JPH02177080A - 復号回路とメモリ・チップと行線を駆動する方法 - Google Patents

復号回路とメモリ・チップと行線を駆動する方法

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JPH02177080A JP1281613A JP28161389A JPH02177080A JP H02177080 A JPH02177080 A JP H02177080A JP 1281613 A JP1281613 A JP 1281613A JP 28161389 A JP28161389 A JP 28161389A JP H02177080 A JPH02177080 A JP H02177080A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は全般的にダイナミック・ランダムアクセス・
メモリ、更に具体的に云えば局部的な予備復号器を用い
て、予め選ばれた行線に駆動信号を復号する方法と装置
に関する。
従来の技術と問題点 ダイナミック・ランダムアクセス・メモリ〈DRAM)
の工業的なユーザは、タイミングが一層速く、電力が一
層小さい仕様を要求している。こう云う仕様を満たす為
、設計技師は、−層少ない重力を使うと同時に、[)R
AM記憶記憶ハルの読取も古込みももっと速く行なう様
にDRAMを設置?1シなければならない。この為には
、読取サイクルのプリチャージ部分の間、DRAMのワ
ード線をvddに駆動すると共に、サイクルの有効な回
復部分の間、それをvddより十にブートづる改良され
た方法を見つけることが必要である。こう云う機能が能
動的なサイクルの長さの実質的な部分である。
チップの周辺区域に普通配置された駆動/ブー1−信号
発生器から伝達される駆動/ブート信号を使って、選ば
れた行線が読取の為に駆動されると共に能動的な回復機
能の為にアートされる。動作するワード線に対する駆動
/ブート発生器からのこの駆動/ブー1−信号の復号通
路に次第に重要性が置かれる様になった。この復号通路
が余りに抵抗叉は容積が大きいと、ワード線の駆動及び
ブート作用が遅くなりすぎる。更に、駆動/ブート信号
の通路の容量が大きすぎると、装置が使う″電力が多く
なりすぎる。
現在の駆動/ブート信号復号装置の欠点を例示する為、
2つの例を説明する。普通の一対の64K及び256に
のD RA Mの設81−では、1つの駆動7/ブー1
−発生器が設けられている。その出力が通過ゲートを用
いて、2つの別々の大域信号線(即ら、アレイ全体に延
びるイ3@線)に分割される。従って、任意の所定のサ
イクルでは分割線のうちの一方だけが作動状態にあるこ
とが要求される。その時、各々の分割線が、適正なワー
ド線を駆動及びブートする為に、DRAMにある全ての
ワード線駆動器又は復号器のうちの半分に接続される。
行復号器がアドレス信号によって選択される。従って、
任意所定のサイクルで、この一方のマスタ駆動/ブート
信号から「見ると」、それに接続されたチップ全体にあ
る全てのワード線駆動器の手分の寄生り主容量と、その
他の2つの復号用通過ゲートの寄生静電容讃とがあるこ
とになる。
この様にして生ずる比較的多量の静電容聞の他に、駆動
/′ブート信号は、復号された各々のワード線に達する
為には、1つの通過ゲート及び1つのワード8駆動器の
抵抗を通ることが要求される。
256K及びIM(7)0MO3DRAMに使われる別
の普通の設計では、4つの別々の入域駆動/ブート信号
線と共に4つの駆動/ブート発生器が設けられる。任意
の所定のサイクルでは、こう云う信号線のうらの1つだ
けが作用する。各々の駆動/ブート信号線が、チップに
ある全てのワード線駆動器の1/4に直接的に接続され
る。この方法で使われる4つの発生器は、1つの大形の
信号発生器よりも、チップにより多くの場所を必要とす
る。更に、4つの駆動7′ブ一ト信号線の各々には、チ
ップ全体のワード線駆動器の奇生静電容量の1/4と云
う重い負荷がかかる。更に各々の駆動/ブート信号は、
各々のワード線に達する為に、1つのワード線駆動器の
抵抗を通らなければならない。
上に述べた従来の駆動/ブート信号を復号する解決策で
は、駆動/ブート信号から見ると望ましくないほど多聞
の奇生静電容量があり、その為サイクル時間が遅くなる
ことは避けられない。サイクル速度が高くなり、電圧の
差が小さくなり、4MのDRAMに要求される様にアレ
イの寸法が一層大きくなるにつれて、この静電容量を叢
小限に抑える重要性が高まる。その為、寄生静電合計特
性が改善される様な駆動/ブート信号復号方式に対する
要望が生じた。
問題 を解 する為の手段及び作用 この発明の一面では、複数個の行線を持つ集積回路アレ
イにある少なくとも1行のメモリ・セルに関連する行線
を駆動する復号回路を提供する。
集積回路のアレイ区域が行線を持っており、集積回路の
周辺区域には駆動信号発生器が形成されCいる。複数個
の予備復号器がアレイ区域に形成されていて、駆動信号
を受取る為、駆動信号線によって駆動信号発生器に結合
される。アレイ区域には、各々の予備復号器に対して予
定の倍数の復号器も形成されている。少なくともアドレ
スされた1つの予備復号器の複数個の出力のうちの1つ
が、夫々倍数の復号器の各々に、予備復号された駆動信
号を伝達する様に作用し得る。アドレスされた1つの復
号器が、それに結合された複数個のワード線のうちの少
なくとも1つに復号駆動信号を伝達する様に作用し得る
好ましい実施例では、チップの周辺区域にはアドレス信
