JP2635733B2 - 保守試験方法 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は通信制御集積回路およびこれを含む通信シ
ステムの保守試験方法に関する。 「従来の技術」 端末装置、交換機等を通信回線を介して接続してなる
通信システムにおいて、システムを構成する各部の保守
試験が実施される。 第６図および第７図は従来の通信システムの保守試験
を示したもので、CCITT（国際電信電話諮問委員会）勧
告に基づくループパック試験（折り返し試験）の実施態
様が例示されている。第６図および第７図において、１
は端末装置（TE;Terminal Equipment）であり、内蔵さ
れた通信制御集積回路の制御により外部との通信を行
う。この端末装置１は、通信回線２を介して網終端装置
（NT;Network Termination）３と接続される。そし
て、さらに網終端装置３は通信回線を介して交換機へ接
続される。 第６図および第７図の通信システム、時分割多重通信
システムであり、各通信ユニット（端末装置１、網終端
装置３等）は所定時間（フレーム）単位で同期化されて
おり、１フレーム250μＳ内を構成する48個のタイムス
ロットの中の空いているタイスロットを利用して他の通
信ユニットとの通信を行う。 保守試験が開始されると、端末装置１は、内部の信号
経路が切り換えられ、第６図に示すようにループバック
動作を行う。すなわち、交換機側から下り回線2aを介し
て信号B1、B2およびＤが送られ受信端1aに入力される
と、これらの信号はそのまま送信端1bから出力され、上
り回線2bを介して交換機側に折り返し送信される。ここ
で、信号B1、B2およびＤの各名称は、これらの信号が上
記フレーム内において占有するタイムスロット位置（チ
ャネル）に対応して付けたものである。そして、交換機
側では、端末装置１から送り返されて来る信号が検出さ
れ、交換機側から端末装置１に至る通信経路の障害の有
無が判定される。 また、第７図は、折り返し試験中、入力された信号
B1、B2、Ｄに対して、通常モード時に行う信号処理L1a
を実施し、その結果を確認するものであり、この試験に
より信号処理L1aに係る回路の障害の有無が判定され
る。 「発明が解決しようとする課題」 ところで、従来は、通信システムにおいて、交換機側
から端末装置１に至るまでの通信経路の保守試験あるい
は端末装置１に信号が入力されるか否かの保守試験は行
われていたが、端末装置１内部の障害の有無を判定する
保守試験は行われていなかった。このため、端末装置１
内部に障害が発生した場合に、その障害箇所を明確に診
断することができないという問題があった。 この発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、通
信機能を司る集積回路を有する端末装置およびその端末
装置を含む通信システムの障害箇所を明確に診断するこ
とが可能な保守試験方法を提供することを目的としてい
る。 「課題を解決するための手段」 上記課題を解決するため、第１の発明は、通信回線を
介して外部との通信を行う通信ユニットであって、通常
モード時に処理開始信号を受けた場合、通信回線からの
受信信号を処理すると共に、該受信信号に応答信号ある
いは外部への送信信号を通信回線へ出力する通信制御集
積回路および該通信制御集積回路を含む通信システムの
保守試験方法において、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記
通常モードから保守試験モードに切り換えられると、 前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共
に、前記集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態
とし、 前記集積回路の送信信号をその集積回路内部で受信信
号として折り返すループバック経路を形成し、 通信テストデータおよび通信試験を行うためのプログ
ラムを記憶する記憶回路の試験を行い、 この試験の後、前記通信テストデータを前記記憶回路
から読み出し、この通信テストデータに対し、通常モー
ド時に送信データの信号処理を行う回路によって信号処
理を行った後、前記ループバック経路を介して、通常モ
ード時に受信信号の信号処理を行う回路へ伝送し、その
信号処理を行った結果得られる受信データと該通信テス
トデータとの比較試験を行うことを特徴とする。 また、第２の発明は、前記記憶回路はランダムアクセ
スメモリであり、前記記憶回路の試験として、このラン
ダムアクセスメモリにテストデータを書き込み、その書
き込まれたデータを読み出すことにより、テストデータ
の書き込みおよび読み出しの一致不一致を検出すること
によって、前記ランダムアクセスメモリの記憶動作を判
定する第１項記載の保守試験方法である。 また、第３の発明は、前記記憶回路は読み出し専用メ
モリであり、前記記憶回路の試験として、この読み出し
専用メモリ内に記憶されている記憶データを読み出し、
この読み出された記憶データを累積加算し、この結果
と、予め記憶されている累積加算比較値とを比較して読
み出し専用メモリ内の記憶データが正しいか否かを判定
する第１項記載の保守試験方法である。 また、第４の発明は、前記記憶回路がランダムアクセ
スメモリおよび読み出し専用メモリから構成され、 前記記憶回路の試験として、前記ランダムアクセスメ
モリにテストデータを書き込み、その書き込まれたデー
タを読み出すことにより、テストデータの書き込みおよ
び読み出しの一致不一致を検出することによって、前記
ランダムアクセスメモリの記憶動作を判定する過程と、 前記読み出し専用メモリ内に記憶されている記憶デー
タを読み出し、この読み出された記憶データを累積加算
し、この結果と、予め記憶されている累積加算比較値と
を比較して読み出し専用メモリ内の記憶データが正しい
か否かを判定する過程と を共に有することを特徴とする第１項記載の保守試験方
法である。 また、第５の発明は、通信回線を介して外部との通信
を行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおけ
る処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路で
あって、通常モードに処理開始信号を受けた場合、通信
回線からの前記各階層の処理に対応した受信信号を受信
し、該受信信号を処理すると共に、該受信信号に対する
応答信号あるいは外部への送信信号を通信回線へ出力す
る通信制御集積回路および該通信制御集積回路を含む通
信システムの保守試験方法において、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記
通常モードから保守試験モードに切り換えられると、 前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共
