JPH01162971A - シングルチップマイクロコンピュータ - Google Patents

シングルチップマイクロコンピュータ

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JPH01162971A
JPH01162971A JP63091563A JP9156388A JPH01162971A JP H01162971 A JPH01162971 A JP H01162971A JP 63091563 A JP63091563 A JP 63091563A JP 9156388 A JP9156388 A JP 9156388A JP H01162971 A JPH01162971 A JP H01162971A
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JP
Japan
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data
chip microcomputer
logic circuit
bus
chip
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JP63091563A
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English (en)
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Terumi Sawase
沢瀬 照美
Yoshiki Noguchi
孝樹 野口
Hideo Nakamura
英夫 中村
Yasushi Akao
赤尾 泰
Shiro Baba
馬場 志朗
Yoshimune Hagiwara
萩原 吉宗
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Priority to US08/217,826 priority patent/US5428808A/en
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    • GPHYSICS
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    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/22Microcontrol or microprogram arrangements
    • G06F9/24Loading of the microprogram
    • GPHYSICS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路、特にシングルチップマイクロ
コンピュータ(以下マイコンと言う)に係わり、システ
ムを構築する際の部品点数の削減効果が大きく、内蔵不
揮発性メモリへの書込あるいはベリファイ動作を共通に
するに好適なものである。
〔従来の技術〕
従来の装置は、特開昭61−285567号に記載のよ
うに、マイコンとP L A (Programmab
le Logic^rray)をワンチップ化してマイ
コンのプログラムとは無関係に外部入力に応答してPL
Aが動作し、PLA出力で種々の機能を動作させ、その
結果でマイコンを起動するようになっていた。
PLAは不揮発性半導体メモリ素子への電気的な奔き込
みによってその論理機能を任意に構成することが可能な
可変論理構造を有する論理回路装置である。
一方、米国特許第4 、609 、986号にはEPR
OM技術を用いた改良型のPLAが開示されている。
また、CPU等のデータ処理ユニットとソフトウェア格
納用の不揮発性メモリブロックを同一チップ内に保有す
る半導体集積回路装置としては特開昭60−19866
7号が知られている。
一方、電気的に書込可能な論理デバイスとしてはアルテ
ラ社の製品カタログのp12、あるいはエレクトロニッ
ク デザイン 1986年8月7日号p 94〜97 
(Electronic Design、1986.A
ug。
7P94〜97)において論じられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記特開昭61−285567号はある種の応用におい
ては部品点数の削減効果があるものの、汎用性について
はあまり配慮がされておらず、広範囲な応用をカバーす
ることができないという問題があった。また、上記米国
特許筒4,609,986号はPLA自体を開示するに
とどまり、PLAすなわち(プログラマブル論理回路と
マイコンとをワンチップ化してシングルチップマイコン
の汎用性を向上するための工夫について考慮が払われて
いなかった。
一方、特開昭60−198667号はシングルチップマ
イコンのソフトウェアであるプログラムを格納するため
のメモリブロックを不揮発性メモリで構成し、このプロ
グラム格納用不揮発性メモリをユーザ自身がチップ外部
から書込むことにより、ユーザに所望のシングルチップ
マイコンを短い納入期間で提供することを開示するにと
どまり、シングルチップマイコンのハードウェアを実現
するための論理装置をユーザ自身が自由に構成するため
の工夫については考慮が払われていなかった。
シングルチップマイコンのソフトウェア(プログラム)
はユーザ自身により開発され、開発されたソフトウェア
はシングルチップマイコンのメモリブロックのROM 
(リードオンリーメモリ)に書込まれる。従って、この
ROMを不揮発性メモリで構成し、この不揮発性メモリ
をチップ外部からユーザ自身が自由に杏込むことにより
、ユーザは希望するソフトウェアを有するシングルチッ
プマイコンを短い期間で入手することができる。
一方、シングルチップマイコンのハードウェアに関して
も各ユーザが種々の要求仕様を持つことが多いので、統
一されたハードウェアでユーザの各種要求仕様を同時に
満足することは不可能である。従って、従来は各ユーザ
は各自の要求仕様を実現するために、シングルチップマ
イコンの外部回路としてランダムロジック回路等を付加
していたため、システム全体の部品点数が多いと言う問
題があった。
各ユーザが独自の要求仕様をもつシングルチップマイコ
ンのハードウェアとしては、キー人力エンコーダ(キー
ボードからの入力情報を変換してシングルチップマイコ
ンに取り込むためのエンコーダ)2表示デコーダ(シン
グルチップマイコンの出力情報を変換して表示装置を駆
動するためのデコーダ)、計時用タイマー等種々のもの
がある。
従って、本発明の目的とするところは、シングルチップ
