階層の受信信号のみ信号
処理されて外部へ折り返される。従って、この通信制御
集積回路の特定の処理階層に係る信号処理の機能および
この通信制御集積回路に至るまでの通信経路か、外部の
通信ユニットによって判定される。また、他の階層の受
信信号については、通常モード時と同じ処理が行われる
。 また、第４の発明の保守試験方法によれば、第１の保守
試験モードによって、外部から通信制御集積回路に至る
通信経路の障害の有無が判定される。また、第２の保守
試験モードによって、通信制御集積回路における受信信
号の処理が正常に行われるか否かが判定されると共に、
その他の回路各部の機能が判定される。 また、第５の発明の保守試験方法によれば、第１の試験
モードによって、外部から通信制御集積回路に至る通信
経路の障害の有無が判定され、第２の保守試験モードに
よって、通信制御集積回路における受信信号の処理が正
常に行われるか否かが各階層毎に判定されると共に、そ
の他の回路各部の機能が判定される。 また、第６の発明によれば、第１の発明による障害判定
および第３の発明による障害判定を共に行うことができ
る。 また、第７の発明によれば、第２の発明による障害判定
および第３の発明による障害判定を共に行うことができ
る。 「実施例」 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
。
テムの保守試験方法に関する。 「従来の技術」 端末装置、交換機等を通信回線を介して接続してなる通
信システムにおいて、システムを構成する各部の保守試
験が実施される。 第６図および第７図は従来の通信システムの保守試験を
示したもので、ＣＣＩＴＴ（国際電信電話諮問委員会）
勧告に基づくループバック試験（折り返し試験）の実施
態様が例示されている。第６図および第７図において、
１は端末装置１２（ＴＥ；Ｔｅｒｔａｉｎａｌ Ｅｑ
ｕｉｐａ＋ｅｎｔ）であり、内蔵された通信制御集積回
路の制御により外部との通信を行う。この端末装置ｌは
、通信回線２を介して網終端装置（ＮＴ；Ｎｅｔｗｏｒ
ｋ Ｔｅｒａ＋１ｎａｔｉｏｎ）３と接続される。 そして、さらに網終端装置３は通信回線を介して交換機
へ接続される。 第６図および第７図の通信システムは、時分割多重通信
システムであり、各通信ユニット（端末装置ｌ、網終端
装置３等）は所定時間（フレーム）単位で同期化されて
おり、！フレーム２５０μＳ内を構成する４８個のタイ
ムスロットの中の空いているタイムスロットを利用して
他の通信ユニットとの通信を行う。 保守試験か開始されると、端末装置１は、内部の信号経
路が切り換えられ、第６図に示すようにループバック動
作を行う。すなわち、交換機側から下り回線２ａを介し
て信号Ｂ１、Ｂ、およびＤが送られ受信端１ａに入力さ
れると、これらの信号はそのまま送信端１ｂから出力さ
れ、上り回線２ｂを介して交換機側に折り返し送信され
る。ここで、信号Ｂ１、Ｂ、およびＤの各名称は、これ
らの信号が上記フレーム内において占有するタイムスロ
ット位置（チャネル）に対応して付けたものである。 そして、交換機側では、端末装置ｌから送り返されて来
る信号が検出され、交換機側から端末装置ｌに至る通信
経路の障害の有無が判定される。 また、第７図は、折り返し試験中、入力された信号Ｂ１
、Ｂ１、Ｄに対して、通常モード時に行う信号処理Ｌｌ
ａを実施し、その結果を確認するものであり、この試験
により信号処理Ｌｌａに係る回路の障害の有無が判定さ
れる。 「発明が解決しようとする課題」 ところで、従来は、通信システムにおいて、交換機側か
ら端末装置■に至るまでの通信経路の保守試験あるいは
端末装置１に信号が入力されるか否かの保守試験は行わ
れていたが、端末装置ｌ内部の障害の有無を判定する保
守試験は行われていなかった。このため、端末装置ｌ内
部に障害が発生した場合に、その障害箇所を明確に診断
することができないという問題があった。 この発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、端末
装置内部をも含めて通信システムの障害箇所を明確に診
断することが可能な保守試験方法を提供することを目的
としている。 「課題を解決するための手段」 上記課題を解決するため、第１の発明は、通信回線を介
して外部との通信を行う通信ユニットであって、通常モ
ード時は、通信回線からの受信信号を処理すると共に、
該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信信号
を通信回線へ出力す。 る通信制御集積回路および該集積回路を含む通信システ
ムの保守試験方法において、 保守試験モード時、 前記受信信号が前記集積回路内部で処理されるのを阻止
すると共に、前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出
し、 通信テストデータを発生し、この通信テストデータに対
し、通常モード時に送信データの信号処理を行う回路に
よって信号処理を行い、この結果得られる送信テスト信
号を前記通話回線に出力する直前で折り返した後、通常
モード時に受信信号の信号処理を行う回路によって信号
処理を行い、この結果得られる受信データと該通信テス
トデータとの比較試験を行い、さらに、 前記信号処理に係る回路以外かつ試験に係る回路に対し
て、前記試験実行前に、テストデータを入力し、該テス
トデータ１こ対する出力応答を一貫して試験することを
特徴としている。 また、第２の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 保守試験モード時、 前記受信信号が前記集積回路内部で処理されるのを阻止
すると共に、前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出
し、 前記各階層毎に、通信テストデータを発生し、これら各
階層の通信テストデータに対し、通常モード時に当該階
層の送信データの信号処理を行う回路によって信号処理
を行い、この結果得られる送信テスト信号を該階層に対