号発生器も形成されている。アドレス信号がアドレス信
号発生器から各々の予備復号器及び各々の復号器に伝達
される。アドレスされた予備復号器だけが駆動信号を夫
々倍数の復号器に通過させ、アドレスされた復号器だけ
が予(#復号器駆動信号を1つ又は更に多くのワード線
に通過させる。特に好ましい実施例では、アドレス信号
発生器が、アドレス信号発生器が受取ったアドレスに従
って、夫々の行因子信号線に複数個の行因子信号を出力
する。第1組の行因子信号が、複数個の予備復号器出力
線のどれが駆動/ブート信号を伝えるかを決定する。第
2組の行因子信号が、駆動/ブート信号を予備復号器出
力線に転送する為に、どの予備復号器が作動されるかを
選択する。
更に別の1組の行因子信号が少なくとも1つの復号器を
選択して、予備復号器出力線の駆動/ブー1〜信号を受
取ると共に、この駆動/ブート信号を選ばれたワード線
に伝達する。
この発明の別の一面では、予め選ばれた行線に対して主
駆動信号を復号するのに使われる装置が、同じ行線に対
するブート信号をも復号する。
この発明の主な利点は、主駆動/シー1〜信号から「見
た」行線復号器の数が減少することである。
この発明の設計による4MのDRAMでは、主駆動/ブ
ート信号から見るのは、チップ全体のワード線駆動器の
うちの4/128だけの′S/4−静電容量と、余分の
1281の予備復号用の通過ゲートの静電容量である。
然し、余分の128個の予備復号用通過ゲートの各々は
、従来の256K及び1Mの0MO8方法を使った場合
の立上り時間と大体同じワード線の立上り時間にする為
に、各々のワード線駆!l1Jl器より大体4倍大きい
。従って、この発明では、駆動/ブート線上の奇生静電
容量は、所定のサイクルで、チップ全体のワード線駆動
器の奇生静電容量の人体約1/10に相当する。
この為、ワード線を一層速く駆動することができると同
時に、その為に使う電力を一層少なくすることができる
この発明のその他の面並びに利点は、以下図面について
詳しく説明する所から理解されよう。
実  施  例 最初に第1図について説明すると、ダイナミック・ラン
ダムアクセス・メ℃す(DRAM)チップの配置が全体
的に10で示されている。図示の特定の配置は、4メガ
ビツトのD RA Mに対するものである。チップ10
が全体を12で示したセル・アレイ区域と、このセル・
アレイ区[12に隣接する一対の末端周辺区域14.1
6とを含む。
図示の実施例では行因子信号発生i?+18(RF)及
ヒ駆vJ/フート信@3発生器20 (RLXH)が周
辺区域14に形成されている。信号発生+818゜20
の寸法及び配置は模式的に示しであるにすぎない。駆動
/ブート信号発生器20の出力が駆動/ブート信号発生
器線22に接続され、これがアレイ区域12の中央を通
る。行因子信号発生7!A18は複数個の行因子信号線
24(模式的に示す。
実際の一例では、こう云う線24が20本ある)を持ら
、これもアレイ区域12の中央を通って、駆動/ブート
信号線22と略平行になる様にしである。
アレイ区域12が、行及び列に分けて配置された複数個
のDRAMメモリ・セル・アレイ26を持っている。図
示の実施例では、32個のアレイ26が16行及び2列
に配置されており、各々のアレイが128にのメモリ・
セルを持っている。
最初の5行及び最後の4行だけが示されており、中間の
残りの7行は同じ構造であって、破線の延長線によって
示されている。アレイ26は、垂直又は列方向には夫々
複数個のセンスアンプ28によって隔てられ、行方向又
は水平方向には、全体を30で示した垂直スペースによ
って隔てられている。
複数個の行復号器部分32が垂直スペース30の一部分
を占める。アレイ26、センスアンプ28及び行復号器
部分32の配置により、複数個の「穴」34が残り、こ
れは後′C説明する予備復号器及び行冗長復号器を配置
する為に使われる。駆動/ブート信号a22及び行因子
信号線24は、垂直スペース30内をチップの長さに沿
って通すことが好ましい。
第2図には第1図に示す配置の一部分が詳しく示されて
いる。セル・アレイ26、センスアンプ28、復号器部
分32、及びこれから説明する予備復号器及び行冗長復
号器を配置する為に専用になる区域が破線で示されてい
る。行復号器部分32は背中合せの対として配置して、
右側の列の一方の12ル・アレイ26aから左側の列の
向い合ったセル・アレイ26bまで垂直スペース30を
横切って伸びることが好ましい。図示の実施例では、各
々の行復号器部分32に32個の行復号器があり、その
1つの行復号器を36に示しであるが、破線の囲みによ
って取囲まれている。各々の行復号器36は駆動/ブー
ト信号線を8本のワード線のうちの2本に復号する様に
作用し得る。4本のワード線はセル・アレイ26aに配
置され、残りの4木の行線はセル・アレイ26bに配置
されている。これらのワード線のうちの2本を38a。
38bに示す。
予備復号器40は夫々の復号器部分32に隣接する様に
配置することが好ましい。予備復号器40は、「穴」3
4によってできた少なくとも若干の場所を使う様に配置
する。更に各々の復号器部分32は行冗良復号器42を
備えており、これは夫々の予備役号器40に隣接した区
域に配置づることが好ましい。
駆動/ブート信号(RL、 X H)発生器線22は、
抵抗値を最小にする為に、2番目の金属にある比較的幅
の広い導体ストラップで構成され、垂直スペース30の
中央を伸びることが好ましい。線22は、線22の上に
ある接続ドツトで模式的に示す様に、チップの長さに沿
