JPH03160688A - 制御回路プリチャージ回路 - Google Patents

制御回路プリチャージ回路

Info

Publication number
JPH03160688A
JPH03160688A JP2050784A JP5078490A JPH03160688A JP H03160688 A JPH03160688 A JP H03160688A JP 2050784 A JP2050784 A JP 2050784A JP 5078490 A JP5078490 A JP 5078490A JP H03160688 A JPH03160688 A JP H03160688A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
input
signal
node
power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2050784A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0812755B2 (ja
Inventor
Jaiwhan Yu
ユ・ジェファン
Swin Jwo
ジョ・スイン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JPH03160688A publication Critical patent/JPH03160688A/ja
Publication of JPH0812755B2 publication Critical patent/JPH0812755B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F1/00Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/22Modifications for ensuring a predetermined initial state when the supply voltage has been applied
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/3565Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ この発明は、一般に外部クロック入力回路に関し、特に
、電源供給時の誤動作の発生を防止できる外部クロツク
入力回路に関する。
[従来の技術] 半導体素子が高集積化されるにつれ、様々な層とパター
ンが要求され、精巧な工程の使用により内部のMOSト
ランジスタ(またはメモリセル)の数が増加され、チッ
プサイズの減少が進んでいる。多くのMOSトランジス
タに電源が供給されたとき、各素子に多大な量の電流が
流入する。その結果、基板電流が不安定になり、ラッチ
アップによる問題を惹起させることになる。
ラッチアップ現象では、半導体チップの内部に形成され
たトランジスタが外部ノイズによってトリガされること
により、電源から接地に向かって直流電流が流れる。甚
だしい場合には、内部のMOSトランジスタが破壊され
る。したがって、この現象は、MOS素子の高集積時に
おける大きな問題点とされている。
したがって、MOS素子において、初期の電源供給時に
チップ保護回路を構成する必要がある。
初期の電源が安定されない状態では、マシンサイクルで
ある■およびCASのチェーンイネーブル信号(■系回
路およびCAS系回路の可能化信号)が電源投入時に高
レベルになり、マシンサイクルが遂行されてしまうとい
う誤動作の発生の原因となっていた。
したがって、従来でも初期スタートアップ回路をMOS
素子内に構成して、初期の電源投入時のラッチアップ現
象を防止するため、安定された直流電源が供給された後
に動作するように構成していた。しかしながら、そのよ
うな場合にも、電源が投入される間に生ずるチェーンが
フローティング状態にされる現象を防止することができ
なかった。
第2図は、従来のチェーンプリチャージ回路(■信号用
入力回路)の回路図である。第2図を参照して、パッド
1を介してロウアドレスストローブ信号■が入力される
。パッド1の後段には、矩形波を出力するシュミットト
リガ回路2が接続される。このシュミットトリガ回路2
の後段に、インバータI1ないしI3およびNANDゲ
ー}NDにより構成されたゲート回路が接続される。
このような回路において、初期の電源供給時や電源が供
給された後に、パッド1は高レベルまたは低レベルの信
号を受け得るフローティング状態であるので、後段のチ
ェーンイネーブル信号φRが高レベル状態にイネーブル
される余地がある。
ある。
上記のようにチェーンイネーブル信号φRが高レベルで
ある場合には、■およびCASチェーンが動作してラッ
チアップ現象を誘発することになる。ここで、信号φl
は記録時(書込時)に発生される記録信号としてのチェ