マイクロプロセッサのハードウェアに関係する論理装置
(ランダムロジック回路装置)を該マイクロプロセッサ
内部に構成し、該マイクロプロセッサ外部からの書込み
情報に従って該論理装置の論理機能を任意に構成するこ
とにある。
〔課題を解決するため、の手段〕
本願で開示される代表的な発明において、シングルチッ
プマイクロプロセッサ内部に構成された論理装置は電気
的に書込み可能な不揮発性半導体メモリ素子により構成
される。
この論理装置を構成する不揮発性半導体メモリを外部か
ら書込むことにより、該論理装置の論理機能はユーザの
要求仕様を満足するように任意に構成されることができ
る。
〔作用〕
外部から書込まれる情報に従って論理装置の論理機能は
任意に構成されることができるので、この任意に構成さ
れた論理機能により種々のユーザの要求仕様を満足させ
ることができる。
論理装置を構成する不揮発性半導体メモリ素子の書込み
は短時間で実行可能であるため、ユーザは各自の要求仕
様のハードウェアを有するシングルチップマイコンを短
い期間に入手することができる。
従って1本発明は少量多品種のシングルチップマイコン
を短期間で入手するのに好適である。
本発明の他の目的および他の特徴は、以下の実施例から
明らかであろう。
〔実施例〕
以下1本発明の実施例を図を用いて説明する。
第1図に第1の実施例のシングルチップマイクロコンピ
ュータの構成を示す、マイクロコンピュータは同一の半
導体基板1上に、CPU (セントラルプロセツシング
ユニット)2.RAM3゜ROM4から成るプロセッサ
5と、可変論理構造の論理回路装置としてのP L A
 (Prograa+mablsしogic Arra
y) 6および入出力ボートCl10)7で構成され、
それぞれのブロックは共通バス8により結合される。ま
たPLA6は信号線9,10により工107およびCP
U2に直接結線される。
ROM4はシングルチップマイコンのソフトウェア(プ
ログラム)を格納するためのものであり、PLA6はシ
ングルチップマイコンのハードウェアを実現するための
論理装置として動作し、このPLA6は電気的に書込み
可能な不揮発性メモリ素子を含んでいる。
第2図は第1図におけるPLA6の構成を中心とした詳
細図である。PLA6はAND(論理積)而20.OR
(論理和)面21.出力ラツチ22゜入力ラッチ23%
およびセレクタ24の各回路と回路間を結線する配線で
構成される。プロセッサ5とPLA6との接続は、プロ
セッサ5で生成される制御信号をPLA6の入力ラッチ
23に入力するための制御信号s8 a 、アドレスバ
ス8b。
データバス8cで行なわれる。半導体基板1と基板外と
の通信はデータバス8cと接続されている出カポードア
a、入出カポ−ドアb、入力ポードアcで行なわれるが
、以下結線の詳細を説明する。
PLA6の入力ラッチ23への入力は上記の制御信号線
8a、アドレスバス8b、データバス8c、入力ポード
アcの出カフ0c、出力セレクタ24の出力9cであり
、入力ラッチ23でAND面20の入力に変換する。A
ND面20の出力はOR面21の入力となり、OR面の
出力は出力ラッチ22に入力される。出力ラッチ22の
出力22aはセレクタ24に入力すると共に、その−部
の信号22bはAND面20の入力とする。セレクタ2
4の出力のうち9a、9bはそれぞれ出カポードアa、
入出カポ−ドアbの入力とし、出力9cはデータバス8
cに結線する。
第3図に第2図のAND而2面を紫外線消去形の電気的
に書き込み可能な不揮発性メモリ(EPROM)素子で
構成した例を示す0本実施例はAND面への入力を4人
力(Io=Is)とし、4つの独立した論理積出力(A
 o ” A a )が得られる構成で示した。素子マ
トリクス40は8行4列のEFROM素子M (0,O
)〜M (7,3)で構成される。EFROM素子は良
く知られている素子であり、詳細な説明は省略するが、
ここで、上記素子のしきい値Vaeがローレベル(IV
程度)の場合を消去状態、ハイレベル(5V以上)の場
合のしきい値t、状態を書込み状態と定義する。
素子への書込みは列(4ビツト)単位で次のように行な
う、書込むデータをデータ入力(Do〜Da)に与え、
i!I択線So〜S8のうち1つを選択(II I I
tレベル)すると共に、ライトイネーブル信号WEを“
1″レベル、書込み電気端子Vp を書込み電圧(例え
ば12V程度)とする、このとき入力IIの状態により
、正論理を書込むか負論理を書込むかが決まる。すなわ
ち■0を例にするとl0=Lt11tではワード線Wo
pが選ばれ、工0=“0”ではWonが選ばれる。この
とき選択されたワード(メモリ素子のゲート)は抵抗R
J (j=0〜7)を介してVp電位に上昇し、またり
〜D8に与えられたデータに従がって電圧変換器W o
 ” Wδは、上記りが0の場合はOを、またDが1の
場合はメモリ素子の書込みに必要なドレイン電圧Voを
発生し、それぞれデータ線do”daを介してメモリ素
子に書込み電圧を供給する。これにより初期に消去状態
にあるメモリ素子のVihは選択されたワードWに対し
てデータ入力りにII O11が与えられた場合は消去
状態のしきい値Vtθを保持し、データ入力りにtt 
1 trが与えられた場合は書込み状態のしきい値Vt
wになる。
以上の動作を全行にわたって実行することでマトリクス
の全エリアM (0,O)〜M (7,3)のプログラ
ムが完了する。
読出し、すなわち論理積回路として動作させる場合はV
p電圧を土竜g電圧Vcまたは接地電圧とし、ライトイ
ネーブルWEを110”にする。
また5o=Ssを全て“1”とすることでIO〜r3の
値に従がって単位の論理積データがデータ線do〜d3
を介してセンスアンプ回路SAo〜SAsで検出され論
理積として出力(A o ” A s )される。
第4図に第2図の論理和(OR)回路21の構成を示す
。OR回路は、AND出力AO,AIを入力とするO 
R1、Az、 A8を入力とするOR2゜ORI、OR
2を入力とす7)RO3、およびORI出力と○R3出
力を選択する出力選択回路50で構成される。
選択回路の入力5]、にu 111が入力されるとトラ
ンジスタT1がオン、T2がオフし、各出力には次の論
理式が得られる。
Oo =A o + A t ○z = A z + A s また人力51にII OIIが入力されるとトランジス
タT1がオフ、T2がオフし、各出力には次の論理式が
得られる。
Oo = A o + A t + A z + A 
sol = A 2 + A 3 本実施例によると第2図に示した入力ラッチ23、およ
びセレクタ24を切換えることにより第5図に示すよう
な種々の使い方が可能になる。