って各々の行冗良復号器42及び各々の予備復号器40
に接続される。
行因子(RF)信号線24は大体RL、 X H信号線
22と平行に通される。20本の行因子信号線24の各
々が各々の行冗長復号器42に接続されるが、選ばれた
行因子信号線24だけが任意の1つの予(!復号器40
及び復号器36に接続される。
行因子信号線24は、後で第3図及び第4図について更
に具体的に説明する復号方式に従って、特定の予備復号
器40又は特定の復号器36に接続される。
複数個の予備復号器1i144が予備復号器40の中か
ら出て、全体的に行因子信号線24と平行に配匠される
。予備復号器線44は、行因子信号線24ど平行な場合
は2番目の金属に形成することが好ましく、それに対し
て垂直に伸びる時(この模式図には示してない)には1
番目の金属に形成する。各々の予備復号器線44が、夫
々の復号器部分32で各々の復号器36と交叉して接続
される。図示の実施例では、4本の予備復号器出力線4
4があり、それが通す信号をRDDO,RDDl、RD
D2.RDD3 (第3図参照)と呼ぶ。
図示の実施例では、各々の行冗長復号器42は、駆動/
ブート信号を4本の冗長行線46のうちの選ばれた2つ
に復号する様に作用し得る。4本の冗長行線46は、必
要に応じて、2対までの正規の行線38の代わりとなる
為に設けられている。
ここで述べた行冗長方式が、係属中の米国特許出願通し
番号第265.105号に更に具体的に記載されている
第3図には、1つの予備復号器40の詳しい回路図が示
されている。複数個の選ばれた行因子信号線24が予備
復号器回路40に対する入力として接続されており、そ
れが何になるかは予定の復号方式によって変わる。行因
子信号線RF O乃至RF3が、4つのナンド・ゲート
50乃至56の夫々の入力に接続される。行因子信号線
RFO乃至RF3がチップ上の各々の予備役号器回路4
0に接続される。他方、他の3つの行因子信号入力線R
FI、RFJ、RFKが何になるかは、それが接続され
た特定の予備復号器回路40に応じて変わる。下記の表
は、特定の予備復号器40の順番に従って、RFI R
FJ及びRF Kが何であるかを示す。
表1 予備復号器の番号  RFI   RFJ   RFK
O,8,16,24RFI2    RFI3    
RFI61.9,17,25     RFI4   
 RFI5    RF162.10.18.26  
  RFI2    RFI3    RFI73.1
1,19,27    RFI4    RFI5  
  RFI74.12,20,28    RFI2 
   RFI3    RF185.13.21,29
    RFI4    RFI5    RF186
.14,22.30    RFI2    RFI3
    RF197.15.23.31    RFI
4    RFI3    RF19この為7本の行因
子信号線が各々の予備復号器40の入力に接続され、残
りの13個は接続されない。
予備復号器信号出力ブリチャージ信号RDPCがPチャ
ンネル形トランジスタ60のゲート58に接続される。
トランジスタ60の電流通路が電ff:WQ (V d
d)を選択的に節62に接続する。別のPチャンネル形
トランジスタ64の電流通路もvddを節62に接続す
る様に作用し得る。
Nチャンネル形トランジスタ66のドレインが節62に
接続され、そのソースが別のNチャンネル形トランジス
タ68のドレインに接続される。
Nチャンネル形トランジスタ68のソースがl1i57
0に接続され、この節が2つのNチャンネル形トランジ
スタ72.74のドレインに接続される。
Nチャンネル形トランジスタ72.74のソースがアー
ス又はvssに接続される。行因子信号線RFKがトラ
ンジスタ68のゲートに接続される。
1−ランジスタフ2のゲートが信号線RF[に接続され
、トランジスタ74のゲートが信号線RFJに接続され
る。トランジスタ66のゲートが行冗長付能信号線RR
ENに接続される。
節62がインバータ76に対する入力として作用する。
インバータ76の出力がfl+178に接続され、この
部がPチャンネル形トランジスタ64のゲートに接続さ
れる。節78はナンド・ゲート50乃至56の2番目の
入力にも接続される。
ナンド・ゲート50乃至56の出力が夫々節80.82
.84.86に接続される。各々の節80乃至86が夫
々のインバータ88乃至94の入力に接続される。各々
のインバータ88乃至94の出力が夫々の大形通過ゲー
ト・トランジスタ96乃至102のソースに接続される
。各々の通過ゲート・トランジスタ96乃至102のゲ
ートがvddに接続される。
各々の通過ゲート・トランジスタ96.98゜ioo、
102f7)/−スが夫々N′f−17ンネル形トラン
ジスタ104,106,108.110のゲートに接続
される。トランジスタ104乃至110の各々のソース
が駆動/ブート信号線22(R1−X +−1>に接続
される。1−ランラスタ104乃至110のドレインが
夫々節112,114,116.118に接続される。
各々の節112乃至118が夫々アース・トランジスタ
120,122゜124.126のソースに接続される
。アース・トランジスタ120乃至126のドレインが
アース又はvssに接続される。各々のトランジスタ1
20乃至126のゲートが夫々線128乃至134を介
して夫々の節80乃至86に接続される。
各々の節112乃至118が夫々の予備復号器出力線R
DDO乃至RDD3に接続される。
第4図には、1つの復号器回路36の詳しい回路図が示
されている。復号器回路36は第3図の中心にある付能
