JP6003381B2 - 画像形成装置、検査装置、及び検査方法 - Google Patents
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Description
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、簡易な方法で、検出センサの測定誤差を算出する術を提供することを目的とする。
・前記第1マークは、拡散反射率の低いブラックの第1現像剤により形成され、前記第2マークは、ブラックに比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成されるマーク本体部と、前記第1現像剤を用いて形成されるマスク部であって、前記マーク本体部の前記X方向の両端部を被覆するマスク部と、を含む。センサによる補正用マークの測定誤差の要因に検出センサの光軸ずれがある。投光部の光軸がずれた状態で補正用マークに光を照射すると、受光される光の拡散反射成分に、中心ずれ(偏り)が出来る。この構成では、マーク本体部の両側をマスク部により被覆しているので、第2マークに向けて光を照射すると、受光部には、マーク本体部からの拡散反射光だけが入光し、それ以外の光はほとんど入光しない。従って、拡散反射光の中心ずれが検出し易くなる。
・前記第1マークは、2ラインから構成されるマークである。
・前記変換テーブルは、担持体表面における光の反射率に応じて段階的に設けられている。
本発明の実施形態1を図1ないし図11によって説明する。
1.プリンタの全体構成
図1は、本実施形態のプリンタ1(本発明の「画像形成装置」の一例)の内部構成を表す要部側断面図である。以下の説明では、各構成要素について、色毎に区別する場合は各部の符号にC(シアン),M(マゼンタ),Y(イエロー),K(ブラック)の添え字を付し、区別しない場合は添え字を省略する。また、以下の説明においてベルト34の移動方向(図1の左右方向)をX方向(副走査方向)とし、水平面内でX方向に直交する方向をY方向(主走査方向)とする。
次に、プリンタ1の電気的構成について説明する。図2はプリンタ1の電気的構成を概念的に示すブロック図である。プリンタ1は、メインモータ71、露光装置49、定着器9、高圧電源回路73、マークセンサ80、通信部75、入出力部77、制御装置100などから構成されている。メインモータ71は、感光ドラム41、現像ローラ45等のプロセス系の回転体や、搬送ローラ11や駆動ローラ31など用紙搬送系の回転体を回転駆動させるものである。高圧電源回路73は、帯電器50に印加する帯電電圧や、現像ローラ45に印加する現像電圧を生成する機能を果たすものである。また、通信部75はPC等の情報端末装置との間で通信を行うものであり、情報端末装置から印刷指示や印刷データを受信する機能を担う。尚、マークセンサ80は、本発明の「センサ」の一例である。
本プリンタ1は、ベルト34上に形成したレジストレーションマーク(以下、レジマーク170)をマークセンサ80で読み取り、得られたデータに基づいて、用紙上における色ずれ(各色の印刷位置のずれ)を補正する。レジマーク170は、図3に示すように等間隔で形成された各色のラインからなる。各色のラインはX方向に対して斜めに傾斜しており、傾斜方向が正逆異なる2組が設けられている。尚、図3中の「170K」はブラックのレジマークを、「170Y」はシアンのレジマークを、「170M」はマゼンタのレジマークを、「170C」はシアンのレジマークを示している。また、レジストレーションマーク70が本発明の補正用マークの一例である。
ブラックのプロセスユニット40Kに対して各プロセスユニット40C、40M、40YのX方向に関する相対的な位置関係が保たれていれば、各レジマーク170は各プロセスユニット40によりブラックのレジマーク170Kから設定された距離だけX方向に離れた位置に印刷されるので、ブラックのレジマーク170Kのマークの中心位置を基準とした各色のレジマーク170Y、170M、170Cの中心位置までの中心位置間距離Lky、Lkm、Lkcを測定すると、その値は理論値に一致し、この場合、X方向の色ずれは発生しない。
また、同様に、ブラックのプロセスユニット40Kに対して各プロセスユニット40C、40M、40YのY方向に関する相対的な位置関係が保たれていない場合、各レジマーク170は理論値通りに印刷されないので、各色のレジマーク170K、170Y、170M、170Cについて、一方側のレジマークの中心位置から他方側のレジマークの中心位置までの中心位置間距離Lkk、Lyy、Lmm、Lccを測定すると、ブラックの中心位置間距離Lkkに対して各色の中心位置間距離Lyy、Lmm、Lccの値が外れる。
マークセンサ80は、画像形成部5よりベルト34上に印刷されたレジマーク170を読み取るものであり、この実施形態では、ベルト34の後方下部側に取り付けられている。マークセンサ80は、図3に示すように、投光部81と受光部85とから構成されている。投光部81は、例えばLEDからなり、受光部85は、例えばフォトトランジスタからなる。
トナーの色がブラック以外の場合、すなわちシアン、マゼンタ、イエローの場合、投光部81から出射された光はレジマーク表面で拡散し、レジマーク周辺のベルト表面が露出した箇所では正反射する。そのため、シアン、マゼンタ、イエローのレジマーク170に対するマークセンサ80の受光信号Srは、図4や図5に示すように、レジマーク表面での拡散反射光を受光した拡散反射成分と、ベルト表面での正反射光を受光した正反射成分とを合成した波形となる。尚、ベルト表面で光が正反射するのは、ベルト34は、表面を鏡面状に加工しているからである。
