KR100220032B1 - 전전자 교환기의 공간분할스위치 시험회로 - Google Patents

전전자 교환기의 공간분할스위치 시험회로 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전전자 교원기 시스템에 관한 것으로, 전전자 교환기에 실장된 공간 분할 스위치의 하이웨이를 시험하는 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로에 관한 것으로서, 본 발명에 의한 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로는 서브 하이웨이 단위로 시험 경로를 선택하고, 중앙 처리부 인터페이스로 시험데이터, 통화 채널 정보 및 밸리드 패리티 삽입 정보를 출력하고, 송신 시험 데이터와 비교하여 시험 결과를 판단하는 시험 중앙 처리부와; 시험 경로에 대하여 공간 분할 내부에서 루프를 형성하는 공간 분할 제어부와; 시험 중앙 처리부와 신호 정합을 수행하며, 시험 데이터를 출력하고, 밸리드 패리티 삽입 정보를 출력하며, 시험 데이터를 시험 중앙 처리부로 출력하는 중앙 처리부 인터페이스와; 통화 채널 정보에 따라 시험 데이터를 하이웨이 상의 통화 채널에 실어 출력하는 듀얼 포트램과; 시험 데이터에 밸리드 패리티를 삽입하는 밸리드 패리티 발생기와; 밸리드 패리티 발생기로부터 입력되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 정합하고, 라인 인터페이스로부터 입력되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 정합하는 공간 분할 스위치 인터페이스와; 통화 채널 정보에 따라 시험 데이터로부터 정당한 시험 데이터를 추출하는 채널 선택부와; 필요한 클럭 및 동기 신호를 생성하여 듀얼 포트 램 및 공간 분할 스위치 제어부로 공급하는 클럭/동기 신호 발생부로 구성된다.

Description

전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로
본 발명은 전전자 교환기 시스템에 관한 것으로, 보다 상세히는 전전자 교환기에 실장된 공간 분할 스위치의 하이웨이(highway)를 시험하는 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로에 관한 것으로서, 전자 교환기에서는 통신 신호를 전송하는 채널이 있으며, 상기 채널이 신호를 전송하는 선로를 하이웨이라고 하며, 하나의 하이웨이는 다수의 채널을 전송할 수 있고, 각 채널에 해당하는 것을 서브하이웨이라 한다.
본 명세서에서 송신이라는 용어는 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험회로로부터 공간 분할 스위치로 시험 데이터가 전송되는 것, 수신이라는 용어는 그반대 방향으로 시험 데이터가 전송되는 것을 의미하는 것으로 사용한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래의 기술에 의한 공간 분할 스위치 시험회로를 설명한다.
도1은 종래의 기술에 의한 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로도이다.
상기의 도1에 의하면, 종래 기술에 의한 전전자 교환기의 공간 분할 스위치시험 회로(11)는 후술하는 공간 분할 스위치 제어부(16)와 연결되어 하이웨이 단위의 시험 경로를 제어 선택하는 시험 중앙 처리부(12)와; 상기 시험 중앙 처리부(12) 및 후술하는 공간 분할 스위치(3)에 접속하여 시험 중앙 처리부(12)에서 선택한 하이웨이 단위 경로에 대하여 공간 분할 스위치(3)내부에서 루프(loop)를 형성하도록 제어하는 공간 분할 스위치 제어부(16)와; 시험 데이터 및 통화 채널 또는 통신 채널의 정보를 입력하고 송신한 시험 데이터 및 수신한 시험 데이터를 표시하는 데이터 입력/표시부(13)와; 상기 데이터 입력/표시부(13)로부터 입력되는 시험 데이터 및 통화 채널의 정보에 따라 시험 데이터를 다수의 하이웨이(4) 중, 해당 하이웨이(4)의 해당 통화 채널에 실리도록 통신 채널을 선택하는 채널 선택부(14)와; 상기 채널 선택부(14) 및 후술하는 라인 인터페이스(2)에 접속하여 공간 분할스위치(3)와 송수신 되는 시험 데이터의 전송 속도, 레벨 등의 정합을 수행하는 공간 분할 스위치 인터페이스(15)와; 상기 채널 선택부(14) 및 공간 분할 스위치 제어부(16)에 접속하여 공간 분할 스위치의 시험에 필요한 클럭 및 동기 신호를 생성하여 채널 선택부(14) 및 공간 분할 스위치 제어부(16)에 공급하는 클럭/동기 신호발생부(17)로 구성된다.