トランジスタ142,144,146の夫々のゲートに
現われる3つの行因子信号が高状態であることによって
付能される。トランジスタ142のゲートに接続される
RFll24がRF 4乃至RF7のうちの1つから選
ばれる。同様に、トランジスタ144のゲートに接続さ
れるRF信号線がRF8乃至RFllから選ばれ、トラ
ンジスタ146のゲートに接続される行因子信号線24
がRFl 2乃至RFI 5から選ばれる。
このどの線を特定の復号器回路36に接続するかの選択
は、復号器部分32(第2図)にある特定の復号器回路
36が何であるかによって変わる。
こうすることにより、任意の復号器部分32にある32
個のうちの復号器のうちから1つを選ぶことができる。
行復号器プリチャージ信号線RDPCがPチャンネル形
トランジスタ148のゲートに接続される。トランジス
タ148の電流通路が電圧源V0.。
を節150に接続する。節150が左側及び右側インバ
ータ152.154の入力に接続される。
インバータ154の出力が節156に接続され、この節
がPチャンネル形1−ランジスタ158のゲートに接続
される。トランジスタ158の電流通路が電圧源vdd
をWi150に接続する。I小150は線160.16
2を介して節164に接続され、更に線160.166
を介して節168に接続される。節150は選択トラン
ジスタ14.2,144.146の電流通路を介して、
V 、即らブーS スに選択的に接続される。
右側インバータの出力節156が4つの通過トランジス
タ170,172,174.176の合名のソースに接
続される。トランジスタ170乃至176のドレインが
夫々線178,180゜182.184に接続される。
線178乃至184が夫々のセルフ・ブーi−の復号ト
ランジスタ186.188,190,192のゲートに
夫々接続される。
節164が4つの行線アース・(−ランジスタ194.
196,198,200の各々のゲートに接続される。
アース・トランジスタ194乃至200は夫々のワード
線の節202,204,206.208をアースに接続
する様に作用し得る。
各々の行線の節202乃至208が夫々右側アレイの行
線ROWLOR,ROWLIR,ROWL2R,ROW
L3Rに夫々接続される。
左側アレイに対する復号回路は右側アレイと同様である
。左側インバータ152の出力節210が複数個の通過
ゲート・トランジスタ212,214.216,218
の各々のソースに接続される。各々の通過ゲート・トラ
ンジスタ212乃至218のドレインが夫々セルフ・ブ
ート復号トランジスタ220,222,224,226
のゲートに接続される。各々の復号トランジスタ220
乃至226の電流通路が夫々の予備復号器出力線RDD
O乃至RDD3を夫々左側アレイの行線の節228,2
30,232.234に接続する。
左側アレイの行線ROWLOL、ROWL1 L。
ROWL 2 L、ROWL31−が夫々左側アレイの
行線の節228乃至234に接続される。
左側及び右側行線の選ばれたものに対する駆動/ブート
信号の復号は次の通りぐある。もう−魔笛1図について
説明すると、周辺区域14にある行因子信号発生器18
により、複数個の行因子信号が発生される。これが選ば
れた行因子信号線24を通って、チップ10上の各々の
復号器及び予備復号器に達する。行因子信号の高状態が
線RFO乃至RF3のうちの1つ、線RFJ乃至1(F
7のうらの1つ、線RF8乃至RF11のうちの1つ、
線RFI2乃至RFI 5のうらの1つ、及び線RF1
6乃至RF 19のうちの1つに発生される。次に第3
図を参照すると、前に示した表に示される様に、選ばれ
た成る予備復号器回路40のRFI又はRFJがオンで
あって、その為トランジスタ72のゲート又はトランジ
スタ74のグー1−がターンオンになる。
ここで−時的に第1図に戻ると、図示のDRAMのアー
キテクチュア−は4象限に分割されており、復号方式は
、ぞの象限にある8個の予備復号器の中から、各々の象
限に対して1つの予備復号器が選ばれる様になっている
。この発明のl) RAMは両半分、1/8ずつ、又は
予備復号器の総数の整数商を含むその他の任意の部分に
分1’i’lすることもできる。
第3図について云えば、これは、選ばれた予備復号器に
対し、RFK、及びRFi及びRFJのうちの一方が高
状態にあり、その象限にある8個の予備復号器のうちの
残りの7個はこの何面の組合せを持たないことを意味す
る。予備役同各全体が不作動にされない様に、信号RR
ENも高ぐなければならない。最後に、節62を低に引
張ることができる様にプリチャージ信号RDPcが高に
なってPチャンネル形j−ランジスタ58をAノに切換
えなければならない。選ばれた予備役吊器40の各々で
は、節62の低状態が節78の高状態に反転され、それ
がナンド・ゲート50乃至56の各々を何面する。行因
子信号RF O乃至RF 3のうちの1つだけが高であ
り、残りは低である。
従って、選ばれた1つのナンド・ゲート出力WJ80乃
学86、例えば節82が低rある。節82の低状態がイ
ンバータ90によって、トランジスタ98のドレインに
於ける高状態に反転される。1〜ランジスタ98はこの
高状態からvt降下を差引いたものを夫々の復号トラン
ジスタ106のゲートに転送する様に作用し得る。
ここで第1図に戻って筒中に説明すると、駆動信号RL
XHが周辺区1ii!14からセル・アレイ区域12へ
駆動/ブート信号822に沿って送られる。第3図に戻
って云うと、(今の例では)ターンオンになっている復
号トランジスタ106が、節RL X H及び節114