ーンフィードバック信号である。
第3図は、このような問題点を多少解決することのでき
る従来の他の回路図である。この回路では、電源供給時
にチェーンイネープル信号φRを低レベルに維持させる
ことができる。この回路の基本的な構成は、第2図に示
した回路と同様であるが、初期の電源投入時に安定され
た電源およびクロツクを供給するため、スタートアップ
回路のスタートアップ信号φ2が使用される。スタート
アップ信号φ2は、シュミットトリガ回路2を構成する
MOS}ランジスタM1のゲートに印加される。シュミ
ットトリガ回路2とインバータI1との間にMOSトラ
ンジスタM8が接続される。
トランジスタM8はゲートがスタートアップ信号φ2を
受けるように接続される。この回路においても、NAN
DゲートNDの一方入力は電源■CCに接続することも
できるが、スイッチング素子を使用して記録時に発生さ
れる信号φlを与えるようにすることもできる。スター
トアップ信号φ2は、スタートアップ回路で印加される
パルスであり、電源供給後すぐに高レベルに維持させる
ことにより、チェーンイネーブル信号φRを低レベルに
維持できる。電源が供給された後、所定の時間を経て、
高レベルから低レベルに立下がる。
定常動作時では、チェーンイネーブル信号φRは、パッ
ド1に印加される信号、すなわちロウアドレスストロー
ブ信号■の状態により高レベルまたは低レベルの値を持
つ。しかしながら、このような回路においては、次のよ
うな問題が発生する。
[発明が解決しようとする課題] 第1に、スタートアップ信号φ2が高レベルから低レベ
ルに遷移するタイミングがパワーアップ比または電源容
量の大きさにより非常に可変的であり、スタートアップ
信号φ2が低レベルになった後には、パッドlに印加さ
れるロウアドレスストローブ信号■のフローティング状
態により、チェーンイネーブル信号φRが高レベルにな
る可能性がある。
第2に、高いレベルの電源Vccを使用するほど、チェ
ーンイネーブル信号φRが迅速に高レベル状態で低レベ
ル状態になるので、ラッチアップ現象が発生されるおそ
れが多い。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされ
たもので、電源供給時の誤動作の発生を防止することの
できる外部クロック入力回路を提供することを目的とす
る。
この発明のもう1つの目的は、電源供給時にロウアドレ
スバッファの出力を短時間内にプリチャージさせ、非定
常的なチェーンイネーブル信号の発生を防ぐことのでき
る外部クロック入力回路を提供することである。
この発明のさらにもう1つの目的は、高い電源を使用す
るほどプリチャージされる時点が相対的に迅速にラッチ
アップ現象によってチップが破壊されることを防止する
ことのできる外部クロック入力回路を提供することであ
る。
[課題を解決するための手段] この発明に係る外部クロック入力回路は、外部クロック
信号を受ける入力ノードと、チップイネーブル信号に応
答して入力ノードを介して与えられた外部クロック信号
を出力するチップイネーブルバッファ手段と、チップイ
ネーブルバッファ手段の出力信号を受けるように接続さ
れた増幅手段と、電源の供給に応答して人力ノードを電
源電位に保持する第1の保持手段と、電源の供給に応答
して増幅手段の入力を電源電位に保持する第2の保持手
段とを含む。
〔作用〕
この発明における外部クロック入力回路では、第1の保
持手段が、電源が供給されたとき、入力ノードを電源電
位に保持する。また、第2の保持手段も、電源が供給さ
れたとき、増幅手段の入力を電源電位に保持する。これ
らによって、入力ノードがフローティング状態になるこ
とが防がれ、かつ、増幅手段も確立された信号を出力す
ることができる。したがって、この回路が適用された半
導体集積回路装置の誤動作の発生が防止できる。
〔発明の実施例] 第1図は、この発明の一実施例を示すチェーンプリチャ
ージ回路(■信号用入力回路)の回路図である。この回
路は、第2図および第3図に示した従来の回路と基本的
には同様の回路構或を有する。第1図を参照して、パッ
ド1はロウアドレスストローブ信号■を受けるように接
続される。パッド1の後段に、矩形波を出力することが
できるシュミットトリガ回路2が接続される。
シュミットトリガ回路2の出力には、インバータI1な
いし■3およびNANDゲートNDによって構成された
ゲート回路が接続され、これらによって、ロウアドレス
バッファの基本構造が構成される。
これに加えて、パッド1とシュミットトリガ回路2との
間の接続ノードDに第1プリチャージ部3が接続される
。チップイネーブルバッファであるインバータ!3の前
段のノードBに第2プリチャージ部4が接続される。N
ANDゲー}NDの一方入力ノードAに第3プリチャー
ジ部6が接続される。各ブリチャージ部3.4および6
は抵抗手段としてのMOSトランジスタM6,M7およ
びM8によってそれぞれ構成される。
