JPS60186155A - 通信回線試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ）１発明の技術分野 本発明は回線釜Ｈ１型ループ状伝送路を有Ｊ゛るデータ
ハイウェイの通信回線試験方式に係り、特にシＪ４・１
的に実施出来る通信口線試験方式に関するものである。

（ｂ）、従来技術と問題点 第１閲のｆａｔは従来の回線多回型ループ状伝送路を有
するデータハイウェイ１ｆｆｌ信回線試験の−実りら（
タリを示すブロソクレ１であり、（ｂ）はフレームフズ
ーマノトを示す図である。

図中、Ｓ〜ｆは監視側イコ１１装置、ＬＩ’ＮＩ４はデ
ータハイウェイ通信回線、Ｎ　ＯＤ　Ｅ　１〜Ｎ　ＯＤ
　Ｅ　ｎは夫々ノード、Ｌ、　Ｓ　ＩＩ〜Ｌ　Ｓ　１ｒ
＋Ｌ：二人々ノードＮ　０１）Ｅｌに接続するチャンネ
ル盤、Ｌ　５２１＝　Ｌ　Ｓ２ｎは夫々ノードＮ０Ｌ）
Ｅ２に接続１゛るヲニャンふル盤、Ｌ　Ｓｎｌ〜１．　
Ｓｎｎは夫々ノー）”　Ｎ　Ｏ：’Ｄ　Ｅ　ｎに接）ｆ
ｃ　ｉ’るチャンネル盤、’ｌｉｔ〜Ｔｉｎはチャンｌ
用５１１．３１＋＝Ｌ、ｓｌｎに夫々接続される端末装
置、１’　ｎ　１〜’ｌ’ｎｎはチャンネル盤し５ｎｌ
＝ＬＳｎｎに夫々接ＰＣされる昂１末装置、Ｐはパター
ン、ｉ’　Ｓ　Ｉ　〜′ｌ’　Ｓｉは夫々タイムスロッ
トである。

以下図に従って回線名田型通信の動作を説明する。

監視制御装置ＳＶは第１図のｔｂ〕に示す様なフレーム
をデータハイウェイ通４ｇ回線ＬＩＮＥに送出する。

此のフレームはフレームの先頭位置を示すパターンＰと
此れに続く複数個のタイムスロット１゛Ｓより構成され
ζいる。

又監視側ｆａｌ＋装置Ｓｖにはテーブルが設りられてい
で、成るＱｊｊｊ末装置′Ｉ゛が成る特定のｂＦ’＋木
装置と逓信する時使用すべきタイムスロット’Ｉ’　Ｓ
が規定されている。例えば端末装置’Ｉ’　ｌ　１かび
ｉ床装置’Ｉ’２１とｊｍ信する時はタイムスロット′
Ｉ″Ｓ１を、附宋装：６゛’ｌ”ｌｌが端末装置１゛３
１と通信−３−イ】時はタイムスロットＩ’Ｓ２を使用
すると云う様に予め規定し、テーブルにしておく。従ゲ
Ｃ此のテーブルでＪ、ｌノド定された端末装置間でのみ
通（εが可能である。

尚一つのタイムスロット１’Ｓは首通８ヒツトで（＆成
されている。

各ノーＦ　Ｎ　ＯＤ　Ｅ　１　＝　Ｎ　ＯＤ　＋’、　
ｎはｉ；」３己フレームを；’Ｋに受信し、前記フレー
ム中のバター　：／　ｒノヲｔ、ｈ別し、此処でタイム
スロットＩ’Ｓの了ルスを作り出し、タイムスロットＴ
Ｓと共にＩＩＬのタイ、！・スし２ノドアドレスを各チ
ャンネル７ｄ　Ｌ　Ｓに鴻す。

各チャンネルｆ！！ｌＬｓは此のタイムスロノ１アドレ
スを＆ｊＮ別し、ｈすり付けられたターイムスＵ〕１を
選択する。

此の様にして任意の端末装置間でデータの接受を行うの
が回線長Ｉｎ型スｍ信方式である。

此の様な回４γ多市型通ずご方ｊ（に於＋ｊる従来の回
線試験方法はタイムスロットを変更゛→るごとなく回線
試験を行っ′（いたので、１）−Ｐ回線（ポイン１間回
線）はＰ　−１’回綿の１占、マルチドロップ回線はマ
ルチドロップ回線のイ４１でしか試駆！出−；＋ｙ、（
いので試験方法に幅がないとＪ（う欠点があった。