上記のようにレジマーク170の測定誤差Ux、Uyは、光軸ずれによって拡散反射成分の位置がずれることにより発生する。本実施形態では、以下に説明する誤差検出用マーク200を用いて、拡散反射成分の位置のずれを検出することによって、レジマーク170の測定誤差Ux、Uyを検出する。
色ずれ補正とは、ブラックを基準とした各色の印刷位置のずれを小さくする処理である。色ずれ補正シーケンスは、図11に示すようにS10〜S110の処理から構成されており、例えば、ベルト34やプロセスユニット40の交換時に、制御装置100により実行される。
ブラックを基準とした各色のX方向に関する印刷位置のずれ量は、理論値に対する各中心位置間距離Lky、Lkm、Lkcのずれ量に比例する。そのため、まず、各中心位置間距離Lky、Lkm、Lkcについて理論値に対するずれ量Δky、Δkm、Δkcを算出する。そして、算出したずれ量Δky、Δkm、Δkcに対してS50にて算出した測定誤差Ux分のデータ修正を加える。すなわち、測定誤差Uxの符号をプラスマイナス反転させた修正値を加えるデータ補正を行う。そして、データ修正した各ずれ量Δky、Δkm、Δkcが小さくなるように、印刷位置を各色について各々調整することで、X方向に関する各色の印刷位置ずれを抑えることが出来る。尚、印刷位置の補正は、各露光装置49の露光開始タイミングを、補正値に相当する時間、調整することにより行なわれる。
ブラックを基準とした各色のY方向に関する印刷位置のずれ量は、中心位置間距離Lkkに対する各中心位置間距離Lyy、Lmm、Lccのずれ量に比例する。そのため、まず、各中心位置間距離Lyy、Lmm、Lccについて中心位置間距離Lkkに対するずれ量Δyy、Δmm、Δccを算出する。そして、算出したずれ量Δyy、Δmm、Δccに対してS50にて算出した測定誤差Uy分のデータ修正を加える。すなわち、測定誤差Uyの符号をプラスマイナス反転させた修正値を加えるデータ補正を行う。そして、データ修正した各ずれ量Δyy、Δmm、Δccが小さくなるように、印刷位置を各色について各々調整することで、Y方向に関する各色の印刷位置ずれを抑えることが出来る。尚、印刷位置の補正は、各露光装置49の露光開始タイミングを、補正値に相当する時間、調整することにより行なわれる。尚、制御装置100により実行されるS110が本発明の「補正処理」に対応する。
プリンタ1は、マークセンサ80によるレジマーク170の測定誤差Ux、Uyを検出し、そのデータを色ずれ補正用の補正値の算出に反映させているので、色ずれの補正を高精度に行うことが可能となる。
次に、本発明の実施形態2を図12によって説明する。実施形態2は、実施形態1に対して誤差検出用マーク200の構成を一部変形したものである。具体的には、実施形態1では、誤差検出用マーク200の第1マーク210を単一のラインにより構成した。
次に、本発明の実施形態3を図13ないし図16によって説明する。
実施形態3は、実施形態1に対して誤差検出用マーク200の構成を変更したものである。実施形態3に適用される誤差検出用マーク300は、図13に示すように、第1マーク310と、第2マーク320と、基準マーク330を含む構成となっている。
次に、本発明の実施形態4を図17によって説明する。実施形態4は、実施形態3に対して誤差検出用マーク300の構成を変更したものである。実施形態3では、トナー濃度に差を付けることによって、第1マーク310と第2マーク320の拡散反射成分の大きさに差をもたせた。実施形態4ではX方向の長さ、すなわちライン幅に差を付けることにより、第1マーク410と第2マーク420の拡散反射成分の大きさに差をもたせるようにしている。
次に、本発明の実施形態5を図18によって説明する。実施形態5の誤算検出用マーク500は、第1マーク510と、第2マーク520と、基準マーク530を含む構成としている。
次に、本発明の実施形態6を説明する。実施形態1では、マークセンサ80の測定誤差Ux、Uyをプリンタ1にて検出する例を説明した。実施形態6では、マークセンサ80の測定誤差Ux、Uyを、検査装置を用いて検出するものである。
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
5...画像形成部(本発明の「形成部」の一例)
34...ベルト(本発明の「担持体」の一例)
41...感光ドラム
80...マークセンサ(本発明の「センサ」の一例)
81...投光部
85...受光部
100...制御装置
150...ROM
170...レジマーク(本発明の「補正用マーク」の一例)
200...誤差検出用マーク
210...第1マーク
220...第2マーク
221...マーク本体部
225...マスク部
Claims (21)
- 一方向に循環移動する担持体と、
前記担持体上に現像剤を用いて画像を形成する形成部と、
前記担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサと、
制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
第1マークと、前記第1マークに対して前記担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、前記形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成処理と、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定処理と、
前記第1測定処理にて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから前記センサの測定誤差を検出する測定誤差検出処理と、
前記形成部を用いて補正用マークを前記照射位置に形成する補正用マーク形成処理と、