このように構成することにより、スタートアップ信号φ
2がパワーアップ比とパワーアップ電圧レベルにより変
化しても、短時間(10μm)の間ノードAおよびBが
高レベル状態に維持され得る。ここで、ノードBは、第
3プリチャージ部6によっても高レベル状態に維持され
る。
このように、短時間の間、上記のプリチャージ回路によ
ってノードAおよびBを高レベル状態に維持することに
より、最終の出力であるチェーンイネーブル信号φRが
プリチャージ状態のもとて低レベル状態に維持されるよ
うになる。したがって、ロウアドレスアウトローブ信号
■がフローティング状態のときに、チェーンイネーブル
信号φRが高レベルに誤動作するのを防止できる。
この動作を詳細に見ると、バツファであるインバータI
3の前段に接続された第2プリチャージ部4では、電源
Vccの投入と同時にMOS}ランジスタM7がオンす
るので、ノードBが高レベルに維持される。したがって
、インバータ■3により反転された低レベルのチェーン
イネープル信号φRが発生される。ここで、MOSトラ
ンジスタM7は抵抗としての役割を果たす。
また、NANDゲー}NDの一方入力に接続された第3
プリチャージ部6でも、やはり電源VcCの投入と同時
に抵抗としての役割をするMOSトランジスタM8がオ
ンし、NANDゲートNDの一方入力が高レベル状態に
維持される。したがって、NANDゲー}NDの他方入
力は、初期にインバータ■1を介して高レベル状態が遷
移されない状態であるので、NANDゲートNDは低レ
ベルの信号を出力する。この出力信号は、インバータI
2および■3を介して、低レベルのチェーンイネーブル
信号φRとして発生される。すなわち、ブリチャージに
より誤動作の誘発が防止できる。
パッド1の後段に接続された第1プリチャージ部3は、
パワーアップまたは電源供給後に、チップイネーブルパ
ッドがフローティング状態にされることを根本的に防止
する役割を持つ。プリチャージ[3では、電源Vccの
投入と同時に抵抗としての役割をするMOS}ランジス
タM6がオンし、ノードDが高レベル状態に維持される
。すなわち、ノードDをプリチャージすることにより、
パッド1が低レベルのフローティング状態になることを
防止する。
上記ノードDの高レベルの信号は、シュミットトリガ回
路2のMOS}ランジスタM3およびM4をオンさせて
、MOSトランジスタM5のオフ状態が維持される。し
たがって、インバータI1の前段ノードは、低レベル状
態になり、結局、NANDゲートNDおよびバッファ用
インバータI2およびI3を介してチェーンイネープル
信号φRが低レベルにプリチャージされる。
シュミットトリガ回路2のMOSトランジスタM1のゲ
ートに印加されるスタートアップ信号φ7とインバータ
I1の前段に接続される制御回路5に印加されるスター
トアップ信号φ2は、第3図に示した従来の回路のよう
に、スタートアップ回路で初期の電源投入時に高レベル
の信号が印加されて、チェーンイネーブル信号φRを低
レベルに維持させる役割をする。そして、アナログスイ
ッチを介して電源Vccまたは記録信号φ1が印加され
るNANDゲートNDは、第2図および第3図と同様の
動作をするように構成されている。
このように、第1図に示した回路では、第1,第2およ
び第3のプリチャージ部3,4および6を使用して、電
源投入時にチェーンイネーブル信号φRが低レベルにプ
リチャージされるようにして、誤動作を防止することが
できる。
第■プリチャージ部3の遅延は、MOSトランジスタM
6の抵抗成分とパッド1のキャパシタンス十〇ーディン
グキャパシタンスの倍の値となる。
そして、この値は、Vcc=4Vで、15μmになるよ
うに設定されるもので、この遅延は、ラッチアップのと
き問題になる高いレベルの電源VcCであるほど小さく
なるので、ラッチアップ防止に大変有用である。このと
き、MOSトランジスタM6のサイズによる遅延時間は
、表1のようになる。
表   1 ここで、トランジスタの遅延時間は0μSであり、■パ
ッド1のキャパシタンスは3pFである。そして、第2
プリチャージ部4および第3プリチャージ部6のMOS
トランジスタM7およびM6のサイズは、電源Vcc=
6V.−5℃条件において、電流レベルが数lOμAを
流すようにして、駆動電流に影響を与えないように設定
されている。したがって、ノードAおよびDのローディ
ングキャパシタンスがノードDのキャパシタンスより小
さいので、初期電源投入時や電源供給時に第2プリチャ
ージ部4および第3プリチャージ部6が先に動作される
。したがって、チェーンイネープル信号φRがプリチャ
ージされ、その後、第1プリチャージ部3が動作してチ
ェーンイネーブル信号φRをプリチャージさせることに
より、チェーン誤動作が排除され得る。
上記のように動作する半導体装置、すなわちDRAMの
ロウアドレスバツファは、ロウアドレスアウトロープ信
号■およびカラムアドレスストロープ信号CASのチェ
