JPH11191754A

JPH11191754A - 波長多重光ネットワーク

Info

Publication number: JPH11191754A
Application number: JP35736597A
Authority: JP
Inventors: Tomoji Kuroyanagi; 智司黒柳; Tetsuya Nishi; 哲也西; Ichiro Nakajima; 一郎中島; Takuji Maeda; 卓二前田; Isao Tsuyama; 功津山
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1997-12-25
Filing date: 1997-12-25
Publication date: 1999-07-13

Abstract

(57)【要約】【課題】波長多重光ネットワークに関し、光パスの任
意の区間を指定して光信号のまま該指定区間の導通試験
を行い、故障個所の切り分けを行うことができるように
する。【解決手段】波長多重光伝送装置１−１〜１−６の各
入出力光信号を伝送する上り及び下り信号光伝送路の１
組５−１〜５−７，６−１〜６−６に対して光パスイン
タフェース部２−１〜２−２０を備え、且つ、光パスイ
ンタフェース部に局内の光伝送路６−１〜６−６を介し
て繋がる第１の試験信号送受信部３−１〜３−６と、光
パスインタフェース部２−１〜２−２０と一対に設けら
れる第２の試験信号送受信部４−１〜４−２０とを備
え、光パスインタフェース部は第１又は第２の試験信号
送受信部から送信される試験信号を、波長多重光伝送装
置又は光伝送路の所望の出力ポートにルーティング又は
ループバックする構成を有している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、波長多重光ネット
ワークに関する。大量の情報を高速に伝送する広帯域／
大容量の伝送ネットワークとして、波長分割多重技術を
べースとした光波による伝送ネットワークが有望視さ
れ、その早期構築が要望されている。

【０００２】光波による伝送ネットワークのノードとな
る波長多重光伝送装置、例えば、光クロスコネクトは、
光伝送ネットワークの中核となるもので、複数の光伝送
路から波長多重されて入ってきた光信号を、波長毎に所
望の出力側の光伝送路にルーチングする装置である。

【０００３】一方、伝送ネットワークを運用する上で、
サービス中の光信号（光パス）を切断することなく、新
たに設定する光信号（光パス）の指定区間の導通確認及
び故障個所の切り分けを行うことが必要とされる。

【０００４】

【従来の技術】図１４は従来の波長多重光ネットワーク
の構成を示す図である。同図において、１−１〜１−６
は光クロスコネクト（光ＸＣ）、３’−１〜３’−６は
光信号送受信部、５−１〜５−７は局間の光伝送路、６
−１〜６−６は局内の光伝送路である。

【０００５】光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１〜１−
６は、局内及び局間の光伝送路５−１〜５−７，６−１
〜６−６からの波長多重入力光信号を、波長毎に所望の
光伝送路にルーチングして出力し、又、必要に応じて入
力光信号の波長を所望の波長の出力光信号に変換して出
力する機能を有している。

【０００６】そして装置の小型化、経済化及び信号の高
速化のために、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１〜１
−６は、信号を電気信号に変換することなく光信号のま
ま処理することが望まれている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】図１４において、例え
ば、送信端の光信号送受信部３’−１から、受信端の光
信号送受信部３’−６に、局内の光伝送路６−１→光ク
ロスコネクト（光ＸＣ）１−１→局間の光伝送路５−１
→光クロスコネクト（光ＸＣ）１−２→局間の光伝送路
５−４→光クロスコネクト（光ＸＣ）１−５→局間の光
伝送路５−７→光クロスコネクト（光ＸＣ）１−６→局
内の光伝送路６−６を経由して光パスが設定されたとす
る。

【０００８】ここで受信端の光信号送受信部３’−６で
正常に光信号が受信できなかった場合、故障個所として
は、図の，，，，の５箇所の光伝
送路、及び，，，の４箇所の光クロス
コネクト（光ＸＣ）のうちのいずれかの箇所が故障発生
ポイントであることは分かるが、実際に故障している個
所を見つけ出し、故障発生ポイントを特定することは容
易ではない。

【０００９】故障発生箇所を検出する一手段として、各
光パスを通過するＳＤＨフレームのセクションオーバへ
ッド（ＳＯＨ）の未使用領域に光パスＩＤを挿入して、
各ノードでこの光パスＩＤを監視する方式が考えられ
る。

【００１０】しかし、この方式では、各ノードとなる各
光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１〜１−６において、
光信号を―旦電気信号に変換する回路、セクションオー
バへッド（ＳＯＨ）を終端し解析する電気回路、及び電
気信号を光信号に戻す回路を設け、それらの回路による
信号処理を各ノードの入出力毎に行う必要があり、ノー
ドの大容量化及び高速化に伴い回路規模の増大化及び複
雑化を招くことになる。

【００１１】本発明は、波長多重光ネットワークにおい
て、光パスの任意の区間を指定して光信号のまま該指定
区間の導通試験を行い、故障個所の切り分けを行うこと
ができる波長多重光ネットワークを提供することを目的
とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明の波長多重光ネッ
トワークは、（１）波長多重光信号を伝送する複数の光
伝送路と、該光伝送路を収容して光信号を伝送処理する
波長多重光伝送装置とを含む波長多重光ネットワークに
おいて、前記波長多重光伝送装置と前記各光伝送路との
間に接続され、主信号の波長と異なる波長の試験信号を
合波又は分波する光パスインタフェース部と、該光パス
インタフェース部を介し、前記光伝送路又は前記波長多
重光伝送装置を経由する前記試験信号の送受信を行う試
験信号送受信部とを備えたものである。

【００１３】又、（２）前記光パスインタフェース部
は、前記試験信号送受信部からの試験信号を主信号に合
波し、前記光伝送路又は前記波長多重光伝送装置を経由
して他の試験信号送受信部に送出し、且つ、前記光伝送
路又は前記波長多重光伝送装置を経由する他の試験信号
送受信部からの試験信号を分波して前記試験信号送受信
部に送出するルーチング機能を備えたものである。

【００１４】又、（３）前記光パスインタフェース部
は、前記光伝送路又は前記波長多重光伝送装置を経由し
て入力された前記試験信号送受信部からの試験信号を分
波し、該試験信号送受信部に折返して送出するループバ
ック機能を備えたものである。

【００１５】又、（４）前記光パスインタフェース部
は、前記光伝送路又は前記波長多重光伝送装置を経由し
た主信号と前記試験信号送受信部からの試験信号とを入
力し、該主信号と試験信号とを合波して前記波長多重光
伝送装置又は光伝送路に出力し、且つ、前記光伝送路又
は前記波長多重光伝送装置を経由した他の試験信号送受
信部からの試験信号を、該試験信号の波長により選択制
御し、前記試験信号送受信部、或いは前記波長多重光伝
送装置又は光伝送路のいずれか一方に出力する２入力２
出力型波長選択フィルタにより構成したものである。

