JP6564563B2 - 積層体の加工装置 - Google Patents
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Description
本実施の形態では、本発明の一態様の積層体の加工装置について説明する。なお、当該加工装置の用途は限定されないが、特に可撓性基板を有する半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、または発電装置等の製造工程に用いることが有用である。
本実施の形態では、本発明の一態様の積層体の加工装置について実施の形態1とは異なる形態を説明する。なお、当該加工装置の用途は限定されないが、特に可撓性基板を有する半導体装置、表示装置、発光装置、蓄電装置、または発電装置等の製造工程に用いることが有用である。
本実施の形態では、実施の形態1で説明した本発明の一態様の積層体の加工装置を含む、積層体の加工装置について説明する。
第1の供給ユニット100は、加工部材80を供給する。例えば、搬送手段111が加工部材80を連続して搬送することができるように、複数の加工部材80を収納することができる多段式の収納庫を備える構成とすることができる。
第1の分離ユニット300は、加工部材80の一方の表面を保持する手段と、対向する他方の表面を保持する手段を備える。それぞれの保持手段を引き離すことにより、加工部材80の一方の表面を剥離して、第1の残部80aを分離する。なお、第1の分離ユニット300の詳細は、実施の形態1を参照することができる。
第1の貼り合わせユニット400は、第1の接着層31を形成する手段と、第1の接着層31を用いて第1の残部80aと第1の支持体41を貼り合わせる圧着手段を備える。
支持体供給ユニット500は、第1の支持体41を供給する。例えば、ロール状で供給されるフィルムを巻き出して、所定の長さに断裁し、表面を活性化して、第1の支持体41として供給する。
加工部材80が第1の供給ユニット100に搬入される。第1の供給ユニット100は加工部材80を供給し、搬送手段111は加工部材80を搬送し、第1の分離ユニット300に供給する。なお、本実施の形態では、剥離の起点13sがあらかじめ接合層30の端部近傍に形成された加工部材80を用いる場合について説明する(図12(B−1)および図12(B−2)参照)。
第1の分離ユニット300が、加工部材80の一方の表面80bを剥離する。具体的には、接合層30の端部近傍に形成された剥離の起点13sから、第1の基板11を第1の剥離層12と共に第1の被剥離層13から分離する(図12(C)参照)。
搬送手段111が第1の残部80aを搬送し、支持体供給ユニット500が、第1の支持体41を供給する。
搬送手段111が積層体81を搬送し、第1の積み出しユニットを兼ねる第1の供給ユニット100は積層体81を供給される。
なお、第1の接着層31の硬化に時間を要する場合は、第1の接着層31が硬化していない状態の積層体81を積み出して、第1の接着層31を積層体の加工装置1000の外部で硬化させると、装置の占有時間を短縮できるため好ましい。
本実施の形態では、実施の形態3で説明した本発明の一態様の積層体の加工装置および実施の形態1および実施の形態2で説明した本発明の一態様の積層体の加工装置を含む、積層体の加工装置について説明する。
第2の供給ユニット600は、積層体91を供給する他は、実施の形態3で説明する第1の供給ユニットと同様の構成を適用することができる。
起点形成ユニット700は、例えば、第1の支持体41および第1の接着層31を切断し且つ第2の被剥離層23の一部を第2の剥離層22から剥離する切断手段を備える。
第2の分離ユニット800は、積層体91の一方の表面を保持する手段と、対向する他方の表面を保持する手段を備える。二つの保持手段を引き離すことにより、積層体91の一方の表面を剥離して、第2の残部91aを分離する。
第2の貼り合わせユニット900は、第2の接着層32を形成する手段と、第2の接着層32を用いて第2の残部91aと第2の支持体42を貼り合わせる圧着手段を備える。
加工部材90が第1の供給ユニット100に搬入される。第1の供給ユニット100は加工部材90を供給し、搬送手段111は、加工部材90を搬送し、第1の分離ユニット300に供給する。
第1の分離ユニット300が、加工部材90の一方の表面90bを剥離する。具体的には、接合層30の端部近傍に形成された剥離の起点13sから、第1の基板11を第1の剥離層12と共に第1の被剥離層13から分離する(図14(C)参照)。
搬送手段111が第1の残部90aを搬送し、支持体供給ユニット500が、第1の支持体41を供給する。
搬送手段111が積層体91を搬送し、第1の積み出しユニットを兼ねる第1の供給ユニット100は積層体91を供給される。
積層体91が第2の供給ユニット600に搬入される。第2の供給ユニット600は積層体91を供給し、搬送手段112は積層体91を搬送し、起点形成ユニット700に供給する。
起点形成ユニット700が、積層体91の第1の接着層31の端部近傍にある、第2の被剥離層23の一部を第2の剥離層22から剥離して、剥離の起点91sを形成する。
第2の分離ユニット800が、積層体91から第2の残部91aを剥離する。具体的には、接合層30の端部近傍に形成された剥離の起点から、第2の基板21を第2の剥離層22と共に第2の被剥離層23から分離する(図15(C)参照)。
搬送手段112が第2の残部91aを搬送し、第2の被剥離層23が上面を向くように第2の残部91aを反転する。第2の洗浄装置850では、供給された第2の残部91aを洗浄する。
搬送手段112が積層体92を搬送し、第2の積み出しユニットを兼ねる第2の供給ユニット600は積層体92を供給される。
本実施の形態の変形例について、図16を参照しながら説明する。
搬送手段111が積層体91を搬送し、第2の洗浄装置850は積層体91を供給される。
搬送手段112が積層体91を搬送し、起点形成ユニット700が積層体91を供給される。
搬送手段112が第2の残部91aを搬送し、第2の被剥離層23が上面を向くように第2の残部91aを反転する。第2の貼り合わせユニット900では、第2の残部91aが供給される。