前記担持体上の照射位置に形成された前記補正用マークを、前記センサを用いて測定する第2測定処理と、
前記第2測定処理にて測定した前記補正用マークの測定値と、前記測定誤差検出処理にて検出した前記センサの測定誤差とに基づいて、画像を形成する位置のずれを補正する補正処理とを行い、
前記第1マークは、
拡散反射率の低いブラックの第1現像剤により形成され、
前記第2マークは、
ブラックに比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成されるマーク本体部と、
前記第1現像剤を用いて形成されるマスク部であって、前記マーク本体部の前記X方向の両端部を被覆するマスク部と、を含む画像形成装置。 - 前記第1マークは、単一ラインから形成されるマークである請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記第1マークは、2ラインから構成されるマークである請求項1に記載の画像形成装置。
- 前記形成部は、各現像剤に対応して前記担持体の移動方向に整列状に複数設けられ、
前記第2現像剤に対応する第2形成部が、前記第1現像剤に対応する第1形成部に対して、前記担持体の移動方向の上流側に設けられている請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載の画像形成装置。 - 前記制御装置は、
前記測定誤差検出処理にて、前記第1マークと前記第2マークの測定値に基づいて、前記第1マークにおける前記照射位置を横切る辺のうちX方向最上流辺とX方向最下流辺との間の距離の中心位置から前記第2マークにおける前記照射位置を横切る辺のうち前記マーク本体部上に形成される二辺の距離の中心位置までの中心位置間距離を算出し、算出した中心位置間距離と基準値との差に基づいて、前記センサによる前記補正用マークのX方向に関する測定誤差を決定する請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の画像形成装置。 - 前記制御装置は、
前記誤差検出用マーク形成処理にて、前記形成部を用いて前記担持体上の照射位置に、2つの非平行な第1マークをX方向に間隔Pを空けて形成し、2つの非平行な第2マークをX方向に間隔Pを空けて形成し、
前記測定誤差検出処理にて、前記各第1マークの測定値に基づいて、各第1マークにおける前記照射位置を横切る辺のうちX方向最上流辺とX方向最下流辺との間の距離の中心位置をそれぞれ検出し、検出した各中心位置間の中心位置間距離を検出し、前記各第2マークの測定値に基づいて、各第2マークにおける前記照射位置を横切る辺のうち前記マーク本体部上に形成される二辺の距離の中心位置をそれぞれ検出し、検出した各中心位置間の中心位置間距離を検出し、
前記第1マーク側の中心位置間距離と前記第2マーク側の中心位置間距離の差からY方向の測定誤差を検出する請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の画像形成装置。 - 一方向に循環移動する担持体と、
前記担持体上に現像剤を用いて画像を形成する形成部と、
前記担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサと、
制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
第1マークと、前記第1マークに対して前記担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、前記形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成処理と、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定処理と、
前記第1測定処理にて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから前記センサの測定誤差を検出する測定誤差検出処理と、
前記形成部を用いて補正用マークを前記照射位置に形成する補正用マーク形成処理と、
前記担持体上の照射位置に形成された前記補正用マークを、前記センサを用いて測定する第2測定処理と、
前記第2測定処理にて測定した前記補正用マークの測定値と、前記測定誤差検出処理にて検出した前記センサの測定誤差とに基づいて、画像を形成する位置のずれを補正する補正処理とを行い、
前記第1マークは、
ブラックの第1現像剤に比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成され、
前記第2マークは、
前記第1マークと濃度の異なる前記第2現像剤により形成される画像形成装置。 - 一方向に循環移動する担持体と、
前記担持体上に現像剤を用いて画像を形成する形成部と、
前記担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサと、
制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
第1マークと、前記第1マークに対して前記担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、前記形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成処理と、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定処理と、
前記第1測定処理にて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから前記センサの測定誤差を検出する測定誤差検出処理と、
