JP5556072B2 - 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置 - Google Patents

半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5556072B2
JP5556072B2 JP2009164506A JP2009164506A JP5556072B2 JP 5556072 B2 JP5556072 B2 JP 5556072B2 JP 2009164506 A JP2009164506 A JP 2009164506A JP 2009164506 A JP2009164506 A JP 2009164506A JP 5556072 B2 JP5556072 B2 JP 5556072B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
millimeter
dielectric
semiconductor
wave
millimeter wave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009164506A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010183055A (ja
Inventor
拓史 河村
安弘 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2009164506A priority Critical patent/JP5556072B2/ja
Priority to TW098141588A priority patent/TWI436468B/zh
Priority to BRPI0923803-4A priority patent/BRPI0923803A2/pt
Priority to CN201410379898.8A priority patent/CN104201162B/zh
Priority to KR1020117015098A priority patent/KR20110102384A/ko
Priority to CN200980153550.4A priority patent/CN102272919B/zh
Priority to PCT/JP2009/070519 priority patent/WO2010079663A1/ja
Priority to RU2011126997/28A priority patent/RU2507631C2/ru
Priority to US13/141,726 priority patent/US8983399B2/en
Priority to EP09837549.6A priority patent/EP2375444A4/en
Publication of JP2010183055A publication Critical patent/JP2010183055A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5556072B2 publication Critical patent/JP5556072B2/ja
Priority to US14/609,658 priority patent/US9705202B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/11Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q21/00Antenna arrays or systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L25/0655Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/065Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L25/0657Stacked arrangements of devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/10Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers
    • H01L25/105Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P3/00Waveguides; Transmission lines of the waveguide type
    • H01P3/12Hollow waveguides
    • H01P3/121Hollow waveguides integrated in a substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P3/00Waveguides; Transmission lines of the waveguide type
    • H01P3/12Hollow waveguides
    • H01P3/122Dielectric loaded (not air)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q23/00Antennas with active circuits or circuit elements integrated within them or attached to them
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q9/00Electrically-short antennas having dimensions not more than twice the operating wavelength and consisting of conductive active radiating elements
    • H01Q9/04Resonant antennas
    • H01Q9/0407Substantially flat resonant element parallel to ground plane, e.g. patch antenna
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6605High-frequency electrical connections
    • H01L2223/6627Waveguides, e.g. microstrip line, strip line, coplanar line
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6661High-frequency adaptations for passive devices
    • H01L2223/6677High-frequency adaptations for passive devices for antenna, e.g. antenna included within housing of semiconductor device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32135Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/32145Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/0651Wire or wire-like electrical connections from device to substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/04All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
    • H01L2225/065All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/06503Stacked arrangements of devices
    • H01L2225/06575Auxiliary carrier between devices, the carrier having no electrical connection structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1017All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support
    • H01L2225/1023All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement the lowermost container comprising a device support the support being an insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2225/00Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2225/03All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
    • H01L2225/10All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers
    • H01L2225/1005All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
    • H01L2225/1011All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the containers being in a stacked arrangement
    • H01L2225/1047Details of electrical connections between containers
    • H01L2225/1058Bump or bump-like electrical connections, e.g. balls, pillars, posts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01014Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01023Vanadium [V]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01038Strontium [Sr]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01042Molybdenum [Mo]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01075Rhenium [Re]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1532Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/1533Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate
    • H01L2924/15331Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate the connection portion being formed both on the die mounting surface of the substrate and outside the die mounting surface of the substrate being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1903Structure including wave guides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19102Disposition of discrete passive components in a stacked assembly with the semiconductor or solid state device
    • H01L2924/19104Disposition of discrete passive components in a stacked assembly with the semiconductor or solid state device on the semiconductor or solid-state device, i.e. passive-on-chip
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • H01L2924/30111Impedance matching
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Description

