JPH02141023A - 半導体集積回路の出力回路 - Google Patents

半導体集積回路の出力回路

Info

Publication number
JPH02141023A
JPH02141023A JP63293882A JP29388288A JPH02141023A JP H02141023 A JPH02141023 A JP H02141023A JP 63293882 A JP63293882 A JP 63293882A JP 29388288 A JP29388288 A JP 29388288A JP H02141023 A JPH02141023 A JP H02141023A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
output
node
circuit
level
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63293882A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0666674B2 (ja
Inventor
Hiromachi Watanabe
渡邉 裕待
Hiroshi Sawara
佐原 弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP63293882A priority Critical patent/JPH0666674B2/ja
Priority to US07/438,258 priority patent/US5055713A/en
Priority to KR1019890016965A priority patent/KR920009720B1/ko
Publication of JPH02141023A publication Critical patent/JPH02141023A/ja
Publication of JPH0666674B2 publication Critical patent/JPH0666674B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/003Modifications for increasing the reliability for protection
    • H03K19/00346Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
    • H03K19/00361Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、半導体集積回路の出力回路に係り、例えば絶
縁ゲート型(MOS)半導体メモリに使用される出力回
路に関する。
(従来の技術) 従来、MOSメモリに使用される出力回路は、例えば第
8図に示すように、Vcc電源ノードとVss電源ノー
ド(接地電位)との間に、出力用のNチャネルMO3型
の第1のトランジスタ1および第2のトランジスタ2が
直列に接続されてなり、この2個のトランジスタ1およ
び2の各ゲートに対応して相補的な信号C1Cが別々に
与えられ、この2個のトランジスタ1および2の直列接
続点が出力ノードとなっている。
いま、信号C1Cが対応して高レベル“1”低レベル“
0”の時には、第1のトランジスタ1および第2のトラ
ンジスタ2が対応してオン、オフになり、“1″出力状
態になる。これに対して、信号C,Cが対応して低レベ
ル“0″、高レベル“1“の時には、第1のトランジス
タ1および第2のトランジスタ2が対応してオフ、オン
になり、“0“出力状態になる。また、信号C%Cが共
に“0“レベルの時には、第1のMOS)ランジスタ1
および第2のMOS)ランジスタ2が共にオフになり、
出力ノードが電位的に浮遊状態になり、高インピーダン
ス状態になる。
ところで、第9図に示すように、上記“0″出力状態に
なる時の信号Cのレベル変化が急俊であると、第2のト
ランジスタ2がオンになる時に急俊にオンになり、出力
ノードに接続されている負荷容量に蓄積されていた電荷
がVSSノードに向かって急俊に放電されるので、Vs
sノードの電位がパルス状に高くなり、vssノードに
ハイレベルのノイズが発生する。
一方、信号CSCが共に“0”レベルの時に出力ノード
が電位的に浮遊状態になるのを防ぐために、第10図に
示すように、出力ノードとVcc′ノードおよびv s
s’ ノードとの間にそれぞれ抵抗R1とR2を外付は
接続しておき、信号CSでが共に“0”レベルの時に出
力ノードをある中間電位にする場合がある。
しかし、この出力回路は、信号Cを“0”のままにして
、信号Cを“1”から“0”にして前記“0”出力状態
を解除して高インピーダンス状態になる時に、この信号
Cが急俊に“1”から“0“になると、第2のトランジ
スタ2は瞬時にオフ状態になり、V Ce’ ノードか
ら抵抗R1および第2のトランジスタ2を介してVss
ノードにそれまで流れ込んでいた電流が急激に途切れる
。この場合、VSSノード側の配線とかボンディングワ
イヤとがリードフレーム等に存在するインダクタンス成
分をL1上記電流の変化をdi、時間の変化をdtで表
すと、ΔV−L・ (d i/d t)で示される電圧
ノイズがVssノードに発生し、Vssノードの電位が
パルス状に低くなる。
上記したように出力回路の“0″データ出力時あるいは
“0“データ出力解除時の出力反転時にVssノードの
電位がパルス状に高くなったり、あるいは低くなるよう
なノイズが発生すると、この出力回路と同じチップ上に
形成されている他の内部回路、例えば第11図に示すよ
うな二段のCMOSインバータからなる入力バッファ!
■に誤動作が生じる。
即ち、この人力バッファIVの入力Vinが例えば高レ
ベルの時に前記したようなVssノードの電位がパルス
状に高くなるようなノイズが発生すると、この高レベル
の入力VinとVssノードとの電位差が小さくなり、
初段のインバータIVIは入力Vinが低レベルである
として検知してしまい、その出力Voutが高レベルに
なり、次段のインバータIV2の出力Vintが低レベ
ルになるようなことが起こり、半導体集積回路が誤動作
してしまうようなことが起こる。
また、第8図において、1”出力状態になる時の信号C
のレベル変化が急俊であると、第1のトランジスタ1が
急俊にオンになり、Vceノードから第1のトランジス
タ1を介して出力ノードに急激に電流が流れる。この場
合、Vceノード側の配線とかボンディングワイヤとか
リードフレーム等に存在するインダクタンス成分をL1
上記電流の変化をd is待時間変化をdtで表すと、
ΔV−L・(di/dt)で示される電圧ノイズがVc
eノードに発生し、Vceノードの電位が低くなる。
また、第8図において、信号Cが“1″から“0″にな
って前記“1″出力状態を解除して高インピーダンス状
態になる時に、この信号Cが急俊に“1mから“0”に
な、ると、第1のトランジスタ1は瞬時にオフ状態にな
り、この場合にも前記したようにΔV−L・ (d i
 / d t )で示される電圧のノイズがVceノー
ドに発生し、Vceノードの電位が高くなる。
上記したように出力回路の″′1″データ出力時出力−
は“1°デ一タ出力解除時の出力反転時にVceノード
の電位がパルス状に低くなったり、高くなったりするノ
イズが発生すると、この出力回路と同じチップ上に形成
されている他の内部回路、例えば前記第11図に示すよ
うな入力バッファIVに誤動作が生じる。
上記したような出力回路の出力変化時に発生するノイズ
は、MOSメモリの多ビット化が進むにつれ、−度に多
数の出力回路が動作して出力電流の変化が大きくなるの
に伴って益々大きくなるので、由々しき問題となってい
る。
(発明が解決しようとする課題) 本発明は、上記したように出力回路の出力変化時に発生
するノイズに起因して集積回路内部回路の誤動作が生じ
るという問題点を解決すべくなされたもので、上記出力
回路の出力変化時に発生するノイズを低減でき、集積回
路内部回路の誤動作を防止し得る半導体集積回路の出力
回路を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 第1番目の発明は、第1の電源ノードと第2の電源ノー
ドとの間に直列に接続された出力用のMOS型の第1の
トランジスタおよび第2のトランジスタを有し、この2
個のトランジスタの各ゲートに別々の信号が与えられる
半導体集積回路の出力回路において、前記第2の電源ノ
ード側に接続されている第2のトランジスタをオン駆動
する時には、この第2のトランジスタの相互コンダクタ
ンスが余り高くならないレベルまではそのゲート電位を
ある程度急に立上げ、その後は前記第2のトランジスタ
の相互コンダクタンスが十分高くなるレベルまでそのゲ
ート電位をゆっくりと立上げ、前記第2のトランジスタ
をオン状態からオフ状態にする時には、この第2のトラ
ンジスタの相互コンダクタンスがある程度低くなるレベ
ルまではそのゲート電位をゆっくりと立下げ、その後に
