JP6068404B2 - 電子デバイスの製造方法及び製造装置 - Google Patents
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Description
第1表面を有する基板を提供する工程と、
少なくとも一面に導電ブロックを有する電子デバイスを提供する工程と、
前記電子デバイスの少なくとも一面にある前記導電ブロックを、前記基板の第1表面に固定して一体ユニットを形成し、前記導電ブロック同士の間のピッチは100μm以下であり、前記電子デバイスと前記基板との間のギャップは50μm以下である工程と、
前記電子デバイスの複数の側面から毛細管充填型アンダーフィル(capillary underfill)を塗付けて、当該アンダーフィルを、前記電子デバイスと前記基板との間のギャップに沿って広がっていき、前記ギャップに充填し、前記導電ブロックに対する保護を形成する工程と、
前記一体ユニットを処理室内に配置する工程と、
前記処理室内の温度を第1所定温度まで上昇させる工程と、
前記処理室内の圧力を前調整する工程と、
前記処理室内の圧力を1大気圧以上である第2所定圧力まで上昇させ、かつ前記第2所定圧力を所定時間保つ工程と、
前記処理室内の温度を第2所定温度に調整する工程と、
を備える電子デバイスの製造方法であって、
前記処理室内の圧力を前調整する工程は、
(a)前記処理室内の圧力を真空圧力である第1所定圧力まで低下させ、かつ前記第1所定圧力を所定時間保つ工程と、
(b)前記処理室内の圧力を第1所定圧力から第1戻り圧力まで上昇させる工程と、を備え、
前記工程(a)から前記工程(b)を一回又は複数回実行し、前記第2所定圧力が前記第1戻り圧力より高い、ことを特徴とする電子デバイスの製造方法を提供する。
第1表面を有する基板を提供する工程と、
少なくとも一面に導電ブロックを有する電子デバイスを提供する工程と、
前記電子デバイスの少なくとも一面にある導電ブロックを前記基板の第1表面に固定して一体ユニットを形成し、前記導電ブロック同士の間のピッチが100μm以下であり、前記電子デバイスと前記基板との間のギャップは50μm以下である工程と、
前記電子デバイスの複数の側面から毛細管充填型アンダーフィルを塗付けて、前記アンダーフィルが前記電子デバイスと前記基板との間のギャップに沿って広がっていき、前記ギャップに充填し、前記導電ブロックに対する保護を形成する工程と、
前記一体ユニットを処理室内に配置する工程と、
前記処理室内の温度を第1所定温度まで上昇させる工程と、
前記処理室内の圧力を真空圧力である第1所定圧力まで低下させ、かつ前記真空圧力を所定時間保つ工程と、前記処理室内の圧力を1大気圧以上である第2所定圧力まで上昇させ、かつ前記第2所定圧力を所定時間保つ工程と、
前記処理室内の温度を第2所定温度に調整する工程と、
を備える電子デバイスの製造方法を提供する。
外部圧力源に接続する、電子デバイスの製造装置であって、
一以上のガス入口と一以上のガス出口を有し、外部の拡充領域と連通し、前記ガス入口が前記外部圧力源に接続する処理室と、
前記処理室内に取付けられる温度調整器と、
前記処理室外に取付けられ、前記処理室に接続する真空生成器と、
駆動モータ、伝動軸及びタービン羽根を有し、前記温度調整器を通って前記処理室内部に向けて流動する気流を生成し、前記駆動モータが前記処理室と連通する前記拡充領域中に設けられ、前記タービン羽根が前記処理室内にあり、前記伝動軸が前記駆動モータ及び前記タービン羽根に接続するターボ送風機と、
制御装置と、を備え、
前記制御装置が、
前記温度調整器により、前記処理室内の温度を第1所定温度まで上昇させる工程と、
前記真空生成器により、前記処理室内の圧力を真空圧力である第1所定圧力まで低下させ、かつ前記真空圧力を所定時間保つ工程と、
前記外部圧力源により、前記処理室内の圧力を1大気圧以上である第2所定圧力まで上昇させ、かつ前記第2所定圧力を所定時間保つ工程と、
前記温度調整器と前記タービン羽根により、前記処理室内の温度を第2所定温度に調整する工程と、を実行する、ことを特徴とする電子デバイスの製造装置を提供する。
外部圧力源に接続する電子デバイスの製造装置であって、
一以上のガス入口と一以上のガス出口を有し、外部の拡充領域と連通し、前記ガス入口が前記外部圧力源に接続する処理室と、
前記処理室内に取付けられる温度調整器と、
前記処理室外に取付けられ、前記処理室に接続する真空生成器と、
駆動モータ、伝動軸及びタービン羽根を有し、前記温度調整器を通って前記処理室内部に向けて流動する気流を生成し、前記駆動モータが前記処理室と連通する前記拡充領域中に設けられ、前記タービン羽根が前記処理室内にあり、前記伝動軸が前記駆動モータ及び前記タービン羽根に接続するターボ送風機と、