(A)  第2図の入力ラッチ23への入力をバス8a
〜8cとし、セレクタ24の出力をボート7a、7bと
することによりプロセッサ5からの出力をPLA6で変
換して半導体基板1外に出力することができる。
(B)  入力ラッチ23への入力をボート7b。
7cとし、セレクタ24の出力を90に選択することに
より半導体基板1外からの信号をPLA6で変換し、プ
ロセッサ5の入力とすることができる。
(C)  入力ランチ23の入力をバス88〜8cとし
、セレクタ24の出力もバス8cとすることによりプロ
セッサ5の出力信号をPLA6で変換し、再びプロセッ
サ5の入力とすることができる。
(D)  入力ラッチ23の入力をボート7b、7cと
し、セレクタ24の出力を9a、9bとすることにより
プロセッサ5とは無関係に、半導体基板1外からの信号
をPLA6に入力し、PLA6で変換した信号を半導体
基板1外に出力することができる。
なお、上記(A)〜(D)は2つ以上を組み合わせて使
用することも可能である0例えば(A)と(B)の組み
合わせでは、PLA6の入力を分割し、一方をプロセッ
サ5の出力(8a〜8c)、他方を半導体基板1外から
の入力(7b、7c)とし、PLD6の出力も分割して
、一方をプロセッサ5の入力(8c)、他方を半導基板
1外への出力(7a、7b)とすることもできる。
また、PLAを紫外線消去形の電気的に書込み可能なF
ROM素子で構成したことから、窓付きパッケージに封
入し、窓から紫外線を照射して情報を消去した後に、新
しく論理情報を電気的に書き直して繰り返し利用するこ
とも可能である。
さらに、PLAのFROM素子はEEFROM (電気
的に消去かつ書込み可能なもの)により構成できること
は、言うまでもない。
上記第1の実施例はプログラマブル論理回路装置として
、P L A (Progra+mmable Log
ic Array)を用いたものであるが、PLAは入
力データD+に対して論理積、論理和の形で出力D o
 = F (D I)の関数を与える機能を有している
以下に第2の実施例としてプログラマブル回路にプロセ
ッサ栖造の第2のプログラマブル論理回路(サブプロセ
ッサ)を付加して、第1実施例より複雑な機能を実現で
きる半導体集積回路の例を述べる。第6図に示した半導
体集積回路は第1図の構成に対して、共通バス8.PL
A6およびl107に接続したサブプロセッサ100を
付加した構成である。
第7図にサブプロセッサ1oOの構成およびサブプロセ
ッサ100.PLA6.l107、共通バス8間の接続
関係を示す。
サブプロセッサ100は命令を格納するためのROMl
0I、ROM 101の情報に基づき制御信号を発生す
るための制御回路102.ROMの次アドレスを格納す
るアドレスラッチ103.第1、第2.第3のデータバ
ス104,105゜106に接続されたALU (算術
論理演算ユニット)107.レジスタファイル108.
ALUに接続されプログラマブルシーケンスジェネレー
タ(PSG)109で制御されるステータスレジスタ(
ST)110.サブプロセッサと共通バス8を接続する
ためのバスインタフェース回路(I F)111で構成
される。
PLA6は配線112aにより共通バス8に、配線11
2bによりl107にそれぞれ結線されると共に、配線
112cによりサブプロセッサ100の制御回路102
で発生される制御信号102aに、配線112dにより
ステータスレジスタ110の出力110aに、および工
107からALU107に入力される信号1078にそ
れぞれ接続される。
本実施例では上記PSG109およびROM101は電
気的に書込み可能なFROM素子を用いて構成する。
尚、PLA6は当然電気的に書込み可能なFROM素子
により構成されている。
第8図はチップ内にソフトウェア格納用の不揮発性メモ
リブロック4をさらに内蔵したシングルチップマイクロ
コンピュータのブロックダイヤグラムを示す。
第8図においてシングルチップマイクロコンピュータで
ある半導体集積回路、2はCPUなとのデータ処理装置
、4は、ソフトウェア格納用ROMとしての不揮発性メ
モリブロック、41はアドレスバス、42はデータバス
、500は制御信号生成回路、61〜63.66はスイ
ッチ素子、525と527とは3ステートインバータ、
526゜528は3ステートドライバ、81.82はイ
ンバータである。データ処理袋@2.不揮発性メモリブ
ロック4.不揮発メモリ素子を用いたPLA、サブプロ
セッサなどのプログラマブル論理回路900はそれぞれ
アドレスバス41.データバス42と直接あるいはスイ
ッチ素子を介して接続している。アドレスバス41.デ
ータバス42はまたチップ外部と信号線518,519
で接続され、データの入出力を1行なえる構成をとる。
信号5101〜5104はデータ処理装置2によって生
成されるデータ転送のための制御信号、信号5111〜
5122はチップ外部から与えられる制御信号、信号5
20〜528はアドレスバス41.データバス42とC
PU2.不揮発性メモリブロック4゜プログラマブル論
理回路装置900、外部入出力信号518,519の間
の信号転送タイミングを制御する制御信号である。信号
514はLSIIの外部からのデータ読込信号、515
はLSIIの外部への書込信号、518は外部データ信
号、519は外部アドレス信号、516は不揮発性メモ
リ3およびプログラマブル論理回路装置9の不揮発性素
子の書込あるいは消去に必要な高電圧信号である。
第8図の実施例においては、共通のデータバス42、ア
ドレスバス41に接続された不揮発性メモリブロック4
とプログラマブル論理回路装置900は、アドレスが同
一の空間に配置されているので各々割当てられたアドレ
ス指定することにより、同一のデータフォーマットおよ
び同一シーケンスにより書込、ベリファイ処理を行なう
ことができる。この結果、不揮発性メモリブロック4と
プログラマブル論理回路900に異なった書込シーケン
スを必要とせず、共通の書込装置が使える。又、内蔵す
るデータ処理装置f!!2を使って書込。
ベリファイを行なう場合においても同一のシーケンスで
アクセスできる。
第9図は第8図の制御信号生成回路500を構成する実
施例でありAND面51とOR而面2により構成される
。5101〜5102はLSIに内蔵するCPUブロッ
ク2により発生する信号群であり、5121,5122
.513はチップ外部から与える信号群である。514
〜528は制御信号生成回路5で生成される信号群であ
る。以下制御信号生成回路500の動作を説明する。外
部動作を指定する信号513がローの時、この反転信号
5131がハイとなりCPtJブロックからの信号群5
101〜5104が有効となる。この状態で5101.