【００１６】又、（５）前記光パスインタフェース部
は、前記光伝送路からの上り方向の主信号と前記試験信
号送受信部からの試験信号とを入力し、該主信号と試験
信号とを合波して前記波長多重光伝送装置に出力し、且
つ、前記光伝送路の上り方向の他の試験信号送受信部か
らの試験信号を、該試験信号の波長により選択制御し、
前記試験信号送受信部或いは前記波長多重光伝送装置の
いずれか一方に出力する第１の２入力２出力型波長選択
フィルタと、前記波長多重光伝送装置からの主信号と前
記試験信号送受信部からの試験信号とを入力し、該主信
号と試験信号とを合波して前記光伝送路の下り方向に出
力し、且つ、前記波長多重光伝送装置から出力される他
の試験信号送受信部からの試験信号を、該試験信号の波
長により選択制御し、前記試験信号送受信部或いは前記
光伝送路の下り方向のいずれか一方に出力する第２の２
入力２出力型波長選択フィルタと、前記第１及び前記第
２の２入力２出力型多波長選択フィルタと前記上り方向
及び下り方向の信号を伝送する１本の光伝送路との間を
結合するサーキュレータとを備えたものである。

【００１７】又、（６）前記光パスインタフェース部
は、上り方向の信号及び下り方向の信号を入力し、上り
方向の主信号及び下り方向の主信号をそれぞれ上り方向
及び下り方向に出力し、前記上り方向の主信号又は下り
方向の主信号に合波された試験信号を、該試験信号の波
長により選択制御し、反対方向の主信号に合波して折返
し送出する２入力２出力型波長選択フィルタにより構成
したものである。

【００１８】又、（７）前記光パスインタフェース部
は、上り方向の信号及び下り方向の信号を入力し、上り
方向の主信号及び下り方向の主信号をそれぞれ上り方向
及び下り方向に出力し、前記上り方向の主信号又は下り
方向の主信号に合波された試験信号を、該試験信号の波
長により選択制御し、反対方向の主信号に合波して折返
し送出する２入力２出力型波長選択フィルタと、該２入
力２出力型波長選択フィルタの前記上り方向の信号及び
下り方向の信号を伝送する１本の光伝送路との間を結合
するサーキュレータとを備えたものである。

【００１９】又、（８）前記試験信号送受信部は、波長
多重光信号の波長数に対応し且つそれぞれの波長の試験
信号を発生する試験信号光送信器と、波長数に対応し且
つそれぞれの波長の試験信号を受信する試験信号光受信
器とを備えたものである。

【００２０】又、（９）前記試験信号送受信部は、波長
多重光信号の波長に対応した波長の試験信号を選択的に
発生する出力波長可変の試験信号光送信器と、前記波長
多重光信号の波長に対応した波長の試験信号を受信検出
する試験信号光送信器とを備えたものである。

【００２１】

【発明の実施の形態】図１は本発明の第１の実施の形態
の波長多重光ネットワークの説明図である。同図におい
て、１−１〜１−６は光クロスコネクト（光ＸＣ）、２
−１〜２−２０は光パスインタフェース部、３−１〜３
−６は第１の試験信号送受信部、４−１〜４−２０は第
２の試験信号送受信部、５−１〜５−７は局間の光伝送
路、６−１〜６−６は局内の光伝送路である。又、Ｘ，
Ｙ，Ｚは試験接続範囲のパターンを示す。

【００２２】本発明の第１の実施の形態の波長多重光ネ
ットワークは、図１４に示した従来の波長多重光ネット
ワークの構成に、光パスインタフェース部２−１〜２−
２０と第１及び第２の試験信号送受信部３−１〜３−
６，４−１〜４−２０とを更に備えたものである。

【００２３】光パスインタフェース部２−１〜２−２０
は、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１〜１−６と各光
伝送路５−１〜５−７，６−１〜６−６との間に、光伝
送路の上り／下り１組に対して設けられる。

【００２４】第１の試験信号送受信部３−１〜３−６
は、局内の光伝送路６−１〜６−６を介して光パスイン
タフェース部２−１〜２−３，２−１８〜２−２０に接
続され、又、第２の試験信号送受信部４−１〜４−２０
は、光パスインタフェース部２−１〜２−２０と一対で
設けられる。

【００２５】第１及び第２の試験信号送受信部３−１〜
３−６，４−１〜４−２０は、導通試験及び故障箇所の
検出を行うために、１波又は複数波の任意の波長光の試
験信号を送受信するものである。

【００２６】一方、光パスインタフェース部２−１〜２
−２０は、第１の試験信号送信部３−１〜３−６又は第
２の試験信号送信部４−１〜４−２０からの試験信号
を、所望の出力ポート（即ち、光クロスコネクト（光Ｘ
Ｃ）１−１〜１−６への入力光伝送路、局間の伝送路５
−１〜５−７、又は局内の光伝送路６−１〜６−６）へ
ルーチングし、そして、入力ポート（即ち、光クロスコ
ネクト（光ＸＣ）１−１〜１−６からの出力光伝送路、
局間の伝送路５−１〜５−７、又は局内の光伝送路６−
１〜６−６）からの試験信号を第１の試験信号送信部３
−１〜３−６又は第２の試験信号送信部４−１〜４−２
０にルーチングする回路である。

【００２７】図１に示した波長多重光ネットワークにお
ける光パスの導通試験・故障箇所検出の試験接続パター
ンを、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１を基に説明す
る。試験ポイントとしては、〔１〕光クロスコネクト
（光ＸＣ）１−１に繋がる局内の伝送路６−１（試験接
続範囲のパターンＸ）〔２〕光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１ノード本体
（試験接続範囲のパターンＹ）、〔３〕光クロスコネク
ト（光ＸＣ）１−１に繋がる局間の伝送路５−１，５−
３（試験接続範囲のパターンＺ）、の３ケ所に大別でき
る。

【００２８】上記３箇所の試験ポイントを切り分けて試
験するための手法を、第２図を基に説明する。図２は本
発明の第１の実施の形態の試験接続パターンの説明図で
ある。同図において、Ｘ，Ｙ，Ｚは図１に示した試験接
続範囲のパターンを示し、（１）〜（４）はその試験接
続パターンを示す。