制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
前記温度調整器により、前記処理室内の温度を第1所定温度まで上昇させる工程と、
前記処理室内の圧力を前調整する工程と、
前記外部圧力源により、前記処理室内の圧力を1大気圧以上である第2所定圧力まで上昇させ、かつ前記第2所定圧力を所定時間保つ工程と、
前記温度調整器及び前記タービン羽根により、前記処理室内の温度を第2所定温度に調整する工程と、を有し、
前記処理室内の圧力を前調整する工程は、
(a1)前記真空生成器により、前記処理室内の圧力を真空圧力である第1所定圧力まで低下させ、かつ前記第1所定圧力を所定時間保つ工程と、
(b1)前記処理室内の圧力を前記第1所定圧力から第1戻り圧力まで上昇させる工程と、を含み、
前記工程(a1)から前記工程(b1)を一回又は複数回実行し、前記第2所定圧力が前記第1戻り圧力より高い、ことを特徴とする電子デバイスの製造装置を提供する。
図3A〜図3Cを参照し、本発明の実施例による電子デバイスの製造方法を説明する。当該製造方法は、第1表面100aを有する基板100を提供する工程と、少なくとも一面に導電ブロック(例えばバンプ)103を有する電子デバイス101を提供する工程と、電子デバイス101の少なくとも一面にある導電ブロック103を基板100の第1表面100aに固定して一体ユニットを形成し、導電ブロック103同士の間のピッチBが100μm以下であり、電子デバイス101と基板100との間のギャップAが50μm以下である工程と、電子デバイス101の複数の側面から毛細管充填型アンダーフィル105を塗付けて、アンダーフィル105が電子デバイス101と基板100との間のギャップAに沿って広がっていき、ギャップAに充填し、アンダーフィル105が電子デバイス101と基板100との間にある導電ブロック103を被覆し、導電ブロック103同士を隔離することにより、導電ブロック103に対する保護を形成する工程と、その後、前記一体ユニットを図2に示す処理室1内に配置する工程と、図1に示すように、処理室1内の温度を第1所定温度に調整し、アンダーフィル105の流動性を向上させる工程と、処理室1内の圧力を真空圧力である第1所定圧力まで低下させ、かつ前記真空圧力を所定時間保って、大部分の気泡107と気泡109(充填不足の領域)を除去した後、処理室1内の圧力を1大気圧以上である第2所定圧力まで上昇させ、かつ第2所定圧力を所定時間保つ工程と、処理室1内の温度を第2所定温度に調整して、残留した気泡107及び気泡109(充填不足の領域)を除去する工程と、を含む。例えば、本発明の実施例において、第2所定圧力は1大気圧より大きく、かつ20大気圧以下であることができるが、これに限らない。
本発明の実施例による電子デバイスの製造装置は、図2に示すように、外部圧力源である施設圧力(facility pressure)に接続できる。「施設圧力」とは、一般に、工場設備が提供する圧力を指す。前記製造装置は、前記外部圧力源に接続する一以上のガス入口5、及び一以上のガス出口7を有する処理室1と、処理室1内に取付けられる温度調整器9と、処理室外に取付けられ、ガス出口7を介して処理室1に接続する真空生成器11と、制御装置15と、温度調整器9を通って処理室1内部に向けて流動する気流を生成するターボ送風機17と、を更に含む。処理室1は、外部の拡充領域3と連通する。温度調整器9、真空生成器11及びターボ送風機17は、制御装置15と電気接続し、制御装置15との間で信号を送受信できるため、制御装置15により制御される。
3 拡充領域
5 ガス入口
7 ガス出口
9 温度調整器
11 真空生成器
13 圧力調整素子
15 制御装置
17 ターボ送風機
17a 駆動モータ
17b 伝動軸
17c タービン羽根
19 真空検出器
21 圧力検出器
23 温度検出器
100 基板
100a 第1表面
101 電子デバイス
103 導電ブロック
105 毛細管充填型アンダーフィル
107 気泡
109 気泡(充填不足の領域)
A ギャップ
B ピッチ
C アンダーフィル先端
D アンダーフィル先端
E アンダーフィル先端
M1 工程1
M2 工程2
M3 工程3
M4 工程4
Claims (6)
- 外部圧力源に接続する電子デバイスの製造装置であって、
一以上のガス入口と一以上のガス出口を有し、外部の拡充領域と連通し、前記ガス入口が前記外部圧力源に接続する処理室と、
前記処理室内に取付けられる温度調整器と、