ーン(その系の回路)を動作させるもので、初期の電源
投入時や電源供給時に誤動作によってチェーンが動作さ
れる現象を防止し得る。
このように、ロウアドレスバッファにおいて、パワーア
ップまたは電源供給後にチップイネープルパッドのフロ
ーティング現象によって引き起こされる誤動作を防止す
るため、チップイネーブルバッファにフローティング現
象防止用第1プリチャージ部3を設け、ロウアドレスス
トローブ信号のフローティング状態によってチェーンが
イネーブルされることを防止することができる。また、
高いレベルの電源Vccが使用されるときには、より早
くプリチャージされるようにして、ラッチアップ現象の
発生を防止することができる。
[発明の効果コ 以上のように、この発明によれば、外部クロック信号を
受ける入力ノードを電源電位に保持する第1の保持手段
と、増幅手段の入力を電源電位に保持する第2の保持手
段とを設けたので、電源が供給されたときの誤動作の発
生を防ぐことのできる外部クロック入力回路が得られた
【図面の簡単な説明】
第.1図は、この発明の一実施例を示すチェーンプリチ
ャージ回路(■信号用入力回路)の回路図である。第2
図は、従来のチェーンプリチャージ回路の回路図である
。第3図は、従来の他のチェーンプリチャージ回路の回
路図である。 図において、1はパッド、2はシュミットトリガ回路、
3は第1ブリチャージ部、4は第2プリチャージ部、5
は制御回路、6は第3プリチャージ部である。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体集積回路装置を制御するための外部クロッ
    ク信号を受ける外部クロック入力回路であって、 外部クロック信号を受ける入力ノードと、 前記入力ノードに接続され、チップイネーブル信号に応
    答して、前記入力ノードを介して与えられた外部クロッ
    ク信号を出力するチップイネーブルバッファ手段と、 前記チップイネーブルバッファ手段の出力信号を受ける
    ように接続された増幅手段と、 前記入力ノードに接続され、電源の供給に応答して、前
    記入力ノードを電源電位に保持する第1の保持手段と、 前記増幅手段の入力に接続され、電源の供給に応答して
    、前記増幅手段の入力を電源電位に保持する第2の保持
    手段とを含む、外部クロック入力回路。
  2. (2)前記第1の保持手段は、前記入力ノードと電源電
    位との間に接続された第1の抵抗手段を含み、 前記第2の保持手段は、前記増幅手段の入力と電源電位
    との間に接続された第2の抵抗手段を含む、請求項(1
    )に記載の外部クロック入力回路。
  3. (3)前記チップイネーブルバッファ手段は、前記入力
    ノードに接続されたシュミットトリガ回路手段と、 一方入力が前記シュミットトリガ回路手段からの出力信
    号を受けるように接続されたNANDゲート手段と、 前記NANDゲート手段の他方入力に接続され、電源の
    供給に応答して、前記他方入力を電源電位に保持する第
    3の保持手段とを含む、請求項(1)に記載の外部クロ
    ック入力回路。
  4. (4)半導体メモリ装置を制御するためのロウアドレス
    ストローブ信号(■)を受けるロウアドレスバッファ回
    路であって、 ロウアドレスストローブ信号を受ける入力ノードと、 前記入力ノードに接続され、スタートアップ信号に応答
    して動作するシュミットトリガ回路手段と、 前記シュミットトリガ回路手段の出力に接続され、スタ
    ートアップ信号に応答して、前記シュミットトリガ回路
    手段の出力の電位を制御する制御手段と、 前記シュミットトリガ回路手段の出力信号を受けるよう
    に接続された増幅手段と、 前記入力ノードに接続され、電源の供給に応答して、前
    記入力ノードをプリチャージする第1のプリチャージ手
    段と、 前記増幅手段の入力に接続され、電源の供給に応答して
    、前記増幅手段の入力をプリチャージする第2のプリチ
    ャージ手段とを含む、ロウアドレスバッファ回路。
JP2050784A 1989-11-18 1990-02-28 制御回路プリチャージ回路 Expired - Lifetime JPH0812755B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR89-16903 1989-11-18
KR1019890016903A KR920004385B1 (ko) 1989-11-18 1989-11-18 파워 전원공급시 체인 프리챠아지 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03160688A true JPH03160688A (ja) 1991-07-10
JPH0812755B2 JPH0812755B2 (ja) 1996-02-07