本発明は、半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置、その製造方法、およびミリ波誘電体内伝送システムに関する。
近年、映画映像やコンピュータ画像などの情報量の膨大化に伴い、ミリ波などのベースバンド信号を高速に伝送する装置が使用される場合が多くなってきた。この種の高速ベースバンド信号伝送装置には、ミリ波などの高速のベースバンド信号をエラーなく伝送することが要求される。
一方、ベースバンド信号を伝送する半導体パッケージによれば、多数の回路素子を半導体素子上に形成し、大規模な電子回路を構成した半導体チップを、複数の端子を備えた小型パッケージに封入したものが使用される場合が多い。
図38(A)および図38(B)は、従来例に係る半導体パッケージ1の構成例を示す平面図および、X3−X3矢視断面図である。図38(A)に示す半導体パッケージ1は半導体チップ2およびインターポーザ基板4を有している。
インターポーザ基板4上には半導体チップ2が実装される。半導体チップ2には、ベースバンド信号を伝送するための電気回路が構成される。半導体チップ2の表面には複数のパッド電極3が形成されている。インターポーザ基板4の背面側には、複数の端子電極5が設けられている。端子電極5は、半導体パッケージ1を適用する実装用の基板と電気的な接続をするための端子であり、電源、グランド(接地)用途、電気信号の入出力用途に使用される。インターポーザ基板4は半導体チップ2のパッド電極3と端子電極5とを接続する。半導体チップ2のパッド電極3とリード電極6とはボンディングワイヤ7により接続される。
また、インターポーザ基板4の表面には、パッド電極3と対応したリード電極6が形成されている。リード電極6は、インターポーザ基板4内の配線パターンを介して端子電極5に接続される。一般に、半導体チップ2とインターポーザ基板4とを接続する方法には、リードフレームやボンディングワイヤ7を用いて接続する方法があり、その他には、半田ボールを用いたフリップチップ接合による方法がある。フリップチップ接合による方法によれば、半導体チップ2の背面と、インターポーザ基板4の表面とに突起電極9(バンプ:半田ボール)を設け、半導体チップ2をインターポーザ基板4に半田ボールを介して接合する方法である。
インターポーザ基板4上に実装された半導体チップ2およびボンディングワイヤ7は、モールド樹脂8で封止される。モールド樹脂8は誘電体素材であり、その封止目的は、主に、パッケージ内部の半導体チップ2とボンディングワイヤ7による配線とを保護するためである。半導体パッケージ1は、通常、プリント基板などの実装用の基板の表面に実装されて使用される。半導体パッケージ1は、同一のプリント基板、あるいは他のプリント基板の電気回路に配線される。
一般に、プリント基板内の配線において、配線数の増大に伴い、多層基板が使用される場合が多い。多層基板は、通常、薄い誘電体基板に配線パターンを施し、それらを重ねて接着し、ビアによって各層の配線を接続することにより構成される。多層基板間においては、各誘電体基板にコネクタを装着し、コネクタの直結、あるいはコネクタ間のケーブル接続によって配線が行なわれる。
図39は、半導体パッケージ1a,1bを積層した電子機器700の構成例を示す断面図である。図39に示す電子機器700によれば、筐体12内に2つの半導体パッケージ1a,1b、実装用の基板10a,10b、シャーシ11、コネクタ14およびケーブル15を有して構成される。
半導体パッケージ1aは、下部の基板10aに実装され、半導体パッケージ1bは、上部の基板10bに実装される。半導体パッケージ1a,1bは、その表面を突き合わせるようにシャーシ11に接着される。半導体パッケージ1a,1bから発生した熱をシャーシ11に放熱するためである。2つの基板10a,10bはシャーシ11に固定される。シャーシ11は、さらに筺体12に固定される。基板10a,10bのシャーシ11への固定や、シャーシ11の筺体12への固定には、ネジ構造13が採られる。シャーシ11の材質としては、金属や強固なプラスチック材料などが使用される。また、半導体パッケージ1a,1b間のデータ伝送は、下部の基板10a,上部の基板10bに各々コネクタ14が設けられ、このコネクタ14間にケーブル15が接続されて実行される。
この種のミリ波を送受信する電子機器700に関連して、特許文献1には、誘電体導波管線路が開示されている。この誘電体導波管線路によれば、一対の主導体層、二列のバイアホール群および副導体層を備え、主導体層は誘電体を挟み平行に形成される。バイアホール群は、信号伝達方向に遮断波長以下の間隔で主導体層間を電気的に接続するように形成されている。副導体層はバイアホール群に接続され、主導体層と平行に形成されている。誘電体導波管線路では、主導体層、バイアホール群および副導体層に囲まれた導波管領域によって電気信号を伝達する場合に、少なくとも、一方の主導体層に、高周波伝送線路と電磁結合させるためのスロット孔が形成されている。高周波伝送線路は、マイクロストリップ線路から構成され、スロット孔と対峙する位置に形成されるものである。このように誘電体導波管線路を構成すると、容易に他の高周波伝送線路と電磁結合することができ、信号の伝達が可能となる。しかも、マイクロ波からミリ波まで安定した特性の導波管線路を提供できるというものである。
特開2004−104816号公報(第4頁 図1)
ところで、従来例に係るミリ波を送受信する電子機器700によれば、次のような問題がある。
i.電子機器700によれば、図39に示した半導体パッケージ1a,1bの表面を突き合わせるようにシャーシ11に接着され、下部の基板10a,上部の基板10bに各々設けられたコネクタ14間に、ケーブル15が接続される。そして、半導体パッケージ1a,1b間でデータを伝送するようになされる。したがって、電子機器が取り扱うデータ容量の増大に伴い、半導体パッケージ1a,1bに接続される配線の数が増大するおそれがある。
たとえば、メモリ用途の半導体パッケージにおいては、データ幅が32ビット、64ビットと増大し、アドレス幅も併せて増大している。これに伴い、半導体パッケージ1a,1bの端子電極5の数が増大する。これにより、パッケージサイズが大きくなるという問題が発生する。これは、特に、半導体チップ2のパッド電極3のサイズに比べ、インターポーザ基板4の端子電極5のサイズが大きいことに起因する。
ii.基板10における半導体パッケージ1aに接続される配線の数が増大することから、基板10をより多層構造とする必要が生じてくる。その結果、コストが増大するという問題が発生する。
iii.基板10a,10bをより多層構造とすると、下部の基板10a,上部の基板10b間を接続するコネクタ14およびケーブル15の端子数が増大する。その結果、コネクタ14、ケーブル15の物理サイズが大きくなったり、コネクタ14やケーブル15の形状が複雑化したり、これらの信頼性が低下したり、コストが増大するという問題が発生する。
iv.多層構造化により、複数のコネクタ14およびケーブル15を使用することにより、電子機器内部において、基板10a,10b、シャーシ11、筺体12の構成、形状、配置が複雑化する。この結果、製作コストの増大や組み立て工数の増加や、その難しさなどの問題を生じる。
v.因みに、特許文献1に開示されるような誘電体導波管線路を参照して、ミリ波の信号を送受信する電子機器を構成しようとした場合を考える。
この場合、図39に示した半導体パッケージ1a,1bを積層した電子機器700の構造において、コネクタ14およびケーブル15を誘電体導波管線路に置き換えることが考えられる。しかし、何らの工夫無しに、コネクタ14およびケーブル15を誘電体導波管線路に置き換えただけでは、ミリ波などの高速のベースバンド信号をエラーなく伝送することが困難となるという問題がある。
そこで、本発明はこのような課題を解決したものであって、端子数が多いコネクタおよび実装面積を多くとるケーブルに依存することなく、ミリ波誘電体伝送システムを容易に構築できるようにする。そのような半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置、その製造方法およびミリ波誘電体内伝送システムを提供することを目的とする。
上述した課題は、基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップと、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造と、前記半導体チップを覆う絶縁部材と、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され前記アンテナ構造に整合されたミリ波伝送部材を備える半導体装置によって解決される。
アンテナ構造が、絶縁部材で覆われてしまう構造の場合は、絶縁部材は、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含んでいるものとする。たとえば、複数のミリ波帯通信可能な半導体チップを同一パッケージ内に収容する構成とする場合にアンテナ構造の全体も絶縁部材で覆ってしまう場合には、半導体チップを覆う絶縁部材がそれら複数の半導体チップ間でミリ波信号伝送を実行可能にするミリ波伝送部材として機能するようにする。
本発明に係る半導体装置によれば、本発明に係る同一の構成を具備する2つのミリ波誘電体内伝送可能な半導体装置を各々のミリ波伝送部材を介在させて接触させ、当該半導体装置を動作させると、一方の半導体装置から他方の半導体装置へミリ波の信号を伝送できるようになる。
本発明に係るミリ波誘電体内伝送装置は、一方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、前記半導体チップを覆う絶縁部材を有したミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体装置と、他方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、前記半導体チップを覆う絶縁部材を有するミリ波誘電体内伝送可能な第2の半導体装置と、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され前記第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波信号伝送部材とを備え、前記第1の半導体装置と第2の半導体装置とが前記ミリ波信号伝送部材を介在して前記第1の半導体装置のアンテナ構造と前記第2の半導体装置のアンテナ構造との間でミリ波信号伝送を実行可能に実装されたものである。
本発明に係るミリ波誘電体内伝送装置によれば、第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波信号伝送部材を介して、第1の半導体装置から第2の半導体装置へミリ波の信号を伝送できるようになる。
本発明に係る半導体装置の製造方法は、基板上にミリ波帯通信可能な半導体チップを形成する工程と、前記基板上に形成された半導体チップにアンテナ構造を接続する工程と、絶縁部材で前記半導体チップを覆って絶縁する工程と、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で前記アンテナ構造にミリ波伝送部材を整合する工程とを有するものである。
本発明に係るミリ波誘電体内伝送装置の製造方法は、一方の基板上にミリ波帯通信可能な半導体チップを設け、前記半導体チップにアンテナ構造を接続し、および、絶縁部材で前記半導体チップを覆ってミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体装置を形成する工程と、他方の基板上にミリ波帯通信可能な半導体チップを設け、前記半導体チップにアンテナ構造を接続し、および、絶縁部材で前記半導体チップを覆ってミリ波誘電体内伝送可能な第2の半導体装置を形成する工程と、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材により前記第1の半導体装置と第2の半導体装置との間にミリ波伝送部材を形成する工程を有し、前記ミリ波伝送部材を形成する際に、前記第1の半導体装置のアンテナ構造と前記第2の半導体装置のアンテナ構造との間でミリ波の信号が伝送可能となるように前記ミリ波伝送部材を介在して当該第1および第2の半導体装置を実装するものである。
本発明に係るミリ波誘電体内伝送システムは、一方の電子機器の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、前記電子機器の半導体チップを覆う絶縁部材を有したミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体装置と、他方の電子機器の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、前記電子機器の半導体チップを覆う絶縁部材を有するミリ波誘電体内伝送可能な第2の半導体装置と、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され前記第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波伝送部材とを備え、一方の前記電子機器と他方の前記電子機器とが前記ミリ波伝送部材を介して前記第1の半導体装置のアンテナ構造と前記第2の半導体装置のアンテナ構造との間でミリ波の信号が伝送可能となるように接触されるものである。
このように、本発明に係る一態様は、ミリ波帯通信可能な半導体チップを有する第1および第2の半導体装置の各々のアンテナ構造が誘電体伝送路を介在して対向するように配置する。そして、第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路を介して、第1の半導体装置から第2の半導体装置へミリ波の信号を伝送できるようにする。これとともに、端子数が多いコネクタおよび実装面積を多くとるプリント配線シートケーブルに依存することなく、ミリ波誘電体伝送システムを容易に構築できるようにした。
このような仕組みの本発明の一態様は、たとえば映画映像やコンピュータ画像などを搬送する搬送周波数が30GHz〜300GHzのミリ波帯の信号を高速に伝送するミリ波帯通信システムに適用可能なものである。
本発明に係る半導体装置およびその製造方法によれば、半導体チップにアンテナ構造を接続する。また、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され、アンテナ構造に整合されたミリ波伝送部材を設ける。アンテナ構造の全体が絶縁部材で覆われる場合には、半導体チップを覆う絶縁部材も、ミリ波誘電体内伝送路を構成するように、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含むものとする。
この構成によって、本発明に係る同一の構成を具備する2つのミリ波誘電体内伝送可能な半導体装置を各々のミリ波伝送部材を介在して接触させ、当該半導体装置を動作させる。すると、一方の半導体装置から他方の半導体装置へミリ波の信号を伝送できるようになる。しかも、半導体装置間で高速データ伝送を実現できるようになる。
これにより、端子数が多いコネクタおよび実装面積が多いプリント配線シートケーブルに依存することなく、一方向または双方向にミリ波の信号を簡単かつ安価な構成で、伝送可能とするミリ波誘電体伝送装置を容易に構築できるようになる。
本発明に係るミリ波誘電体内伝送装置およびその製造方法によれば、各々がミリ波帯通信可能な半導体チップを有する第1および第2の半導体装置の各々のアンテナ構造がミリ波伝送部材を介在して配置されるものである。
この構成によって、第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波信号伝送可能なミリ波伝送部材を介して、第1の半導体装置から第2の半導体装置へミリ波の信号を伝送できるようになる。これにより、端子数が多いコネクタおよび実装面積が多いプリント配線シートケーブルに依存することなく、一方向または双方向にミリ波の信号を伝送可能とするミリ波誘電体伝送システムを容易に構築できるようになる。
本発明に係るミリ波誘電体内伝送システムによれば、一方の電子機器の基板上には、ミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体装置が設けられ、他方の電子機器の基板上にはミリ波帯通信可能な第2の半導体装置が設けられる。第1の半導体装置と第2の半導体装置との間にはミリ波信号伝送可能なミリ波伝送部材が設けられ、一方の電子機器と他方の電子機器とがミリ波伝送部材を介して第1の半導体装置のアンテナ構造と第2の半導体装置のアンテナ構造との間でミリ波の信号が伝送可能となるように接触されるものである。
この構成によって、第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波信号伝送可能なミリ波伝送部材を介して、第1の半導体装置から第2の半導体装置へミリ波の信号を伝送できるようになる。これにより、両方の電子機器間を接続する通信ケーブルなどに依存することなく、一方の電子機器と他方の電子機器との間で通信処理を実行できるようになる。
本発明に係る第1の実施形態としての半導体パッケージ20の構成例を示す断面図である。 半導体パッケージ20の内部構成例を示すブロック図である。 半導体パッケージ20の形成例を示す工程図である。 第2の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送装置200の構成例を示す断面図である。 ミリ波誘電体内伝送装置200の組立例を示す断面図である。 ミリ波誘電体内伝送装置200の内部構成例を示すブロック図である。 図4に示したミリ波誘電体内伝送装置200の拡大構成例を示す斜視図である。 ミリ波誘電体内伝送装置200の通過特性および反射特性検証用のシミュレーションモデル例を示す説明図である。 ミリ波誘電体内伝送装置200のシミュレーション特性例を示すグラフ図である。 第3の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送装置300の構成例を示す図である。 第4の実施形態としての半導体パッケージ20cの構成例を示す斜視図である。 半導体パッケージ20cの形成例を示す工程図である。 POP構造のミリ波誘電体内伝送装置400の構成例を示す断面図である。 POP構造のミリ波誘電体内伝送装置400の組立例を示す断面図である。 第5の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送装置500の構成例を示す断面図である。 ミリ波誘電体内伝送装置500の形成例(その1)を示す工程図である。 ミリ波誘電体内伝送装置500の形成例(その2)を示す工程図である。 ミリ波誘電体内伝送装置500の形成例(その3)を示す工程図である。 第6の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送システム600の構成例を示す断面図である。 電子機器601の形成例を示す工程図である。 電子機器602の形成例を示す工程図である。 第7の実施形態に対する比較例を説明する図である。 第7の実施形態の半導体パッケージの構成概要を説明する図である。 第7の実施形態の半導体パッケージで使用されるアンテナ構造の具体例を説明する図である。 図24に示したアンテナ構造が適用された第7の実施形態の半導体パッケージの具体例を説明する図である。 図25に示した第7の実施形態の半導体パッケージにおけるシミュレーション特性例を示す図(その1)である。 図25に示した第7の実施形態の半導体パッケージにおけるシミュレーション特性例を示す図(その2)である。 図25に示した第7の実施形態の半導体パッケージにおけるシミュレーション特性例を示す図(その3)である。 第8の実施形態に対する比較例を説明する図である。 第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システムの構成概要を説明する図である。 図30に示した第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システムにおけるシミュレーション特性例を示す図(その1)である。 図30に示した第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システムにおけるシミュレーション特性例を示す図(その2)である。 図30に示した第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システムにおけるシミュレーション特性例を示す図(その3)である。 第1変形例の半導体パッケージを説明する図である。 第2変形例の半導体パッケージを説明する図である。 第3変形例の半導体パッケージとミリ波誘電体内伝送システムを説明する図である。 第4変形例のミリ波誘電体内伝送システムを説明する図である。 従来例に係る半導体パッケージ1の構成例を示す平面図およびX3−X3矢視断面図である。 半導体パッケージ1を積層した電子機器の構成例を示す断面図である。
以下、図面を参照しながら、本発明に係る半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置およびその製造方法について説明する。
1.第1の実施形態(半導体パッケージ20:構成例、内部構成例および工程図)
2.第2の実施形態(ミリ波誘電体内伝送装置200:構成例、組立例、内部構成 例、拡大構成例、シミュレーションモデル例、特性例)
3.第3の実施形態(ミリ波誘電体内伝送装置300:構成例)
4.第4の実施形態(半導体パッケージ20c:構成例、形成例
ミリ波誘電体内伝送装置400:構成例および組立例)
5.第5の実施形態(ミリ波誘電体内伝送装置500:構成例および形成例)
6.第6の実施形態(ミリ波誘電体内伝送システム600:構成例
電子機器201,202の形成例)
7.第7の実施形態(同一パッケージ内の複数の半導体チップ間のミリ波伝送)
8.第8の実施形態(第7の実施形態+異なるパッケージ間のミリ波伝送)
9.変形例(第1変形例〜第4変形例)
<第1の実施形態>
[半導体パッケージ20の構成例]
図1を参照して、本発明に係る第1の実施形態としての半導体パッケージ20の構成例について説明する。図1に示す半導体パッケージ20は、半導体装置の一例を構成するものである。半導体パッケージ20は映画映像や、コンピュータ画像などを搬送する搬送周波数が30GHz乃至300GHzのミリ波帯の信号を高速に伝送するミリ波誘電体内伝送システムに適用可能なものである。ミリ波誘電体内伝送システムにはデジタル記録再生装置、地上波テレビ受像機、携帯電話機、ゲーム機、コンピュータ、通信装置などが含まれる。
半導体パッケージ20は、インターポーザ基板4、モールド樹脂8、ミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30およびアンテナ構造32を有して構成される。インターポーザ基板4はチップ実装用の基板を構成し、このインターポーザ基板4上には半導体チップ30が設けられる。インターポーザ基板4には、所定の比誘電率を有した熱強化樹脂と銅箔を組み合わせたシート部材が使用される。半導体チップ30はミリ波帯で通信処理するものである。半導体チップ30には、図2に示すようなLSI機能部201および信号生成部202とを一体化したシステムLSIが使用される(図2参照)。
なお、ミリ波信号の変換対象でない電源部などの端子は、従来構成と同様にして、半導体チップ30のパッド電極3からボンディングワイヤ7を介してリード電極6に配線され、インターポーザ基板4を介して端子電極5に接続される。
半導体チップ30にはアンテナ構造32が接続される。この例で、アンテナ構造32は、インターポーザ基板4の半導体チップ30上に設けられる。アンテナ構造32には、アンテナ端子31や、マイクロストリップ線路33、アンテナ39などが備えられる(図2参照)。
インターポーザ基板4上の半導体チップ30およびアンテナ構造32などのパッケージ構成要素には、絶縁部材の一例となるモールド樹脂8が覆われて絶縁(封止)される。モールド樹脂8には、たとえば、比誘電率ε1のエポキシ樹脂が使用される。従来型の半導体パッケージ1によれば、図39に示したように半導体チップ2のパッド電極3から端子電極5に対してデータ伝送用のプリント配線シートケーブルが接続されていた。
本発明に係る半導体パッケージ20によれば、半導体チップ30の内部で信号生成部202を実現する半導体集積回路には、アンテナ端子31が配線される。これら構成によって、従来型の半導体パッケージ1の端子電極5の一部が、本発明の半導体パッケージ20において、アンテナ構造32に置き換えられることになる。その結果、端子電極5を削減できるようになった。
アンテナ構造の全体もモールド樹脂8で覆ってしまう場合には、モールド樹脂8は、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含む誘電体素材で形成され、誘電体伝送路21の一部または全部を構成するようにする。本実施形態を適用しない場合、モールド樹脂8の目的はパッケージ内部の半導体チップやボンディングワイヤによる配線を保護するものであるが、本実施形態ではさらに、誘電体伝送路21をなす場合がある点が異なる。
モールド樹脂8上には、二点鎖線で示すようなミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21が設けられる。誘電体伝送路21はミリ波伝送部材の一例を構成し、図3(A)〜図3(E)に示すように金属製のシャーシ11の一部および、所定の比誘電率ε3を有した誘電体素材から構成される。誘電体素材はミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる。誘電体素材には、たとえば、アクリル樹脂系、ウレタン樹脂系、エポキシ樹脂系、シリコーン系およびポリイミド系からなる部材が使用される。シャーシ11は、領域画定用の部材の一例を構成し、アンテナ構造32の上部に整合される貫通部11aを有している。貫通部11aの開口断面形状は円形状でも矩形状でもよい。シャーシ11の厚み方向に形成される貫通部11aの深さ(高さ)は、誘電体伝送路21(導波路)の長さを画定(規定)する。
誘電体伝送路21は、シャーシ11の厚み方向に限定されることはなく、シャーシ11の面方向に配設してもよい。誘電体素材は、シャーシ11の貫通部11a内に設けられてミリ波の信号に基づく電磁波の誘電体内伝送路を構成するように機能する。また、誘電体伝送路21は、シャーシ11内の貫通部11aに設けられた誘電体素材に限られることはなく、半導体チップ30を覆うモールド樹脂8の一部を誘電体伝送路21として使用してもよい。
[半導体パッケージ20の内部構成例]
図2を参照して、半導体パッケージ20の内部構成例について説明する。図2に示す半導体チップ30は、LSI機能部201、信号生成部202および双方向のアンテナ結合部203を有して構成される。アンテナ結合部203は信号結合部の一例またはその一部を構成し、ここにアンテナ結合部203とは、狭義的には半導体チップ30内の電子回路と、チップ内またはチップ外に配置されるアンテナとを結合する部分をいう。広義的には、当該半導体チップ30と誘電体伝送路21とを信号結合する部分をいう。
LSI機能部201は図39に示した従来型の半導体チップ2が提供する所定機能を有している。たとえば、LSI機能部201は、相手方に送信したい画像や音声データなどを処理する回路や、相手方から受信した画像や音声データを処理する回路が含まれる。
LSI機能部201には信号生成部202が接続される。信号生成部202には第1の信号生成部の一例を構成する下り信号生成部23および第2の信号生成部の一例を構成する上り信号生成部24を有して構成される。下り信号生成部23は、入力信号Sinを信号処理してミリ波の信号Sを生成するために、パラレルシリアル変換回路34、変調回路35、周波数変換回路36、増幅器37を有して構成される。
パラレルシリアル変換回路34は第1の信号変換部の一例を構成し、パラレルの入力信号Sin(データ)をシリアルの送信信号Ss(データ)に変換する。パラレルシリアル変換回路34には変調回路35が接続される。変調回路35は、シリアルの送信信号Ssを変調するようになされる。変調回路35にはたとえば位相変調回路や、周波数変調回路が使用される。
変調回路35には周波数変換回路36が接続される。周波数変換回路36は、変調回路35によって変調された後の送信信号Ssを周波数変換してミリ波の信号Sを生成する。ここにミリ波の信号Sとは、30GHz〜300GHzの範囲のある周波数の信号をいう。周波数変換回路36には増幅器37が接続される。増幅器37は、周波数変換後のミリ波の信号Sを増幅するようになされる。
増幅器37には図示しないアンテナ端子31を介して双方向のアンテナ結合部203に接続される。アンテナ結合部203は、下り信号生成部23によって生成されたミリ波の信号Sを誘電体伝送路21に送信するとともに、当該誘電体伝送路21からミリ波の信号Sを受信して上り信号生成部24に出力する。誘電体伝送路21は、所定の比誘電率ε3を有した誘電体素材から構成される。
アンテナ結合部203は、たとえば、アンテナ構造32およびアンテナ切り替え部38(アンテナ共用器)から構成される。アンテナ構造32は誘電体伝送路21を共有する半導体パッケージ20側のアンテナ結合部203における構造をいう。アンテナ構造32にはアンテナ端子31、マイクロストリップ線路33およびアンテナ39を含み構成される。アンテナ切り替え部38を同一のチップ内に形成する場合は、当該アンテナ切り替え部38を除いたアンテナ端子31、マイクロストリップ線路33がアンテナ結合部203を構成するようになる。
アンテナ39は、ミリ波の信号Sの波長λに基づく所定の長さ、たとえば、600μm程度を有しており、誘電体伝送路21に結合される。アンテナ39には、パッチアンテナの他に、プローブアンテナ(ダイポールなど)、ループアンテナ、小型アパーチャ結合素子(スロットアンテナなど)が使用される。