5104がハイのときLSI外部デバイストリードモー
ド5291がハイとなり。
チップ外部へ読込信号514がハイとなる。さらに52
0,528がハイとなりCPUブロック2からアドレス
信号が201.スイッチ61.アドレスバス41.出力
ドライバフ2を経由して外部アドレス信号519を出力
する。読込信号514とアドレス信号519に応答した
外部データは制御信号527がオンになることで518
.入力ゲート81.内部バスドライバ64.データバス
42.423を経由してCPUブロック2に読込まれる
。このとき制御信号524はロー状態であるから内部バ
ス42に接続されている不揮発性メモリ3.プログラム
論理回路900からデータの混入は生じない。
5131がハイで5102.5104がハイの場合、外
部デバイス書込モード5292がハイとなる。この結果
LSI外部へ書込信号515がハイとなり、さらに52
0,521,526,528がハイとなる。この結果、
CPU2からのアドレス信号は201,61,41.7
2を経由して519に送出され、同時にCPU2からの
データは202,62,42,421.71を経由して
518に送出して外部デバイスへの書込が行なわれる。
5131がハイで5101.5103がハイの状態では
CPUからの内部デバイス読込モード5293がハイと
なり、制御信号520,522゜524がオンになる。
この結果、CPU2からのアドレス信号は201,61
.41を経由して不揮発性メモリブロック4へのアドレ
ス信号426及びプログラマブル論理回路900へのア
ドレス信号5172を送出し、同時に読込信号522が
与えられる。不揮発性メモリブロック4とプログラマブ
ル論理回路900とに同一アドレス空tjn上の異なっ
たアドレスを振り分けておくことでいずれか一方アドレ
ス指定された回路から読出しデータが302.63の経
路あるいは5173.66の経路からデータバス42に
送出され、CPU2へのデータ信号423として読込ま
れる。
一方、513がハイのとき、5131はローとなるので
520と521はローとなりCPU2からアドレスバス
41.データバス42への信号の送出は禁止され、CP
Uブロック2は内部バスから切離される。この状態で5
121がハイになると外部端子からの読出しモード52
94がハイとなり制御信号522,524,525,5
26が生成される。この結果、外部端子からのアドレス
信号519が入力ゲート82.内部アドレスドライバ6
5を経由して不揮発性メモリブロック4へのアドレス4
26を送出し、またプログラマブル論理回路へのアドレ
ス5172を送出し、同時に読込み信号522を不揮発
性メモリ4及びプログラマブル論理回路900に与える
。この結果、外部端子519からのアドレス指定に応答
して4゜900いずれかの回路からの読出し信号が30
2゜63あるいは5173.66を経由してデータバス
42に送出され42,421.71を経由してデータ信
号518として読出される。
513がハイで5122がハイの場合は外部端子からの
書込モード5295がハイとなり、制御信号525,5
27がハイとなる。この結果、アドレス信号519は読
出しモードと同一の経路で不揮発性メモリブロック4と
プログラマブル論理回路900へ与えられ、同時に書込
データ518ノぐ は入力ゲート81.内部バストライズ64.データバス
42を経由して不揮発性メモリブロック4へのデータ信
号424、及びプログラマブル論理回路900へのデー
タ信号5171となる。この状態で外部端子から書込信
号516を4及び900へ与えることで、指定されたア
ドレスに応じて不揮発性メモリブロック4あるいはプロ
グラマブル論理回路900へデータの書込が行なわれる
。書込信号516の電圧は不揮発性メモリブロック4及
びプログラマブル論理回路900に使用する不揮発性デ
バイスに対応して通常10〜25V程度の書込に十分な
電圧とする。電気的に書換え可能なデバイスを用いる場
合は513がハイの状態でアドレスを書込モードと同一
経路で与え、消去電圧を外部端子から3,9に与えるか
、LSIの内部で消去電圧を生成して3.9に与えるこ
とで。
書込、消去を実現できる。
5131がハイで5102.5103がハイの状態では
CPUからの内部デバイス書込モード5296がハイと
なり制御信号5204.521゜523がハイとなる。
この結果CPU2からのアドレスは、201,61,4
1,5172を経由してプログラマブル論理回路900
に転送される。
またCPU2からのデータは202,62,42゜51
71を経由して900に転送され、同時に書込信号52
3が与えられる。これによりプログラマブル論理回路9
00の指定したアドレスへデータの書込が行なわれる。
次にプログラマブル論理回路装置900の構成の実施例
を第10図に示す。第10図において91は不揮発性デ
バイスで構成したNORアレイ、961〜963は論理
モジュール、9461〜9463はセレクタ、9433
はセンスアンプ、9434は書込回路、9431.94
32はアドレスデコーダ、941はデータレジスタ、9
42はアドレスレジスタ、9435はマルチプレクサで
ある。論理モジュール961はNORゲート922、フ
リップフロップ921.セレクタ923゜924、出力
ドライバ925.ANDゲート926゜927で構成さ
れる。本回路961はNORアレイ91の論理の組合せ
を不揮発性デバイスを書込むことで変更し、論理モジュ
ール961のセレクタ923,924の選択条件をあら
かじめ定めることで1種々の論理構造を与えることので
きる可変構造論理である0水回路961〜963は51
71〜5173を経由してデータバス42.アドレスバ
ス41と接続し端子991〜993によりチップ外部と
データの人出力が可能である。513がロー、すなわち
内部動作指定の場合、データの入出力の対象は論理モジ
ュール961.内部のフリップフロップ921となり5
13がハイすなわち外部動作指定の場合はN ORアレ
イ91のNOR論理を構成する不揮発性デバイスへの書
込み、読出しを行なう。以下本回路の動作説明を行なう
CPUブロック2からの読出しモードでは513がロー
となり、アドレスが5172に転送され、読出し信号5
22がハイとなる。従って、5172より与えられたア
ドレスはアドレスレジスタ942にセットされたのちA