Family

ID=19291887

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2050784A Expired - Lifetime JPH0812755B2 (ja) 1989-11-18 1990-02-28 制御回路プリチャージ回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5036227A (ja)
JP (1) JPH0812755B2 (ja)
KR (1) KR920004385B1 (ja)
DE (1) DE4019568C2 (ja)
GB (1) GB2238166B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7300736B2 (en) 2003-05-27 2007-11-27 Ricoh Company, Ltd. Toner, and developer, image forming method, image forming apparatus and process cartridge using the toner
US8178272B2 (en) 2007-09-12 2012-05-15 Ricoh Company Limited External additive, method of manufacturing same and toner

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04132309A (ja) * 1990-09-22 1992-05-06 Mitsubishi Electric Corp 出力バッファ回路
ATE145501T1 (de) * 1992-09-18 1996-12-15 Siemens Ag Integrierte pufferschaltung
DE59205707D1 (de) * 1992-09-18 1996-04-18 Siemens Ag Integrierte Pufferschaltung
KR950003390Y1 (ko) * 1992-09-24 1995-04-27 문정환 로우 어드레스 스트로브(/ras) 신호의 클램핑 회로
US5329174A (en) * 1992-10-23 1994-07-12 Xilinx, Inc. Circuit for forcing known voltage on unconnected pads of an integrated circuit
KR100231431B1 (ko) * 1996-06-29 1999-11-15 김주용 입력 버퍼 회로
KR100302424B1 (ko) 1996-10-14 2001-09-28 니시무로 타이죠 논리하이브리드메모리용반도체메모리
US6567336B2 (en) 1996-10-14 2003-05-20 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory for logic-hybrid memory
US6092212A (en) * 1997-12-22 2000-07-18 Intel Corporation Method and apparatus for driving a strobe signal
US6016066A (en) 1998-03-19 2000-01-18 Intel Corporation Method and apparatus for glitch protection for input buffers in a source-synchronous environment
KR100930384B1 (ko) * 2007-06-25 2009-12-08 주식회사 하이닉스반도체 입/출력라인 감지증폭기 및 이를 이용한 반도체 메모리장치
JP5283078B2 (ja) * 2009-01-13 2013-09-04 セイコーインスツル株式会社 検出回路及びセンサ装置
CN108806742B (zh) * 2017-05-04 2022-01-04 汤朝景 随机存取存储器并且具有与其相关的电路、方法以及设备