応して設けられた回路内の所定の節点で折り返した後、
通常モード時に当該階層の受信信号の信号処理を行う回
路によって信号処理を行い、この結果得られる受信デー
タと該通信テストデータとの比較試験を行い、さらに、 前記信号処理に係る回路以外かつ試験に係る回路に対し
て、前記試験前に、テストデータを入力し、該テストデ
ータに対する出力応答を一貫して試験することを特徴と
している。 また、第３の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記集積回路の受信信号をそのまま前記通信回線へ折り
返し送信し、 第２の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行う
ことを特徴としている。 また、第４の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行い
、 第２の保守試験モード時は、第１の発明と同等の試験を
行うことを特徴としている。 また、第５の発明は、通信回線を介して外部との通信を
行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける
処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路であ
って、通常モード時は、通信回線から前記各階層の処理
に対応した受信信号を受信し、該受信信号を処理すると
共に、該受信信号に対する応答信号あるいは外部への送
信信号を通信回線へ出力する通信制御集積回路および該
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行い
、 第２の保守試験モード時は、第２の発明と同等の試験を
行うことを特徴としている。 また、第６の発明は、第１の発明と同等の保守試験およ
び第３の発明と同等の保守試験を共に実施することを特
徴としている。 また、第７の発明は、第２の発明と同等の保守試験およ
び第３の発明と同等の保守試験を共に実施することを特
徴としている。 「作用」 第１の発明の保守試験方法によれば、通信制御集積回路
における受信信号の処理が正常に行われるか否かが判定
されると共に、その他の回路各部の機能が判定される。 また、第１２の発明の保守試験方法によれば、各階層毎
に信号処理機能が正常か否かが判定されると共に、その
池の回路各部の機能が判定される。 また、第３の発明の保守試験方法によれば、第１の保守
試験モードにおいて、外部から通信制御集積回路に至る
通信経路の障害の有無が、この通信経路に接続された外
部の通信ユニットによって判定される。また、第２の保
守試験モードにおいて、特定の階層の受信信号のみ信号
処理されて外部へ折り返される。従って、この通信制御
集積回路の特定の処理階層に係る信号処理の機能および
この通信制御集積回路に至るまでの通信経路か、外部の
通信ユニットによって判定される。また、他の階層の受
信信号については、通常モード時と同じ処理が行われる
。 また、第４の発明の保守試験方法によれば、第１の保守
試験モードによって、外部から通信制御集積回路に至る
通信経路の障害の有無が判定される。また、第２の保守
試験モードによって、通信制御集積回路における受信信
号の処理が正常に行われるか否かが判定されると共に、
その他の回路各部の機能が判定される。 また、第５の発明の保守試験方法によれば、第１の試験
モードによって、外部から通信制御集積回路に至る通信
経路の障害の有無が判定され、第２の保守試験モードに
よって、通信制御集積回路における受信信号の処理が正
常に行われるか否かが各階層毎に判定されると共に、そ
の他の回路各部の機能が判定される。 また、第６の発明によれば、第１の発明による障害判定
および第３の発明による障害判定を共に行うことができ
る。 また、第７の発明によれば、第２の発明による障害判定
および第３の発明による障害判定を共に行うことができ
る。 「実施例」 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
。
【実施例１】
第１図はこの発明の第１の実施例による保守試験方法を
示す図である。この図において、１０は端末装置１（第
６図および′；５７図）に搭載された通信制御集積回路
を示す。以下、本実施例による集積回路１０の試験方法
を第２図のフローヂャートを参照して説明する。 この集積回路１０に対して上位の処理を司る制御ユニッ
トによって試験モードが起動されると、集積回路ｌＯ内
の信号経路が切り換えられ、下り回線２ａを介して信号
Ｂ１．１３．、Ｄが受信端１ａに入力されてもこれらの
信号を処理しないようにされる。また、上り回線２ｂへ
は、集積回路ＩＯから外部通信要求１１１（信号Ｅ（１
Ｎが送出される。これにより、集積回路１０は通信回線
２に接続された他の通信ユニットとの通信か断たれる（
ステップＳ１）。 そして、集積回路ｌＯ内ではステップ８２〜８７に示す
手順で内部ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）の試験が
行われる。まず、ステップＳ２では、内部ＩＩＡ Ｍに
対してテストデータを書き込む。 そして、ステップＳ３で内部Ｉ’ｔＡＭからデータを読
み出し、ステップＳ４でステップＳ２における書込デー
タとステップＳ３における続出データとを比較する。そ
して、この比較の結果、両者が一致している場合はステ
ップＳ５に進み、不一致の場合はステップＳ７に進む。 ステップＳ５では、内部ＲＡＭの全アドレスの試験が終
わったか否かを判断する。そして、判断結果がｒＮＯｊ
の場合は新たなアドレスを設定してステップＳ２に戻り
、ｒＹＥｓＪの場合はステップＳ６に進む。そして、ス
テップＳ６に進むと、内部ＲＡＭの機能が正常であると
判定する。一方、ステップＳ７に進んだ場合は、内部Ｒ
ＡＭのいずれかのアドレスに異常があると判定する。 次にステップＳ８〜Ｓ１４に示す手順で内部ＲＯＭ（リ
ードオンリメモリ）の試験を行う。ステップＳ８では、
内部ＲＯＭからデータを１ワード読み出す。そして、ス