前記処理室外に取付けられ、前記処理室に接続する真空生成器と、
駆動モータ、伝動軸及びタービン羽根を有し、前記温度調整器を通って前記処理室内部に向けて流動する気流を生成し、前記駆動モータが前記処理室と連通する前記拡充領域中に設けられ、前記タービン羽根が前記処理室内にあり、前記伝動軸が前記駆動モータ及び前記タービン羽根に接続するターボ送風機と、
制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
前記温度調整器により、前記処理室内の温度を第1所定温度まで上昇させる工程と、
前記処理室内の圧力を前調整する工程と、
前記外部圧力源により、前記処理室内の前記圧力を1大気圧以上である第2所定圧力まで上昇させ、かつ前記第2所定圧力を所定時間保つ工程と、
前記温度調整器及び前記タービン羽根により、前記処理室内の前記温度を第2所定温度に調整する工程と、を有し、
前記処理室内の圧力を前調整する工程は、
(a1)前記真空生成器により、前記処理室内の前記圧力を真空圧力である第1所定圧力まで低下させ、かつ前記第1所定圧力を所定時間保つ工程と、
(b1)前記処理室内の前記圧力を前記第1所定圧力から第1戻り圧力まで上昇させ、かつ前記第1戻り圧力は1大気圧以下である工程と、
(c1)前記真空生成器により、前記処理室内の前記圧力を前記第1戻り圧力から真空圧力である第3所定圧力まで低下させ、かつ前記第3所定圧力を所定時間保つ工程と、
(d1)前記処理室内の前記圧力を前記第3所定圧力から第2戻り圧力まで上昇させる工程と、を含み、
工程(a1)から工程(d1)を一回又は複数回実行し、前記第2所定圧力は、前記第1戻り圧力より大きく、前記第2戻り圧力より大きく、
前記第1所定圧力は、前記第3所定圧力より小さいか、前記第3所定圧力に等しいか、または前記第3所定圧力より大きく、
前記第1戻り圧力は、前記第2戻り圧力より小さいか、前記第2戻り圧力に等しいか、または前記第2戻り圧力より大きい、ことを特徴とする電子デバイスの製造装置。 - 前記外部圧力源と前記ガス入口の間に設けられ、前記処理室内の前記圧力を、前記第2所定圧力に達しかつその圧力に保つことを促す圧力調整素子を更に備える、ことを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスの製造装置。
- 前記処理室内に接続し、前記処理室内の前記真空圧力を検知し、かつ前記制御装置と電気接続する真空検出器を更に備える、ことを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスの製造装置。
- 前記処理室内に接続し、前記処理室内の前記圧力を検知し、かつ前記制御装置と電気接続する圧力検出器を更に備える、ことを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスの製造装置。
- 前記処理室内に接続し、前記処理室内の前記温度を検知し、かつ前記制御装置と電気接続する温度検出器を更に備える、ことを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスの製造装置。
- 前記制御装置がプログラム可能論理制御装置である、ことを特徴とする請求項1に記載の電子デバイスの製造装置。
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JPH11121484A (ja) * | 1997-10-16 | 1999-04-30 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法と製造装置 |
JP4272768B2 (ja) * | 1999-09-14 | 2009-06-03 | 武蔵エンジニアリング株式会社 | 液状樹脂材料の塗布方法 |
JP2001313314A (ja) * | 2000-04-28 | 2001-11-09 | Sony Corp | バンプを用いた半導体装置、その製造方法、および、バンプの形成方法 |
JP3681636B2 (ja) * | 2000-12-27 | 2005-08-10 | サンユレック株式会社 | 電子部品の製造方法及び装置 |
JP2004006805A (ja) * | 2002-04-19 | 2004-01-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子部品の製造方法 |
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