JPH01112182A - モード設定回路 - Google Patents
モード設定回路Info
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- JPH01112182A JPH01112182A JP62269553A JP26955387A JPH01112182A JP H01112182 A JPH01112182 A JP H01112182A JP 62269553 A JP62269553 A JP 62269553A JP 26955387 A JP26955387 A JP 26955387A JP H01112182 A JPH01112182 A JP H01112182A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
本発明はLSIの内部に構成され、LSIの動作モード
又はテストモードの設定を行うモード設定回路に関し、
特に、少ない外部入力端子数で多種のモード設定を行え
るようにしたモード設定回路に関する。
又はテストモードの設定を行うモード設定回路に関し、
特に、少ない外部入力端子数で多種のモード設定を行え
るようにしたモード設定回路に関する。
[従来の技術]
LSI内部の動作モードを設定するためのモード設定回
路は、モード設定のためのLSIの外部端子数を極力少
なくするという要求から、通常は第5図に示すような2
進−10進デコーダ回路21により構成されることが多
い。即ち、このデコーダ回路21は、外部端子に接続さ
れた3つの入力端子22.23.24と、内部回路にモ
ー1へ設定信号を供給するための8つの出力端子25゜
26.27,28,29,30,31.32とを備えた
ものであり、3つのモード設定用の外部端子によって8
つのモードを設定することができる。
路は、モード設定のためのLSIの外部端子数を極力少
なくするという要求から、通常は第5図に示すような2
進−10進デコーダ回路21により構成されることが多
い。即ち、このデコーダ回路21は、外部端子に接続さ
れた3つの入力端子22.23.24と、内部回路にモ
ー1へ設定信号を供給するための8つの出力端子25゜
26.27,28,29,30,31.32とを備えた
ものであり、3つのモード設定用の外部端子によって8
つのモードを設定することができる。
一般に入力端子数nのモード設定回路では2nのモード
を設定することができる。
を設定することができる。
[発明が解決しようとする問題点]
ところが、最近のLSIの高集積化に伴い、LSIの多
機能化又はテスティングの複雑化が増々進み、同−LS
Iで設定すべき動作モード又はテストモードの数も増加
の一途をたどっている。
機能化又はテスティングの複雑化が増々進み、同−LS
Iで設定すべき動作モード又はテストモードの数も増加
の一途をたどっている。
そのため、上述した従来のモード設定回路では設定すべ
きモード数の増加によってLSIの外部入力端子数が無
制限に増加するという問題があった。
きモード数の増加によってLSIの外部入力端子数が無
制限に増加するという問題があった。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
少ない外部入力端子数で多数のモードを設定することが
できるモード設定回路を提供することを目的とする。
少ない外部入力端子数で多数のモードを設定することが
できるモード設定回路を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本発明に係るモード設定回路は、集積回路の外部端子を
介してシリアル入力されたモード設定データをパラレル
データに変換する直並列変換回路と、この直並列変換回
路からのパラレルデータをデコードして集積回路内部の
モードを決定するモード設定信号を発生させるデコーダ
回路とを有することを特徴とする。
介してシリアル入力されたモード設定データをパラレル
データに変換する直並列変換回路と、この直並列変換回
路からのパラレルデータをデコードして集積回路内部の
モードを決定するモード設定信号を発生させるデコーダ
回路とを有することを特徴とする。
[作用]
モード設定データは、集積回路の外部端子を介してシリ
アルに入力され、直並列変換回路にて並列データに変換
されデコーダ回路の入力として与えられる。モード設定
用の外部端子としては、シリアルデータを入力する唯一
の端子を備えれば良く、必要であればシフトクロックを
導入する外部端子等を設ければ良い。本発明によれば、
設定すべきモード数が増えてデコーダ回路の入出力端子
数が増えても、直並列変換回路の長さを変化させるのみ
で集積回路の外部端子数は変わらない。
アルに入力され、直並列変換回路にて並列データに変換
されデコーダ回路の入力として与えられる。モード設定
用の外部端子としては、シリアルデータを入力する唯一
の端子を備えれば良く、必要であればシフトクロックを
導入する外部端子等を設ければ良い。本発明によれば、
設定すべきモード数が増えてデコーダ回路の入出力端子
数が増えても、直並列変換回路の長さを変化させるのみ
で集積回路の外部端子数は変わらない。
[実施例]
以下、添付の図面を参照して本発明の実施例について説
明する。
明する。
第1図は本発明の第1の実施例に係るモード設定回路の
構成を示す回路図である。このモード設定回路は、L
S Iの内部に構成され、直並列変換回路りと、デコー
ダ回路2とで構成されている。
構成を示す回路図である。このモード設定回路は、L
S Iの内部に構成され、直並列変換回路りと、デコー
ダ回路2とで構成されている。
直並列変換回路1は、3つのフリップフロップ回路(以
