JP6521534B2 - 薄膜トランジスタとその作製方法、アレイ基板及び表示装置 - Google Patents

薄膜トランジスタとその作製方法、アレイ基板及び表示装置 Download PDF

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Description

本願は、2015年3月18日に中国特許庁に提出された中国特許出願第201510121068.X号明細書の優先権を主張し、その全ての内容が援用により本願に取り込まれる。
本発明は、半導体デバイス製造の技術分野に関し、特に薄膜トランジスタとその作製方法、アレイ基板及び表示装置に関する。
薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display;以下、TFT-LCDと略称する)は、小体積、低消費電力、無放射、低製造コストといった特長を持ち、現在のフラットパネルディスプレイ市場において主導的なものである。
図1と図2に示すように、コープレーナー構造薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;以下、TFTと略称する)において、ソース電極3、ドレイン電極4及びゲート電極1が、共に活性層2の同一側に設置されている。活性層2に対するゲート電極1の位置によって、コープレーナー構造TFTは、トップゲート型のコープレーナー構造TFT(図1)とボトムゲート型のコープレーナー構造TFT(図2)に分けられる。
コープレーナー構造TFTをTFT-LCDに用いる場合、トップゲート型のコープレーナー構造TFTについて、図1に示すように、画素電極5は、パッシべーション層102とゲート絶縁層101のホールを貫通することによりドレイン電極4と電気的に接触する。ホールの深さが深すぎるため、登り難く、画素電極5の断線が生じやすく、電気的接触不良が生じる。ジャンパー接続の形態で画素電極5とドレイン電極4を電気的に接続すると、マスク数が増加し、生産コストが向上する。一方、ボトムゲート型のコープレーナー構造TFTについて、図2に示すように、活性層2がソース電極3とドレイン電極4にオーバーラップして接続され、ソース電極3とドレイン電極4を形成するエッチング工程により、ソース・ドレイン金属の側面が粗い。活性層2が薄肉であり、ソース電極3とドレイン電極4の側面が粗いため、活性層2がソース電極3とドレイン電極4にオーバーラップして接続すると、登り難い問題が生じてしまい、活性層2の断線が生じやすい。上述の場合に、活性層2の厚さが均一ではないため、電圧印加時に絶縁破壊や短絡が生じやすい。
本発明は、コープレーナー構造薄膜トランジスタ及びその応用に存在する上述した技術問題を解決する薄膜トランジスタ及びその作製方法提供する。
本発明は、上述の薄膜トランジスタを用いることにより、デバイスの歩留まりを高めるアレイ基板及び表示装置を更に提供する。
上述技術問題を解決するために、本発明の実施例における薄膜トランジスタは、全体が同一平面に位置する活性層と、活性層に位置し、上記活性層に接触するように設置されたソース電極と、ソース電極に位置し、第1ホールを含む第1絶縁層と、上記第1絶縁層に位置し、第1ホールを介して活性層に接触するドレイン電極とを含む。
本発明の実施例における薄膜トランジスタの作製方法において、全体が同一平面に位置する活性層を形成することと、上記活性層と接触するように設置されたソース電極を上記活性層に形成することと、上記ソース電極に第1絶縁層を形成し、上記第1絶縁層に第1ホールを形成することと、第1ホールを介して活性層に接触するドレイン電極を上記第1絶縁層に形成することを含む。
また、本発明の実施例におけるアレイ基板は、上述の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのドレイン電極を被覆する第2絶縁層と、上記第2絶縁層に位置し、上記第2絶縁層の第3ホールを介して薄膜トランジスタのドレイン電極と電気接触する画素電極とを含む。
本発明の実施例における表示装置は、上述のアレイ基板を含む。
本発明の実施例におけるアレイ基板の作製方法において、全体が同一平面に位置する活性層を形成することと、上記活性層と接触するように設置されたソース電極を上記活性層に形成することと、上記ソース電極に第1絶縁層を形成し、上記第1絶縁層に第1ホールを形成することと、上記第1絶縁層にゲート金属層を形成し、上記ゲート金属層に対しパターニング工程を行うことにより、ゲート電極の第2部分と、第1絶縁層の第1ホールを介して活性層と接触するドレイン電極を形成することと、ドレイン電極を被覆する第2絶縁層を形成し、上記第2絶縁層に第2ホールと第3ホールを形成することと、ソース電極とドレイン電極の間の領域に対応する部分を有し、第2絶縁層の第2ホールを介してゲート電極の第2部分と電気接触するゲート電極の第1部分を上記第2絶縁層に形成することと、ゲート電極の第1部分の形成と同時に、第3ホールを介してドレイン電極と電気接触するアレイ基板の画素電極を形成することを含む。