前記第2のトランジスタの相互コンダクタンスが十分低
くなるレベルまでそのゲート電位を立下げるように駆動
する駆動制御回路を具備している。
第2番目の発明は、第1の電源ノードと第2の電源ノー
ドとの間に直列に接続された出力用のMOS型の第1の
トランジスタおよび第2のトランジスタを有し、この2
個のトランジスタの各ゲートに別々の信号が与えられる
半導体集積回路の出力回路において、前記第1の電源ノ
ード側に接続されている第1のトランジスタをオン駆動
する時には、そのゲート電位の立上がりを二段階状に変
化させ、この第1のトランジスタをオン状態からオフ状
態にする時には、そのゲート電位の立下がりを二段階状
に変化させるように駆動する駆動制御回路を具備してい
る。
第3番目の発明は、第1の電源ノードと第2の電源ノー
ドとの間に直列に接続された出力用のMOS型の第1の
トランジスタおよび第2のトランジスタを有し、この2
個のトランジスタの各ゲートに別々の信号が与えられる
半導体集積回路の出力回路において、前記第1のトラン
ジスタが2個のトランジスタに分割されており、前記第
1のトランジスタをオン状態からオフ状態にする時に、
前記分割されている2個のトランジスタのうちの一方の
トランジスタのゲート電位の立下がりと他方のトランジ
スタのゲート電位の立下がりとに所定の時間差を設け、
前記一方のトランジスタのゲート電位の立下がりを前記
他方のトランジスタのゲート電位の立下がりよりもゆっ
くりと変化させるように駆動する駆動!制御回路を具備
している。
(作用) 第1番目の半導体集積回路の出力回路によれば、第2の
トランジスタをオン駆動する時に第2の電源ノードに急
激に電荷が流れ込むことを防止でき、また、第2のトラ
ンジスタをオン状態がらオフ状態にする時に第2の電源
ノードにそれまでに流れ込んでいた電流が急激に途切れ
ることを防止できるので、第2の電源ノードに発生する
ノイズを低減でき、集積回路内部回路の誤動作を防止で
きる。
第2番目の半導体集積回路の出力回路によれば、第1の
トランジスタをオン駆動する時に第1の電源ノードから
第1のトランジスタに急激に電流が流れ込むことを防止
でき、また、第1のトランジスタをオン状態からオフ状
態にする時に第1の電源ノードからそれまでに流れ込ん
でいた電流が急激に途切れることを防止できるので、第
1の電源ノードに発生するノイズを低減でき、集積回路
内部回路の誤動作を防止できる。
第3番目の半導体集積回路の出力回路によれば、第1の
トランジスタをオン状態からオフ状態にする時に第1の
電源ノードからそれまでに流れ込んでいた電流が急激に
途切れることを防止できるので、第1の電源ノードに発
生するノイズを低減でき、集積回路内部回路の誤動作を
防止できる。
(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
第1図は、第1番目の半導体集積回路の出力回路の一例
を示しており、Vcc電源ノードとVSS電源ノード(
接地電位)との間に、出力用のMOS型のNチャネル型
の第1のトランジスタ1および第2のトランジスタ2が
直列に接続されており、この2個のトランジスタの各ゲ
ートに別々の信号c、c’が与えられ、この2個のトラ
ンジスタの直列接続点が出力ノードとなっている。10
はVSSノード側に接続されている第2のトランジスタ
2を駆動制御するための駆動制御回路であり、この駆動
制御回路10は、VSSノード側に接続されている第2
のトランジスタ2をオン駆動する時には、この第2のト
ランジスタ2の相互コンダクタンスが余り高くならない
レベルまではそのゲート電位をある程度急に立上げ、そ
の後は第2のトランジスタ2の相互コンダクタンスが十
分高くなるレベルまでそのゲート電位をゆっくりと立上
げ、第2のトランジスタ2をオン状態からオフ状態にす
る時には、この第2のトランジスタ2の相互コンダクタ
ンスがある程度低くなるレベルまではそのゲート電位を
ゆっくりと立下げ、その後に第2のトランジスタ2の相
互コンダクタンスが十分低くなるレベルまでそのゲート
電位を立下げるように駆動するものであり、例えば図示
の如く構成されている。
即ち、VceノードとVSSノードとの間に直列に、ド
レイン・ゲート相互が接続されているn個のNチャネル
型のトランジスタN a −N nと、ゲートに入力C
が与えられるNチャネル型のトランジスタN1と、抵抗
Rと、Nチャネル型のトランジスタN2とが接続されて
いる。このトランジスタN2のゲートには、入力Cがイ
ンバータ■1により反転された信号が与えられる。n個
のNチャネル型のトランジスタNa−Nnの各閾値電圧
はVTllである。
そして、Nチャネル型のトランジスタN1と抵抗Rとの
接続点は、第2のトランジスタ2のゲートに接続されて
おり、このゲートとVceノードとの間にPチャネル型
のトランジスタP1が接続されており、このゲートとV
ssノードとの間にNチャネル型のトランジスタN3が
接続されている。
また、入力Cは、第1の二人カナンド回路NAIの一方
の入力になると共に二段のインバータ■2およびI3を
経て二人力ナンド回路NAIの他方の入力になり、この
二人力ナンド回路NAIの出力はPチャネル型のトラン
ジスタP1のゲート入力となる。二段のインバータI2
およびI3のうちの初段インバータI2の出力ノードと
Vssノードとの間には、ドレイン・ソース相互がVs
sノードに接続されているNチャネル型MOSトランジ
スタからなるMOSキャパシタC1が接続されている。
また、二段のインバータI2および■3のうちの後段イ
ンバ・−タI3の出力ノードとVceノードとの間には
、ドレイン・ソース相互がVceノードに接続されてい
るPチャネル型MO3)ランジスタからなるMOSキャ
パシタC2が接続されている。
また、Nチャネル型のトランジスタN1と抵抗Rとの接
続点とVssノードとの間には、ドレイン・ソース相互
がVSSノードに接続されているNチャネル型MOSト
ランジスタからなるMOSキャパシタC3が接続されて
いる。また、インバータ■1の出力は、第2の二人力ナ
ンド回路NA2の一方の入力になると共に二段のインバ
ータ14およびI5を経てナンド回路NA2の他方の入
力になり、このナンド回路NA2の出力はインバータI
6により反転されてNチャネル型のトランジスタN3の
入力となる。二段のインバータ■4および■5のうちの
初段インバータ■4の出力ノードとVSSノードとの間
には、ドレイン争ソース相互がVSSノードに接続され
ているNチャネル型MOS)ランジスタからなるMOS
キャパシタC4が接続されている。また、二段のインバ
ータI4およびI5のうちの後段インバータ■5の出力
ノードとVceノードとの間には、ドレイン・ソース相
互がVceノードに接続されているPチャネル型MOS
トランジスタからなるMOSキャパシタC5が接続され
ている。
次に、第1図の出力回路の動作を第2図を参照して説明
する。いま、“0”出力を行う時には、入力Cを低レベ
ル°0“に保って第1のトランジスタ1はオフにしたま
まの状態で、入力Cを高レベル“1°にすると、駆動制
御回路10の出力が高レベルになって出力用の第2のト
ランジスタ2がオンになり、“0”出力状態になる。即
ち、駆動制御回路10において、入力Cが“1”レベル
になると、インバータ11の出力が“0”になり、第2
の二人力ナンド回路NA2の出力は“1”インバータ■
6の出力1ヰ“0”になり、Nチャネル型のトランジス
タN3はオフになる。このとき、入力Cの#1mレベル
によってNチャネル型のトランジスタN1が直ちにオン
状態になり、駆動制御回路10の出力ノードC′にはV
cc−n−VTHの電圧が現れる。ここで、vcc−n
番vTHの値を、出力用の第2のトランジスタ2のコン
ダクタンスを高くし過ぎない程度に選択設定しておくと
、Vssノードに流れる電流は急激に変化することはな
い。
この後、二段のインバータ12.13およびMOSキャ
パシタC1、C2で決まる固有の遅延時間の後、第1の
二人力ナンド回路NAIの出力は“0°になり、Pチャ
ネル型のトランジスタP1がオンになり、駆動制御回路
10の出力ノードC′は“1”になり、出力用の第2の
トランジスタ2のコンダクタンスが高くなる。しかし、
このとき既に、Vssノードに電流がある程度流れてお
り、VSSノードへ流れる電流の時間的変化di/dt
はさほど大きくはならない。従って、VSSノードに発
生するノイズを低減できる。この場合、Pチャネル型の
トランジスタP1がオンになった時に出力ノードC′を
ゆっくりと“1″にするように、Pチャネル型のトラン
ジスタP1の特性を設定しておく。
一方、上記“0”出力状態を解除して高インピーダンス
状態にする時には、入力Cを低レベル“0”に保って第
1のトランジスタ1はオフにしたままの状態で、入力C
を低レベル“0”にすると、駆動制御回路10の出力C
′が低レベルになって出力用の第2のトランジスタ2が
オフになり、高インピーダンス状態になる。即ち、駆動
制御回路10において、入力Cが“0”レベルになると
、第1の二人カナンド回路NAIの出力は“1”になり
、Pチャネル型のトランジスタP1はオフになる。また