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4461963A (en) * 1982-01-11 1984-07-24 Signetics Corporation MOS Power-on reset circuit
US4636661A (en) * 1984-12-21 1987-01-13 Signetics Corporation Ratioless FET programmable logic array
KR880009375A (ko) * 1987-01-17 1988-09-15 강진구 씨모오스 어드레스 버퍼
US4763023A (en) * 1987-02-17 1988-08-09 Rockwell International Corporation Clocked CMOS bus precharge circuit having level sensing
US4939394A (en) * 1988-09-16 1990-07-03 Texas Instruments Incorporated Synchronous circuit system having asynchronous signal input

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7300736B2 (en) 2003-05-27 2007-11-27 Ricoh Company, Ltd. Toner, and developer, image forming method, image forming apparatus and process cartridge using the toner
US8178272B2 (en) 2007-09-12 2012-05-15 Ricoh Company Limited External additive, method of manufacturing same and toner

Also Published As

Publication number Publication date
DE4019568A1 (de) 1991-05-29
GB2238166B (en) 1993-12-15
KR910010271A (ko) 1991-06-29
KR920004385B1 (ko) 1992-06-04
JPH0812755B2 (ja) 1996-02-07
GB9016382D0 (en) 1990-09-12
DE4019568C2 (de) 1995-02-23
US5036227A (en) 1991-07-30
GB2238166A (en) 1991-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3759758B2 (ja) 半導体記憶装置
KR100231951B1 (ko) 반도체 집적회로
US5933383A (en) DRAM having a power supply voltage lowering circuit
JP3650186B2 (ja) 半導体装置および比較回路
JPH03160688A (ja) 制御回路プリチャージ回路
JP3945791B2 (ja) 半導体装置のパワーアップ検出回路
JPH05101658A (ja) ダイナミツク型ランダムアクセスメモリ装置
US4853899A (en) Semiconductor memory having amplifier including bipolar transistor
JPH02216699A (ja) バッファ回路およびその動作方法
JPH1166855A (ja) 電位検出回路、半導体装置、及び半導体記憶装置
KR20030047074A (ko) 외부 리프레쉬 명령을 사용하지 않는 메모리장치의리프레쉬 제어회로 및 그 방법
JPH08147974A (ja) クロッキング回路
JPH02260196A (ja) Mos型充電回路
JPH035989A (ja) 半導体メモリ装置のデータ出力端電圧レベル調節回路
JP3502387B2 (ja) 高レベル出力制御機能を有するnmos出力バッファ
KR100272672B1 (ko) 다이나믹 씨모오스 회로
JPH07230688A (ja) 同期型半導体記憶装置
JP2002150775A (ja) 半導体メモリ素子及びその書き込み駆動方法
JP3297949B2 (ja) Cmosカレントセンスアンプ
JP2544912B2 (ja) ダイナミツクランダムアクセスメモリの入力回路
KR0124048B1 (ko) 반도체 집적장치의 전원전압 변환회로
JPH0482081A (ja) 半導体記憶装置
JPH05314762A (ja) 半導体装置
US6075750A (en) Method and circuit for generating an ATD signal to regulate the access to a non-volatile memory
KR100295807B1 (ko) 다이나믹씨모오스회로

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080207

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090207

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100207

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110207

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110207

Year of fee payment: 15