本発明は、以下の利点を有する。薄膜トランジスタのソース電極とドレイン電極を活性層に位置するように設置することにより、活性層が同一平面に位置することを保証し、従来技術において登り難いことによる活性層の断線がしやすい問題を克服する。また、活性層の厚さが均一であるため、絶縁破壊や短絡現象が生じず、薄膜トランジスタの歩留まりが向上する。また、ソース電極とドレイン電極が異なる層に位置するように設置することにより、ソース電極とドレイン電極の距離を自由に調節することができ、狭いチャネルが実現されやすく、薄膜トランジスタの性能が向上する。
本発明の実施例や従来技術における技術案をより明確に説明するために、以下、実施例や従来技術の記載に必要とされる図面を簡単に説明する。明らかに、以下の記載に関する図面は、単に本発明の一部の実施例である。当業者にとって、創造性のある作業をしない前提で、これらの図面から他の図面を得ることもできる。
従来技術のトップゲート型のコープレーナー構造TFTアレイ基板の構造図である。 従来技術のボトムゲート型のコープレーナー構造TFTアレイ基板の構造図である。 本発明の実施例におけるコープレーナー構造TFTアレイ基板の構造図である。 本発明の実施例におけるコープレーナー構造TFTアレイ基板製作のフローチャートである。 本発明の実施例におけるコープレーナー構造TFTアレイ基板製作のフローチャートである。 本発明の実施例におけるコープレーナー構造TFTアレイ基板製作のフローチャートである。 本発明の実施例におけるコープレーナー構造TFTアレイ基板製作のフローチャートである。 本発明の実施例におけるコープレーナー構造TFTアレイ基板製作のフローチャートである。 本発明の実施例におけるコープレーナー構造TFTアレイ基板製作のフローチャートである。
別途に定義することを除き、ここで使用される技術用語や科学用語は、本発明の所属する分野の当業者が理解する通常の意味である。本発明の明細書及び特許請求の範囲に使用される「第1」、「第2」及び類似用語は、単に異なる構成部分を区別するためのものであり、順番、数量又は重要度をいっさい表さない。同様に、「1つ」又は「一」などその他の類似用語は、少なくとも1つ存在することを表し、数の限定ではない。「接続」などその他の類似用語は、物理や機械的接続に限定するのではなく、直接か間接かに関わらず、電気的接続も含む。「上」、「下」、「左」、「右」などは、相対的位置関係を表すものであり、記載対象の絶対位置が変わると、当該相対的位置関係も対応的に変わる。
本発明は、薄膜トランジスタを提供し、そのソース電極とドレイン電極が活性層に位置し、活性層全体が同一平面に位置することにより、登り難いことによる活性層の断線しやすい問題が存在しない。また、活性層の厚さが均一であるため、作動中に絶縁破壊や短絡現象が生じにくく、薄膜トランジスタの歩留まりが向上する。また、ソース電極とドレイン電極が異なる層に位置するように設置することにより、ソース電極とドレイン電極の距離を自由に調節することができ、狭いチャネルが実現されやすく、薄膜トランジスタの性能が向上する。
液晶表示デバイスについて、薄膜トランジスタのドレイン電極と電気的に接触するアレイ基板上の電極は、透明の画素電極であり、その材料が酸化インジウムスズ(ITO)又は酸化インジウム亜鉛(IZO)であってもよい。有機発光ダイオード(OLED)表示デバイスの場合、薄膜トランジスタを駆動するドレイン電極と電気的に接触するアレイ基板上のボトム電極は、OLEDの陰極又は陽極であり、透明導電材料であってもよく、非透明導電材料(例えばCu、Al)であってもよい。しかも、通常、ボトム電極は、画素電極とも呼ばれる(本発明では画素電極と呼ぶ)。
以下、図面と実施例とともに、本発明の具体的な実施形態を詳細に記載する。以下の実施例は、本発明を説明するためのものであり、本発明の範囲を限定するものではない。
図3と図8に示すように、本発明の実施例は、薄膜トランジスタを提供し、その活性層2の全体が同一平面に位置する。上記薄膜トランジスタのソース電極3とドレイン電極4は、活性層2に位置し、活性層2と接触するように設置されている。ソース電極3とドレイン電極4の間に第1絶縁層130が設置されている。ドレイン電極4は、第1絶縁層130に設置され、第1絶縁層130の第1ホール6を介して活性層2と接触する。
上記の技術案において、活性層2が同一平面に位置するため、登り難いことによる断線しやすい問題が存在せず、その厚さが均一であるため、作動中に絶縁破壊や短絡現象が生じにくく、従来技術におけるボトムゲート型のコープレーナー構造薄膜トランジスタに存在する技術問題を克服する。また、ソース電極3とドレイン電極4が異なる層に位置するため、狭いチャネルが実現されやすく、薄膜トランジスタの性能が向上する。
図3に示すように、本発明の実施例における薄膜トランジスタの作製方法は、全体が同一平面に位置する活性層2を形成することと、活性層2と接触するように設置されたソース電極3を活性層2に形成することと、ソース電極3に第1絶縁層130を形成し、第1絶縁層130に第1ホール6を形成することと、第1ホール6を介して活性層2に接触するドレイン電極4を第1絶縁層130に形成することを含む。