（Ｃ）１発明の１ｊ的 ４、発明の「１的＝、１従来枝術のイ１“邊る」二記の
欠４ｊ、ｉ、をドオ去し、仔りのチャンネルで仔息の折
り退し試験がｉｊＪ能な１ｌｌｌｌ信回線６１（験方式
をｊに供することＣある。

（ｄ）０発明の構成 上記のト１的は４゛光明ｔこよれは、回線多１１１型ル
ープ状伝送路をイ１−４゛るデータハイ・シ丁−イ通伯
回ＬｆＡ　ＨＡ：験に於いて、試験用タイニスｌ）ノＩ
・を設り、（Ｊｌり返し試験時にタイニス［ｌノドを前
記試験用タイムスロットに変更して試験を１イ；゛つこ
とを特徴と°４゛る通信回線試験方式を提（ｊｊ−４’
るｌことに、Ｌり達成される。

（ｅ）１発明の実ｈｂ例 第２図は本発明に依るノードＮ　Ｏ１）　ｌ−、及びチ
ャンにル盤＋、　Ｓ　０）構成３示−４’ｌ！、ｉであ
δ°ｌ。

第３し１は本発明ニ依るＷ　ＲＡ　Ｐ　Ｏ２，ｈ　’）
ｖ・′ＲΔ１′王の１作を説明°Ｖるし１である。

しｉ　甲、Ｍ　（＋　Ｘ　ｊ；Ｅ　７　ルナプＬ、クサ
、：ｊ　！’　Ｅｌ　：、：　−；’　イクＬＩＬ！ノ
ピューク、Ａ−１、ＩＮＦ、はアル）、口。

Ｄ　Ｌ　Ｉ　、’：　Ｌ：Ｃ，Ｌデ゛−り↓２゛ごノー
ト＼０１ｊ　１５にＩ：Ｚン一され、ＲＬ：ＧＩはタイ
ムスｕノ１し、スフ、Ｃリド、１１１巳、を比十゛く器
、ＢＩＪＦ　ｉ　ｌｓＬ、ニーＦ’／：、：人々バッフ
ァ、）イＥＧ２はう、ブレジスタ、Ｓ１１．１．ＳＩ−
：Ｌ２二二人々でレクタ、Ｐ　／　Ｓ　、　Ｓ　／　Ｐ
　；、Ｌ人々・ぐうレルー・−゛す゛ｒル変換器、−′
リアルー・バラレ／１次、１突石ご、（ｉ、１石もチャ
／２゛ル盤り、　Ｓに＋１）容さ石る。

Ｌジ）Ｌこ示゛（様に各ナヤンン５ルラ２１−　Ｓ　ｉ
、ｂ人）、・り・イ、′−スτコ、ルノスタＲＩらにｌ
をＬ’＋ξ１．１ｔｊ　（’）レノスフに；）定さ２１
′Ｃいる°ｒｔルノ、と７　／ｌ、　ナシ！、　りＪ）
７．；　ｌ；Ｘかイ１り出したア）’Ｌ／スを比十′ｌ
器Ｃ，（ｌ　Ｍ　ｌ”ｊ’　１．Ｌ＋ｚし、ア１Ｌ−）
、か一致した峙；、：ハ／　−、’　７　Ｈじ１・１、
及こ−１うＵｌ・２を開いて該タイムスロット１１．（
”、−７−タを、＋、＋Ｉｊ末装置′１′に迷り、叉デ
ータを５ｔ′１木１・Ｈ６゛１つ・らのデータを該タイ
ニスＬＪ　／ｉ　、１−に束・セ？１゜本発明は回線試
験を行るうと３゛Ｚ）ナヤンλ°、月−二ｙｊシテスト
設定をする時、イリこ用タイニス１Ｊ２Ｆを試験用タイ
ムラｌコツトに変更することＳこより１！Ｑ・の（）１
つ返−ｊ、！、’験か出来る様に′（°るもので、＋〕
己。

−例としてｈｌしｊのｆｂｌにＩＴ″いてタイ７′、ノ
、ｌ：Ｉ　、、　ｉ’Ｉ’ＳＩ＋がｉ；１、厚・用タイ
ムスロノ（−であイ）と−４ミ１、今（１−５の妊ｊ、
４．装置（例えば′１１１と場り：１ン゛こ６工１、シ
・をし、！：うとする場合、監視：！ｊｉ　ｉｈｌ＋シ
：装置ニー１．＋　ｉｊｉμ、０謔１未Ｚ１７Ｉ：のｉ
Ｉ／ｉ　Ｉ；１″、ずろノー１゛Ｎ　（ｊ　ＩＪＩらＩ
にり！　ｉ−、＋ｈ　′り゛を述るｅ　ＩＬ　（Ｉ　場
合の重合にり、ｔν／Ｒ八１′へと一″虻′パハ１”１
の二種う了１か、５る。