【００２９】上記〔１〕の光クロスコネクト（光ＸＣ）
１−１に繋がる局内の伝送路６−１の導通試験は、図２
のＸの（ｌ）に示すように、第１の試験信号送受信部３
−１と第２の試験信号送受信部４−１との間で光パスイ
ンタフェース部２−１を経由して試験信号を送受信する
ことにより局内の光伝送路６−１の試験を行う。

【００３０】上記〔２〕の光クロスコネクト（光ＸＣ）
１−１ノード本体の導通試験は、図２のＹの（１）に示
すように、第２の試験信号送受信部４−１、光パスイン
タフェース部２−１、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−
１を往復して試験信号を送受信することにより、図中実
線で示したルートの導通試験を行う。

【００３１】更にＹの（２）に示すように、光パスイン
タフェース部２−１に接続された第２の試験信号送受信
部４−１と、光パスインタフェース部２−８に接続され
た第２の試験信号送受信部４−８との間で、光パスイン
タフェース部２−１と光クロスコネクト（光ＸＣ）１−
１と光パスインタフェース部２−８とを経由した試験信
号を送受信することにより、図中実線で示したルートの
導通試験を行う。

【００３２】更にＹの（３）に示すように、光パスイン
タフェース部２−１に接続された第２の試験信号送受信
部４−１と、光パスインタフェース部２−４に接続され
た第２の試験信号送受信部４−４との間で、光パスイン
タフェース部２−１と光クロスコネクト（光ＸＣ）１−
１と光パスインタフェース部２−４とを経由した試験信
号を送受信することにより、図中実線で示したルートの
導通試験を行う。

【００３３】更にＹの（４）に示すように、光パスイン
タフェース部２−４に接続された第２の試験信号送受信
部４−４と、光パスインタフェース部２−８に接続され
た第２の試験信号送受信部４−８との間で、光パスイン
タフェース部２−４と光クロスコネクト（光ＸＣ）１−
１と光パスインタフェース部２−８とを経由した試験信
号を送受信することにより、図中実線で示したルートの
導通試験を行う。

【００３４】以上の導通試験により、光クロスコネクト
（光ＸＣ）１−１における、局内の光伝送路との接続、
局間の光伝送路との接続、局間の光伝送路間の接続の動
作試験を行うことができる。

【００３５】上記〔３〕の光クロスコネクト（光ＸＣ）
１−１に繋がる局間の光伝送路５−１，５−３の導通試
験は、図のＺの（１）に示すように、光パスインタフェ
ース部２−８に接続された第２の試験信号送受信部４−
８と、光パスインタフェース部２−１１に接続された第
２の試験信号送受信部４−１１との間で、光パスインタ
フェース部２−８と局間の光伝送路５−３と光パスイン
タフェース部２−１１とを経由した試験信号を送受信す
ることにより、局間の光伝送路５−３を含む図中実線で
示したルートの導通試験を行う。

【００３６】更にＺの（２）に示すように、光パスイン
タフェース部２−４に接続された第２の試験信号送受信
部４−４と、光パスインタフェース部２−５に接続され
た第２の試験信号送受信部４−５との間で、光パスイン
タフェース部２−４と局間の光伝送路５−１と光パスイ
ンタフェース部２−５とを経由した試験信号を送受信す
ることにより、局間の光伝送路５−１を含む図中実線で
示したルートの導通試験を行う。

【００３７】光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１以外の
他の光クロスコネクト（光ＸＣ）及びそれに繋がる伝送
路について、上記と同様の導通試験を行うことにより、
ネットワーク全体における個々の光パスの導通試験・故
障個所の検出が可能となる。

【００３８】図３は本発明の第２の実施の形態の波長多
重光ネットワークの説明図である。同図において、１−
１〜１−６は光クロスコネクト（光ＸＣ）、２’−１〜
２’−２０は光パスインタフェース部、３−１〜３−６
は試験信号送受信部、５−１〜５−７は局間の光伝送
路、６−１〜６−６は局内の光伝送路である。又、Ｘ，
Ｙ，Ｚは試験接続範囲のパターンを示す。

【００３９】本発明の第２の実施の形態の波長多重光ネ
ットワークは、本発明の第１の実施の形態の波長多重光
ネットワークに備えられていた第２の試験信号送受信部
を備えることなく、第１の試験信号送受信部のみを用い
て導通試験を行うものである。

【００４０】光パスインタフェース部２’−１〜２’−
２０は、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１〜１−６と
各光伝送路の５−１〜５−７，６−１〜６−６との間
に、光伝送路の上り／下り１組に対して設けられる。

【００４１】試験信号送受信部３−１〜３−６は、局内
の光伝送路６−１〜６−６を介して光パスインタフェー
ス部２’−１〜２’−３，２’−１８〜２’−２０に接
続され、導通試験及び故障箇所の検出を行うために、１
波又は複数波の任意の波長光の試験信号を送受信するも
のである。

【００４２】一方、光パスインタフェース部２’−１〜
２’−２０は、試験信号送信部３−１〜３−６、光クロ
スコネクト（光ＸＣ）１−１〜１−６、局間の光伝送路
５−１〜５−７からの試験信号をループバックする回路
である。

【００４３】図３に示した波長多重光ネットワークにお
ける光パスの導通試験・故障箇所検出の試験接続パター
ンを、図１の場合と同様に光クロスコネクト（光ＸＣ）
１−１を基に説明する。試験ポイントとしては図１の場
合と同様に、〔１〕光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１
に繋がる局内の光伝送路６−１（試験接続範囲のパター
ンＸ）〔２〕光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１ノード本体
（試験接続範囲のパターンＹ）、〔３〕光クロスコネク
ト（光ＸＣ）１−１に繋がる局間の光伝送路５−１，５
−３（試験接続範囲のパターンＺ）、の３ケ所に大別で
きる。

【００４４】上記３箇所の試験ポイントを切り分けて試
験するための手法を、第４図を基に説明する。図４は本
発明の第２の実施の形態の試験接続パターンの説明図で
ある。同図において、Ｘ，Ｙ，Ｚは試験接続範囲のパタ
ーンを示し、（１）〜（５）はその試験接続パターンを
示す。

【００４５】上記〔１〕の光クロスコネクト（光ＸＣ）
１−１に繋がる局内の光伝送路の導通試験は、図４のＸ
の（ｌ）に示すように、試験信号送受信部３−１からの
試験信号を光パスインタフェース部２’−１においてル
ープバックさせ、再び試験信号送受信部３−１に返送す
ることにより、局内の光伝送路６−１の試験を行う。

