JPH02122531A - 電子部品の実装装置 - Google Patents
電子部品の実装装置Info
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- JPH02122531A JPH02122531A JP27436488A JP27436488A JPH02122531A JP H02122531 A JPH02122531 A JP H02122531A JP 27436488 A JP27436488 A JP 27436488A JP 27436488 A JP27436488 A JP 27436488A JP H02122531 A JPH02122531 A JP H02122531A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、電子部品を回路基板に搭載する実装装置に関
する。
する。
(従来の技術)
近年、電子部品と回路基板間に絶縁性光硬化性樹脂を介
在させ、電子部品を加圧することにより電気的接続を行
うMBB(マイクロバンプボンディング)法といわれる
電子部品の高密度実装方法が行われている。
在させ、電子部品を加圧することにより電気的接続を行
うMBB(マイクロバンプボンディング)法といわれる
電子部品の高密度実装方法が行われている。
第5図はその従来装置の要部を示す断面図で。
電極1を有する電子部品2と回路基板3との間に絶縁性
の光硬化性樹脂4を塗布して、加圧治具5により電子部
品2を加圧力6により加圧し、照射光7を照射すること
により上記光硬化性樹脂4を硬化させ、その後、加圧治
具5を除去することにより、電子部品2に設けた電1’
ilと回路基板3の電極8とを、上記光硬化性樹脂4の
硬化により発生した収縮応力によって圧接、接続する。
の光硬化性樹脂4を塗布して、加圧治具5により電子部
品2を加圧力6により加圧し、照射光7を照射すること
により上記光硬化性樹脂4を硬化させ、その後、加圧治
具5を除去することにより、電子部品2に設けた電1’
ilと回路基板3の電極8とを、上記光硬化性樹脂4の
硬化により発生した収縮応力によって圧接、接続する。
この装置は、加圧治具5の底面積は電子部品2の上面の
外寸法と同一またはそれ以上であって、加圧力6は電子
部品2の全底面積の領域に作用している。
外寸法と同一またはそれ以上であって、加圧力6は電子
部品2の全底面積の領域に作用している。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上述の従来の電子部品の実装装置は、電
子部品2の裏面(非電極側面)を加圧治具5の底面が直
接抑圧するから、それによって生ずる応力は電子部品2
の中央部に集中する。そのため、第6図のように電子部
品2は凹状に変形し、電極1は不均一な応力分布のため
、端縁部の電極1が中央部のそれより回路基板3の電極
8との間隙に差を生じ、中央部の電極1のみしか導通し
ない、接続上の問題点がある。
子部品2の裏面(非電極側面)を加圧治具5の底面が直
接抑圧するから、それによって生ずる応力は電子部品2
の中央部に集中する。そのため、第6図のように電子部
品2は凹状に変形し、電極1は不均一な応力分布のため
、端縁部の電極1が中央部のそれより回路基板3の電極
8との間隙に差を生じ、中央部の電極1のみしか導通し
ない、接続上の問題点がある。
本発明は、上述した従来の問題点の解決を目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は上記の目的を、電子部品の外寸法よりも大きい
板状の介在部材を介して、電子部品の外寸法より大きい
領域のみに加圧する構成を有して達成する。
板状の介在部材を介して、電子部品の外寸法より大きい
領域のみに加圧する構成を有して達成する。
(作 用)
本発明によれば、従来の方法の加圧による応力集中が電
子部品の中央部に発生せず、したがって、はぼ均一に応
力が分布し、均等な圧力で各電極を回路基板の電極に圧
着でき、それにより、電気的導通が完全になって上記目
的が達成される。
子部品の中央部に発生せず、したがって、はぼ均一に応
力が分布し、均等な圧力で各電極を回路基板の電極に圧
着でき、それにより、電気的導通が完全になって上記目
的が達成される。
(実施例)
以下、本発明を実施例により図面を用いて説明する。な
お、前回までと同じ符号は同一または同機能のものであ
る。
お、前回までと同じ符号は同一または同機能のものであ
る。
さて、第1図は本発明の第1の実施例の断面図で、実装
する電子部品2の裏面から、その裏面領域よりも大きい
面積の板状の介在部材9を介して加圧する構成であり、
加圧治具5が介在部材9と接する領域は、電子部品2と
の圧着面と同一がそれ以上の大きい領域とする。そのよ
うな介在部材9を使用して加圧すると、応力は各電極1
に均等に作用する。
する電子部品2の裏面から、その裏面領域よりも大きい
面積の板状の介在部材9を介して加圧する構成であり、
加圧治具5が介在部材9と接する領域は、電子部品2と
の圧着面と同一がそれ以上の大きい領域とする。そのよ
うな介在部材9を使用して加圧すると、応力は各電極1
に均等に作用する。
第2図は加圧治具5と介在部材9との関係を示し、同図
(a)は介在部材9および加圧治具5の端面が共に角形
の場合で、加圧領域は斜線で示すような角形となる。ま
た、同図(b)は円板状の介在部材9および端部が円板
状の加圧治具5を用いる場合で、同じく斜線部分が加圧
される。なお、介在部材9は、例えば石英板、樹脂板、
金属板等を使用することができる。また、加圧治具5や
介在部材9を透明材料により構成すれば、介在させる光
硬化性樹脂4を硬化する光照射に好都合である。
(a)は介在部材9および加圧治具5の端面が共に角形
の場合で、加圧領域は斜線で示すような角形となる。ま
た、同図(b)は円板状の介在部材9および端部が円板
状の加圧治具5を用いる場合で、同じく斜線部分が加圧
される。なお、介在部材9は、例えば石英板、樹脂板、
金属板等を使用することができる。また、加圧治具5や
介在部材9を透明材料により構成すれば、介在させる光
硬化性樹脂4を硬化する光照射に好都合である。
第1図の装置により電子部品2を実装するには。
まず、電極8を有する回路基板3上に絶縁性の光硬化性
樹脂4を塗布する。この樹脂は、アクリル系、エポキシ
系あるいはシリコン系の樹脂材料からなり、紫外光のみ
による硬化性樹脂、あるいは紫外光と常温硬化または熱
硬化性の樹脂を併用したものが使用できる。
樹脂4を塗布する。この樹脂は、アクリル系、エポキシ
系あるいはシリコン系の樹脂材料からなり、紫外光のみ
による硬化性樹脂、あるいは紫外光と常温硬化または熱
硬化性の樹脂を併用したものが使用できる。
次に、電子部品2および回路基板3の電極1および8を
位置合わせした後、介在部材9を加圧治具5で加圧しな
がら光硬化性樹脂4を光硬化させる。このとき1回路基
板3が透明であれば、その下面から紫外外UV、を照射
し、あるいは回路基板3が不透明であれば、加圧治具5
や介在部材9の周辺から紫外光UV、をあて紫外光硬化
と常温硬化とを併用して硬化させ、その硬化後は、加圧
治具5を除去することによって電子部品2の回路基板3
への接続、実装が完了する。
位置合わせした後、介在部材9を加圧治具5で加圧しな
がら光硬化性樹脂4を光硬化させる。このとき1回路基
板3が透明であれば、その下面から紫外外UV、を照射
し、あるいは回路基板3が不透明であれば、加圧治具5
や介在部材9の周辺から紫外光UV、をあて紫外光硬化
と常温硬化とを併用して硬化させ、その硬化後は、加圧
治具5を除去することによって電子部品2の回路基板3
への接続、実装が完了する。
第3図は、第2の実施例を示す断面図である。
同図(a)は光硬化性樹脂4を塗布し、位置合わせした
電子部品2を回路基板3に載置した断面図で、加圧治具
5′は電子部品2の外寸法よりも大きく、その厚さが電
子部品2のそれとほぼ同一かまたは大きい外枠10と可
撓性部材11とにより、一体にまたは個別に形成されて
いる。
電子部品2を回路基板3に載置した断面図で、加圧治具
5′は電子部品2の外寸法よりも大きく、その厚さが電
子部品2のそれとほぼ同一かまたは大きい外枠10と可
撓性部材11とにより、一体にまたは個別に形成されて
いる。
この状態から、まず、加圧治具5′を下降させ、回路基
板3と外枠10が接する状態とし、外枠10とゴム系ま
たは樹脂系の弾性を有する材料によって形成される可撓
性部材11により囲まれた領域を。
板3と外枠10が接する状態とし、外枠10とゴム系ま
たは樹脂系の弾性を有する材料によって形成される可撓
性部材11により囲まれた領域を。
図示しない減圧手段により減圧する。この減圧により、
外枠10の可撓性部材11は変形し、同図(b)に示す
ように電子部品2の裏面を押圧する形になる。このとき
、特に上記可撓性部材11のA領域は最も大きい減圧を
受ける。したがって、電子部品2の中央部に応力は集中
せず、均一な加重を受けることになる。なお、上記減圧
は外枠10または回路基板3に、図示しないが吸引孔を
設けて吸引させる。
外枠10の可撓性部材11は変形し、同図(b)に示す
ように電子部品2の裏面を押圧する形になる。このとき
、特に上記可撓性部材11のA領域は最も大きい減圧を
受ける。したがって、電子部品2の中央部に応力は集中
せず、均一な加重を受けることになる。なお、上記減圧
は外枠10または回路基板3に、図示しないが吸引孔を
設けて吸引させる。
第4図は、第3の実施例を示す断面図で、12は加圧補
助治具であり、これは、第3図の加圧治具5′の加圧力
をガスの圧力を利用して強化させるもので、領域aの部
分は第3図で説明した真空吸引によって、また領域すは
ガス孔13からガスを圧入して可撓性部材11を押圧さ
せる。すなわち、可撓性部材11は領域aの真空により
引下げられ、それは、さらに領域すのガス圧により押下
げられ、それらの力により電子部品2が回路基板3に圧
着されることになる。これは、第3図の減圧のみの実施
例よりも高い圧力で電子部品2に加圧可能となる。なお
、 14は領域aの部分を真空にするための吸引孔であ
る。
助治具であり、これは、第3図の加圧治具5′の加圧力
をガスの圧力を利用して強化させるもので、領域aの部
分は第3図で説明した真空吸引によって、また領域すは
ガス孔13からガスを圧入して可撓性部材11を押圧さ
せる。すなわち、可撓性部材11は領域aの真空により
引下げられ、それは、さらに領域すのガス圧により押下
げられ、それらの力により電子部品2が回路基板3に圧
着されることになる。これは、第3図の減圧のみの実施
例よりも高い圧力で電子部品2に加圧可能となる。なお
、 14は領域aの部分を真空にするための吸引孔であ
る。
(発明の効果)
以上、詳細に説明して明らかなように、本発明は、MB
B法による電子部品実装装置において。
B法による電子部品実装装置において。
電子部品の外寸法より大きい領域を加圧させるものであ
り、従来例のように応力が電子部品の中央部に集中せず
、したがって、電子部品の電極への加圧が均一になり、
その電極の高さの不揃いがなくなって信頼性のある電極
接合が得られ、さらに、応力分布が一様であるから、加
圧される電子部品には応力歪が発生せず、そのため、損
傷の発生が抑制される等の効果がある。
り、従来例のように応力が電子部品の中央部に集中せず
、したがって、電子部品の電極への加圧が均一になり、
その電極の高さの不揃いがなくなって信頼性のある電極
接合が得られ、さらに、応力分布が一様であるから、加
圧される電子部品には応力歪が発生せず、そのため、損
傷の発生が抑制される等の効果がある。
第1図は本発明の第1の実施例を説明する断面図、第2
図はその要部説明図、第3図は第2の実施例を説明する
断面図、第4図は第3の実施例を説明する断面図、第5
図は従来例を説明する断面図、第6図は従来例の動作説
明図である。 1・・・(電子部品の)電極、 2・・・電子部品、3
・・・回路基板、 4・・・光硬化性樹脂、 5゜5′
・・・加圧治具、 6・・・加圧力、 7・・・照射光
、8・・・(回路基板の)電極、 9・・・板状部材、
10・・・外枠、 11・・・可撓性部材、 12・・
・加圧補助治具、13・・・ガス孔、 14・・・吸引
孔。 第 図 第 因 第 図
図はその要部説明図、第3図は第2の実施例を説明する
断面図、第4図は第3の実施例を説明する断面図、第5
図は従来例を説明する断面図、第6図は従来例の動作説
明図である。 1・・・(電子部品の)電極、 2・・・電子部品、3
・・・回路基板、 4・・・光硬化性樹脂、 5゜5′
・・・加圧治具、 6・・・加圧力、 7・・・照射光
、8・・・(回路基板の)電極、 9・・・板状部材、
10・・・外枠、 11・・・可撓性部材、 12・・
・加圧補助治具、13・・・ガス孔、 14・・・吸引
孔。 第 図 第 因 第 図
Claims (7)
- (1)それぞれに電極を設けた電子部品および回路基板
間に、絶縁性の光硬化性樹脂を介在させて加圧し、上記
の電極間を電気的に接続して実装するマイクロバンプボ
ンディング法の電子部品の実装装置において、電子部品
上面の外寸法よりも大きい面を有する板状の介在部材と
、この介在部材の少なくとも電子部品上面の外寸法以上
の領域部分を加圧させる加圧治具とを有し、上記介在部
材を電子部品に載置し加圧する構成を特徴とする電子部
品の実装装置。 - (2)介在部材は透明であることを特徴とする請求項(
1)記載の電子部品の実装装置。 - (3)介在部材は円板状であることを特徴とする請求項
(1)記載の電子部品の実装装置。 - (4)加圧治具は円筒状であることを特徴とする請求項
(1)記載の電子部品の実装装置。 - (5)それぞれに電極を設けた電子部品および回路基板
間に.絶縁性の光硬化性樹脂を介在させて加圧し、上記
の電極間を電気的に接続して実装するマイクロバンプボ
ンディング法の電子部品の実装装置において、上記電子
部品を囲む部材枠と、その上に載置する電子部品上面の
外寸法よりも大きい可撓性部材と、電子部品を囲む上記
部材枠の内部を真空吸引する手段とから構成され、上記
可撓性部材を前記真空吸引手段によって真空吸引し、電
子部品を回路基板に圧着実装することを特徴とする電子
部品の実装装置。 - (6)部材枠と可撓性部材が一体に構成されていること
を特徴とする請求項(5)記載の電子部品の実装装置。 - (7)少なくとも部材枠および可撓性部材の一方が透明
に形成され、その一方を経て光硬化性樹脂の硬化を可能
にしたことを特徴とする請求項(5)記載の電子部品の
実装装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27436488A JPH0671032B2 (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 電子部品の実装装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27436488A JPH0671032B2 (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 電子部品の実装装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02122531A true JPH02122531A (ja) | 1990-05-10 |
JPH0671032B2 JPH0671032B2 (ja) | 1994-09-07 |
Family
ID=17540631
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27436488A Expired - Fee Related JPH0671032B2 (ja) | 1988-11-01 | 1988-11-01 | 電子部品の実装装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0671032B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0425143A (ja) * | 1990-05-21 | 1992-01-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回路基板及び半導体装置 |
US5811317A (en) * | 1995-08-25 | 1998-09-22 | Texas Instruments Incorporated | Process for reflow bonding a semiconductor die to a substrate and the product produced by the product |
JP2002359264A (ja) * | 2001-05-31 | 2002-12-13 | Sony Corp | フリップチップ実装方法及び装置、半導体装置 |
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