下、F/Fという)3,4.5を多段接続してなるシフ
トレジスタで、初段のF/F3の入力端子(I)がLS
Iのモード設定データ入力用の外部端子6に接続され、
各段のクロック入力端子(C)がデータ読込みクロック
入力用の外部端子7に接続され、更に、各段の出力端子
(0)がデコーダ回路2の入力端子(■□、Iz、I3
)に接続されたものとなっている。デコーダ回路2は、
3つの入力端子(II〜I3)に入力された2進コード
を10進コードに変換して8つの出力端子1o乃至17
のいずれか1つにモード設定信号を発生させる。
下、F/Fという)3,4.5を多段接続してなるシフ
トレジスタで、初段のF/F3の入力端子(I)がLS
Iのモード設定データ入力用の外部端子6に接続され、
各段のクロック入力端子(C)がデータ読込みクロック
入力用の外部端子7に接続され、更に、各段の出力端子
(0)がデコーダ回路2の入力端子(■□、Iz、I3
)に接続されたものとなっている。デコーダ回路2は、
3つの入力端子(II〜I3)に入力された2進コード
を10進コードに変換して8つの出力端子1o乃至17
のいずれか1つにモード設定信号を発生させる。
第2図は、このように、構成された本実施例のモード設
定回路の動作タイミングを示すタイムチャート図である
。
定回路の動作タイミングを示すタイムチャート図である
。
外部端子6によりシリアルに入力されるモード設定デー
タは、データ読込みクロックの立上がりでF/F3に順
次読込まれる。F/F3,4に保持されたデータは、デ
ータ読込みクロックの立上かりて次段のF/F4.5に
夫々転送される。従って、この回路では、データ読込み
クロックの3クロツク目の立上がり時点(T1)でシリ
アル入力された3ビツトのモード設定データが全て読込
まれ、直並列変換されてデコーダ2に与えられることに
なる。データ読込みクロックは、図示のように3ビツト
のモード設定データを全て読込んな後、ローレベル又は
ハイレベルに固定され、各F/F3乃至4の出力を固定
する。
タは、データ読込みクロックの立上がりでF/F3に順
次読込まれる。F/F3,4に保持されたデータは、デ
ータ読込みクロックの立上かりて次段のF/F4.5に
夫々転送される。従って、この回路では、データ読込み
クロックの3クロツク目の立上がり時点(T1)でシリ
アル入力された3ビツトのモード設定データが全て読込
まれ、直並列変換されてデコーダ2に与えられることに
なる。データ読込みクロックは、図示のように3ビツト
のモード設定データを全て読込んな後、ローレベル又は
ハイレベルに固定され、各F/F3乃至4の出力を固定
する。
この回路によれば、外部端子としてモード設定データ入
力用の端子と、データ読込みクロック入力用の端子との
2つの端子を備えるだけで、8つのモードを設定するこ
とができる。設定モード数を更に増やす場合には、直並
列変換回路1のF/Fの段数を更に増加させれば良い。
力用の端子と、データ読込みクロック入力用の端子との
2つの端子を備えるだけで、8つのモードを設定するこ
とができる。設定モード数を更に増やす場合には、直並
列変換回路1のF/Fの段数を更に増加させれば良い。
第3図は本発明の他の実施例を示す回路図である。この
回路が第1図に示す実施例と異なる点は直並列変換回路
LLが4段のF/F12,13゜14.15で構成され
ている点及び最終段のF/F15の出力がデコーダ回路
16のイネーブル端子(EN)に与えられている点であ
る。デコーダ回路16は、イネーブル端子にローレベル
が与えられているときは、モード設定信号は発生させず
、イネーブル端子にハイレベルが与えられているときに
のみモード設定信号を発生させる。
回路が第1図に示す実施例と異なる点は直並列変換回路
LLが4段のF/F12,13゜14.15で構成され
ている点及び最終段のF/F15の出力がデコーダ回路
16のイネーブル端子(EN)に与えられている点であ
る。デコーダ回路16は、イネーブル端子にローレベル
が与えられているときは、モード設定信号は発生させず
、イネーブル端子にハイレベルが与えられているときに
のみモード設定信号を発生させる。
この回路によれば、第4図のタイムチャート図に示すよ
うに、モード設定データの入力に先立って、II I
I+レベルデータを与え、続く3ビツトでモード設定デ
ータを与えるようにすることで、データ読込みクロック
の4クロツク目の立上がり時点(T2)、即ちモード設
定データが全て直並列変換回路11に読込まれた時点で
モード設定信号が出力される。従って、この実施例によ
れば、LSI内部のイニシャル状態を一定にした状態で
モード設定が行えるという利点がある。
うに、モード設定データの入力に先立って、II I
I+レベルデータを与え、続く3ビツトでモード設定デ
ータを与えるようにすることで、データ読込みクロック
の4クロツク目の立上がり時点(T2)、即ちモード設
定データが全て直並列変換回路11に読込まれた時点で
モード設定信号が出力される。従って、この実施例によ
れば、LSI内部のイニシャル状態を一定にした状態で
モード設定が行えるという利点がある。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、直並列変換回路
を用いてモード設定データを直列入力するようにしたの
で、設定モード数が増加してもモード設定データ入力用
の外部端子数を増加させる必要がなく、少ない端子数で
多数のモード設定が可能であるという効果がある。
を用いてモード設定データを直列入力するようにしたの
で、設定モード数が増加してもモード設定データ入力用
の外部端子数を増加させる必要がなく、少ない端子数で
多数のモード設定が可能であるという効果がある。