アンテナ39は下りのミリ波の信号Sに基づく電磁波S’を誘電体伝送路21に輻射する。また、アンテナ39は上りのミリ波の信号Sに基づく電磁波S’を誘電体伝送路21から受信する。アンテナ構造32には、アンテナ39の他に、マイクロストリップ線路33が含まれる。マイクロストリップ線路33は、アンテナ端子31とアンテナ39との間を接続し、下りのミリ波の信号Sをアンテナ端子31からアンテナ39へ伝送し、および、上りのミリ波の信号Sをアンテナ39からアンテナ端子31へ伝送する。
アンテナ切り替え部38はアンテナ39を下りおよび上りで共用する場合に用いられる。たとえば、ミリ波の信号Sを相手方に送信するときは、アンテナ切り替え部38がアンテナ39を下り信号生成部23に接続する。また、相手方からのミリ波の信号Sを受信するときは、アンテナ切り替え部38がアンテナ39を上り信号生成部24に接続する。アンテナ切り替え部38は半導体チップ30上に設けているが、これに限られることはなく、半導体チップ30内に設けてもよい。なお、下りおよび上り用のアンテナを別々に設ける場合はアンテナ切り替え部38を省略してもよい。
アンテナ結合部203は、比帯域(=信号帯域/動作中心周波数)が10%〜20%程度であれば、共振構造などを利用しても容易に実現できる場合が多い。この実施形態では比誘電率ε1を有した誘電体素材が使用され、比誘電率ε1を有した誘電体素材は損失のある誘電体伝送路21を構成する。伝送線路21内にはミリ波の電磁波S’が伝搬するようになる。誘電体伝送路21は損失が大きいため反射も減衰する。
アンテナ結合部203には上り信号生成部24が接続される。上り信号生成部24は、アンテナ結合部203によって受信したミリ波の信号Sを信号処理して出力信号Soutを生成するために、増幅器44、周波数変換回路45、復調回路46およびシリアルパラレル変換回路47を有して構成される。
増幅器44はアンテナ結合部203に接続され、アンテナ39によって受信された後のミリ波の信号Sを増幅するようになされる。増幅器44には周波数変換回路45が接続され、周波数変換回路45は増幅後のミリ波の信号Sを周波数変換して周波数変換後のシリアルの受信信号Srを出力する。周波数変換回路45には復調回路46が接続され、復調回路46は、周波数変換後のシリアルの受信信号Srを復調するようになされる。
復調回路46には第2の信号変換部の一例を構成するシリアルパラレル変換回路47が接続される。シリアルパラレル変換回路47は、シリアルの受信信号Sr(データ)をパラレルの出力信号Sout(データ)に変換する。このように半導体チップ30を構成すると、入力信号Sinをシリアルパラレル変換(パラレルシリアル変換の誤記)し、受信信号Srをシリアルパラレル変換処理することにより、信号配線数が削減される。また、多層基板の積層数も削減できるようになる。この結果、端子数が多いコネクタおよびプリント配線シートケーブルを削減できるようになる。
このように半導体パッケージ20を構成して当該半導体パッケージ20を動作させる。すると、一方のシャーシ11の貫通部11a内に設けられた誘電体素材および、他方のシャーシ11の貫通部11a内に設けられた誘電体素材がミリ波誘電体内伝送路を構成するようになる。この誘電体伝送路を介して、一方のミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20から他方のミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20へミリ波の信号Sを伝送できるようになる。
[半導体パッケージ20の形成例]
続いて、図3(A)〜図3(E)を参照して、半導体パッケージ20の形成例について説明する。まず、図3(A)に示すインターポーザ基板4(ダイ)上に、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30を形成する。半導体チップ30には、図2に示した送信および受信系を半導体集積回路に一体化したシステムLSIを使用する。送信系はLSI機能部201、パラレルシリアル変換回路34、変調回路35、周波数変換回路36、増幅器37、アンテナ切り替え部38を有し、受信系は増幅器44、周波数変換回路45、復調回路46およびシリアルパラレル変換回路47を有している。半導体チップ30は、従来から自明な製造方法によりインターポーザ基板4上に実装すればよい。
次に、半導体チップ30の上部にアンテナ端子31を形成する。アンテナ端子31は、たとえば、アンテナ構造32を設ける領域のアンテナ結合部203の内部に実装されたアンテナ切り替え器38の出力点から引き出して置く。半導体チップ30にアンテナ切り替え器39を含める場合は、半導体チップ30の内部に実装されたアンテナ切り替え器38の出力点からアンテナ端子31を引き出して置く。
次に、図3(B)に示すインターポーザ基板4上に実装された半導体チップ30に、アンテナ構造32を接続する。たとえば、上述の半導体チップ30上のアンテナ端子31からマイクロストリップ線路33を形成し、このマイクロストリップ線路33の先端にアンテナ39を形成する。アンテナ39には、ミリ波の信号Sの波長λに基づく所定の長さ、たとえば、1辺が600μm程度を有したパッチアンテナが使用される。アンテナ39には、パッチアンテナの他に、プローブアンテナ(ダイポールなど)、ループアンテナ、小型アパーチャ結合素子(スロットアンテナなど)を使用してもよい。この半導体チップ30上のアンテナ端子31、マイクロストリップ線路33およびアンテナ39によってアンテナ構造32が得られる。
更に、図3(C)に示すようにインターポーザ基板4上の半導体チップ30およびアンテナ構造32にモールド樹脂8を覆って絶縁する。モールド樹脂8には、比誘電率ε1のエポキシ樹脂を使用する。エポキシ樹脂には、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(ECN)および溶融シリカフィラーを合成したものや、ビフェニル型エポキシ樹脂が使用される。その後、図3(D)に示すようにインターポーザ基板4下にフリップチップボンディング用の突起電極9(バンプ)を形成する。突起電極9は球状の半田部材から構成される。
その後、図3(E)に示すようにモールド樹脂8上に、ミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21を形成する。この誘電体伝送路21を形成する際に、たとえば、貫通部11aを有した金属製のシャーシ11をモールド樹脂8上に形成する。この貫通部11aは半導体チップ30のアンテナ構造32の上部に整合される部分である。この例では、シャーシ11に所定の位置に、口径φの貫通部11aを開口する。その後、このシャーシ11の貫通部11a内に誘電体素材を充填してミリ波の信号用の誘電体内伝送路21を形成する。誘電体素材には、比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂部材を使用する。
このシャーシ11と半導体パッケージ20とを接合するときに、半導体パッケージ20と、誘電体伝送路21との間に、ミリ波誘電体内伝送可能な誘電体素材から構成される粘弾性素材16を挿入してもよい。粘弾性素材16は、半導体パッケージ20とシャーシ11との間で放熱効果を与えるとともに、誘電体伝送路21との間の密着性を向上させ、アンテナ結合性能を向上させる効果を与える。粘弾性素材16は、所定の比誘電率および所定の誘電正接を有している。粘弾性素材16には、たとえば、アクリル樹脂系、ウレタン樹脂系、エポキシ樹脂系、シリコーン系およびポリイミド系からなる誘電体素材が使用される。粘弾性素材16内にミリ波の信号を高速に伝送させるためには、当該粘弾性素材16の比誘電率を3〜6程度とし、その誘電正接を0.0001〜0.001程度とすることが望ましい。
なお、アクリル樹脂系の比誘電率は2.5〜4.5であり、その誘電正接は0.001〜0.05である。ウレタン樹脂系の比誘電率は2.8〜4であり、その誘電正接は、0.001〜0.05である。エポキシ樹脂系の比誘電率は4〜6であり、その誘電正接は、0.001〜0.01である。シリコーン系の比誘電率は3〜6であり、その誘電正接は、0.0001〜0.001である。ポリイミド系の比誘電率は3〜4であり、その誘電正接は、0.001〜0.01である。これらの誘電体素材は誘電体伝送路21にも適用できる。これにより、ミリ波信号伝送可能な半導体パッケージ20が完成する。
このように、第1の実施形態としての半導体パッケージ20によれば、インターポーザ基板4上の半導体チップ30およびアンテナ構造32にはモールド樹脂8が覆われて絶縁され、このモールド樹脂8上には誘電体伝送路21が設けられるものである。したがって、本発明に係る同一の構成を具備する2つのミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20a,20bの各々の誘電体伝送路21を対向させて接触させ、当該半導体パッケージ20a,20bを動作させる。すると、一方の半導体パッケージ20aから他方の半導体パッケージ20bへミリ波の信号Sを伝送できるようになる。しかも、半導体パッケージ20a,20b間で高速データ伝送を実現できるようになる。
半導体チップ30およびアンテナ構造32を覆うモールド樹脂8もミリ波誘電体内伝送路を構成するようになるので、半導体パッケージ20の実装面積を縮小化できるようになる。これにより、端子数の多いコネクタおよびプリント配線シートケーブルに依存することなく、一方向または双方向にミリ波の信号Sを簡単かつ安価な構成で、伝送可能とするミリ波誘電体伝送システム(装置)を容易に構築できるようになる。
また、半導体パッケージ20を実装する実装用の基板においては、当該基板側に形成される端子電極は、アンテナ結合部203に適用されるアンテナ構造32に置き換えられることになる。その結果、アンテナ構造32を極小に形成できるようになるので、パッケージサイズの小型化を図ることが可能になる。更に、実装用の基板においては、配線数が削減される。その結果、多層基板を形成する際の層数を削減することが可能になる。
<第2の実施形態>
[ミリ波誘電体内伝送装置200の構成例]
この実施形態では、図4に示すように、誘電体伝送路付きのシャーシ11をミリ波誘電体内伝送可能な2つの半導体パッケージ20a,20bで挟み込んで積層したものである。
図4に示すミリ波誘電体内伝送装置200は、実装用の基板10a,10b、シャーシ11、筐体12、半導体パッケージ20a,20bを有して構成される。2つの半導体パッケージ20a,20bは、互いに表面がシャーシ11に接するように配置される。筐体12は、デジタル記録再生装置や、地上波テレビ受像機、携帯電話機、ゲーム機、コンピュータ、通信装置などのセットボックス(ケース)である。
筐体12には、誘電体伝送路21付きのシャーシ11が取り付けられる。シャーシ11は、筐体12の内部の側面や、その底面、その上面などにネジ構造13により固定される。シャーシ11には実装用の基板10a,10bが取り付けられる。この例で、シャーシ11の所定の部位には、上下2つの基板取り付け用のスペースが設けられ、各々のスペースに1枚ずつ基板10a,10bがシャーシ11を間にしてネジ構造13により取り付けられる。
下部の基板10aには半導体パッケージ20aが取り付けられる。半導体パッケージ20aには、第1の実施形態で説明した半導体パッケージ20が使用される。下部の基板10aと半導体パッケージ20aとは、従来方式のフリップチップ接合方法により、バンプなどの突起電極9で半田付け接合されている。半導体パッケージ20aは、一方のインターポーザ基板4上にミリ波帯通信可能な半導体チップ30が設けられる。半導体チップ30にはアンテナ構造32が接続されている。インターポーザ基板4上の半導体チップ30とアンテナ構造32とは、モールド樹脂8で覆われている。
上部の基板10bには半導体パッケージ20bが下向きに取り付けられる。半導体パッケージ20bは半導体パッケージ20aに比べて180°姿勢を倒置して実装されている。半導体パッケージ20bも、第1の実施形態で説明した半導体パッケージ20が使用される。上部の基板10bと半導体パッケージ20bとは、同様にしてバンプなどの突起電極9により半田付け接合されている。この例で、半導体パッケージ20bは、他方のインターポーザ基板4下にミリ波帯通信可能な半導体チップ30が設けられる。半導体チップ30には半導体パッケージ20aと同様にしてアンテナ構造32が接続されている。インターポーザ基板4下の半導体チップ30とアンテナ構造32とは、モールド樹脂8で覆われている。
このミリ波誘電体内伝送装置200によれば、2つの半導体パッケージ20a,20bの各々のアンテナ構造32が対向するようにシャーシ11に実装した積層構造を有している。半導体パッケージ20aのアンテナ構造32は、そのインターポーザ基板4の半導体チップ30上に設けられる。半導体パッケージ20bのアンテナ構造32は、そのインターポーザ基板4下の半導体チップ30下に設けられる。各々のアンテナ構造32には、パッチアンテナが使用される。この例では、各々のアンテナ構造32は、半導体パッケージ20a,20bの表面に形成されるとともに、誘電体伝送路21と直接接触するように配置される。このような積層構造を採ることで、アンテナ結合性能を向上できるようになる。この例で、下部の基板10a上に実装された半導体パッケージ20aは、粘弾性素材16を介して、シャーシ11と密着するように固定される。粘弾性素材16には、比誘電率ε4を有した粘弾性の樹脂が使用される。同様にして、上部の基板10b下に実装された半導体パッケージ20bも粘弾性素材16を介して、シャーシ11と密着するように固定される。半導体パッケージ20a,20bを粘弾性素材16で固定するようにしたのは、誘電体伝送路21中に、なるべく、比誘電率ε1が異なる物質が介在しないようにするためである。
半導体パッケージ20aと半導体パッケージ20bとの間には、ミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21が設けられ、半導体パッケージ20a,20bの各々のアンテナ構造32が誘電体伝送路21を介在して対向するように実装されている。シャーシ11中で破線で示した内側部分が誘電体伝送路21である。
誘電体伝送路21は、半導体パッケージ20aのアンテナ構造32の上部と、半導体パッケージ20bのアンテナ構造32の下部とを整合する位置に配設されている。この例では、上下部のアンテナ構造32を整合するシャーシ11の部位には貫通部11a(図5参照)が設けられている。この貫通部11a内に誘電体素材21’を充填することで、誘電体伝送路21が設けられる。誘電体素材21’には比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂などが使用される。
このようにミリ波誘電体伝送装置200を構成して、2つの半導体パッケージ20a,20bを動作させる。ミリ波の信号Sは、半導体パッケージ20a,20bのアンテナ構造32の間を電磁波S’となって、モールド樹脂8、粘弾性素材16、シャーシ11の内部の誘電体伝送路21を介して伝送される。これにより、誘電体伝送路21を構成するシャーシ11の貫通部11a内に設けられた誘電体素材21’を介して、一方の半導体パッケージ20aと、他方の半導体パッケージ20bとの間でミリ波の信号Sに基づく双方向の通信処理を実行できるようになる。しかも、図39に示した従来方式の回路実装基板の構成にて使用されていた、コネクタ14、ケーブル15が不要となる。
[ミリ波誘電体内伝送装置200の組立例]
続いて、図5(A)〜図5(C)を参照して、ミリ波誘電体内伝送装置200の製造方法について説明する。この例で、図4に示したようなミリ波誘電体内伝送装置200を製造する場合、まず、半導体パッケージ20a,20bを形成する。半導体パッケージ20aは、一方のインターポーザ基板4上にミリ波帯通信可能な半導体チップ30を設ける。その後、半導体チップ30にアンテナ構造32を接続する。更に、インターポーザ基板4上の半導体チップ30とアンテナ構造32とにモールド樹脂8を覆って絶縁する。これにより、ミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20aを形成することができる(図3参照)。
半導体パッケージ20bは、他方(別)のインターポーザ基板4上にミリ波帯通信可能な半導体チップ30を設ける。次に、半導体チップ30にアンテナ構造32を接続する。更に、インターポーザ基板4上の半導体チップ30およびアンテナ構造32とにモールド樹脂8を覆って絶縁する。これにより、ミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20bを形成することができる(図3参照)。
次に、半導体パッケージ20aと半導体パッケージ20bとの間にミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21を形成する。この誘電体伝送路21を形成する際に、金属製のシャーシ11の所定の位置に、たとえば、円筒状の貫通部11aを形成する。その後、貫通部11a内に誘電体素材21’を充填する。たとえば、貫通部11aの一方の側に樹脂ストッパ用の部材を当てて、底付き状態となった貫通部11aの上方から誘電体素材21’をスキージなどにより塗り込む。これにより、誘電体導波管が構成される。
その後、半導体パッケージ20aのアンテナ構造32と半導体パッケージ20bのアンテナ構造32とが誘電体伝送路21を介在して対向するように2つの半導体パッケージ20a,20bをシャーシ11に実装する。このとき、半導体パッケージ20aのアンテナ構造32のアンテナ39の中心と、半導体パッケージ20bのアンテナ構造32のアンテナ39の中心とが一致するように位置合わせする。
また、半導体パッケージ20a,20bをシャーシ11に実装する際に、半導体パッケージ20aの上面とシャーシ11の下面との間に粘弾性素材16aを介して接着(密着固定)する。同様にして、半導体パッケージ20bの下面とシャーシ11の上面との間に粘弾性素材16bを介して接着する。これにより、図4に示したミリ波誘電体内伝送装置200が完成する。
[ミリ波誘電体内伝送装置200の内部構成例]
図6を参照して、ミリ波誘電体内伝送装置200の内部構成例について説明する。図6に示すミリ波誘電体内伝送装置200は、半導体パッケージ20a、誘電体伝送路21および半導体パッケージ20bを有して構成される。
半導体パッケージ20aは、LSI機能部201、信号生成部202およびアンテナ結合部203から構成される。LSI機能部201の機能、信号生成部202およびアンテナ結合部203の内部構成は図2に示した通りである。LSI機能部201と信号生成部202との間の電気的なインターフェース204は、従来の半導体チップ2において、パッド電極3が提供するデータ伝送用のインターフェースであり、電気的な配線により実現される。
信号生成部202とアンテナ結合部203の間のミリ波のインターフェース205は、図2に示したアンテナ端子31やマイクロストリップ線路33が提供するミリ波伝送用のインターフェースである。信号生成部202は、インターフェース204によって与えられる入力(電気)信号Sinをミリ波の信号Sに変換する。また、ミリ波のインターフェース205によって与えられるミリ波の信号Sを出力(電気)信号Soutに変換する。
半導体パッケージ20bは、LSI機能部201’、信号生成部202’およびアンテナ結合部203’から構成される。LSI機能部201’の機能、信号生成部202’およびアンテナ結合部203’の内部構成については、図2に示したLSI機能部201、信号生成部202およびアンテナ結合部203と同様なのでその説明を省略する。
信号生成部202’とアンテナ結合部203’の間のミリ波のインターフェース205’は、図2に示したアンテナ端子31やマイクロストリップ線路33が提供するミリ波伝送用のインターフェースである。信号生成部202’は、インターフェース204’によって与えられる入力(電気)信号Sinをミリ波の信号Sに変換する。また、ミリ波のインターフェース205’によって与えられるミリ波の信号Sを出力(電気)信号Soutに変換する。
誘電体伝送路21は、上述のアンテナ結合部203とアンテナ結合部203’との間の誘電体区間206によって構成される。アンテナ結合部203は、ミリ波の信号Sのインターフェース205によって与えられるミリ波の信号Sを誘電体伝送路21に伝達する。これにより、誘電体区間206を介して他方のアンテナ結合部203’に効率良く伝送することができる。ここで効率が良いとは、所定のミリ波帯の周波数30GHz〜300GHzにおいて、アンテナ結合部203−203’間の通過特性が高く、アンテナ結合部203,203’のそれぞれにおける反射特性が低いことをいう。
[ミリ波誘電体内伝送装置200の拡大構成例]
図7を参照して、図4に示したミリ波誘電体内伝送装置200の拡大構成例について説明する。図7に示すミリ波誘電体内伝送装置200によれば、半導体パッケージ20a,20bの各々のアンテナ構造32には、アンテナ39としてパッチアンテナが使用される。半導体パッケージ20aにおいて、アンテナ39は、半導体チップ30上に積載されており、半導体チップ表面に形成されたアンテナ端子31と直接、あるいはボンディングワイヤを介して接続される。アンテナ39が半導体チップ30の表面に構成されているので、誘電体伝送路21と直接接触する構造を採ることができる。半導体パッケージ20bも半導体パッケージ20aと同様に構成されている。
図中、破線で示した円柱状部分は、誘電体伝送路21である。ミリ波誘電体内伝送装置200の積層構造によれば、2つの半導体パッケージ20a,20bの各々のアンテナ構造32が誘電体伝送路21を介在して対向するようにシャーシ11に実装されている。誘電体伝送路21は、たとえば、各々のアンテナ構造32が相互に見通せる範囲に納まるように配置(構築)される。
半導体パッケージ20aでは、ミリ波の信号Sをアンテナ端子31を介してアンテナ構造32に伝達する。そのアンテナ構造32は、ミリ波の信号Sをアンテナ39を介して誘電体伝送路21に輻射する。半導体パッケージ20bでは、そのアンテナ構造32が誘電体伝送路21から電磁波S’を受信してアンテナ端子31にミリ波の信号Sを伝達する。これにより、半導体パッケージ20a,20b間で誘電体伝送路21を介在した通信処理を実行できるようになる。
[シミュレーションモデル例]
図8を参照して、ミリ波誘電体内伝送装置200の通過特性および反射特性検証用のシミュレーションモデル例について説明する。図8に示すシミュレーションモデルは、図7に示したミリ波誘電体内伝送装置200の構成例を採っている。表1は、シミュレーションモデルに設定するパラメータをまとめたものである。
Figure 0005556072
表1において、l1は、図8に示すシミュレーションモデルのモールド樹脂8の一辺の長さであり、当該シミュレーションモデルでは、l1=10mmが設定される。t1は、モールド樹脂8の厚みであり、当該モデルではt1=0.8mmが設定される。ε1は、モールド樹脂8の比誘電率であり、同様にε1=4が設定される。 tanδ1は、モールド樹脂8の誘電正接であり、当該モデルでは tanδ1=0.01が設定される。
また、l2は、同図に示すアンテナ39(パッチアンテナ)の一辺の長さであり、当該モデルではl2=1.1mmが設定される。l3は、マイクロストリップ線路33の長さであり、当該モデルではl3=1mmが設定される。w1は、マイクロストリップ線路33の幅であり、当該モデルではw1=0.03mmが設定される。t2は、マイクロストリップ線路33の誘電体の厚みであり、当該モデルではt2=0.1mmが設定される。t3は、マイクロストリップ線路33の厚みであり、当該モデルではt3=0.018mmが設定される。ε2は、同図に示すインターポーザ基板4の比誘電率であり、当該モデルではε2=3.5が設定される。 tanδ2は、インターポーザ基板4の誘電正接であり、当該モデルでは tanδ2=0.01が設定される。
Zは、同図に示すアンテナ端子31のインピーダンスであり、当該モデルではZ=108Ωが設定される。φは、同図に示す誘電体伝送路21の口径であり、当該モデルではφ=2.75mmが設定される。l4は、誘電体伝送路21の長さであり、当該モデルではl4=4.8mmが設定される。ε3は、誘電体伝送路21(誘電体素材21’)の比誘電率であり、当該モデルではε3=4.0が設定される。 tanδ3は、誘電体伝送路21の誘電正接であり、当該モデルでは tanδ3=0.01が設定される。
t4は、同図に示す粘弾性素材の厚みであり、当該モデルではt4=0.13mmが設定される。ε4は、粘弾性素材の比誘電率であり、当該モデルではε4=4.0が設定される。 tanδ4は、粘弾性素材16の誘電正接であり、当該モデルでは tanδ4=0.01が設定される。なお、同図に示す上下の半導体パッケージ20a,20bには同一のパラメータが与えられる。
[シミュレーション特性例]
図9を参照して、ミリ波誘電体内伝送装置200のシミュレーション特性例について説明する。図9に示すシミュレーション特性例によれば、図8に示したミリ波誘電体内伝送装置200のシミュレーションモデルに与えられるアンテナ端子31間の通過特性例および反射特性例を示している。
図9において、縦軸は通過特性S(2,1)dBと反射特性S(1,1)dBである。横軸は搬送周波数f(GHz)であり、目盛りは5GHz単位である。図中、破線に示すIaは、通過特性例を示すものである。通過特性例Iaは、誘電体伝送路21を粘弾性素材16a,16bおよび誘電体素材21’により構成し、上下の半導体パッケージ20a,20bの各々のアンテナ結合部203,203’をマイクロストリップ線路33およびアンテナ39により構成した場合である。
この通過特性S(2,1)dBでは、搬送周波数fを40GHzから80GHzに至り、1GHzずつ増加した場合である。アンテナ端子31間の通過特性S(2,1)dBによれば、ミリ波の信号Sに基づく電磁波S’は、半導体パッケージ20aのアンテナ端子31から輻射する。電磁波S’は、誘電正接が tanδ1=0.01のモールド樹脂8から、誘電正接が tanδ4=0.01の粘弾性素材16aを通過する。そして、電磁波S’は誘電正接が tanδ3=0.01の誘電体素材21’の誘電体伝送路21へ伝送される。
さらに、電磁波S’は半導体パッケージ20bの誘電正接が tanδ4=0.01の粘弾性素材16bを通過し、誘電正接が tanδ1=0.01のモールド樹脂8に伝搬する。そして、半導体パッケージ20bのアンテナ端子31に至る通過特性をシミュレーションモデルで検証した。この場合のアンテナ端子31間の通過特性例Iaを周波数特性図に示している。
このシミュレーション結果によれば、ミリ波の信号Sに基づく電磁波S’は、アンテナ端子31間において、搬送周波数f=59GHz付近で、約−2.1dBだけ減衰していることが明確になった。換言すると、通過損失は、搬送周波数fが59GHz付近で約2.1dBと最も少なくなっている。
また、図中、実線に示すIIaはアンテナ端子31間の反射特性例を示すものである。この反射特性S(1,1)dBは、搬送周波数を40GHzから80GHzに至り、1GHzずつ増加した場合である。アンテナ端子31間の反射特性S(1,1)dBによれば、ミリ波の信号Sに基づく電磁波S’は、半導体パッケージ20aのアンテナ端子31から輻射する。電磁波S’は、誘電正接が tanδ1=0.01のモールド樹脂8から、誘電正接が tanδ4=0.01の粘弾性素材16aを通過する。そして、電磁波S’は誘電正接が tanδ3=0.01の誘電体素材21’の誘電体伝送路21へ伝送される。
さらに、電磁波S’は半導体パッケージ20bの誘電正接が tanδ4=0.01の粘弾性素材16bを通過し、誘電正接が tanδ1=0.01のモールド樹脂8に伝搬する。そして、半導体パッケージ20bのアンテナ端子31に至り反射する特性をシミュレーションモデルで検証した。この場合のアンテナ端子31間の反射特性例IIaを周波数特性図に示している。
このシミュレーション結果によれば、ミリ波の信号Sに基づく電磁波S’は、アンテナ端子31間において、搬送周波数f=59GHz付近で、約−22dB反射することが示されている。換言すると、反射損失は、搬送周波数fが59GHz付近で約−22dBと最も少なくなっている。
このように、第2の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送装置200によれば、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30を有する半導体パッケージ20a,20bの各々のアンテナ構造32が誘電体伝送路21を介在して対向するように配置されるものである。
したがって、半導体パッケージ20aと半導体パッケージ20bとの間に設けられた誘電体伝送路21を介して、半導体パッケージ20aから半導体パッケージ20bへミリ波の信号Sを伝送できるようになる。各々の半導体パッケージ20a,20bの半導体チップ30およびアンテナ構造32を覆うモールド樹脂8もミリ波誘電体内伝送路を構成するようになるので、半導体パッケージ20aの実装面積を縮小化できるようになる。しかも、半導体パッケージ20aから半導体パッケージ20bへの伝送能力を維持しつつ、下部の基板10a上の半導体パッケージ20aへの配線および、上部の基板10b下の半導体パッケージ20bへの配線の数を削減する構成を提供できるようになる。
また、半導体パッケージ20a,20bとシャーシ11との間に配置された粘弾性素材16が当該半導体パッケージ20a,20bと誘電体伝送路21との密着性を高めるようになる。シャーシ11の内部に形成された誘電体伝送路21が半導体パッケージ20a,20bの表面間を密着するように配置されるので、半導体パッケージ20a,20bを実装した基板10を固定するシャーシ11の構造を兼用できるようになる。