또한, 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로(11)와 공간 분할 스위치(3) 사이에 송수신 되는 시험 데이터의 전송 속도 및 레벨 등의 정합을 수행하는 라인 인터페이스(2)와, 상기 공간 분할 스위치 시험 회로(11)로부터 인가되는 시험데이터를 공간 분할 스위치(3)에 송신하는 경로를 제공하는 시험용 하이웨이(4) 및 수신 단계에서 상기 공간 분할 스위치(3)가 루프를 형성하여 인가 받은 시험 데이터를 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로(11)로 다시 전송하는 루프 경로를 제공하는 다수의 서브 하이웨이(SUB HIGHWAY : 5)가 도시되어 있다.
서브 하이웨이(5)는 상기 공간 분할 스위치(3)에 의하여 형성된 하이웨이(4)의 각 통화 채널과 연결된다.
이하 상기와 같은 구성에 의한 종래의 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로의 동작을 설명하면, 먼저 시험 중앙 처리부(12)에서 시험할 하이웨이(4)를 지정하여 시험 경로를 선택하고, 공간 분할 스위치 제어부(16)는 공간 분할 스위치(3)의 해당 경로에 루프를 형성시킨다. 상기에서 시험할 하이웨이(4)는 다수가 있으나, 일 실시예로서, 상기 도면 1에는 하나만 도시하였다.
데이터 입력/표시부(13)의 키패드(KEYPAD)를 조작하여 시험 데이터 및 통화채널 정보를 입력하면, 채널 선택부(14)는 하이웨이(4) 상의 해당 통신 채널을 선택하고, 시험 데이터를 공간 분할 스위치 인터페이스(15), 라인 인터페이스(2) 및 시험용 하이웨이(4)를 통하여 공간 분할 스위치(3)에 인가된다. 이때, 상기 시험중앙 제어부(12) 및 공간 분할 스위치 제어부(16)를 통하여 루프가 형성된 공간 분할 스위치(3)는 인가된 시험 데이터를 상기 선택된 해당 통신 채널의 서브 하이웨이(5)를 통하여, 라인 인터페이스(2)에 인가하고, 다시 공간 분할 스위치 인터페이스(15) 및 채널 선택부(14)를 경유하여 데이터 입력/표시부(13)로 다시 입력된다.
데이터 입력/표시부(13)에는 송신한 시험 데이터와 수신한 시험 데이터가 표시되고, 시험 운용자는 상기 송신 데이터와 수신 데이터를 비교하여 공간 분할 스위치 하이웨이의 이상 유무를 판단한다.
상기와 같은 종래 기술에 의한 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로(11)에 따르면, 시험 데이터의 송신 및 수신 결과의 이상 유무 판단을 시험 운용자가 직접 수행해야 하고, 시험 데이터가 어느 서브 하이웨이(5)를 통하여 수신되는지를 확인할 수 없으므로 시험 과정이 매우 복잡하고, 많은 시간이 필요하며, 모든 서브 하이웨이에 대한 이상 유무를 판단하기에는 더 많은 시간이 필요하다는 문제점이 있었다.
본 발명은 전전자 교환기에 있어서, 밸리드 패리티 삽입신호를 이용하여 하이웨이를 통신채널별로 구분하여 이상유무를 자동적으로 시험하는 공간분할 스위치 시험회로를 제공하는데 그 목적이 있다.