ここで、ソース電極3とドレイン電極4は、異なる層に位置し、それぞれ異なるフィルム層により形成される。
図3に示すように、ソース電極3は、薄膜トランジスタの活性層2が存在する領域に位置し、且つソース電極3全体が活性層2と接触するように設置されている。実際の作製工程において、一回のパターニング工程でソース電極3と活性層2を同時に形成することにより、作製工程を簡単化することができる。図4〜図7に示すように、ソース電極3と活性層2を形成するパターニング工程は、具体的に、活性層薄膜110を形成することと、図4に示すように、活性層薄膜110にソース金属層120を形成することと、図5に示すように、ソース金属層120にフォトレジストを塗布し、フォトレジストに対し露光、現像を行うことにより、薄膜トランジスタのソース電極が存在する領域に対応するフォトレジスト完全保留領域200、薄膜トランジスタの活性層がソース電極の位置に対応しない領域に対応するフォトレジスト半分保留領域201、及び、他の領域に対応するフォトレジスト未保留領域202を形成することと、図6に示すように、フォトレジスト未保留領域202のソース金属層と活性層薄膜をエッチングして除去し、活性層2のパターンを形成することと、フォトレジスト半分保留領域201のフォトレジストを除去することと、フォトレジスト半分保留領域201のソース金属層をエッチングして除去することと、図7に示すように、残りのフォトレジストを剥離し、薄膜トランジスタの活性層2とソース電極3を形成することを含む。
上述のプロセスは、一回のパターニング工程により薄膜トランジスタの活性層2とソース電極3を同時に形成する。
従来技術のトップゲート型コープレーナー構造に比べ、一回のパターニング工程により薄膜トランジスタの活性層2とソース電極3を同時に形成することにより、ソース電極3の幅を効果的に小さくすることができる。また、ソース電極3とドレイン電極4が異なる層に位置し、それぞれ異なるフィルム層により形成されるため、薄膜トランジスタの投影幅が一定である場合に、ドレイン電極4の幅を適切に大きくすることができる(図1と図3の比較から分かる)。しかも、ドレイン電極4と画素電極5の間に第2絶縁層140を単一層のみを設置してもよい。すると、画素電極5が第2絶縁層140のホールを介してドレイン電極4と電気的に接触すると、ホールの深さが比較的小さく、断線が生じ難く、デバイスの歩留まりが向上する。
また、ゲート電極の一部とアレイ基板の画素電極5が同一層に位置するように設計し、ゲート電極と画素電極5との間の距離を十分に遠くすることにより、両者の間に形成される結合容量を十分に小さくすることができ、デバイスの性能に影響を与えない。
具体的に、本発明の1つの実施例において、トップゲート型のコープレーナー構造薄膜トランジスタのゲート電極は、第2絶縁層140に位置する第1部分10を含み、該第1部分10がソース電極3とドレイン電極4の間の領域に対応する部分を有する。また、好ましいのは、ゲート電極の第1部分10とアレイ基板の画素電極5とが同一層に位置し、同一フィルム層により形成されるものである。具体的に、第2絶縁層140に導電層を形成し、上記導電層にパターニング工程を行うことにより、ソース電極3とドレイン電極4の間の領域に対応する部分を有するゲート電極の第1部分10と画素電極5を形成する。
すると、薄膜トランジスタの作製方法は、ドレイン電極4を被覆する第2絶縁層140を形成することと、図3に示すように、ソース電極3とドレイン電極4の間の領域に対応する部分を有し第2絶縁層140に位置する第1部分10を含むゲート電極を形成することを更に含む。
ここで、ゲート電極の第1部分10とアレイ基板の画素電極5とが、同一層に位置し、同一の導電層により形成される。図3と図9に示すように、画素電極5は、第2絶縁層140の第3ホール8を介してドレイン電極4と電気的に接触する。画素電極5とドレイン電極4の間には単一層の第2絶縁層140のみを有するため、第3ホール8の深さが比較的浅く、登り難いことによる画素電極5の断線しやすい問題が存在せず、デバイスの歩留まりが向上する。
更に、上記ゲート電極は、ゲート電極の第1部分10と電気的に接続する第2部分11を更に含み、その材料がゲート金属である。しかも、信号を伝送する配線構造を変更しない前提では、相変わらずゲート線(ゲート金属により形成され、ゲート電極の第2部分11と同一層に位置する)によって薄膜トランジスタのオン/オフ信号をゲート電極に伝送するので、作製工程は増えず、実現されやすい。ここで、ゲート電極の第2部分11は、ドレイン電極4と同一層に位置し、同一のゲート金属層により形成されてもよい。しかも、第2絶縁層140は、ゲート電極の第2部分11とドレイン電極4を被覆する。
