JPS63262931A - スキツプ多重化装置 - Google Patents
スキツプ多重化装置Info
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- JPS63262931A JPS63262931A JP9772487A JP9772487A JPS63262931A JP S63262931 A JPS63262931 A JP S63262931A JP 9772487 A JP9772487 A JP 9772487A JP 9772487 A JP9772487 A JP 9772487A JP S63262931 A JPS63262931 A JP S63262931A
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 241001627940 Arothron diadematus Species 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
PCMの低次群の多重化ユニットと、この多重化ユニッ
トの出力信号を多重化する高次群の多重化ユニットとを
直結する事により、回路を簡略化したスキップ多重化装
置(以下スキップMUX装置と称する))において、デ
ータを書き込みクロックにより記憶し読み出しクロック
により読み出す記憶装置と、読み出しクロックと書き込
みクロックとの位相を比較し、その位相差が所定の値に
なった時スタッフパルスを要求する信号をクロック発生
器に与える位相比較器とを、低次群又は高次群の多重化
ユニットに付加する事により、スキップした中間の周波
数帯における装置の折り返し試験を可能とするものであ
る。
トの出力信号を多重化する高次群の多重化ユニットとを
直結する事により、回路を簡略化したスキップ多重化装
置(以下スキップMUX装置と称する))において、デ
ータを書き込みクロックにより記憶し読み出しクロック
により読み出す記憶装置と、読み出しクロックと書き込
みクロックとの位相を比較し、その位相差が所定の値に
なった時スタッフパルスを要求する信号をクロック発生
器に与える位相比較器とを、低次群又は高次群の多重化
ユニットに付加する事により、スキップした中間の周波
数帯における装置の折り返し試験を可能とするものであ
る。
本発明は、PCMのスキップMUX装置において、スキ
ップした中間の周波数帯で折り返し試験を行うための折
り返し部を付加したスキップMUχ装置に関する。
ップした中間の周波数帯で折り返し試験を行うための折
り返し部を付加したスキップMUχ装置に関する。
PGMの多重化装置を用いた伝送系において障害が発生
した場合、伝送系を信号側からテスト側に切り替えて、
所定の箇所からパルスパターン信号を入力し、伝送路及
び伝送装置を転送させ所定の箇所で折り返し、元の箇所
でエラーディテクタ等により入力信号との比較を行う、
いわゆる折り返し試験によって障害箇所の検出を行って
いる。
した場合、伝送系を信号側からテスト側に切り替えて、
所定の箇所からパルスパターン信号を入力し、伝送路及
び伝送装置を転送させ所定の箇所で折り返し、元の箇所
でエラーディテクタ等により入力信号との比較を行う、
いわゆる折り返し試験によって障害箇所の検出を行って
いる。
スキップFIIJX装置を使用した伝送系において障害
箇所の検出を行う場合も、スキップした中間の周波数帯
でも正しい折り返し試験ができる装置である事が望まし
い。
箇所の検出を行う場合も、スキップした中間の周波数帯
でも正しい折り返し試験ができる装置である事が望まし
い。
第5図は従来例のM13スキップMUX装置の構成図で
ある。
ある。
第5図・において、M13スキップMUX装置lは、P
CMの例えば30チヤネルからなる1次群のデータ(ビ
ットレートが2.048Mb/s)を2次群のデータ(
ビットレートが8.448Mb/s)に多重化するM1
21重化ユニット(以下M 12MUXユニットと称す
る)2と、この2次群の出力データを3次群のデータ(
ビットレートが34.368Mb/s)に多重化するM
232重化ユニット(以下M23Mtlχユニットと称
する)3とで構成される。そしてM 12MUXユニッ
ト2とM23MUXユニット3との間は、データ線及び
クロック線で結ばれる。
CMの例えば30チヤネルからなる1次群のデータ(ビ
ットレートが2.048Mb/s)を2次群のデータ(