、第2の二人力ナンド回路NA2は、インバータIIの
出力“1″が入力してもインバータI5の“0“出力に
よって”1“を出力しており、インバータI6の出力は
“0“であるので、Nチャネル型のトランジスタN3は
オフである。
このとき、インバータ11の出力“1”レベルによって
Nチャネル型のトランジスタN2がオンになり、駆動制
御回路10の出力ノードC′はVSSレベルに向かうが
、MOSキャパシタC3による時定数によって出力ノー
ドC′の電位はゆっくりと下がる。この場合、出力用の
第2のトランジスタ2のコンダクタンスが急に低くなる
ことはなく、この第2のトランジスタ2はゆっくりとオ
フ状態になり、Vssノードにそれまでに流れ込んでい
た電流が急激に途切れることことはない。
この後、二段のインバータ■4、■5およびMOSキャ
パシタC4、C5で決まる固有の遅延時間の後、第2の
二人カナンド回路NA2の出力は“Q I11インバー
タI6の出力は“1”になり、Nチャネル型のトランジ
スタN3がオンになり、駆動制御回路10の出力ノード
C′は速やかに“0“になり、出力用の第2のトランジ
スタ2のコンダクタンスが低くなる。しかし、このとき
既に、VSSノードに流れる電流はある程度低くなって
おり、VSSノードへ流れる電流の時間的変化d i/
d tはさほど大きくはならない。従って、VSSノー
ドに発生するノイズを低減できる。
上記した第1図の出力回路によれば、出力用の第2のト
ランジスタ2をオン駆動する時、vssノードに急激に
電荷が流れ込むことを防止でき、出力用の第2のトラン
ジスタ2をオン状態からオフ状態にする時に、Vssノ
ードにそれまでに流れ込んでいた電流が急激に途切れる
ことを防止できるので、VSSノードに発生するノイズ
を低減でき、この出力回路と同じチップ上に形成されて
いる他の内部回路、例えば第9図に示したような二段の
CMOSインバータからなる入力バッファの誤動作を防
止できる。
なお、入力C,,Cが対応して高レベル“1”低レベル
“0“の時には、第1のトランジスタ1および第2のト
ランジスタ2が対応してオン、オフになり、1”出力状
態になる。また、入力C1Cが共に“0”レベルの時に
は、第1のトランジスタ1および第2のトランジスタ2
が共にオフになり、高インピーダンス状態になる。
第3図は、本発明に係る第2番目の半導体集積回路の出
力回路の一例を示しており、Vcc電源ノードとVSS
電源ノードとの間に、出力用のMOS型のNチャネル型
の第1のトランジスタ1および第2のトランジスタ2が
直列に接続されており、この2個のトランジスタの各ゲ
ートに別々の信号C′ Cが与えられ、この2個のトラ
ンジスタの直列接続点が出力ノードとなっている。30
はvccノード側に接続されている第1のトランジスタ
1を駆動制御するための駆動制御回路であり、この駆動
制御回路30は、Vccノード側に接続されている第1
のトランジスタ1をオン駆動する時には、この第1のト
ランジスタ1の相互コンダクタンスがある程度高くなる
まではそのゲート電位をゆっくりと立上げ、その後に第
1のトランジスタ1の相互コンダクタンスが十分高くな
るレベルまでそのゲート電位を立上げるように二段階状
に変化させ、この第1のトランジスタ1をオン状態から
オフ状態にする時には、この第1のトランジスタ1の相
互コンダクタンスがある程度低くなるまではそのゲート
電位をゆっくりと立下げ、その後に第1のトランジスタ
1の相互コンダクタンスが十分低くなるレベルまでその
ゲート電位を立下げるように二段階状に変化させるよう
に駆動するものであり、例えば図示の如く構成されてい
る。
即ち、vccノードとVssノードとの間に直列に、ド
レイン・ゲート相互が接続されている複数個(例えば2
個)のNチャネル型のトランジスタN1およびN2と、
ゲートに入力Cが与えられるPチャネル型のトランジス
タP1と、ゲートに入力Cが与えられるNチャネル型の
トランジスタN3とが接続されている。Nチャネル型の
トランジスタN1およびN2の各閾値電圧はVTHであ
る。
そして、Pチャネル型のトランジスタP1とNチャネル
型のトランジスタN3との接続点は、Nチャネル型のト
ランジスタN4のゲートに接続されており、このトラン
ジスタN4のゲートとVccノードとの間にPチャネル
型のトランジスタP2が接続されている。このPチャネ
ル型の、トランジスタP2のゲートには、入力Cが二段
のインバータ11および12を経て与えられる。この二
段のインバータ11および■2のうちの初段インバータ
11の出力ノードとVccノードとの間には、ドレイン
・ソース相互がVccノードに接続されているPチャネ
ル型MO3)ランジスタからなるMOSキャパシタC1
が接続され、二段のインバータ11および■2のうちの
後段インバータI2の出力ノードとVssノードとの間
には、ドレイン・ソース相互がVssノードに接続され
ているNチャネル型MOS)ランジスタからなるMOS
キャパシタC2が接続されている。
また、入力Cは、四段のインバータI3〜16を経てN
チャネル型のトランジスタN5の一端に与えられ、この
トランジスタN5の他端はトランジスタN4の他端に接
続され、これらのトランジスタN5およびN4の相互接
続点は出力用の第1のトランジスタ1のゲートに接続さ
れている。四段のインバータ13〜I6のうちの二段目
以降の各段のインバータ■4〜I6の出力ノードとVc
cノードとの間には、ドレイン・ソース相互がVccノ
ードに接続されているPチャネル型MOSトランジスタ
からなるMOSキャパシタ03〜C5がそれぞれ接続さ
れ、二段目以降のインバータ14〜16の各段の出力ノ
ードとVssノードとの間には、ドレイン・ソース相互
がVssノードに接続されているNチャネル型MOS)
ランジスタからなるMOSキャパシタ06〜C8がそれ
ぞれ接続されている。
さらに、四段のインバータ13〜16のうちの初段のイ
ンバータ13の出力は、直接に二人カノア回路NGの一
方の入力になると共に、七段のインバータ17〜113
を経て二人カノア回路NGの他方の入力になる。七段の
インバータ17〜113のうちの初段口、三段目および
三段目のインバータの出力ノードとVCCノードとの間
には、ドレイン・ソース相互がVecノードに接続され
ているPチャネル型MO8)ランジスタからなるMOS
キャパシタ09〜C11が接続され、七段のインバータ
I7〜113のうちの二段目、四段目および六段目のイ
ンバータの出力ノードとVssノードとの間には、ドレ
イン・ソース相互がVssノードに接続されているNチ
ャネル型MOSトランジスタからなるMOSキャパシタ
C12〜C14が接続されている。二人カノア回路NG
の出力ノードとトランジスタN5のゲートとの間に、ゲ
ートがvceノードに接続されたNチャネル型のトラン
ジスタN6が接続されている。
また、入力Cは、直接に二人力ナンド回路NAの一方の
人力になると共に、四段のインバータ114〜117を
経て二人力ナンド回路NAの他方の入力になる。四段の
インバータ114〜117のうちの初段インバータおよ
び三段目インバータの各出力ノードとVssノードとの
間には、ドレイン・ソース相互がVssノードに接続さ
れているNチャネル型MOS)ランジスタからなるMO
SキャパシタC15およびC16がそれぞれ接続され、
四段のインバータ114〜!17のうちの二段目インバ
ータおよび四段目インバータの各出力ノードとVccノ
ードとの間には、ドレイン−ソース相互がVccノード
に接続されているPチャネル型MO5)ランジスタから
なるMOSキャパシタC17および018がそれぞれ接
続されている。
二人カナンド回路NAの出力は、二段のインバータ11
8および119を介してNチャネル型のトランジスタN
7のゲートに入力すると共にインバータI20を経てト
ランジスタN7のドレインに与えられる。二段のインバ
ータ118および119のうちの初段のインバータ11
8の出力ノードとVSSノードとの間には、ドレイン・
ソース相互がVSSノードに接続されているNチャネル
型MOS)ランジスタからなるMOSキャパシタC19
が接続されている。トランジスタN7のソースはVSS
ノードに接続されており、そのドレインは、ドレイン・
ソース相互が接続されているNチャネル型MOS)ラン
ジスタからなるMOSキャパシタC20を介して出力用
の第1のトランジスタ1のゲートに接続されている。
次に、第3図の出力回路の動作を第4図を参照して説明
する。“1″出力を行う時には、入力Cを低レベル“0
”に保って第2のトランジスタ2はオフにしたままの状
態で、入力Cを高レベル“1”にすると、駆動制御回路
30の出力が高レベルになって出力用の第1のトランジ
スタ1がオンになり、″12出力状態になる。即ち、駆
動制御回路30において、入力Cが#1#レベルになる
と、トランジスタN3がオンになり、そのドレイン電位
が“0“になり、トランジスタN4がオフになる。また
、この時、インバータ■3の出力が“0”になり、二人
カノア回路NGの出力は“1”になり、トランジスタN
5のゲートがVcc−VTH(VTHはNチャネルトラ
ンジスタN6の閾値電圧)の電位に充電される。なお、
この時点ではまだ、二人力ナンド回路NAの出力は“1
″インバータ120の出力は“0゛のままであるので、
トランジスタN7のドレイン電位は“0“に引き落とさ
れたままである。そして、インバータ■4〜16および
MOSキャパシタ03〜C8で決まるある遅延時間後に
、インバータ■6の“1“レベル出力がトランジスタN
5を経て出力用の第1のトランジスタ1のゲートを充電
し始めると共に、トランジスタN5のゲート電位をv 
cct4位よりも高いレベルにする。これにより、出力
用の第1のトランジスタ1がオンになり、出力V ou
tが1″になり始める。この時、トランジスタN5の寸
法を適切に設定しておけば、出力用の第1のトランジス
タ1のゲートの充電速度を制御でき、出力VouLが急
に立上がらないようにすることができ、それに伴い、V
ce電流の急激な変化を抑えることができる。
この後、インバータ17〜112およびMOSキャパシ
タ09〜C14で決まるある遅延時間後にインバータ1
13の出力が“1”になり、二人カノア回路NGの出力
は“0”になり、トランジスタN5のゲート電位が“O
”になり、トランジスタN5がオフになる。また、イン
バータ114〜117およびMOSキャパシタC15〜
C18で決まるある遅延時間後にインバータ117の出
力が1”になり、二人力ナンド回路NAの出力は0゛に
なり、トランジスタN7がオフになると共にインバータ
!20の出力が“1″になり始め、この′″1#1#レ
ベルSキャパシタC20による容量結合により出力用の
第1のトランジスタ1のゲート電位を高レベルにする。
これにより、出力用の第1のトランジスタ1のオン電流
が増し、出力V outが完全に“1”になる。なお、
この時の出力用の第1のトランジスタ1のゲート電位の
最終レベルとしては、出力用の第1のトランジスタ1が
三極前動作を行うことが可能なレベルに設定する。この
ように出力用の第1のトランジスタ1のオン電流が増す
時には、既に出力用の第1のトランジスタ1にある程度
の電流が流れているので、出力用の第1のトランジスタ
1のゲート電位が高レベルになっても、それに伴うVc
e電流の時間的変化d i/d tを小さく抑えること
ができる。
従って、vccノードに発生するノイズを低減できる。
一方、上記“1°出力状態を解除して高インピーダンス
状態にする時には、入力Cを低レベル“0″に保って第
2のトランジスタ2はオフにしたままの状態で、人力C
を低レベル“0”にすると、駆動制御回路30の出力C
′が低レベルになって出力用の第1のトランジスタ1が
オフになり、高インピーダンス状態になる。即ち、駆動
制御回路30において、入力Cが“0”レベルになると
、トランジスタP1がオンになり、トランジスタN4の
ゲートを充電し始める。このゲート電位は、先ずV c
c −2V THになり、このトランジスタN4はオン
し始める。そして、インバータ11.12およびMOS
キャパシタC1、C2で決まるある遅延時間後にインバ
ータ12の出力が“0#になり、トランジスタP2がオ
ンになり、トランジスタN4のゲート電位はVccレベ
ルになり、このトランジスタN4のオン電流が増す。従
って、トランジスタN4のコンダクタンスが急に高くな
ることはなく、このトランジスタN4のドレイン電位に
より出力用の第1のトランジスタ1がオフになり始める
。なお、この時、インバータI3の出力が“1″になり
、上段のインバータ17〜113を介したインバータ1
13の出力が″Omレベルにプリチャージされる。
また、入力Cが上記したように“0”レベルになった時
、二人力ナンド回路NAの出力は“1”インバータI2
0の出力は“0”になり、トランジスタN7のドレイン
電位は“0”に引き落とされ始める。そして、インバー
タ118およびMOSキャパシタC19で決まるある遅
延時間後にインバータ119の出力が“1”になり、ト
ランジスタN7がオンになり、そのドレイン電位は“0
1に引き落とされる。このため、トランジスタN7のド
レイン電位が急に“0°レベルになることはなく、この
ドレインにMOSキャパシタC20により容量結合して
いる出力用の第1のトランジスタ1のゲート電位は急に
“0“レベルになることはなく、ノードD5により制御
されるトランジスタN4により制御され、二段階を経て
“0゛レベルになる。従って、出力用の第1のトランジ
スタ1のコンダクタンスも急激に下がることはなく、V
ce電流がオフになる時の電流の時間的変化d i /
 d tを小さく抑えることができ、Vceノードに発
生するノイズを低減できる。
なお、入力C,,Cが対応して低レベル“0“高レベル
“1”の時には、第1のトランジスタ1および第2のト
ランジスタ2が対応してオフ、オンになり、“0”出力
状態になる。
上記した第3図の出力回路によれば、第1のトランジス
タ1をオン駆動する時にVceノードから第1のトラン
ジスタ1に急激に電流が流れ込むことを防止でき、また
、第1のトランジスタ1をオン状態からオフ状態にする
時にVceノードからそれまでに流れ込んでいた電流が
急激に途切れることを防止できるので、Vceノードに
発生するノイズを低減でき、集積回路内部回路の誤動作
を防止できる。
第5図は、本発明に係る第2番目の半導体集積回路の出
力回路の他の例を示しており、vCc電源ノードとVS
S電源ノードとの間に、出力用のMOS型のNチャネル
型の第1のトランジスタ1および第2のトランジスタ2
が直列に接続されており、この2個のトランジスタの各
ゲートに別々の信号C′ Cが与えられ、この2個のト
ランジスタの直列接続点が出力ノードとなっている。
50はVCCノード側に接続されている第1のトランジ
スタ1を駆動制御するための駆動制御回路であり、この
駆動制御回路50は、Vceノード側に接続されている
第1のトランジスタ1をオン駆動する時には、この第1
のトランジスタの相互コンダクタンスが余り高くならな
いレベルまではそのゲート電位をある程度急に立上げ、
その後は第1のトランジスタの相互コンダクタンスが十
分高くなるレベルまでそのゲート電位をゆっくりと立上
げるように二段階状に変化させ、この第1のトランジス
タ1をオン状態からオフ状態にする時には、この第1の
トランジスタ1の相互コンダクタンスがある程度低くな
るまではそのゲート電位をゆっくりと立下げ、その後に
第1のトランジスタ1の相互コンダクタンスが十分低く
なるレベルまでそのゲート電位を立下げるように二段階
状に変化させるように駆動するものであり、例えば図示
の如く構成されている。
即ち、入力Cはインバータ11およびゲートがVecノ
ードに接続されたNチャネル型のトランジスタN1を介
してドレインがVccノードに接続されたNチャネル型
のトランジスタN2のゲートに接続されている。インバ
ータ11の出力ノードとトランジスタN2のゲートとの
間には、二段のインバータ■2およびI3およびドレイ
ン・ソース相互が接続されているNチャネル型MOSト
ランジスタからなるMOSキャパシタキャパシタC2が
接続され、インバータI2の出力ノードとVSSノード
との間には、ドレイン・ソース相互がVssノードに接
続されているNチャネル型MO3)ランジスタからなる
MOSキャパシタC1が接続されている。
また、入力Cは四段のインバータ■4〜■7およびキャ
パシタCを介してトランジスタN2のソースに接続され
ている。このトランジスタN2のソースとVccノード
との間には、ドレイン・ゲート相互が接続されているN
チャネル型のトランジスタN3が接続されている。この
トランジスタN3のソースとVssノードとの間には、
ソース・基板相互が接続されているPチャネル型のトラ
ンジスタP3およびNチャネル型のトランジスタN6が
接続されている。このトランジスタP3およびN6のド
レイン相互接続点は出力用の第1のトランジスタ1のゲ
ートに接続されている。また、Vccノードとトランジ
スタP3およびN6のドレイン相互接続点との間に直列
に、ドレイン−ゲート相互が接続されているn個のNチ
ャネル型のトランジスタN a = N nと、ゲート
に入力Cが与えられるNチャネル型のトランジスタN4
とが接続されている。n個のNチャネル型のトランジス
タN a = N nの各閾値電圧はVTHである。そ
して、入力Cは三段のインバータI8〜110を介して
トランジスタP3のゲートに接続されている。
さらに、VCCノードとVSSノードとの間に直列に、
ドレイン・ゲート相互が接続されているn′個のNチャ
ネル型のトランジスタNa′〜Nn’と、ゲートに人力
Cが与えられるPチャネル型のトランジスタP1と、ゲ
ートに人力が与えられるNチャネル型のトランジスタN
5とが接続されている。n′個のNチャネル型のトラン
ジスタNa′〜Nn’ の各閾値電圧はVTIIである
。そして、Pチャネル型のトランジスタP1とNチャネ
ル型のトランジスタN5との接続点は、トランジスタN
6のゲートに接続されており、このトランジスタN6の
ゲートとVccノードとの間にPチャネル型のトランジ
スタP2が接続されている。このPチャネル型のトラン
ジスタP2のゲートには、人力Cが二段のインバータ!
11および112を経て与えられる。この二段のインバ
ータIllおよび112のうちの初段インバータ111
の出力ノードとVCCノードとの間には、ドレイン・ソ
ース相互がVCCノードに接続されているPチャネル型
MOSトランジスタからなるMOSキャパシタC3が接
続され、二段のインバータ夏11および112のうちの
後段インバータ112の出力ノードとVSSノードとの
間には、ドレイン・ソース相互がVssノードに接続さ
れているNチャネル型MOSトランジスタからなるMO
SキャパシタC4が接続されている。
次に、第5図の出力回路の動作を第6図を参照して説明
する。″1″出力を行う時には、入力Cを低レベル“0
“に保って第2のトランジスタ2はオフにしたままの状
態で、入力Cを高レベル“1”にすると、駆動制御回路
50の出力ノードE1が高レベルになって出力用の第1
のトランジスタ]がオンになり、“1°出力状態になる
。即ち、駆動制御回路50において、入力Cが“1“レ
ベルになると、Nチャネル型のトランジスタN4が直ち
にオン状態になり、出力ノードE1にはVcc−n−V
THの電圧が現れる。ここで、Vcc −n−VTt(
の値を、出力用の第1のトランジスタ1の相互コンダク
タンスが余り大きくならないレベルに設定しておけば、
Vccノードから出力に急激に電流が流れることはな(
、この際のし・(di/dt)に伴うVccノイズを小
さく抑えられる。
また、入力Cがm12レベルになると、トランジスタN
5がオンになり、ノードE4の電位が“Omになり、ト
ランジスタN6がオフになる。
また、この時、入力Cの“1”レベルによってトランジ
スタP1はオフになり、インバータの112の“1”レ
ベル出力によってトランジスタP2はオフになっている
。トランジスタN4がオンした後、インバータ110の
出力ノードE2は10”レベルになり、トランジスタP
3がオンになる。この時、このトランジスタP3のソー
ス(ノードE3)はVccレベルにプリチャージされて
いるので、出力ノードE1はvccレベルに向かって上
がり始める。そして、さらに入力Cが“1ルベルになっ
た後、インバータ4〜I7を経てノードE5が“1”レ
ベルになると、キャパシタCとの容量結合によりノード
E3はVccレベルよりも高いレベルになり、出力ノー
ドE1もVccレベルよりも高いレベルになり、出力用
の第1のトランジスタ1の相互コンダクタンスは十分高
くなり、出力レベルの“1″レベルを保証する。この時
、既に、第1のトランジスタ1を介しである程度電流は
流れており、L−(di/dt)に伴うVCCノイズは
小さい。また、出力ノードE1を前記Vcc−nψVT
I+からVccレベル以上に持ち上げる速度は、インバ
ータ17の寸法を小さくしたり、トランジスタP3の寸
法を小さくしたりすれば、あまり速くならないようにす
ることができる。
一方、上記“1″出力状態を解除して高インピーダンス
状態にする時には、入力Cを低レベル“0″に保って第
2のトランジスタ2はオフにしたままの状態で、入力C
を低レベル“0“にすると、駆動制御回路50の出力ノ
ードE1が“0”レベルになって出力用の第1のトラン
ジスタ1がオフになり、高インピーダンス状態になる。
即ち、駆動制御回路50において、入力Cが“0”レベ
ルになると、トランジスタN5がオフになり、トランジ
スタP1がオンになる。すると、ノードE4がVce 
−n ’  −VTHになり、トランジスタN6がオン
になるが、この時、このトランジスタ6の相互コンダク
タンスは十分高くはないので、出力ノードE1の電位は
急激には低くならない。
このため、出力用の第1のトランジスタ1の相互コンダ
クタンスは急激に低くなることはなく、この際、出力用
の第、1のトランジスタ1を流れる電流の時間的変化を
小さく抑えることができ、L・(d i/d t)で表
わされるイズを小さく抑えることができる。
トランジスタ6がオンになると、出力ノードE1と共に
ノードE3もレベルが下がるが、ノードE2は“1mレ
ベルになるので、ノードE3のレベルはVcc+VTR
まで下がり、その後、ノードE5が“0″レベルになる
時に、キャパシタCとの容量結合によりさらに下がる。
また、入力Cが“0“レベルになると、トランジスタN
2のゲート(ノードE6)がVcc −VTH(VTH
はNチャネルトランジスタN1の閾値電圧)の電位にプ
リチャージされ、さらに、インバータI2およびI3と
キャパシタC1とで決まる遅延時間の後にノードE6は
Vccレベルよりも高いレベルになり、トランジスタN
2によってノードE3はvccレベルにプリチャージさ
れる。この時、トランジスタP3はオフ状態である。
さらに、人力Cの“0mレベルによってトランジスタP
1がオンしてから、インバータIllおよび112とキ
ャパシタC3およびC4とで決まる遅延時間の後にトラ
ンジスタP2がオンし、ノードE4がVccレベルにな
り、トランジスタN6の相互コンダクタンスは十分高く
なり、出力ノードE1のレベルは“00レベルになり、
出力用の第1のトランジスタ1は完全にオフ状態になる
しかし、この際、既に出力ノードE1のレベルは出力用
の第1のトランジスタ1の相互コンダクタンスがある程
度低くなるレベルになっているので、出力ノードE1の
レベルが“0”レベルになっても出力用の第1のトラン
ジスタ1を流れる電流の時間的変化は大きくなく、Lφ
 (di/dt)で表わされるイズを小さく抑えること
ができる。
なお、入力C%Cが対応して低レベル“0“高レベル“
1”の時には、第1のトランジスタ1および第2のトラ
ンジスタ2が対応してオフ、オンになり、“0”出力状
態になる。
上記した第5図の出力回路によれば、第1のトランジス
タ1をオン駆動する時にVccノードから第1のトラン
ジスタ1に急激に電流が流れ込むことを防止でき、また
、第1のトランジスタ1をオン状態からオフ状態にする
時にVccノードからそれまでに流れ込んでいた電流が
急激に途切れることを防止できるので、Vccノードに
発生するノイズを低減でき、集積回路内部回路の誤動作
を防止できる。
第7図は、本発明に係る第3番目の半導体集積回路の出
力回路の一例を示しており、Vcc電源ノードとVss
TiKノードとの間に、出力用のMOS型のNチャネル
型の第1のトランジスタ1および第2のトランジスタ2
が直列に接続されており、この2個のトランジスタの各
ゲートに別々の信号が与えられ、この2個のトランジス
タの直列接続点が出力ノードとなっている。第1のトラ
ンジスタは複数個(本例では2個)のトランジスタ(1
1,12)に分割されている。70はvccノド側に接
続されている第1のトランジスタ1を駆動制御するため
の駆動制御回路であり、71はVssノード側に接続さ
れている第2のトランジスタ2を駆動制御するための駆
動制御回路である。
駆動制御回路70は、第1のトランジスタ1をオン状態
からオフ状態にする時に、上記分割されている2個のト
ランジスタ(11,12)のうちの一方のトランジスタ
のゲート電位の立下がりと他方のトランジスタのゲート
電位の立下がりとに所定の時間差を設け、一方のトラン
ジスタのゲート電位の立下がりを他方のトランジスタの
ゲート電位の立下がりよりもゆっくりと変化させるよう
に駆動するものであり、例えば図示の如く構成されてい
る。
即ち、入力Cはインバータ■1に入力し、このインバー
タ11の出力は、VccノードとVSSノードとの間に
Pチャネル型のトランジスタP1および抵抗RおよびN
チャネル型のトランジスタN1が直列に接続されてなる
インバータI2に入力する。そして、Pチャネル型のM
OSl−ランジスタP1および抵抗Rの接続点が出力用
の第1のトランジスタ(11,12)のうちの一方のト
ランジスタ11のゲートに接続されており、このゲート
とVSSノードとの間には、ドレイン会ソース相互がV
SSノードに接続されているNチャネル型MOSトラン
ジスタからなるMOSキャパシタC1が接続されている
また、インバータ11の出力は、インバータI3に入力
し、このインバータI3の出力およびインバータ11の
出力は、VCCノードとVSSノードとの間に直列に接
続されているNチャネル型、のトランジスタN2および
N3の各ゲートに対応して入力する。インバータ■3の
出力およびトランジスタN2およびN3の接続点は、P
チャネル型のトランジスタP2およびNチャネル型のト
ランジスタN4の各ゲートに対応して入力する。Vcc
ノードとトランジスタP2およびN4の接続点との間に
Nチャネル型のトランジスタN5およびN6が直列に接
続されており、このトランジスタN5およびN6の各ゲ
ートに対応して、インバータ11の出力およびVcc電
位が入力する。インバータI3の出力ノードとVssノ
ードとの間にNチャネル型のトランジスタN7およびN
8が直列に接続されており、このトランジスタN7のゲ
ートにトランジスタN5およびN6の接続点が接続され
る。
また、トランジスタN8のゲートには、入力Cが遅延回
路72を介して入力する。この遅延回路72においては
、入力Cが直接に二人カノア回路NGの一方の入力にな
ると共に、四段のインバータ18〜111を経て二人カ
ノア回路NGの他方の入力になる。四段のインバータ■
8〜111のうちの二段目のインバータおよび四段目の
インバータの各出力ノードとVSSノードとの間には、
ドレイン・ソース相互がVssノードに接続されている
Nチャネル型MO3)ランジスタからなるMOSキャパ
シタC2およびC3がそれぞれ接続されている。トラン
ジスタN7およびN8の接続点は、出力用の第1のトラ
ンジスタ(11,12)のうちの他方のトランジスタ1
2のゲートに入力すると共に、VCCノードとVSSノ
ードとの間に直列に接続されているNチャネル型のトラ
ンジスタN9およびNIOのうちのトランジスタN9の
ゲートに入力し、このトランジスタN9のソースとトラ
ンジスタN7およびN8の接続点との間には、ドレイン
・ソース相互が接続されているNチャネル型MOSトラ
ンジスタからなるMOSキャパシタC4が接続されてい
る。そして、トランジスタNIOのゲートには、トラン
ジスタP2およびN4の接続点が接続されている。
また、駆動制御回路71は、入力Cとは相補的な入力C
が入力するインバータ113と、このインバータ113
の出力を反転して出力用の第2のトランジスタ2のゲー
トに与えるインバータ114と、インバータ!13の出
力ノードとVssノードとの間に接続されたMOSキャ
パシタC5とからなる。このMOSキャパシタC5は、
ドレイン・ソース相互がVssノードに接続されている
Nチャネル型MOSトランジスタからなる。
次に、第7図の出力回路の動作を説明する。
“1”出力状態にする時には、人力Cを低レベル“01
に保って第2のトランジスタ2はオフにしたままの状態
で、入力Cを高レベル“1”にすると、駆動制御回路7
0の出力が高レベルになって出力用の第1のトランジス
タ(11,12)がオンになる。即ち、駆動制御回路7
0において、入力Cが“12レベルになると、インバー
タ11の出力が0” インバータI2の出力が“1゛に
なり、第1のトランジスタ(11,12)のうちの一方
のトランジスタ11のゲート電位が上がり、このトラン
ジスタ11がオンになる。また、インバータI3の出力
も“1”になり、この“1°レベルがトランジスタN7
の一端に加わり、このトランジスタN7の他端の電位が
“1”になり、第1のトランジスタ(11,12)のう
ちの他方のトランジスタ12のゲート電位が上がり、こ
のトランジスタ12がオンになる。
また、インバータI3の出力“1”により、トランジス
タN2がオンになってこのトランジスタN2およびN3
の接続点の電位が“1”になり、これによりトランジス
タN4がオンになってこのトランジスタN4およびP2
の接続点の電位が“0”になり、これによりトランジス
タNIOがオフになってこのトランジスタNIOおよび
N9の接続点の電位が“1”になり始めると、この出力
にMOSキャパシタC4により結合しているトランジス
タN7の他端電位がさらに上昇してVccレベルよりも
高くなり、トランジスタ12により出力“1#はVcc
レベルが保証される。
また、1”出力状態を解除して高インピーダンス状態に
する時には、入力Cを低レベル“Omに保って第2のト
ランジスタ2はオフにしたままの状態で、入力Cを低レ
ベル“01にすると、駆動制御回路70の出力が低レベ
ルになって出力用の第1のトランジスタ(11,12)
がオフになり、高インピーダンス状態になる。即ち、駆
動制御回路70において、入力Cが0“レベルになると
、インバータ11の出力が“1″、インバータI2の出
力が“0”になり、第1のトランジスタ(11,12)
のうちの一方のトランジスタ11のゲート電位を下げよ
うとする。しかし、この時、MOSキャパシタC1およ
び抵抗Rの時定数により、上記ゲート電位は急激には低
下せずにゆっくりと低下し、トランジスタ11はゆっく
りとオフになる。また、この時、二人カノア回路NGの
出力は直ぐには“1″にならず、四段のインバータI8
〜111およびMOSキャパシタC2、C3により決ま
る遅延時間後に“1”になり、これによりトランジスタ
N8がオンになってトランジスタN7の他端電位が“0
゛になり、これにより第1のトランジスタ(11,12
)のうちの他方のトランジスタ12のゲート電位が下が
り、このトランジスタ12がオフになる。また、この時
、入力Cが低レベルになっても、トランジスタN7が急
激にオン状態にならないように、トランジスタ5および
N6の寸法を小さくしたり、インバータI3の出力が急
激に“0”状態にならないようにするなどしておく。
上記した第7図の出力回路によれば、第1のトランジス
タ1をオン状態からオフ状態にする時に、第1のトラン
ジスタ(11,12)が順次オフになるので、Vccノ
ードからそれまでに流れ込んでいた電流が急激に途切れ
ることを防止でき、VCCノードに発生するノイズを低
減でき、集積回路内部回路の誤動作を防止できる。
[発明の効果] 上述したように本発明の半導体集積回路の出力回路によ
れば、出力用のMOS型の第1のトランジスタをオン状
態にする時、あるいは、オン状態からオフ状態にする時
、または、出力用のMOS型の第2のトランジスタをオ
ン状態にする時、あるいは、オン状態からオフ状態にす
る時などの出力変化時に発生する電源ノイズを低減でき
るので、集積回路内部の入力バッファ等の誤動作を防止
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1番目の半導体集積回路の出力回路
の一実施例を示す回路図、第2図は第1図の回路の動作
を示す波形図、第3図は本発明の第2番目の半導体集積
回路の出力回路の一実施例を示す回路図、第4図は第3
図の回路の動作を示す波形図、第5図は本発明の第2番
目の半導体集積回路の出力回路の他の実施例を示す回路
図、第6図は第5図の回路の動作を示す波形図、第7図
は本発明の第3番目の半導体集積回路の出力回路の一実
施例を示す回路図、第8図は従来の半導体集積回路の出
力回路の一実施例を示す回路図、第9図は第8図の出力
回路の動作を示す波形図、第10図は従来の半導体集積
回路の出力回路の出力ノードに抵抗が外付は接続されて
いる状態を示す回路図、第11図は半導体集積回路の入
力回路の一例を示す回路図である。 1.11.12・・・出力用の第1のトランジスタ、2
・・・出力用の第2のトランジスタ、10.30.50
.70・・・駆動制御回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第4図 NiS図 vCC vcc’ s10図 第9図 V 第11図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1の電源ノードと第2の電源ノードとの間に直
    列に接続された出力用のMOS型の第1のトランジスタ
    および第2のトランジスタを有し、この2個のトランジ
    スタの各ゲートに別々の信号が与えられる半導体集積回
    路の出力回路において、 前記第2の電源ノード側に接続されている第2のトラン
    ジスタをオン駆動する時には、この第2のトランジスタ
    の相互コンダクタンスが余り高くならないレベルまでは
    そのゲート電位をある程度急に立上げ、その後は前記第
    2のトランジスタの相互コンダクタンスが十分高くなる
    レベルまでそのゲート電位をゆっくりと立上げ、前記第
    2のトランジスタをオン状態からオフ状態にする時には
    、この第2のトランジスタの相互コンダクタンスがある
    程度低くなるレベルまではそのゲート電位をゆっくりと
    立下げ、その後に前記第2のトランジスタの相互コンダ
    クタンスが十分低くなるレベルまでそのゲート電位を立
    下げるように駆動する駆動制御回路を具備することを特
    徴とする半導体集積回路の出力回路。
  2. (2)第1の電源ノードと第2の電源ノードとの間に直
    列に接続された出力用のMOS型の第1のトランジスタ
    および第2のトランジスタを有し、この2個のトランジ
    スタの各ゲートに別々の信号が与えられる半導体集積回
    路の出力回路において、前記第1の電源ノード側に接続
    されている第1のトランジスタをオン駆動する時には、
    この第1のトランジスタの相互コンダクタンスが余り高
    くならないレベルまではそのゲート電位をある程度急に
    立上げ、その後は前記第1のトランジスタの相互コンダ
    クタンスが十分高くなるレベルまでそのゲート電位をゆ
    っくりと立上げるように二段階状に変化させ、この第1
    のトランジスタをオン状態からオフ状態にする時には、
    この第1のトランジスタの相互コンダクタンスがある程
    度低くなるまではそのゲート電位をゆっくりと立下げ、
    その後に前記第1のトランジスタの相互コンダクタンス
    が十分低くなるレベルまでそのゲート電位を立下げるよ
    うに二段階状に変化させるように駆動する駆動制御回路
    を具備することを特徴とする半導体集積回路の出力回路
  3. (3)第1の電源ノードと第2の電源ノードとの間に直
    列に接続された出力用のMOS型の第1のトランジスタ
    および第2のトランジスタを有し、この2個のトランジ
    スタの各ゲートに別々の信号が与えられる半導体集積回
    路の出力回路において、前記第1のトランジスタが2個
    のトランジスタに分割されており、前記第1のトランジ
    スタをオン状態からオフ状態にする時に、前記分割され
    ている2個のトランジスタのうちの一方のトランジスタ
    のゲート電位の立下がりと他方のトランジスタのゲート
    電位の立下がりとに所定の時間差を設け、前記一方のト
    ランジスタのゲート電位の立下がりを前記他方のトラン
    ジスタのゲート電位の立下がりよりもゆっくりと変化さ
    せるように駆動する駆動制御回路を具備することを特徴
    とする半導体集積回路の出力回路。
JP63293882A 1988-11-21 1988-11-21 半導体集積回路の出力回路 Expired - Fee Related JPH0666674B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63293882A JPH0666674B2 (ja) 1988-11-21 1988-11-21 半導体集積回路の出力回路
US07/438,258 US5055713A (en) 1988-11-21 1989-11-20 Output circuit of semiconductor integrated circuit
KR1019890016965A KR920009720B1 (ko) 1988-11-21 1989-11-21 반도체집적회로의 출력회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63293882A JPH0666674B2 (ja) 1988-11-21 1988-11-21 半導体集積回路の出力回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02141023A true JPH02141023A (ja) 1990-05-30
JPH0666674B2 JPH0666674B2 (ja) 1994-08-24

Family

ID=17800373

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63293882A Expired - Fee Related JPH0666674B2 (ja) 1988-11-21 1988-11-21 半導体集積回路の出力回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5055713A (ja)
JP (1) JPH0666674B2 (ja)
KR (1) KR920009720B1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991020130A1 (en) * 1990-06-20 1991-12-26 Oki Electric Industry Co., Ltd. Output buffer circuit
US5334889A (en) * 1990-06-20 1994-08-02 Oki Electric Industry, Co., Ltd. CMOS output buffer circuit with less noise
JP2555299B2 (ja) * 1990-06-20 1996-11-20 沖電気工業株式会社 出力バッファ回路

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5264743A (en) * 1989-12-08 1993-11-23 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory operating with low supply voltage
US5486782A (en) * 1994-09-27 1996-01-23 International Business Machines Corporation Transmission line output driver
GB2306817B (en) * 1995-05-23 1998-07-08 Mosel Vitelic Inc Output buffer with low noise and high drive capability
KR960043524A (ko) * 1995-05-23 1996-12-23 홍-치우 후 출력 버퍼링 장치
US5838177A (en) * 1997-01-06 1998-11-17 Micron Technology, Inc. Adjustable output driver circuit having parallel pull-up and pull-down elements
US6043682A (en) * 1997-12-23 2000-03-28 Intel Corporation Predriver logic circuit
US6064230A (en) * 1998-01-28 2000-05-16 Sun Microsystems, Inc. Process compensated output driver with slew rate control
KR100266902B1 (ko) * 1998-04-22 2000-09-15 윤종용 수신 장치 및 통신 장치의 전송 라인 종단 회로
US6040713A (en) * 1998-04-22 2000-03-21 Micron Technology, Inc. Buffer with fast edge propagation
JP2002124858A (ja) * 2000-08-10 2002-04-26 Nec Corp 遅延回路および方法
US7741524B2 (en) * 2003-04-22 2010-06-22 Solvay (Societe Anonyme) Iodinated organic substances of low molecular mass and process for preparing them
KR100666484B1 (ko) * 2005-02-04 2007-01-09 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 입출력 회로 및 입출력 방법
JP4971699B2 (ja) * 2006-06-26 2012-07-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 遅延回路
US8085604B2 (en) * 2008-12-12 2011-12-27 Atmel Corporation Snap-back tolerant integrated circuits

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5834440U (ja) * 1981-08-31 1983-03-05 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 スイツチ装置
JPS61167220A (ja) * 1985-01-19 1986-07-28 Sanyo Electric Co Ltd 信号出力回路
JPS62159910A (ja) * 1986-01-08 1987-07-15 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JPS63142919A (ja) * 1986-12-05 1988-06-15 Mitsubishi Electric Corp 出力バツフア回路

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4063117A (en) * 1977-01-07 1977-12-13 National Semiconductor Corporation Circuit for increasing the output current in MOS transistors
DE3209070C2 (de) * 1982-03-12 1994-03-17 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum Schalten elektrischer Lasten
JPS6030152A (ja) * 1983-07-28 1985-02-15 Toshiba Corp 集積回路
JPS6110319A (ja) * 1984-05-30 1986-01-17 Fujitsu Ltd 出力制御回路
US4567378A (en) * 1984-06-13 1986-01-28 International Business Machines Corporation Driver circuit for controlling signal rise and fall in field effect transistor processors