【００４６】上記〔２〕の光クロスコネクト（光ＸＣ）
１−１ノード本体の導通試験は、図４のＹの（１）に示
すように、試験信号送受信部３−１から、光パスインタ
フェース部２’−１を経由した試験信号を、光クロスコ
ネクト（光ＸＣ）１−１においてループバックさせ、再
び光パスインタフェース部２’−１を経由して試験信号
送受信部３−１に戻すことにより、図中実線で示したル
ートの導通試験を行う。

【００４７】更にＹの（２）に示すように、試験信号送
受信部３−１から、光パスインタフェース部２’−１、
光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１を経由した試験信号
を、光パスインタフェース部２’−８においてループバ
ックさせ、再び光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１、光
パスインタフェース部２’−１を経由して試験信号送受
信部３−１に戻すことにより、図中実線で示したルート
の導通試験を行う。

【００４８】更にＹの（３）に示すように、試験信号送
受信部３−１から、光パスインタフェース部２’−１、
光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１を経由した試験信号
を、光パスインタフェース部２’−４においてループバ
ックさせ、再び光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１、光
パスインタフェース部２’−１を経由して試験信号送受
信部３−１に戻すことにより、図中実線で示したルート
の導通試験を行う。

【００４９】更にＹの（４）に示すように、試験信号送
受信部３−１から、光パスインタフェース部２’−１、
光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１、を経由した試験信
号を、光パスインタフェース部２’−８においてループ
バックさせ、該光パスインタフェース部２’−８からの
信号を光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１において光パ
スインタフェース部２’−４にルーチングし、光パスイ
ンタフェース部２’−４において該信号をループバック
させ、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１、光パスイン
タフェース部２’−１を経由して試験信号送受信部３−
１に戻すことにより、図中実線で示したルートの導通試
験を行う。

【００５０】更にＹの（５）に示すように、試験信号送
受信部３−１から、光パスインタフェース部２’−１、
光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１、を経由した試験信
号を、光パスインタフェース部２’−４においてループ
バックさせ、該光パスインタフェース部２’−４からの
信号を光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１において光パ
スインタフェース部２’−８にルーチングし、光パスイ
ンタフェース部２’−８において該信号をループバック
させ、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１、光パスイン
タフェース部２’−１を経由して試験信号送受信部３−
１に戻すことにより、図中実線で示したルートの導通試
験を行う。

【００５１】以上の導通試験により、光クロスコネクト
（光ＸＣ）１−１における、局内の光伝送路との接続、
局間の光伝送路との接続、局間の光伝送路間の接続の動
作試験を行うことができる。

【００５２】上記〔３〕の光クロスコネクト（光ＸＣ）
１−１に繋がる局間の光伝送路５−１，５−３の導通試
験は、図のＺの（１）に示すように、試験信号送受信部
３−１から、光パスインタフェース部２’−１、光クロ
スコネクト（光ＸＣ）１−１、光パスインタフェース部
２’−８を経由した試験信号を、光パスインタフェース
部２’−１１においてループバックさせ、該光パスイン
タフェース部２’−１１からの信号を再び光パスインタ
フェース部２’−８、光クロスコネクト（光ＸＣ）１−
１、光パスインタフェース部２’−１を経由して試験信
号送受信部３−１に戻すことにより、局間の光伝送路５
−３を含む図中実線で示したルートの導通試験を行う。

【００５３】更にＺの（２）に示すように、試験信号送
受信部３−１から、光パスインタフェース部２’−１、
光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１、光パスインタフェ
ース部２’−４を経由した試験信号を、光パスインタフ
ェース部２’−５においてループバックさせ、該光パス
インタフェース部２’−５からの信号を再び光パスイン
タフェース部２’−４、光クロスコネクト（光ＸＣ）１
−１、光パスインタフェース部２’−１を経由して試験
信号送受信部３−１に戻すことにより、局間の光伝送路
５−１を含む図中実線で示したルートの導通試験を行
う。

【００５４】光クロスコネクト（光ＸＣ）１−１以外の
他の光クロスコネクト（光ＸＣ）及びそれにつながる伝
送路について、上記と同様の導通試験を行うことによ
り、ネットワーク全体における個々の光パスの導通試験
・故障個所の検出が可能となる。

【００５５】図５は本発明の第３の実施の形態の波長多
重光ネットワークの説明図である。この第３の実施の形
態の波長多重光ネットワークは、図１に示した本発明の
第１の実施の形態の波長多重光ネットワークにおける局
間の光伝送路５−１〜５−７を双方向の光伝送路とした
もので、光パスインタフェース部、第１及び第２の試験
信号送受信部の基本的な機能は同様であるので、重複し
た説明は省略する。

【００５６】図６は本発明の第４の実施の形態の波長多
重光ネットワークの説明図である。この第４の実施の形
態の波長多重光ネットワークは、図３に示した本発明の
第２の実施の形態の波長多重光ネットワークにおける局
間の光伝送路５−１〜５−７を双方向の光伝送路とした
もので、光パスインタフェース部、試験信号送受信部の
基本的な機能は同様であるので、重複した説明は省略す
る。

【００５７】上述した各波長多重光ネットワーク構成備
えられた光パスインタフェース部におけるルーチング及
びループバックの機能を実現する手段として、波長多重
光信号の中から所望の複数の波長の光信号を選択し、非
選択光信号とは分離することができる多波長選択フィル
タが必要とされる。

【００５８】このような多波長選択フィルタとしては、
ＬｉＮｂＯ₃等の材料を用いた音響光学フィルタを使用
することができる。この音響光学フィルタは、外部から
印加するＲＦ信号の周波数を変えることにより任意の波
長の光信号を選択することができ、又、複数のＲＦ信号
を印加することにより複数の波長の光信号の選択が可能
である。

【００５９】図７は多波長選択フィルタの説明図であ
る。ここで７は多波長選択フィルタであり、２入力２出
力型の多波長選択フィルタである。ＲＦ信号の周波数ｆ
１は波長λ１に、周波数ｆ２は波長λ２に対応している
ものとする。

【００６０】又、入力光伝送路＃Ｉ０から波長λ１の信
号λ１（Ａ）と波長λ２の信号λ２（Ｂ）とが入力さ
れ、入力光伝送路＃Ｉ１から波長λ１の信号λ１（Ｘ）
と波長λ２の信号λ２（Ｙ）とが入力されるものとす
る。

【００６１】図７の（ａ）は多波長選択フィルタ７に周
波数ｆ１及び周波数ｆ２を印加した場合の動作を示して
いる。多波長選択フィルタ７に周波数ｆ１及び周波数ｆ
２を印加すると、印加されたＲＦ信号の周波数に対応す
る波長の光信号のパスはクロスとなり、入力光伝送路＃
Ｉ０からの信号λ１（Ａ）と信号λ２（Ｂ）は出力光伝
送路＃Ｏ１に出力される。又、入力光伝送路＃Ｉ１から
の信号λ１（Ｘ）と信号λ２（Ｙ）は出力光伝送路＃Ｏ
０に出力される。

【００６２】図７の（ｂ）は多波長選択フィルタ７にＲ
Ｆ信号を印加しなかった場合の動作を示している。多波
長選択フィルタ７にＲＦ信号を印加しないと、入力光信
号のパスはアンクロスとなって直進し、入力光伝送路＃
Ｉ０からの信号λ１（Ａ）と信号λ２（Ｂ）は出力光伝
送路＃Ｏ０に出力される。又、入力光伝送路＃Ｉ１から
の信号λ１（Ｘ）と信号λ２（Ｙ）は出力光伝送路＃Ｏ
１に出力される。

【００６３】図７の（ｃ）は多波長選択フィルタ７に周
波数ｆ１を印加した場合の動作を示している。多波長選
択フィルタ７に周波数ｆ１を印加すると、印加されたＲ
Ｆ信号の周波数ｆ１に対応する波長λ１の光信号がクロ
スとなり、波長λ１以外の光信号のパスはアンクロスと
なる。従って、入力光伝送路＃Ｉ０からの信号λ１
（Ａ）は出力光伝送路＃Ｏ１に出力され、信号λ２
（Ｂ）は出力光伝送路＃Ｏ０に出力される。又、入力光
伝送路＃Ｉ１からの信号λ１（Ｘ）は出力光伝送路＃Ｏ
０に出力され、信号λ２（Ｙ）は出力光伝送路＃Ｏ１に
出力される。

【００６４】この多波長選択フィルタを、前述した各波
長多重光ネットワークの光パスインタフェース部に適用
した構成を図８及び図９に示す。図８の（ａ）は前述し
た本発明の第１の実施の形態の波長多重光ネットワーク
の光パスインタフェース部の説明図である。同図におい
て、８１は２入力２出力型の第１の多波長選択フィル
タ、８２は２入力２出力型の第２の多波長選択フィルタ
であり、光パスインタフェース部は２個の２入力２出力
型の多波長選択フィルタ８１，８２により構成される。

【００６５】図８の（ａ）において、入力光伝送路＃Ｉ
０からは局内又は局間の伝送路からの光信号が入力さ
れ、第１の多波長選択フィルタ８１の一方の入力部に入
力され、出力光伝送路＃Ｏ０へは第２の多波長選択フィ
ルタ８２の一方の出力部から局内又は局間の伝送路への
光信号が出力され、又、出力光伝送路＃Ｏ１へは光クロ
スコネクト（ノード）への光信号が第１の多波長選択フ
ィルタ８１の一方の出力部から出力され、入力光伝送路
＃Ｉ１からは光クロスコネクト（ノード）からの光信号
が第２の多波長選択フィルタ８２の一方の入力部に入力
される。

【００６６】第１及び第２の２入力２出力型の多波長選
択フィルタ８１，８２の他方の入力部には、更にそれぞ
れ前記第２の試験信号送受信部からの試験信号が入力さ
れ、又、第１及び第２の２入力２出力型の多波長選択フ
ィルタ８１，８２の他方の出力部には、それぞれ前記第
２の試験信号送受信部への試験信号が出力される。

【００６７】図８の（ａ）において、第１の２入力２出
力型の多波長選択フィルタ８１に、入力光伝送路＃Ｉ０
から、波長λ１の試験信号λ１（α）と波長λ２の主信
号λ２（Ｂ）とが入力され、又、第２の２入力２出力型
の多波長選択フィルタ８２に、入力光伝送路＃Ｉ１から
波長λ２の主信号λ２（Ｙ）と、第２の試験信号送受信
部から波長λ１の試験信号λ１（β）とが入力されてい
るものとする。

【００６８】ここで第１及び第２の２入力２出力型の多
波長選択フィルタ８１，８２にＲＦ信号の周波数ｆ１を
印加すると、入力光伝送路＃Ｉ０からの主信号λ２
（Ｂ）は出力光伝送路＃Ｏ１に出力されるが、試験信号
λ１（α）は第２の試験信号送受信部へ振り分けられて
出力される。又、入力光伝送路＃Ｉ１からの主信号λ２
（Ｙ）と第２の試験信号送受信部からの試験信号試験信
号λ１（β）は出力光伝送路＃Ｏ０に出力される。

【００６９】図８の（ｂ）は前述した本発明の第２の実
施の形態の波長多重光ネットワークの光パスインタフェ
ース部の説明図である。同図において、８３は２入力２
出力型の多波長選択フィルタである。

【００７０】図８の（ｂ）において、入力光伝送路＃Ｉ
０からは局内又は局間の伝送路からの光信号が入力さ
れ、多波長選択フィルタ８３の一方の入力部に入力さ
れ、出力光伝送路＃Ｏ０へは多波長選択フィルタ８３の
他方の出力部から局内又は局間の伝送路への光信号が出
力され、又、出力光伝送路＃Ｏ１へは光クロスコネクト
（ノード）への光信号が多波長選択フィルタ８３の一方
の出力部から出力され、入力光伝送路＃Ｉ１からは光ク
ロスコネクト（ノード）からの光信号が多波長選択フィ
ルタ８３の他方の入力部に入力される。

【００７１】図８の（ｂ）において、２入力２出力型の
多波長選択フィルタ８３の一方の入力部に、入力光伝送
路＃Ｉ０から、波長λ１の試験信号λ１（α）と波長λ
２の主信号λ２（Ｂ）とが入力され、又、２入力２出力
型の多波長選択フィルタ８３の他方の入力部に、入力光
伝送路＃Ｉ１から波長λ２の主信号λ２（Ｙ）が入力さ
れているものとする。

【００７２】ここで２入力２出力型の多波長選択フィル
タ８３にＲＦ信号の周波数ｆ１を印加すると、入力光伝
送路＃Ｉ０からの主信号λ２（Ｂ）は出力光伝送路＃Ｏ
１に出力されるが、試験信号λ１（α）は出力光伝送路
＃Ｏ０に折り返されて出力される。又、入力光伝送路＃
Ｉ１からの主信号λ２（Ｙ）はそのまま出力光伝送路＃
Ｏ０に出力され、出力光伝送路＃Ｏ０に試験信号λ１
（α）と主信号λ２（Ｙ）とが出力されることとなる。

【００７３】図９の（ａ）は前述した本発明の第３の実
施の形態の波長多重光ネットワークの光パスインタフェ
ース部の説明図である。同図において、８１は第１の２
入力２出力型の多波長選択フィルタ、８２は第２の２入
力２出力型の多波長選択フィルタ、９１は光サーキュレ
ータである。

【００７４】光サーキュレータ９１は双方向の光伝送路
＃Ｉ／Ｏ０から波長λ１の試験信号λ１（α）と波長λ
２の主信号λ２（Ｂ）とを、第１の多波長選択フィルタ
８１に出力するとともに、第２の多波長選択フィルタ８
２からの波長λ１の試験信号λ１（β）と波長λ２の主
信号λ２（Ｙ）とを、双方向の光伝送路＃Ｉ／Ｏ０に出
力する。第１及び第２の多波長選択フィルタ８１，８２
の動作は、図８の（ａ）に示した構成の動作と同じであ
るので、重複した説明は省略する。

【００７５】図９の（ｂ）は前述した本発明の第４の実
施の形態の波長多重光ネットワークの光パスインタフェ
ース部の説明図である。同図において、８３は２入力２
出力型の多波長選択フィルタ、９２は光サーキュレータ
である。

【００７６】光サーキュレータ９２は双方向の光伝送路
＃Ｉ／Ｏ０から波長λ１の試験信号λ１（α）と波長λ
２の主信号λ２（Ｂ）とを、多波長選択フィルタ８３に
出力するとともに、多波長選択フィルタ８３からの波長
λ１の試験信号λ１（α）と波長λ２の主信号λ２
（Ｙ）とを、双方向の光伝送路＃Ｉ／Ｏ０に出力す
る。波長選択フィルタ８３の動作は、図８の（ｂ）に示
した構成の動作と同じであるので、重複した説明は省略
する。

【００７７】図１０は、前述した本発明の第１若しくは
第３の実施の形態の波長多重光ネットワークの第１の試
験信号送受信部、又は本発明の第２若しくは第４の実施
の形態の波長多重光ネットワークの試験信号送受信部の
構成例を示す図であり、３通りの構成例を（ａ），
（ｂ），（ｃ）に示している。

【００７８】図１０の（ａ）において、１０−１ａは光
送信器、１０−４ａは合波器、１０−６ａは光受信器、
１０−９ａは分波器である。光送信器１０−１ａの出力
波長は固定であり、光送信器１０−１ａは波長多重光信
号の波長数に応じた個数分設けられ、この波長数分の光
送信器１０−１ａと１個の合波器１０−４ａとから送信
部が構成される。

【００７９】又、光受信器１０−６ａの受信波長は固定
であり、光受信器１０−６ａは波長多重光信号の波長数
に応じた個数分設けられ、この波長数分の光受信器１０
−６ａと１個の分波器１０−９ａとから受信部が構成さ
れる。

【００８０】光送信器１０−１ａは主信号の送信と試験
信号の送信に兼用され、又、光受信器１０−６ａは主信
号の受信と試験信号の受信に兼用され、試験実行時に１
つの光送信器１０−１ａ及び１つの光受信器１０−６ａ
を選定して、試験信号の送受を行う。なお、試験信号の
速度は主信号の速度と同じとなる。

【００８１】図１０の（ｂ）において、１０−１ｂは主
信号光送信器、１０−２ｂは試験信号光送信器、１０−
３ｂは光スイッチ、１０−４ｂは合波器、波１０−６ｂ
は主信号光受信器、１０−７ｂは試験信号光受信器、１
０−８ｂは光スイッチ、１０−９ｂは分波器である。

【００８２】主信号光送信器１０−１ｂ及び試験信号光
送信器１０−２ｂは、出力波長は固定であり、主信号光
送信器１０−１ｂ及び試験信号光送信器１０−２ｂは波
長多重光信号の波長数に応じた個数分設けられ、この波
長数分の主信号光送信器１０−１ｂ及び試験信号光送信
器１０−２ｂと、光スイッチ１０−３ｂと、合波器１０
−４ｂとから送信部が構成される。

【００８３】又、主信号光受信器１０−６ｂ及び試験信
号光受信器１０−７ｂの受信波長は固定であり、主信号
光受信器１０−６ｂ及び試験信号光受信器１０−７ｂは
波長多重光信号の波長数に応じた個数分設けられ、この
波長数分の主信号光受信器１０−６ｂ及び試験信号光受
信器１０−７ｂと、光スイッチ１０−８ｂと、分波器１
０−９ｂとから受信部が構成される。

【００８４】試験実行時に、１つの試験信号光送信器１
０−２ｂ及び試験信号光受信器１０−７ｂを選定し、光
スイッチ１０−３ｂ及び光スイッチ１０−８ｂにより、
試験信号光送信器１０−２ｂ及び試験信号光受信器１０
−７ｂを合波器１０−４ｂ及び分波器１０−９ｂに結合
し、試験信号の送受を行う。

【００８５】図１０の（ｃ）において、１０−１ｃは主
信号光送信器、１０−２ｃは試験信号光送信器、１０−
３ｃは合波器、１０−４ｃは光合流器、１０−６ｃは主
信号光受信器、１０−７ｃは試験信号光受信器、１０−
８ｃは分波器、１０−９ｃは可変波長選択フィルタであ
る。

【００８６】主信号光送信器１０−１ｃの出力波長は固
定であり、主信号光送信器１０−１ｃは波長多重光信号
の波長数に応じた個数分設けられる。試験信号光送信器
１０−２ｃの出力波長は可変であり、波長多重光信号の
波長に対応した波長の試験信号を選択的に発生し、試験
信号光送信器１０−２ｃは１個設けられる。波長数分の
主信号光送信器１０−１ｃと、１個の試験信号光送信器
１０−２ｃと、合波器１０−３ｃと、光合流器１０−４
ｃとから送信部が構成される。

【００８７】又、主信号光受信器１０−６ｃの受信波長
は固定であり、主信号光受信器１０−６ｃは波長多重光
信号の波長数に応じた個数分設けられる。試験信号光受
信器１０−７ｃの受信波長は可変であり、波長多重光信
号の波長に対応した波長の試験信号を選択的に受信検出
し、試験信号光受信器１０−７ｃは１個設けられる。波
長数分の主信号光受信器１０−６ｃと、１個の試験信号
光受信器１０−７ｃと、分波器１０−８ｃと、可変波長
選択フィルタ１０−９ｃとから受信部が構成される。

【００８８】試験実行時に、試験信号光送信器１０−２
ｃ及び試験信号光受信器１０−７ｃにおいて試験信号の
波長を選定し、試験信号光送信器１０−２ｃ及び試験信
号光受信器１０−７ｃをそれぞれ光合流器１０−４ｃ及
び可変波長選択フィルタ１０−９ｃを介して光伝送路に
結合することにより、試験信号の送受を行う。

【００８９】前述した試験信号送受信部の構成例におい
て、図１０の（ａ）及び（ｂ）の構成例は同時に複数の
試験信号を送受信することが可能である。又、図１０の
（ｂ）及び（ｃ）の構成例においては、光送信器及び光
受信器を、主信号用と試験信号用とに分けることができ
るので、試験信号のフォーマット及び伝送速度を、主信
号のフォーマット及び伝送速度とは独立に設定すること
が可能である。

【００９０】図１１は、前述した本発明の第１又は第３
の実施の形態の波長多重光ネットワークの第２の試験信
号送受信部の構成例を示す図であり、２通りの構成例を
（ａ），（ｂ）に示している。

【００９１】図１１の（ａ）において、１１−１ａは試
験信号光送信器、１１−２ａは合波器、１１−６ａは試
験信号光受信器、１１−７ａは分波器である。試験信号
光送信器１１−１ａの出力波長は固定であり、試験信号
光送信器１１−１ａは波長多重光信号の波長数に応じた
個数分設けられ、この波長数分の試験信号光送信器１１
−１ａと１個の合波器１１−２ａとから送信部が構成さ
れる。

【００９２】又、試験信号光受信器１１−６ａの受信波
長は固定であり、試験信号光受信器１１−６ａは波長多
重光信号の波長数に応じた個数分設けられ、この波長数
分の試験信号光受信器１１−６ａと１個の分波器１１−
７ａとから受信部が構成される。

【００９３】図１１の（ｂ）において、１１−１ｂは試
験信号光送信器、１１−６ｂは試験信号光受信器であ
る。試験信号光送信器１１−１ｂの出力波長は可変であ
り、波長多重光信号の波長に対応した波長の試験信号を
選択的に発生し、試験信号光送信器１１−１ｂは１個設
けられる。又、試験信号光受信器１１−６ｂの受信波長
は可変であり、波長多重光信号の波長に対応した波長の
試験信号を選択的に受信検出し、試験信号光受信器１１
−６ｂは１個設けられる。

【００９４】図１１に示した構成例において、図１１の
（ａ）に示した構成例は、同時に複数の試験信号を送受
信することが可能である。一方、図１１の（ｂ）に示し
た構成例は、同時に複数の試験信号を送受信することは
できないが、一つの試験信号光送信器及び一つの試験信
号光受信器により、所望の波長の光信号により試験を行
うことができる。

【００９５】図１２及び図１３は光クロスコネクト（光
ＸＣ）の構成例を示す図である。図１２は波長固定型の
光クロスコネクト（光ＸＣ）の説明図であり、１２−１
は分波器、１２−２は光空間スイッチ、１２−３は合波
器、Ｉ₁，Ｉ₂，・・・Ｉ _Kは入力光伝送路、Ｏ₁，Ｏ
₂，・・・Ｏ_Kは出力光伝送路である。又、λ₁・・・
λ_nは通過する光信号の波長を示している。

【００９６】入力光伝送路Ｉ₁，Ｉ₂，・・・Ｉ_Kから
の入力光信号は、分波器１２−１により波長対応に分波
され、波長対応の光空間スイッチ１２−２により、所望
の出力光伝送路にルーチングされ、合波器１２−３は各
光空間スイッチ１２−２からの光信号を合波して、出力
光伝送路Ｏ₁，Ｏ₂，・・・Ｏ_Kへ出力する。この波長
固定型の光クロスコネクト（光ＸＣ）においては、入力
光信号の波長は変換されることなく、出方路に関してル
ーチングされる。

【００９７】図１３は波長変換型の光クロスコネクト
（光ＸＣ）の説明図であり、１３−１は分波器、１３−
２は光空間スイッチ、１３−３は波長変換素子、１３−
４は合波器、Ｉ₁，Ｉ₂，・・・Ｉ_Kは入力光伝送路、
Ｏ₁，Ｏ₂，・・・Ｏ_Kは出力光伝送路である。又、λ
₁・・・λ_nは通過する光信号の波長を示している。

【００９８】入力光伝送路Ｉ₁，Ｉ₂，・・・Ｉ_Kから
の入力光信号は、分波器１３−１により波長対応に分波
され、光空間スイッチ１３−２により所望の出力光伝送
路にルーチングされ、波長変換素子１３−３により所望
の波長に変換され、合波器１２−３により各波長の光信
号を合波され、出力光伝送路Ｏ₁，Ｏ₂，・・・Ｏ_Kへ
出力される。この波長変換型の光クロスコネクト（光Ｘ
Ｃ）は、入力光信号の波長を所望の波長に変えて所望の
出方路にルーチングすることが可能である。

【００９９】なお、図１２及び図１３に示した波長固定
型の光クロスコネクト（光ＸＣ）及び波長変換型の光ク
ロスコネクト（光ＸＣ）は、波長多重ネットワークのノ
ードの構成の例示にすぎず、本発明の波長多重ネットワ
ークのノードの構成は、これに限定されるものではな
い。

【０１００】

【発明の効果】以上説明したように、光クロスコネクト
（光ＸＣ）等の波長多重光伝送装置を用いた波長多重光
ネットワークにおいて、波長多重光伝送装置と前記各光
伝送路との間に接続され、主信号の波長と異なる波長の
試験信号を合波又は分波する光パスインタフェース部
と、該光パスインタフェース部を介し、前記光伝送路又
は前記波長多重光伝送装置を経由する前記試験信号の送
受信を行う試験信号送受信部とを用い、任意の光パスイ
ンタフェース部において試験信号送信部からの試験信号
を、波長多重光伝送装置又は光伝送路の所望の出力ポー
トにルーチング又はループバックすることによって、他
のサービス中の光信号（光パス）を切断することなく、
新たに設定する光信号（光パス）の指定区間の導通確認
を光信号のまま行うことができ、故障個所の切り分けが
可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態の波長多重光ネット
ワークの説明図である。

【図２】本発明の第１の実施の形態の試験接続パターン
の説明図である。

【図３】本発明の第２の実施の形態の波長多重光ネット
ワークの説明図である。

【図４】本発明の第２の実施の形態の試験接続パターン
の説明図である。

【図５】本発明の第３の実施の形態の波長多重光ネット
ワークの説明図である。

【図６】本発明の第４の実施の形態の波長多重光ネット
ワークの説明図である。

【図７】多波長選択フィルタの説明図である。

【図８】波長多重光ネットワークの光パスインタフェー
ス部の説明図である。

【図９】波長多重光ネットワークの光パスインタフェー
ス部の説明図である。

【図１０】波長多重光ネットワークの試験信号送受信部
構成例を示す図である。

【図１１】波長多重光ネットワークの試験信号送受信部
構成例を示す図である。

【図１２】波長固定型の光クロスコネクト（光ＸＣ）の
説明図である。

【図１３】波長変換型の光クロスコネクト（光ＸＣ）の
説明図である。

【図１４】従来の波長多重光ネットワークの構成を示す
図である。

【符号の説明】

１−１〜１−６光クロスコネクト（光ＸＣ）２−１〜２−２０光パスインタフェース部３−１〜３−６第１の試験信号送受信部４−１〜４−２０第２の試験信号送受信部５−１〜５−７局間の光伝送路６−１〜６−６局内の光伝送路Ｘ，Ｙ，Ｚ試験接続範囲のパターン

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号ＦＩＨ０４Ｂ 17/00 Ｈ０４Ｂ 9/00 ＮＨ０４Ｑ 3/52 (72)発明者中島一郎神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号富士通株式会社内 (72)発明者前田卓二神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号富士通株式会社内 (72)発明者津山功神奈川県横浜市港北区新横浜２丁目３番９号富士通ディジタル・テクノロジ株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】波長多重光信号を伝送する複数の光伝送
路と、該光伝送路を収容して光信号を伝送処理する波長
多重光伝送装置とを含む波長多重光ネットワークにおい
て、前記波長多重光伝送装置と前記各光伝送路との間に接続
され、主信号の波長と異なる波長の試験信号を合波又は
分波する光パスインタフェース部と、該光パスインタフェース部を介し、前記光伝送路又は前
記波長多重光伝送装置を経由する前記試験信号の送受信
を行う試験信号送受信部とを備えたことを特徴とする波
長多重光ネットワーク。
【請求項２】前記光パスインタフェース部は、前記試
験信号送受信部からの試験信号を主信号に合波し、前記
光伝送路又は前記波長多重光伝送装置を経由して他の試
験信号送受信部に送出し、且つ、前記光伝送路又は前記
波長多重光伝送装置を経由する他の試験信号送受信部か
らの試験信号を分波して前記試験信号送受信部に送出す
るルーチング機能を備えていることを特徴とする請求項
１記載の波長多重光ネットワーク。
【請求項３】前記光パスインタフェース部は、前記光
伝送路又は前記波長多重光伝送装置を経由して入力され
た前記試験信号送受信部からの試験信号を分波し、該試
験信号送受信部に折返して送出するループバック機能を
備えていることを特徴とする請求項１記載の波長多重光
ネットワーク。
【請求項４】前記光パスインタフェース部は、前記光
伝送路又は前記波長多重光伝送装置を経由した主信号と
前記試験信号送受信部からの試験信号とを入力し、該主
信号と試験信号とを合波して前記波長多重光伝送装置又
は光伝送路に出力し、且つ、前記光伝送路又は前記波長
多重光伝送装置を経由した他の試験信号送受信部からの
試験信号を、該試験信号の波長により選択制御し、前記
試験信号送受信部、或いは前記波長多重光伝送装置又は
光伝送路のいずれか一方に出力する２入力２出力型波長
選択フィルタにより構成したことを特徴とする請求項２
記載の波長多重光ネットワーク。
【請求項５】前記光パスインタフェース部は、前記光
伝送路からの上り方向の主信号と前記試験信号送受信部
からの試験信号とを入力し、該主信号と試験信号とを合
波して前記波長多重光伝送装置に出力し、且つ、前記光
伝送路の上り方向の他の試験信号送受信部からの試験信
号を、該試験信号の波長により選択制御し、前記試験信
号送受信部或いは前記波長多重光伝送装置のいずれか一
方に出力する第１の２入力２出力型波長選択フィルタ
と、前記波長多重光伝送装置からの主信号と前記試験信
号送受信部からの試験信号とを入力し、該主信号と試験
信号とを合波して前記光伝送路の下り方向に出力し、且
つ、前記波長多重光伝送装置から出力される他の試験信
号送受信部からの試験信号を、該試験信号の波長により
選択制御し、前記試験信号送受信部或いは前記光伝送路
の下り方向のいずれか一方に出力する第２の２入力２出
力型波長選択フィルタと、前記第１及び前記第２の２入
力２出力型多波長選択フィルタと前記上り方向及び下り
方向の信号を伝送する１本の光伝送路との間を結合する
サーキュレータとを備えたことを特徴とする請求項２記
載の波長多重光ネットワーク。
【請求項６】前記光パスインタフェース部は、上り方
向の信号及び下り方向の信号を入力し、上り方向の主信
号及び下り方向の主信号をそれぞれ上り方向及び下り方
向に出力し、前記上り方向の主信号又は下り方向の主信
号に合波された試験信号を、該試験信号の波長により選
択制御し、反対方向の主信号に合波して折返し送出する
２入力２出力型波長選択フィルタにより構成したことを
特徴とする請求項３記載の波長多重光ネットワーク。
【請求項７】前記光パスインタフェース部は、上り方
向の信号及び下り方向の信号を入力し、上り方向の主信
号及び下り方向の主信号をそれぞれ上り方向及び下り方
向に出力し、前記上り方向の主信号又は下り方向の主信
号に合波された試験信号を、該試験信号の波長により選
択制御し、反対方向の主信号に合波して折返し送出する
２入力２出力型波長選択フィルタと、該２入力２出力型
波長選択フィルタの前記上り方向の信号及び下り方向の
信号を伝送する１本の光伝送路との間を結合するサーキ
ュレータとを備えたことを特徴とする請求項３記載の波
長多重光ネットワーク。
【請求項８】前記試験信号送受信部は、波長多重光信
号の波長数に対応し且つそれぞれの波長の試験信号を発
生する試験信号光送信器と、波長数に対応し且つそれぞ
れの波長の試験信号を受信する試験信号光受信器とを備
えたことを特徴とする請求項１乃至７何れか１項記載の
波長多重光ネットワーク。
【請求項９】前記試験信号送受信部は、波長多重光信
号の波長に対応した波長の試験信号を選択的に発生する
出力波長可変の試験信号光送信器と、前記波長多重光信
号の波長に対応した波長の試験信号を受信検出する試験
信号光送信器とを備えたことを特徴とする請求項１乃至
７何れか１項記載の波長多重光ネットワーク。