1つの実施形態として、好ましいのは、アレイ基板がトップゲート型のコープレーナー構造薄膜トランジスタアレイ基板であり、薄膜トランジスタのゲート電極が第1部分10と第2部分11を含むものである。第1部分10は、ソース電極3とドレイン電極4の間の領域に対応する部分を有し、アレイ基板の画素電極5と同一層に位置する。第2部分11は、材料がゲート金属であり、ドレイン電極4と同一層に位置する。ソース電極3は、ソース金属層により形成される。ゲート電極の第1部分10と第2部分11との間に、第2絶縁層140を設置する。ゲート電極の第1部分10と第2部分11とが、第2絶縁層140の第2ホール7を介して電気的に接触する。対応して、アレイ基板の作製方法は、電気的に接触する薄膜トランジスタの活性層2とソース電極3を形成することと、ソース電極3に第1絶縁層130を形成し、第1絶縁層130に第1ホール6を形成することと、ゲート金属層を形成し、上記ゲート金属層にパターニング工程を行うことにより、ゲート電極の第2部分と、第1絶縁層130の第1ホール6を介して活性層2と接触するドレイン電極4を形成することと、ドレイン電極4を被覆する第2絶縁層140を形成することと、第2絶縁層140に導電層を形成し、上記導電層にパターニング工程を行うことにより、ソース電極3とドレイン電極4の間の領域に対応する部分を有し第2絶縁層140の第2ホール7を介して第2部分11と電気接触するゲート電極の第1部分10と、第2絶縁層140の第3ホール8を介してドレイン電極4と電気接触するアレイ基板の画素電極5を形成することを含む。
上記プロセスにおいて、好ましいのは、薄膜トランジスタの活性層2とソース電極3を一回のパターニング工程により形成し、作製工程を簡単化するものである。もちろん、二回のパターニング工程により活性層2とソース電極3をそれぞれ形成してもよい。
好ましいのは、トップゲート型のコープレーナー構造薄膜トランジスタの場合、材料がゲート金属でありドレイン電極4と同一層に位置する第2部分11がゲート電極に含まれると、図3に示すように、第2部分11とソース電極3、ドレイン電極4の間に形成される結合容量を小さくするように、ソース電極3のドレイン電極4から離れた側に第2部分11を設置し、デバイスの表示品質を向上させるものである。
図3に示すように、本発明の実施例における薄膜トランジスタは、活性層2、活性層2に設置されたソース電極3、ソース電極3に設置された第1絶縁層130、第1絶縁層130に設置されたゲート電極の第2部分11とドレイン電極4、ドレイン電極4に設置された第2絶縁層140、及び第2絶縁層140に設置されたゲート電極の第1部分10を含む。活性層2全体が同一平面に位置する。ソース電極3は、活性層2が存在する領域に位置し、全体が活性層2に接触するように設置される。第1絶縁層130には第1ホールを含む。ドレイン電極4は、上記第1ホールを介して活性層2に接触するように設置される。ゲート電極の第2部分11は、ドレイン電極4と同一層に位置し、材料がゲート金属である。該第2部分11がソース電極3のドレイン電極4から離れた側に位置する。第2絶縁層140には第2ホール7と第3ホール8を有する。ゲート電極の第1部分10は、上記第2ホール7を介して第2部分11と電気接続する。
本発明の実施例におけるアレイ基板は、具体的に、上述の薄膜トランジスタと、薄膜トランジスタのドレイン電極4を被覆する第2絶縁層140と、画素電極5とを含む。該画素電極5が、第2絶縁層140に設置され、ゲート電極の第1部分10と同一層に位置し、第2絶縁層140の第3ホールを介してドレイン電極4と電気接続する。
図3〜図9に示すように、本発明の実施例における薄膜トランジスタの作製方法は、具体的に以下のステップを含む。
ステップS1において、ガラス基板、石英基板、有機樹脂基板などの透明基板を底部基板100として用意し、底部基板100に活性層2とソース電極3を形成する。
ここで、活性層2の材料は、シリコン半導体であってもよく、金属酸化物半導体であってもよい。ソース電極3は、材料がCu、Al、Ag、Mo、Cr、Nd、Ni、Mn、Ti、Ta、Wなどの金属及びこれらの金属の合金である。ソース電極3は、単一層構造或いは多層構造であってもよい。多層構造の場合例えばCu/Mo、Ti/Cu/Ti、Mo/Al/Moなどである。
具体的に、底部基板100に活性層2とソース電極3を形成することは、底部基板100に活性層薄膜110とソース金属層120を順に形成することと、図5に示すように、ソース金属層120にフォトレジストを塗布し、フォトレジストに対し露光、現像を行うことにより、薄膜トランジスタのソース電極が存在する領域に対応するフォトレジスト完全保留領域200、薄膜トランジスタの活性層がソース電極の位置に対応しない領域に対応するフォトレジスト半分保留領域201、及び、他の領域に対応するフォトレジスト未保留領域202を形成することと、図6に示すように、フォトレジスト未保留領域202のソース金属層と活性層薄膜をエッチングして除去し、活性層2のパターンを形成することと、フォトレジスト半分保留領域201のフォトレジストを除去することと、フォトレジスト半分保留領域201のソース金属層をエッチングして除去することと、図7に示すように、残りのフォトレジストを剥離し、薄膜トランジスタの活性層2とソース電極3を形成することを含む。