本実施の形態では、本発明の一態様の積層体の加工装置に適用可能な加工部材の構成について、図17を参照しながら説明する。
加工部材90は、第1の基板11、第1の基板11上の第1の剥離層12、第1の剥離層12と一方の面が接する第1の被剥離層13、第1の被剥離層13の他方の面と一方の面が接する接合層30および接合層30の他方の面と一方の面が接する第2の被剥離層23、第2の被剥離層23の他方の面と一方の面が接する第2の剥離層22および第2の剥離層22上の第2の基板21を備える(図17(A−1)および図17(A−2)参照)。
第1の基板11は、製造工程に耐えられる程度の耐熱性および製造装置に適用可能な厚さおよび大きさを備えるものであれば、特に限定されない。
第1の剥離層12は、第1の剥離層12上に形成された第1の被剥離層13を剥離することができ、製造工程に耐えられる程度の耐熱性を備えるものであれば、特に限定されない。
第1の被剥離層13は、第1の剥離層12上から剥離することができ、製造工程に耐えられる程度の耐熱性を備えるものであれば、特に限定されない。
接合層30は、第1の被剥離層13と第2の被剥離層23を接合するものであれば、特に限定されない。
加工部材90が、剥離の起点13sを接合層30の端部近傍に備える構成としてもよい。
第2の基板21は、第1の基板11と同様のものを用いることができる。なお、第2の基板21を第1の基板11と同一の構成とする必要はない。
第2の剥離層22は、第1の剥離層12と同様のものを用いることができる。なお、第2の剥離層22を第1の剥離層12と同一の構成とする必要はない。
第2の被剥離層23は、第1の被剥離層13と同様の構成を用いることができる。また、第2の被剥離層23は、第1の被剥離層13と異なる構成とすることもできる。
本実施の形態では、実施の形態1乃至4で説明した積層体の加工装置を用いて作製することのできる可撓性を有する発光装置(発光パネル)の例について説明する。
図18(A)に可撓性を有する発光パネルの平面図を示し、図18(A)における一点鎖線G1−G2間の断面図の一例を図18(B)に示す。また、別の断面図の一例を図22(A)、(B)に示す。
図19(A)に発光パネルにおける光取り出し部1304の別の例を示す。
図19(B)に発光パネルの別の例を示す。
次に、発光パネルに用いることができる材料等を説明する。なお、本実施の形態中で先に説明した構成については説明を省略する。
次に、発光パネルの作製方法を図20および図21を用いて例示する。ここでは、具体例1(図18(B))の構成の発光パネルを例に挙げて説明する。
12 剥離層
13 被剥離層
13s 起点
21 基板
22 剥離層
23 被剥離層
25 基材
30 接合層
31 接着層
32 接着層
41 支持体
41b 支持体
42 支持体
80 加工部材
80a 残部
80b 表面
81 積層体
90 加工部材
90a 残部
90b 表面
91 積層体
91a 残部
91b 表面
91s 起点
92 積層体
100 供給ユニット
111 搬送手段
112 搬送手段
200 加工部材
201 加工部材
210 基板
211 切れ込み
212 基板
215 可撓性基板
220 基板
230 固定ステージ
231 固定ステージ
240 吸着機構
241 吸着治具
241a 吸着治具
242 上下機構
243 吸着部
243a 吸気口
244 軸
245 可動部
250 楔型治具
251 ニードル
255 センサ
256 センサ
260 構造物
270 ノズル
271 ノズル
280 ローラ
281 クランプ治具
291 方向
292 方向
293 方向
300 分離ユニット
300b 収納部
350 洗浄装置
400 貼り合わせユニット
500 支持体供給ユニット
600 供給ユニット
700 起点形成ユニット
800 分離ユニット
800b 収納部
850 洗浄装置
900 貼り合わせユニット
1000 加工装置
1000B 加工装置
1240 吸着機構
1241 吸着治具
1241a 吸着治具
1241b 吸着治具
1242 上下機構
1243 吸着部
1243a 吸気口
1244 軸
1245 可動部
1301 素子層
1303 基板
1304 部
1305 接着層
1306 駆動回路部
1308 FPC
1357 導電層
1401 基板
1402 基板
1403 接着層
1405 絶縁層
1407 絶縁層
1408 導電層
1409 絶縁層
1409a 絶縁層
1409b 絶縁層
1411 絶縁層
1412 導電層
1413 封止層
1415 接続体
1430 発光素子
1431 下部電極
1433 EL層
1433A EL層
1433B EL層
1435 上部電極
1440 トランジスタ
1455 絶縁層
1457 遮光層
1459 着色層
1461 絶縁層
1501 作製基板
1503 剥離層
1505 作製基板
1507 剥離層
1510a 導電層
1510b 導電層
7100 携帯表示装置
7101 筐体
7102 表示部
7103 操作ボタン
7104 送受信装置
7200 照明装置
7201 台部
7203 操作スイッチ
7210 照明装置
7212 発光部
7220 照明装置
7222 発光部
7300 表示装置
7301 筐体
7302 表示部
7303 操作ボタン
7304 部材
7305 制御部
7400 携帯電話機
7401 筐体
7402 表示部
7403 操作ボタン
7404 外部接続ポート
7405 スピーカ
7406 マイク
9999 タッチパネル
Claims (5)
- 端部に間隙を有して貼り合わされた一方および他方の基板を有する積層体の加工装置であって、
前記積層体の一部を固定する固定機構を有し、
前記積層体の一方の基板の外周端部を固定する複数の吸着治具を有し、
前記積層体の一角部に挿入する楔型治具を有し、
前記吸着治具により剥離された、前記積層体の一方の基板の一部を固定する複数のクランプ治具を有し、
前記複数の吸着治具および前記複数のクランプ治具は、上下方向および水平方向に個別に移動することができる機構を有することを特徴とする積層体の加工装置。 - 請求項1において、
