JPH03279880A - 検査機能付集積回路素子 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は集積回路素子を半田付は実装した後に実施され
る半田付は不良検査の工程で使用される検査補助機能を
内蔵した集積回路素子に関するものである。

従来の技術 近年、システムの高密度化に伴って電子回路部品の実装
方法が表面実装法になり、集積回路素子も表面実装に適
するように小形化されている。そのため、入出力リード
間のピッチが狭小になってきており、入出力リードの半
田付けには高度な技術が要求されるとともに、実装後の
半田付けの不良検査が必要になってきている。

従来の集積回路素子１は、第４図に示すようにデジタル
信号処理部２を内蔵しただけの構成で、半田付けの不良
検査の際に使用される検査補助機能を内蔵したものは存
在しておらず、次のようにして半田付けの不良検査が実
施されている。

第３図に示すように、第１の集積回路素子１ａの出力を
第２の集積回路素子１ｂの入力に接続し、第２の集積回
路素子１ｂの出力を第３の集積回路素子１ｃの入力に接
続したシステムの場合には、第１の集積回路素子１ａの
入力に信号を供給して第３の集積回路素子１ｃの出力デ
ータが正常かどうかを判断するファンクシロンテストを
実施し、ファンクションテストで合格すれば半田付けに
“異常なし”と判断している。

発明が解決しようとする課題 このような従来の構成では、ファンクションテストで不
合格になった場合には、それが“ファンクション不良”
なのか“半田付は不良”なのがを迅速に区別することが
できない。また、６半田付は不良”と分かってもその半
田付は不良箇所を見付は出すことが困難である。

本発明は実装後の半田付は検査を容易に、しかも迅速に
実施できる集積回路素子を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段 本発明の集積回路素子は、デジタル信号処理部の入力側
に入力バッファ部を設け、デジタル信号処理部の出力側
に出力バッファ部を設け、前記大力バッファ部を、外部
からの入力信号を前記デジタル信号処理部の入力に供給
する通常モードと外部からの入力信号を前記出力バッフ
ァ部の一方の入力側に供給する検査モードとに検査モー
ド入力信号に応じて切り換えられるよう構成し、前記出
力バッファ部を、前記検査モード入力信号に応じて通常
モードでは他方の入力側に供給されている前記デジタル
信号処理部の出力信号を出力し、検査モードでは前記一
方の入力側に供給されている信号を出力するように構成
したことを特徴とする。

作用 この構成によると、検査モード入力信号で通常モードを
指定すると、入力バッファ部は集積回路素子に入力され
た入力信号をデジタル信号処理部の入力に供給し、出力
バッファ部はデジタル信号処理部の出力信号を集積回路
素子から出力する。

検査モード入力信号で検査モードを指定すると、入力バ
ッファ部と出力バッファ部とでデジタル信号処理部を介
さずに入力バッファ部が受は取ったデータが出力バッフ
ァ部を介して集積回路素子から出力される。

実施例 以下、本発明の一実施例を第１図と第２図に基づいて説
明する。

第１図に示すように本発明の集積回路素子３には、デジ
タル信号処理部２の他に大力バッファ部４と出力バッフ
ァ部５を内蔵している。集積回路素子３には入力バッフ
ァ部４と出力バッファ部５に動作モードを指定する検査
モード入力信号６を外部から供給する検査モード入力ビ
ン７が設けられている。

入力バッファ部４は、外部からの入力信号８をデジタル
信号処理部２の入力に供給する通常モードと、外部から
の入力信号８を出力バッファ部５の一方の入力側ａに供
給する検査モードとに、検査モード入力信号６に応じて
切り換えられるよう構成されている。出力バッファ部５
は、検査モード入力信号６に応じて通常モードでは他方
の入力側すに供給されているデジタル信号処理部２の出
力信号を出力し、検査モードでは前記一方の入力側ａに
供給されている信号を出力するように構成されている。

このようにして構成された第１．第２．第３の集積回路
素子３　ａｌ　３　ｂ＋　３　ｃを第２図に示すように
半田付は実装してシステムを構成した場合には、次のよ
うに半田付けの不良検査が実施される。

検査モード入力信号６によって各集積回路素子３ａ＋　
　３ｂｔ　３ｃの検査モード入力ピン７に検査モードを
指示した状態では、各集積回路素子３ａ〜３ｃが内蔵し
ているデジタル信号処理部２を信号系から分離すること
ができる。その結果、下記の検査で発生した不良は“フ
ァンクション不良”ではな（て“半田付は不良”である
と断定できる。

すなわち、上記のように第１〜第３の集積回路素子３ａ
〜３ｃを検査モードにして第１の集積回路素子３ａの入
力側に特定のパターンの入力信号８ａを供給すると、半
田付けに不良がなければ入力信号８ａと同じものが、第
１．第２の集積回路素子３　ａ　＊　３　ｂの出力側な
らびに最終段である第３の集積回路素子３ｃの出力側に
発生する。

半田付けが不良の場合には、入力信号８ａと異なるパタ
ーンの信号がその不良箇所に応じて第１〜第３の集積回
路素子３ａ〜３ｃの出力信号のパターンに現れる。

したがって、このように入力バッファ部４と出力バッフ
ァ部５の検査補助機能を内蔵した集積回路素子３ａ〜３
ｃを縦続接続してシステムを構成している場合には、入
力信号８ａと同じパターンの信号が最終段ならびに各段
の出力に現れているかどうかを比較するだけで、半田付
けの不良箇所をほぼ特定することができる。

上記の実施例では第１図において人力バッファ部４と出
力バッファ部５のブロック中に、作用を理解し易いよう
に破線でスイッチ９，１０を等価回路として記入したが
、各ビットの信号線には１個以上のバッファ回路または
これに類する回路を介装することが考えられる。

発明の効果 以上のように本発明によれば、デジタル信号処理部の入
力側に入力バッファ部を設け、デジタル信号処理部の出
力側に出力バッファ部を設け、前記入力バッファ部を、
外部からの入力信号を前記デジタル信号処理部の入力に
供給する通常モードと外部からの入力信号を前記出力バ
ッファ部の一方の入力側に供給する検査モードとに検査
モード入力信号に応じて切り換えられるよう構成し、前
記出力バッファ部を、前記検査モード入力信号に応じて
通常モードでは他方の入力側に供給されている前記デジ
タル信号処理部の出力信号を出力し、検査モードでは前
記一方の入力側に供給されている信号を出力するように
構成したため、検査モードにしてデジタル信号処理部を
信号系から分離した状態で半田付けの不良検査を実施す
ることができ、′ファンクション不良”ではなくて“半
田付は不良”であると断定することができるとともに、
複数の集積回路素子を接続してシステムを構成した場合
にその不良箇所を迅速に特定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の集積回路素子の一実施例のブロック図
、第２図は同集積回路素子を縦続接続したシステムのブ
ロック図、第３図は従来の集積回路素子を縦続接続した
システムのブロック図、第４図は従来の集積回路素子の
ブロック図である。 ２・・・デジタル信号処理部、３・・・集積回路素子、
３ａ、３ｂ＋　　３ｃ・・・第１〜第３の集積回路素子
、４・・・入力バッファ部、５・・・出力バッフ１部、
６・・・検査モード入力信号、７・・・検査モード入力
ピン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、デジタル信号処理部の入力側に入力バッファ部を設
   け、デジタル信号処理部の出力側に出力バッファ部を設
   け、前記入力バッファ部を、外部からの入力信号を前記
   デジタル信号処理部の入力に供給する通常モードと外部
   からの入力信号を前記出力バッファ部の一方の入力側に
   供給する検査モードとに検査モード入力信号に応じて切
   り換えられるよう構成し、前記出力バッファ部を、前記
   検査モード入力信号に応じて通常モードでは他方の入力
   側に供給されている前記デジタル信号処理部の出力信号
   を出力し、検査モードでは前記一方の入力側に供給され
   ている信号を出力するように構成した検査機能付集積回
   路素子。