NDゲート951.アドレスデコーダ9432でデコー
ドされる。デコーダ9432は961〜963の一連の
論理モジュールに対してデータバス42のビット幅に対
応するビット幅毎に個有のアドレスを割当てる。デコー
ダ5310で選択された論理モジュールのANDゲート
926を経由してフリップフロップ921のデータが出
力し、信号1iA5311.セレクタ9435を通って
5173にデータバス42のビット幅相当のデータが読
出される。CPU2からの書込に対しては513がロー
となり、アドレスが5172.データが5171に転送
され、書込信号523がハイとなる。従って、データは
ANDゲート953を経由して論理モジュール961の
ANDゲート927の入力となり、選択されたアドレス
に対応するフリップフロップに対して書込信号に同期し
てデータが書込まれる。
一方513がハイすなわち外部端子からのアクセスに対
してはアドレスレジスタ942出力はANDゲート95
2.アドレスデコーダ9431を経由してNORアレイ
91のワード線986〜989のいずれかが選ばれる。
書込に対しては5171に転送されたデータがデータレ
ジスタ941にセットされ、ANDゲート954を介し
て書込回路9434に入力される。チップの外部から与
える高電圧の書込信号に同期して、書込データがセレク
タ9461〜9463の入力となる。
アドレスデコーダ9431からのセレクタ選択信号53
12でデータバスのビット幅相当のビット線を選択する
ことより、ビット線981〜985の選択されたビット
線にデータが与えられ、不揮発性デバイスへの書込が、
データバスのビット幅単位に行なわれる。このとき論理
モジュール961内のセレクタ924は信号513によ
って出力をハイインピーダンス状態にし、論理モジュー
ルからワード線986〜989への信号の混入は禁止さ
れる。外部端子からの読出しに対しては書込時と同様に
アドレスデコーダ9431で指定されたNORアレイの
ビット線データがセレクタ9461〜9463を経由し
てセンスアンプ9433で読出され、セレクタ9435
を通って5173に出力される。
以上のごとく外部モード指定信号513の状態によって
513がローのときは論理モジュール961内のフリッ
プフロップとのデータの入出力。
又513がハイの状態では不揮発性デバイスで構成され
たNORアレイ91の書込、読出しが行なわれ、しかも
、データ長を内部データバスの幅と同一に扱うことがで
きる。NORアレイに電気的に消去可能なデバイスを用
いる場合は消去回路を追加することで、vg込と同様の
回路構成で消去動作を実現できる。
本回路はNORアレイ91の不揮発性デバイスの書込、
消去についてはプログラマブル論理回路900のアドレ
ス空間を不揮発性メモリ4と同一にして割当てるアドレ
スを変えることでLSIの外部端子からの書込、消去動
作共通にできる。しかも513がハイ状態ではCPU2
からの信号の送出線は第8図のゲート61.62で切断
されているから、電気的には単体の不揮発性メモリと同
一になる。
プログラマブル論理回路の構成が変っても、例えばNO
Rアレイが複数個ある場合や論理モジュール内の論理の
構造が異なる場合、フリップフロップの個数が異なる場
合、論理モジュールから外部端子への信号線991〜9
93が存在しない場合等においても、チップ内部のCP
Uと外部端子からのアクセスに対して本実施例で示す方
法を実現できる。
第11図(A)に第8図のデータ処理装置2に第13図
に示したプロセッサ2およびEPROM装置4を用いた
場合の不揮発記憶素子を用い回路、すなりちマイクロE
FROM (μEPR<)M)600 、 EPROM
4、およびプログラマブル論理回路装置900の書込お
よびテスト読出し時のアドレスマツプを示す。本実施例
ではアドレスバス41およびデータバス42を上記の不
揮発性記憶素子を用いた回路で共通に使用して、同一の
アドレス空間に配置している。すなわちEPROMはA
〜AE 、 μEPROMはBO−BE、プログラマブ
ル論理回路はG o ” G Eである。このように同
一のアドレス空間に配置し、更に書込みおよびテスト読
出しに必要なアドレス、データ、制御信号の電圧レベル
、タイミングなどを、標準の単体EFROMと同一にす
ることで、上記単体EPROMと同一の書込み装置を使
用して書込みおよびテスト読出マを行なうことができる
第11図(B)にデータ書込みおよびテスト読出しのタ
イミングチャートを示す。書込みおよびテスト読出しに
必要な端子は主電源端子(VCC)。
アドレス入力端子、データ入出力端子、データ入出力方
向制御と書込み用高電気(約12v)を兼用したOE/
VPP端子、チップ選択端子丁である。アドレス入力の
本数は第11図(A)で示したアドレス空間をカバーす
る本数、すなわち32キロバイト(データ幅8ビツト=
1バイト)の場合は15本で構成される。
vCC端子に所定の電圧(5■程度)を印加後。
アドレス端子にアドレス情報を与え、OE/νPP端子
をOvから約12Vに変化させると共にデータ端子に書
込みデータを与え、3丁を5vからOVに変化させると
、上記アドレス情報で選択されたEPROM1子に、上
記データの書込みが開始される。CIE ’r OVに
保持する期間は、EFROM素子の特性で決まるが、約
1m程度である。CEを0■から5vに変化させ、OE
/VPPをOvにすると書込みモードが終了する。
書込んだデータが正常に書込まれたか否かは、アドレス
情報を保持し、OE/VPPをOvのまま、mをOvに
するとデータ端子に上記アドレスで選択された素子のデ
ータを読出すことができる。すなわち読出しテストを行
なうことができる。
同一アドレスでの書込みデータと読出しデータの一致、
不一致により正常な書込みが行なわれたか否かを知るこ
とができる。
上記テストの結果正常な書込みが行なわれていることが
確認できた場合、シングルチップマイクロコンピュータ
の論理回路装置の不揮発性半導体メモリ素子に書込まれ
た上記データに依存したデータ処理をシングルチップマ
イクロコンピュータに実行せしめることが可能となる。
第12図に第3の実施例としてバス8に結合されたプロ
セッサ2 、 EPROM4と、不揮発性記憶素子を含
む複数のプログラマブル論理回路801゜802を有す
る半導体集積回路1の例を示す。第1論理回路801.