前記積層体端部の間隙の位置を検出するセンサを有することを特徴とする積層体の加工装置。 - 請求項1または2において、
前記楔型治具の先端が前記積層体の端面に形成された面取り部に沿って移動し、
前記楔型治具が前記積層体端部の間隙に挿入されることを特徴とする積層体の加工装置。 - 請求項1乃至3のいずれか一項において、
前記積層体に液体を注入するノズルを有することを特徴とする積層体の加工装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一項において、
前記積層体の一方の基板と接するローラを有することを特徴とする積層体の加工装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014174769A JP6564563B2 (ja) | 2013-08-30 | 2014-08-29 | 積層体の加工装置 |
| JP2019138698A JP6891232B2 (ja) | 2013-08-30 | 2019-07-29 | 積層体の加工方法 |
Applications Claiming Priority (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013179220 | 2013-08-30 | ||
| JP2013179217 | 2013-08-30 | ||
| JP2013179220 | 2013-08-30 | ||
| JP2013179217 | 2013-08-30 | ||
| JP2014029422 | 2014-02-19 | ||
| JP2014029422 | 2014-02-19 | ||
| JP2014029423 | 2014-02-19 | ||
| JP2014029423 | 2014-02-19 | ||
| JP2014174769A JP6564563B2 (ja) | 2013-08-30 | 2014-08-29 | 積層体の加工装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019138698A Division JP6891232B2 (ja) | 2013-08-30 | 2019-07-29 | 積層体の加工方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015173088A JP2015173088A (ja) | 2015-10-01 |
| JP2015173088A5 JP2015173088A5 (ja) | 2017-10-05 |
| JP6564563B2 true JP6564563B2 (ja) | 2019-08-21 |
Family
ID=52581492
Family Applications (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014174769A Active JP6564563B2 (ja) | 2013-08-30 | 2014-08-29 | 積層体の加工装置 |
| JP2019138698A Active JP6891232B2 (ja) | 2013-08-30 | 2019-07-29 | 積層体の加工方法 |
| JP2021088428A Active JP7295904B2 (ja) | 2013-08-30 | 2021-05-26 | 積層体の加工装置 |
Family Applications After (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019138698A Active JP6891232B2 (ja) | 2013-08-30 | 2019-07-29 | 積層体の加工方法 |
| JP2021088428A Active JP7295904B2 (ja) | 2013-08-30 | 2021-05-26 | 積層体の加工装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US9333736B2 (ja) |
| JP (3) | JP6564563B2 (ja) |
| KR (2) | KR102285804B1 (ja) |
| CN (2) | CN105493631B (ja) |
| TW (2) | TWI674032B (ja) |
| WO (1) | WO2015029806A1 (ja) |
Families Citing this family (66)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI705861B (zh) | 2013-08-30 | 2020-10-01 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 支撐體供應裝置及供應支撐體的方法 |
| TWI618131B (zh) | 2013-08-30 | 2018-03-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 剝離起點形成裝置及形成方法、疊層體製造裝置 |
| KR102285804B1 (ko) * | 2013-08-30 | 2021-08-03 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 적층의 가공 장치 및 가공 방법 |
| US9925749B2 (en) | 2013-09-06 | 2018-03-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Bonding apparatus and stack body manufacturing apparatus |
| TWI732735B (zh) | 2013-12-03 | 2021-07-11 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 剝離裝置以及疊層體製造裝置 |