テップＳ９で、この続出データをワークレジスタに累積
加算する。次にステップＳＩＯに進むと、ＲＯＭ内のす
べての試験対象アドレスについて上記処理を実施したか
否かを判断する。そして、判断結果がｒＹ Ｅ Ｓ Ｊ
の場合はステップＳ１１に進み、「ＮＯ」の場合はステ
ップＳ８に戻る。ステップＳ１１に進むと、ＲＯＭ内の
最終アドレスからチエツク用データＣｈｅｃｋ Ｓ ｕ
ｍを読み出ず。ここで、データＣｈｅｃｋ Ｓ ｕｓと
しては、ＲＯＭ内の他のアドレスに格納されている全デ
ータの合計値が書き込まれている。そして、ステップＳ
１２に進むと、このデータＣｈｅｃｋＳｕｍと、ワーク
レジスタの記憶データとが比較される。 そして、比較の結果、両省が一致した場合は内部ＲＯＭ
は正常であると判定しくステップＳ＋３）、不一致の場
合はＲＯＭ内のいずれかのアドレスに異常があると判定
する（ステップ５１４）。 次にステップＳ１５〜Ｓ２１に示す手順に従って、この
集積回路ｌＯの受信時における信号処理機能Ｌｌａおよ
び送信時における信号処理機能しｌｂ（共に第１図参照
）の障害判定を行うループバック試験を実施する。この
ループバック試験は、送信信号が上り回線２ｂに出力さ
れる手前で折り返し、受信信号処理Ｌｌａに入力するル
ープバックスイッチ機能を必要とする。 第３図はこのループバックスイッチ機能を実現する具体
的回路を示したものである。通常モード時、下り回線２
ａを介して受信された受信信号ＢＢ３、Ｄは、波形変換
回路１１によってＡＭＩ（ΔＩＬｅｒｎａｔｅ Ｍａｒ
ｋ Ｉ ｎｖｅｒｓｉｏｎ）波形からＮｆｌＺ（Ｎ。 ｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚ ｅｒｏ）波形に変換され
た後、セレクタＩ２を介し、回路１３に入力される。そ
して、信号処理Ｌｌａが行われ、データＢｌａ、Ｂ２ａ
およびＤとして受理される。一方、送信データｎ、ｂ。 Ｂ、ｂおよびＤｂは、信号処理回路１４によって信号処
理Ｌｌｂが行われ、ＯＲゲート＋５を介し、波形変換回
路１６に入力される。そして、この波形変換回路１６に
よって、ＮＲＺ波形からＡＭ１波形へ変換され、送信信
号Ｂ１、Ｂ１、Ｄとして上り回線２ｂに送出される。 通常モードから試験モードになると、試験モード指定信
号Ｔ Ｅ Ｓ、Ｔが“１“となる。この結果、ＯＲゲー
ト＋７の出力が“ｌ”となるので、ＯＲゲート１５の出
力が強制的に“ｌ”とされる。これにより、以後、“ｌ
”が時間的に連続した信号、すなわち、外部通信要求無
信号ＥＣｒｔが波形変換回路１６から上り回線２ｂに送
出される。このようにして、通信制御集積回路１０は外
部との通信が断たれる（萌述ステップＳｌ）。 ところで、この集積回路１０は、外部との通信を行う場
合に、外部から処理開始信号ｒｔＵＮが入力されること
によって初めて通常の処理が可能となるように構成され
ている。すなわち、処理開始信号ＲＵＮが入力されると
、検出信号ＲＲＵＮが“ｌ”となり、これにより通常の
処理に係る各コントローラがイネーブルされ、所定の動
作が得られるようになっている。ところが、試験が開始
されて外部に対して外部通信要求無信号ＥＣＲが送出さ
れると、外部から処理開始信号ＲＵＮが入力されること
がないので、通信機能がイネーブルされなくなってしま
う。そこで、この集積回路ＩＯでは、テスト信号ＴＥＳ
Ｔが“ｌ“となった場合は、Ｑｌｌゲート１８を介して
強制的にイネーブル信号（“１”）を各コントローラに
送出し、各コントローラが通常モードの場合と同様の動
作をするようにしている。 ステップＳＩ５において、ループバック指定が行われる
と、通信テストデータが生成され、ループバック試験が
スタンバイされる。この通信テストデータに対して、回
路１４によって信号処理しＩｂが行われる（ステップ８
１６）。そして、遅延回路１９によって遅延され、セレ
クタ１２を介して回路！３に入力される。そして、回路
１３によって信号処理Ｌｌａが行われ、受信データとし
て受理される（ステップ１７）。 ここで、遅延回路！９は、通信テストデータに対して信
号処理Ｌｌｂおよびし！ａを行った場合に発生ずるビッ
ト位相のずれを補償するために設けられている。すなわ
ち、前述したＣＣＩＴＴ勧告の通信プロトコルにおいて
、端末装置！（第６図および第７図）が下り回線２ａを
介して信号を受信した場合、受信信号の位相よりも２ビ
ツト相当の時間位相を遅らせて上り回線２ｂに信号を送
出するように取り決められており、この通信制御集積回
路ＩＯもそれに準拠した構成となっている。従って、通
信テストデータを信号処理ＬｌｂおよびＬｌａを介した
後、元のデータと比較すると、処理が正常であるにら拘
わらず２ビツトの位相ずれが生じてしまう。そこで、こ
の集積回路ｌＯでは、ループバック試験時は遅延回路１
９によって通信テストデータを遅延させ、信号処理の前
後でデータの対応が取れるようにしている。 次にステップ５１８に進むと、ステップＳ＋６において
送信した通信テストデータＢ、ｂ、Ｂ、ｂおよびＤｂと
ステップＳ１７において受信したデータＢｌａｘ Ｂ
ｔａおよびＤａとの比較を行う。そして、比較の結果、
両者が一致した場合はステップＳ１９に進み、不一致の
場合はステップＳ２＋に進む。 次にステップＳ１９に進むと、通信テストデータの全て
について上記試験を実施したか否かを判断し、判断結果
がｒＮＯＪの場合はステップ８１６に戻り、判断結果が
ｒＹ ＥＳ Ｊの場合はステップＳ２０に進む。そして
、ステップＳ２０に進むと、信号処理機能Ｌｌｂおよび
Ｌｌａが正常であると判断する。一方、ステップＳ２１
に進んだ場合は、信号処理機能ＬｌｂおよびＬｌａのい
ずれかに障害があると判定する。
示す図である。この図において、１０は端末装置１（第
６図および′；５７図）に搭載された通信制御集積回路
を示す。以下、本実施例による集積回路１０の試験方法
を第２図のフローヂャートを参照して説明する。 この集積回路１０に対して上位の処理を司る制御ユニッ
トによって試験モードが起動されると、集積回路ｌＯ内
の信号経路が切り換えられ、下り回線２ａを介して信号