ビットレートが8.448Mb/s)に多重化するM1
21重化ユニット(以下M 12MUXユニットと称す
る)2と、この2次群の出力データを3次群のデータ(
ビットレートが34.368Mb/s)に多重化するM
232重化ユニット(以下M23Mtlχユニットと称
する)3とで構成される。そしてM 12MUXユニッ
ト2とM23MUXユニット3との間は、データ線及び
クロック線で結ばれる。
このような構成にする事により、M 12MUXユニッ
トとM 23MUXユニットを装置として独立してM1
2MUX装置、M 23MUX装置として使用する場合
に必要となるバイポーラ/ユニポーラ変換回路(以下B
/Uと称する、図示しない)、ユニポーラ/バイポーラ
変換回路(以下U/Bと称する、図示しない)、及びM
12MLIX装置におけるマスククロフグ用のクロック
発生器(図示しない)を使用しなくてすむ。
トとM 23MUXユニットを装置として独立してM1
2MUX装置、M 23MUX装置として使用する場合
に必要となるバイポーラ/ユニポーラ変換回路(以下B
/Uと称する、図示しない)、ユニポーラ/バイポーラ
変換回路(以下U/Bと称する、図示しない)、及びM
12MLIX装置におけるマスククロフグ用のクロック
発生器(図示しない)を使用しなくてすむ。
M12MUX ユニ7ト2の出力データをM23MUX
ユニット3に転送して、更に他のM 12MUXユニ
ット(図示しない)からのデータと共に多重化する時に
は、M 23MUXユニット3に有するクロック発生器
4により発生するクロックをM12MUχユニット2に
読み出しクロックとして入力する事により、M 12M
UXユニット2の2次群のデータを読み出し、M 23
MtlXユニット3に転送して、ここで他の2次群デー
タと共に多重化を行う。
ユニット3に転送して、更に他のM 12MUXユニ
ット(図示しない)からのデータと共に多重化する時に
は、M 23MUXユニット3に有するクロック発生器
4により発生するクロックをM12MUχユニット2に
読み出しクロックとして入力する事により、M 12M
UXユニット2の2次群のデータを読み出し、M 23
MtlXユニット3に転送して、ここで他の2次群デー
タと共に多重化を行う。
逆に、M 23MυXユニント3の多重化したデータを
2次群のデータに分離したい時には、M 23MtlX
ユニット3に有する多重化分離ユニット(以下DMUX
と称する、図示しない)により分離して、分離したデー
タから公知のクロック抽出回路(図示しない)により抽
出した書き込みクロックにより、分離したデータをM
12MIJXユニット2に転送するようにしていた。
2次群のデータに分離したい時には、M 23MtlX
ユニット3に有する多重化分離ユニット(以下DMUX
と称する、図示しない)により分離して、分離したデー
タから公知のクロック抽出回路(図示しない)により抽
出した書き込みクロックにより、分離したデータをM
12MIJXユニット2に転送するようにしていた。
しかしながら上述のスキップMIX装置においては、伝
送系に障害が発生し、伝送路又は装置の障害箇所を検出
する折り返し試験を行う場合、スキップした周波数帯(
上述のM13スキップiυX装置の場合、2次群の周波
数帯)における試験を行う事が出来ないという問題点が
あった。
送系に障害が発生し、伝送路又は装置の障害箇所を検出
する折り返し試験を行う場合、スキップした周波数帯(
上述のM13スキップiυX装置の場合、2次群の周波
数帯)における試験を行う事が出来ないという問題点が
あった。
上記問題点は第1図に示すように、PCM信号の第一の
信号多重化手段200と、第一の信号多重化手段200
の出力信号を多重化する第二の信号多重化手段300と
を有し、第二の信号多重化手段300にクロック発生器
400を有するスキップ多重化装置100において、所
定のデータを書き込みクロックにより記憶し、クロック
発生器400の出力の読み出しクロックにより読み出す
記憶手段500と、書き込みクロックと読み出しクロッ
クの位相を比較し、両者の間の位相差が所定の値になっ
た時、スタッフパルスを要求する信号をクロック発生器
400に与えるスタッフ制御手段600とを、第一又は
第二の信号多重化手段に付加した本発明のスキップ多重
化装置によって解決される。
信号多重化手段200と、第一の信号多重化手段200