| US9229481B2 (en) | 2013-12-20 | 2016-01-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
| KR102064405B1 (ko) * | 2014-02-04 | 2020-01-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 기판 박리 장치 및 그것을 이용한 기판 박리 방법 |
| CN110625540B (zh) | 2014-05-03 | 2021-10-29 | 株式会社半导体能源研究所 | 薄膜状部件支撑设备 |
| JP6378530B2 (ja) | 2014-05-03 | 2018-08-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | フィルム吸着機構 |
| JP6548871B2 (ja) | 2014-05-03 | 2019-07-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 積層体の基板剥離装置 |
| US9676175B2 (en) | 2014-06-20 | 2017-06-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Peeling apparatus |
| KR102368997B1 (ko) | 2014-06-27 | 2022-02-28 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 장치, 모듈, 전자 기기, 발광 장치의 제작 방법 |
| US9751293B2 (en) * | 2014-12-04 | 2017-09-05 | Industrial Technology Research Institute | Laminated substrate separating device and method for separating laminated substrate |
| JP6815096B2 (ja) | 2015-05-27 | 2021-01-20 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 剥離装置 |
| US20160375600A1 (en) * | 2015-06-29 | 2016-12-29 | Igor Markovsky | Joint cutting in a device |
| KR102405122B1 (ko) * | 2015-09-10 | 2022-06-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 기판 분리 장치 및 이를 이용한 기판 분리 방법 |
| CN106710442B (zh) * | 2015-10-21 | 2021-01-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 背光源分离设备 |
| CN109315042B (zh) * | 2015-12-29 | 2021-04-06 | 鸿海精密工业股份有限公司 | 树脂薄膜的剥离方法及装置、电子装置的制造方法 |
| TW201737766A (zh) * | 2016-01-21 | 2017-10-16 | 康寧公司 | 處理基板的方法 |
| US10259207B2 (en) | 2016-01-26 | 2019-04-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for forming separation starting point and separation method |
| US10279576B2 (en) | 2016-04-26 | 2019-05-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Peeling method and manufacturing method of flexible device |
| US10804407B2 (en) | 2016-05-12 | 2020-10-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laser processing apparatus and stack processing apparatus |
| US10528198B2 (en) | 2016-09-16 | 2020-01-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display panel, display device, input/output device, data processing device, and method for manufacturing the display panel |
| KR102650013B1 (ko) * | 2016-10-05 | 2024-03-21 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치의 분해 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 분해 방법 |
| KR102446583B1 (ko) | 2016-11-03 | 2022-09-22 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 레이저 가공 장치, 적층체의 가공 장치, 및 레이저 가공 방법 |
| WO2018093653A1 (en) * | 2016-11-15 | 2018-05-24 | Corning Incorporated | Apparatus and method for processing the apparatus |
| US11260646B2 (en) * | 2016-11-15 | 2022-03-01 | Corning Incorporated | Methods for processing a substrate |