、！　−１き　０　１Ｊ　Ｉｔ　二人ｌｉｚ名′　さ　
Ｊｌ　で　（・　る　−゛１’　７　＋−コ　ニス　７
・ビ　、１−　夕　拳、：　＋°〔＋　：、：　５＋：
、　？見：ｌｌ’！　ｆａｌｌシニ、１白°　Ｓ　か　
じ、−２・　、・　、ｊ’　Ｈ’：、１（：丁／Ｉ−を
受イ、τ°づ゛ると、夕・イムノ’　７ｔ　ｉ　：：ｚ
、夕１・ｉ・（：１にシッ１用夕・イムスロノ１ア）し
ノを、７ノブレノ、ノ／、＋　ｌ＜　ｌ−Ｇ　２にフッ
ブー２−１６・声、声、・μ’（Ｌ′’Ｊ今ノーｔ　Ｎ
　ＣＪ　ｉＪＪｌが〜１．゛ＩンＡＩ’　（１０，）　
ｊｌｉ令を九そイ、１→　る　と　タ　イ　ノ・　ノ、
ロノ（ジノ　）、タ　Ｒｌ’に　ｌ　二ｍ　、１１°、
！’：　ＩＮタイムスＩ！ノ１Ｔｓｆｆ、のア１′Ｌ・
ス、′Ｊ設疋さ！＋１１□　装置Ｔｌｌが受信する。第
３図のｆｂｌは此の様に使用するとＷＲＡＰＯの場合と
同様にクイムノ、ロノトレノスタＲＥ　Ｇ　１に試験用
タイムスロノＬ　Ｔ　Ｓ　ｍのアドレスが設定され、其
の時迄使用していたタイムスロットＴＳＩの代わりにタ
イムスロノｔ−’「Ｓｍを使用し、且つランプレジスタ
ＲＥ　Ｇ　２にラップコードが設定され、第２図に於い
て点線で示す様にセレクタＳＥＬ　１．５ＥＬ２の接続
変更が行われ、折り返し状態になる。

第３図の（ａｌはチャンネル１Ｌｓ１１の内部で折り１
１間昭ＧＯ−１８６１５５　（３） 返し回路を作りタイムスロックを試験用タイムスし１ノ
１に変更した状態を図示するもので、此の設定をＶ／　
＋≧Ａ　Ｉ）　Ｉと呼ぶ。

尚以下の説明に於い°ζ端末装置’Ｉ’　ｎとチャンネ
ル盤Ｌ　Ｓ　ｎを総称し゛ＣチャンネルＣＩＩ　ｎと云
う。

第４図は本発明に依る自局折り返しの一実施例を示すブ
ロック図である。

第４図に於いてチャンネルＣＨＩはＷＲＡＩ）　１に設
定され、チャンネルＣ１］２はＷＲＡＩ）Ｕに設定され
ている。チャンネルＣ１１１とチャンネル０１１２が通
信している時に第４図の状態に変化さ・Ｉ！ることによ
りチャンネルＣＨＩの折り返し試験が出来る。

第５図は本発明に依る相手局折り返しの一実施例を示ず
ブ１フック図である。

第５図に於いてチャンネルＣＩ＋１はＷＲＡＰ　Ｏに設
定され、チャンネルＣＨ２はＷＲＡＰＩに設定されてい
る。チャンネルＣＨＩとチャンネルＣＨ２が１ｆｆｌ信
している時に第５図の状態に変化させることによりチャ
ンネルＣＨ２の折り返しく相手此の場合はチャンネルＣ
ＨＩはＷ　ＲＡ　Ｐ　Ｏに、チャンネルＣＨ（ｎ＋１）
はＷＲＡＰＯに設定する。尚チャンネルＣＨ、、ｎ及び
チャンネルＣＨ（ｔ＋＋２）は共にＷＲＡＰなしとする
。

此の様に１″ることによりチャンネルＣＨＩとチャンネ
ルＣＨ（ｎす１）はＰ−Ｐ回線となり、チャンネルＣ１
ＩｎとチャンネルＣＨ（ｎ　十’ｌ　）　！’：Ｌ共に
線路から切り月！され、対向で試験することが出来る。