の両方が上昇する時、そのゲートをvdd+vtより高
くセルフ・ブートし、こうして−杯のvddが節114
に現われることができる様にし、これがRDDI予備復
号鼎出力線に出力される。
次に第4図を参照して説明すると、RDDlが左側の復
号トランジスタ222及び右側の復号トランジスタ18
8の両方のドレインに現われる。
RF信号発生器18(第1図)からチップの長さにDつ
で送られてきたR F (、i号が、チップ上の科名の
復号部分32にある32個の復号器36のうらの1つを
選択している。各象限にある8 fl#jの予備復号器
40のうちから1つを選択し、1個の復号器40当たり
4本のRDD線のうちの1木のRDD線を選択し、1個
の予備復号器40当たりの32個の復号器36(第2図
)のうちの1つの復号器36を選択すると云う組合せに
より、1象限当たり2本の行線だけが動作状態になる。
更に、1象限当たり32個の復号器36の64個の復号
トランジスタだけの寄生静電容Mが、RL X H駆動
/ブート信号から見ると、あることになる。これは32
個の復号器36の残りの192個の復号トランジスタの
寄生静電容量は、選ばれた予備復号器40の選択されな
かった部分、言い換えれば、動作状態でない3木のRD
D線によってマスクされるからである。その象限にある
他の復号トランジスタの全部の寄生静電容量が、その象
限にある選択されなかった予備v31号器40により、
RLXト1駆動/ブート信号からマスクされる。
選ばれた復号器36(第4図)にある復号器選択π15
0の低状態が、インバータ152.154によって反転
され、従って節156,210に高状態となって現われ
る。節156.210の高状態がトランジスタ170,
172,174,176.2i2,214,216,2
18を通過して、右側の復号トランジスタ186乃至1
92及び左側の復号トランジスタ220乃至226を作
illする。然し、この結果、トランジスタ186乃至
192.1220乃至226(7)’/”−トがvdd
−Vtにチャージされる時、トランジスタ170乃至1
76及び212乃至218の両端に■、降下が生じる。
インバータの出力節156の高状態がプリチャージ・ト
ランジスタ158をターンオフする。プリチャージ・ト
ランジスタ148がRDPCの高状態によってターンオ
フになる。
選択されなかった復号器36の場合、節150の状態が
高である。この高状態が線160,162.166を介
して、右側及び左側の行線放電トランジスタ194,1
96,198,200,240.242,244.24
6の各々のゲートに伝達される。従って、右側の行線の
節202乃至208及び左側の行線の節228乃至23
4は放電したままである。
然し、節150が高であると仮定すると、トランジスタ
186乃至192及び220乃至226の各々の電流通
路が作動されて、任意の予備役号器出力線RDDO乃至
RDD3に現われる高状態を適当な1組の右側及び左側
の行線に伝達する。
RDDlが高で、RDDO,RDD2及びRDD3が低
であると云う例で説明を統けると、高のRDDI信号が
トランジスタ188,222の電流通路を介して夫々左
側及び右側の行線の節230゜204に伝達され、これ
らの節がトランジスタ188.222のブーt4少なく
ともvdd+vtにセルフ・ブートし、トランジスタ1
88,222の両端の■□降下を禁する。その為伝送1
1ROWL1R及びROWLILが駆動信号RLXHに
よって駆動ぎれる。DRAMサイクルの能動回復部分の
間、予備復号器回路40(第3図)及び復号器回路36
(第4図)の復号によって設定されたこの同じ電流通路
が、駆f7]/ブーl〜発生器からこの後ROWLIR
及びROW l−I Lに伝達されるブート信号に対し
て使われる。
要約すれば、駆動/ブートイを号が見る寄生静電容量が
、全ての復号器回路ではな(、少数の復号器回路の寄生
静電容量になる様にする2層復号方式を説明した。予備
復号器回路はチップ上に局部的に配置されているから、
過大な消費電力を伴わずに、入城駆動/ブート信号線を
使うことができる。
好ましい実施例とその利点を以上詳しく説明したが、こ
の発明がそれに制限されず、特FF &!求の範囲の記
載のみによって限定されることを承知されたい。
この発明は以上の説明に関連して、更に下記の実施態様
を有する。
(1)  複数個の行線を持つ集積回路メモリ・アレイ
にある少なくとも1行のメモリ・セルに関連する行線を
駆動する復号回路に於いて、前記行線を含む集積回路の
アレイ区域と、該アレイ区域の外部に形成されていて駆
動信号を発生する発生器と、前記アレイ区域内に形成さ
れていて、何れも前記駆動信号を受取る様に前記発生器
に結合されているi12100予備復号器と、各々の予
備復号器に対して前記アレイ区域内に形成されていて、
分配複数個の予備復号器のうちの少なくともアドレスさ
れた1つの複数個の出力のうちの1つが、夫々複数個の
復号器の各々に対して予備復号駆動信号を伝達する様に
作用し得る複数個の復号器と、該複数個の復号器のうち
の各々の復号器に結合された夫々複数個の行線とを有し
、該復号器のうちの少なくともアドレスされた1つは少
なくとも1つの前記行線に復号駆動信号を伝達する様に
作用し得る復号回路。
(2)  (1)項に記載した復号回路に於いて、前記
アレイ区域とは別個に形成された集積回路の周辺区域を
有し、前記発生器は該周辺区域内に形成されており、前
記発生器を各々の予備駆動器に結合する駆動信号線と、
前記周辺区域内に形成されていて、各々の予備復号器に