の出力信号を多重化する第二の信号多重化手段300と
を有し、第二の信号多重化手段300にクロック発生器
400を有するスキップ多重化装置100において、所
定のデータを書き込みクロックにより記憶し、クロック
発生器400の出力の読み出しクロックにより読み出す
記憶手段500と、書き込みクロックと読み出しクロッ
クの位相を比較し、両者の間の位相差が所定の値になっ
た時、スタッフパルスを要求する信号をクロック発生器
400に与えるスタッフ制御手段600とを、第一又は
第二の信号多重化手段に付加した本発明のスキップ多重
化装置によって解決される。
第1図において、例えば対向局に設置した試験装置から
送出したデータを、対向局の多重化装置及び伝送路を介
してスキップ多重化装置100で受信し、このデータか
ら抽出した書き込みクロックにより記憶手段500に書
き込む。そしてクロック発生器400からの読み出しク
ロックにより、上記の書き込んだデータを読み出して対
向局の試験装置に向けて送出する。
送出したデータを、対向局の多重化装置及び伝送路を介
してスキップ多重化装置100で受信し、このデータか
ら抽出した書き込みクロックにより記憶手段500に書
き込む。そしてクロック発生器400からの読み出しク
ロックにより、上記の書き込んだデータを読み出して対
向局の試験装置に向けて送出する。
同時に、上記の書き込みクロックと読み出しクロックと
をスタッフ制御手段600に入力して、その位相を比較
して位相差が所定の値になった時、スタッフパルスを要
求する信号をクロック発生器400に入力する。そして
読み出しクロックを書き込みクロックより一定の位相差
以上遅延させる事により、記憶手段500に書き込んだ
データを誤りなく読み出す事が出来る。
をスタッフ制御手段600に入力して、その位相を比較
して位相差が所定の値になった時、スタッフパルスを要
求する信号をクロック発生器400に入力する。そして
読み出しクロックを書き込みクロックより一定の位相差
以上遅延させる事により、記憶手段500に書き込んだ
データを誤りなく読み出す事が出来る。
このようにして、スキップ多重化装置のスキップした中
間の周波数帯における正しい折り返し試験を行う事が出
来る。
間の周波数帯における正しい折り返し試験を行う事が出
来る。
第2図は本発明の実施例のM13スキップMtlX装置
の折り返し部の構成を示すブロック図である。
の折り返し部の構成を示すブロック図である。
第3図は本発明を説明する図である。
第4図は本発明の実施例のM13スキップMUX装置の
折り返し試験を行うシステムの構成ブロック図である。
折り返し試験を行うシステムの構成ブロック図である。
全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
第4図において、M 12MUX装置21において、交
換機25からPCM30多重化装置(以下PCM30
MUX装置と称する)22を介して入力した1次群の信
号を他の交換機(図示しない)からの1次群の信号と共
に多重化して、2次群の信号に変換する。こめ出力をM
23M[IX 装置31に入力して、2次群の信号を他
のM 12M[IX装置(図示しない)からの2次群の
信号と共に多重化して、3次群の信号に変換する。この
出力を電気/光変換器(以下E10と称する)70に入
力して光信号に変換して、光ファイバに送出する。
換機25からPCM30多重化装置(以下PCM30
MUX装置と称する)22を介して入力した1次群の信
号を他の交換機(図示しない)からの1次群の信号と共
に多重化して、2次群の信号に変換する。こめ出力をM
23M[IX 装置31に入力して、2次群の信号を他
のM 12M[IX装置(図示しない)からの2次群の
信号と共に多重化して、3次群の信号に変換する。この
出力を電気/光変換器(以下E10と称する)70に入
力して光信号に変換して、光ファイバに送出する。
一方、相手側では光ファイバから受信した光信号を光/
電気変換器(以下0/Eと称する)80に入力して電気
信号に変換する。この゛出力をM13スキップMtlX
装置10に入力する。ここで第2図に示すM23M[J
Xユニット30において、3次群の多重化した入力信号
を2次群の信号に分離し、更にM12MIXユニット2
0において2次群の信号を1次群の信号に分離する。こ
の出力信号をPCM 30MIJχ装置12を介して第
4図に示す相手側の交換機15に入力し、相手側の電話