前記形成部を用いて補正用マークを前記照射位置に形成する補正用マーク形成処理と、
前記担持体上の照射位置に形成された前記補正用マークを、前記センサを用いて測定する第2測定処理と、
前記第2測定処理にて測定した前記補正用マークの測定値と、前記測定誤差検出処理にて検出した前記センサの測定誤差とに基づいて、画像を形成する位置のずれを補正する補正処理とを行い、
前記第1マークは、
ブラックの第1現像剤に比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成され、
前記第2マークは、
前記第1マークと前記X方向の長さの異なる前記第2現像剤により形成される画像形成装置。 - 一方向に循環移動する担持体と、
前記担持体上に現像剤を用いて画像を形成する形成部と、
前記担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサと、
制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
第1マークと、前記第1マークに対して前記担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、前記形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成処理と、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定処理と、
前記第1測定処理にて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから前記センサの測定誤差を検出する測定誤差検出処理と、
前記形成部を用いて補正用マークを前記照射位置に形成する補正用マーク形成処理と、
前記担持体上の照射位置に形成された前記補正用マークを、前記センサを用いて測定する第2測定処理と、
前記第2測定処理にて測定した前記補正用マークの測定値と、前記測定誤差検出処理にて検出した前記センサの測定誤差とに基づいて、画像を形成する位置のずれを補正する補正処理とを行い、
前記第1マークは、
ブラックの第1現像剤に比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成され、
前記第2マークは、
前記第1現像剤により形成されるマスク部と、
前記マスク部よりも前記X方向の長さが短く、かつ前記第2現像剤により前記マスク部上に形成される画像形成装置。 - 前記制御装置は、前記測定誤差検出処理にて、前記第1マークと前記第2マークの測定値に基づいて、前記第1マークのX方向の中心位置から、前記第2マークのX方向の中心位置までの中心位置間距離を算出し、算出した中心位置間距離と基準値との差に基づいて、前記センサによる前記補正用マークのX方向に関する測定誤差を決定する請求項7ないし請求項9のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 前記制御装置は、前記誤差検出用マーク形成処理にて、前記形成部を用いて前記担持体上の照射位置に、2つの非平行な第1マークをX方向に間隔Pを空けて形成し、2つの非平行な第2マークをX方向に間隔Pを空けて形成し、
前記測定誤差検出処理にて、前記各第1マークの測定値に基づいて、各第1マークにおけるX方向の中心位置をそれぞれ検出し、検出した各中心位置間の中心位置間距離を検出し、前記各第2マークの測定値に基づいて、各第2マークのX方向の中心位置をそれぞれ検出し、検出した各中心位置間の中心位置間距離を検出し、前記第1マーク側の中心位置間距離と前記第2マーク側の中心位置間距離の差からY方向の測定誤差を検出する請求項7ないし請求項9のいずれか一項に記載の画像形成装置。 - 前記制御装置は、前記中心位置間距離のデータを、変換テーブルを用いて、前記補正用マークの測定誤差に変換する請求項5、請求項6、請求項10、請求項11のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 前記変換テーブルは、担持体表面における光の反射率に応じて段階的に設けられている請求項12に記載の画像形成装置。
- 前記担持体を循環駆動するローラ又は前記形成部を構成する感光ドラムの回転周期に合わせて前記誤差検出用マークを形成する請求項1ないし請求項13のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 前記制御装置は、前記センサの測定誤差が上限値以上である場合、エラーとする請求項1ないし請求項14のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサの検査方法であって、
第1マークと、前記第1マークに対して担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成ステップと、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定ステップと、
前記第1測定ステップにて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから、前記センサの測定誤差を検出するステップと、を含み、
前記第1マークは、
ブラックの第1現像剤に比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成され、
前記第2マークは、
ブラックに比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成されるマーク本体部と、