結合されて、それに対してアドレス信号を伝達するアド
レス信号発生器とを有し、各々の予備復号器は複数個の
予備復号器出力線を有し、各々の予備復号器は、前記ア
ドレス信号の夫々予定の組合せに応答して、受取った駆
動信号を前記予備復号器出力線のうちの1つに復号する
様に作用し得ると共に、前記復号器は前記アドレス信号
発生器に結合されて、それからアドレス信号を受取り、
各々の復号器は、前記アドレス信号の予定の組合せを受
取ったことに応答して、予備復号器出力線に受取った駆
動信号を複数個のワード線のうちの少なくとも予め選ば
れた1つに復号する様に作用し得る復号回路。
(3)  (2)項に記載した復号回路に於いて、前記
アドレス信号発生器が受取った外部アドレスに基づいて
、複数個の行因子信号を発生する様に作用し得る復号回
路。
(4)  (3)項に記載した復号回路に於いて、第1
組の行因子信号が前記予備復号器出力のうちの1つを選
択して、それを介して予備復号駆動信号を伝達する様に
作用し得ると共に、第2組の行因子信号がアドレスされ
た予備復号器によって、前記駆動信号を前記予備復号器
出力のうちの1つに予備復号することができる様に作用
し得る復号回路。
(5)  (4)項に記載した復号回路に於いて、前記
第2組の行因子信号が夫々の行因子信号線を介して前記
予備復号器に伝達され、前記第2組は複数個の部分集合
で構成され、各々の予備復号器が各各の部分信号からの
行因子信号に対応する行因子信号線に結合されている復
号回路。
(6)  (3)項に記載した復号回路に於いて、各々
の復号器が夫々の行因子信号を伝える複数個の行因子信
号線の選ばれた線に結合され、前記予備復号器出力の各
々に対応する整数のワード線が前記復号器に結合され、
該復号器は選ばれた行因子信号線からの予定の信号を受
取ったことに応答して、1つの予備復号器出力からの駆
動信号を対応する1つのワード線に復号する様に作用し
得る復号回路。
(7)  (5)項に記載した復号回路に於いて、各々
の復号器は夫々の予備復号器の出力からの予備復号信号
を、それに結合された夫々2本の行線に復号する様に作
用し得る復号回路。
(8)  チップのアレイ区域内で半導体層の面に複数
個の平行な行及び列に分けて形成されたメモリ・セルの
複数個(m個)のアレイと、各々のアレイが行方向の次
に隣合うアレイから少なくとも1つの当該復号器部分だ
け隔たる様な複数個(m個)の復号器部分と、前記アレ
イ区域内に形成されていて、各々の行予備復号器が夫々
の復号器部分の近くに形成されている様な複数個(m個
)の予備復号器と、各々のアレイに対し、該アレイに隣
接して夫々の復号器部分の中に形成されていて、各各の
アレイの中に形成された複数個(p個)の行線が当該行
復号器に結合されていて、各々(p/n)個の行線のう
ちのアドレスされた1つを駆動する様に作用し得る複数
個(n個)の行復号器と、前記アレイ区域内で各々の予
備復号器に結合された駆動/ブート信号線と、前記アレ
イ区域の外部に形成されていて、前記駆動ブー1〜信号
線に駆動及びブート信号を発生する様に作用し得る駆動
/ブート発生器と、前記面に形成されると共に、前記復
号器及び予備復号器に結合されていて、それに対して行
因子信号を伝達する行因子信号発生器とを有し、該行因
子信号は、整数個の商の1)n記予備復号器及び各々の
復号器部分にある少なくとも1つの復号器を作動して、
前記面の整数倍に等しい数の行線に対して駆動及びブー
ト信号を復号する様に作用し得るメモリ・チップ。
(9)  (8)項に記載したメモリ・チップに於いて
、全体的に別方向に平行に形成されていて、前記行囚子
信号発生器に結合された複数個の行因子信号線を有し、
各々の復号器及び予備復号器は選ばれた行因子信号線に
結合されており、更に、各々の予備復号器に対し、その
出力に結合されると共に対応する復号器部分にある各々
の復号器に結合された複数個の予備復号器線を有し、予
め選ばれた第1組の行因子信号は対応する予備復号器を
作動して、前記予備復号器線の1つの駆動信号を前記対
応する部分にある復号器に伝達する様に作用し得ると共
に、予め選ばれた第2組の行因子信号(よ各々の復号器
部分にある1つの復号器を何面して、該何面された1つ
の復号器に結合された予備復号器線から受取った駆動信
号を前記何面された1つに結合された複数個の行線に伝
達する様に作用することができ、最後に記載した行線の
1つが各々の列に配置されているメモリ・チップ。
(10)  (8)項に記載したメモリ・チップに於い
て、前記アレイの列が左側の列及び右側の列で構成され
、垂直スペースが左側の列を右側の列から分離しており
、前記左側の列にある各々のアレイは前記右側の71に
ある対応するアレイを有し、前記アレイは前記列方向の
幅を持ち、各行のアレイに対し、前記垂直スペースに2
つの復号器部分が配置されていて、互いに隣接して左側
のアレイから右側のアレイへ伸び、前記駆動/ブート信
号線が前記アレイの間の垂直スペースに通されて、各々
の予備復号器に接続されるメモリ・チップ。
(11)  (101項に記載したメモリ・チップに於
いて、前記行因子信号発生鼎に結合された複数個のb因
子信号線を有し、該行因子信号線は全体的に前記垂直ス
ペース内で平行に通され〔いて、各々の復号器及び各々
の予備復号器が選ばれた行因子信号線に接続されること
によって、それに現われる行因子信号が各々の復号器部
分にある前記1つの復号器及び前記商の予備復号器を作
動して、駆動及びブート信号を選ばれた行線に復号する
ことができる様にしたメモリ・チップ。
