JPH07113660B2 - モード設定回路 - Google Patents

モード設定回路

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JPH07113660B2
JPH07113660B2 JP62269553A JP26955387A JPH07113660B2 JP H07113660 B2 JPH07113660 B2 JP H07113660B2 JP 62269553 A JP62269553 A JP 62269553A JP 26955387 A JP26955387 A JP 26955387A JP H07113660 B2 JPH07113660 B2 JP H07113660B2
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邦晴 伊藤
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NEC Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はLSIの内部に構成され、LSIの動作モード又はテ
ストモードの設定を行うモード設定回路に関し、特に、
少ない外部入力端子数で多種のモード設定を行えるよう
にしたモード設定回路に関する。
[従来の技術] LSI内部の動作モードを設定するためのモード設定回路
は、モード設定のためのLSIの外部端子数を極力少なく
するという要求から、通常は第5図に示すような2進−
10進デコーダ回路21により構成されることが多い。即
ち、このデコーダ回路21は、外部端子に接続された3つ
の入力端子22,23,24と、内部回路にモード設定信号を供
給するための8つの出力端子25,26,27,28,29,30,31,32
とを備えたものであり、3つのモード設定用の外部端子
によって8つのモードを設定することができる。一般に
入力端子数nのモード設定回路では2nのモードを設定す
ることができる。
[発明が解決しようとする問題点] ところが、最近のLSIの高集積化に伴い、LSIの多機能化
又はテスティングの複雑化が増々進み、同一LSIで設定
すべき動作モード又はテストモードの数も増加の一途を
たどっている。
そのため、上述した従来のモード設定回路では設定すべ
きモード数の増加によってLSIの外部入力端子数が無制
限に増加するという問題があった。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
少ない外部入力端子数で多数のモードを設定することが
できるモード設定回路を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] 本発明に係るモード設定回路は、集積回路の外部端子を
介してシリアル入力されたモード設定データをパラレル
データに変換する直並列変換回路と、この直並列変換回
路からのパラレルデータをデコードして集積回路内部の
モードを決定するモード設定信号を発生させるデコーダ
回路とを有するモード設定回路において、前記直並列変
換回路は、複数のフリップフロップ回路を多段接続して
なるシフトレジスタからなり、前記複数のフリップフロ
ップ回路のうち、最も後段のフリップフロップ回路の出
力は、前記デコード回路のイネーブル端子に接続されて
いることを特徴とする。
[作用] モード設定データは、集積回路の外部端子を介してシリ
アルに入力され、直並列変換回路にて並列データに変換
されデコーダ回路の入力として与えられる。モード設定
用の外部端子としては、シリアルデータを入力する唯一
の端子を備えれば良く、必要であればシフトクロックを
導入する外部端子等を設ければ良い。本発明によれば、
設定すべきモード数が増えてデコーダ回路の入出力端子
数が増えても、直並列変換回路の長さを変化させるのみ
で集積回路の外部端子数は変わらない。
また、本発明においては、モード設定データの最初のデ
ータを「1」にしておくと、データ入力終了時にシフト
レジスタの最終段にこの「1」のデータがきているの
で、このデータ入力終了時にデコーダのイネーブル端子
にこの「1」が入力され、デコーダを起動してモード設
定信号を出力させることができる。これにより、LSI内
部のイニシャル状態を一定にした状態でモード設定を行
うことができる。
[実施例] 以下、添付の図面を参照して本発明の実施例について説
明する。
第1図はモード設定回路の構成を示す回路図である。こ
のモード設定回路は、LSIの内部に構成され、直並列変
換回路と、デコーダ回路2とで構成されている。直並
列変換回路は、3つのフリップフロップ回路(以下、
F/Fという)3,4,5を多段接続してなるシフトレジスタ
で、初段のF/F3の入力端子(I)がLSIのモード設定デ
ータ入力用の外部端子6に接続され、各段のクロック入
力端子(C)がデータ読込みクロック入力用の外部端子
7に接続され、更に、各段の出力端子(O)がデコーダ
回路2の入力端子(I1,I2,I3)に接続されたものとなっ
ている。デコーダ回路2は、3つの入力端子(I1〜I3
に入力された2進コードを10進コードに変換して8つの
出力端子10乃至17のいずれか1つにモード設定信号を発
生させる。
第2図は、このように、構成された本実施例のモード設