ステップS2において、図8に示すように、ステップS1を経た底部基板100に第1絶縁層130を形成し、第1絶縁層130にパターニング工程を行うことにより第1ホール6を形成し、活性層2を露出させる。
第1絶縁層130は、SiNx、SiOx又はSi(ON)xであってもよい。
ステップS3において、図8と図9に示すように、ステップS2を経た底部基板100にゲート金属層(図示せず)を形成し、上記ゲート金属層にパターニング工程を行うことにより、ゲート線、ゲート線と電気的に接続するゲート電極の第2部分11、第1ホール6を介して活性層2と電気的に接触するドレイン電極4を形成する。
ここで、ゲート金属層は、Cu、Al、Ag、Mo、Cr、Nd、Ni、Mn、Ti、Ta、Wなどの金属及びこれらの金属の合金であってもよい。また、ゲート金属層は、単一層構造であるか多層構造であってもよい。多層構造の場合例えばCu/Mo、Ti/Cu/Ti、Mo/Al/Moなどである。
ステップS4において、図9に示すように、ステップS3を経た底部基板100に第2絶縁層140を形成し、第2絶縁層140にパターニング工程を行うことにより第2ホール7と第3ホール8を形成する。
第2絶縁層140は、SiNx、SiOx又はSi(ON)xであってもよい。
ステップS5において、図3と図9に示すように、ステップS4を経た底部基板100に導電層を形成し、上記導電層にパターニング工程を行うことにより、ソース電極3とドレイン電極4の間の領域に対応する部分を有し第2ホール7を介して第2部分11と電気接続するゲート電極の第1部分10を形成する。
これをもって薄膜トランジスタの作製が完成する。
本発明の実施例におけるアレイ基板の作製方法は、具体的に、上述のステップS1〜S5により薄膜トランジスタを作製し、ステップS5におけるゲート電極の第1部分10の形成と同時に、図3と図9に示すように、第3ホール8を介してドレイン電極4と電気接続するアレイ基板の画素電極5を形成する。
ここで、ゲート電極の第1部分10と画素電極5の形成は、具体的に、ステップS4を経た底部基板100に導電層を形成し、上記導電層パターニング工程を行うことにより、ゲート電極の第1部分10と画素電極5を形成する。
本発明の実施例における表示装置は、上述のアレイ基板を含み、表示デバイスの歩留まりと表示品質を向上させる。
上記表示装置は、液晶表示装置であってもよく、有機発光ダイオード表示装置であってもよい。具体的に、上記表示装置は、液晶パネル、電子ペーパー、OLEDパネル、携帯電話、タブレットパソコン、テレビ、ディスプレイ、ノートパソコン、デジタルフォトフレーム、ナビゲータなど、表示機能を有する製品や部品である。
本発明は、薄膜トランジスタのソース電極とドレイン電極を活性層に位置するように設置することにより、活性層が同一平面に位置することを保証し、従来技術における登り難いことによる活性層の断線しやすい問題を克服することができる。また、活性層の厚さが均一であるため、絶縁破壊や短絡現象が生じず、薄膜トランジスタの歩留まりが向上する。ソース電極とドレイン電極とが異なる層に位置するように設置することにより、ソース電極とドレイン電極の距離を自由に調節することができ、狭いチャネルが実現されやすく、薄膜トランジスタの性能が向上する。
以上の記載は、本発明の好適な実施形態に過ぎない。なお、当業者にとって、本発明の技術原理を逸脱することなく、各種の改良や置換を行うことができ、これらの改良や置換も本発明の保護範囲として見なされるべきである。

Claims (13)

  1. 全体が同一平面に位置する活性層と、
    活性層上に位置し、上記活性層に接触するように設置されたソース電極と、
    ソース電極上に位置し、第1ホールを含む第1絶縁層と、
    上記第1絶縁層上に位置し、第1ホールを介して活性層に接触するドレイン電極と、
    ドレイン電極を被覆する第2絶縁層と、
    ソース電極とドレイン電極の間の領域に対応する部分を有し上記第2絶縁層上に位置する第1部分を含むゲート電極と
    を含み、
    上記ゲート電極は、ゲート電極の第1部分と電気接続する第2部分を更に含み、
    上記ドレイン電極と上記ゲート電極の第2部分とは同一層に位置し、
    上記第2絶縁層は、上記ゲート電極の第2部分とドレイン電極を被覆することを特徴とする薄膜トランジスタ。
  2. 上記ゲート電極の第2部分は、ソース電極のドレイン電極から離れた側に位置することを特徴とする請求項に記載の薄膜トランジスタ。
  3. 上記第2絶縁層は、第2ホールを含み、
    上記ゲート電極の第1部分は、上記第2ホールを介してゲート電極の第2部分と電気接触することを特徴とする請求項に記載の薄膜トランジスタ。
  4. 上記ゲート電極の第2部分とドレイン電極の材料は、ゲート金属であることを特徴とする請求項に記載の薄膜トランジスタ。
  5. 上記ゲート電極の第1部分は、透明導電材料であることを特徴とする請求項に記載の薄膜トランジスタ。