(12)複数個の行線を持つ集積回路メモリ・アレイに
ある少なくとも1行のメモリ・セルに関連する行線を駆
動する方法に於いて、前記セルを含むアレイ区域内に形
成された複数個の予備復号器の各々に対して駆動信号を
伝達し、少なくとも1つの予備復号器を作動して、複数
個の予備復号器出力線のうらの予め選ばれた1つに駆動
信号を復号し、前記予め選ばれた1つの予備役号器出力
線上の駆動信号を、前記アレイ区域内に形成された複数
個の復号器の各々に伝達し、少なくとも1つの復号器を
作動して、前記予め選ばれた1つの予備役>−!i器出
出力線らの駆動信号を、前記1つの復号器に結合された
複数個の行線のうちの少なくとも予め選ばれた1つに復
号し、該駆動信号を使って前記予め選ばれた1つの行線
を駆動する工程を含む方法。
(13)  (12)項に記載した方法に於いて、アレ
イ区域の外部に形成された駆動信号発生器を使って、駆
動信号を発生する工程を含む方法。
(14)  (12)項に記載した方法に於いて、予定
のアドレス信号により、1つの予備復号器及び1つの復
号器を作動する工程を含む方法。
(15)  (14)項に記載した方法に於いて、複数
個の予定のアドレスのうちの何れかを受取ったことに基
づいて、複数個の行因子信号を発生し、予め選ばれた行
因子信号を使って、1つのY−備復号器を作動し、予め
選ばれた行因子信号を使って、1つの復号4を作動する
工程を含む方法。
(16)  (15)項に記載した方法に於いて、第1
組の行因子信号からの行因子信号を使って、予め選ばれ
た1つの予備復号器出力線を選択し、第2組の行因子信
号から選ばれた行因子信号を使って、1つの復号器を作
動する■稈を含む方法。
(17)  (72)項に記載した5洗に於いて、集積
回路メモリ・アレイを、何れも予備復号器、復号器及び
行線を持つ同様な複数個の部分区域に分割し、名々の部
分区域にある1つの予備復号器を作動し、セル・アレイ
区域にある複数個の復号器部分の科名にある1つの復号
器を作動し、各々の部分が夫夫の予備復号器に対応して
いる]二稈を含む75 Fk。
(i8)  (123項に記載した方法に於いて、駆動
信号発生器によって発生されたブート信号を使って、予
め選ばれた1つの行線をブートし、予め選ばれた1つの
予備復号器及び1つの復号器を用いて、行線に対して復
号する工程を含む方法。
(19)複数個の行線を持つ集積回路メモリ・アレイ(
10)にある少なくとも1行のメモリ・セルに関連する
行線(38a、38b)が、最初にチップ(10)の周
辺区域(14)に形成された駆動信号発生器(20)を
使って、この駆動信号を発生ずることにより、駆a/ブ
ート発生鼎信号(RLX)−1)によって駆動される。
駆動信号(RLXH)が、メモリ・セルアレ、イ区14
(12)内に形成された複数個の予備復号器〈40)の
各々に伝達される。少なくとも1つの予備復号器(40
)が作動されて、予定のアドレス信号(RFO乃至RF
19)に応答して、駆動信号(RLXH)を複数個の予
備復号器出力線(Rl) D O乃至RDD3)のうち
の予め選ばれた1つに復号する。駆動信号(RLXH)
がアレイ区域(12)内に形成された複数個の復号器(
36)の各々にアドレスされた予備復号器出力1(44
)を介して伝達される。予定のアドレス信@(RFO乃
至RF19)に応答して、少なくとも1つの復号器(3
6)が作動されて、アドレスされた予備復号器出力線(
RDDO乃至RDD3)からの駆動信号(RLX l−
1>を複数個の行線(38a、38b)のうちの少なく
ともアドレスされた1つに復号する。その後、復号され
た駆動/ブート信号(RLXH)を使って、予め選ばれ
た行1(38a、38b)が駆動されブートされる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の4メガビツトのDRAMを示す部分
的な簡略平面配置図、第2図は第1図に示したDRAM
の小さな一部分の電気的な配置を示す回路図、第3図は
この発明の1個の予備復号器の詳しい回路図、第4図は
この発明の1個の復号器の詳しい回路図である。 主な符号の説明 12:セル・アレイ区域 14.16:末端周辺区域 18:行因子信号発生器 20:駆動/ブート信号発生器 26:DRAMメモリ・セル・アレイ 28:センスアンプ 32:行復号器部分 36二行復号器 40:予備復号器

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数個の行線を持つ集積回路メモリ・アレイにあ
    る少なくとも1行のメモリ・セルに関連する行線を駆動
    する復号回路に於いて、前記行線を含む集積回路のアレ
    イ区域と、該アレイ区域の外部に形成されていて駆動信
    号を発生する発生器と、前記アレイ区域内に形成されて
    いて、何れも前記駆動信号を受取る様に前記発生器に結
    合されている複数個の予備復号器と、各々の予備復号器
    に対して前記アレイ区域内に形成されていて、前記複数
    個の予備復号器のうちの少なくともアドレスされた1つ
    の複数個の出力のうちの1つが、夫々複数個の復号器の
    各々に対して予備復号駆動信号を伝達する様に作用し得
    る複数個の復号器と、該複数個の復号器のうちの各々の
    復号器に結合された夫々複数個の行線とを有し、該復号
    器のうちの少なくともアドレスされた1つは少なくとも
    1つの前記行線に復号駆動信号を伝達する様に作用し得
    る復号回路。
  2. (2)チップのアレイ区域内で半導体層の面に複数個の