前記第1現像剤を用いて形成されるマスク部であって、前記マーク本体部の前記X方向の両端部を被覆するマスク部と、を含む検査方法。 - 担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサの検査方法であって、
第1マークと、前記第1マークに対して担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成ステップと、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定ステップと、
前記第1測定ステップにて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから、前記センサの測定誤差を検出するステップと、を含み、
前記第1マークは、
ブラックの第1現像剤に比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成され、
前記第2マークは、
前記第1マークと濃度の異なる前記第2現像剤により形成される検査方法。 - 担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサの検査方法であって、
第1マークと、前記第1マークに対して担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成ステップと、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定ステップと、
前記第1測定ステップにて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから、前記センサの測定誤差を検出するステップと、を含み、
前記第1マークは、
ブラックの第1現像剤に比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成され、
前記第2マークは、
前記第1マークと前記X方向の長さの異なる前記第2現像剤により形成される検査方法。 - 担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサの検査方法であって、
第1マークと、前記第1マークに対して担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成ステップと、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定ステップと、
前記第1測定ステップにて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから、前記センサの測定誤差を検出するステップと、を含み、
前記第1マークは、
ブラックの第1現像剤に比べて拡散反射率の高い第2現像剤により形成され、
前記第2マークは、
前記第1現像剤により形成されるマスク部と、
前記マスク部よりも前記X方向の長さが短く、かつ前記第2現像剤により前記マスク部上に形成される検査方法。 - 一方向に循環移動する担持体と、
前記担持体上に現像剤を用いて画像を形成する形成部と、
前記担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサと、
制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
第1マークと、前記第1マークに対して前記担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、前記形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成処理と、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定処理と、
前記第1測定処理にて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから前記センサの測定誤差を検出する測定誤差検出処理と、
前記形成部を用いて補正用マークを前記照射位置に形成する補正用マーク形成処理と、
前記担持体上の照射位置に形成された前記補正用マークを、前記センサを用いて測定する第2測定処理と、
前記第2測定処理にて測定した前記補正用マークの測定値と、前記測定誤差検出処理にて検出した前記センサの測定誤差とに基づいて、画像を形成する位置のずれを補正する補正処理とを行い、
前記測定誤差検出処理にて、前記第1マークと前記第2マークの測定値に基づいて、前記第1マークのX方向の中心位置から、前記第2マークのX方向の中心位置までの中心位置間距離を算出し、算出した前記中心位置間距離と基準値との差に基づいて、前記センサによる前記補正用マークのX方向に関する測定誤差を決定する画像形成装置。 - 担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサの検査方法であって、
第1マークと、前記第1マークに対して担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成ステップと、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定ステップと、
前記第1測定ステップにて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値に基づいて、前記第1マークのX方向の中心位置から、前記第2マークのX方向の中心位置までの中心位置間距離を算出し、算出した中心位置間距離と基準値との差に基づいて、前記センサによる前記補正用マークのX方向に関する測定誤差を決定するステップとを含む検査方法。
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