| CN211150516U (zh) * | 2016-12-19 | 2020-07-31 | P2I有限公司 | 在表面改性工艺中用于紧固一个或多个物品的装置和夹持框架 |
| US11183410B2 (en) * | 2017-04-24 | 2021-11-23 | Photronics, Inc. | Pellicle removal tool |
| US10488324B2 (en) * | 2017-05-22 | 2019-11-26 | Toyota Motor Engineering & Manufacturing North America, Inc. | Methods for detecting failure of an adhesive layer |
| US10374161B2 (en) * | 2017-08-16 | 2019-08-06 | Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. | Glass substrate separation method and glass substrate separation device |
| JP7115490B2 (ja) * | 2017-09-20 | 2022-08-09 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス基板の製造方法 |
| KR102308533B1 (ko) * | 2017-09-22 | 2021-10-07 | 주식회사 제우스 | 디스플레이부 분리방법 및 디스플레이부 분리장치 |
| KR102382356B1 (ko) * | 2017-09-22 | 2022-04-05 | 주식회사 제우스 | 디스플레이부의 전처리방법 및 디스플레이부용 전처리장치 |
| JP6405073B1 (ja) * | 2017-10-26 | 2018-10-17 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイスの製造方法および製造装置 |
| JP6334079B1 (ja) * | 2017-10-26 | 2018-05-30 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイスの製造方法および製造装置 |
| WO2019082357A1 (ja) * | 2017-10-26 | 2019-05-02 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイスの製造方法および製造装置 |
| JP6334080B1 (ja) * | 2017-10-26 | 2018-05-30 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイスの製造方法および製造装置 |
| WO2019082358A1 (ja) * | 2017-10-26 | 2019-05-02 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイスの製造方法および製造装置 |
| CN107946407A (zh) * | 2017-11-29 | 2018-04-20 | 北京创昱科技有限公司 | 一种新型独立驱动的薄膜分离机构 |
| CN108726174B (zh) * | 2017-12-06 | 2018-12-28 | 湖南永创机电设备有限公司 | 一种平板显示玻璃起爪装置、起爪机械臂、自动上下料装置及起爪装置的使用方法 |
| KR102507884B1 (ko) * | 2018-01-05 | 2023-03-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 윈도우 분리 장치 및 그 장치를 이용한 윈도우 분리 방법 |
| WO2019215833A1 (ja) * | 2018-05-09 | 2019-11-14 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブル発光デバイスの製造方法および製造装置 |
| WO2019215834A1 (ja) * | 2018-05-09 | 2019-11-14 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブル発光デバイスの製造方法および製造装置 |
| US11205770B2 (en) | 2018-05-09 | 2021-12-21 | Sakai Display Products Corporation | Lift-off method and apparatus for manufacturing flexible light emitting device |
| US11158804B2 (en) | 2018-05-09 | 2021-10-26 | Sakai Display Products Corporation | Method and apparatus for manufacturing flexible light emitting device |
| JP6694558B2 (ja) * | 2018-05-09 | 2020-05-13 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブル発光デバイスの製造方法および製造装置 |
| CN112042270A (zh) | 2018-05-09 | 2020-12-04 | 堺显示器制品株式会社 | 柔性发光器件的制造方法以及制造装置 |
| CN112334867B (zh) | 2018-05-24 | 2025-11-11 | 纽约州立大学研究基金会 | 电容传感器 |
| JP6556298B2 (ja) * | 2018-06-15 | 2019-08-07 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | フレキシブルoledデバイスの製造方法および製造装置 |