に、前記集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態
とし、 前記集積回路の各階層の送信信号をその集積回路内部
で各階層の受信信号として折り返すループバック経路を
形成すると共に、 通信テストデータおよび通信試験を行うためのプログ
ラムを記憶する記憶回路の試験を行い、 この試験後に前記各階層ごとに、前記送信テストデー
タを記憶回路から読み出し、この通信テストデータに対
し、通常モード時に送信データの信号処理を行う回路に
よって信号処理を行った後、前記ループバック経路を介
して、通常モード時に当該階層の受信信号の信号処理を
行う回路へ伝送し、その信号処理を行った結果得られる
受信データと該通信テストデータとの比較試験を行うこ
とを特徴としている。 「作用」 第１の発明の保守試験方法によれば、モード信号によ
り保守試験モードに切り換えられると、通信制御集積回
路は、処理開始信号を受けなくともイネーブル状態とな
り、同時に外部通信要求無信号を送出し、外部との通信
を遮断する。そして、ループバック経路を形成し、通信
テストデータおよび通信試験を行うためのプログラムを
記憶する記憶回路の試験を行い、この記憶回路の試験の
後、通信テストデータを記憶回路から読み出し、それを
用いて集積回路内部の通信試験を行う。このため、通信
制御集積回路における受信信号の処理が正常に行われる
か否かが判定されると共に、その他の回路各部の機能が
判定される。 また、第２の発明の保守試験方法によれば、ランダム
アクセスメモリからなる記憶回路に対してテストデータ
が書き込まれ、その書き込まれたデータが読み出され、
書き込みと読み出しにおいて一致、不一致があるかどう
かを検出するによって記憶回路の試験が行われる。 また、第３の発明の保守試験方法によれば、読み出し
専用メモリからなる記憶回路に記憶されている記憶デー
タが読み出され、読み出された記憶データが累積加算さ
れ、この累積結果と予め記憶されている累積加算比較値
とを比較することによって記憶回路の試験が行われる。 また、第４の発明の保守試験方法によれば、ランダム
アクセスメモリおよび読み出し専用メモリからなる記憶
回路の試験として、第３の発明と同様の過程および第４
の発明と同様の過程とが共になされる。 また、第５の発明の保守試験方法によれば、モード信
号により保守試験モードに切り換えられると、通信制御
集積回路は、イネーブル状態となり、同時に外部通信要
求無信号を送出し、そして、ループバック経路を各階層
毎に形成した後、通信テストデータおよび通信試験を行
うためのプログラムを記憶する記憶回路の試験を行い、
この試験の後、通信テストデータを記憶回路から読み出
し、それを用いて保守試験を行う。このため、各階層毎
に信号処理が正常が否かが判定されると共に、その他の
回路各部の機能が判定される。 「実施例」 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明す
る。
ステムの保守試験方法に関する。 「従来の技術」 端末装置、交換機等を通信回線を介して接続してなる
通信システムにおいて、システムを構成する各部の保守
試験が実施される。 第６図および第７図は従来の通信システムの保守試験
を示したもので、CCITT（国際電信電話諮問委員会）勧
告に基づくループパック試験（折り返し試験）の実施態
様が例示されている。第６図および第７図において、１
は端末装置（TE;Terminal Equipment）であり、内蔵さ
れた通信制御集積回路の制御により外部との通信を行
う。この端末装置１は、通信回線２を介して網終端装置
（NT;Network Termination）３と接続される。そし
て、さらに網終端装置３は通信回線を介して交換機へ接
続される。 第６図および第７図の通信システム、時分割多重通信
システムであり、各通信ユニット（端末装置１、網終端
装置３等）は所定時間（フレーム）単位で同期化されて
おり、１フレーム250μＳ内を構成する48個のタイムス
ロットの中の空いているタイスロットを利用して他の通
信ユニットとの通信を行う。 保守試験が開始されると、端末装置１は、内部の信号
経路が切り換えられ、第６図に示すようにループバック
動作を行う。すなわち、交換機側から下り回線2aを介し
て信号B1、B2およびＤが送られ受信端1aに入力される
と、これらの信号はそのまま送信端1bから出力され、上
り回線2bを介して交換機側に折り返し送信される。ここ
で、信号B1、B2およびＤの各名称は、これらの信号が上
記フレーム内において占有するタイムスロット位置（チ
ャネル）に対応して付けたものである。そして、交換機
側では、端末装置１から送り返されて来る信号が検出さ
れ、交換機側から端末装置１に至る通信経路の障害の有
無が判定される。 また、第７図は、折り返し試験中、入力された信号
B1、B2、Ｄに対して、通常モード時に行う信号処理L1a
を実施し、その結果を確認するものであり、この試験に
より信号処理L1aに係る回路の障害の有無が判定され
る。 「発明が解決しようとする課題」 ところで、従来は、通信システムにおいて、交換機側
から端末装置１に至るまでの通信経路の保守試験あるい
は端末装置１に信号が入力されるか否かの保守試験は行
われていたが、端末装置１内部の障害の有無を判定する
保守試験は行われていなかった。このため、端末装置１
内部に障害が発生した場合に、その障害箇所を明確に診
断することができないという問題があった。 この発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、通
信機能を司る集積回路を有する端末装置およびその端末
装置を含む通信システムの障害箇所を明確に診断するこ
とが可能な保守試験方法を提供することを目的としてい
る。 「課題を解決するための手段」 上記課題を解決するため、第１の発明は、通信回線を
介して外部との通信を行う通信ユニットであって、通常
モード時に処理開始信号を受けた場合、通信回線からの
受信信号を処理すると共に、該受信信号に応答信号ある
いは外部への送信信号を通信回線へ出力する通信制御集
積回路および該通信制御集積回路を含む通信システムの
保守試験方法において、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記
通常モードから保守試験モードに切り換えられると、 前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共
に、前記集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態
とし、 前記集積回路の送信信号をその集積回路内部で受信信
号として折り返すループバック経路を形成し、 通信テストデータおよび通信試験を行うためのプログ
ラムを記憶する記憶回路の試験を行い、 この試験の後、前記通信テストデータを前記記憶回路
から読み出し、この通信テストデータに対し、通常モー