定回路の動作タイミングを示すタイムチャート図であ
る。
外部端子6によりシリアルに入力されるモード設定デー
タは、データ読込みクロックの立上がりでF/F3に順次読
込まれる。F/F3,4に保持されたデータは、データ読込み
クロックの立上がりで次段のF/F4,5に夫々転送される。
従って、この回路では、データ読込みクロックの3クロ
ック目の立上がり時点(T1)でシリアル入力された3ビ
ットのモード設定データが全て読込まれ、直並列変換さ
れてデコーダ2に与えられることになる。データ読込み
クロックは、図示のように3ビットのモード設定データ
を全て読込んだ後、ローレベル又はハイレベルに固定さ
れ、各F/F3乃至4の出力を固定する。
この回路によれば、外部端子としてモード設定データ入
力用の端子と、データ読込みクロック入力用の端子との
2つの端子を備えるだけで、8つのモードを設定するこ
とができる。設定モード数を更に増やす場合には、直並
列変換回路1のF/Fの段数を更に増加させれば良い。
第3図は本発明の実施例を示す回路図である。この回路
が第1図に示す回路と異なる点は、直並列変換回路41が
4段のF/F42,43,44,45で構成されている点及び最終段の
F/F45の出力がデコーダ回路46のイネーブル端子(EN)
に与えられている点である。デコーダ回路46は、イネー
ブル端子にローレベルが与えられているときは、モード
設定信号は発生させず、イネーブル端子にハイレベルが
与えられているときにのみモード設定信号を発生させ
る。
この回路によれば、第4図のタイムチャート図に示すよ
うに、モード設定データの入力に先立って、“1"レベル
データを与え、続く3ビットでモード設定データを与え
るようにすることで、データ読込みクロックの4クロッ
ク目の立上がり時点(T2)、即ちモード設定データが全
て直並列変換回路44に読込まれた時点でモード設定信号
が出力される。従って、この実施例によれば、LSI内部
のイニシャル状態を一定にした状態でモード設定が行え
るという利点がある。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、直並列変換回路
を用いてモード設定データを直列入力するようにしたの
で、設定モード数が増加してもモード設定データ入力用
の外部端子数を増加させる必要がなく、少ない端子数で
多数のモード設定が可能であるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図、第2図は
同回路の動作を示すタイムチャート図、第3図は本発明
の第2の実施例を示す回路図、第4図は同回路の動作を
示すタイムチャート図、第5図は従来のモード設定回路
の回路図である。44;直並列変換回路、2,16,21;デコーダ回路、3〜
5,42〜45;フリップフロップ回路、6,7;外部端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】集積回路の内部に構成され、外部端子を介
    してシリアルに入力されたモード設定データをパラレル
    データに変換する直並列変換回路と、この直並列変換回
    路からの前記パラレルデータをデコードして前記集積回
    路内部のモードを決定するモード設定信号を発生させる
    デコード回路とを有するモード設定回路において、前記
    直並列変換回路は、複数のフリップフロップ回路を多段
    接続してなるシフトレジスタからなり、前記複数のフリ
    ップフロップ回路のうち、最も後段のフリップフロップ
    回路の出力は、前記デコード回路のイネーブル端子に接
    続されていることを特徴とするモード設定回路。
JP62269553A 1987-10-26 1987-10-26 モード設定回路 Expired - Lifetime JPH07113660B2 (ja)

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JPH01112182A JPH01112182A (ja) 1989-04-28
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0447281A (ja) * 1990-06-13 1992-02-17 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路のテスト回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5745945A (en) * 1980-09-02 1982-03-16 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit device
JPS59188572A (ja) * 1983-04-11 1984-10-25 Seiko Epson Corp 半導体試験回路
JPS62115857A (ja) * 1985-11-15 1987-05-27 Nec Corp 半導体集積回路装置

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JPH01112182A (ja) 1989-04-28

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