機(図示しない)等に転送する。
電気変換器(以下0/Eと称する)80に入力して電気
信号に変換する。この゛出力をM13スキップMtlX
装置10に入力する。ここで第2図に示すM23M[J
Xユニット30において、3次群の多重化した入力信号
を2次群の信号に分離し、更にM12MIXユニット2
0において2次群の信号を1次群の信号に分離する。こ
の出力信号をPCM 30MIJχ装置12を介して第
4図に示す相手側の交換機15に入力し、相手側の電話
機(図示しない)等に転送する。
今、上記伝送路(光ファイバ等)及び各MUX装置を含
む伝送系で障害が発生した時、障害箇所の検出を行うた
めに2次群(伝送速度が8.488Mb/sである)の
周波数帯において折り返し試験を行うとする。この時、
M23MUX装置31の入力部に設けたスイッチ籏1の
テスト側入力にパルスパターン発生器(以下PPGと称
する)90の出力を接続し、リモートループバンク命令
(以下RLB命令と称する)をフレーム内に多重する(
これはRLBスイッチ(図示しない)にて行う)。
む伝送系で障害が発生した時、障害箇所の検出を行うた
めに2次群(伝送速度が8.488Mb/sである)の
周波数帯において折り返し試験を行うとする。この時、
M23MUX装置31の入力部に設けたスイッチ籏1の
テスト側入力にパルスパターン発生器(以下PPGと称
する)90の出力を接続し、リモートループバンク命令
(以下RLB命令と称する)をフレーム内に多重する(
これはRLBスイッチ(図示しない)にて行う)。
又、同装置31の受信側の出力部に設けたスイッチSW
2のテスト側出力にエラーディテクタ95を接続する。
2のテスト側出力にエラーディテクタ95を接続する。
そして、このスイッチSki 、SW2を信号側からテ
スト側に切り替える。
スト側に切り替える。
次にPPG90からテストパターンの信号を送出し、M
23MUX装置31、E1070、光7yイバ、及び
O/E80を介してM13スキップMUX装置10に入
力する。ここで第2図に示すように、入力したテストパ
ターンのデータから書き込みクロックを抽出し、この書
き込みクロックによりテストパターンのデータをメモリ
50に書き込む。そしてクロック発生器40の出力の読
み出しクロックにより、上記のメモリ50に書き込んだ
テストパターンのデータを読み出し、O/E80、光フ
ァイバ及び送信側のE1070を介してM 23MUχ
装置に転送し、スイッチSW2を介してエラーディテク
タ95に入力する。
23MUX装置31、E1070、光7yイバ、及び
O/E80を介してM13スキップMUX装置10に入
力する。ここで第2図に示すように、入力したテストパ
ターンのデータから書き込みクロックを抽出し、この書
き込みクロックによりテストパターンのデータをメモリ
50に書き込む。そしてクロック発生器40の出力の読
み出しクロックにより、上記のメモリ50に書き込んだ
テストパターンのデータを読み出し、O/E80、光フ
ァイバ及び送信側のE1070を介してM 23MUχ
装置に転送し、スイッチSW2を介してエラーディテク
タ95に入力する。
エラーディテクタ95でPPG90の出力のテスト六タ
ーンのデータと比較し、上記伝送路、各MUX装置等に
おける障害の存無を検出する。
ーンのデータと比較し、上記伝送路、各MUX装置等に
おける障害の存無を検出する。
この際、データが各種の回路を経由する間その位相が変
動し、書き込みクロックはテストバターンのデータから
抽出しているために、書き込みクロックも変動する。そ
して第3図に示すように、書き込みクロックの位相が読
み出しクロックの位相にあまり近づくと、メモリ50に
書き込んだデータを正確に読み出す事が出来なくなる。
動し、書き込みクロックはテストバターンのデータから
抽出しているために、書き込みクロックも変動する。そ
して第3図に示すように、書き込みクロックの位相が読
み出しクロックの位相にあまり近づくと、メモリ50に
書き込んだデータを正確に読み出す事が出来なくなる。
このため、第2図に示すように書き込みクロックと読み
出しクロックを位相比較器60に入力し、その位相差を
公知の比較器(図示しない)により比較する。そして、
例えば10ビット間隔の繰り返しクロックの場合、2ビ
ット程度にまで近づいた時読み出しクロックからパルス
を1ビット除く、いわゆるスタッフパルス制御信号をク