| CN110969931B (zh) * | 2018-09-29 | 2022-08-23 | 杰宜斯科技有限公司 | 显示部模块的返工装置及方法 |
| JP6916223B2 (ja) * | 2019-01-30 | 2021-08-11 | 日機装株式会社 | 剥離装置 |
| JP7215206B2 (ja) * | 2019-02-19 | 2023-01-31 | 富士電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| KR102275489B1 (ko) | 2019-03-18 | 2021-07-09 | 주식회사 알리 | 불투과성의 플라스틱과 투과성의 플라스틱을 용착시키는 시스템 |
| KR102221435B1 (ko) | 2019-03-18 | 2021-03-03 | 주식회사 알리 | 플라스틱 이종간 접합을 위한 레이저를 이용한 용착 장치 및 그 제어방법 |
| KR102261103B1 (ko) | 2019-03-18 | 2021-06-07 | 주식회사 알리 | 레이저 빔을 이용하여 어닐링 과정 없이, 불투과성의 플라스틱과 투과성의 플라스틱을 용착시키는 장치 |
| CN109926914A (zh) * | 2019-04-24 | 2019-06-25 | 蚌埠中光电科技有限公司 | 一种浮法tft-lcd玻璃面研磨剥片装置 |
| KR102812431B1 (ko) * | 2019-06-17 | 2025-05-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치의 제조설비 및 표시장치의 제조방법 |
| JP7262903B2 (ja) * | 2019-08-26 | 2023-04-24 | 株式会社ディスコ | キャリア板の除去方法 |
| JP7184722B2 (ja) * | 2019-09-19 | 2022-12-06 | 株式会社東芝 | 支持基板、支持基板の剥離方法、及び、半導体装置の製造方法 |
| US11279057B2 (en) * | 2019-12-18 | 2022-03-22 | The Boeing Company | Material removal apparatus, system, and method |
| US11130329B2 (en) * | 2020-02-07 | 2021-09-28 | The Boeing Company | Apparatus and method for peeling a liner away from a substrate |
| US11465333B2 (en) * | 2020-11-05 | 2022-10-11 | Samsung Display Co., Ltd. | Film peeling device and method of peeling film |
| KR102292717B1 (ko) * | 2021-06-10 | 2021-08-20 | 주식회사 가람텍 | 에어매트 제조용 자동재단장치 및 재단 방법 |
| CN114308680A (zh) * | 2021-12-31 | 2022-04-12 | 中科微至智能制造科技江苏股份有限公司 | 一种用于叠件分离的控制方法 |
| KR102811159B1 (ko) * | 2023-11-24 | 2025-05-26 | 주식회사 제우스 | 기판 처리 장치 및 그 제어 방법 |
Family Cites Families (40)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5912550B2 (ja) | 1976-11-08 | 1984-03-23 | 川崎重工業株式会社 | サイロ構造 |
| JPH09263500A (ja) * | 1996-01-22 | 1997-10-07 | Komatsu Electron Metals Co Ltd | 貼り合わせsoiウェーハの剥がし治具 |
| SG68035A1 (en) * | 1997-03-27 | 1999-10-19 | Canon Kk | Method and apparatus for separating composite member using fluid |
| KR100543024B1 (ko) * | 1998-01-21 | 2006-05-25 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의 편광판 제거장치 |
| JP3619058B2 (ja) * | 1998-06-18 | 2005-02-09 | キヤノン株式会社 | 半導体薄膜の製造方法 |
| US6176286B1 (en) * | 1998-07-16 | 2001-01-23 | Somar Corporation | Film applying apparatus |
| TW522488B (en) * | 1998-07-27 | 2003-03-01 | Canon Kk | Sample processing apparatus and method |
| US8415208B2 (en) | 2001-07-16 | 2013-04-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device |
| JP4027740B2 (ja) | 2001-07-16 | 2007-12-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| TW558743B (en) * | 2001-08-22 | 2003-10-21 | Semiconductor Energy Lab | Peeling method and method of manufacturing semiconductor device |