第2論理回路802は、それぞれT10803,804
に結合され、集積回路外部との通信を行なう。またバス
8も別のl10805を介して、集積回路外との通信を
行なうことができる。制御回路800は半導体集積回路
1のモード、すなわちノーマル動作や、内蔵した不揮発
性記憶素子への書込み、読出しテストを制御するもので
あり、制御入力fi813に与えられる制御情報に基づ
いて集積回路を制御する。
すなわち半導体集積回路1はノーマルモードでは制御1
iA806〜812にノーマル動作信号を与えて通常の
動作を行なう。
一方、不揮発性記憶素子を含むEPROM、論理回路8
01,802などの装置へのデータの杏込みは制御入力
線813にテストモードが指定されるとプロセッサ2か
らバス8への出力が禁止された上で次のように動作する
(1)制御入力線813でEPROM4とl10805
が選択された場合: バス8への出力はEPROM4とT10805だけとな
り、書込み時には外部線816からEPROM4のアド
レスおよび書込みデータを与え、l10805とバス8
を介してCPROM4に書込みに必要な情報を伝達する
と共に、制御入力813に、例えば第11図(B)で示
した制御信号(GE。
τE/VPP)のような書込み信号を与える。
テスト読出しは制御線に読出し信号を与えてバス8を介
して工10805からデータを読出す。
(2)制御入力線813で[EPROM4とl1080
3が選択された場合: バス8への出力はEPROM4と論理回路801だけと
なり、書込み時にはl10803から書込みに必要な情
報を与え論理回路801およびバス8を介してEPRO
M4に書込む。読出しテストも同様にEPROM4のデ
ータをバス8.論理回路801゜l10803を介して
外部線814にデータを読出す。
(3)制御入力46813で論理回路801または80
2とl10805が選択された場合:バス8への出力は
l10805と論理回路801または802だけとなり
、I 103 、バス8を介して論理回路801または
802へ書込む、読出しテストは論理回路801または
802からバス8.l10805を介して読出す。
(4)制御入力線813で論理回路801または論理回
路802、およびl10803または工10804が選
択された場合:書込み時にはl10803またはl10
804を介して外部線814また815から直接論理回
路801または802へ不揮発性記憶素子の書込みに必
要な情報を与え、上記(1)と同様に制御入力線813
に書込み信号を印加することで行なう、テスト読出しも
バスを介さずに、直接論理回路801または802から
l10803または工10804を介してデータを読出
す。
次にマイクロプログラム制御方式を用いたプロセッサの
例を第13図により説明する0本実施例では不揮発記憶
素子を含む装置として上記のマイクロプログラム格納用
EPROM (以下マイクロEPROMと略す)600
とプログラム記憶用のEPROM624を同一半導体基
板上に有している。
プロセッサ中のCPU2を構成するマイクロEPROM
6(toは、そのデータを書込むためのアドレスバス4
1.データバス42に配線653,652で接続されて
いる書込み回路601と、書込んだデータをテストする
ためアドレスバス41.データバス42に配線651,
650で接続されているテスト読出し回路603と、デ
ータバス42に接続されている命令ラッチ@路602に
接続され、更にノーマル動作時には上記マイクロE F
 ROMのデータを読取るための読出し回路604に接
続される。読出し回路604の出力は、上記命令ラッチ
、メモリのアドレスを作りだすための配線648でアド
レスバス41に接続されたアドレス発生回路606、お
よび配線646でデータバス42に接続された演算回路
605に接続されている。更に上記読出し回路604.
制御回路607゜演算回路605はクロックφ670に
も接続される。
EPROM装置4は、それぞれがアドレスバス41、デ
ータバス42に接続された読出し回路621、書込み回
路622.テスト読出し回路623に接続されたEPR
OM624で構成される。また上記読出し回路621は
プロセッサ2の制御回路607にも接続される。アドレ
スバ41およびデータバス42は配線654,655に
よりクロックφ670で制御されるバスプリチャージ回
路671に接続され、更にアドレスバス41は配線61
2により、半導体集積回路外部から入力される配線61
1に接続された入力回路608に接続され、データバス
42は配線614により外部配線613に対してデータ
を入出力する入出力回路609に接続される6 外部からの制御信号線610に接続された制御信号生成
回路500の出力630〜639は、ノーマル動作と、
EPROM索子eoo、624への書込みテスト動作を
制御するために、上記の各回路に接続される。
以下5動作を説明する。
マイクロEFROM600への書込みは、制御信号入力
線610に書込みモード信号を与え、この状態では制御
信号生成回路500の出力630〜639のうち、書込
み回路601の制御信号636.入力回路608の制御
信号638.入出力回路6092、EPROM装置4、
およびバスプリチャージ回路671からデータバス42
およびアドレスバス41への出力は禁止され、上記各バ
スは書込み回路601を介したマイクロlEPROM6
00への樗込みだけに使用される6入力回路608の外
部接続線611にマイクロEFROM600を構成する
不揮発性記憶素子群から素子を選択するためのアドレス
情報を与え、入力方向に制御された入出力回路609の
外部接続線613に対しては、上記アドレスで選択され
た記憶素子への書込データを与え、制御入力線610に
書込み信号を与える。書込んだデータが正しく書込まれ
たかどうかのテストは、制御入力線610にマイクロE
FROM600にテスト読出し信号を与えると、制御信
号生成回路500の出力630〜639のうち、テスト
読出し回路603の制御信号635.入力回路608の
制御信号638、入出力回路609の制御信号639が
有効になる。
この状態で外部入力線611にアドレス情報を与え、制
御入力線610にマイクロEPROM600のテトス読
出し信号を与えると、入出力回路609は出力方向に制
御され1選択されたマイクロEFROM600の内容が
テスト読出し回路603.接続線650、データバス4
2.接続m614.入出力回路609を介して外部接続
線613にデータが出力される。
EPROM装vIt4のEPROM素子群624への書
込み、およびテスト読出しも、上記のマイクロEFRO
M600の書込み、テスト読出しと同様に制御信号生成
回路500からの制御信号により書込み回路622.テ
スト読出し回路623および入力回路608.入出力回
路609を制御して行なう。