ロック発生器40に入力し、読み出しクロックからパル
スを1ビット除く。
出しクロックを位相比較器60に入力し、その位相差を
公知の比較器(図示しない)により比較する。そして、
例えば10ビット間隔の繰り返しクロックの場合、2ビ
ット程度にまで近づいた時読み出しクロックからパルス
を1ビット除く、いわゆるスタッフパルス制御信号をク
ロック発生器40に入力し、読み出しクロックからパル
スを1ビット除く。
この結果、正しいデータをメモリ50から読み出す事が
出来る。
出来る。
以上説明のように本発明によれば、スキップ多重化装置
においてスキップレベルにおけるテストパターンデータ
の折り返しが出来るようにして、正しい折り返し試験を
可能とするものである。
においてスキップレベルにおけるテストパターンデータ
の折り返しが出来るようにして、正しい折り返し試験を
可能とするものである。
第1図は本発明の原理図、
第2図は本発明の実施例のM13スキップMIJX装置
の折り返し部の構成を示すブロック 図、 第3図は本発明・を説明する図、 第4図は本発明の実施例のM13スキップMtlX装置
の折り返し試験を行うシステムの構 成ブロック図、 第5図は従来例のM13スキップMIX装置の構成図で
ある。 図において 100はスキップ多重化装置、 200は第一の信号多重化手段、 300は第二の信号多重化手段、 400はクロック発生器、 500は記憶手段、 600はスタッフ制御手段 を示す。
の折り返し部の構成を示すブロック 図、 第3図は本発明・を説明する図、 第4図は本発明の実施例のM13スキップMtlX装置
の折り返し試験を行うシステムの構 成ブロック図、 第5図は従来例のM13スキップMIX装置の構成図で
ある。 図において 100はスキップ多重化装置、 200は第一の信号多重化手段、 300は第二の信号多重化手段、 400はクロック発生器、 500は記憶手段、 600はスタッフ制御手段 を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 PCM信号の第一の信号多重化手段(200)と、該第
一の信号多重化手段(200)の出力信号を多重化する
第二の信号多重化手段(300)とを有し、該第二の信
号多重化手段(300)にクロック発生器(400)を
有するスキップ多重化装置(100)において、所定の
データを書き込みクロックにより記憶し、該クロック発
生器(400)の出力の読み出しクロックにより読み出
す記憶手段(500)と、 該書き込みクロックと読み出しクロックの位相を比較し
、両者の間の位相差が所定の値になった時、スタッフパ
ルスを要求する信号を該クロック発生器(400)に与
えるスタッフ制御手段(600)とを、該第一又は第二
の信号多重化手段に付加した事を特徴とするスキップ多
重化装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9772487A JPS63262931A (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | スキツプ多重化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9772487A JPS63262931A (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | スキツプ多重化装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63262931A true JPS63262931A (ja) | 1988-10-31 |
Family
ID=14199836
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9772487A Pending JPS63262931A (ja) | 1987-04-20 | 1987-04-20 | スキツプ多重化装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63262931A (ja) |
-
1987
- 1987-04-20 JP JP9772487A patent/JPS63262931A/ja active Pending
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