第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図、第2図は
同回路の動作を示すタイムチャート図、第3図は本発明
の第2の実施例を示す回路図、第4図は同回路の動作を
示すタイムチャート図、第5図は従来のモード設定回路
の回路図である。 1.11;直並列変換回路、2,16,2]、。 デコーダ回路、3〜5.12〜15;フリップフロップ
回路、6,7;外部端子
同回路の動作を示すタイムチャート図、第3図は本発明
の第2の実施例を示す回路図、第4図は同回路の動作を
示すタイムチャート図、第5図は従来のモード設定回路
の回路図である。 1.11;直並列変換回路、2,16,2]、。 デコーダ回路、3〜5.12〜15;フリップフロップ
回路、6,7;外部端子
Claims (3)
- (1)集積回路の内部に構成され、外部端子を介してシ
リアル入力されたモード設定データをパラレルデータに
変換する直並列変換回路と、この直並列変換回路からの
前記パラレルデータをデコードして前記集積回路内部の
モードを決定するモード設定信号を発生させるデコーダ
回路とを有することを特徴とするモード設定回路。 - (2)前記直並列変換回路は、複数のフリップフロップ
回路を多段接続してなるシフトレジスタからなることを
特徴とする特許請求の範囲第1項に記載のモード設定回
路。 - (3)前記複数のフリップフロップ回路のうち、最も後
段のフリップフロップ回路の出力は、前記デコーダ回路
のイネーブル端子に接続されていることを特徴とする特
許請求の範囲第2項に記載のモード設定回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62269553A JPH07113660B2 (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | モード設定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62269553A JPH07113660B2 (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | モード設定回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01112182A true JPH01112182A (ja) | 1989-04-28 |
JPH07113660B2 JPH07113660B2 (ja) | 1995-12-06 |
Family
ID=17473981
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62269553A Expired - Lifetime JPH07113660B2 (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | モード設定回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07113660B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0447281A (ja) * | 1990-06-13 | 1992-02-17 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体集積回路のテスト回路 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5745945A (en) * | 1980-09-02 | 1982-03-16 | Toshiba Corp | Semiconductor integrated circuit device |
JPS59188572A (ja) * | 1983-04-11 | 1984-10-25 | Seiko Epson Corp | 半導体試験回路 |
JPS62115857A (ja) * | 1985-11-15 | 1987-05-27 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
-
1987
- 1987-10-26 JP JP62269553A patent/JPH07113660B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5745945A (en) * | 1980-09-02 | 1982-03-16 | Toshiba Corp | Semiconductor integrated circuit device |
JPS59188572A (ja) * | 1983-04-11 | 1984-10-25 | Seiko Epson Corp | 半導体試験回路 |
JPS62115857A (ja) * | 1985-11-15 | 1987-05-27 | Nec Corp | 半導体集積回路装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0447281A (ja) * | 1990-06-13 | 1992-02-17 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体集積回路のテスト回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07113660B2 (ja) | 1995-12-06 |
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