도1 은 종래의 기술에 의한 전전자 교환기 공간 분할 스위치 시험 회로의 기능 블록도 이고,
도2 는 본 발명의 기술에 의한 전전자 교환기 공간 분할 스위치 시험 회로의 기능 블록도 이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
2 : 라인 인터페이스 3 : 공간 분할 스위치
4 : 시험용 하이웨이 5 : 서브 하이웨이
11,31 : 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로
12,32 : 시험중앙 처리부 16,36 : 공간 분할 스위치 제어부
14,38 : 채널 선택부 17,39 : 클럭/동기 신호 발생부
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 안출한 본 발명은, 시험 중앙 처리부로부터 인가된 시험 데이터 및 통화 채널 정보를 후술하는 듀열 포트 램 및 채널 선택부로 출력하고, 밸리드 패리티 삽입 정보를 밸리드 패리티 발생기로 출력하며, 채널 선택부로부터 수신되어 인가되는 시험 데이터의 결과를 상기 시험 중앙 처리부에 정합 시켜 출력하는 중앙 처리부 인터페이스와; 상기 중앙 처리부 인터페이스를 통하여 시험 데이터, 통화 채널 정보 및 밸리드 패리티 삽입 정보를 송신하고, 수신되는 시험 데이터를 상기 송신 시험 데이터와 비교하여 시험 결과를 판단하는 기능이 추가된 시험 중앙 처리부와; 클럭/동기 신호 발생부로부터 클럭 및 동기 신호를 인가 받고, 상기 중앙 처리부 인터페이스를 통하여 인가 받은 시험 데이터와 통화 채널 정보에 따라 시험 데이터를 해당 통화 채널에 실어 밸리드 패리티 발생기로 출력하는 듀얼 포트 램과; 상기 듀얼 포트 램으로부터 인가되는 시험 데이터에, 상기 중앙 처리부 인터페이스로부터 인가되는 밸리드 패리티 삽입 정보를 삽입하는 밸리드 패리티 발생기와; 상기 밸리드 패리티 발생기로부터 인가되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 정합 하여 라인 인터페이스로 전송하고, 라인 인터페이스로부터 인가되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 정합 하여 채널 선택부로 전송하는 공간 분할 스위치 인터페이스와; 상기 중앙 처리부 인터페이스로부터 인가되는 통화 채널 정보에 의하여 공간 분할 스위치 인터페이스를 통하여 수신되는 시험 데이터로부터 정당한 시험 결과 데이터를 추출하여 중앙 처리부 인터페이스로 출력하는 채널 선택부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로를 설명한다.
도2는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로의 기능블록도 이다.
상기의 도2를 참조하면, 본 발명에 따른 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로(3l)는 공간 분할 스위치 제어부(36) 및 중앙 처리부 인터페이스(33)와 접속하여 하이웨이(4) 단위로 데이터 전송 시험 경로를 선택하고, 중앙 처리부 인터페이스(33)로 시험 데이터, 통화 채널 정보 및 밸리드 패리티 (Valid Parity) 삽입 정보를 전송하고, 중앙 처리부 인터페이스(33)를 통하여 수신되는 시험 데이터를 상기 전송된 시험 데이터와 비교하여 하이웨이(4)의 선로 상태를 판단하는 시험 중앙 처리부(32)와; 상기 시험 중앙 처리부(32) 및 공간 분할 스위치(3)에 접속하여 시험 중앙 처리부(32)에서 선택한 하이웨이(4)의 시험 경로 채널에 대하여 공간 분할 스위치(3) 내부에서 루프(Loop)를 형성하게 제어하는 공간 분할 스위치 제어부(36)와; 상기 시험 중앙 처리부(32), 듀얼 포트 램(Dual Port RAM:34) 및 채널 선택부(38)와 접속하여 모든 종류의 데이터 송수신 단계에서 시험 중앙 처리부(32)와 신호의 정합을 수행하며, 송신단계에서 시험 데이터를 듀얼 포트 램(34)으로 출력하고, 통화 채널 정보를 듀얼 포트 램(34) 및 채널 선택부(38)로 출력하고, 밸리드 패리티 삽입 정보를 밸리드 패리티 발생기(35)로 출력하며, 채널 선택부(38)를 통하여 수신되는 시험 데이터를 시험 중앙 처리부(32)로 출력하는 중앙 처리부 인터페이스(33)와; 상기 중앙 처리부 인터페이스(33) 및 밸리드 패리티 발생기(35)와 접속하여 송신 단계에서 중앙 처리부 인터페이스(33)로부더 입력되는 통화 채널 정보에 따라 시험 데이터를 하이웨이 상의 해당 통화 채널에 실어 밸리드 패리티 발생기(35)로 출력하는 듀얼 포트 램(34)과; 상기 듀얼 포트 램(34) 및 공간 분할 스위치 인터페이스(37)에 접속하여, 송신 단계에서 중앙 처리부 인터페이스(33)를 통하여 입력되는 밸리드 패리티 삽입 정보를 상기 듀얼 포트 램(34)으로부터 입력되는 시험 데이터에 삽입 또는 부가하는 밸리드 패리티 발생기(35)와; 상기 밸리드 패리티 발생기(35), 라인 인터페이스(2) 및 채널 선택부(38)에 접속하여, 송신 단계에서 밸리드 패리티 발생기(37)로부터 입력되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 정합 하여 라인 인터페이스(2)로 전송하고, 수신 단계에서 라인 인터페이스(2)로부터 입력되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 정합 하여 채널 선택부(38)로 전송하는 공간 분할 스위치 인터페이스(37)와; 상기 공간 분할 스위치 인터페이스(37) 및 중앙 처리부 인터페이스(33)와 접속하여 중앙 처리부 인터페이스(33)로부터 입력되는 통화 채널 정보에 의하여 공간 분할 스위치 인터페이스(37)로부터 입력되는 시험데이터로부터 정당한(Valid) 시험 데이터를 추출하여 중앙 처리부 인터페이스(33)로 출력하는 채널 선택부(38)와; 상기 듀얼 포트 램(34) 및 공간 분할 스위치제어부(36)에 접속하여 공간 분할 스위치(3)의 시험에 필요한 클럭 및 동기 신호를생성하여 듀얼 포트 램(34) 및 공간 분할 스위치 제어부(36)로 공급하는 클럭/동기신호 발생부(39)로 구성돤다.
라인 인터페이스(2), 시험용 하이웨이(4) 및 서브 하이웨이(5)의 구성은 종래의 구성과 동일하다.
본 발명에 의한 전전자 교원기의 공간 분할 스위치 시험 회로의 상세한 작옹설명하면, 먼저 시험 중앙 처리부(32)에서 시험할 하이웨이(4) 및 통신 채널을 지정하여 시험 경로를 선택하면, 공간 분할 스위치 제어부(36)는 공간 분할 스위치(3)의 해당 경로가 루프 되도록 제어한다.
시험 중앙 처리부(32)는 시험 데이터, 통화 채널 정보 및 밸리드 패리티 삽입 정보를 송신한다. 이때 밸리드 패리티 삽입 정보는 모든 통화 채널 또는 특정 통화 채널에 대하여 밸리드 패리티가 삽입되도록 지정할 수 있다. 따라서, 특정 서브 하이웨이를 시험하고자 하는 경우 해당 서브 하이웨이로서 할당된 통화 채널에만 밸리드 패리티가 삽입되도록 함으로써, 특정 서브 하이웨이의 이상 유무를 시험 할 수 있다.
시험 중앙 처리부(32)에서 송신한 시험 데이터는 듀얼 포트 램(34)에서 해당하이웨이의 통화 채널에 실리고 밸리드 패리티 발생기(35)에서 밸리드 패리티가 삽입된 후, 공간 분할 스위치 인터페이스(37), 라인 인터페이스(2), 시험용 하이웨이(4), 공간 분할 스위치(3)에 인가되고, 상기 공간 분할 스위치(3)의 Loop에 해당 서브 하이웨이(5), 라인 인터페이스(2), 공간 분할 스위치 인터페이스(37)를 경유하여 채널 선택부(38)로 입력된다. 이 때 듀얼 포트 램(34)에서는 시험 중앙 처리부(32)에서 제공되는 통화 채널 정보에 따라 시험 데이터를 저장하고 클럭/동기 신호 발생부(39)로부터 입력되는 클럭에 의하여 하드웨어적으로 증가하는 어드레스에따라 시험 데이터를 읽고(Read), 상기 밸리드 패리티 발생기(35)에 출력한다.
채널 선택부(38)는 중앙 처리부 인터페이스(33)를 통하여 인가되는 통화 채널 정보에 따라 추출된 정당한(Valid) 시험 데이터를 다시 중앙 처리부 인터페이스(33)를 경유하여 시험 중앙 처리부(32)로 인가 되도록 한다.
상기 시험 중앙 처리부(32)는 송신한 시험 데이터와 수신한 시험 데이터를 비교 처리하여 하이웨이 및 서브 하이웨이의 선로 이상 유무를 판단한다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 시험할 특정 서브 하이웨이의 통화 채널에 밸리드 패리티가 삽입된 시험 데이터를 전송하도록 하고, 시험 중앙 처리부에서 시험 데이터를 송신 한 후, 그 데이터를 수신하여, 수신된 데이터의 시험 결과를 비교 판단하도록 함으로써, 자동적으로 전전자 교환기의 공간 분할 스위치의 모든 통신 채널인 서브 하이웨이 단위까지 시험할 수 있는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 시험 중앙 처리부, 공간 분할 스위치 제어부, 데이터 입력/표시부, 클럭/동기 신호 발생부, 채널 선택부, 공간 분할 스위치 인터페이스부로 구성된 공간 분할스위치에 있어서, 상기 시험 중앙 처리부(32)로부터 인가된 시험 데이터 및 통화 채널 정보를 후술하는 듀얼 포트 램(34) 및 채널 선택부(38)로 출력하고, 밸리드 패리티 삽입 정보를 밸리드 패리티 발생기(35)로 출력하며, 채널 선택부(38)로부터 수신되어 인가되는 시험 데이터의 결과를 상기 시험 중앙 처리부(32)에 정합 시켜 출력하는 중앙 처리부 인터페이스(33)와; 상기 중앙 처리부 인터페이스(33)를 통하여 시험 데이터, 통화 채널 정보 및 밸리드 패리티 삽입 정보를 송신하고, 수신되는 시험 데이터를 상기 송신 시험 데이터와 비교하여 시험 결과를 판단하는 기능이 추가된 시험 중앙 처리부(32)와; 상기 클럭/동기 신호 발생부(39)로부터 클럭 및 동기 신호를 인가 받고, 상기 중앙 처리부 인터페이스(33)를 통하여 인가 받은 시험 데이터와 통화 채널 정보에 따라 시험 데이터를 해당 통화 채널에 실어 밸리드 패리티 발생기(35)로 출력하는 듀얼 포트 램(34)과; 상기 듀얼 포트 램(34)으로부터 인가되는 시험 데이터에, 상기 중앙 처리부인터페이스(33)로부터 인가되는 밸리드 패리티 삽입 정보를 삽입하는 밸리드 패리티 발생기(37)와; 상기 밸리드 패리티 발생기(37)로부터 인가되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 징합 하여 라인 인터페이스(2)로 전송하고, 라인 인터페이스(2)로부터 인가되는 시험 데이터의 속도, 레벨 등을 정합 하여 채널 선택부(38)로 전송하는 공간 분할 스위치 인터페이스(37)와; 상기 중앙 처리부 인터페이스(33)로부터 인가되는 통화 채널 정보에 의하여 공간 분할 스위치 인터페이스(37)를 통하여 수신되는 시험 데이터로부터 정당한 시험 결과 데이터를 추출하여 중앙 처리부 인터폐이스(33)로 출력하는 채널 선택부(38)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 공간 분할 스위치 시험 회로.
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