    平行な行及び列に分けて形成されたメモリ・セルの複数
    個(m個)のアレイと、各々のアレイが行方向の次に隣
    合うアレイから少なくとも1つの当該復号器部分だけ隔
    たる様な複数個(m個)の復号器部分と、前記アレイ区
    域内に形成されていて、各々の行予備復号器が夫々の復
    号器部分の近くに形成されている様な複数個(m個)の
    予備復号器と、各々のアレイに対し、該アレイに隣接し
    て夫々の復号器部分の中に形成されていて、各各のアレ
    イの中に形成された複数個(p個)の行線が当該行復号
    器に結合されていて、各々(p/n)個の行線のうちの
    アドレスされた1つを駆動する様に作用し得る複数個(
    n個)の行復号器と、前記アレイ区域内で各々の予備復
    号器に結合された駆動/ブート信号線と、前記アレイ区
    域の外部に形成されていて、前記駆動/ブート信号線に
    駆動及びブート信号を発生する様に作用し得る駆動/ブ
    ート発生器と、前記面に形成されると共に、前記復号器
    及び予備復号器に結合されていて、それに対して行因子
    信号を伝達する行因子信号発生器とを有し、該行因子信
    号は、整数個の商の前記予備復号器及び各々の復号器部
    分にある少なくとも1つの復号器を作動して、前記商の
    整数倍に等しい数の行線に対して駆動及びブート信号を
    復号する様に作用し得るメモリ・チップ。
  3. (3)複数個の行線を持つ集積回路メモリ・アレイにあ
    る少なくとも1行のメモリ・セルに関連する行線を駆動
    する方法に於いて、前記セルを含むアレイ区域内に形成
    された複数個の予備復号器の各各に対して駆動信号を伝
    達し、少なくとも1つの予備復号器を作動して、複数個
    の予備復号器出力線のうちの予め選ばれた1つに駆動信
    号を復号し、前記予め選ばれた1つの予備復号器出力線
    上の駆動信号を、前記アレイ区域内に形成された複数個
    の復号器の各々に伝達し、少なくとも1つの復号器を作
    動して、前記予め選ばれた1つの予備復号器出力線から
    の駆動信号を、前記1つの復号器に結合された複数個の
    行線のうちの少なくとも予め選ばれた1つに復号し、該
    駆動信号を使つて前記予め選ばれた1つの行線を駆動す
    る工程を含む方法。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4103309A1 (de) * 1991-02-04 1992-08-06 Mikroelektronik Und Technologi Schaltungsanordnung zur ansteuerung von wortleitungen in halbleiterspeichern
KR100967106B1 (ko) * 2008-09-19 2010-07-05 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치의 어드레스 디코딩 장치

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6180592A (ja) * 1984-09-26 1986-04-24 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS62150588A (ja) * 1985-12-25 1987-07-04 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS6366138A (ja) * 1987-03-18 1988-03-24 Takeda Chem Ind Ltd 10−メチル−9−ドデセン−1−オ−ル類及びその製造法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6059588A (ja) * 1983-09-12 1985-04-05 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US4660178A (en) * 1983-09-21 1987-04-21 Inmos Corporation Multistage decoding
JPH0682801B2 (ja) * 1983-12-23 1994-10-19 株式会社日立製作所 半導体記憶装置とそのレイアウト方法
JPS62192086A (ja) * 1986-02-18 1987-08-22 Matsushita Electronics Corp 半導体記憶装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6180592A (ja) * 1984-09-26 1986-04-24 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS62150588A (ja) * 1985-12-25 1987-07-04 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JPS6366138A (ja) * 1987-03-18 1988-03-24 Takeda Chem Ind Ltd 10−メチル−9−ドデセン−1−オ−ル類及びその製造法

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