  6. 上記ソース電極は、薄膜トランジスタの活性層が存在する領域に位置し、且つ全体が上記活性層と接触するように設置されることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の薄膜トランジスタ。
  7. 全体が同一平面に位置する活性層を形成し、
    上記活性層と接触するように設置されたソース電極を上記活性層上に形成し、
    上記ソース電極上に第1絶縁層を形成し、上記第1絶縁層に第1ホールを形成し、
    第1ホールを介して活性層に接触するドレイン電極を上記第1絶縁層上に形成し、
    ドレイン電極を被覆する第2絶縁層を形成し、
    ソース電極とドレイン電極の間の領域に対応する部分を有し上記第2絶縁層上に位置する第1部分を含むゲート電極を形成し、
    上記第2絶縁層に第2ホールを形成することを含み、
    ゲート電極とドレイン電極の形成において、
    上記第1絶縁層にゲート金属層を形成し、上記ゲート金属層にパターニング工程を行うことにより、ゲート電極の第2部分と、第1絶縁層の第1ホールを介して活性層に接触するドレイン電極とを形成し、
    上記第2絶縁層に導電層を形成し、上記導電層にパターニング工程を行うことにより、ソース電極とドレイン電極の間の領域に対応する部分を有し第2絶縁層の第2ホールを介してゲート電極の第2部分と電気接触するゲート電極の第1部分を形成することを含むことを特徴とする薄膜トランジスタの作製方法。
  8. 活性層とソース電極の形成において、
    活性層薄膜を形成し、
    上記活性層薄膜にソース金属層を形成し、
    上記ソース金属層にフォトレジストを塗布し、フォトレジストに対して露光、現像を行うことにより、薄膜トランジスタのソース電極が存在する領域に対応するフォトレジスト完全保留領域と、薄膜トランジスタの活性層がソース電極の位置に対応しない領域に対応するフォトレジスト半分保留領域と、及び、他の領域に対応するフォトレジスト未保留領域とを形成し、
    フォトレジスト未保留領域のソース金属層と活性層薄膜をエッチングして除去し、活性層のパターンを形成し、
    フォトレジスト半分保留領域のフォトレジストを除去し、
    フォトレジスト半分保留領域のソース金属層をエッチングして除去し、
    残りのフォトレジストを剥離し、薄膜トランジスタの活性層とソース電極を形成することを含むことを特徴とする請求項に記載の作製方法。
  9. 請求項1〜のいずれか一項に記載の薄膜トランジスタと、
    薄膜トランジスタのドレイン電極を被覆し、第3ホールを有する第2絶縁層と、
    上記第2絶縁層に位置し、上記第3ホールを介して薄膜トランジスタのドレイン電極と電気接触する画素電極と
    を含むことを特徴とするアレイ基板。
  10. 上記第2絶縁層に位置する第1部分を含むゲート電極を更に含み、
    上記第1部分は、ソース電極とドレイン電極の間の領域に対応する部分を有し、画素電極と同一層に位置することを特徴とする請求項に記載のアレイ基板。
  11. 請求項又は10に記載のアレイ基板を含む表示装置。
  12. 全体が同一平面に位置する活性層を形成し、
    上記活性層と接触するように設置されたソース電極を上記活性層に形成し、
    上記ソース電極に第1絶縁層を形成し、上記第1絶縁層に第1ホールを形成し、
    上記第1絶縁層にゲート金属層を形成し、上記ゲート金属層にパターニング工程を行うことにより、ゲート電極の第2部分と、第1絶縁層の第1ホールを介して活性層と接触するドレイン電極とを形成し、
    ドレイン電極を被覆する第2絶縁層を形成し、上記第2絶縁層に第2ホールと第3ホールを形成し、
    ソース電極とドレイン電極の間の領域に対応する部分を有し、第2絶縁層の第2ホールを介してゲート電極の第2部分と電気接触するゲート電極の第1部分を上記第2絶縁層に形成し、
    ゲート電極の第1部分の形成と同時に、第3ホールを介してドレイン電極と電気接触するアレイ基板の画素電極を形成することを含むことを特徴とするアレイ基板の作製方法。
  13. ゲート電極の第1部分と画素電極の形成において、
    上記第2絶縁層に導電層を形成し、上記導電層にパターニング工程を行うことにより、ゲート電極の第1部分と画素電極を形成することを特徴とする請求項12に記載の作製方法。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104716196B (zh) 2015-03-18 2017-08-08 京东方科技集团股份有限公司 薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板及显示装置
CN105607366B (zh) * 2016-01-05 2019-03-05 京东方科技集团股份有限公司 防静电器件及其制造方法、基板
CN105826397B (zh) * 2016-05-31 2019-08-13 厦门天马微电子有限公司 薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板及显示装置