JPS61241964A (ja) * 1985-04-19 1986-10-28 Hitachi Ltd 半導体装置
US4719369A (en) * 1985-08-14 1988-01-12 Hitachi, Ltd. Output circuit having transistor monitor for matching output impedance to load impedance
JPH0720060B2 (ja) * 1985-08-14 1995-03-06 株式会社東芝 出力回路装置
US4638187A (en) * 1985-10-01 1987-01-20 Vtc Incorporated CMOS output buffer providing high drive current with minimum output signal distortion
JPS62123827A (ja) * 1985-11-25 1987-06-05 Hitachi Ltd 半導体集積回路における出力回路
JPS62130020A (ja) * 1985-12-02 1987-06-12 Seiko Epson Corp 出力駆動回路
GB2184622B (en) * 1985-12-23 1989-10-18 Philips Nv Outputbuffer and control circuit providing limited current rate at the output
JPS62159917A (ja) * 1986-01-08 1987-07-15 Toshiba Corp 集積回路におけるインバ−タ回路
JPS62220026A (ja) * 1986-03-20 1987-09-28 Toshiba Corp 出力バツフア回路
JPS62230221A (ja) * 1986-03-31 1987-10-08 Toshiba Corp バツフア回路
US4725747A (en) * 1986-08-29 1988-02-16 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit distributed geometry to reduce switching noise
US4771195A (en) * 1986-08-29 1988-09-13 Texas Instruments Incorporated Integrated circuit to reduce switching noise
US4758743A (en) * 1986-09-26 1988-07-19 Motorola, Inc. Output buffer with improved di/dt
US4731553A (en) * 1986-09-30 1988-03-15 Texas Instruments Incorporated CMOS output buffer having improved noise characteristics
US4740717A (en) * 1986-11-25 1988-04-26 North American Philips Corporation, Signetics Division Switching device with dynamic hysteresis
US4785201A (en) * 1986-12-29 1988-11-15 Integrated Device Technology, Inc. High speed/high drive CMOS output buffer with inductive bounce suppression
JPS63234623A (ja) * 1987-03-23 1988-09-29 Toshiba Corp 半導体集積回路
JPS63234622A (ja) * 1987-03-23 1988-09-29 Toshiba Corp デ−タ出力回路
US4777389A (en) * 1987-08-13 1988-10-11 Advanced Micro Devices, Inc. Output buffer circuits for reducing ground bounce noise
US4928023A (en) * 1987-08-27 1990-05-22 Texas Instruments Incorporated Improved output buffer having reduced noise characteristics
US4924120A (en) * 1988-06-29 1990-05-08 Texas Instruments Incorporated Low noise output circuit
US4880997A (en) * 1988-08-18 1989-11-14 Ncr Corporation Low noise output buffer circuit

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5834440U (ja) * 1981-08-31 1983-03-05 日本電気ホームエレクトロニクス株式会社 スイツチ装置
JPS61167220A (ja) * 1985-01-19 1986-07-28 Sanyo Electric Co Ltd 信号出力回路
JPS62159910A (ja) * 1986-01-08 1987-07-15 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JPS63142919A (ja) * 1986-12-05 1988-06-15 Mitsubishi Electric Corp 出力バツフア回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991020130A1 (en) * 1990-06-20 1991-12-26 Oki Electric Industry Co., Ltd. Output buffer circuit
US5334889A (en) * 1990-06-20 1994-08-02 Oki Electric Industry, Co., Ltd. CMOS output buffer circuit with less noise
JP2555299B2 (ja) * 1990-06-20 1996-11-20 沖電気工業株式会社 出力バッファ回路

Also Published As

Publication number Publication date
US5055713A (en) 1991-10-08
JPH0666674B2 (ja) 1994-08-24
KR900008779A (ko) 1990-06-03
KR920009720B1 (ko) 1992-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02141023A (ja) 半導体集積回路の出力回路
JPH0360218A (ja) 半導体集積回路
JP2001144603A (ja) レベルシフタ回路およびそれを含むデータ出力回路
US6064230A (en) Process compensated output driver with slew rate control
JPH05243940A (ja) 出力バッファ装置
JP2573320B2 (ja) 出力バッファ回路
JPH08162941A (ja) 出力回路装置
JPH10504434A (ja) Vlsiメモリ回路における改善
JP2623918B2 (ja) 出力バッファ回路
US5124585A (en) Pulsed bootstrapping output buffer and associated method
JPH05175811A (ja) パワーオンリセット回路
JPH0993111A (ja) スルーレート型バッファ回路
US6353568B1 (en) Dual threshold voltage sense amplifier
JPH0456400B2 (ja)
EP0619652A2 (en) Data output circuit
KR0129592B1 (ko) 저잡음 출력 버퍼
JPH03219495A (ja) 出力回路
JP2978302B2 (ja) 出力バッファ回路
JP3466667B2 (ja) ノイズ減少回路を有する出力バッファ回路
JPH0353715A (ja) 出力バッファ回路
JP2618884B2 (ja) 半導体出力回路
JPH0341818A (ja) バッファ回路
JPH0865138A (ja) 信号線駆動回路
JP2635915B2 (ja) 出力バッファ回路
JPS62142417A (ja) 論理回路

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees