JPH0213120A - 半導体装置におけるデータ出力バッファー回路 - Google Patents

半導体装置におけるデータ出力バッファー回路

Info

Publication number
JPH0213120A
JPH0213120A JP63323828A JP32382888A JPH0213120A JP H0213120 A JPH0213120 A JP H0213120A JP 63323828 A JP63323828 A JP 63323828A JP 32382888 A JP32382888 A JP 32382888A JP H0213120 A JPH0213120 A JP H0213120A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
terminal
output
buffer circuit
data bus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63323828A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2543170B2 (ja
Inventor
Hyung-Kyu Yim
ヒュン―キュ ウィム
Jung-Dal Choi
ジュン―ダル チョイ
Woong-Moo Lee
ウォーン―モー リー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JPH0213120A publication Critical patent/JPH0213120A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2543170B2 publication Critical patent/JP2543170B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/08Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0008Arrangements for reducing power consumption
    • H03K19/0013Arrangements for reducing power consumption in field effect transistor circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/02Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
    • H03K19/09425Multistate logic
    • H03K19/09429Multistate logic one of the states being the high impedance or floating state

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半4体素子におけるデータ出カバソファ−に係
るもので、特にATD(八ddress Transi
tion Detection)回路を使用する半導体
回路から実際のデータが出る前にデータバスをフリーチ
ャージするデータ出力バッファー回路に係るものである
一般に、スタティックRAM(Static Rand
om Access Memory:SRAM)のデー
タ出カバソファ−は、センスアンプの差動増幅端の出力
端(SAS、5AS)が初期に論理ロウと論理ハイとの
中間レベル(フリーチャージ)にあった後メモリセルか
らデータが出ると、その出力が“ハイ”又は“ロウ”と
決定されるが、この時リード/ライトの制御信号により
出カバソファ−でデータをバッファーリングして出力す
る。
第1図は従来におけるデータフリーチャージング回路の
ない出力バッファー回路図で、差動増幅端(SAQ)の
出力をナンドゲ−1−(NA1))とノアゲート(NO
II)との入力端に入力して出力エネイブル信号(OE
)の印加信号により上記の差動増幅端(SAQ)出力信
号をナントゲート (NAII)とノアゲー1− (N
OII)を経てインバーター(INV12〜INV15
)を通じてPMO3トランジスター(’r++)とNM
OSトランジスタ(T1□)との駆動によって入出力端
(1)0PAD)にバッファーリングされたデータが出
力される。
上記したように第1図はデータフリーチャージング回路
のない構成で二回以上連続的に反対状態のデータを読む
時、埋入出力端子(Ilo  PAD)の電圧が“ハイ
”−“ロウ”又は“ロウ”→“ハイ”として遷移(Tr
ans i Lion)する時、入出力端子(1)0P
AD)の電圧が大幅的にスイング(Swing)されて
スイング時に所要される時間が長時間所要される。この
時、アクセスタイムが長時間所要されると共にスイング
幅に比例する瞬間ピーク電流によって発生されるVcc
及びVssのノイズによってチップ動作に悪影響を招来
して来た。このような点を解決するため第2図に示した
ようにデータバスをフリーチャージングさせる回路を内
蔵する方法がTomohtsa Wada等、”A34
ns  IMb CMOS SRAM Using T
riplepoly  、l5SCCP262〜263
に1987年2月に公開発表された。
第3図は第2図によるタイミング図であって、→   
→“ハイ”として遷移する時、インバーターINV21
)と(INV22)との入力ドリップのレベル差によっ
てノード21と22が“ハイ”−“ロウ”ロウ“−ハイ
”として遷移して25のノードにバイパルスが生じ7人
出力ハスをプリーチャリングする。しかし、短時間の間
にデータを十分にプリーチャージソゲするためNMOS
トランジスター(T z + )とPMOSトランジス
ター(T2□)のサイズが大きくならなければならない
が、この時ナントゲート(NA21)のPチャンネルト
ランジスター、NMO3+−ランシスター(T2□)、
PMOSトランジスター(T2□)とノアゲー) (N
O2□)のNチャンネルトランジスターを通してDC電
流通路が形成されるのでフリーチャージングドライバー
の自体の電流消耗が大きくなる問題点があったし、又一
方ノード26がVcC以下に落ち、ノード28がVss
以上に上昇してデータ出力ドライバーであるTZff、
 T0nがターンオンされてもう一つのDC電流の通路
が生ずる問題点があった。そして入力を公有するインバ
ーター(INV21、INV22)の入力ドリップのレ
ベル差によってその出力が各々“ハイ”及び“ロウ”と
なってデータバスをプリーチャージするのでプロセス変
化に敏感に作用する。上記のインバーターの人力ドリッ
プのレベルが変る場合にはフリーチャージングの時間が
変化され、甚だしい場合は誤動作の原因になって来た。
したがって、本発明の目的は電流消耗の増加のない、製
造プロセッサーの変化に敏感しないにデータバスをプリ
ーチャージさせて半導体素子のリードアクセスタイムを
減ることができ、又Vcc及びVss電源のノイズを最
少化させることができる回路を提供することにある。
上記のような目的を遂行するための本発明は入出力端子
の電位をデータバスフリーチャージングドライバーの入
力にフィードバックさせてフリーチャージドライバーの
DC電流の消耗を最少化する手段と、上記のプリーチャ
ージドライバーをアドレスの遷移感知(以下“ATD”
と称する)パルスによって制御して実際のデータが出力
される前に一定の動作時間を持つ手段とから構成される
ことを特徴とする。
以下、本発明を添付図面を参照して詳細に説明する。
第4図は本発明による回路図であって、INV41〜I
NV44はインバーター、NA41〜NA42はナント
ゲート、T41、T45はPMOSトランジスター、T
42〜T44、T2Cはトランジスターであり、センス
アンプの出力端(SAS)を上記のインバーター(IN
V41)の入力端に連結し、上記のセンスアンプの出力
端(SAS)を反転したセンスアンプの出力(SAS)
をインバーター(INV43)の入力端に連結する。上
記のインバーター(INV41、INV43)の出力端
をナントゲート(NA41、NA42)の入力端に連結
し、バッファー出力エネイブル端(OE)をインバータ
ー(INV42)の入力端に連結し、上記のインバータ
ー(INV42)の出力端42をナントゲート(NA4
1、NA42)の入力端に連結し、上記のナントゲート
(NA41)の出力端を2MO3)ランシスター(T4
5)のゲート端に連結し、上記のナントゲート(NA4
2)の出力端45をインバーター(INV44)の入力
端に連結し、上記のインバーター(INV44)の出力
端をNMOSトランジスター(T2C)のゲートに連結
し、ATD端が連結されたノード(φHI Z)をNM
OSトランジスター(T42、T2C)のゲートに連結
し、上記のNMOSトランジスター(T42)のドレイ
ン端に上記のPMO3I−ランシスター(T41)のド
レイン端を接続し、上記のNMO3)ランジスクー(T
2C)のソース端にNMo5トランジスター(T44)
のドレイン端を連結し、上記のNMO5I−ランシスタ
ー(T42、T2C)のソースとドレイン端を結合した
ノード50と上記の2MO3)ランシスター(T41)
とNMOSトランジスター(T44)のゲートを結合し
たノード47が上記のノード50と結合されると共に上
記の入出力端(1)0PAD)と結合されるように構成
され、上記のNMO3I−ランシスター(T2C)のソ
ース端は接地される。
第5図は本発明による第4図の動作波形図であって・ 第5図(5a)はアドレス信号の例であり、第5図(5
b)はアドレスの遷移感知端(ATD)の検出信号であ
り、 第5図(5c)は出力エネイブル(OE)信号であり、 第5図(5d)は第5図(5b)の信号によって発生さ
れたフリーチャージドライバー制御信号であり、第5図
(5e)はセンスアンプの出力端(SAS)の出力゛信
号であり、 第5図(5f)はノード44の出力信号であり、第5図
(5g)はノード46の出力信号であり、第5図(5h
)は入出力端(1)0PAD)の出力信号である。
以下、本発明の具体的な1実施例を第4.5図を参照し
て詳細に説明すると、 本発明はデータバスドライバーを内蔵しているデータ出
力バッファー回路であって、 イアバーター (INV41、INV43、INV44
)、ナントゲート(NA41、NA42)及び出力ドラ
イバーであるP、NMO3トランジスター(T45、T
46)は従来のデータ出力バッファーと同一な構成であ
る。
データバスプリーチャージドライバーはPMOSトラン
ジスター(T41)とNMO3I−ランシスター(T4
2、T43、T44)で構成され、P、NMO3I−ラ
ンシスター(T41、T44)のゲートはデータバスで
ある入出力端(IloPAD)に連結されてデータバス
の電位がドライバーの入力としてフィードバックされて
おり、NMO5)ランシスター(T42、T43)のゲ
ートは第5図(5d)に表示されているアドレス遷移感
知(ATD)信号によって制御される。
実際はリードアクセスからアドレス信号(5a)が変る
ことになると、ATDの検出信号(5b)によって第5
図に示したように出力エネイブル信号(5c)とプリー
チャージドライバー制御信号(5d)は“ハイ”に行く
したがって、ノード44と46は各々“ハイ”及び“ロ
ウ”で、5fと5gのようになって出力ドライバーであ
るPMO3I−ランシスター(T45)とNMO3I−
ランシスター(T46)をターンオフさせて5a信号に
よってデータバスプリーチャージドライバーであるT4
2、T43が作動する。この時データバスであるノード
47の電位が“ハイ”の状態であればNMO3I−ラン
シスター(T43、T44)を通じて放電によってデー
ノード47の電位が“ロウ”の状態であれば、PMO3
I−ランシスター(T41) 、NMO3I−ランシス
ター(T42)を通じて充電することによ cc って    として上昇する。そして、5a信号が“ロ
ウ”に行くことになると、プリーチャージドライバーで
あるNMO3I−ランシスター(T42、T43)はオ
フされて作動が中断され、以後のセンス増幅端(SAS
)から出るデータがデータ出力バッファーに伝達される
ことは従来の場合と同じである。
上述したようにデータバスの電位をデータバスフリーチ
ャージドライバーにフィードバンクさせてデータバスを
フリーチャージングすることによりDC電流の通路を取
り除いて電力の消耗を取り除き、これをATDパルスの
幅で動作させるので製造処理(Process)に敏感
しないにデータバスをプリーチャージさせることができ
るし、上記のデータバスフリーチャージング機能によっ
てVcc及びVssのピーク電流を30%程度減すこと
ができ、上昇及び下降時間を3〜10ns程度減すこと
ができる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のデータバスフリーチャージング回路のな
いデータ出力バッファー回路、第2図は従来のデータバ
スフリーチャージング回路のあるデータ出力バッファー
回路、第3図は第2図のデータ出力バッファー回路の動
作タイミング図、 第4図は本発明による半導体装置におけるデータ出力バ