| FR2834381B1 (fr) * | 2002-01-03 | 2004-02-27 | Soitec Silicon On Insulator | Dispositif de coupe de couche d'un substrat, et procede associe |
| US7534498B2 (en) * | 2002-06-03 | 2009-05-19 | 3M Innovative Properties Company | Laminate body, method, and apparatus for manufacturing ultrathin substrate using the laminate body |
| US7187162B2 (en) * | 2002-12-16 | 2007-03-06 | S.O.I.Tec Silicon On Insulator Technologies S.A. | Tools and methods for disuniting semiconductor wafers |
| JP2005089007A (ja) | 2003-09-11 | 2005-04-07 | Seiko Epson Corp | 剥離装置及び剥離方法 |
| EP2259300B1 (en) * | 2003-10-28 | 2020-04-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacture of semiconductor device |
| TWI430435B (zh) * | 2006-09-29 | 2014-03-11 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置的製造方法 |
| JP4866200B2 (ja) * | 2006-10-05 | 2012-02-01 | パナソニック株式会社 | 発光デバイスの製造方法 |
| CN101271869B (zh) * | 2007-03-22 | 2015-11-25 | 株式会社半导体能源研究所 | 发光器件的制造方法 |
| JP4957375B2 (ja) * | 2007-05-16 | 2012-06-20 | ソニー株式会社 | 有機el表示装置の製造装置 |
| JP2009018898A (ja) * | 2007-07-11 | 2009-01-29 | Sharp Corp | 合紙除去方法および合紙除去装置 |
| JP4779132B2 (ja) * | 2007-07-19 | 2011-09-28 | 株式会社日立プラントテクノロジー | フィルム剥離装置 |
| JP2009141070A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Lintec Corp | 剥離装置及び剥離方法 |
| JP2009154407A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Tdk Corp | 剥離装置、剥離方法および情報記録媒体製造方法 |
| FR2925978B1 (fr) * | 2007-12-28 | 2010-01-29 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de separation d'une structure. |
| JP2009224437A (ja) | 2008-03-14 | 2009-10-01 | Seiko Epson Corp | 薄膜電子デバイスの製造装置及び薄膜電子デバイスの製造方法 |
| JP2010050313A (ja) | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Seiko Epson Corp | 薄膜転写方法及び薄膜電子デバイスの製造方法 |
| CN102171745B (zh) * | 2009-02-06 | 2014-10-08 | 旭硝子株式会社 | 电子器件的制造方法及该方法中使用的剥离装置 |
| CN102202994B (zh) * | 2009-08-31 | 2014-03-12 | 旭硝子株式会社 | 剥离装置 |
| JPWO2011048979A1 (ja) | 2009-10-20 | 2013-03-14 | 旭硝子株式会社 | ガラス積層体及びその製造方法、並びに表示パネルの製造方法及びその製造方法により得られる表示パネル |
| WO2011048978A1 (ja) * | 2009-10-20 | 2011-04-28 | 旭硝子株式会社 | ガラス積層体、支持体付き表示装置用パネル、表示装置用パネル、表示装置、およびこれらの製造方法 |
| JP5902406B2 (ja) * | 2010-06-25 | 2016-04-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 分離方法および半導体装置の作製方法 |
| US8845859B2 (en) * | 2011-03-15 | 2014-09-30 | Sunedison Semiconductor Limited (Uen201334164H) | Systems and methods for cleaving a bonded wafer pair |
| US8657994B2 (en) * | 2011-04-01 | 2014-02-25 | Alta Devices, Inc. | System and method for improved epitaxial lift off |
| KR20130002124A (ko) * | 2011-06-28 | 2013-01-07 | 삼성전기주식회사 | 기판 분리 장치 및 기판 분리 방법 |
| JP2013173913A (ja) * | 2011-11-10 | 2013-09-05 | Nitto Denko Corp | 板の剥離方法 |
| KR102187752B1 (ko) * | 2013-05-07 | 2020-12-07 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 박리 방법 및 박리 장치 |