CN107611181A (zh) * 2017-10-26 2018-01-19 京东方科技集团股份有限公司 薄膜晶体管、阵列基板及其制造方法、显示装置
CN109411545A (zh) * 2018-09-30 2019-03-01 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 一种薄膜晶体管及其制造方法
CN109659238B (zh) * 2019-03-12 2019-05-31 南京中电熊猫平板显示科技有限公司 一种薄膜晶体管及其制造方法
CN111430380A (zh) * 2020-04-14 2020-07-17 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板及其制作方法
CN112530978B (zh) * 2020-12-01 2024-02-13 京东方科技集团股份有限公司 开关器件结构及其制备方法、薄膜晶体管膜层、显示面板
CN115295609A (zh) * 2022-08-24 2022-11-04 惠科股份有限公司 薄膜晶体管、薄膜晶体管的制备方法及显示面板

Family Cites Families (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5100816A (en) * 1990-07-20 1992-03-31 Texas Instruments Incorporated Method of forming a field effect transistor on the surface of a substrate
JP3615556B2 (ja) * 1992-11-04 2005-02-02 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリックス基板とその製造方法
WO2002095834A1 (en) * 2001-05-18 2002-11-28 Sanyo Electric Co., Ltd. Thin film transistor and active matrix type display unit production methods therefor
JP2003179233A (ja) * 2001-12-13 2003-06-27 Fuji Xerox Co Ltd 薄膜トランジスタ、及びそれを備えた表示素子
KR100887997B1 (ko) * 2002-12-26 2009-03-09 엘지디스플레이 주식회사 기생 용량 편차가 최소화된 액정 표시 장치용 박막트랜지스터
KR100760939B1 (ko) * 2003-05-23 2007-09-21 엘지.필립스 엘시디 주식회사 반사투과형 액정표시장치 및 그의 제조방법
KR100611147B1 (ko) * 2003-11-25 2006-08-09 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광표시장치
KR100966453B1 (ko) * 2005-12-30 2010-06-28 엘지디스플레이 주식회사 액정표시소자 제조방법
TWI267213B (en) * 2006-01-27 2006-11-21 Ind Tech Res Inst Organic light emitting device with integrated color filter and method of manufacturing the same
CN101154677A (zh) * 2006-09-27 2008-04-02 群康科技(深圳)有限公司 主动矩阵式有机电激发光显示器及其制造方法
JP2009194351A (ja) * 2007-04-27 2009-08-27 Canon Inc 薄膜トランジスタおよびその製造方法
JP5567770B2 (ja) * 2007-09-21 2014-08-06 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及び表示装置の製造方法
KR101406889B1 (ko) * 2007-12-24 2014-06-13 삼성디스플레이 주식회사 박막트랜지스터 및 그의 제조 방법
JP5213458B2 (ja) * 2008-01-08 2013-06-19 キヤノン株式会社 アモルファス酸化物及び電界効果型トランジスタ
JP2009267399A (ja) * 2008-04-04 2009-11-12 Fujifilm Corp 半導体装置,半導体装置の製造方法,表示装置及び表示装置の製造方法
CN102576507B (zh) 2009-09-28 2015-08-05 凸版印刷株式会社 有源矩阵基板及其制造方法和图像显示装置
CN102054833B (zh) 2009-11-09 2013-03-06 京东方科技集团股份有限公司 薄膜晶体管基板及其制造方法