しかも、シャーシ11の表裏に密着する半導体パッケージ20a,20b間でミリ波の信号Sを伝送できるようになる。また、シャーシ11が誘電体伝送路21の一部を兼用するので、電子機器の構成を簡素化できるようになる。これにより、端子数が多いコネクタおよびプリント配線シートケーブルに依存することなく、一方向または双方向にミリ波の信号Sを伝送可能とするミリ波誘電体伝送装置200を容易に構築できるようになった。
<第3の実施形態>
[ミリ波誘電体内伝送装置300の構成例]
図10を参照して、第3の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送装置300の構成例について説明する。この実施形態では、第2の実施形態で半導体パッケージ20a,20b間に設けられていたシャーシ11が省略され、誘電体伝送路21がモールド樹脂8および粘弾性素材16のみから構成されるものである。
図10に示すミリ波誘電体内伝送装置300によれば、半導体パッケージ20a,20bとを接合する部分に粘弾性素材16が設けられ、粘弾性素材16は放熱機能を有するともに、ミリ波帯通信可能な誘電体伝送路21を構成する。粘弾性素材16には、ミリ波帯通信可能な誘電体素材21’が使用される。この例では、図4に示したミリ波誘電体内伝送装置200からシャーシ11が省略されている。半導体パッケージ20a,20b間を粘弾性素材16のみを介して伝送する形態である。
下部の実装用の基板10aには半導体パッケージ20aが取り付けられる。半導体パッケージ20aには、第1の実施形態で説明した半導体パッケージ20が使用される。下部の基板10aと半導体パッケージ20aとは、従来方式のフリップチップ接合方法により、バンプなどの突起電極9で半田付け接合されている。半導体パッケージ20aは、一方のインターポーザ基板4上にミリ波帯通信可能な半導体チップ30が設けられる。半導体チップ30にはアンテナ構造32が接続されている。インターポーザ基板4上の半導体チップ30とアンテナ構造32とは、モールド樹脂8で覆われている。
上部の実装用の基板10bには、半導体パッケージ20bが下向きに取り付けられる。半導体パッケージ20bは半導体パッケージ20aに比べて180°姿勢を倒置して実装されている。半導体パッケージ20bも、第1の実施形態で説明した半導体パッケージ20が使用される。上部の基板10bと半導体パッケージ20bとは、同様にしてバンプなどの突起電極9により半田付け接合されている。この例で、半導体パッケージ20bは、他方のインターポーザ基板4下にミリ波帯通信可能な半導体チップ30が設けられる。半導体チップ30には半導体パッケージ20aと同様にしてアンテナ構造32が接続されている。インターポーザ基板4下の半導体チップ30とアンテナ構造32とは、モールド樹脂8で覆われている。
実装用の下部の基板10a、上部の基板10bは、支柱70に取り付けられる。各々の基板10a,10bは、たとえば、ネジ構造13によって支柱70に固定される。支柱70には棒状の金属部材が使用される。この例で、支柱70の両端には雌ネジが設けられる。この例でも、図示せずも、ミリ波の信号Sは、アンテナ構造32間をモールド樹脂8および粘弾性素材16から成る誘電体伝送路を介して伝送するようになる。
このように、第3の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送装置300によれば、図4に示したシャーシ11が省略され、半導体パッケージ20a,20bとの間に粘弾性素材16を備えるものである。
この構造によって、半導体パッケージ20aと半導体パッケージ20bとの密着性を高めることができるので、アンテナ結合性能の向上と、半導体パッケージ20a,20bの放熱効果とを両立させることができる。
しかも、半導体パッケージ20a,20b間で誘電体伝送路21を成す粘弾性素材16が放熱材を兼用するので、半導体パッケージ20a,20bで生じた熱を発散できるようになる。また、2つの半導体パッケージ20a,20b間で誘電体伝送路21を成す粘弾性素材16を介してミリ波の信号Sの伝送を行なうことができる。
<第4の実施形態>
[半導体パッケージ20cの構成例]
続いて、図11を参照しながら第4の実施形態としての半導体パッケージ20cの構成例について説明する。この例で、アンテナ構造32’がインターポーザ基板4の半導体チップ30に並設される。アンテナ構造32’を有する半導体パッケージ20cがパッケージ・オン・パッケージ構造(Package-On-Package:以下POP構造という)のミリ波誘電体内伝送装置400の構造を提供するようになる。
図11に示す半導体パッケージ20cは、インターポーザ基板4、モールド樹脂8、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30およびアンテナ構造32’を有して構成される。半導体チップ30はミリ波帯で通信処理するものである。半導体チップ30には、図2に示したようなLSI機能部201および信号生成部202とを一体化したシステムLSIが使用される(図2参照)。
アンテナ構造32’は、インターポーザ基板4上で半導体チップ30に並設される。他の実施形態と比べると、半導体パッケージ20c内におけるアンテナ構造32’の配設位置が異なっている。この例で、半導体チップ30のアンテナ端子31の右側には、マイクロストリップ線路33およびアンテナ39とがパターン形成されている。アンテナ39にはパッチアンテナが使用される。アンテナ端子31は、たとえば、半導体チップ30の背面に形成され、このアンテナ端子31にマイクロストリップ線路33が配線(接続)される。このような形成方法を採ると、アンテナ端子31とアンテナ39間でのミリ波の信号Sを効率よく伝送できるようになる。
[半導体パッケージ20cの形成例]
続いて、図12(A)〜図12(D)を参照しながらPOP構造のミリ波誘電体内伝送装置400を構成する半導体パッケージ20cの形成例について説明する。この例では、図11に示したような半導体パッケージ20cを形成する場合、まず、図12(A)に示すインターポーザ基板4上にミリ波帯通信可能な半導体チップ30およびアンテナ構造32’を形成する。
インターポーザ基板4上への半導体チップ30の実装方法は、第1の実施形態と同様であるので、その説明を省略する。インターポーザ基板4上にアンテナ構造32’を形成する場合に、アンテナ39は、図12(B)に示すように半導体チップ30に並べて形成する。たとえば、アンテナ39は、半導体チップ30に並べてインターポーザ基板4上のアンテナ端子31からマイクロストリップ線路33を形成し、このマイクロストリップ線路33の先端に形成する。
アンテナ39には、ミリ波の信号Sの波長λに基づく所定の長さ、たとえば、1辺が600μm程度を有したパッチアンテナが採用される。なお、アンテナ端子31は、半導体チップ30の内部に実装されたアンテナ切り替え部38(図2参照)の出力点から予め引き出して置く。アンテナ構造32’は、インターポーザ基板4上の半導体チップ30のアンテナ端子31、マイクロストリップ線路33およびアンテナ39によって構成される。
その後、図12(C)に示すようにインターポーザ基板4上の半導体チップ30およびアンテナ構造32’にモールド樹脂8を覆って絶縁する。モールド樹脂8には、第1の実施形態で説明したエポキシ系の樹脂を使用する。そして、図12(D)に示すようにインターポーザ基板4下にフリップチップボンディング用のバンプなどの突起電極9を形成する。これにより、POP構造のミリ波誘電体内伝送装置400を構成する半導体パッケージ20cが完成する。
[ミリ波誘電体内伝送装置400の構成例]
図13を参照して、POP構造のミリ波誘電体内伝送装置400の構成例について説明する。図13に示すミリ波誘電体内伝送装置400は、図11に示した半導体パッケージ20cを2段以上積み重ねた構造とする。当該ミリ波誘電体内伝送装置400は、2個の半導体パッケージ20c,20d間を突起電極9で接続して、POP構造のミリ波誘電体内伝送装置400を構成するようにしたものである。換言すると、ミリ波誘電体内伝送装置400は、複数の半導体パッケージ20c,20dなどを実装用の基板10上に一体化したものである。半導体パッケージ20c,20dの内部構成例については図2を参照されたい。
すなわち、半導体チップ30とアンテナ構造32’とをモールド樹脂8によって封止した半導体パッケージ20c,20dは、突起電極9(半田ボール)によって接合され、積層構造の半導体パッケージ80を構成する。
下段の半導体パッケージ20cの表面と上段の半導体パッケージ20dのインターポーザ基板4との間には、放熱ならびに密着性向上のための粘弾性素材16が配置される。粘弾性素材16には、比誘電率ε4を有した粘弾性の樹脂が使用される。ミリ波の信号Sは、半導体パッケージ20cのモールド樹脂8、粘弾性素材16、半導体パッケージ20dのインターポーザ基板4の各誘電体を介して伝送される。
これにより、従来型のPOP構造の半導体パッケージに比べて、上段および下段の半導体パッケージ20c,20dの各々のインターポーザ基板4の突起電極9に配線される端子電極パターンを削減できるようになった。
[ミリ波誘電体内伝送装置400の組立例]
続いて、図14(A)〜(C)を参照しながら、POP構造のミリ波誘電体内伝送装置400の組立例について説明する。この例では、図13に示した積層構造のミリ波誘電体内伝送装置400を組み立てる場合を前提とする。
まず、半導体パッケージ20c,20dを準備し、図14(B)に示す半導体パッケージ20cを図14(C)に示す実装用の基板10上に実装する。基板10には、突起電極接合用の端子電極パターン10cを有したものを準備するとよい。基板10の端子電極パターン10cと、半導体パッケージ20cの突起電極9とを半田接合することで実装する。これにより、実装用の基板10上に半導体パッケージ20cを実装することができる。
半導体パッケージ20dには、モールド樹脂8の上面がメサ形状を有したものを準備するとよい。半導体パッケージ20dの上面メサ形状は、射出金型のキャビティに四方に斜面を有する凹部を形成し、この金型を使用して、モールド樹脂8の上部四方に斜面を形成することで得られる。
次に、半導体パッケージ20c上に半導体パッケージ20dを実装する。このとき、半導体パッケージ20cの表面(上面)のモールド樹脂8と、半導体パッケージ20dの裏面(下面)のインターポーザ基板4との間に粘弾性素材16を挿入する。粘弾性素材16には、比誘電率ε4を有した粘弾性のエポキシ樹脂などが使用される。このとき、半導体パッケージ20cのアンテナ構造32’と半導体パッケージ20dのアンテナ構造32’とを整合するように重ね合わせる。誘電体伝送路21は、半導体パッケージ20cのモールド樹脂8と、粘弾性素材16と、半導体パッケージ20dのインターポーザ基板4によって構成される。これにより、図13に示したようなPOP構造のミリ波誘電体内伝送装置400が完成する。
このように第4の実施形態としてのPOP構造のミリ波誘電体内伝送装置400によれば、半導体パッケージ20dの半導体チップ30が半導体パッケージ20cの半導体チップ30の上方に実装されるパッケージ・オン・パッケージ構造を有する。したがって、半導体パッケージ20cおよび20dを積層し接合した一体型のミリ波誘電体内伝送装置400を提供できるようになる。
また、異なる基板10上の2つの半導体パッケージ20c,20d間を誘電体伝送路21で結合し、この誘電体伝送路21を介してミリ波の信号Sの伝送を行なうようになされるので、端子数の多いコネクタ、ケーブルの削減が可能になる。
<第5の実施形態>
[ミリ波誘電体内伝送装置500の構成例]
続いて、図15を参照しながら、第5の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送装置500の構成例について説明する。第5の実施形態は、水平方向にズレて配置されている複数の半導体パッケージ20間のデータ転送をミリ波で行なう点に特徴がある。図示した例では、半導体チップ30を各々有する2つの半導体パッケージ20e,20fが同一の実装用の基板10に並設して実装され、領域画定用のシャーシ11内に形成された誘電体伝送路21を介して通信処理を実行できるようにした。半導体パッケージ20e,20fの内部構成例については図2を参照されたい。
図15に示すミリ波誘電体内伝送装置500によれば、誘電体伝送路21がシャーシ11に設けられる。シャーシ11にはたとえば、厚み1mm程度の金属平板が使用され、誘電体伝送路21は基板面に沿って設けられる。この例で、誘電体伝送路21は、シャーシ11に設けられた領域画定用の貫通部11b(または溝部)に所定の誘電体素材21’を充填して構成されている。誘電体素材21’には、比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂などが使用される。この構造によって導波管構造に類似した誘電体伝送路21を構成できるようになる。
ミリ波誘電体内伝送装置500によれば、シャーシ11内の誘電体伝送路21において、各々のアンテナ構造32が対向する半導体パッケージ20e,20fの間で、誘電体伝送路21を介したミリ波の信号Sを伝送する。アンテナ構造32は、半導体チップ30を封止するモールド樹脂8の表面に引き出される。アンテナ構造32にはロッドアンテナが備えられる。アンテナ端子31は、たとえば、半導体チップ30の上部から特性インピーダンスが約108Ωとなる同軸構造33’の伝送線路により引き出せばよい。この伝送線路の先端にロッドアンテナを設ければよい。
なお、シャーシ11内の誘電体伝送路21の送信側と受信側に反射器を各々実装できる場合には、アンテナ構造32にパッチアンテナを使用してもよい。その際に、一方の半導体パッケージ20eのパッチアンテナから輻射した電磁波がシャーシ11の厚み方向に進行する。その後、送信側の反射器で反射して、電磁波がシャーシ11の平面方向に進行し、更に、受信側の反射器で反射して、他方の半導体パッケージ20fのパッチアンテナに至るようになる。
[ミリ波誘電体内伝送装置500の形成例]
続いて、図16〜図18を参照して、ミリ波誘電体内伝送装置500の形成例について説明する。図16(A)は、基板10における端子電極5の形成例を示す平面図であり、図16(B)は、図16(A)に示した基板10のX1−X1矢視断面図である。この例では、実装用の基板10と、シャーシ11と、2つの半導体パッケージ20e,20fとを用いて、図15に示したミリ波誘電体内伝送装置500を組み立てる場合を前提とする。
一方で、図16(A)に示す半導体パッケージ20e,20fを並設するための実装用の基板10を形成する。半導体パッケージ20e,20fには半導体チップ30およびアンテナ構造32を各々有したものを使用する。まず、図16(B)に示すように基板10に複数の端子電極パターン10cを形成する。端子電極パターン10cは、半導体パッケージ20e,20fの突起電極9を接合するもので、基板10を銅箔基板で形成する場合、たとえば、レジスト膜をマスクにして銅箔をパターニングすることにより形成する。
図17(A)は、シャーシ11における誘電体伝送路21の形成例を示す平面図であり、図17(B)は、図17(A)に示した基板10のX2−X2矢視断面図である。他方で、図17(A)に示す実装用の基板10を実装するシャーシ11を準備する。シャーシ11には、たとえば、図17(B)に示すような厚みt0=1mm程度の金属平板を使用する。次に、シャーシ11に誘電体伝送路21を形成する。
その際、シャーシ11の所定の位置に領域画定用の貫通部11b(または溝部)を形成する。貫通部11bはシャーシ11の表面に沿って設け、半導体パッケージ20e,20fの実装領域の間を結ぶように加工するとよい。その後、図17(B)に示す貫通部11b内に所定の誘電体素材21’を充填する。誘電体素材21’には、比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂などを使用するとよい。これにより、図17(C)に示すような誘電体伝送路21を有したシャーシ11が得られる。
次に、図18(A)に示すように半導体パッケージ20e,20fを実装用の基板10に実装する。実装方法については、図4を参照されたい。そして、図18(B)に示すような実装用の基板10に実装された半導体パッケージ20e,20fを図17(C)に示したシャーシ11に実装する。その際に、半導体パッケージ20eのアンテナ39と、半導体パッケージ20fのアンテナ39とが誘電体伝送路21内に埋没するように取り付ける。このとき、粘弾性素材16を半導体パッケージ20eのモールド樹脂8とシャーシ11との間、および、半導体パッケージ20fのモールド樹脂8とシャーシ11との間の各々に挿入するようにしてもよい。
なお、シャーシ11内の誘電体伝送路21の送信側と受信側に、たとえば、便宜上、図18(B)から誘電体素材21’を取り去った図中、破線に示す位置に反射器9a,9bを各々実装する場合には、半導体チップ30上にパッチアンテナを有したアンテナ構造32と採ることができる。その際の誘電体伝送路21にはモールド樹脂8が含まれる。誘電体伝送路21の全体の経路は反射器9a.9bを含めて凹状になる。これにより、図15に示したようなシャーシ11に2つの半導体パッケージ20e,20fを並設したミリ波誘電体内伝送装置500を形成できるようになる。
このように第5の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送システム500によれば、半導体チップ30を各々有する2つの半導体パッケージ20e,20fが同一の実装用の基板10に並設して実装される。また、領域画定用のシャーシ11内には誘電体伝送路21が設けられるものである。
したがって、同一の実装用の基板10に並設して実装された2つの半導体パッケージ20e,20f間で、シャーシ11内に設けられた誘電体伝送路21を介してミリ波の信号Sを用いた通信処理を実行できるようになる。しかも、シャーシ11の内部に形成された誘電体伝送路21が2つの半導体パッケージ20e,20fの間を密着するように配置されるので、半導体パッケージ20e,20fを実装した基板10を固定するシャーシ11の構造を兼用できるようになる。また、シャーシ11が誘電体伝送路21を兼用するので、電子機器の構成が簡素化される。
<第6の実施形態>
[ミリ波誘電体内伝送システム600の構成例]
続いて、図19(A)および図19(B)を参照して、第6の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送システム600の構成例について説明する。図19(A)に示すミリ波誘電体内伝送システム600は、2つの電子機器601,602の各々に、ミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20gなどが実装される。当該システム600では、図19(B)に示すように2つの電子機器601,602の所定部位を接触させてミリ波の信号Sを伝送するようになされる。
電子機器601にはミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体パッケージ20gが実装される。半導体パッケージ20gは、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30、アンテナ構造32および凸状の誘電体伝送路21を有して構成される。半導体パッケージ20gにおいて、半導体チップ30は、一方のインポーザ基板4上に設けられる。アンテナ構造32は、半導体チップ30に接続されている。モールド樹脂8はインポーザ基板4上の半導体チップ30とアンテナ構造32とを覆うようになされる。
電子機器601の凸状の誘電体伝送路21は、実装用の基板10、凸状の突出部材17および誘電体素材21’を有して構成される。実装用の基板10は、電子機器601の筐体12aを兼用する部材であってもよい。突出部材17は金属でも樹脂でもよい。基板10および突出部材17には誘電体伝送路21を画定する開孔部18が設けられる。この開孔部18は、アンテナ構造32を包含する位置に設けられる。開孔部18内には所定の誘電体素材21’が充填されている。誘電体素材21’には、比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂などが使用される。
電子機器602には、ミリ波誘電体内伝送可能な第2の半導体パッケージ20hが実装される。半導体パッケージ20hは、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30、アンテナ構造32および凹状の誘電体伝送路21を有して構成される。半導体パッケージ20hは、凹状の誘電体伝送路21を除いて半導体パッケージ20gと同様にして構成される。半導体パッケージ20g,20hの内部構成例については図2を参照されたい。
電子機器602の凹状の誘電体伝送路21は、実装用の基板10、凹状を有した筐体12bおよび誘電体素材21’を有して構成される。実装用の基板10は、電子機器601の筐体12bに取り付けられる。筐体12bは金属でも樹脂でもよい。基板10には誘電体伝送路21を画定する開孔部18が設けられる。この開孔部18は、アンテナ構造32を包含する位置に設けられる。開孔部18内には所定の誘電体素材21’が充填されている。誘電体素材21’には、比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂などが使用される。
この例では、図19(B)に示すように、電子機器601の凸状の誘電体伝送路21を電子機器602の凹状の誘電体伝送路21に嵌め込んで使用される。これにより、半導体パッケージ20gと半導体パッケージ20hとの間にミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21が構築される。半導体パッケージ20g,20hの各々のアンテナ構造32が誘電体伝送路21を介在して対向するように合体される。
ミリ波誘電体内伝送システム600では、通常、2つの電子機器601,602は分離している。電子機器601は、たとえば、携帯可能なバッテリー駆動機器であり、電子機器602は、たとえば、据え置き型のバッテリー充電器や、ベース・ステーションなどである。このシステム600では、電子機器601のバッテリーを充電するときや、電子機器601から電子機器602へデータを転送するときに、2つの電子機器601,602を合体して使用するようになされる。
この例で、電子機器601,602に関しては次のような組み合わせが考えられる。
i.一方の電子機器601が、携帯電話機やデジタルカメラ、ビデオカメラ、ゲーム機、リモートコントローラ、髭剃り器などのバッテリー駆動機器である場合、他方の電子機器602は、そのバッテリー充電器や、画像処理などを行なうベース・ステーションなどとなるものである。
ii.一方の電子機器601が、i.に比べて比較的薄いICカードのような外観を有している場合、電子機器602はそのカード読取書込み装置などである。フェリカ・カード(R)のような使用態様が実現できる。もちろん、上述した電子機器601,602の組み合わせは、その一例に過ぎない。
[電子機器601,602の形成例]
次に、図20(A),(B)および図21(A),(B)を参照して、ミリ波誘電体内伝送システム600に使用される電子機器601,602の製造方法について説明する。この実施形態では、何れ電子機器601,602に適用する場合も、半導体パッケージ20g,20hをそれらの筐体12aなどの内壁面側に実装する場合を例に挙げる。
まず、図20(A)に示すミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20gと基板10を兼用する筐体12aを準備して、電子機器601を製造する。この例では、図20(A)に示す半導体パッケージ20gを筐体12aに実装する。半導体パッケージ20gには、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30、アンテナ構造32および凸状の誘電体伝送路21を有したものを使用する。
半導体パッケージ20gにおいて、一方のインポーザ基板4上に半導体チップ30を設ける。アンテナ構造32は、半導体チップ30が実装されたインポーザ基板4下の端子に設ける。アンテナ構造32は、半導体チップ30に接続される。モールド樹脂8はインポーザ基板4上の半導体チップ30とアンテナ構造32とを覆うように形成する。インポーザ基板4下の端子にフリップチップ接合用の突出電極9を形成する。
筐体12aは、電子機器601がたとえば、携帯電話機である場合、当該携帯電話機の外装ケースである。通常、基板10では、半導体パッケージ実装面に、フリップチップ接合用のパッド電極が形成されるので、筐体12aが基板10を兼用する場合、当該筐体12aの半導体パッケージ実装面には、フリップチップ接合用のパッド電極を形成して置く必要がある。もちろん、半導体パッケージ20gを実装した基板10を筐体12aの所定の位置に取り付ける方法であってもよい。
この例で、凸状の誘電体伝送路21は実装用の筐体12aおよび凸状の突出部材17を接合して形成する。もちろん、筐体12aおよび突出部材17に開孔部18を開口して誘電体伝送路21を画定する。この開孔部18は、アンテナ構造32を包含する位置に設けることが好ましい。突出部材17には金属部材でも樹脂部材でもよい。開孔部18内には所定の誘電体素材21’を充填するようになされる。誘電体素材21’には、比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂などを使用する。これにより、電子機器601側の凸状の誘電体伝送路21を形成することができる。
上述のミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20gと凸状の誘電体伝送路付きの筐体12aが準備できたら、図20(B)に示すように半導体パッケージ20gと筐体12aとを接合する。このとき、突出部材17が筐体12aの外側に位置し、半導体パッケージ20gが筐体12aの内側壁面に位置するように合わせて、半導体パッケージ20gを筐体12aに接合する。
また、インポーザ基板4下の端子に形成された突出電極9を使用してフリップチップ接合する。たとえば、基板10を兼用する筐体12aの半導体パッケージ実装面に予め設けたフリップチップ接合用のパッド電極とインポーザ基板4下の端子に形成された突出電極9とを半田接合する。これにより、ミリ波誘電体内伝送システム600で使用可能な電子機器601が完成する。
次に、図21(A)に示すミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20h、基板10および筐体12bを準備して、電子機器602を製造する。この例では、図21(A)に示す半導体パッケージ20hを先に基板10に実装し、これを筐体12bに取り付ける。基板10には、半導体パッケージ実装面に、フリップチップ接合用のパッド電極を形成したものを使用する。半導体パッケージ20hは、インポーザ基板4下の端子に形成された突出電極9を使用してフリップチップ接合する。たとえば、基板10の半導体パッケージ実装面に予め設けたフリップチップ接合用のパッド電極とインポーザ基板4下の端子に形成された突出電極9とを半田接合する。
この例では、半導体パッケージ20hを実装した基板10を筐体12bの所定の位置に開口された窓部12cを塞ぐように取り付ける方法を採る。また、半導体パッケージ20hには、ミリ波帯通信可能な半導体チップ30、アンテナ構造32および凹状の誘電体伝送路21を有した半導体パッケージ20gと同様なものを使用する。半導体パッケージ20hの形成例については、半導体パッケージ20gと同様なので、その説明を省略する。
この例で、凹状の誘電体伝送路21は基板10に開孔部18を開口して画定される誘電体伝送路21と、筐体12bの窓部12cとにより形成する。この開孔部18は、アンテナ構造32を包含する位置に設けることが好ましい。開孔部18内には所定の誘電体素材21’を充填するようになされる。誘電体素材21’には、比誘電率ε1のガラスエポキシ樹脂などを使用する。
なお、基板10に誘電体素材21’と同等の絶縁部材を使用する場合は、開孔部18を省略してもよい。強いて誘電体伝送路21を画定する場合には、半導体パッケージ20gのアンテナ構造32のほぼ中心が、導電性の円筒部材の中心に位置するように、基板10の厚み方向に当該円筒部材を埋設するとよい。円筒部材の内側の絶縁部材が誘電体伝送路21を形成するようになる。これにより、電子機器602側の凹状の誘電体伝送路21を形成することができる。
図21(B)に示す筐体12bは、電子機器602がたとえば、携帯電話機のバッテリーを充電する充電器である場合、当該充電器の外装ケースである。筐体12bには所定の位置に窓部12cを開口したものを使用する。窓部12cは、図19(A)に示した電子機器601の突出部材17を嵌合する部分となる。
上述のミリ波誘電体内伝送可能な半導体パッケージ20hを実装した凹状の誘電体伝送路付きの基板10と、窓部12cを有する筐体12bとが準備される。これらの準備ができたら、図21(B)に示すように半導体パッケージ20hおよび凹状の誘電体伝送路付き基板10を筐体12bの窓部12cに取り付ける。
この例では、電子機器601の突出部材17が筐体12bの窓部12cに嵌合されたとき、電子機器601の半導体パッケージ20gのアンテナ構造32のほぼ中心と、半導体パッケージ20hのアンテナ構造32のほぼ中心とが一致するように位置合わせする。そして、基板10を筐体12bに取り付ける。基板10を筐体12bとは、ネジ止め構造により固定する。
もちろん、基板10を筐体12bとを接着剤により接合する方法を採ってもよい。これにより、ミリ波誘電体内伝送システム600で使用可能な電子機器602が完成する。