又チャンネルＣＨＩ或いはチャンネルＣ）Ｉ（ｎ＋１）
をＷ　ＲＡ　Ｐ　１とすれば、折り返し試験も出来る。

第９図は本発明の一応用例を示す図である。

第９図では、チャンネルＣＨＩはＷＲＡＰＯ、チャンネ
ルＣＩＩ　２〜Ｃｌ（ｎをＷＲＡＰＩに設定することに
より、任息のチャンネル盤を仕息の個数一度に試験する
ことが出来る。

又試験用タイムスロ７Ｆを？Ｍ数個設置Ｊることにより
、同時に複斂ｔｌｌの回線ｉ工（験を行うこともＩＩＪ
ｌ七である。

（ｒ）１発明のシＪ果 エリ」−詳１１１１に説明した様に本発明にＪ、れば、
仔ｐのナヤン不ルで住υの折り返し試験が実施出来る為
効率の良い試験を行うことが出来Ｚ＋と云う大きい効果
がある。

【図面の簡単な説明】

第１し１のｔａ＋はイノを来の回線条虫型ループ状伝送
路を有゛」゛るデータハイウェイ逓信回線試験の一実施
例を示すブロック図であり、（ｂｌは回線多重型通信の
３リノ作を説明する為の図である。 第２図は４−発明にＣ衣るノートＮ　ＯＩ）　Ｉ：、及
び千ヤン不ルクＪＬＳの構成を示−Ｊ−図である。 第３図のｆａ＋は設定ＷＲＡＰＩを示す図であり、第３
Ｍの（ｂｌは設定Ｗ　ＲＡ　Ｐ　Ｏを示す図である。 、第４図は本発明に依る自局折り返しの−￥旅例を示す
ブロック図である。 第５図は本発明に依る相手局折り返しの一実施例を示Ｊ
−ブロック図である。 第６図は不発ツｊに依る伝送路折り返しの一実施例を示
Ｊ−ブロック図である。 第７図はマルチ１０ノブ回線をボＪ。 第８凹はチャンネルＣｌ１ｌとチャンネルＣ１１（ｎ−
１１）の間のみで試験するシロの構成し１である。 第９し１は４１発明の一応用例を示ずし１でＪ）る。 図中、ＳＶは監視制ｆａｌｌ装置、ｌ−Ｉ　Ｎ　Ｌ：　
ｉ：Ｌチー　タハイウェイ１ｆｆｌ信回線、Ｎｏｔ）Ｅ
ｌ−ＮＯ１月悄言５Ｌ夫々ノード、Ｌ　Ｓ　１１”　Ｌ
　Ｓ　ｌｎ＋Ｊ夫々ノートＮ　０１）Ｅｌに接１／Ｃす
るチャンネル盤、Ｌ　Ｓ　２１〜Ｌ、　Ｓ　２ｎは夫々
ノー）”　Ｎ　ＯＤ　Ｅ　２に［妾続するナヤン不ルシ
ｒｄ、ＬＳｎｌ〜しＳｎｎは夫々ノートＮｏ１１三ｎに
接続するチャンネル盤、’Ｉ’ｌｌ〜ｉ’Ｉｎはチャン
ネル盤１．５１１＝ＬＳ１ｎに夫々接続される始末装置
、’Ｉ’　ｎ　ｌ〜ｉｎｎはナヤン不ル盤Ｌ　５ｎｉ−
１−５ｎｒ１に人々１８続される昂１未装置、Ｐはパタ
ーン、’「Ｓ　ｌ　〜１’　Ｓｍは夫々タイムスロット
、ＭＬＪＸはマルチプレクサ、ＭＰＵはマイクロコンピ
ュータ、Δ−ＬＩＮＥはアＩルス線、１）−ＬＩＮＥは
データ線、１ンＥＧＩはタイムスロノトレノスタ、ＣＯ
Ｍ　Ｐは比中交器、１３ＵＦ１、Ｂ　ＣＩ　Ｆ２は夫々
バッファ、Ｒ１５：　Ｇ　２はラップレジスタ、５ＥＬ
Ｉ、５ＥＬ２は大々上Ｌ・り夕、Ｐ／Ｓ、Ｓ／Ｐは夫々
パラレルーーノリアル変換器、シリアル−パラレル変陵
器である。 第１　図 （シ？ン （−１ダ−２ 草２図 蓼４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 回線釜１１ｉ型ループ状伝送路をイｊするデータハイウ
   ェイ゛通イ１１回に試験に於いて、試験用１タイムスロ
   ツトを設け、折り返し試験的にタイムスロットを１ｉｉ
   ｉ記試験用タイムスロー／　）に変更して試験を行うこ
   とを特徴とする通ずバ回線試験方式。