ッファー回路の回路図、そして第5図(5a)〜(5h
)は各々本発明に係る第4図に示された半導体装置にお
けるデータ出力バッファー回路の動作タイミング図であ
る。 INV41〜INV44;インバーターNA41〜NA
42iナントゲート T41、T45 ; PMO3I−ランシスター T42〜T44、T46;NMO3)ランジスター 第q図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体装置のセンス増幅出力端(SAS、■■■
    )を通じて出力されたデータの出力バッファー回路にお
    いて、 上記のセンス増幅出力端(SAS、■■■)のデータを
    反転する反転手段と、上記の反転手段の出力と出力エネ
    イブルの反転信号を受けて論理化して出力ドライビング
    制御信号を発生する論理手段と、上記の論理手段のドラ
    イビング制御信号によって出力をドライビングする出力
    ドライバー手段と、上記のデータアドレスの遷移感知信
    号によって制御され、上記の出力ドライバー手段で出力
    データバスを高速フリーチャージングされるようにドラ
    イビングするフリーチャージングドライバー手段から構
    成されることを特徴とする半導体装置におけるデータ出
    力バッファー回路。
  2. (2)上記のフリーチャージングドライバー手段が、上
    記のアドレス遷移感知(ATD)信号を各々のゲートに
    入力し、一側のソース端子と他側のドレイン端子が出力
    ノードに接続されることに構成した第1及び第2トラン
    ジスター(T_4_2、T_4_3)と、上記の第1ト
    ランジスターのドレイン端子と第1供給電源端子との間
    にドレインとソース端子が各々連結されると同時に、ゲ
    ート端子は上記出力ノードに接続された第3トランジス
    ター(T_4_1)と、上記の第2トランジスターのソ
    ース端子と第2供給電源端子との間にドレインとソース
    端子が各々連結されると同時に、ゲート端子は上記出力
    ノードに接続された第4トランジスター(T_4_4)
    を具備し、上記の出力ドライバー手段からの出力信号が
    上記の出力ノードを通じて上記第3及び第4トランジス
    ターのゲーティング信号として印加されるように構成し
    たことを特徴とする請求項(1)記載の半導体装置にお
    けるデータ出力バッファー回路。
  3. (3)上記の第1、第2及び第4トランジスターはNM
    OSトランジスターであり、上記の第3トランジスター
    はPMOSトランジスターとすることを特徴とする請求
    項(2)記載の半導体装置におけるデータ出力バッファ
    ー回路。
  4. (4)上記のフリーチャージング手段が、上記のアドレ
    ス遷移感知(ATD)信号をゲートに入力し、ドレイン
    は出力ノードに接続された第1トランジスターと、上記
    の第1トランジスターのソースと第2供給電源端子との
    間にドレインとソースが各々接続されるし、ゲートは上
    記出力ノードに接続される第2トランジスターを具備す
    ることを特徴とする請求項(1)記載の半導体装置にお
    けるデータ出力バッファー回路。
  5. (5)上記の第1電源供給端子は通常のVccレベルの
    電源電圧を供給し、上記の第2供給電源端子は通常のV
    ssレベルの電源電圧を供給するようにすることを特徴
    とする請求項(2)または請求項(4)記載の半導体装
    置におけるデータ出力バッファー回路。
JP63323828A 1988-04-12 1988-12-23 半導体装置におけるデ―タ出力バッファ―回路 Expired - Lifetime JP2543170B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019880004120A KR910002748B1 (ko) 1988-04-12 1988-04-12 반도체장치에 있어서 데이타 출력 버퍼회로
KR88-4120 1988-04-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0213120A true JPH0213120A (ja) 1990-01-17
JP2543170B2 JP2543170B2 (ja) 1996-10-16

Family

ID=19273575

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63323828A Expired - Lifetime JP2543170B2 (ja) 1988-04-12 1988-12-23 半導体装置におけるデ―タ出力バッファ―回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4983860A (ja)
JP (1) JP2543170B2 (ja)
KR (1) KR910002748B1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2679368A1 (fr) * 1991-07-19 1993-01-22 Samsung Electronics Co Ltd Memoire tampon de sortie de donnees d'un dispositif de memoire a semiconducteurs.
JPH05210989A (ja) * 1991-10-25 1993-08-20 Samsung Electron Co Ltd データ出力バッファ
WO1997003498A1 (en) * 1995-07-07 1997-01-30 Seiko Epson Corporation Output circuit and electronic device using the circuit
JPH09180463A (ja) * 1995-12-21 1997-07-11 Lg Semicon Co Ltd 半導体メモリの出力回路

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6825698B2 (en) 2001-08-29 2004-11-30 Altera Corporation Programmable high speed I/O interface
US4928292A (en) * 1988-11-25 1990-05-22 Picker International, Inc. Gantry tilt and support assembly for CT scanner
US5121013A (en) * 1990-02-12 1992-06-09 Advanced Micro Devices, Inc. Noise reducing output buffer circuit with feedback path
US5144162A (en) * 1990-07-13 1992-09-01 Texas Instruments Incorporated High speed signal driving scheme
US5128563A (en) * 1990-11-28 1992-07-07 Micron Technology, Inc. CMOS bootstrapped output driver method and circuit
US5208490A (en) * 1991-04-12 1993-05-04 Hewlett-Packard Company Functionally complete family of self-timed dynamic logic circuits
US5389835A (en) * 1991-04-12 1995-02-14 Hewlett-Packard Company Vector logic method and dynamic mousetrap logic gate for a self-timed monotonic logic progression
US5159210A (en) * 1991-09-27 1992-10-27 Cyrix Corporation Line precharging circuits and methods
JPH05102831A (ja) * 1991-10-09 1993-04-23 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路の出力回路
US5189319A (en) * 1991-10-10 1993-02-23 Intel Corporation Power reducing buffer/latch circuit
EP0837562B1 (en) * 1991-12-17 2001-07-04 STMicroelectronics, Inc. A precharging output driver circuit
JPH05242674A (ja) * 1992-02-28 1993-09-21 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
US5274276A (en) * 1992-06-26 1993-12-28 Micron Technology, Inc. Output driver circuit comprising a programmable circuit for determining the potential at the output node and the method of implementing the circuit
DE69232170T2 (de) * 1992-06-26 2002-06-06 Stmicroelectronics S.R.L., Agrate Brianza Puffer mit niedrigem Rauschen
US5331228A (en) * 1992-07-31 1994-07-19 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Output driver circuit
KR960006911B1 (ko) * 1992-12-31 1996-05-25 현대전자산업주식회사 데이타 출력버퍼
KR0124046B1 (ko) * 1993-11-18 1997-11-25 김광호 반도체메모리장치의 승압레벨 감지회로
US5369316A (en) * 1993-11-22 1994-11-29 United Microelectronics Corporation Advanced output buffer with reduced voltage swing at output terminal
US5453705A (en) * 1993-12-21 1995-09-26 International Business Machines Corporation Reduced power VLSI chip and driver circuit
US5574633A (en) * 1994-02-23 1996-11-12 At&T Global Information Solubions Company Multi-phase charge sharing method and apparatus
US5559465A (en) * 1994-07-29 1996-09-24 Cypress Semiconductor Corporation Output preconditioning circuit with an output level latch and a clamp
US5684410A (en) * 1995-07-03 1997-11-04 Guo; Frank Tzen-Wen Preconditioning of output buffers
US5703501A (en) * 1995-11-27 1997-12-30 Advanced Micro Devices, Inc. Apparatus and method for precharging a bus to an intermediate level
JPH09181594A (ja) * 1995-12-26 1997-07-11 Mitsubishi Electric Corp 入力回路
DE19624474C2 (de) * 1996-06-19 1998-04-23 Sgs Thomson Microelectronics Monolithisch integrierte Mehrfachbetriebsartenschaltung
US6097218A (en) * 1996-12-20 2000-08-01 Lsi Logic Corporation Method and device for isolating noise sensitive circuitry from switching current noise on semiconductor substrate
US5852375A (en) * 1997-02-07 1998-12-22 Silicon Systems Research Limited 5v tolerant I/O circuit
US5933371A (en) * 1998-06-26 1999-08-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Write amplifier for use in semiconductor memory device
KR100295053B1 (ko) 1998-09-03 2001-07-12 윤종용 부하적응형저잡음출력버퍼
US6091260A (en) * 1998-11-13 2000-07-18 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit output buffers having low propagation delay and improved noise characteristics
US6356102B1 (en) 1998-11-13 2002-03-12 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit output buffers having control circuits therein that utilize output signal feedback to control pull-up and pull-down time intervals
JP3425890B2 (ja) * 1999-04-08 2003-07-14 Necエレクトロニクス株式会社 バッファ回路
US6265892B1 (en) * 1999-08-10 2001-07-24 Faraday Technology Corp. Low noise output buffer
US20070085576A1 (en) * 2005-10-14 2007-04-19 Hector Sanchez Output driver circuit with multiple gate devices
US7760006B2 (en) * 2008-05-08 2010-07-20 Texas Instruments Incorporated Method and system to reduce electromagnetic radiation from semiconductor devices
CN106533426B (zh) * 2016-09-30 2019-07-05 合肥格易集成电路有限公司 一种输出端口电路