このように、第6の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送システム600によれば、一方の電子機器601にはミリ波帯通信可能な半導体パッケージ20gが設けられ、他方の電子機器602にはミリ波帯通信可能な半導体パッケージ20hが設けられる。更に半導体パッケージ20g,20hとの間には、ミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21が設けられる。そして、半導体パッケージ20g,20hの各々のアンテナ構造32が誘電体伝送路21を介在して対向するように接触されるものである。
したがって、半導体パッケージ20gと半導体パッケージ20hとの間に設けられたミリ波信号伝送可能な誘電体伝送路21を介して、半導体パッケージ20gから半導体パッケージ20hへミリ波の信号Sを伝送できるようになる。これにより、電子機器601および電子機器602間を接続する通信ケーブルなどに依存することなく、一方の電子機器601と他方の電子機器602との間で充電中に通信処理などを実行できるようになる。
全体を通して、本発明に係るミリ波誘電体内伝送装置200〜500およびミリ波誘電体内伝送システム600は、簡単かつ安価な構成で実現できる。しかも、半導体パッケージ20a,20b、半導体パッケージ20c,20d、半導体パッケージ20e,20f、20g,20h間で高速データ伝送を実現することができる。
<第7の実施形態>
図22〜図28は、第7の実施形態としての半導体パッケージ20j(本例ではミリ波誘電体内伝送装置と等価)を説明する図である。ここで、図22は、第7の実施形態に対する比較例を説明する図である。図23は、第7の実施形態の半導体パッケージ20jの構成概要を説明する図である。図24は、第7の実施形態の半導体パッケージ20jで使用されるアンテナ構造の具体例を説明する図である。図25は、図24に示したアンテナ構造が適用された第7の実施形態の半導体パッケージ20jの具体例を説明する図である。図26〜図28は、図25に示した第7の実施形態の半導体パッケージ20jにおけるシミュレーション特性例を示す図である。
第7の実施形態は、1つの半導体パッケージ20j内において、基板上に複数の半導体チップ30が配置され、各半導体チップ30間でミリ波伝送を行なう点に特徴がある。同一パッケージ内ではあるが半導体チップ30間でミリ波伝送を行なうものであり、半導体パッケージ20j自体がミリ波誘電体内伝送装置を構成することになる。
以下では、第7の実施形態の仕組みの理解の容易化のため、最初に、第7の実施形態に対する比較例について説明し、その後に、第7の実施形態の概要と具体例について説明する。
[比較例]
図22には、第7の実施形態を適用しない比較例の半導体パッケージ1xが示されている。半導体パッケージ1xは、複数(図では3つ)のシステムLSIとしての半導体チップ2_1,2_2,2_3を1つのパッケージ内に並列に配置したマルチ・チップ・パッケージとなっている。半導体チップ2_1,2_2,2_3の表面には複数のパッド電極3が形成されている。
半導体チップ2_1,2_2間および半導体チップ2_1,2_3間で信号伝送が行なわれ、半導体チップ2_2,2_3間では信号伝送が行なわれない形態である。ここで、半導体チップ2_1,2_2間および半導体チップ2_1,2_2間での信号伝送用の接続には、ボンディングワイヤ7が使用されている。全ての半導体チップ2_1,2_2,2_3は、樹脂性のLSIパッケージ(モールド樹脂8)により保護されていて、インターポーザ基板4x(LSIパッケージ基板)上に実装されている。
ここで、システムLSIチップの高機能化、データ容量の増大に伴い、各システムLSIチップ間を接続するボンディングワイヤ7の配線数は増加しており、パッド電極3の増加によるチップ面積の増大が問題となる。また、各システムLSIチップ間の通信速度が速くなると、ボンディングワイヤ7の引伸ばしによる配線遅延やインピーダンス不整合による反射などが問題となってくる。また、ボンディングワイヤ7で近接接続する必要があるためシステムLSIチップの配置自由度の低下も問題となる。
[第7の実施形態の構成概要]
図23には、第7の実施形態の構成概要が示されている。図23(A)は平面模式図であり、図23(B)は断面模式図である。
第7の実施形態の半導体パッケージ20jは、ミリ波誘電体内伝送可能な3つの半導体チップ30_1,30_2,30_3を1つのパッケージ内に並列に配置したマルチ・チップ・パッケージとなっている。比較例とは異なり、半導体チップ30_1,30_2,30_3の表面にはパッド電極3が形成されていない。
全ての半導体チップ30_1,30_2,30_3は、樹脂性のLSIパッケージ(モールド樹脂8)により保護されていて、LSIパッケージ基板4j(インターポーザ基板)上に実装されている。モールド樹脂8は、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含む誘電体素材で形成されている。
図示しないが、第1の実施形態で説明したように、ミリ波信号の変換対象でない電源部などの端子は、比較例と同様にして、半導体チップ30_1,30_2,30_3のパッド電極からボンディングワイヤを介して配線される。
各半導体チップ30_1,30_2,30_3には、第1の実施形態で説明したように、LSI機能部201、ミリ波生成部202、アンテナ結合部203のアンテナ切り替え部38が内蔵される。半導体チップ30_1,30_2,30_3を1つのパッケージ内に並列に配置した構成であるので、アンテナ39としては、基板の厚さ(法線)方向に指向性を持つもの(たとえばパッチアンテナ)を使用することを排除するものではないが、好ましくは、基板の平面方向に指向性を持つものを使用するのがよい。
基板の厚さ(法線)方向に指向性を持つもの(たとえばパッチアンテナ)を使用する場合は、たとえば、誘電体伝送路21を形成するようにモールド樹脂8内に反射板を設けるなどの工夫をすることでミリ波の進行方向がアンテナ39間となるように変化させることで伝送効率を向上させるとよい。
第1の実施形態で説明したように、ミリ波生成部202は、送信系には、LSI機能部201、パラレルシリアル変換回路34、変調回路35、周波数変換回路36、増幅器37、アンテナ切り替え部38が設けられ、受信系には、増幅器44、周波数変換回路45、復調回路46、シリアルパラレル変換回路47が設けられる。
たとえば、半導体チップ30_1,30_2間および半導体チップ30_1,30_3間で信号伝送が行なわれ、半導体チップ30_2,30_3間では信号伝送が行なわれない形態とする。この場合、送信側の半導体チップ30では、LSI機能部201で生成された多数のデータ信号を、パラレルシリアル変換回路34でシリアル化し、変調回路35で変調し、周波数変換回路36でミリ波帯にアップコンバートし、増幅器37で増幅し、アンテナ結合部203のアンテナ39を介してモールド樹脂8(LSIパッケージ)内に電波として放射する。受信側の半導体チップ30では、ミリ波帯の電波をアンテナ39で受信し、増幅器44で増幅し、周波数変換回路45でベースバンド信号にダウンコンバートして、復調回路46で復調し、シリアルパラレル変換回路47でパラレル化し、LSI機能部201に受け渡す。
第7の実施形態の半導体パッケージ20jによれば、半導体チップ30(システムLSI)を1つのパッケージ内に複数配置したマルチ・チップ・パッケージ内のデータ転送を、ミリ波で行なうようにしている。ミリ波が伝送されるミリ波信号伝送路は、空気(自由空間伝送路)ではなく、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含む誘電体素材で形成されているモールド樹脂8を利用した誘電体伝送路21となっている。これにより、比較例の半導体パッケージ1xには多数必要であったボンディングワイヤ7やパッド電極3を大幅に削減することができ、チップ面積を縮小できチップコストを低減できるし、チップ配置の自由度が向上するので筺体デザイン性の向上にも繋がる。また、ボンディングワイヤ7やパッド電極3を利用した電気配線による信号伝送をミリ波信号での伝送に置き換えることで、配線遅延やインピーダンス不整合などの問題から解放される。
[第7の実施形態のアンテナ構造]
図24〜図28には、半導体パッケージ20jで使用されるアンテナ構造の具体例と特性例が示されている。
ここでは、アンテナ39として、図24に示すように、パッチアンテナよりも小型化にできる逆F型アンテナ39jを使用する。逆F型アンテナ39jは、無指向性(放射素子の長手方向は除く)であり、換言すると、基板の厚さ(法線)方向だけではなく平面方向にも指向性を持つので、並列に配置されている半導体チップ30_1,30_2間および半導体チップ30_1,30_3間でのミリ波信号での伝送に好都合である。
図24に示す数値例は、半導体パッケージ20jとして、60GHz帯の逆F型アンテナ39jを搭載した例である。2mm角の各半導体チップ30_1,30_2,30_3上に、図24に示す構造の逆F型アンテナ39jを搭載し、半導体チップ30_1,30_2,30_3の全体をモールド樹脂8で封止している。
逆F型アンテナ39jは、2mm角の半導体チップ30をなす、たとえば300μm厚のシリコン層30_M0 上のM1層30_M1 に0.2μm厚で2mm角のほぼ全面に(詳細は後述する)、グランドパターン39GPが形成されている。M1層30_M1 (グランドパターン39GP)の上層に6μm厚の酸化膜層39_M8 が形成されている。シリコン層30_M0 のシリコンSiは比誘電率が11.9で抵抗率が10Ω・cmであり、酸化膜層39_M8 の酸化膜は比誘電率が3.5で誘電正接 tanδが0.02である。
酸化膜層39_M8 上のM9層30_M9 に、0.8μm厚の放射素子39REが、広いグランドパターン39GPに対して突き出た状態で形成されている。放射素子39REは、長手方向が半導体チップ30の一つの辺30_aから50μm内側の位置でその辺30_aに沿って形成されている。放射素子39REは、辺30_aの中点位置39RE_cから一方の端点39RE_aまでの長さである第1素子長Laは560μmに設定され、中点位置39RE_cから他方の端点39RE_gまでの長さである第2素子長Lgが272μmに設定されている。
放射素子39REの端点39RE_gと中点位置39RE_cからそれぞれ給電用に給電配線39LD_g,39LD_cが引き出されている。給電配線39LD_g,39LD_cの線幅Wは13μmに設定されている。給電配線39LD_gは、リード長Hが113μmであり、その終点の部分が第1給電点39F_gとなり、さらに、第1給電点39F_gでM1層30_M1 側に立ち下がってグランドパターン39GPと接続されている。給電配線39LD_cは、そのリード長Hが給電配線39LD_gのリード長H(113μm)よりも長く設定されており、その終点の部分が第2給電点39F_cとなる。
グランドパターン39GPは、2mm角の全体ではなく、辺30_aに対して、放射素子39REの形成位置H(50μm)と給電配線39LD_gのリード長H(113μm)の分だけ内側の所までに形成されている。
図25には、図24に示した逆F型アンテナ39jが形成されている2つの半導体チップ30(たとえば30_1,30_2)を、LSIパッケージ基板4j上に、チップ間距離dを隔てて、逆F型アンテナ39j同士が対向するように並設した状態が示されている。LSIパッケージ基板4jは、誘電体素材で形成されており、その比誘電率が3.5で誘電正接 tanδが0.02であり、厚さは0.4mmである。
図25(B)には、その断面模式図の第1例が示されている。両半導体チップ30_1,30_2は、樹脂性のLSIパッケージ(モールド樹脂8)により封止されている。モールド樹脂8の誘電体素材は、比誘電率が4.0で誘電正接 tanδが0.01であり、厚さTは1mmである。
図26〜図28には、図25に示す半導体チップ30_1,30_2を、それぞれの逆F型アンテナ39jが平面上で対向するよう配置させて、チップ間距離dを変化させた場合のSパラメータ周波数特性が示されている。図26はチップ間距離dが1mmの場合、図27はチップ間距離dが2mmの場合、図28はチップ間距離dが3mmの場合である。
図26〜図28の対比から分かるように、反射損失はチップ間距離dによらず60GHz近傍にて良好な特性を示している。これは、インピーダンス不整合による反射が少ないことを意味し、良好な通信ができていると言える。
このように、第7の実施形態によれば、同一パッケージ内の複数の半導体チップ30間において、逆F型アンテナ39jから放射された電磁波は誘電体素材で形成されたモールド樹脂8内を誘電体伝送路21として伝搬する。各逆F型アンテナ39jが対向する2つの半導体チップ30間で、誘電体伝送路21を介したミリ波の信号が伝送される。半導体チップ30間でモールド樹脂8に形成された誘電体伝送路21を介して通信処理を実行できる。
<第8の実施形態>
図29〜図33は、第8の実施形態としてのミリ波誘電体内伝送システム600k(電子機器)を説明する図である。ここで、図29は、第8の実施形態に対する比較例を説明する図である。図30は、第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システム600kの構成概要を説明する図である。図31〜図33は、図30に示した第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システム600kにおけるシミュレーション特性例を示す図である。
第8の実施形態は、ミリ波伝送可能な複数の半導体チップ30が搭載されている第7の実施形態の2つの半導体パッケージ20j_1,20j_2が対向して配置され、各半導体パッケージ20j_1,20j_2(の半導体チップ30)間でミリ波伝送を行なう点に特徴がある。異なるパッケージ間において、半導体チップ30間でミリ波伝送を行なうものであり、対向配置された半導体パッケージ20j_1,20j_2の間にミリ波信号伝送路21kを形成する構成になる。
以下では、第8の実施形態の仕組みの理解の容易化のため、最初に、第8の実施形態に対する比較例について説明し、その後に、第8の実施形態の概要と具体例について説明する。
[比較例]
図29には、第8の実施形態を適用しない比較例の電子機器700xが示されている。構成としては、図39に示した電子機器700とほぼ同様であり、半導体パッケージ1x_1,1x_2を積層した状態である。つまり、マルチ・チップ・パッケージを2つ上下に配置した構成である。電子機器700xは、半導体パッケージ1x_1,1x_2内に複数(図では2つ)の半導体チップ2_1,2_2が搭載されている点が図39に示した電子機器700と異なる。
図22にて示したのと同様に、半導体パッケージ1x_1,1x_2内でのデータ伝送のために、各半導体パッケージ1x_1,1x_2内の半導体チップ2_1,2_2は、表面に複数のパッド電極3が形成され、信号伝送用の接続にボンディングワイヤ7が使用されている。一方、半導体パッケージ1x_1,1x_2間のデータ伝送は、基板10a,基板10bに各々コネクタ14が設けられ、このコネクタ14間にデータ伝送基板15x(ケーブル15でもよい)が接続されて実行される。
このような比較例の構成では、半導体パッケージ1x間のデータ転送には、コネクタ14とデータ伝送基板15xを介する必要があり、高速の伝送線路の引回しの複雑化やコネクタの高速対応が困難、配置自由度の低下などが問題となる。
[第8の実施形態の構成概要]
図30には、第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システム600k(電子機器)の構成概要が示されている。図30(A)は平面模式図であり、図30(B)は断面模式図である。図25に示した第7の実施形態の半導体パッケージ20jとの対比から分かるように、複数の第7の実施形態の半導体パッケージ20j_1,20j_2をパッケージ間距離hで積層した状態である。つまり、第7の実施形態を適用したマルチ・チップ・パッケージを2つ上下に配置した構成である。
複数の半導体パッケージ20を積層する点では、第2の実施形態(図4)や第3の実施形態(図10)や第6の実施形態(図19)と同様であるが、半導体パッケージ20j内に複数(図では2つ)の半導体チップ30_1,30_2が搭載されている点が異なる。
半導体パッケージ20j_1,20j_2間にはミリ波の伝搬路であるミリ波信号伝送路21kが形成される。ミリ波信号伝送路21kは、自由空間伝送路でもよいが、好ましくは、導波管、伝送線路、誘電体線路、誘電体内などのミリ波閉込め構造を持つ導波構造で構成し、ミリ波帯域の電磁波を効率よく伝送させる特性を有するものとする。たとえば、一定範囲の比誘電率と一定範囲の誘電正接を持つ誘電体素材を含んで構成された誘電体伝送路21にするとよい。
「一定範囲」は、誘電体素材の比誘電率や誘電正接が、本実施形態の効果を得られる程度の範囲であればよく、その限りにおいて予め決められた値のものとすればよい。つまり、誘電体素材は、本実施形態の効果が得られる程度の特性を持つミリ波信号を伝送可能なものであればよい。誘電体素材そのものだけで決められず伝送路長やミリ波の周波数とも関係するので必ずしも明確に定められるものではないが、一例としては次のようにする。
誘電体伝送路21内にミリ波の信号を高速に伝送させるためには、誘電体素材の比誘電率は2〜10(好ましくは3〜6)程度とし、その誘電正接は0.00001〜0.01(好ましくは0.00001〜0.001)程度とすることが望ましい。このような条件を満たす誘電体素材としては、たとえば、アクリル樹脂系、ウレタン樹脂系、エポキシ樹脂系、シリコーン系、ポリイミド系、シアノアクリレート樹脂系からなるものが使用できる。なお、ミリ波信号をミリ波信号伝送路21kに閉じ込める構成ものとするには、ミリ波信号伝送路21kは、誘電体伝送路の他に、周囲が遮蔽材で囲まれ内部が中空の中空導波路としてもよい。
半導体パッケージ20j内の逆F型アンテナ39jは、基板平面方向(水平方向)だけでなく、基板の厚さ方向(垂直方向)にも指向性がある。したがって、積層状態で並列に配置されている半導体パッケージ20j_1,20j_2間において、それらに搭載されている半導体チップ30間のミリ波信号での伝送にも適用できる。
これに対して、パッケージ内のアンテナ39として、基板平面方向(水平方向)だけに指向性を持つものを使用した場合には、このようなことは実現されない。たとえば、半導体チップ30に対して垂直に立つ線状アンテナを使用した場合、樹脂厚がアンテナ長さ以上ないといけないし、線状アンテナのため、垂直方向は指向性ゼロ(NULL)になり通信できない。
第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システム600kによれば、半導体チップ30(システムLSI)を1つのパッケージ内に複数配置したマルチ・チップ・パッケージ間のデータ転送を、ミリ波で行なうようにしている。ミリ波が伝送されるミリ波信号伝送路21kは、自由空間伝送路やミリ波閉込め機能を持つ誘電体伝送路や中空導波路である。パッケージ間の信号伝送において、比較例の電子機器700xには多数必要であったコネクタ14やデータ伝送基板15xを削減することができ、高速の伝送線路の引回しの複雑化やコネクタの高速対応が困難、配置自由度の低下などが問題から解放される。
図31〜図33には、図30に示ように逆F型アンテナ39jが搭載された複数の半導体チップ30を持つ半導体パッケージ20j_1,20j_2を垂直方向に対向するよう配置させて、パッケージ間距離hを変化させた場合のSパラメータ周波数特性が示されている。ミリ波信号伝送路21kを自由空間伝送路としている場合であり、図31はパッケージ間距離hが0mmの場合、図32はパッケージ間距離hが1mmの場合、図33はパッケージ間距離hが2mmの場合である。
図31〜図33の対比から分かるように、反射損失はパッケージ間距離hによらず60GHz近傍にて良好な特性を示している。これは、インピーダンス不整合による反射が少ないことを意味し、良好な通信ができていると言える。
このように、第8の実施形態によれば、積層配置された半導体パッケージ20j間において、半導体チップ30の逆F型アンテナ39jから放射された電磁波はミリ波信号伝送路21kを伝搬する。各逆F型アンテナ39jが対向する2つの半導体チップ30間で、ミリ波信号伝送路21kを介したミリ波の信号が伝送される。パッケージ間ではあるが、ミリ波信号伝送路21kを介して通信処理を実行できる。
特に、図25に示した第7実施形態の半導体パッケージ20jにおけるパッケージ内の水平方向通信と、図30に示した第8の実施形態のミリ波誘電体内伝送システム600kにおける垂直方向通信では、図24に示した同じ逆F型アンテナ39jを使用している。同じ形状のアンテナを使用して、水平方向通信と垂直方向通信ができ、パッケージ内およびパッケージ間で通信可能であることが特徴である。
<変形例>
以上、本発明について実施形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は前記実施形態に記載の範囲には限定されない。発明の要旨を逸脱しない範囲で前記実施形態に多様な変更または改良を加えることができ、そのような変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
また、前記の実施形態は、クレーム(請求項)に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組合せの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。前述した実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜の組合せにより種々の発明を抽出できる。実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、効果が得られる限りにおいて、この幾つかの構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。以下では、その他の変形例について、簡単に説明する。
[第1変形例]
図34は、第1変形例の半導体パッケージ20p(本例ではミリ波誘電体内伝送装置と等価)を説明する図である。第1変形例は、1つの半導体パッケージ20p内において、基板上に複数の半導体チップ30が、アンテナ構造(アンテナ39)の部分が同軸となるように積層状態で配置され、各半導体チップ30間でミリ波伝送を行なう点に特徴がある。同一パッケージ内での半導体チップ30間でミリ波伝送を行なうものであり、半導体パッケージ20p自体がミリ波誘電体内伝送装置を構成することになる。
複数の半導体チップ30を積層する点では、第2の実施形態(図4)や第3の実施形態(図10)や第6の実施形態(図19)や第8の実施形態(図30)と同様であるが、全ての半導体チップ30が同一パッケージ内に搭載される点が異なる。
アンテナ39としては、基板(半導体チップ30)の厚さ方向に指向性のあるもの(たとえばパッチアンテナ)を使用する。
各半導体チップ30を接合する部分にはミリ波帯通信可能な誘電体素材16p(好ましくは粘弾性素材16)を設ける。誘電体素材16pは、放熱機能を有するともに、ミリ波帯通信可能な誘電体伝送路21を構成する。そして、複数の半導体チップ30を積層した状態でモールド樹脂8により保護されていて、LSIパッケージ基板4p(インターポーザ基板)上に実装されている。LSIパッケージ基板4pやモールド樹脂8は、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含む誘電体素材で形成されているものとする。
このような半導体パッケージ20pは、さらに実装用の基板10pに搭載されている。基板10pも、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含む誘電体素材で形成されているものとする。半導体パッケージ20p内の最下部(LSIパッケージ基板4p側)の半導体チップ30からの(または「への」)ミリ波信号を基板10p内で伝送させるものである。ミリ波信号を基板10p内で伝送させる方式を、「ミリ波基板内伝送方式」や「ミリ波有体物内伝送方式」と称する。基板10p内での伝送方向を確定させるには、好ましくは、基板10p内にミリ波信号の伝送範囲を確定するように、たとえば開孔部列(スルーホールフェンス)を設けるとよい。基板10p内でのミリ波信号の伝送方向を無指向性とするにはこの開孔部列を省略してよい。
第1変形例の半導体パッケージ20pは、積層状態の半導体チップ30_1,30_2間のデータ転送を、ミリ波で行なうことができる。第7の実施形態のように平面状に並設する場合よりもパッケージ面積を小さくできる利点がある。図示した例では、2つの半導体チップ30を積層しているが、3つ以上を積層してもよく、その数が多くなるほど第7の実施形態に対する優位性が増す。
第1変形例の半導体パッケージ20pは、同一パッケージ内の複数の半導体チップ30間でミリ波によりデータ転送を行なうだけでなく、他の半導体パッケージ20内の半導体チップ30との間でのデータ転送を、ミリ波で基板内伝送により行なうことができる。
[第2変形例]
図35は、第2変形例の半導体パッケージ20q(本例ではミリ波誘電体内伝送装置と等価)を説明する図である。第2変形例は、第7の実施形態と同様の半導体パッケージ20qを、さらに第1変形例と同様に、実装用の基板10qに搭載している。基板10qも、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含む誘電体素材で形成されているものとすることで、ミリ波信号を基板10q内で伝送させるミリ波基板内伝送方式を適用する。
第2変形例の半導体パッケージ20qも、同一パッケージ内の複数の半導体チップ30間でミリ波によりデータ転送を行なうだけでなく、他の半導体パッケージ20内の半導体チップ30との間でのデータ転送を、ミリ波で基板内伝送により行なうことができる。
[第3変形例]
図36は、第3変形例の半導体パッケージ20rとミリ波誘電体内伝送システム600rを説明する図である。第3変形例は、複数の半導体パッケージ20r間のデータ転送において、第1変形例や第2変形例で示したミリ波基板内伝送方式に自由空間伝送を併用する点に特徴がある。1つの半導体パッケージ20r内に搭載される半導体チップ30の数は不問である。
アンテナ39としては、基板(半導体チップ30)の厚さ方向と基板の平面方向の双方に指向性のあるもの(たとえば逆F型のアンテナ39j)を使用するのが好ましい。
各半導体パッケージ20rは、第4の実施形態と同様に、アンテナ構造32’がインターポーザ基板4rの半導体チップ30に並設されている。さらに、各半導体パッケージ20rは、第1・第2変形例と同様に、実装用の基板10rに搭載されている。基板10rも、ミリ波信号伝送可能な誘電体を含む誘電体素材で形成されているものとすることで、ミリ波信号を基板10r内で伝送させるミリ波基板内伝送方式を適用する。
アンテナ39は、基板10r(半導体チップ30)の厚さ方向だけでなく、基板10rの平面方向にも指向性があるもの(たとえば逆F型のアンテナ39j)を使用しているので、アンテナ39から平面方向に放射されたミリ波はミリ波信号伝送路としての自由空間伝送路21rを介して他方の半導体パッケージ20rへ伝送される。
第3変形例によれば、複数の半導体パッケージ20r間でのデータ転送を、ミリ波帯で、基板内伝送により行なうことができるだけでなく、自由空間伝送路21rを介しても行なうことができる。
[第4変形例]
図37は、第4変形例のミリ波誘電体内伝送システム600sを説明する図である。第4変形例は、第5の実施形態と同様に、水平方向にズレて配置されている複数の半導体パッケージ20間のデータ転送をミリ波で行なう点に特徴がある。第5の実施形態との相違点は、各半導体パッケージ20異なる実装用の基板10_1,10_2に実装されている点である。ミリ波信号伝送路21sとしては、自由空間伝送路以外のものであればよく、たとえば、誘電体素材で形成された誘電体伝送路を適用するのがよい。誘電体伝送路は、たとえば、第5の実施形態のように、領域画定用のシャーシ11内に形成された誘電体伝送路でもよい。
アンテナ構造としては、たとえば、ロッドアンテナなどのように基板に対して平面方向に指向性を有するものを使用するのが好ましい。たとえば、第5の実施形態のように、半導体チップ30を封止するモールド樹脂8の表面にアンテナ39を引き出しミリ波信号伝送路21sに突き出るようにするとよい。また、基板に対して厚み方向に指向性を有するものを使用する場合には、好ましくは、基板に対して平面方向に進行方向を変化させる仕組みを講じるのがよい。この点も第5の実施形態で述べたことと同様である。
第4変形例は、たとえば複数の半導体パッケージ20を積層状態で配置する際に、レイアウト上の制約から、同軸上で積層状態で配置するスペースを確保できないときに有効な手法である。
本発明は、映画映像や、コンピュータ画像などを搬送するための搬送周波数が30GHz乃至300GHzのミリ波帯の信号を高速に伝送するミリ波誘電体内伝送システムに適用して極めて好適である。当該システムにはデジタル記録再生装置、地上波テレビ受像機、携帯電話機、ゲーム機、コンピュータ、通信装置などが含まれる。
1…半導体パッケージ、2…半導体チップ、3…パッド電極、4…インターポーザ基板、5…端子電極、6…リード電極、7…ボンディングワイヤ、8…モールド樹脂、9…突起電極(バンプ)、10,10’…基板、11…シャーシ、12,12a,12b…筐体、13…ネジ構造、14…コネクタ、15…ケーブル、16,16a,16b…粘弾性素材、20,20a〜20f…半導体パッケージ、21…誘電体伝送路(ミリ波伝送部材)、21’…誘電体素材、30…半導体チップ、31…アンテナ端子、32,32’…アンテナ構造、33…マイクロストリップ線路、39…アンテナ、39j…逆F型のアンテナ、70…支柱、80…半導体パッケージ、201…LSI機能部、202…ミリ波生成部、203,203’…アンテナ結合部(信号結合部)、204…電気的インターフェース、205…ミリ波インターフェース、206…誘電体区間、200,300,400,500…ミリ波誘電体内伝送装置、600…ミリ波誘電体内伝送システム、601,602…電子機器

Claims (19)

  1. 基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップと、
    前記半導体チップに接続されたアンテナ構造と、
    前記半導体チップを覆う絶縁部材と、
    ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され、前記アンテナ構造に整合されたミリ波伝送部材と、
    を備え、
    前記ミリ波伝送部材は、
    前記半導体チップに接続されたアンテナ構造に整合される貫通部を有した領域画定用の部材と、
    前記部材の貫通部内に設けられた前記誘電体素材と、
    を有する、
    導体装置。
  2. 前記半導体チップに接続されたアンテナ構造は、
    前記半導体チップ上に設けられる
    請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記半導体チップに接続されたアンテナ構造にはパッチアンテナが備えられる
    請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記半導体チップは、
    入力信号を信号処理してミリ波の信号を生成する第1の信号生成部と、
    当該半導体チップと前記アンテナ構造とを結合する部分であって、前記第1の信号生成部によって生成された前記ミリ波の信号を前記ミリ波伝送部材に送信するとともに、当該ミリ波伝送部材から前記ミリ波の信号を受信する双方向の信号結合部と、
    前記信号結合部によって受信した前記ミリ波の信号を信号処理して出力信号を生成する第2の信号生成部と、
    を有する
    請求項3に記載の半導体装置。
  5. 前記第1の信号生成部には、パラレルの入力信号をシリアルの出力信号に変換する第1の信号変換部を有し、
    前記第2の信号生成部には、シリアルの入力信号をパラレルの出力信号に変換する第2の信号変換部を有する
    請求項4に記載の半導体装置。
  6. 前記アンテナ構造は、前記半導体チップに並設される
    請求項1に記載の半導体装置。
  7. 一方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含み前記半導体チップを覆う絶縁部材を有したミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体装置と、
    他方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含み前記半導体チップを覆う絶縁部材を有するミリ波誘電体内伝送可能な第2の半導体装置と、
    ミリ波誘電体内伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され前記第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波伝送部材と、
    を備え、
    前記第1の半導体装置と第2の半導体装置とが当該第1の半導体装置のアンテナ構造と第2の半導体装置のアンテナ構造との間でミリ波信号伝送を実行可能に前記ミリ波伝送部材を介在して実装され、
    前記ミリ波伝送部材は、
    前記第1および第2の半導体装置の各々のアンテナ構造に整合される貫通部を有した領域画定用の部材と、
    前記部材の貫通部内に設けられた誘電体素材と、
    を有する、
    リ波誘電体内伝送装置。
  8. 前記アンテナ構造は、前記半導体チップ上に設けられ、
    前記第1および第2の半導体装置は、各々の前記アンテナ構造が前記ミリ波伝送部材を介在して配置された
    請求項7に記載のミリ波誘電体内伝送装置。
  9. 前記アンテナ構造にはパッチアンテナが備えられる
    請求項8に記載のミリ波誘電体内伝送装置。
  10. 一方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含み前記半導体チップを覆う絶縁部材を有したミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体装置と、
    他方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含み前記半導体チップを覆う絶縁部材を有するミリ波誘電体内伝送可能な第2の半導体装置と、
    ミリ波誘電体内伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され前記第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波伝送部材と、
    を備え、
    前記第1の半導体装置と第2の半導体装置とが当該第1の半導体装置のアンテナ構造と第2の半導体装置のアンテナ構造との間でミリ波信号伝送を実行可能に前記ミリ波伝送部材を介在して実装され、
    前記第1および第2の半導体装置とを接合する部分には、ミリ波誘電体内伝送可能な誘電体を含んだ誘電体素材で構成され、前記ミリ波伝送部材として機能する粘弾性素材が設けられている
    リ波誘電体内伝送装置。
  11. 前記アンテナ構造は、前記半導体チップに並設され、
    前記第1および第2の半導体装置は、各々の前記アンテナ構造が前記ミリ波伝送部材を介在して配置された
    請求項10に記載のミリ波誘電体内伝送装置。
  12. 一方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含み前記半導体チップを覆う絶縁部材を有したミリ波誘電体内伝送可能な第1の半導体装置と、
    他方の基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップ、前記半導体チップに接続されたアンテナ構造、および、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含み前記半導体チップを覆う絶縁部材を有するミリ波誘電体内伝送可能な第2の半導体装置と、
    ミリ波誘電体内伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され前記第1の半導体装置と第2の半導体装置との間に設けられたミリ波伝送部材と、
    を備え、
    前記第1の半導体装置と第2の半導体装置とが当該第1の半導体装置のアンテナ構造と第2の半導体装置のアンテナ構造との間でミリ波信号伝送を実行可能に前記ミリ波伝送部材を介在して実装され、
    前記半導体チップを各々有する第1および第2の半導体装置を並設して実装するための実装用の基板を更に備え、
    前記ミリ波伝送部材が前記実装用の基板に設けられ、
    前記実装用の基板のミリ波伝送部材において、前記第1の半導体装置のアンテナ構造と前記第2の半導体装置のアンテナ構造との間で、当該ミリ波伝送部材を介したミリ波の信号を伝送し、
    前記ミリ波伝送部材は、前記実装用の基板に設けられた領域画定用の溝部または貫通部にミリ波誘電体内伝送可能な誘電体を含んだ誘電体素材を充填して構成された
    リ波誘電体内伝送装置。
  13. 前記アンテナ構造は、前記半導体チップを封止する絶縁部材の表面に引き出される
    請求項12に記載のミリ波誘電体内伝送装置。
  14. 前記絶縁部材は、ミリ波信号を通過可能な誘電体を含んでいる
    請求項7ないし請求項13のいずれか1項に記載のミリ波誘電体内伝送装置。
  15. 基板上にミリ波帯通信可能な半導体チップを形成する工程と、
    前記基板上に形成された半導体チップにアンテナ構造を接続する工程と、
    絶縁部材で、前記半導体チップを覆って絶縁する工程と、
    ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で、前記アンテナ構造にミリ波伝送部材を整合する工程と、
    を有し、
    前記アンテナ構造にミリ波伝送部材を整合する際に、
    前記絶縁部材に領域画定用の部材を形成する工程と、
    前記領域画定用の部材に、前記アンテナ構造に整合される貫通部を形成する工程と、
    前記部材の貫通部内に誘電体素材を設けてミリ波伝送部材を形成する工程と、
    を有する、
    導体装置の製造方法。
  16. 基板上に設けられたミリ波帯通信可能な半導体チップと、
    前記半導体チップに接続されたアンテナ構造と、
    ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され、前記アンテナ構造に整合されたミリ波伝送部材と、
    を備え、
    複数の前記半導体チップが前記アンテナ構造の部分が同軸となるように積層状に設けられており、
    前記複数の半導体チップを接合する部分には、ミリ波誘電体内伝送可能な誘電体を含んだ誘電体素材で構成され前記ミリ波伝送部材として機能する粘弾性素材が設けられている、
    導体装置。
  17. 請求項16に記載の複数の半導体装置と、
    前記複数の半導体装置の間でミリ波帯での情報伝送が可能なミリ波信号伝送路と、
    を備え、
    前記複数の半導体装置の間では、ベースバンド信号をミリ波信号に変換してから、このミリ波信号を前記ミリ波信号伝送路を介して伝送するように構成されている
    リ波誘電体内伝送装置。
  18. ミリ波信号伝送可能な誘電体を含んでいる誘電体素材で構成され前記ミリ波信号伝送路として機能する実装用の基板を備え、
    前記複数の半導体装置が同一の前記実装用の基板上に並設されている
    請求項17に記載のミリ波誘電体内伝送装置。
  19. 前記ミリ波信号伝送路は、ミリ波信号を伝送路中に閉じ込めつつミリ波信号を伝送させる構造を持つ
    請求項17に記載のミリ波誘電体内伝送装置。
JP2009164506A 2009-01-07 2009-07-13 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置 Expired - Fee Related JP5556072B2 (ja)

Priority Applications (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009164506A JP5556072B2 (ja) 2009-01-07 2009-07-13 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置
TW098141588A TWI436468B (zh) 2009-01-07 2009-12-04 Semiconductor device and method for manufacturing the same, millimeter-wave dielectric transmission device and manufacturing method thereof, and millimeter-wave dielectric transmission system
EP09837549.6A EP2375444A4 (en) 2009-01-07 2009-12-08 SEMICONDUCTOR ELEMENT, MANUFACTURING METHOD, DIELECTRIC MILLIMETER WAVE TRANSMISSION DEVICE, METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF, AND DIELECTRIC MILLIMETER WAVE TRANSMISSION SYSTEM
KR1020117015098A KR20110102384A (ko) 2009-01-07 2009-12-08 반도체 장치, 그 제조 방법, 밀리파 유전체 내 전송 장치, 그 제조 방법, 및 밀리파 유전체 내 전송 시스템
CN200980153550.4A CN102272919B (zh) 2009-01-07 2009-12-08 半导体器件及其制造方法、毫米波电介质内传输装置及其制造方法、以及毫米波电介质内传输系统
PCT/JP2009/070519 WO2010079663A1 (ja) 2009-01-07 2009-12-08 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置、その製造方法、およびミリ波誘電体内伝送システム
BRPI0923803-4A BRPI0923803A2 (pt) 2009-01-07 2009-12-08 Dispositivo semicondutor, dispositivo e sistema de transmissão dielétrica, e, métodos para fabricar um dispositivo semicondutor e um dispositivo de transmissão dielétrica.
US13/141,726 US8983399B2 (en) 2009-01-07 2009-12-08 Semiconductor device, method of manufacturing the same, in-millimeter-wave dielectric transmission device, method of manufacturing the same, and in-millimeter-wave dielectric transmission system
CN201410379898.8A CN104201162B (zh) 2009-01-07 2009-12-08 半导体器件及其制造方法、毫米波电介质内传输装置及其制造方法、以及毫米波电介质内传输系统
RU2011126997/28A RU2507631C2 (ru) 2009-01-07 2009-12-08 Полупроводниковый прибор, способ изготовления полупроводникового прибора, устройство передачи сигналов миллиметрового диапазона через диэлектрик, способ изготовления устройства и система передачи сигналов миллиметрового диапазона через диэлектрик
US14/609,658 US9705202B2 (en) 2009-01-07 2015-01-30 Semiconductor device, method of manufacturing the same, in-millimeter-wave dielectric transmission device, method of manufacturing the same, and in-millimeter-wave dielectric transmission system

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009001922 2009-01-07
JP2009001922 2009-01-07
JP2009164506A JP5556072B2 (ja) 2009-01-07 2009-07-13 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010183055A JP2010183055A (ja) 2010-08-19
JP5556072B2 true JP5556072B2 (ja) 2014-07-23

Family

ID=42316434

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009164506A Expired - Fee Related JP5556072B2 (ja) 2009-01-07 2009-07-13 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置

Country Status (9)

Country Link
US (2) US8983399B2 (ja)
EP (1) EP2375444A4 (ja)
JP (1) JP5556072B2 (ja)
KR (1) KR20110102384A (ja)
CN (2) CN104201162B (ja)
BR (1) BRPI0923803A2 (ja)
RU (1) RU2507631C2 (ja)
TW (1) TWI436468B (ja)
WO (1) WO2010079663A1 (ja)

Families Citing this family (95)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9407311B2 (en) 2011-10-21 2016-08-02 Keyssa, Inc. Contactless signal splicing using an extremely high frequency (EHF) communication link
US9322904B2 (en) 2011-06-15 2016-04-26 Keyssa, Inc. Proximity sensing using EHF signals
US8554136B2 (en) 2008-12-23 2013-10-08 Waveconnex, Inc. Tightly-coupled near-field communication-link connector-replacement chips
FR2942676A1 (fr) * 2009-02-27 2010-09-03 Thomson Licensing Systeme d'antennes compact a diversite d'ordre 2.
JP5278210B2 (ja) * 2009-07-13 2013-09-04 ソニー株式会社 無線伝送システム、電子機器
CN103026487A (zh) * 2010-07-29 2013-04-03 株式会社村田制作所 高频模块及通信装置
JP5859008B2 (ja) * 2010-09-21 2016-02-10 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 サブミリ波及び誘電体導波路を用いたチップ間通信
JP5172925B2 (ja) * 2010-09-24 2013-03-27 株式会社東芝 無線装置
JP5644521B2 (ja) * 2011-01-14 2014-12-24 ソニー株式会社 信号伝送装置、及び、電子機器
JP5812462B2 (ja) * 2011-03-17 2015-11-11 国立大学法人広島大学 チップ間通信システム及び半導体装置
WO2012129426A2 (en) 2011-03-24 2012-09-27 Waveconnex, Inc. Integrated circuit with electromagnetic communication
US8811526B2 (en) 2011-05-31 2014-08-19 Keyssa, Inc. Delta modulated low power EHF communication link
EP2730035A2 (en) * 2011-07-05 2014-05-14 Waveconnex, Inc. Ehf communication with electrical isolation and with dielectric transmission medium
JP5417389B2 (ja) 2011-07-13 2014-02-12 株式会社東芝 無線装置
JP5414749B2 (ja) 2011-07-13 2014-02-12 株式会社東芝 無線装置
JP5590252B2 (ja) * 2011-11-09 2014-09-17 株式会社村田製作所 通信モジュール、コネクタ及びコネクタ付き通信モジュール
CN104145380B (zh) 2011-12-14 2017-09-29 基萨公司 提供触觉反馈的连接器
GB2499792B (en) * 2012-02-28 2016-05-04 Canon Kk Electronic device comprising an electronic die and a substrate integrated waveguide, and flip-chip ball grid array package
WO2013131095A2 (en) 2012-03-02 2013-09-06 Waveconnex, Inc. Systems and methods for duplex communication
CN102623443B (zh) * 2012-04-20 2015-10-14 日月光半导体制造股份有限公司 半导体封装件
KR101595685B1 (ko) * 2012-05-17 2016-02-18 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 반도체 모듈 및 반도체 장치
CN102761311B (zh) * 2012-07-20 2014-11-19 深圳市通创通信有限公司 毫米波电路微组装方法
TWI595715B (zh) 2012-08-10 2017-08-11 奇沙公司 用於極高頻通訊之介電耦接系統
US8546932B1 (en) 2012-08-15 2013-10-01 Apple Inc. Thin substrate PoP structure
CN104769852B (zh) 2012-09-14 2016-09-21 凯萨股份有限公司 具有虚拟磁滞的无线连接
US8963311B2 (en) 2012-09-26 2015-02-24 Apple Inc. PoP structure with electrically insulating material between packages
TWI645773B (zh) * 2012-09-28 2018-12-21 西凱渥資訊處理科技公司 用於提供模組內射頻隔離之系統及方法
JP6121705B2 (ja) 2012-12-12 2017-04-26 株式会社東芝 無線装置
KR20150098645A (ko) 2012-12-17 2015-08-28 키사, 아이엔씨. 모듈식 전자장치
WO2014106891A1 (ja) * 2013-01-04 2014-07-10 富士通株式会社 無線通信装置、及び、電子装置
EP2974504B1 (en) 2013-03-15 2018-06-20 Keyssa, Inc. Ehf secure communication device
EP2974057B1 (en) 2013-03-15 2017-10-04 Keyssa, Inc. Extremely high frequency communication chip
JP2014195217A (ja) * 2013-03-29 2014-10-09 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 通信システムおよび通信方法
JP2014217014A (ja) * 2013-04-30 2014-11-17 株式会社東芝 無線装置
EP3013565B1 (en) * 2013-06-24 2020-01-22 President and Fellows of Harvard College Printed three-dimensional (3d) functional part and method of making
CN105409060B (zh) * 2013-07-29 2018-09-04 株式会社村田制作所 天线一体型无线模块以及该模块的制造方法
EP3033802B1 (en) * 2013-08-13 2019-10-23 Keyssa, Inc. Contactless communication unit connector assemblies
CN103606585B (zh) * 2013-11-25 2016-02-03 电子科技大学 一种高吸收结构的太赫兹室温探测器及制备方法
EP2897217A1 (de) * 2014-01-21 2015-07-22 Delphi Technologies, Inc. Vorrichtung zur Impedanzanpassung
KR101514596B1 (ko) * 2014-01-27 2015-04-22 삼성전기주식회사 무선 통신 기능을 갖는 회로 기판
JP2015149650A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 株式会社東芝 ミリ波帯用半導体パッケージおよびミリ波帯用半導体装置
JP2015149649A (ja) * 2014-02-07 2015-08-20 株式会社東芝 ミリ波帯用半導体パッケージおよびミリ波帯用半導体装置
US9647329B2 (en) 2014-04-09 2017-05-09 Texas Instruments Incorporated Encapsulated molded package with embedded antenna for high data rate communication using a dielectric waveguide
CN104078526B (zh) * 2014-05-14 2016-02-03 电子科技大学 集成红外屏蔽结构的太赫兹波室温探测单元及制备方法
US9892991B2 (en) * 2014-05-29 2018-02-13 Infineon Technologies Ag Connectable package extender for semiconductor device package
US9531075B2 (en) * 2014-08-01 2016-12-27 The Penn State Research Foundation Antenna apparatus and communication system
RU2576666C1 (ru) * 2014-08-28 2016-03-10 Публичное акционерное общество "Радиофизика" Способ монтажа мощного полупроводникового элемента
US10162198B2 (en) 2014-09-11 2018-12-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Multiband QAM interface for slab waveguide
US10126512B2 (en) 2014-09-11 2018-11-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Differential silicon interface for dielectric slab waveguide
US9715131B2 (en) 2014-09-11 2017-07-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Integrated fan-out package including dielectric waveguide
US10085352B2 (en) 2014-10-01 2018-09-25 Qorvo Us, Inc. Method for manufacturing an integrated circuit package
KR102333559B1 (ko) * 2015-05-11 2021-12-01 삼성전자 주식회사 안테나 장치 및 그를 포함하는 전자 장치
US10276495B2 (en) 2015-09-11 2019-04-30 Qorvo Us, Inc. Backside semiconductor die trimming
US9590699B1 (en) * 2015-09-11 2017-03-07 Texas Instuments Incorporated Guided near field communication for short range data communication
US9985335B2 (en) * 2015-12-29 2018-05-29 Texas Instruments Incorporated Methods and apparatus for backside integrated circuit high frequency signal radiation, reception and interconnects
TWI707168B (zh) * 2016-01-29 2020-10-11 台灣積體電路製造股份有限公司 整合式晶片及形成整合式介電質波導的方法
EP3450231B1 (en) * 2016-04-27 2023-03-29 Agc Inc. Window member for vehicle or building
US10773952B2 (en) 2016-05-20 2020-09-15 Qorvo Us, Inc. Wafer-level package with enhanced performance
US10784149B2 (en) 2016-05-20 2020-09-22 Qorvo Us, Inc. Air-cavity module with enhanced device isolation
US10468329B2 (en) 2016-07-18 2019-11-05 Qorvo Us, Inc. Thermally enhanced semiconductor package having field effect transistors with back-gate feature
US10103080B2 (en) 2016-06-10 2018-10-16 Qorvo Us, Inc. Thermally enhanced semiconductor package with thermal additive and process for making the same
JP7037544B2 (ja) 2016-08-12 2022-03-16 コーボ ユーエス,インコーポレイティド 性能を向上させたウエハレベルパッケージ
SG11201901193UA (en) 2016-08-12 2019-03-28 Qorvo Us Inc Wafer-level package with enhanced performance
WO2018031999A1 (en) 2016-08-12 2018-02-15 Qorvo Us, Inc. Wafer-level package with enhanced performance
US10109502B2 (en) 2016-09-12 2018-10-23 Qorvo Us, Inc. Semiconductor package with reduced parasitic coupling effects and process for making the same
WO2018057645A1 (en) 2016-09-22 2018-03-29 Apple Inc. Battery architecture in an electronic device
US10749518B2 (en) 2016-11-18 2020-08-18 Qorvo Us, Inc. Stacked field-effect transistor switch
US10068831B2 (en) 2016-12-09 2018-09-04 Qorvo Us, Inc. Thermally enhanced semiconductor package and process for making the same
JP6602324B2 (ja) 2017-01-17 2019-11-06 株式会社東芝 無線装置
JP6602326B2 (ja) 2017-02-06 2019-11-06 株式会社東芝 無線装置
US10755992B2 (en) * 2017-07-06 2020-08-25 Qorvo Us, Inc. Wafer-level packaging for enhanced performance
JP6882951B2 (ja) * 2017-07-27 2021-06-02 株式会社フジクラ 回路基板、無線装置、及び回路基板の製造方法
US10784233B2 (en) 2017-09-05 2020-09-22 Qorvo Us, Inc. Microelectronics package with self-aligned stacked-die assembly
US10366972B2 (en) 2017-09-05 2019-07-30 Qorvo Us, Inc. Microelectronics package with self-aligned stacked-die assembly
US10886590B2 (en) 2017-10-11 2021-01-05 Texas Instruments Incorporated Interposer for connecting an antenna on an IC substrate to a dielectric waveguide through an interface waveguide located within an interposer block
US10163825B1 (en) * 2017-10-26 2018-12-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Semiconductor structure and manufacturing method thereof
JP6776280B2 (ja) * 2018-01-10 2020-10-28 株式会社東芝 無線通信モジュール、プリント基板、および製造方法
US10971800B2 (en) * 2018-03-05 2021-04-06 Te Connectivity Corporation Surface-mount antenna apparatus and communication system having the same
US11152363B2 (en) 2018-03-28 2021-10-19 Qorvo Us, Inc. Bulk CMOS devices with enhanced performance and methods of forming the same utilizing bulk CMOS process
US10804246B2 (en) 2018-06-11 2020-10-13 Qorvo Us, Inc. Microelectronics package with vertically stacked dies
US10566686B2 (en) * 2018-06-28 2020-02-18 Micron Technology, Inc. Stacked memory package incorporating millimeter wave antenna in die stack
KR102187434B1 (ko) * 2018-08-06 2020-12-07 동우 화인켐 주식회사 고주파용 필름 전송 선로, 이를 포함하는 안테나 및 안테나가 결합된 화상 표시 장치
US10964554B2 (en) 2018-10-10 2021-03-30 Qorvo Us, Inc. Wafer-level fan-out package with enhanced performance
US11069590B2 (en) 2018-10-10 2021-07-20 Qorvo Us, Inc. Wafer-level fan-out package with enhanced performance
US11646242B2 (en) 2018-11-29 2023-05-09 Qorvo Us, Inc. Thermally enhanced semiconductor package with at least one heat extractor and process for making the same
CN113632209A (zh) 2019-01-23 2021-11-09 Qorvo美国公司 Rf半导体装置和其制造方法
US20200235040A1 (en) 2019-01-23 2020-07-23 Qorvo Us, Inc. Rf devices with enhanced performance and methods of forming the same
US20200235066A1 (en) 2019-01-23 2020-07-23 Qorvo Us, Inc. Rf devices with enhanced performance and methods of forming the same
US11387157B2 (en) 2019-01-23 2022-07-12 Qorvo Us, Inc. RF devices with enhanced performance and methods of forming the same
US11646289B2 (en) 2019-12-02 2023-05-09 Qorvo Us, Inc. RF devices with enhanced performance and methods of forming the same
US11923238B2 (en) 2019-12-12 2024-03-05 Qorvo Us, Inc. Method of forming RF devices with enhanced performance including attaching a wafer to a support carrier by a bonding technique without any polymer adhesive
CN113224500B (zh) * 2020-01-21 2022-12-27 华为技术有限公司 封装天线模组、封装天线模组的制作方法及终端设备
CN113258305B (zh) * 2021-04-30 2022-07-29 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) 电控全息天线高频液晶辐射面子阵的制备方法
US20240128994A1 (en) * 2021-06-29 2024-04-18 Molex, Llc Transmission system
CN114301491A (zh) * 2022-01-18 2022-04-08 德氪微电子(深圳)有限公司 毫米波无线连接器芯片、无线连接器及信号传输系统

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2621577B2 (ja) * 1990-05-16 1997-06-18 日本電気株式会社 ウェハースケール集積回路
US6728113B1 (en) 1993-06-24 2004-04-27 Polychip, Inc. Method and apparatus for non-conductively interconnecting integrated circuits
JP3378435B2 (ja) * 1995-09-29 2003-02-17 株式会社東芝 超高周波帯無線通信装置
JP3645378B2 (ja) * 1996-01-19 2005-05-11 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP3313045B2 (ja) * 1997-04-17 2002-08-12 松下電器産業株式会社 半導体装置
JPH1134553A (ja) * 1997-07-18 1999-02-09 Rohm Co Ltd Icモジュール、およびその製造方法、ならびにこれを備えたicカード
JP2001088097A (ja) * 1999-09-16 2001-04-03 Hitachi Ltd ミリ波多層基板モジュール及びその製造方法
JP3557990B2 (ja) * 2000-03-09 2004-08-25 ソニーケミカル株式会社 情報記録タグ
US6424315B1 (en) 2000-08-02 2002-07-23 Amkor Technology, Inc. Semiconductor chip having a radio-frequency identification transceiver
JP4049239B2 (ja) * 2000-08-30 2008-02-20 Tdk株式会社 表面弾性波素子を含む高周波モジュール部品の製造方法
JP4137356B2 (ja) * 2000-09-07 2008-08-20 Tdk株式会社 表面弾性波素子を含む高周波モジュール部品の製造方法
WO2003029772A2 (en) 2001-09-28 2003-04-10 Hrl Laboratories, Llc Imaging array
US6770955B1 (en) * 2001-12-15 2004-08-03 Skyworks Solutions, Inc. Shielded antenna in a semiconductor package
US6774470B2 (en) * 2001-12-28 2004-08-10 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Non-contact data carrier and method of fabricating the same
JP2003218315A (ja) * 2002-01-21 2003-07-31 Denso Corp 半導体装置
JP3789410B2 (ja) * 2002-08-29 2006-06-21 富士通メディアデバイス株式会社 表面実装型電子部品モジュールおよびその製造方法
US7391372B2 (en) 2003-06-26 2008-06-24 Hrl Laboratories, Llc Integrated phased array antenna
JP2004104816A (ja) 2003-10-06 2004-04-02 Kyocera Corp 誘電体導波管線路および配線基板
WO2005074029A1 (ja) * 2004-01-28 2005-08-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. モジュール及びこれを用いた実装構造体
JP2005234683A (ja) * 2004-02-17 2005-09-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Icカード
WO2005088704A1 (en) * 2004-03-12 2005-09-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP4684730B2 (ja) * 2004-04-30 2011-05-18 シャープ株式会社 高周波半導体装置、送信装置および受信装置
CN100485924C (zh) * 2004-08-24 2009-05-06 索尼株式会社 半导体器件、基底、设备板、半导体器件制造方法和半导体芯片
JP4752369B2 (ja) * 2004-08-24 2011-08-17 ソニー株式会社 半導体装置および基板
US7256740B2 (en) * 2005-03-30 2007-08-14 Intel Corporation Antenna system using complementary metal oxide semiconductor techniques
US7427801B2 (en) * 2005-04-08 2008-09-23 International Business Machines Corporation Integrated circuit transformer devices for on-chip millimeter-wave applications
US20060276157A1 (en) 2005-06-03 2006-12-07 Chen Zhi N Apparatus and methods for packaging antennas with integrated circuit chips for millimeter wave applications
JP4395103B2 (ja) 2005-06-06 2010-01-06 富士通株式会社 導波路基板および高周波回路モジュール
US7342299B2 (en) * 2005-09-21 2008-03-11 International Business Machines Corporation Apparatus and methods for packaging antennas with integrated circuit chips for millimeter wave applications
WO2007043602A1 (en) 2005-10-14 2007-04-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and communication system using the semiconductor device
JP5055798B2 (ja) * 2006-03-17 2012-10-24 日立金属株式会社 半導体装置の製造方法
WO2007136289A1 (en) * 2006-05-23 2007-11-29 Intel Corporation Millimeter-wave chip-lens array antenna systems for wireless networks
KR101441349B1 (ko) * 2006-10-31 2014-09-18 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
JP2008252566A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Av機器

Also Published As

Publication number Publication date
CN102272919B (zh) 2014-08-20
WO2010079663A1 (ja) 2010-07-15
US9705202B2 (en) 2017-07-11
EP2375444A4 (en) 2013-10-02
US20110309893A1 (en) 2011-12-22
RU2507631C2 (ru) 2014-02-20
BRPI0923803A2 (pt) 2015-07-21
TW201030929A (en) 2010-08-16
CN104201162B (zh) 2018-01-19
US8983399B2 (en) 2015-03-17
TWI436468B (zh) 2014-05-01
CN104201162A (zh) 2014-12-10
US20150137336A1 (en) 2015-05-21
EP2375444A1 (en) 2011-10-12
JP2010183055A (ja) 2010-08-19
CN102272919A (zh) 2011-12-07
KR20110102384A (ko) 2011-09-16
RU2011126997A (ru) 2013-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5556072B2 (ja) 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置
TWI716838B (zh) 天線結構以及封裝天線
KR102344153B1 (ko) 안테나 모듈들 및 통신 디바이스들
CN110391494B (zh) 天线模块和电子设备
US10121751B2 (en) Integrated antennas in wafer level package
US9379450B2 (en) Integrated circuit with electromagnetic communication
US8648454B2 (en) Wafer-scale package structures with integrated antennas
US9172131B2 (en) Semiconductor structure having aperture antenna
JP2018093491A (ja) 集積アンテナ・アレーを有するワイヤレス通信パッケージ
KR102486785B1 (ko) 칩 안테나 모듈
JP7115568B2 (ja) アンテナモジュール及び通信装置
US11128023B2 (en) Substrate design for efficient coupling between a package and a dielectric waveguide
US10833394B2 (en) Electronic package and method for fabricating the same
GB2499792A (en) Electronic device comprising an electronic die, a substrate integrated waveguide (SIW) and a flip-chip ball grid array package
KR102069236B1 (ko) 안테나 모듈
CN116231276A (zh) 片上天线和片上天线装置
US9105462B2 (en) Semiconductor apparatus
TW202326990A (zh) 具有天線陣列的半導體封裝結構
CN115313013A (zh) 天线结构及其电子封装件

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20110715

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110715

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120522

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20130215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140520

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5556072

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees