JPH0213120A - 半導体装置におけるデータ出力バッファー回路 - Google Patents
半導体装置におけるデータ出力バッファー回路Info
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- JPH0213120A JPH0213120A JP63323828A JP32382888A JPH0213120A JP H0213120 A JPH0213120 A JP H0213120A JP 63323828 A JP63323828 A JP 63323828A JP 32382888 A JP32382888 A JP 32382888A JP H0213120 A JPH0213120 A JP H0213120A
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- G—PHYSICS
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- G—PHYSICS
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半4体素子におけるデータ出カバソファ−に係
るもので、特にATD(八ddress Transi
tion Detection)回路を使用する半導体
回路から実際のデータが出る前にデータバスをフリーチ
ャージするデータ出力バッファー回路に係るものである
。
るもので、特にATD(八ddress Transi
tion Detection)回路を使用する半導体
回路から実際のデータが出る前にデータバスをフリーチ
ャージするデータ出力バッファー回路に係るものである
。
一般に、スタティックRAM(Static Rand
om Access Memory:SRAM)のデー
タ出カバソファ−は、センスアンプの差動増幅端の出力
端(SAS、5AS)が初期に論理ロウと論理ハイとの
中間レベル(フリーチャージ)にあった後メモリセルか
らデータが出ると、その出力が“ハイ”又は“ロウ”と
決定されるが、この時リード/ライトの制御信号により
出カバソファ−でデータをバッファーリングして出力す
る。
om Access Memory:SRAM)のデー
タ出カバソファ−は、センスアンプの差動増幅端の出力
端(SAS、5AS)が初期に論理ロウと論理ハイとの
中間レベル(フリーチャージ)にあった後メモリセルか
らデータが出ると、その出力が“ハイ”又は“ロウ”と
決定されるが、この時リード/ライトの制御信号により
出カバソファ−でデータをバッファーリングして出力す
る。
第1図は従来におけるデータフリーチャージング回路の
ない出力バッファー回路図で、差動増幅端(SAQ)の
出力をナンドゲ−1−(NA1))とノアゲート(NO
II)との入力端に入力して出力エネイブル信号(OE
)の印加信号により上記の差動増幅端(SAQ)出力信
号をナントゲート (NAII)とノアゲー1− (N
OII)を経てインバーター(INV12〜INV15
)を通じてPMO3トランジスター(’r++)とNM
OSトランジスタ(T1□)との駆動によって入出力端
(1)0PAD)にバッファーリングされたデータが出
力される。
ない出力バッファー回路図で、差動増幅端(SAQ)の
出力をナンドゲ−1−(NA1))とノアゲート(NO
II)との入力端に入力して出力エネイブル信号(OE
)の印加信号により上記の差動増幅端(SAQ)出力信
号をナントゲート (NAII)とノアゲー1− (N
OII)を経てインバーター(INV12〜INV15
)を通じてPMO3トランジスター(’r++)とNM
OSトランジスタ(T1□)との駆動によって入出力端
(1)0PAD)にバッファーリングされたデータが出
力される。
上記したように第1図はデータフリーチャージング回路
のない構成で二回以上連続的に反対状態のデータを読む
時、埋入出力端子(Ilo PAD)の電圧が“ハイ
”−“ロウ”又は“ロウ”→“ハイ”として遷移(Tr
ans i Lion)する時、入出力端子(1)0P
AD)の電圧が大幅的にスイング(Swing)されて
スイング時に所要される時間が長時間所要される。この
時、アクセスタイムが長時間所要されると共にスイング
幅に比例する瞬間ピーク電流によって発生されるVcc
及びVssのノイズによってチップ動作に悪影響を招来
して来た。このような点を解決するため第2図に示した
ようにデータバスをフリーチャージングさせる回路を内
蔵する方法がTomohtsa Wada等、”A34
ns IMb CMOS SRAM Using T
riplepoly 、l5SCCP262〜263
に1987年2月に公開発表された。
のない構成で二回以上連続的に反対状態のデータを読む
時、埋入出力端子(Ilo PAD)の電圧が“ハイ
”−“ロウ”又は“ロウ”→“ハイ”として遷移(Tr
ans i Lion)する時、入出力端子(1)0P
AD)の電圧が大幅的にスイング(Swing)されて
スイング時に所要される時間が長時間所要される。この
時、アクセスタイムが長時間所要されると共にスイング
幅に比例する瞬間ピーク電流によって発生されるVcc
及びVssのノイズによってチップ動作に悪影響を招来
して来た。このような点を解決するため第2図に示した
ようにデータバスをフリーチャージングさせる回路を内
蔵する方法がTomohtsa Wada等、”A34
ns IMb CMOS SRAM Using T
riplepoly 、l5SCCP262〜263
に1987年2月に公開発表された。
第3図は第2図によるタイミング図であって、→
→“ハイ”として遷移する時、インバーターINV21
)と(INV22)との入力ドリップのレベル差によっ
てノード21と22が“ハイ”−“ロウ”ロウ“−ハイ
”として遷移して25のノードにバイパルスが生じ7人
出力ハスをプリーチャリングする。しかし、短時間の間
にデータを十分にプリーチャージソゲするためNMOS
トランジスター(T z + )とPMOSトランジス
ター(T2□)のサイズが大きくならなければならない
が、この時ナントゲート(NA21)のPチャンネルト
ランジスター、NMO3+−ランシスター(T2□)、
PMOSトランジスター(T2□)とノアゲー) (N
O2□)のNチャンネルトランジスターを通してDC電
流通路が形成されるのでフリーチャージングドライバー
の自体の電流消耗が大きくなる問題点があったし、又一
方ノード26がVcC以下に落ち、ノード28がVss
以上に上昇してデータ出力ドライバーであるTZff、
T0nがターンオンされてもう一つのDC電流の通路
が生ずる問題点があった。そして入力を公有するインバ
ーター(INV21、INV22)の入力ドリップのレ
ベル差によってその出力が各々“ハイ”及び“ロウ”と
なってデータバスをプリーチャージするのでプロセス変
化に敏感に作用する。上記のインバーターの人力ドリッ
プのレベルが変る場合にはフリーチャージングの時間が
変化され、甚だしい場合は誤動作の原因になって来た。
→“ハイ”として遷移する時、インバーターINV21
)と(INV22)との入力ドリップのレベル差によっ
てノード21と22が“ハイ”−“ロウ”ロウ“−ハイ
”として遷移して25のノードにバイパルスが生じ7人
出力ハスをプリーチャリングする。しかし、短時間の間
にデータを十分にプリーチャージソゲするためNMOS
トランジスター(T z + )とPMOSトランジス
ター(T2□)のサイズが大きくならなければならない
が、この時ナントゲート(NA21)のPチャンネルト
ランジスター、NMO3+−ランシスター(T2□)、
PMOSトランジスター(T2□)とノアゲー) (N
O2□)のNチャンネルトランジスターを通してDC電
流通路が形成されるのでフリーチャージングドライバー
の自体の電流消耗が大きくなる問題点があったし、又一
方ノード26がVcC以下に落ち、ノード28がVss
以上に上昇してデータ出力ドライバーであるTZff、
T0nがターンオンされてもう一つのDC電流の通路
が生ずる問題点があった。そして入力を公有するインバ
ーター(INV21、INV22)の入力ドリップのレ
ベル差によってその出力が各々“ハイ”及び“ロウ”と
なってデータバスをプリーチャージするのでプロセス変
化に敏感に作用する。上記のインバーターの人力ドリッ
プのレベルが変る場合にはフリーチャージングの時間が
変化され、甚だしい場合は誤動作の原因になって来た。
したがって、本発明の目的は電流消耗の増加のない、製
造プロセッサーの変化に敏感しないにデータバスをプリ
ーチャージさせて半導体素子のリードアクセスタイムを
減ることができ、又Vcc及びVss電源のノイズを最
少化させることができる回路を提供することにある。
造プロセッサーの変化に敏感しないにデータバスをプリ
ーチャージさせて半導体素子のリードアクセスタイムを
減ることができ、又Vcc及びVss電源のノイズを最
少化させることができる回路を提供することにある。
上記のような目的を遂行するための本発明は入出力端子
の電位をデータバスフリーチャージングドライバーの入
力にフィードバックさせてフリーチャージドライバーの
DC電流の消耗を最少化する手段と、上記のプリーチャ
ージドライバーをアドレスの遷移感知(以下“ATD”
と称する)パルスによって制御して実際のデータが出力
される前に一定の動作時間を持つ手段とから構成される
ことを特徴とする。
の電位をデータバスフリーチャージングドライバーの入
力にフィードバックさせてフリーチャージドライバーの
DC電流の消耗を最少化する手段と、上記のプリーチャ
ージドライバーをアドレスの遷移感知(以下“ATD”
と称する)パルスによって制御して実際のデータが出力
される前に一定の動作時間を持つ手段とから構成される
ことを特徴とする。
以下、本発明を添付図面を参照して詳細に説明する。
第4図は本発明による回路図であって、INV41〜I
NV44はインバーター、NA41〜NA42はナント
ゲート、T41、T45はPMOSトランジスター、T
42〜T44、T2Cはトランジスターであり、センス
アンプの出力端(SAS)を上記のインバーター(IN
V41)の入力端に連結し、上記のセンスアンプの出力
端(SAS)を反転したセンスアンプの出力(SAS)
をインバーター(INV43)の入力端に連結する。上
記のインバーター(INV41、INV43)の出力端
をナントゲート(NA41、NA42)の入力端に連結
し、バッファー出力エネイブル端(OE)をインバータ
ー(INV42)の入力端に連結し、上記のインバータ
ー(INV42)の出力端42をナントゲート(NA4
1、NA42)の入力端に連結し、上記のナントゲート
(NA41)の出力端を2MO3)ランシスター(T4
5)のゲート端に連結し、上記のナントゲート(NA4
2)の出力端45をインバーター(INV44)の入力
端に連結し、上記のインバーター(INV44)の出力
端をNMOSトランジスター(T2C)のゲートに連結
し、ATD端が連結されたノード(φHI Z)をNM
OSトランジスター(T42、T2C)のゲートに連結
し、上記のNMOSトランジスター(T42)のドレイ
ン端に上記のPMO3I−ランシスター(T41)のド
レイン端を接続し、上記のNMO3)ランジスクー(T
2C)のソース端にNMo5トランジスター(T44)
のドレイン端を連結し、上記のNMO5I−ランシスタ
ー(T42、T2C)のソースとドレイン端を結合した
ノード50と上記の2MO3)ランシスター(T41)
とNMOSトランジスター(T44)のゲートを結合し
たノード47が上記のノード50と結合されると共に上
記の入出力端(1)0PAD)と結合されるように構成
され、上記のNMO3I−ランシスター(T2C)のソ
ース端は接地される。
NV44はインバーター、NA41〜NA42はナント
ゲート、T41、T45はPMOSトランジスター、T
42〜T44、T2Cはトランジスターであり、センス
アンプの出力端(SAS)を上記のインバーター(IN
V41)の入力端に連結し、上記のセンスアンプの出力
端(SAS)を反転したセンスアンプの出力(SAS)
をインバーター(INV43)の入力端に連結する。上
記のインバーター(INV41、INV43)の出力端
をナントゲート(NA41、NA42)の入力端に連結
し、バッファー出力エネイブル端(OE)をインバータ
ー(INV42)の入力端に連結し、上記のインバータ
ー(INV42)の出力端42をナントゲート(NA4
1、NA42)の入力端に連結し、上記のナントゲート
(NA41)の出力端を2MO3)ランシスター(T4
5)のゲート端に連結し、上記のナントゲート(NA4
2)の出力端45をインバーター(INV44)の入力
端に連結し、上記のインバーター(INV44)の出力
端をNMOSトランジスター(T2C)のゲートに連結
し、ATD端が連結されたノード(φHI Z)をNM
OSトランジスター(T42、T2C)のゲートに連結
し、上記のNMOSトランジスター(T42)のドレイ
ン端に上記のPMO3I−ランシスター(T41)のド
レイン端を接続し、上記のNMO3)ランジスクー(T
2C)のソース端にNMo5トランジスター(T44)
のドレイン端を連結し、上記のNMO5I−ランシスタ
ー(T42、T2C)のソースとドレイン端を結合した
ノード50と上記の2MO3)ランシスター(T41)
とNMOSトランジスター(T44)のゲートを結合し
たノード47が上記のノード50と結合されると共に上
記の入出力端(1)0PAD)と結合されるように構成
され、上記のNMO3I−ランシスター(T2C)のソ
ース端は接地される。
第5図は本発明による第4図の動作波形図であって・
第5図(5a)はアドレス信号の例であり、第5図(5
b)はアドレスの遷移感知端(ATD)の検出信号であ
り、 第5図(5c)は出力エネイブル(OE)信号であり、 第5図(5d)は第5図(5b)の信号によって発生さ
れたフリーチャージドライバー制御信号であり、第5図
(5e)はセンスアンプの出力端(SAS)の出力゛信
号であり、 第5図(5f)はノード44の出力信号であり、第5図
(5g)はノード46の出力信号であり、第5図(5h
)は入出力端(1)0PAD)の出力信号である。
b)はアドレスの遷移感知端(ATD)の検出信号であ
り、 第5図(5c)は出力エネイブル(OE)信号であり、 第5図(5d)は第5図(5b)の信号によって発生さ
れたフリーチャージドライバー制御信号であり、第5図
(5e)はセンスアンプの出力端(SAS)の出力゛信
号であり、 第5図(5f)はノード44の出力信号であり、第5図
(5g)はノード46の出力信号であり、第5図(5h
)は入出力端(1)0PAD)の出力信号である。
以下、本発明の具体的な1実施例を第4.5図を参照し
て詳細に説明すると、 本発明はデータバスドライバーを内蔵しているデータ出
力バッファー回路であって、 イアバーター (INV41、INV43、INV44
)、ナントゲート(NA41、NA42)及び出力ドラ
イバーであるP、NMO3トランジスター(T45、T
46)は従来のデータ出力バッファーと同一な構成であ
る。
て詳細に説明すると、 本発明はデータバスドライバーを内蔵しているデータ出
力バッファー回路であって、 イアバーター (INV41、INV43、INV44
)、ナントゲート(NA41、NA42)及び出力ドラ
イバーであるP、NMO3トランジスター(T45、T
46)は従来のデータ出力バッファーと同一な構成であ
る。
データバスプリーチャージドライバーはPMOSトラン
ジスター(T41)とNMO3I−ランシスター(T4
2、T43、T44)で構成され、P、NMO3I−ラ
ンシスター(T41、T44)のゲートはデータバスで
ある入出力端(IloPAD)に連結されてデータバス
の電位がドライバーの入力としてフィードバックされて
おり、NMO5)ランシスター(T42、T43)のゲ
ートは第5図(5d)に表示されているアドレス遷移感
知(ATD)信号によって制御される。
ジスター(T41)とNMO3I−ランシスター(T4
2、T43、T44)で構成され、P、NMO3I−ラ
ンシスター(T41、T44)のゲートはデータバスで
ある入出力端(IloPAD)に連結されてデータバス
の電位がドライバーの入力としてフィードバックされて
おり、NMO5)ランシスター(T42、T43)のゲ
ートは第5図(5d)に表示されているアドレス遷移感
知(ATD)信号によって制御される。
実際はリードアクセスからアドレス信号(5a)が変る
ことになると、ATDの検出信号(5b)によって第5
図に示したように出力エネイブル信号(5c)とプリー
チャージドライバー制御信号(5d)は“ハイ”に行く
。
ことになると、ATDの検出信号(5b)によって第5
図に示したように出力エネイブル信号(5c)とプリー
チャージドライバー制御信号(5d)は“ハイ”に行く
。
したがって、ノード44と46は各々“ハイ”及び“ロ
ウ”で、5fと5gのようになって出力ドライバーであ
るPMO3I−ランシスター(T45)とNMO3I−
ランシスター(T46)をターンオフさせて5a信号に
よってデータバスプリーチャージドライバーであるT4
2、T43が作動する。この時データバスであるノード
47の電位が“ハイ”の状態であればNMO3I−ラン
シスター(T43、T44)を通じて放電によってデー
ノード47の電位が“ロウ”の状態であれば、PMO3
I−ランシスター(T41) 、NMO3I−ランシス
ター(T42)を通じて充電することによ cc って として上昇する。そして、5a信号が“ロ
ウ”に行くことになると、プリーチャージドライバーで
あるNMO3I−ランシスター(T42、T43)はオ
フされて作動が中断され、以後のセンス増幅端(SAS
)から出るデータがデータ出力バッファーに伝達される
ことは従来の場合と同じである。
ウ”で、5fと5gのようになって出力ドライバーであ
るPMO3I−ランシスター(T45)とNMO3I−
ランシスター(T46)をターンオフさせて5a信号に
よってデータバスプリーチャージドライバーであるT4
2、T43が作動する。この時データバスであるノード
47の電位が“ハイ”の状態であればNMO3I−ラン
シスター(T43、T44)を通じて放電によってデー
ノード47の電位が“ロウ”の状態であれば、PMO3
I−ランシスター(T41) 、NMO3I−ランシス
ター(T42)を通じて充電することによ cc って として上昇する。そして、5a信号が“ロ
ウ”に行くことになると、プリーチャージドライバーで
あるNMO3I−ランシスター(T42、T43)はオ
フされて作動が中断され、以後のセンス増幅端(SAS
)から出るデータがデータ出力バッファーに伝達される
ことは従来の場合と同じである。
上述したようにデータバスの電位をデータバスフリーチ
ャージドライバーにフィードバンクさせてデータバスを
フリーチャージングすることによりDC電流の通路を取
り除いて電力の消耗を取り除き、これをATDパルスの
幅で動作させるので製造処理(Process)に敏感
しないにデータバスをプリーチャージさせることができ
るし、上記のデータバスフリーチャージング機能によっ
てVcc及びVssのピーク電流を30%程度減すこと
ができ、上昇及び下降時間を3〜10ns程度減すこと
ができる利点がある。
ャージドライバーにフィードバンクさせてデータバスを
フリーチャージングすることによりDC電流の通路を取
り除いて電力の消耗を取り除き、これをATDパルスの
幅で動作させるので製造処理(Process)に敏感
しないにデータバスをプリーチャージさせることができ
るし、上記のデータバスフリーチャージング機能によっ
てVcc及びVssのピーク電流を30%程度減すこと
ができ、上昇及び下降時間を3〜10ns程度減すこと
ができる利点がある。
第1図は従来のデータバスフリーチャージング回路のな
いデータ出力バッファー回路、第2図は従来のデータバ
スフリーチャージング回路のあるデータ出力バッファー
回路、第3図は第2図のデータ出力バッファー回路の動
作タイミング図、 第4図は本発明による半導体装置におけるデータ出力バ
ッファー回路の回路図、そして第5図(5a)〜(5h
)は各々本発明に係る第4図に示された半導体装置にお
けるデータ出力バッファー回路の動作タイミング図であ
る。 INV41〜INV44;インバーターNA41〜NA
42iナントゲート T41、T45 ; PMO3I−ランシスター T42〜T44、T46;NMO3)ランジスター 第q図
いデータ出力バッファー回路、第2図は従来のデータバ
スフリーチャージング回路のあるデータ出力バッファー
回路、第3図は第2図のデータ出力バッファー回路の動
作タイミング図、 第4図は本発明による半導体装置におけるデータ出力バ
ッファー回路の回路図、そして第5図(5a)〜(5h
)は各々本発明に係る第4図に示された半導体装置にお
けるデータ出力バッファー回路の動作タイミング図であ
る。 INV41〜INV44;インバーターNA41〜NA
42iナントゲート T41、T45 ; PMO3I−ランシスター T42〜T44、T46;NMO3)ランジスター 第q図
Claims (5)
- (1)半導体装置のセンス増幅出力端(SAS、■■■
)を通じて出力されたデータの出力バッファー回路にお
いて、 上記のセンス増幅出力端(SAS、■■■)のデータを
反転する反転手段と、上記の反転手段の出力と出力エネ
イブルの反転信号を受けて論理化して出力ドライビング
制御信号を発生する論理手段と、上記の論理手段のドラ
イビング制御信号によって出力をドライビングする出力
ドライバー手段と、上記のデータアドレスの遷移感知信
号によって制御され、上記の出力ドライバー手段で出力
データバスを高速フリーチャージングされるようにドラ
イビングするフリーチャージングドライバー手段から構
成されることを特徴とする半導体装置におけるデータ出
力バッファー回路。 - (2)上記のフリーチャージングドライバー手段が、上
記のアドレス遷移感知(ATD)信号を各々のゲートに
入力し、一側のソース端子と他側のドレイン端子が出力
ノードに接続されることに構成した第1及び第2トラン
ジスター(T_4_2、T_4_3)と、上記の第1ト
ランジスターのドレイン端子と第1供給電源端子との間
にドレインとソース端子が各々連結されると同時に、ゲ
ート端子は上記出力ノードに接続された第3トランジス
ター(T_4_1)と、上記の第2トランジスターのソ
ース端子と第2供給電源端子との間にドレインとソース
端子が各々連結されると同時に、ゲート端子は上記出力
ノードに接続された第4トランジスター(T_4_4)
を具備し、上記の出力ドライバー手段からの出力信号が
上記の出力ノードを通じて上記第3及び第4トランジス
ターのゲーティング信号として印加されるように構成し
たことを特徴とする請求項(1)記載の半導体装置にお
けるデータ出力バッファー回路。 - (3)上記の第1、第2及び第4トランジスターはNM
OSトランジスターであり、上記の第3トランジスター
はPMOSトランジスターとすることを特徴とする請求
項(2)記載の半導体装置におけるデータ出力バッファ
ー回路。 - (4)上記のフリーチャージング手段が、上記のアドレ
ス遷移感知(ATD)信号をゲートに入力し、ドレイン
は出力ノードに接続された第1トランジスターと、上記
の第1トランジスターのソースと第2供給電源端子との
間にドレインとソースが各々接続されるし、ゲートは上
記出力ノードに接続される第2トランジスターを具備す
ることを特徴とする請求項(1)記載の半導体装置にお
けるデータ出力バッファー回路。 - (5)上記の第1電源供給端子は通常のVccレベルの
電源電圧を供給し、上記の第2供給電源端子は通常のV
ssレベルの電源電圧を供給するようにすることを特徴
とする請求項(2)または請求項(4)記載の半導体装
置におけるデータ出力バッファー回路。
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