Ｂ１．１３．、Ｄが受信端１ａに入力されてもこれらの
信号を処理しないようにされる。また、上り回線２ｂへ
は、集積回路ＩＯから外部通信要求１１１（信号Ｅ（１
Ｎが送出される。これにより、集積回路１０は通信回線
２に接続された他の通信ユニットとの通信か断たれる（
ステップＳ１）。 そして、集積回路ｌＯ内ではステップ８２〜８７に示す
手順で内部ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）の試験が
行われる。まず、ステップＳ２では、内部ＩＩＡ Ｍに
対してテストデータを書き込む。 そして、ステップＳ３で内部Ｉ’ｔＡＭからデータを読
み出し、ステップＳ４でステップＳ２における書込デー
タとステップＳ３における続出データとを比較する。そ
して、この比較の結果、両者が一致している場合はステ
ップＳ５に進み、不一致の場合はステップＳ７に進む。 ステップＳ５では、内部ＲＡＭの全アドレスの試験が終
わったか否かを判断する。そして、判断結果がｒＮＯｊ
の場合は新たなアドレスを設定してステップＳ２に戻り
、ｒＹＥｓＪの場合はステップＳ６に進む。そして、ス
テップＳ６に進むと、内部ＲＡＭの機能が正常であると
判定する。一方、ステップＳ７に進んだ場合は、内部Ｒ
ＡＭのいずれかのアドレスに異常があると判定する。 次にステップＳ８〜Ｓ１４に示す手順で内部ＲＯＭ（リ
ードオンリメモリ）の試験を行う。ステップＳ８では、
内部ＲＯＭからデータを１ワード読み出す。そして、ス
テップＳ９で、この続出データをワークレジスタに累積
加算する。次にステップＳＩＯに進むと、ＲＯＭ内のす
べての試験対象アドレスについて上記処理を実施したか
否かを判断する。そして、判断結果がｒＹ Ｅ Ｓ Ｊ
の場合はステップＳ１１に進み、「ＮＯ」の場合はステ
ップＳ８に戻る。ステップＳ１１に進むと、ＲＯＭ内の
最終アドレスからチエツク用データＣｈｅｃｋ Ｓ ｕ
ｍを読み出ず。ここで、データＣｈｅｃｋ Ｓ ｕｓと
しては、ＲＯＭ内の他のアドレスに格納されている全デ
ータの合計値が書き込まれている。そして、ステップＳ
１２に進むと、このデータＣｈｅｃｋＳｕｍと、ワーク
レジスタの記憶データとが比較される。 そして、比較の結果、両省が一致した場合は内部ＲＯＭ
は正常であると判定しくステップＳ＋３）、不一致の場
合はＲＯＭ内のいずれかのアドレスに異常があると判定
する（ステップ５１４）。 次にステップＳ１５〜Ｓ２１に示す手順に従って、この
集積回路ｌＯの受信時における信号処理機能Ｌｌａおよ
び送信時における信号処理機能しｌｂ（共に第１図参照
）の障害判定を行うループバック試験を実施する。この
ループバック試験は、送信信号が上り回線２ｂに出力さ
れる手前で折り返し、受信信号処理Ｌｌａに入力するル
ープバックスイッチ機能を必要とする。 第３図はこのループバックスイッチ機能を実現する具体
的回路を示したものである。通常モード時、下り回線２
ａを介して受信された受信信号ＢＢ３、Ｄは、波形変換
回路１１によってＡＭＩ（ΔＩＬｅｒｎａｔｅ Ｍａｒ
ｋ Ｉ ｎｖｅｒｓｉｏｎ）波形からＮｆｌＺ（Ｎ。 ｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚ ｅｒｏ）波形に変換され
た後、セレクタＩ２を介し、回路１３に入力される。そ
して、信号処理Ｌｌａが行われ、データＢｌａ、Ｂ２ａ
およびＤとして受理される。一方、送信データｎ、ｂ。 Ｂ、ｂおよびＤｂは、信号処理回路１４によって信号処
理Ｌｌｂが行われ、ＯＲゲート＋５を介し、波形変換回
路１６に入力される。そして、この波形変換回路１６に
よって、ＮＲＺ波形からＡＭ１波形へ変換され、送信信
号Ｂ１、Ｂ１、Ｄとして上り回線２ｂに送出される。 通常モードから試験モードになると、試験モード指定信
号Ｔ Ｅ Ｓ、Ｔが“１“となる。この結果、ＯＲゲー
ト＋７の出力が“ｌ”となるので、ＯＲゲート１５の出
力が強制的に“ｌ”とされる。これにより、以後、“ｌ
”が時間的に連続した信号、すなわち、外部通信要求無
信号ＥＣｒｔが波形変換回路１６から上り回線２ｂに送
出される。このようにして、通信制御集積回路１０は外
部との通信が断たれる（萌述ステップＳｌ）。 ところで、この集積回路１０は、外部との通信を行う場
合に、外部から処理開始信号ｒｔＵＮが入力されること
によって初めて通常の処理が可能となるように構成され
ている。すなわち、処理開始信号ＲＵＮが入力されると
、検出信号ＲＲＵＮが“ｌ”となり、これにより通常の
処理に係る各コントローラがイネーブルされ、所定の動
作が得られるようになっている。ところが、試験が開始
されて外部に対して外部通信要求無信号ＥＣＲが送出さ
れると、外部から処理開始信号ＲＵＮが入力されること
がないので、通信機能がイネーブルされなくなってしま
う。そこで、この集積回路ＩＯでは、テスト信号ＴＥＳ
Ｔが“ｌ“となった場合は、Ｑｌｌゲート１８を介して
強制的にイネーブル信号（“１”）を各コントローラに
送出し、各コントローラが通常モードの場合と同様の動
作をするようにしている。 ステップＳＩ５において、ループバック指定が行われる
と、通信テストデータが生成され、ループバック試験が
スタンバイされる。この通信テストデータに対して、回
路１４によって信号処理しＩｂが行われる（ステップ８
１６）。そして、遅延回路１９によって遅延され、セレ
クタ１２を介して回路！３に入力される。そして、回路
１３によって信号処理Ｌｌａが行われ、受信データとし
て受理される（ステップ１７）。 ここで、遅延回路！９は、通信テストデータに対して信
号処理Ｌｌｂおよびし！ａを行った場合に発生ずるビッ
ト位相のずれを補償するために設けられている。すなわ
ち、前述したＣＣＩＴＴ勧告の通信プロトコルにおいて
、端末装置！（第６図および第７図）が下り回線２ａを
介して信号を受信した場合、受信信号の位相よりも２ビ
ツト相当の時間位相を遅らせて上り回線２ｂに信号を送
出するように取り決められており、この通信制御集積回
路ＩＯもそれに準拠した構成となっている。従って、通
信テストデータを信号処理ＬｌｂおよびＬｌａを介した
後、元のデータと比較すると、処理が正常であるにら拘
わらず２ビツトの位相ずれが生じてしまう。そこで、こ
の集積回路ｌＯでは、ループバック試験時は遅延回路１
９によって通信テストデータを遅延させ、信号処理の前
後でデータの対応が取れるようにしている。 次にステップ５１８に進むと、ステップＳ＋６において
送信した通信テストデータＢ、ｂ、Ｂ、ｂおよびＤｂと
ステップＳ１７において受信したデータＢｌａｘ Ｂ
ｔａおよびＤａとの比較を行う。そして、比較の結果、
両者が一致した場合はステップＳ１９に進み、不一致の
場合はステップＳ２＋に進む。 次にステップＳ１９に進むと、通信テストデータの全て
について上記試験を実施したか否かを判断し、判断結果
がｒＮＯＪの場合はステップ８１６に戻り、判断結果が
ｒＹ ＥＳ Ｊの場合はステップＳ２０に進む。そして
、ステップＳ２０に進むと、信号処理機能Ｌｌｂおよび
Ｌｌａが正常であると判断する。一方、ステップＳ２１
に進んだ場合は、信号処理機能ＬｌｂおよびＬｌａのい
ずれかに障害があると判定する。
【実施例２】
第４図はこの発明の第２の実施例による保守試験方法を
示すものである。通常モードにおいて、通信回線２によ
って通信される信号Ｂ８、Ｂ、お上びＤには、集積回路
ｌＯの下位階層の処理に対応する信号と上位階層の処理
に対応する信号とが含まれる。第４図において、処理Ｌ
ｌａおよびＬｌｂは集積回路ＩＯが行う処理の内、下位
階層の処理に属し、処理Ｌ２ｃおよびＬ２ｄは上位階層
の処理に属する。本実施例では上位／下位各々の信号処
理について回路内に折り返し点を設け、上位の信号処理
機能と下位の信号処理機能とを各々試験するものである
。すなわち、本実施例では、第４図に示すように、Ｄチ
ャネル信号処理については、通信テストデータＤｄに対
して信号処理Ｌ２ｄを行った時点で折り返し、信号処理
Ｌ２ｃを行って応答Ｄｃを得て元のデータを比較する。 なお、このループバック試験の具体的実施方法としは前
述した第１実施例と同様の方法を用いる。また、本実施
例では、第１実施例と同様、内部ＲＡＭおよび内部ＲＯ
Ｍの試験を行う。
示すものである。通常モードにおいて、通信回線２によ
って通信される信号Ｂ８、Ｂ、お上びＤには、集積回路
ｌＯの下位階層の処理に対応する信号と上位階層の処理
に対応する信号とが含まれる。第４図において、処理Ｌ
ｌａおよびＬｌｂは集積回路ＩＯが行う処理の内、下位
階層の処理に属し、処理Ｌ２ｃおよびＬ２ｄは上位階層
の処理に属する。本実施例では上位／下位各々の信号処
理について回路内に折り返し点を設け、上位の信号処理
機能と下位の信号処理機能とを各々試験するものである
。すなわち、本実施例では、第４図に示すように、Ｄチ
ャネル信号処理については、通信テストデータＤｄに対
して信号処理Ｌ２ｄを行った時点で折り返し、信号処理
Ｌ２ｃを行って応答Ｄｃを得て元のデータを比較する。 なお、このループバック試験の具体的実施方法としは前
述した第１実施例と同様の方法を用いる。また、本実施
例では、第１実施例と同様、内部ＲＡＭおよび内部ＲＯ
Ｍの試験を行う。
【実施例３】
次に、この発明の第３の実施例を説明する。本実施例で
は、第１の保守試験モード時、第６図に示すように、下
り回線２ａを介して入力された信号をそのまま上り回線
に折り返し送出する。これにより、交換機側において、
端末装置１に至るまでの通信経路の障害の有無が判定さ
れる。そして、第２の保守試験モードでは、第５図に示
すように、受信信号に対して信号処理Ｌｌａを行うこと
によって信号［３，ａＳＢｔａｌＤａが得られると、信
号Ｂ＋ａ、ｌ３ｔａについては、信号処理Ｌｌｂを行っ
て上り回線２ｂに折り返す。これにより、交換機側によ
って、集積回路１０における信号処理機能Ｌｌａおよび
Ｌｌｂの障害診断が行われる。一方、信号Ｄａについて
は通常モード時と同様に処理され、その結果得られる信
号Ｄｂに対して信号処理Ｌｌｂが行われ、上り回線２ｂ
に送出される。従って、本試験モードでは、信号りによ
る通信は通常モード時と同様に支障なく行われる。
は、第１の保守試験モード時、第６図に示すように、下
り回線２ａを介して入力された信号をそのまま上り回線
に折り返し送出する。これにより、交換機側において、
端末装置１に至るまでの通信経路の障害の有無が判定さ
れる。そして、第２の保守試験モードでは、第５図に示
すように、受信信号に対して信号処理Ｌｌａを行うこと
によって信号［３，ａＳＢｔａｌＤａが得られると、信
号Ｂ＋ａ、ｌ３ｔａについては、信号処理Ｌｌｂを行っ
て上り回線２ｂに折り返す。これにより、交換機側によ
って、集積回路１０における信号処理機能Ｌｌａおよび
Ｌｌｂの障害診断が行われる。一方、信号Ｄａについて
は通常モード時と同様に処理され、その結果得られる信
号Ｄｂに対して信号処理Ｌｌｂが行われ、上り回線２ｂ
に送出される。従って、本試験モードでは、信号りによ
る通信は通常モード時と同様に支障なく行われる。
【実施例４］
次に本発明の第４実施例を説明する。本実施例では、第
１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第５
図に示すループバック試験が行われ、集積回路１０の送
受信機能あるいは集積回路１０に至るまでの通信経路に
障害があった場合にそれが検出される。また、第２の保
守試験モード時は前述の第１実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路ｌＯ内の信号処理機能の障害が診断される
と共に、ＲＡＭ、 ＲＯＭ等のその他の回路の障害が診
断される。 【実施例５】 次に本発明の第５実施例を説明する。本実施例では、第
１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第５
図に示すループバック試験が行われ、集積回路！０の送
受信機能あるいは集積回路ＩＯに至るまでの通信経路に
障害があった場合にそれが検出される。また、第２の保
守試験モード時は前述の第２実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路！θ内の信号処理機能の障害が処理の階層
別に診断されると共に、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のその他の回
路の障害が診断される。
１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第５
図に示すループバック試験が行われ、集積回路１０の送
受信機能あるいは集積回路１０に至るまでの通信経路に
障害があった場合にそれが検出される。また、第２の保
守試験モード時は前述の第１実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路ｌＯ内の信号処理機能の障害が診断される
と共に、ＲＡＭ、 ＲＯＭ等のその他の回路の障害が診
断される。 【実施例５】 次に本発明の第５実施例を説明する。本実施例では、第
１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第５
図に示すループバック試験が行われ、集積回路！０の送
受信機能あるいは集積回路ＩＯに至るまでの通信経路に
障害があった場合にそれが検出される。また、第２の保
守試験モード時は前述の第２実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路！θ内の信号処理機能の障害が処理の階層
別に診断されると共に、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のその他の回
路の障害が診断される。
【実施例６】
次に本発明の第６実施例を説明する。本実施例では、第
１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した第
６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の保
守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行わ
れる。そして、各試験によって、集積回路１０に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路１０の送受信機
能の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード
時は前述の第１実施例と同等の試験が行われ、集積回路
１０内の信号処理機能の障害が診断されると共に、ＲＡ
Ｍ、ＲＯＭ等のその他の回路の障害が診断される。
１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した第
６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の保
守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行わ
れる。そして、各試験によって、集積回路１０に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路１０の送受信機
能の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード
時は前述の第１実施例と同等の試験が行われ、集積回路
１０内の信号処理機能の障害が診断されると共に、ＲＡ
Ｍ、ＲＯＭ等のその他の回路の障害が診断される。
【実施例７】
次に本発明の第７実施例を説明する。本実施例では、第
１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した第
６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の保
守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行わ
れる。そして、各試験によって、集積回路！０に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路ＩＯの送受信機
能の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード
時は前述の第２実施例と同等の試験が行われ、集積回路
ＩＯ内の信号処理機能の障害が処理の階層別に診断され
ると共に、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のその他の回路の障害が診
断される。 「発明の効果」 以上説明したように、この発明によれば、通信制御集積
回路あるいはこの集積回路を含む通信システムにおいて
障害が発生した場合に、障害箇所およびその内容がより
明確に診断されるという効果が得られる。
１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した第
６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の保
守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行わ
れる。そして、各試験によって、集積回路！０に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路ＩＯの送受信機
能の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード
時は前述の第２実施例と同等の試験が行われ、集積回路
ＩＯ内の信号処理機能の障害が処理の階層別に診断され
ると共に、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のその他の回路の障害が診
断される。 「発明の効果」 以上説明したように、この発明によれば、通信制御集積
回路あるいはこの集積回路を含む通信システムにおいて
障害が発生した場合に、障害箇所およびその内容がより
明確に診断されるという効果が得られる。
第１図はこの発明の第１および第４および第６の実施例
において用いられる保守試験方法を説明する図、第２図
は同実施例の実施手順を示すフローチャート、第３Ｕｇ
Ｊは同実施例におけるループバックスイッチ機能を実現
する具体的回路の回路図、第４図はこの発明の第２およ
び第５および第７の実施例において用いられる保守試験
方法を説明する図、第５図はこの発明の第３〜第７の実
施例において用いられる保守試験方法を説明する図、第
６図は従来から用いられている通信システムの保守試験
方法であり、かつ、本発明の第３および第６および第７
の実施例において用いられる保守試験方法を説明する図
、第７図は従来周知の通信システムの保守試験方法を説
明する図である。 ２・・・・・・通信回線、１０・・・・・・通信制御集
積回路、ＬｌａおよびＬｌｂならびにＬ２ｃおよびＬ２
ｄ・・・・・・信号処理。 出斬人 ヤマハ株式会社 第 図 ｄ 第３図 １り 第４図 １り 第５図 第６図 第７図
において用いられる保守試験方法を説明する図、第２図
は同実施例の実施手順を示すフローチャート、第３Ｕｇ
Ｊは同実施例におけるループバックスイッチ機能を実現
する具体的回路の回路図、第４図はこの発明の第２およ
び第５および第７の実施例において用いられる保守試験
方法を説明する図、第５図はこの発明の第３〜第７の実
施例において用いられる保守試験方法を説明する図、第
６図は従来から用いられている通信システムの保守試験
方法であり、かつ、本発明の第３および第６および第７
の実施例において用いられる保守試験方法を説明する図
、第７図は従来周知の通信システムの保守試験方法を説
明する図である。 ２・・・・・・通信回線、１０・・・・・・通信制御集
積回路、ＬｌａおよびＬｌｂならびにＬ２ｃおよびＬ２
ｄ・・・・・・信号処理。 出斬人 ヤマハ株式会社 第 図 ｄ 第３図 １り 第４図 １り 第５図 第６図 第７図
Claims (7)
- （１）通信回線を介して外部との通信を行う通信ユニッ
トであって、通常モード時は、通信回線からの受信信号
を処理すると共に、該受信信号に対する応答信号あるい
は外部への送信信号を通信回線へ出力する通信制御集積
回路および該集積回路を含む通信システムの保守試験方
法において、保守試験モード時、 前記受信信号が前記集積回路内部で処理されるのを阻止
すると共に、前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出
し、 通信テストデータを発生し、この通信テストデータに対
し、通常モード時に送信データの信号処理を行う回路に
よって信号処理を行い、この結果得られる送信テスト信
号を前記通話回線に出力する直前で折り返した後、通常
モード時に受信信号の信号処理を行う回路によって信号
処理を行い、この結果得られる受信データと該通信テス
トデータとの比較試験を行い、さらに、 前記信号処理に係る回路以外かつ試験に係る回路に対し
て、前記試験実行前に、テストデータを入力し、該テス
トデータに対する出力応答を一貫して試験すること を特徴とする保守試験方法。 - （２）通信回線を介して外部との通信を行う通信ユニッ
トに搭載され、該通信ユニットにおける処理の各階層に
対応した階層構造を有する集積回路であって、通常モー
ド時は、通信回線から前記各階層の処理に対応した受信
信号を受信し、該受信信号を処理すると共に、該受信信
号に対する応答信号あるいは外部への送信信号を通信回
線へ出力する通信制御集積回路および該集積回路を含む
通信システムの保守試験方法において、 保守試験モード時、 前記受信信号が前記集積回路内部で処理されるのを阻止
すると共に、前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出
し、 前記各階層毎に、通信テストデータを発生し、これら各
階層の通信テストデータに対し、通常モード時に当該階
層の送信データの信号処理を行う回路によって信号処理
を行い、この結果得られる送信テスト信号を該階層に対
応して設けられた回路内の所定の節点で折り返した後、
通常モード時に当該階層の受信信号の信号処理を行う回
路によって信号処理を行い、この結果得られる受信デー
タと該通信テストデータとの比較試験を行い、さらに、 前記信号処理に係る回路以外かつ試験に係る回路に対し
てテストデータを入力し、該テストデータに対する出力
応答を一貫して試験することを特徴とする請求項第１記
載の保守試験方法。 - （３）通信回線を介して外部との通信を行う通信ユニッ
トに搭載され、該通信ユニットにおける処理の各階層に
対応した階層構造を有する集積回路であって、通常モー
ド時は、通信回線から前記各階層の処理に対応した受信
信号を受信し、該受信信号を処理すると共に、該受信信
号に対する応答信号あるいは外部への送信信号を通信回
線へ出力する通信制御集積回路および該集積回路を含む
通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記集積回路の受信信号をそのまま前記通信回線へ折り
返し送信し、 第２の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、 他の処理階層については、前記通常モード時と同様の処
理を行うこと を特徴とする保守試験方法。 - （４）通信回線を介して外部との通信を行う通信ユニッ
トに搭載され、該通信ユニットにおける処理の各階層に
対応した階層構造を有する集積回路であつて、通常モー
ド時は、通信回線から前記各階層の処理に対応した受信
信号を受信し、該受信信号を処理すると共に、該受信信
号に対する応答信号あるいは外部への送信信号を通信回
線へ出力する通信制御集積回路および該集積回路を含む
通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行い
、 第２の保守試験モード時は、 請求項第１記載の保守試験を行うこと を特徴とする請求項第１記載の保守試験方法。 - （５）通信回線を介して外部との通信を行う通信ユニッ
トに搭載され、該通信ユニットにおける処理の各階層に
対応した階層構造を有する集積回路であって、通常モー
ド時は、通信回線から前記各階層の処理に対応した受信
信号を受信し、該受信信号を処理すると共に、該受信信
号に対する応答信号あるいは外部への送信信号を通信回
線へ出力する通信制御集積回路および該集積回路を含む
通信システムの保守試験方法において、 第１の保守試験モード時、 前記各階層の中の特定の階層については、前記受信信号
の中の該階層と対応する信号を当該回路によって信号処
理して前記通信回線へ折り返し送信し、また、他の処理
階層については、前記通常モード時と同様の処理を行い
、 第２の保守試験モード時は、 請求項第２記載の保守試験を行うこと を特徴とする請求項第２記載の保守試験方法。 - （６）前記請求項第１記載の保守試験および請求項第３
記載の保守試験を共に実施すること を特徴とする保守試験方法。 - （７）前記請求項第２記載の保守試験および請求項第３
記載の保守試験を共に実施すること を特徴とする保守試験方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63307568A JP2635733B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 保守試験方法 |
| US08/454,845 US5737317A (en) | 1988-12-05 | 1995-05-31 | Communication system testing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63307568A JP2635733B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 保守試験方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7078024A Division JP2560655B2 (ja) | 1995-04-03 | 1995-04-03 | 保守試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02153655A true JPH02153655A (ja) | 1990-06-13 |
| JP2635733B2 JP2635733B2 (ja) | 1997-07-30 |
Family
ID=17970643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63307568A Expired - Fee Related JP2635733B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 保守試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2635733B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1319308C (zh) * | 1997-02-28 | 2007-05-30 | 高通股份有限公司 | 用于测试通信系统的方法和设备 |
| US7280620B2 (en) | 2002-10-18 | 2007-10-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic device including image forming apparatus |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5685956A (en) * | 1979-12-15 | 1981-07-13 | Ricoh Co Ltd | Communication equipment |
| JPS6342252A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-23 | Tokyo Electric Co Ltd | 自己診断機能付端末機 |
-
1988
- 1988-12-05 JP JP63307568A patent/JP2635733B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5685956A (en) * | 1979-12-15 | 1981-07-13 | Ricoh Co Ltd | Communication equipment |
| JPS6342252A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-23 | Tokyo Electric Co Ltd | 自己診断機能付端末機 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1319308C (zh) * | 1997-02-28 | 2007-05-30 | 高通股份有限公司 | 用于测试通信系统的方法和设备 |
| US7280620B2 (en) | 2002-10-18 | 2007-10-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic device including image forming apparatus |
| US7522662B2 (en) | 2002-10-18 | 2009-04-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic device including image forming apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2635733B2 (ja) | 1997-07-30 |
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