| KR102087124B1 (ko) * | 2013-05-31 | 2020-03-11 | 삼성디스플레이 주식회사 | 기판 분리 장치 및 기판 분리 방법 |
| TWI705861B (zh) | 2013-08-30 | 2020-10-01 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 支撐體供應裝置及供應支撐體的方法 |
| KR102285804B1 (ko) * | 2013-08-30 | 2021-08-03 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 적층의 가공 장치 및 가공 방법 |
| TWI618131B (zh) | 2013-08-30 | 2018-03-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 剝離起點形成裝置及形成方法、疊層體製造裝置 |
-
2014
- 2014-08-11 KR KR1020167007419A patent/KR102285804B1/ko active Active
- 2014-08-11 WO PCT/JP2014/071507 patent/WO2015029806A1/en not_active Ceased
- 2014-08-11 CN CN201480047352.0A patent/CN105493631B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2014-08-11 KR KR1020217024021A patent/KR102437483B1/ko active Active
- 2014-08-11 CN CN201710952085.7A patent/CN107731716A/zh active Pending
- 2014-08-13 TW TW103127758A patent/TWI674032B/zh not_active IP Right Cessation
- 2014-08-13 TW TW108109391A patent/TWI674033B/zh not_active IP Right Cessation
- 2014-08-26 US US14/468,662 patent/US9333736B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-08-29 JP JP2014174769A patent/JP6564563B2/ja active Active
-
2016
- 2016-05-05 US US15/147,020 patent/US9682544B2/en active Active
-
2017
- 2017-06-01 US US15/610,890 patent/US10442172B2/en active Active
-
2019
- 2019-07-29 JP JP2019138698A patent/JP6891232B2/ja active Active
-
2021
- 2021-05-26 JP JP2021088428A patent/JP7295904B2/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR102437483B1 (ko) | 2022-08-26 |
| TW201927069A (zh) | 2019-07-01 |
| KR102285804B1 (ko) | 2021-08-03 |
| JP2021129117A (ja) | 2021-09-02 |
| KR20210095977A (ko) | 2021-08-03 |
| CN105493631B (zh) | 2017-11-24 |
| US9682544B2 (en) | 2017-06-20 |
| US20170334187A1 (en) | 2017-11-23 |
| CN105493631A (zh) | 2016-04-13 |
| JP2020009768A (ja) | 2020-01-16 |
| JP2015173088A (ja) | 2015-10-01 |
| TWI674033B (zh) | 2019-10-01 |
| TWI674032B (zh) | 2019-10-01 |
| JP6891232B2 (ja) | 2021-06-18 |
| JP7295904B2 (ja) | 2023-06-21 |
| US10442172B2 (en) | 2019-10-15 |
| KR20160052587A (ko) | 2016-05-12 |
| US20160243812A1 (en) | 2016-08-25 |
| WO2015029806A1 (en) | 2015-03-05 |
| US20150059987A1 (en) | 2015-03-05 |
| TW201524252A (zh) | 2015-06-16 |
| US9333736B2 (en) | 2016-05-10 |
| CN107731716A (zh) | 2018-02-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180730 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180828 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
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|
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
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|
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