JPH043642A - ボタン電話装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、複数の機能ブロックごとの回路を含む主装置
のプリント基板に、プリント基板実装チェッカーにより
テストパターン信号を入力し、その出力信号を検査する
ことにより、実装動作の検査および不良故障の解析を行
なう検査機能を備えたボタン電話装置に関する。

従来の技術 多機能を有するボタン電話装置は、主装置のプリント基
板に多種類の複雑な機能ブロックごとの回路を有してお
り、これらの実装動作の検査および不良故障の解析には
、非常に多（の時間を必要としており、ＣＰＵを含む場
合には特にそうである。この検査および解析を容易にす
るため、従来では、主装置のプリント基板が各機能ブロ
ックごとにコネクタを用いて分割されており、プリント
基板にプリント基板実装チェッカーによりテストパター
ンを人力しその出力信号をモニターすることで、各ユニ
ットの機能検査を行なう方式を採用している。

第４図にはこのような従来のボタン電話主装置のプリン
ト基板の一例が示されている。第４図において、１は主
装置のプリント基板であり、二のプリント基板１は制御
ブロック２と、局線とのインターフェースブロック３と
、ボタン電話機とのインターフェースブロック４と、通
話路を切り替えるためのリンクスイッチブロック５と、
アナログ信号を作るトーンブロック６とに分割されてお
り、これらのユニットはコネクタ７．８により接続され
ている。

第４図に示す従来例においては、まずコネクタ７．８を
互いに外して各ユニットにおける回路を切り離し、その
後にプリント基板実装チェッカーによりコネクタ７また
は８を通じてテストパターン信号を入力し、その出力信
号をモニターすることにより、各ユニットごとの機能検
査を行なうようにしている。したがって、不良故障を発
見した場合にその不良故障の解析を容易に行なうことが
できる。

発明が解決しようとする課題 しかしながら、前記従来のボタン電話装置では、プリン
ト基板１上の複数のユニットをコネクタ７．８を用いて
分割するため、ボタン電話装置全体を一度に自動検査す
るには不向きであり、またコネクタ７．８のビン数や実
装寸法、実装位置の面で制約があった。また材料費およ
び工数の面でもコスト高の要因となっていた。

本発明はこのような従来の問題を解決するものであり、
実装動作の検査および不良故障の解析をプリント基板実
装チェッカーを用いて自動的に行なうことができ、さら
に各機能ブロックの実装効率を向上させるとともにコス
トの低減化を図ることのできる主装置プリント基板を有
するボタン電話装置を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段 本発明は前記目的を達成するために、プリント基板の各
機能ブロックを切り離せるように電子スイッチを使用し
、この電子スイッチを制御することにより、各ユニット
を切り離して自動検査を行なうようにしたものである。

作用 したがって、本発明によれば、電子スイッチを外部から
の信号により制御して各ユニットを切り離すことにより
、プリント基板のプリント基板実装チェッカーによる自
動検査を行なうことができるという効果を有する。

実施例 第１図は本発明の一実施例の構成を示すものである。第
１図において、１１は制御ブロック、１２は局線とのイ
ンターフェースブロック、１３はボタン電話機とのイン
ターフェースブロック、１４は通話路を切り替えるため
のリンクスイッチブロック、１５はアナログ信号音を作
るトーンブロックであり、これらはユニットごとに主装
置のプリント基板１６上に分割して実装されている。

１７はスリーステートバッファで構成された半導体スイ
ッチ、１８はアナログスイッチであり、これらによって
各機能ブロック１１，１２．１３１４．１５を接続する
。１９はテスト切替信号入力ピンであり、２０はテスト
ピン（Ｔ）であり、これらはプリント基板１６上の検査
用テストパターン信号入力および出力信号のモニターに
必要な箇所に予め配置されている。

次に前記実施例の動作について第２図および第３図を参
照して説明する。第３図において、まずプリント基板１
６を、第２図に示すように、プリント基板実装チェッカ
ー２１にセットする（ステップ３１）。この基板実装チ
ェッカー２１には、予め検査手順がプログラムされてい
る。このプロクラムに基づいて、次にテスト切替信号入
力ピン１９に”Ｌ　”信号を入力する（ステップ３２）
。この操作により半導体スイッチ１７およびアナログス
イッチ１８の出力はハイインピーダンス状態となり、制
御ブロック１１は他のブロック１２．１３．１４．１５
から切り離される。次いで、テストピン２０を介して検
査用テストパターン信号を入力しくステップ３３）、そ
の出力信号をモニターする（ステップ３４）。そして、
出力信号と基準信号とを比較する（ステップ３５）。

この基準信号は正常な基板から得られる出力信号であり
、この基準信号との比較を行なうことによりモニターさ
れた出力信号における異常を検出する。ここで、出力信
号と基準信号とが一致した場合、プリント基板１６に不
良故障なしとして良品と判定される。また不一致の場合
には、不一致となった信号箇所を表示しくステップ３６
）、プリント基板１６に不良故障ありとして不良品と判
定される。

このように前記実施例によれば、プリント基板１６を各
機能ブロック１１，１２．１３．１４゜１５ごとに半導
体スイッチ１７およびアナログスイッチ１８を用いて分
割し、これら電子スイッチ１７．１８を外部からの信号
で制御する二とにより、各機能ブロック１１，１２．１
３．１４．１５を切り離すようにしたので、各機能ブロ
ック１１．１２．１３．１４．１５の検査をプリント基
板実装チェッカー２１により予めプログラムされた手順
に従って、自動的に行なう二とができるという効果を有
する。また前記実施例によれば、回路を小さく分割する
ことができるので、出力信号のモニターによる不良故障
箇所の解析を容易に行なうことができるという利点を有
する。さらには、ＩＣにより回路を分割できるので、従
来のようなコネクタを使用する場合と異なり、実装上の
制約が緩和され、自由な箇所で分割することができ、プ
リント基板における各機能ブロックの実装効率の向上お
よびコストの低減化を実現することができる。なお、半
導体スイッチ１７やアナログスイッチ１８をＩＣの入出
力ポートに予め組み込むことも可能である。

発明の効果 本発明は前記実施例から明らかなように、各機能ブロッ
クを切り離しできるように主装置のプリント基板上に電
子スイッチを設け、この電子スイッチを制御することに
より、検査される機能ブロックを他の機能ブロックから
切り離すようにしたので、各機能ブロックごとにプリン
ト基板実装チェッカーによる検査を自動的に行なうこと
ができ、各機能ブロックの実装動作の検査および不良故
障の解析を容易に行なうことができるという効果を有す
る。さらに、電子スイッチを用いたことにより、回路を
自由な箇所で分割することができるので、プリント基板
における各機能ブロックの実装効率を向上させることが
できるとともにコストの低減化を図る二とができるとい
う利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例におけるボタン電話装置の主
装置の構成を示すブロック図、第２図は同装置をプリン
ト基板実装チェッカーにセットした状態を示す図、第３
図は同装置における検査の流れを示すフローチャート、
第４図は従来のボタン電話装置の主装置の構成を示すブ
ロック図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 複数の機能ブロックごとの回路を含む主装置のプリント
   基板に、プリント基板実装チェッカーによりテストパタ
   ーン信号を入力し、その出力信号をモニターすることに
   より、実装動作における検査および不良故障の解析を行
   なう検査機能を備えたボタン電話装置において、前記各
   機能ブロックを切り離しできるように前記主装置のプリ
   ント基板上に電子スイッチを設け、前記電子スイッチを
   制御することにより、検査される機能ブロックを他の機
   能ブロックから切り離すようにしたボタン電話装置。