KR101600879B1 (ko) * 2010-03-16 2016-03-09 삼성디스플레이 주식회사 박막트랜지스터, 그 제조방법 및 박막트랜지스터를 이용한 표시기판
US9178165B2 (en) * 2010-07-13 2015-11-03 Sumitomo Chemical Company, Limited Organic semiconductor composition, organic thin film, and organic thin film transistor having same
CN102082179A (zh) * 2010-11-04 2011-06-01 友达光电股份有限公司 薄膜晶体管与具有此薄膜晶体管的像素结构
JP2013050509A (ja) * 2011-08-30 2013-03-14 Panasonic Liquid Crystal Display Co Ltd 液晶表示装置
CN102543886B (zh) * 2012-01-05 2014-09-03 复旦大学 一种栅控二极管半导体存储器器件的制造方法
CN102543723A (zh) * 2012-01-05 2012-07-04 复旦大学 一种栅控二极管半导体器件的制造方法
KR101884891B1 (ko) * 2012-02-08 2018-08-31 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20130110490A (ko) * 2012-03-29 2013-10-10 삼성디스플레이 주식회사 어레이 기판 및 이의 제조 방법
KR101924078B1 (ko) * 2012-03-30 2018-12-03 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치의 리페어 방법
KR101980842B1 (ko) * 2012-09-06 2019-05-22 삼성디스플레이 주식회사 센싱 유닛, 플렉서블 장치 및 표시 장치
KR102046996B1 (ko) * 2012-10-16 2019-11-21 삼성디스플레이 주식회사 박막 트랜지스터 표시판
TWI471949B (zh) * 2012-11-16 2015-02-01 Innocom Tech Shenzhen Co Ltd 薄膜電晶體基板與顯示器
CN103117285B (zh) * 2013-02-04 2015-12-02 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、显示装置及阵列基板的制造方法
CN103219389B (zh) * 2013-03-21 2016-03-16 京东方科技集团股份有限公司 一种薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板和显示装置
CN103219392B (zh) * 2013-04-10 2017-04-12 合肥京东方光电科技有限公司 薄膜晶体管、阵列基板、制备方法以及显示装置
TWI520347B (zh) * 2013-06-19 2016-02-01 中華映管股份有限公司 氧化物半導體薄膜電晶體及其製造方法
TWI520221B (zh) * 2013-07-25 2016-02-01 中華映管股份有限公司 薄膜電晶體及其製造方法
CN104347641B (zh) * 2013-08-05 2018-02-06 瀚宇彩晶股份有限公司 薄膜晶体管阵列基板
CN103715137B (zh) * 2013-12-26 2018-02-06 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制造方法、显示装置
TWM491180U (zh) * 2014-05-08 2014-12-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 薄膜電晶體及畫素結構
CN104022126B (zh) * 2014-05-28 2017-04-12 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板、其制作方法及显示装置
CN104241392B (zh) * 2014-07-14 2017-07-14 京东方科技集团股份有限公司 一种薄膜晶体管及其制备方法、显示基板和显示设备
CN104269379B (zh) 2014-10-17 2017-10-10 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制备方法、显示装置
CN104716196B (zh) * 2015-03-18 2017-08-08 京东方科技集团股份有限公司 薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板及显示装置

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