ノーマルモードでの半導体集積回路の動作はクロックφ
670に同期して1次のように動作する。
プロセッサ中のCPU2のアドレス発生回路606で発
生されたアドレス情報がアドレスバス41を介してEP
ROM装置4の読出し回路621に送られ、またCPU
2の制御回路607からの読出し信号線671の信号に
基づきEPROM素子群624のデータが読出され、デ
ータバス42を介して、プロセッサ2の命令ラッチ60
2に取り込まれる。命令ラッチ602に保持している情
報がマイクロEFROM600に与えられ、その情報に
基づきマイクロEFROM600が選択され、読出し回
路604で読出される。
この読出された情報がプロセッサ、および半導体集積回
路の制御情報となる。
すなわち、読出し回路604で読出したマイクロEPR
OM600のデータが制御回路607に入力され。
演算回路605.アドレス発生回路606.命令ラッチ
602.メモリ読出し回路621などの制御が行なわれ
る。またノーマル動作ではクロックφ670に同期して
動作するバスプリチャージ回路671によりデータバス
42.アドレスバス41はプリチャージにより動作する
バスになる。
すなわち、半導体集積回路の一連の動作はプロセッサに
供給されるクロックに同期して動作する。
上記のCPU2のテスト読出し回路603と読出し回路
604の並列出力ビツト数は等しい必要は無く、また本
実施例ではテスト読出し回路603からの並列出力ビツ
ト数をデータバス42のビット数と等しくなっている。
第14図に他の実施例として集積回路に内蔵したプロセ
ッサにより、内蔵EPROMまたはプログラマブル論理
回路への書込みおよび読出しテストを行なう構成例を示
す。
制御入力[700に接続され、半導体集積回路1のモー
ドを制御するための制御入力回路701で制御されるプ
ロセッサ2.書込みプログラムおよびテストプログラム
を記憶するためのROM702 、 EPROM4.不
揮発性メモリ素子で構成されたプログラマブル論理回路
900は、それぞれデータバス42およびアドレスバス
41に接続されている。
また、半導体集積回路1と外部とのデータ、アドレス等
の通信を行なうための、プロセッサ2で制御される入出
力回路7もデータバス42に接続されている。更に半導
体集積回路1の外部装置に対して制御情報を与えるため
の制御出力回路703はプロセッサ2により制御される
。制御入力線700に対してFROMを有するEPRO
M4、または論理回路900への書込みモードを与える
と制御入力回路701を介してプロセッサ2に情報が伝
えられ、プロセッサ2は書込みプログラムが記憶されて
いるROM702のプログラムに従って次のように動作
する。
プロセッサ2は制御出力回路703を介して集積回路外
部に対して、書込みに必要な情報、すなわちアドレス情
報およびデータを要求し、入出力回路7を入力方向に制
御し、データバス42を介してプロセッサ2に情報を取
り込む6次に、プロセッサ2その情報に基づき、lEP
ROM4または論理装置を識別し、書込みを実行し、書
込みが終了後、書込んだデータを読出しプロセッサに取
り込み。
書込みデータとの比較を行ない、正常な書込みか異常な
書込みかを判定し、その結果を制御出力回路703を介
して集積回路外部に出力する。この場合、もし異常な書
込みの場合は、結果出力後。
プロセッサをストップし、書込みプログラムを停止する
一方、正常な書込みが行なわれたら、再び書込みに必要
な情報を得るための要求信号を出力し。
以後その動作をくり返す。
上記の動作例は1つの例であり、ROM 702のプロ
グラムの書き方によって1種々の書き込みおよびテスト
方式が実現できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、シングルチップマイコンの汎用性を高
めることができるため、上記のマイコン周辺を構成する
部品点数を削減することができる。
また、ユーザが自分の手で論理情報を書き込むことがで
きるため1回路変更が生じた場合も速やかに対処できる
ので、コストの低減効果も大きい。
また、不揮発性デバイスを含むプログラマブル論理回路
と不揮発性メモリとデータ処理装置(CPUなど)を含
む半導体回路においてプログラマブル論理回路内の不揮
発性デバイスへの書込、消去に対してアドレス指定、デ
ータの与え方を同一にできる。不揮発性デバイスへの書
込、消去は通常、揮発性の半導体素子により構成された
メモリ例えばRAMへの書込、読出しに比べ、書込ある
いは消去の時間が長く、高電圧を必要とし場合によって
は特定の順序で処理することが必要であり、この為の書
込あるいは消去回路を専用に準備する必要がある。本発
明によるとプログラマブル論理回路に含まれる不揮発性
デバイスに対して不揮発性メモリと同一のアドレス、デ
ータ制御信号インタフェースにすることで、これらの書
込あるいは消去回路を不揮発性メモリと共通化できる効
果がある。特に外部端子から書込、WJ去を行なうには
従来、不揮発性メモリの仕様にあった書込装置を使って
書込、消去あるいはテストを行なう6本発明によれば内
蔵するプログラマブル論理回路装置に対しても同一の書
込装置が使える効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例によるシングルチップマ
イコンのブロック図、第2図は第1図中のPLAの詳細
ブロック図、第3図および第4図は第1図中のPLAの
回路構成をさらに詳細に説明するための回路図、第5図
は第1図の実施例の機能を説明するための図、第6図は
本発明の第2の実施例によるシングルチップマイコンの
ブロック図、第7図は第6図中のサブプロセッサ100
の詳細ブロック図、第8図はソフトウェア格納用の不揮
発性メモリブロックをチップ内にさらに内蔵した本発明
の第3の実施例によるシングルチップマイコンのブロッ
ク図、第9図は第8図中の制御信号生成回路の詳細ブロ
ック図、第10図は第8図中のプログラマブル論理回路
装置の詳細ブロック図、第11図(A)は本発明の実施
例のシングルチップマイコンのアドレス空間を示す図、
第11図(B)は本発明の実施例のシングルチップマイ
コンのデータ書込みおよびテスト読出しのタイミングチ
ャートを示す図、第12図は本発明の第4の実施例によ
るシングルチップマイコンのブロック図、第13図は本
発明の第5の実施例によるシングルチップマイコンのブ
ロック図、第14図は本発明の第6の実施例によるシン
グルチップマイコンのブロック図である。 1・・・半導体基板、2・・・データ処理装置あるいは
CPU、4・・・不揮発性メモリ、5・・・プロセッサ
、6−P L A、7 a 、 7 b 、 7 c 
−入出力回路。 20・・・AND面、21・・・OR面、22・・・ラ
ッチ回路、23・・・入力選択回路、41・・・アドレ
スバス、42・・・データバス、91・・・NORアレ
イ、50゜・・・制御信号生成回路、900・・・プロ
グラマブル論芽 )匿 /ぞ導利麻 ダ フ10辷vf 芽3呂 A、AノΔ、/IJ 笑 4m 弄5″図 (ハ) 七←   乙   図 /ρ0  vフ・・プロで、ツブ 弄 7 図 /’7   fsQ 茅11図 (A) ¥/Z図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、CPUを内蔵するシングルチップマイクロコンピュ
    ータであつて、 電気的に書き込み可能な不揮発性半導体メモリ素子を含
    む論理回路装置をチップ内に具備することを特徴とする
    シングルチップマイクロコンピュータ。 2、上記不揮発性半導体メモリ素子への電気的書き込み
    によつて上記論理回路装置の論理機能が任意に構成され
    る如く上記論理回路装置はプログラマブルな可変論理構
    造を有してなることを特徴とする請求項1記載のシング
    ルチップマイクロコンピュータ。 3、上記論理回路装置は上記CPUとチップ外部とのデ
    ータ通信を制御することを特徴とする請求項1記載のシ
    ングルチップマイクロコンピュータ。 4、上記論理回路装置は論理積実行部と論理和実行部と
    からなり、 上記CPUに接続されたアドレスバスとデータバスと、
    上記データバスに接続されI/Oポート手段と、上記論
    理回路装置の上記論理積実行部の入力と上記アドレスバ
    スおよび上記データバスとの間に接続された入力選択手
    段とを上記チップ内に具備してなることを特徴とする請
    求項1記載のシングルチップマイクロコンピュータ。 5、上記論理回路装置の上記論理和実行部の出力と上記
    データバスおよび上記I/Oポート手段との接続された
    出力選択手段を上記チップ内にさらに具備してなること
    を特徴とする請求項4記載のシングルチップマイクロコ
    ンピュータ。 6、上記CPUに接続されたアドレスバスとデータバス
    と、上記アドレスバスと上記データバスとに接続された
    不揮発性メモリブロックとを上記チップ内にさらに具備
    してなり、 上記アドレスバスと上記データバスとに上記論理回路装
    置を接続してなることを特徴とする請求項1、2、3の
    いずれかに記載のシングルチップマイクロコンピュータ
    。 7、不揮発性メモリブロックにはシングルチップマイク
    ロコンピュータのソフトウェアーが格納されてなること
    を特徴とする請求項6記載のシングルチップマイクロコ
    ンピュータ。 8、上記アドレスバスおよび上記データバスと上記CP
    Uとの間に接続された第1信号伝達手段と、 上記アドレスバスおよび上記データバスと上記不揮発性
    メモリブロックとの間に接続された第2信号伝達手段と
    、 上記アドレスバスおよび上記データバスと上記論理回路
    装置との間に接続された第3信号伝達手段と、 チップ外部と上記アドレスバスおよび上記データバスと
    の間に接続された第4信号伝達手段と、 上記チップ外部からの外部制御信号に応答して上記第1
    乃至第4信号伝達手段のいずれかの信号伝達機能を停止
    する如く内部制御信号を発生する制御信号生成手段とを
    チップ内に具備してなることを特徴とする請求項6記載
    のシングルチップマイクロコンピュータ。 9、上記論理回路装置は上記CPU内のマイクロROM
    を構成してなることを特徴とする請求項1、2、6、7
    のいずれかに記載のシングルチップマイクロコンピュー
    タ。 10、請求項1乃至9のいずれかに記載のシングルチッ
    プマイクロコンピュータを用いたデータ処理方法であつ
    て、 上記論理回路装置の上記不揮発性半導体メモリ素子のデ
    ータを電気的に書き込む第1のステップと、 上記第1のステップで電気的に書き込まれたデータを読
    み出して正常な書き込みが行われたか否かをテストする
    第2のステップと、 上記第2のステップのテスト結果が正常な場合、上記第
    1のステップで電気的に書き込まれた上記データに関係
    したデータ処理動作を上記シングルチップマイクロコン
    ピュータに実行せしめる第3のステップとを含むことを
    特徴とするデータ処理方法。 11、入力信号に応答して出力信号を生成する機能回路
    ブロックをチップ内に内蔵する半導体集積回路であつて
    、 上記機能回路ブロックの動作に関連した上記半導体集積
    回路の動作を制御するための制御回路ブロックを上記チ
    ップ内にさらに具備してなり、 上記制御回路ブロックは電気的に書き込み可能な不揮発
    性半導体メモリ素子を含む論理回路装置を含んでなるこ
    とを特徴とする半導体集積回路。 12、上記半導体集積回路と上記機能回路ブロックとは
    それぞれシングルチップマイクロコンピュータとCPU
    であり、 上記不揮発性半導体メモリ素子への電気的書き込みによ
    つて上記論理回路装置の論理機能が任意に構成される如
    く上記論理回路装置はプログラマブルな可変論理構造を
    有してなることを特徴とする請求項11記載のシングル
    チップマイクロコンピュータ。 13、請求項11記載の半導体集積回路を用いた信号処
    理方法であつて、 上記論理回路装置の上記不揮発性半導体メモリ素子にデ
    ータを電気的に書き込む第1のステップと、 上記第1のステップで電気的に書き込まれたデータを読
    み出して正常な書き込みが行われたか否かをテストする
    第2のステップと、 上記第2のステップのテスト結果が正常な場合、上記第
    1のステップで電気的に書き込まれた上記データに関係
    した信号処理動作を上記半導体集積回路に実行せしめる
    第3のステップとを含むことを特徴とする信号処理方法
    。 14、請求項12記載の半導体集積回路に構成されたマ
    イクロコンピュータを用いたデータ処理方法であつて、 上記論理回路装置の上記不揮発性半導体メモリ素子にデ
    ータを電気的に書き込む第1のステップと、 上記第2のステップで電気的に書き込まれたデータを読
    み出して正常な書き込みが行われたか否かをテストする
    第2のステップと、 上記第1のステップのテスト結果が正常な場合、上記第
    1のステップで電気的に書き込まれた上記データに関係
    したデータ処理動作を上記半導体集積回路に構成された
    マイクロコンピュータに実行せしめる第3のステップと
    を含むことを特徴とするデータ処理方法。
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