ド時に送信データの信号処理を行う回路によって信号処
理を行った後、前記ループバック経路を介して、通常モ
ード時に受信信号の信号処理を行う回路へ伝送し、その
信号処理を行った結果得られる受信データと該通信テス
トデータとの比較試験を行うことを特徴とする。 また、第２の発明は、前記記憶回路はランダムアクセ
スメモリであり、前記記憶回路の試験として、このラン
ダムアクセスメモリにテストデータを書き込み、その書
き込まれたデータを読み出すことにより、テストデータ
の書き込みおよび読み出しの一致不一致を検出すること
によって、前記ランダムアクセスメモリの記憶動作を判
定する第１項記載の保守試験方法である。 また、第３の発明は、前記記憶回路は読み出し専用メ
モリであり、前記記憶回路の試験として、この読み出し
専用メモリ内に記憶されている記憶データを読み出し、
この読み出された記憶データを累積加算し、この結果
と、予め記憶されている累積加算比較値とを比較して読
み出し専用メモリ内の記憶データが正しいか否かを判定
する第１項記載の保守試験方法である。 また、第４の発明は、前記記憶回路がランダムアクセ
スメモリおよび読み出し専用メモリから構成され、 前記記憶回路の試験として、前記ランダムアクセスメ
モリにテストデータを書き込み、その書き込まれたデー
タを読み出すことにより、テストデータの書き込みおよ
び読み出しの一致不一致を検出することによって、前記
ランダムアクセスメモリの記憶動作を判定する過程と、 前記読み出し専用メモリ内に記憶されている記憶デー
タを読み出し、この読み出された記憶データを累積加算
し、この結果と、予め記憶されている累積加算比較値と
を比較して読み出し専用メモリ内の記憶データが正しい
か否かを判定する過程と を共に有することを特徴とする第１項記載の保守試験方
法である。 また、第５の発明は、通信回線を介して外部との通信
を行う通信ユニットに搭載され、該通信ユニットにおけ
る処理の各階層に対応した階層構造を有する集積回路で
あって、通常モードに処理開始信号を受けた場合、通信
回線からの前記各階層の処理に対応した受信信号を受信
し、該受信信号を処理すると共に、該受信信号に対する
応答信号あるいは外部への送信信号を通信回線へ出力す
る通信制御集積回路および該通信制御集積回路を含む通
信システムの保守試験方法において、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記
通常モードから保守試験モードに切り換えられると、 前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共
に、前記集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態
とし、 前記集積回路の各階層の送信信号をその集積回路内部
で各階層の受信信号として折り返すループバック経路を
形成すると共に、 通信テストデータおよび通信試験を行うためのプログ
ラムを記憶する記憶回路の試験を行い、 この試験後に前記各階層ごとに、前記送信テストデー
タを記憶回路から読み出し、この通信テストデータに対
し、通常モード時に送信データの信号処理を行う回路に
よって信号処理を行った後、前記ループバック経路を介
して、通常モード時に当該階層の受信信号の信号処理を
行う回路へ伝送し、その信号処理を行った結果得られる
受信データと該通信テストデータとの比較試験を行うこ
とを特徴としている。 「作用」 第１の発明の保守試験方法によれば、モード信号によ
り保守試験モードに切り換えられると、通信制御集積回
路は、処理開始信号を受けなくともイネーブル状態とな
り、同時に外部通信要求無信号を送出し、外部との通信
を遮断する。そして、ループバック経路を形成し、通信
テストデータおよび通信試験を行うためのプログラムを
記憶する記憶回路の試験を行い、この記憶回路の試験の
後、通信テストデータを記憶回路から読み出し、それを
用いて集積回路内部の通信試験を行う。このため、通信
制御集積回路における受信信号の処理が正常に行われる
か否かが判定されると共に、その他の回路各部の機能が
判定される。 また、第２の発明の保守試験方法によれば、ランダム
アクセスメモリからなる記憶回路に対してテストデータ
が書き込まれ、その書き込まれたデータが読み出され、
書き込みと読み出しにおいて一致、不一致があるかどう
かを検出するによって記憶回路の試験が行われる。 また、第３の発明の保守試験方法によれば、読み出し
専用メモリからなる記憶回路に記憶されている記憶デー
タが読み出され、読み出された記憶データが累積加算さ
れ、この累積結果と予め記憶されている累積加算比較値
とを比較することによって記憶回路の試験が行われる。 また、第４の発明の保守試験方法によれば、ランダム
アクセスメモリおよび読み出し専用メモリからなる記憶
回路の試験として、第３の発明と同様の過程および第４
の発明と同様の過程とが共になされる。 また、第５の発明の保守試験方法によれば、モード信
号により保守試験モードに切り換えられると、通信制御
集積回路は、イネーブル状態となり、同時に外部通信要
求無信号を送出し、そして、ループバック経路を各階層
毎に形成した後、通信テストデータおよび通信試験を行
うためのプログラムを記憶する記憶回路の試験を行い、
この試験の後、通信テストデータを記憶回路から読み出
し、それを用いて保守試験を行う。このため、各階層毎
に信号処理が正常が否かが判定されると共に、その他の
回路各部の機能が判定される。 「実施例」 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明す
る。
【実施例１】 第１図はこの発明の第１の実施例による保守試験方法
を示す図である。この図において、10は端末装置１（第
６図および第７図）に搭載された通信制御集積回路を示
す。以下、本実施例による集積回路10の試験方法を第２
図のフローチャートを参照して説明する。 この集積回路10に対して上位の処理を司る制御ユニッ
トによって試験モードが起動されると、集積回路10内の
信号経路が切り換えられ、下り回線2aを介して信号B1、
B2、Ｄが受信端1aに入力されてもこれらの信号を処理し
ないようにされる。また、上り回線2bへは、集積回路10
から外部通信要求無信号ECRが送出される。これによ
り、集積回路10は通信回線２に接続された他の通信ユニ
ットとの通信が断たれる（ステップS1）。 そして、集積回路10内ではステップS2〜S7に示す手順
で内部RAM（ランダムアクセスメモリ）の試験が行われ
る。まず、ステップS2では、内部RAMに対してテストデ
ータを書き込む。そして、ステップS3で内部RAMからデ
ータを読み出し、ステップS4でステップS2における書込
データとステップS3における読出データとを比較する。
そして、この比較の結果、両者が一致している場合はス
テップS5に進み、不一致の場合はステップS7に進む。ス
テップS5では、内部RAMの全アドレスの試験が終わった
か否かを判断する。そして、判断結果が「NO」の場合は
新たなアドレスを設定してステップS2に戻り、「YES」
の場合はステップS6に進む。そして、ステップS6に進む
と、内部RAMの機能が正常であると判定する。一方、ス
テップS7に進んだ場合は、内部RAMのいずれかのアドレ
スに異常があると判定する。 次にステップS8〜S14に示す手順で内部ROM（リードオ
ンリメモリ）の試験を行う。ステップS8では、内部ROM
からデータを１ワード読み出す。そして、ステップS9
で、この読出データをワークレジスタに累積加算する。
次にステップS10に進むと、ROM内のすべての試験対象ア
ドレスについて上記処理を実施したか否かを判断する。
そして、判断結果が「YES」の場合はステップS11に進
み、「NO」の場合はステップS8に戻る。ステップS11に
進むと、ROM内の最終アドレスからチェック用データChe
ck Sumを読み出す。ここで、データCheck Sumとして
は、ROM内の他のアドレスに格納されている全データの
合計値が書き込まれている。そして、ステップS12に進
むと、このデータCheck Sumと、ワークレジスタの記憶
データとが比較される。そして、比較の結果、両者が一
致した場合は内部ROMは正常であると判定し（ステップS
13）、不一致の場合はROM内のいずれかのアドレスに異
常があると判定する（ステップS14）。 次にステップS15〜S21に示す手順に従って、この集積
回路10の受信時における信号処理機能L1aおよび送信時
における信号処理機能L1b（共に第１図参照）の障害判
定を行うループバック試験を実施する。このループバッ
ク試験は、送信信号が上り回線2bに出力される手前で折
り返し、受信信号処理L1aに入力するループバックスイ
ッチ機能を必要とする。 第３図はこのループバックスイッチ機能を実現する具
体的回路を示したものである。通常モード時、下り回線
2aを介して受信された受信信号B1、B2、Ｄは、波形変換
回路11によってAMI（Alternate Mark Ivesion）波形か
らNRZ（Non Return to Zero）波形に変換された後、セ
レクタ12を介し、回路13に入力される。そして、信号処
理L1aが行われ、データB1a、B2aおよびＤとして受理さ
れる。一方、送信データB1b、B2bおよびDbは、信号処理
回路14によって信号処理L1bが行われ、ORゲート15を介
し、波形変換回路16に入力される。そして、この波形変
換回路16によって、NRZ波形からAMI波形へ変換され、送
信信号B1、B2、Ｄとして上り回線2bに送出される。 通常モードから試験モードになると、試験モード指定
信号TESTが“1"となる。この結果、ORゲート17の出力が
“1"となるので、ORゲート15の出力が強制的に“1"とさ
れる。これにより、以後、“1"が時間的に連続した信
号、すなわち、外部通信要求無信号ECRが波形変換回路1
6から上り回線2bに送出される。このようにして、通信
制御集積回路10は外部との通信が断たれる（前述ステッ
プS1）。 ところで、この集積回路10は、外部との通信を行う場
合に、外部から処理開始信号RUNが入力されることによ
って初めて通常の処理が可能となるように構成されてい
る。すなわち、処理開始信号RUNが入力されると、検出
信号RRUNが“1"となり、これにより通常の処理に係る各
コントロールがイネーブルされ、所定の動作が得られる
ようになっている。ところが、試験が開始されて外部に
対して外部通信要求無信号ECRが送出されると、外部か
ら処理開始信号RUNが入力されることがないので、通信
機能がイネーブルされなくなってしまう。そこで、この
集積回路10では、テスト信号TESTが“1"となった場合
は、ORゲート18を介して強制的にイネーブル信号
（“1"）を各コントローラに送出し、各コントローラが
通常モードの場合と同様の動作をするようにしている。 ステップS15において、ループバック指定が行われる
と、通信テストデータが生成され、ループバック試験が
スタンバイされる。この通信テストデータに対して、回
路14によって信号処理L1bが行われる（ステップS16）。
そして、遅延回路19によって遅延され、セレクタ12を介
して回路13に入力される。そして、回路13によって信号
処理L1aが行われ、受信データとして受理される（ステ
ップ17）。 ここで、遅延回路19は、通信テストデータに対して信
号処理L1bおよびL1aの行った場合に発生するビット位相
のずれを補償するために設けられている。すなわち、前
述したCCITT勧告の通信プロトコルにおいて、端末装置
１（第６図および第７図）が下り回線2aを介して信号を
受信した場合、受信信号の位相よりも２ビット相当の時
間位相を遅らせて上り回線2bに信号を送出するように取
り決められており、この通信制御集積回路10もそれに準
拠した構成となっている。従って、通信テストデータを
信号処理L1bおよびL1aを介した後、元のデータと比較す
ると、処理が正常であるにも拘わらず２ビットの位相ず
れが生じてしまう。そこで、この集積回路10では、ルー
プバック試験時は遅延回路19によって通信テストデータ
を遅延させ、信号処理の前後でデータの対応が取れるよ
うにしている。 次にステップS18に進むと、ステップS16において送信
した通信テストデータB1b、B2bおよびDbとステップS17
において受信したデータB1a、B2aおよびDaとの比較を行
う。そして、比較の結果、両者が一致した場合はステッ
プS19に進み、不一致の場合はステップS21に進む。次に
ステップS19に進むと、通信テストデータの全てについ
て上記試験を実施したか否かを判断し、判断結果が「N
O」の場合はステップS16に戻り、判断結果が「YES」の
場合はステップS20に進む。そして、ステップS20に進む
と、信号処理機能L1bおよびL1aが正常であると判断す
る。一方、ステップS21に進んだ場合は、信号処理機能L
1bおよびL1aのいずれかに障害があると判定する。
を示す図である。この図において、10は端末装置１（第
６図および第７図）に搭載された通信制御集積回路を示
す。以下、本実施例による集積回路10の試験方法を第２
図のフローチャートを参照して説明する。 この集積回路10に対して上位の処理を司る制御ユニッ
トによって試験モードが起動されると、集積回路10内の
信号経路が切り換えられ、下り回線2aを介して信号B1、
B2、Ｄが受信端1aに入力されてもこれらの信号を処理し
ないようにされる。また、上り回線2bへは、集積回路10
から外部通信要求無信号ECRが送出される。これによ
り、集積回路10は通信回線２に接続された他の通信ユニ
ットとの通信が断たれる（ステップS1）。 そして、集積回路10内ではステップS2〜S7に示す手順
で内部RAM（ランダムアクセスメモリ）の試験が行われ
る。まず、ステップS2では、内部RAMに対してテストデ
ータを書き込む。そして、ステップS3で内部RAMからデ
ータを読み出し、ステップS4でステップS2における書込
データとステップS3における読出データとを比較する。
そして、この比較の結果、両者が一致している場合はス
テップS5に進み、不一致の場合はステップS7に進む。ス
テップS5では、内部RAMの全アドレスの試験が終わった
か否かを判断する。そして、判断結果が「NO」の場合は
新たなアドレスを設定してステップS2に戻り、「YES」
の場合はステップS6に進む。そして、ステップS6に進む
と、内部RAMの機能が正常であると判定する。一方、ス
テップS7に進んだ場合は、内部RAMのいずれかのアドレ
スに異常があると判定する。 次にステップS8〜S14に示す手順で内部ROM（リードオ
ンリメモリ）の試験を行う。ステップS8では、内部ROM
からデータを１ワード読み出す。そして、ステップS9
で、この読出データをワークレジスタに累積加算する。
次にステップS10に進むと、ROM内のすべての試験対象ア
ドレスについて上記処理を実施したか否かを判断する。
そして、判断結果が「YES」の場合はステップS11に進
み、「NO」の場合はステップS8に戻る。ステップS11に
進むと、ROM内の最終アドレスからチェック用データChe
ck Sumを読み出す。ここで、データCheck Sumとして
は、ROM内の他のアドレスに格納されている全データの
合計値が書き込まれている。そして、ステップS12に進
むと、このデータCheck Sumと、ワークレジスタの記憶
データとが比較される。そして、比較の結果、両者が一
致した場合は内部ROMは正常であると判定し（ステップS
13）、不一致の場合はROM内のいずれかのアドレスに異
常があると判定する（ステップS14）。 次にステップS15〜S21に示す手順に従って、この集積
回路10の受信時における信号処理機能L1aおよび送信時
における信号処理機能L1b（共に第１図参照）の障害判
定を行うループバック試験を実施する。このループバッ
ク試験は、送信信号が上り回線2bに出力される手前で折
り返し、受信信号処理L1aに入力するループバックスイ
ッチ機能を必要とする。 第３図はこのループバックスイッチ機能を実現する具
体的回路を示したものである。通常モード時、下り回線
2aを介して受信された受信信号B1、B2、Ｄは、波形変換
回路11によってAMI（Alternate Mark Ivesion）波形か
らNRZ（Non Return to Zero）波形に変換された後、セ
レクタ12を介し、回路13に入力される。そして、信号処
理L1aが行われ、データB1a、B2aおよびＤとして受理さ
れる。一方、送信データB1b、B2bおよびDbは、信号処理
回路14によって信号処理L1bが行われ、ORゲート15を介
し、波形変換回路16に入力される。そして、この波形変
換回路16によって、NRZ波形からAMI波形へ変換され、送
信信号B1、B2、Ｄとして上り回線2bに送出される。 通常モードから試験モードになると、試験モード指定
信号TESTが“1"となる。この結果、ORゲート17の出力が
“1"となるので、ORゲート15の出力が強制的に“1"とさ
れる。これにより、以後、“1"が時間的に連続した信
号、すなわち、外部通信要求無信号ECRが波形変換回路1
6から上り回線2bに送出される。このようにして、通信
制御集積回路10は外部との通信が断たれる（前述ステッ
プS1）。 ところで、この集積回路10は、外部との通信を行う場
合に、外部から処理開始信号RUNが入力されることによ
って初めて通常の処理が可能となるように構成されてい
る。すなわち、処理開始信号RUNが入力されると、検出
信号RRUNが“1"となり、これにより通常の処理に係る各
コントロールがイネーブルされ、所定の動作が得られる
ようになっている。ところが、試験が開始されて外部に
対して外部通信要求無信号ECRが送出されると、外部か
ら処理開始信号RUNが入力されることがないので、通信
機能がイネーブルされなくなってしまう。そこで、この
集積回路10では、テスト信号TESTが“1"となった場合
は、ORゲート18を介して強制的にイネーブル信号
（“1"）を各コントローラに送出し、各コントローラが
通常モードの場合と同様の動作をするようにしている。 ステップS15において、ループバック指定が行われる
と、通信テストデータが生成され、ループバック試験が
スタンバイされる。この通信テストデータに対して、回
路14によって信号処理L1bが行われる（ステップS16）。
そして、遅延回路19によって遅延され、セレクタ12を介
して回路13に入力される。そして、回路13によって信号
処理L1aが行われ、受信データとして受理される（ステ
ップ17）。 ここで、遅延回路19は、通信テストデータに対して信
号処理L1bおよびL1aの行った場合に発生するビット位相
のずれを補償するために設けられている。すなわち、前
述したCCITT勧告の通信プロトコルにおいて、端末装置
１（第６図および第７図）が下り回線2aを介して信号を
受信した場合、受信信号の位相よりも２ビット相当の時
間位相を遅らせて上り回線2bに信号を送出するように取
り決められており、この通信制御集積回路10もそれに準
拠した構成となっている。従って、通信テストデータを
信号処理L1bおよびL1aを介した後、元のデータと比較す
ると、処理が正常であるにも拘わらず２ビットの位相ず
れが生じてしまう。そこで、この集積回路10では、ルー
プバック試験時は遅延回路19によって通信テストデータ
を遅延させ、信号処理の前後でデータの対応が取れるよ
うにしている。 次にステップS18に進むと、ステップS16において送信
した通信テストデータB1b、B2bおよびDbとステップS17
において受信したデータB1a、B2aおよびDaとの比較を行
う。そして、比較の結果、両者が一致した場合はステッ
プS19に進み、不一致の場合はステップS21に進む。次に
ステップS19に進むと、通信テストデータの全てについ
て上記試験を実施したか否かを判断し、判断結果が「N
O」の場合はステップS16に戻り、判断結果が「YES」の
場合はステップS20に進む。そして、ステップS20に進む
と、信号処理機能L1bおよびL1aが正常であると判断す
る。一方、ステップS21に進んだ場合は、信号処理機能L
1bおよびL1aのいずれかに障害があると判定する。
【実施例２】 第４図はこの発明の第２の実施例による保守試験方法
を示すものである。通常モードにおいて、通信回線２に
よって通信される信号B1、B2およびＤには、集積回路10
の下位階層の処理に対応する信号と上位階層の処理に対
応する信号とが含まれる。第４図において、処理L1aお
よびL1bは集積回路10が行う処理の内、下位階層の処理
に属し、処理L2cおよびL2dは上位階層の処理に属する。
本実施例では上位／下位各々の信号処理について回路内
に折り返し点を設け、上位の信号処理機能と下位の信号
処理機能とを各々試験するものである。すなわち、本実
施例では、第４図に示すように、Ｄチャネル信号処理に
ついては、通信テストデータDdに対して信号処理L2dを
行った時点で折り返し、信号処理L2cを行って応答Dcを
得て元のデータを比較する。なお、このループバック試
験の具体的実施方法としは前述した第１実施例と同様の
方法を用いる。また、本実施例では、第１実施例と同
様、内部RAMおよび内部ROMの試験を行う。
を示すものである。通常モードにおいて、通信回線２に
よって通信される信号B1、B2およびＤには、集積回路10
の下位階層の処理に対応する信号と上位階層の処理に対
応する信号とが含まれる。第４図において、処理L1aお
よびL1bは集積回路10が行う処理の内、下位階層の処理
に属し、処理L2cおよびL2dは上位階層の処理に属する。
本実施例では上位／下位各々の信号処理について回路内
に折り返し点を設け、上位の信号処理機能と下位の信号
処理機能とを各々試験するものである。すなわち、本実
施例では、第４図に示すように、Ｄチャネル信号処理に
ついては、通信テストデータDdに対して信号処理L2dを
行った時点で折り返し、信号処理L2cを行って応答Dcを
得て元のデータを比較する。なお、このループバック試
験の具体的実施方法としは前述した第１実施例と同様の
方法を用いる。また、本実施例では、第１実施例と同
様、内部RAMおよび内部ROMの試験を行う。
【実施例３】 次に、この発明の第３の実施例を説明する。本実施例
では、第１の保守試験モード時、第６図に示すように、
下り回線2aを介して入力された信号をそのまま上り回線
に折り返し送出する。これにより、交換機側において、
端末装置１に至るまでの通信経路の障害の有無が判定さ
れる。そして、第２の保守試験モードでは、第５図に示
すように、受信信号に対して信号処理L1aを行うことに
よって信号B1a、B2a、Daが得られると、信号B1a、B2aに
ついては、信号処理L1bを行って上り回線2bに折り返
す。これにより、交換機側によって、集積回路10におけ
る信号処理機能L1aおよびL1bの障害診断が行われる。一
方、信号Daについては通常モード時と同様に処理され、
その結果得られる信号Dbに対して信号処理L1bが行わ
れ、上り回線2bに送出される。従って、本試験モードで
は、信号Ｄによる通信は通常モード時と同様に支障なく
行われる。
では、第１の保守試験モード時、第６図に示すように、
下り回線2aを介して入力された信号をそのまま上り回線
に折り返し送出する。これにより、交換機側において、
端末装置１に至るまでの通信経路の障害の有無が判定さ
れる。そして、第２の保守試験モードでは、第５図に示
すように、受信信号に対して信号処理L1aを行うことに
よって信号B1a、B2a、Daが得られると、信号B1a、B2aに
ついては、信号処理L1bを行って上り回線2bに折り返
す。これにより、交換機側によって、集積回路10におけ
る信号処理機能L1aおよびL1bの障害診断が行われる。一
方、信号Daについては通常モード時と同様に処理され、
その結果得られる信号Dbに対して信号処理L1bが行わ
れ、上り回線2bに送出される。従って、本試験モードで
は、信号Ｄによる通信は通常モード時と同様に支障なく
行われる。
【実施例４】 次に本発明の第４実施例を説明する。本実施例では、
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第
５図に示すループバック試験が行われ、集積回路10の送
受信機能あるいは集積回路10に至るまでの通信経路に障
害があった場合にそれが検出される。また、第２の保守
試験モード時は前述の第１実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路10内の信号処理機能の障害が診断されると
共に、RAM、ROM等のその他の回路の障害が診断される。
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第
５図に示すループバック試験が行われ、集積回路10の送
受信機能あるいは集積回路10に至るまでの通信経路に障
害があった場合にそれが検出される。また、第２の保守
試験モード時は前述の第１実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路10内の信号処理機能の障害が診断されると
共に、RAM、ROM等のその他の回路の障害が診断される。
【実施例５】 次に本発明の第５実施例を説明する。本実施例では、
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第
５図に示すループバック試験が行われ、集積回路10の送
受信機能あるいは集積回路10に至るまでの通信経路に障
害があった場合にそれが検出される。また、第２の保守
試験モード時は前述の第２実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路10内の信号処理機能の障害が処理の階層別
に診断されると共に、RAM、ROM等のその他の回路の障害
が診断される。
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例における第
５図に示すループバック試験が行われ、集積回路10の送
受信機能あるいは集積回路10に至るまでの通信経路に障
害があった場合にそれが検出される。また、第２の保守
試験モード時は前述の第２実施例と同等の試験が行わ
れ、集積回路10内の信号処理機能の障害が処理の階層別
に診断されると共に、RAM、ROM等のその他の回路の障害
が診断される。
【実施例６】 次に本発明の第６実施例を説明する。本実施例では、
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した
第６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の
保守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行
われる。そして、各試験によって、集積回路10に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路10の送受信機能
の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード時
は前述の第１実施例と同等の試験が行われ、集積回路10
内の信号処理機能の障害が診断されると共に、RAM、ROM
等のその他の回路の障害が診断される。
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した
第６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の
保守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行
われる。そして、各試験によって、集積回路10に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路10の送受信機能
の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード時
は前述の第１実施例と同等の試験が行われ、集積回路10
内の信号処理機能の障害が診断されると共に、RAM、ROM
等のその他の回路の障害が診断される。
【実施例７】 次に本発明の第７実施例を説明する。本実施例では、
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した
第６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の
保守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行
われる。そして、各試験によって、集積回路10に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路10の送受信機能
の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード時
は第２実施例と同等の試験が行われ、集積回路10内の信
号処理機能の障害が処理の階層別に診断されると共に、
RAM、ROM等のその他の回路の障害が診断される。 「発明の効果」 以上説明したように、この発明によれば、通信制御集
積回路あるいはこの集積回路を含む通信システムにおい
て障害が発生した場合に、障害箇所およびその内容が明
確に診断されるという効果が得られ、さらに、通常モー
ドおよび保守試験モードの状態切換を効率よく行うこと
ができるという効果も得られる。 また、比較試験による通信試験を行う前に、通信テス
トデータおよび通信試験を行うためのプログラムを記憶
する記憶回路の試験を行うので、常に、正常な通信テス
トデータおよび通信試験を行うためのプログラムを用い
て、通信試験を行うことができるという効果も得られ
る。 さらに、記憶回路の試験と比較試験による通信試験と
が行われる保守試験モードにおいては、通信回線へ外部
通信要求無信号が送出されるので、外部通信要求無信号
を監視することによって外部から通信制御集積回路が通
常モードから保守試験モードに切り換えられたことおよ
び保守試験モードから通常モードに切り換えられたこと
を即座に検知することができ、通信システムにおける当
該通信制御集積回路に対する通信をいち早く停止および
復帰させることができるという効果も得られる。
第１の保守試験モード時、前述の第３実施例で説明した
第６図に示すループバック試験が行われ、次いで第２の
保守試験モード時、第５図に示すループバック試験が行
われる。そして、各試験によって、集積回路10に至るま
での通信経路の障害診断および集積回路10の送受信機能
の障害診断が行われる。また、第３の保守試験モード時
は第２実施例と同等の試験が行われ、集積回路10内の信
号処理機能の障害が処理の階層別に診断されると共に、
RAM、ROM等のその他の回路の障害が診断される。 「発明の効果」 以上説明したように、この発明によれば、通信制御集
積回路あるいはこの集積回路を含む通信システムにおい
て障害が発生した場合に、障害箇所およびその内容が明
確に診断されるという効果が得られ、さらに、通常モー
ドおよび保守試験モードの状態切換を効率よく行うこと
ができるという効果も得られる。 また、比較試験による通信試験を行う前に、通信テス
トデータおよび通信試験を行うためのプログラムを記憶
する記憶回路の試験を行うので、常に、正常な通信テス
トデータおよび通信試験を行うためのプログラムを用い
て、通信試験を行うことができるという効果も得られ
る。 さらに、記憶回路の試験と比較試験による通信試験と
が行われる保守試験モードにおいては、通信回線へ外部
通信要求無信号が送出されるので、外部通信要求無信号
を監視することによって外部から通信制御集積回路が通
常モードから保守試験モードに切り換えられたことおよ
び保守試験モードから通常モードに切り換えられたこと
を即座に検知することができ、通信システムにおける当
該通信制御集積回路に対する通信をいち早く停止および
復帰させることができるという効果も得られる。
第１図はこの発明の第１および第４および第６の実施例
において用いられる保守試験方法を説明する図、第２図
は同実施例の実施手順を示すフローチャート、第３図は
同実施例におけるループバックスイッチ機能を実現する
具体的回路の回路図、第４図はこの発明の第２および第
５および第７の実施例において用いられる保守試験方法
を説明する図、第５図はこの発明の第３〜第７の実施例
において用いられる保守試験方法を説明する図、第６図
は従来から用いられている通信システムの保守試験方法
であり、かつ、本発明の第３および第６および第７の実
施例において用いられる保守試験方法を説明する図、第
７図は従来周知の通信システムの保守試験方法を説明す
る図である。 ２……通信回線、10……通信制御集積回路、L1aおよびL
1bならびにL2cおよびL2d……信号処理。
において用いられる保守試験方法を説明する図、第２図
は同実施例の実施手順を示すフローチャート、第３図は
同実施例におけるループバックスイッチ機能を実現する
具体的回路の回路図、第４図はこの発明の第２および第
５および第７の実施例において用いられる保守試験方法
を説明する図、第５図はこの発明の第３〜第７の実施例
において用いられる保守試験方法を説明する図、第６図
は従来から用いられている通信システムの保守試験方法
であり、かつ、本発明の第３および第６および第７の実
施例において用いられる保守試験方法を説明する図、第
７図は従来周知の通信システムの保守試験方法を説明す
る図である。 ２……通信回線、10……通信制御集積回路、L1aおよびL
1bならびにL2cおよびL2d……信号処理。
Claims (5)
- 【請求項１】通信回線を介して外部との通信を行う通信
ユニットであって、通常モード時に処理開始信号を受け
た場合、通信回線からの受信信号を処理すると共に、該
受信信号に対する応答信号あるいは外部への送信信号を
通信回線へ出力する通信制御集積回路および該通信制御
集積回路を含む通信システムの保守試験方法において、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通
常モードから保守試験モードに切り換えられると、 前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、
前記集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態と
し、 前記集積回路の送信信号をその集積回路内部で受信信号
として折り返すループバック経路を形成し、 通信テストデータおよび通信試験を行うためのプログラ
ムを記憶する記憶回路の試験を行い、 この試験の後、前記通信テストデータを前記記憶回路か
ら読み出し、この通信テストデータに対し、通常モード
時に送信データの信号処理を行う回路によって信号処理
を行った後、前記ループバック経路を介して、通常モー
ド時に受信信号の信号処理を行う回路へ伝送し、その信
号処理を行った結果得られる受信データと該通信テスト
データとの比較試験を行うことを特徴とする保守試験方
法。 - 【請求項２】前記記憶回路はランダムアクセスメモリで
あり、前記記憶回路の試験として、このランダムアクセ
スメモリにテストデータを書き込み、その書き込まれた
データを読み出すことにより、テストデータの書き込み
および読み出しの一致不一致を検出することによって、
前記ランダムアクセスメモリの記憶動作を判定する第１
項記載の保守試験方法。 - 【請求項３】前記記憶回路は読み出し専用メモリであ
り、前記記憶回路の試験として、この読み出し専用メモ
リ内に記憶されている記憶データを読み出し、この読み
出された記憶データを累積加算し、この結果と、予め記
憶されている累積加算比較値とを比較して読み出し専用
メモリ内の記憶データが正しいか否かを判定する第１項
記載の保守試験方法。 - 【請求項４】前記記憶回路がランダムアクセスメモリお
よび読み出し専用メモリから構成され、 前記記憶回路の試験として、前記ランダムアクセスメモ
リにテストデータを書き込み、その書き込まれたデータ
を読み出すことにより、テストデータの書き込みおよび
読み出しの一致不一致を検出することによって、前記ラ
ンダムアクセスメモリの記憶動作を判定する過程と、 前記読み出し専用メモリ内に記憶されている記憶データ
を読み出し、この読み出された記憶データを累積加算
し、この結果と、予め記憶されている累積加算比較値と
を比較して読み出し専用メモリ内の記憶データが正しい
か否かを判定する過程と を共に有することを特徴とする第１項記載の保守試験方
法。 - 【請求項５】通信回線を介して外部との通信を行う通信
ユニットに搭載され、該通信ユニットにおける処理の各
階層に対応した階層構造を有する集積回路であって、通
常モードに処理開始信号を受けた場合、通信回線からの
前記各階層の処理に対応した受信信号を受信し、該受信
信号を処理すると共に、該受信信号に対する応答信号あ
るいは外部への送信信号を通信回線へ出力する通信制御
集積回路および該通信制御集積回路を含む通信システム
の保守試験方法において、 前記通信制御集積回路は、モード信号に応じて、前記通
常モードから保守試験モードに切り換えられると、 前記通信回線へ外部通信要求無信号を送出すると共に、
前記集積回路の内部回路を強制的にイネーブル状態と
し、 前記集積回路の各階層の送信信号をその集積回路内部で
各階層の受信信号として折り返すループバック経路を形
成すると共に、 通信テストデータおよび通信試験を行うためのプログラ
ムを記憶する記憶回路の試験を行い、 この試験後に前記各階層ごとに、前記送信テストデータ
を記憶回路から読み出し、この通信テストデータに対
し、通常モード時に送信データの信号処理を行う回路に
よって信号処理を行った後、前記ループバック経路を介
して、通常モード時に当該階層の受信信号の信号処理を
行う回路へ伝送し、その信号処理を行った結果得られる
受信データと該通信テストデータとの比較試験を行うこ
とを特徴とする保守試験方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63307568A JP2635733B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 保守試験方法 |
| US08/454,845 US5737317A (en) | 1988-12-05 | 1995-05-31 | Communication system testing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63307568A JP2635733B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 保守試験方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7078024A Division JP2560655B2 (ja) | 1995-04-03 | 1995-04-03 | 保守試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02153655A JPH02153655A (ja) | 1990-06-13 |
| JP2635733B2 true JP2635733B2 (ja) | 1997-07-30 |
Family
ID=17970643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63307568A Expired - Fee Related JP2635733B2 (ja) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | 保守試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2635733B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6169763B1 (en) * | 1995-06-29 | 2001-01-02 | Qualcomm Inc. | Characterizing a communication system using frame aligned test signals |
| US7280620B2 (en) | 2002-10-18 | 2007-10-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic device including image forming apparatus |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5685956A (en) * | 1979-12-15 | 1981-07-13 | Ricoh Co Ltd | Communication equipment |
| JPS6342252A (ja) * | 1986-08-07 | 1988-02-23 | Tokyo Electric Co Ltd | 自己診断機能付端末機 |
-
1988
- 1988-12-05 JP JP63307568A patent/JP2635733B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02153655A (ja) | 1990-06-13 |
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|---|---|---|---|
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