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59181829A (ja) * 1983-03-31 1984-10-16 Toshiba Corp 半導体素子の出力バツフア回路
JPS6248119A (ja) * 1985-08-27 1987-03-02 Sony Corp 半導体出力回路
JPS62224119A (ja) * 1986-03-26 1987-10-02 Hitachi Ltd デ−タ処理装置
JPS62285296A (ja) * 1986-06-03 1987-12-11 Mitsubishi Electric Corp 出力バツフア回路
JPH01200819A (ja) * 1988-02-05 1989-08-14 Toshiba Corp メモリ集積回路

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4612466A (en) * 1984-08-31 1986-09-16 Rca Corporation High-speed output driver
US4700086A (en) * 1985-04-23 1987-10-13 International Business Machines Corporation Consistent precharge circuit for cascode voltage switch logic

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59181829A (ja) * 1983-03-31 1984-10-16 Toshiba Corp 半導体素子の出力バツフア回路
JPS6248119A (ja) * 1985-08-27 1987-03-02 Sony Corp 半導体出力回路
JPS62224119A (ja) * 1986-03-26 1987-10-02 Hitachi Ltd デ−タ処理装置
JPS62285296A (ja) * 1986-06-03 1987-12-11 Mitsubishi Electric Corp 出力バツフア回路
JPH01200819A (ja) * 1988-02-05 1989-08-14 Toshiba Corp メモリ集積回路

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2679368A1 (fr) * 1991-07-19 1993-01-22 Samsung Electronics Co Ltd Memoire tampon de sortie de donnees d'un dispositif de memoire a semiconducteurs.
JPH05210989A (ja) * 1991-10-25 1993-08-20 Samsung Electron Co Ltd データ出力バッファ
WO1997003498A1 (en) * 1995-07-07 1997-01-30 Seiko Epson Corporation Output circuit and electronic device using the circuit
US6018256A (en) * 1995-07-07 2000-01-25 Seiko Epson Corporation Output circuit and electronic apparatus using the same
JPH09180463A (ja) * 1995-12-21 1997-07-11 Lg Semicon Co Ltd 半導体メモリの出力回路

Also Published As

Publication number Publication date
KR910002748B1 (ko) 1991-05-04
JP2543170B2 (ja) 1996-10-16
KR890016471A (ko) 1989-11-29
US4983860A (en) 1991-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0213120A (ja) 半導体装置におけるデータ出力バッファー回路
JP3416062B2 (ja) 連想メモリ(cam)
KR100865906B1 (ko) 저전압 감지 증폭기 및 방법
US4932002A (en) Bit line latch sense amp
US5604705A (en) Static random access memory sense amplifier
KR100295041B1 (ko) 프리차지제어회로를구비하는반도체장치및프리차지방법
JPH0253879B2 (ja)
JPH0422318B2 (ja)
JP2862744B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ
JPH0713863B2 (ja) ダイナミック型ランダムアクセスメモリ
US5355343A (en) Static random access memory with self timed bit line equalization
JPS58122692A (ja) 能動昇圧回路
JPH0461692A (ja) 先充電手段を具備したライトドライバー
JPS63304491A (ja) 半導体メモリ
JPH03272087A (ja) 半導体記憶装置
KR0146863B1 (ko) 고속 및 저전력의 데이타 읽기/쓰기 회로를 구비한 반도체 메모리
JPH01119982A (ja) スタティック型ランダムアクセスメモリ
JPH0422317B2 (ja)
US6188623B1 (en) Voltage differential sensing circuit and methods of using same
JPH03116493A (ja) センスアンプ回路
KR940004516B1 (ko) 반도체 메모리의 고속 센싱장치
JPH09326195A (ja) 半導体メモリ装置のセンスアンプ回路
JP2979185B2 (ja) ブロックライト制御機能を有するシンクロナスグラフィックram
JPS6160519B2 (ja)
KR100549937B1 (ko) 고속 데이터 출력용 반도체 장치