JP4684730B2 - 高周波半導体装置、送信装置および受信装置 - Google Patents

高周波半導体装置、送信装置および受信装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4684730B2
JP4684730B2 JP2005126932A JP2005126932A JP4684730B2 JP 4684730 B2 JP4684730 B2 JP 4684730B2 JP 2005126932 A JP2005126932 A JP 2005126932A JP 2005126932 A JP2005126932 A JP 2005126932A JP 4684730 B2 JP4684730 B2 JP 4684730B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency semiconductor
semiconductor element
dielectric substrate
ground layer
circuit board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005126932A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005340790A (ja
Inventor
誠 山元
英治 末松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2005126932A priority Critical patent/JP4684730B2/ja
Priority to US11/115,213 priority patent/US7372149B2/en
Publication of JP2005340790A publication Critical patent/JP2005340790A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4684730B2 publication Critical patent/JP4684730B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q21/00Antenna arrays or systems
    • H01Q21/06Arrays of individually energised antenna units similarly polarised and spaced apart
    • H01Q21/061Two dimensional planar arrays
    • H01Q21/065Patch antenna array
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q23/00Antennas with active circuits or circuit elements integrated within them or attached to them
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0237High frequency adaptations
    • H05K1/0243Printed circuits associated with mounted high frequency components
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6661High-frequency adaptations for passive devices
    • H01L2223/6677High-frequency adaptations for passive devices for antenna, e.g. antenna included within housing of semiconductor device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/16235Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a via metallisation of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01012Magnesium [Mg]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • H01L2924/141Analog devices
    • H01L2924/1423Monolithic Microwave Integrated Circuit [MMIC]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1515Shape
    • H01L2924/15153Shape the die mounting substrate comprising a recess for hosting the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15172Fan-out arrangement of the internal vias
    • H01L2924/15174Fan-out arrangement of the internal vias in different layers of the multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/1615Shape
    • H01L2924/16195Flat cap [not enclosing an internal cavity]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0201Thermal arrangements, e.g. for cooling, heating or preventing overheating
    • H05K1/0203Cooling of mounted components
    • H05K1/0204Cooling of mounted components using means for thermal conduction connection in the thickness direction of the substrate
    • H05K1/0206Cooling of mounted components using means for thermal conduction connection in the thickness direction of the substrate by printed thermal vias
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • H05K1/112Pads for surface mounting, e.g. lay-out directly combined with via connections
    • H05K1/113Via provided in pad; Pad over filled via
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/18Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/182Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with components mounted in the printed circuit board, e.g. insert mounted components [IMC]
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/09072Hole or recess under component or special relationship between hole and component
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09209Shape and layout details of conductors
    • H05K2201/09654Shape and layout details of conductors covering at least two types of conductors provided for in H05K2201/09218 - H05K2201/095
    • H05K2201/0979Redundant conductors or connections, i.e. more than one current path between two points
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10727Leadless chip carrier [LCC], e.g. chip-modules for cards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3442Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers

Description

本発明は、高周波半導体装置、送信装置および受信装置に係り、たとえばアンテナ機能を有するマイクロ波通信用のアンテナ一体化無線通信装置などに適用される技術に関する。
近年、情報処理装置の処理速度の向上および、画像処理装置の高解像度化などに伴い、たとえばマイクロ波のような高周波による高速、大容量のパーソナル通信が注目されている。特にミリ波帯では、アンテナと高周波回路との接続部での電力の損失が大きくなるため、アンテナと高周波回路とを一体化したアンテナ一体化無線通信装置の開発が試みられている(たとえば特開平8−250913号公報(第5頁、第10図)参照)。
図9は、従来の高周波半導体装置の断面図である。アンテナ一体化無線通信装置は、誘電体層1,2と、これら誘電体層1,2間に挟まれたグランド層3とを有するベース4を備えている。前記グランド層3には、スロット部4aが設けられている。パッケージ5のうち外方に臨む一表面部には、平面アンテナ6が形成される。誘電体層1のパッケージの内部空間に臨む一表面部には、給電用マイクロストリップ線路7が形成されている。この給電用マイクロストリップ線路7と、モノリシックマイクロ波集積回路8(略称MMIC:Monolithic Microwave Integrated Circuit)の出力端子9および入力端子10との間を、ボンディングワイヤ11で電気的に接続している。
特開平8−250913号公報(第5頁、第10図)
従来のマイクロストリップに代表される高周波伝送線路は、特性インピーダンスを50Ωとするため、数百μm程度の幅しかない。前述のアンテナ一体化無線通信装置では、MMICに接続された狭幅の給電用マイクロストリップ線路7で、MMICの発する熱を放熱させなければならない。それ故、MMICなどの高周波半導体素子の発する熱を十分に放熱することができず、蓋体12で閉ざされた空間に熱がこもってしまう。その結果、高周波半導体素子は、高周波半導体素子自体の発する熱によって高温化動作となり、誤作動または特性劣化を生じる。
本発明の目的は、高周波半導体素子の特性劣化を防止し、該高周波半導体素子を安定して動作させることができる高周波半導体装置、送信装置および受信装置を提供することである。
本発明は、高周波半導体素子と、該高周波半導体素子が搭載される誘電体基板と、回路基板とを少なくとも備え、前記誘電体基板を回路基板に実装して成る高周波半導体装置であって、
高周波半導体素子から、誘電体基板を経て回路基板にいたる伝熱経路が形成され
誘電体基板の前記回路基板に臨む一表面部には、平面アンテナが設けられ、
前記回路基板には、前記平面アンテナを開放するように貫通孔が形成され、
前記伝熱経路は、誘電体基板の前記一表面部に設けられ、前記貫通孔を囲繞するように配設されるグランド層を含むことを特徴とする高周波半導体装置である。
本発明に従えば、高周波半導体装置は、高周波半導体素子と該誘電体基板と回路基板とを少なくとも備え、前記誘電体基板を回路基板に実装して成る。前記誘電体基板には、高周波半導体素子が搭載されている。また誘電体基板の前記回路基板に臨む一表面部には、平面アンテナが設けられている。前記回路基板には、前記平面アンテナを開放するように貫通孔が形成されている。高周波半導体素子から、誘電体基板を経て回路基板にいたる伝熱経路が形成されている。したがって高周波半導体素子から発生した熱は、伝熱経路によって伝導される。つまり熱は、高周波半導体素子から順次、誘電体基板、回路基板に伝導される。また前記伝熱経路は、誘電体基板の前記一表面部に設けられ、前記貫通孔を囲繞するように配設されるグランド層を含む。
また本発明は、前記伝熱経路は、誘電体基板および回路基板にそれぞれ設けられるグランド層を含むことを特徴とする。
本発明に従えば、高周波半導体素子から発生した熱は、誘電体基板および回路基板にそれぞれ設けられるグランド層によって伝導される。これによって、高周波半導体素子周辺部に熱が滞留することを防止することが可能となる。
また本発明は、前記伝熱経路は、誘電体基板に設けられるグランド層と、回路基板に設けられるグランド層との間に設けられる導電性材料から成る層を含むことを特徴とする。
本発明に従えば、高周波半導体素子から発生した熱は、誘電体基板に設けられるグランド層、導電性材料から成る層および回路基板に設けられるグランド層によって伝導される。これによって、高周波半導体素子周辺部に熱が滞留することを防止することが可能となる。
また本発明は、前記高周波半導体装置を備えることを特徴とする送信装置である。
また本発明は、前記高周波半導体装置を備えることを特徴とする受信装置である。
本発明に従えば、受信装置は、放熱効果の高い高周波半導体装置を備えているので、放熱対策としての放熱部品を省略し得る。
本発明によれば、高周波半導体装置には、高周波半導体素子から、誘電体基板を経て回路基板にいたる伝熱経路が形成されているので、デバイスから発生した熱は、伝熱経路によって伝導される。つまり熱は、高周波半導体素子から順次、誘電体基板、回路基板に伝導される。したがって発生した熱が、高周波半導体素子周辺部に滞留することを防止することができる。換言すれば、高周波半導体素子から発生した熱が、誘電体基板外へ抜けていく。それ故、熱による高周波半導体素子の特性劣化を防止し、該高周波半導体素子を安定して動作させることができる。
また誘電体基板の回路基板に臨む一表面部には、平面アンテナが設けられ、回路基板には、平面アンテナを開放するように貫通孔が形成されており、伝熱経路は、誘電体基板の該一表面部に設けられ、かつ貫通孔を囲繞するように配設されるグランド層を含んでいる。したがって、効率よく熱伝導が行われるとともに、誘電体基板と回路基板との接続において、誘電体基板と回路基板とが広い面積で接続されることによって、強い機械的強度が得られる。
本発明によれば、デバイスから発生した熱は、誘電体基板および回路基板にそれぞれ設けられるグランド層によって伝導される。これによって、高周波半導体素子周辺部に熱が滞留することを防止することが可能となる。
本発明によれば、高周波半導体素子から発生した熱は、誘電体基板に設けられるグランド層、導電性材料から成る層および回路基板に設けられるグランド層によって伝導される。これによって、高周波半導体素子周辺部に熱が滞留することを防止することが可能となる。
本発明によれば、送信装置は、放熱効果の高い高周波半導体装置を備えているので、放熱対策としての、ヒートシンク、ヒートパイプ、放熱シートといった放熱部品を省略し得る。それ故、システム設計の自由度を下げることなく機器の小形化を図ることができる。これによって送信装置の汎用性を高くすることができる。
また本発明によれば、受信装置は、放熱効果の高い高周波半導体装置を備えているので、放熱対策としてヒートシンク、ヒートパイプ、放熱シートといった放熱部品を省略し得る。それ故、システム設計の自由度を下げることなく機器の小形化を図ることができる。これによって受信装置の汎用性を高くすることができる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る高周波半導体装置20を、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。第1の実施形態に係る高周波半導体装置20(第1半導体装置20という)は、たとえばマイクロ波通信用のアンテナ一体化無線通信装置に適用される。この第1半導体装置20は、高周波半導体素子21と、該高周波半導体素子21が搭載された誘電体基板22と、回路基板23とを有する。誘電体基板22は、第1,第2,第3の誘電体層22a,22b,22cを備える。前記誘電体基板22の一表面部には、高周波半導体素子21がフリップチップボンディング実装により搭載されている。
誘電体基板22の前記一表面部には、信号伝送用マイクロストリップ線路24が設けられている。高周波半導体素子21に付設される信号端子25は、この信号伝送用マイクロストリップ線路24に接続されている。高周波半導体素子21に付設されるグランド端子26は、接地用ビアホール27を介して第1のグランド層28に接続されている。この第1のグランド層28は、第1および第2の誘電体層22a,22b間に形成されている。換言すれば第1のグランド層28は、誘電体基板22内に設けられている。誘電体基板22の一表面部は、蓋体29によって覆われ封止されている。
前記第2および第3の誘電体層22b,22cを貫通するように、第1のビアホール30が形成され、第1のグランド層28は、この第1のビアホール30を介して第1の補助グランド層31に接続されている。第1の補助グランド層31は、誘電体基板22の裏面部に形成されている。
誘電体基板22の外部には、回路基板23が設けられている。つまり誘電体基板22に臨む回路基板23の一表面部には、第2のグランド層32が形成されている。前記第2のグランド層32は、第2のビアホール33を介して、回路基板23の裏面部に形成された第3のグランド層34に接続されている。つまり回路基板23には、第2および第3のグランド層32,34を接続するための第2のビアホール33が、回路基板23の厚み方向に貫通するように形成されている。誘電体基板22の裏面部を回路基板23の一表面部に対向させて、第1の補助グランド層31と第2のグランド層32とを、導電性の接着材たとえば「はんだ」から成る接着材層35によって接続させることによって、回路基板23に誘電体基板22を電気的かつ物理的に接続させている。前記接地用ビアホール27、第1のグランド層28、第1のビアホール30、第1の補助グランド層31、導電性の接着材から成る接着材層35、第2のグランド層32、第2のビアホール33および第3のグランド層34が、伝熱経路に相当する。
図2Aは、回路基板23に臨む誘電体基板22の一表面部を示す平面図であり、図2Bは、誘電体基板22に臨む回路基板23の一表面部の実装部周辺を示す平面図である。図1も参照しつつ説明する。回路基板23に臨む誘電体基板22の一表面部つまり裏面部には、平面アンテナ36が設けられている。この平面アンテナ36は、複数の導体パッチ36a(図1では4つのみ示す)をアレイ状に並ベて形成される。第2および第3の誘電体層22b,22c間には、アンテナ給電用マイクロストリップ線路37(給電線路37と称す)が形成され、前記第1のグランド層28には、給電のためのスロット孔38が形成されている。また、第1のグランド層28が給電線路37のグランド層かつ平面アンテナ36の導体パッチ36aのグランド層となっている。さらに高周波半導体素子21とのグランド導体も第1のグランド層28であり、共通のグランド導体層で構成されている。そのため該高周波半導体素子21と平面アンテナ36のグランド導体が同一層で一致しているため、高周波特性に優れ、安定した動作特性を実現することができる。
前記回路基板23には、略矩形状の貫通孔39が形成され、誘電体基板22の裏面部に設けられた平面アンテナ36を前記貫通孔39によって開放するようになっている。前記略矩形状は、矩形状を含む。つまり回路基板23のうち、平面アンテナ36全体を覆う領域よりもやや大きい矩形領域に臨む部分に、貫通孔39が形成されている。平面アンテナ36は、この貫通孔39を介して電波のやり取りをするように構成されている。
誘電体基板22の裏面部には、第1の補助グランド層31が複数の導体パッチ36aを含む平面アンテナ36を囲繞するように配設されている。つまり第1の補助グランド層31は、平面アンテナ36全体を覆う領域36Aを囲繞するような矩形枠状領域に形成されている。誘電体基板22の裏面部の一側縁部側には、複数の第1端子40が一定間隔おきに形成されている。これら第1端子40は、信号および高周波半導体素子21へのバイアスを印加するためのものである。誘電体基板22に臨む回路基板23の一表面部には、複数の第2端子41が一定間隔おきに形成されている。これら第2端子41は、第2のグランド層32の一側縁部からやや離隔して形成されている。第1および第2端子40,41は、導電性の接着材から成る接着材層35を介して接続されている。
以上説明した第1半導体装置20によれば、高周波半導体素子21から発生した熱は、接地用ビアホール27を介して、順次、第1のグランド層28、第1のビアホール30、第1の補助グランド層31、接着材層35、第2のグランド層32、第2のビアホール33および第3のグランド層34へと伝導する。そのため、高周波半導体素子21から発生した熱は、蓋体29で覆われる空間42に滞留することはない。したがって高周波半導体素子21は、この高周波半導体素子21付近に熱が滞留する(こもる)ことに起因する特性劣化を未然に防止することができる。それ故、高周波半導体素子21を安定して動作させることができる。また蓋体29で覆われる空間42に熱が滞留するのを防止することができるので、蓋体29で覆われるべき空間42を従来技術のものよりも狭くすることが可能となる。したがって蓋体29の小形化ひいては第1半導体装置20の小形化を図ることができる。
また第1半導体装置20によれば、誘電体基板22の裏面部に設けられるべき第1の補助グランド層31は、平面アンテナ36全体を覆う領域36Aを囲繞するような矩形枠状領域に配設されているので、次のような効果を奏する。平面アンテナ36のサイズおよび特性に影響を与えることなく、平面アンテナ36周辺における広範囲の矩形枠状領域にわたり、接着材層35および回路基板23との接続面が形成されることになる。したがって効率よく熱伝導が行われるとともに、誘電体基板22と回路基板23との接続において、強い機械的強度が得られる。誘電体基板22および回路基板23のグランド同士が広い面積で接続されることによって、誘電体基板22の第1のグランド層28は高周波的にも良好なグランド(低グランドインダクタンスで第2および第3のグランド層に接続される。)となる。したがって高周波半導体素子21を安定に動作させることができる。
図3は、第1の実施形態を部分的に変更した変更形態に係る回路基板23Aの実装部周辺を示す平面図である。第1の実施形態に係る高周波半導体装置20によれば、回路基板23には、平面アンテナ36を開放するための略矩形状の貫通孔39が形成されているが、この貫通孔39は略矩形状に必ずしも限定されるものではない。たとえば変更形態に係る回路基板23Aでは、第2端子41が設けられる回路基板23Aの一側縁部以外の回路基板23Aの他側縁部自体を除去し、元の略矩形状の貫通孔を凹状の貫通孔39Aに形成している。このように回路基板23の一部を除去する(切欠く)ことも可能である。この場合には、電磁波の放射または入射効率をやや高めることができる。本第1の実施形態においては、平面アンテナ36を導体パッチ36aいわゆるパッチアンテナによって実現しているが、パッチアンテナに必ずしも限定されるものではない。たとえばスロットアンテナを適用することも可能である。また複数の導体パッチ36aを単数の導体パッチ36aにする場合もある。また単数の導体パッチ36aまたは複数の導体パッチ36aを一次放射源として、二次放射源にレンズアンテナを構成することも可能である。
前記第1半導体装置20を備える送信装置によれば、高周波半導体素子21から出力された高周波信号は、信号伝送用マイクロストリップ線路24を通り、スロット孔38を介してアンテナ給電用マイクロストリップ線路37に伝送され、このアンテナ給電用マイクロストリップ線路37の先端部に伝送される。前記アンテナ給電用マイクロストリップ線路37の先端部は、第3の誘電体層22cを介して導体パッチ36aに電磁的に結合するため、前記先端部に伝送された高周波信号は、導体パッチ36aへとそれぞれ伝送される。各導体パッチ36aの一表面部では、高周波信号が共振し、大きな電流が流れて、電磁波が空間に放射される。前記送信装置によれば、送信装置は、放熱効果の高い第1半導体装置20を備えているので、放熱対策としての、ヒートシンク、ヒートパイプ、放熱シートといった放熱部品を省略し得る。それ故、システム設計の自由度を下げることなく機器の小形化を図ることができる。これによって送信装置の汎用性を高くすることができる。以上、導体パッチ36aから放射する送信装置の機能を説明したが、アンテナ部は、空間からの入力波を受信する場合も可逆作用により同じ指向性および効率を有するため、高周波半導体素子21の構成を変えることにより、受信装置を構成することも可能である。
図4は、本発明の第2の実施形態に係る高周波半導体装置20Aを、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。ただし第1の実施形態と同一の部材には同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。第2の実施形態に係る高周波半導体装置20A(第2半導体装置20Aという)は、誘電体基板22Aと回路基板23とを有する。前記誘電体基板22Aのうち第1の誘電体層22dにキャビティ43が形成され、該第1の誘電体層22dのキャビティ43を利用して、第2の誘電体層22bに高周波半導体素子21が搭載されている。この高周波半導体素子21は、そのグランド端子44がダイボンディングにより第1のグランド層28に直接接続されている。高周波半導体素子21の信号端子45は、ワイヤ46によって信号伝送用マイクロストリップ線路24に接続されている。第2の実施形態においては、第1のグランド層28、第1のビアホール30、第1の補助グランド層31、接着材層35、第2のグランド層32、第2のビアホール33および第3のグランド層34が、伝熱経路に相当する。
以上説明した第2半導体装置20Aによれば、高周波半導体素子21から発生した熱は、第1のグランド層28に臨む高周波半導体素子21の裏面つまりグランド面から、第1のグランド層28を介し、順次、第1のビアホール30、第1の補助グランド層31、接着材層35、第2のグランド層32、第2のビアホール33、第3のグランド層34へと伝導する。そのため高周波半導体素子21から発生した熱は、蓋体29で覆われる空間42に滞留ことはない。したがって高周波半導体素子21は、この高周波半導体素子付近に熱が滞留する(こもる)ことに起因する特性劣化を未然に防止することができる。それ故、高周波半導体素子21を安定して動作させることができる。しかも第1の誘電体層22dのキャビティ43を利用して、第2の誘電体層22bに高周波半導体素子21が搭載されるので、第1半導体装置20よりも第2半導体装置20Aを基板厚み方向に小形化することが可能となる。加えて、高周波半導体素子21は、該高周波半導体素子21の裏面と第1のグランド層28とが直接面して接続されるので、第1の実施形態と比較して放熱効果はさらに向上する。加えて、上記のように放熱の効果のみならず、電気的特性も優れる。つまり本実施形態でも、第1のグランド層28が給電線路37と平面アンテナ36の導体パッチ36aのグランド導体層となっており、該高周波半導体素子21のグランド導体層も第1のグランド層であるため、高周波特性に優れ、安定した動作特性を実現することができる。本実施形態では、高周波半導体素子21の裏面が、第1のグランド層と直接面して接続されるので、第1の実施形態と比較して、より優れた高周波特性と安定した動作特性とを有している。その他第1半導体装置20と同様の効果を奏する。
図5は本発明の第3の実施形態に係る高周波半導体装置20Bを、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。ただし第1または第2実施形態と同一の部材には同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。第3の実施形態に係る高周波半導体装置20B(第3半導体装置20Bという)は、誘電体基板22と回路基板23とを有する。誘電体基板22の一表面部には、高周波半導体素子21がフリップチップボンディング実装により搭載されている。誘電体基板22の一表面部のうち、少なくとも高周波半導体素子21および信号伝送用マイクロストリップ線路24を覆う一部分は、蓋体29によって覆われ封止されている。前記一部分は、誘電体基板22の一表面部のうち矩形枠状の外縁部を除く中央付近に配設されている。
誘電体基板22のうち、第3の誘電体層22cの外方に臨む裏面部には、平面アンテナ36が設けられている。この平面アンテナ36は、複数の導体パッチ36aをアレイ状に並べて形成される。誘電体基板22の一表面部のうち外縁部には、第2の補助グランド層47が、該第2の補助グランド層47を基板厚み方向に見て略矩形枠状に形成されている。前記略矩形枠状は、矩形枠状を含む。第1のグランド層28は、第3のビアホール48を介して誘電体基板22の一表面部に形成される前記第2の補助グランド層47に接続されている。前記第3のビアホール48は、第1の誘電体層22aを貫通するように形成されたビアホールであって、第1の誘電体層22aの外縁部側に形成され、該高周波半導体素子21の接地用ビアホール27とは周波数的に異なる機能を有する。
高周波半導体素子21が搭載されるべき誘電体基板22の一表面部を、回路基板23の一表面部に対向させて、第2の補助グランド層47と第2のグランド層32とは、接着材層35によって接続されている。回路基板23には、蓋体29との干渉を防ぐ貫通状の凹所23aが形成されている。該凹所23aは、蓋体29の外壁部29aから離隔して形成されている。換言すれば、回路基板23には、蓋体29の外壁部29aより大きい凹所23aが形成されている。前記接着材層35は、導電性の接着材たとえば「はんだ」から成る。このように回路基板23に誘電体基板22を電気的かつ物理的に接続させている。
以上説明した第3半導体装置20Bによれば、高周波半導体素子21から発生した熱は、接地用ビアホール27を介して、順次、第1のグランド層28、第3のビアホール48、第2の補助グランド層47、接着材層35、第2のグランド層32、第2のビアホール33、第3のグランド層34へと伝導する。そのため、高周波半導体素子21から発生した熱は、蓋体29で覆われる空間に滞留することはない。したがって高周波半導体素子21は、この高周波半導体素子付近に熱が滞留する(こもる)ことに起因する特性劣化を未然に防止することができる。それ故、高周波半導体素子21を安定して動作させることができる。
また第3半導体装置20Bによれば、回路基板23に、蓋体29との干渉を防ぐ凹所23aが形成されたうえで、誘電体基板22の一表面部のうち外縁部を、回路基板23の一表面部に対向状に接続しているので、第1半導体装置20よりもこの第3半導体装置20Bを基板厚み方向に小さくすることができる。したがって第3半導体装置20Bの小形化を図ることができる。回路基板23に形成される凹所23aおよび接着材層35は、蓋体29の外壁部29aから離隔して形成されているので、接着材層35、第2のグランド層32、第2のビアホール33および第3のグランド層34から、蓋体29および高周波半導体素子21に熱伝導されることを、確実に防止することができる。また第3半導体装置20Bによれば、第2および第3の誘電体層22b,22cにビアホールを形成する必要がなくなるので、その分第1半導体装置20よりも製作コストの低減を図ることができる。
図6は、第3の実施形態を部分的に変更した変更形態に係る高周波半導体装置を、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。第3の実施形態では、回路基板23に貫通状の凹所23aが形成されているが、必ずしもこの形態に限定されるものではない。たとえば図6に示すように、回路基板23Bに非貫通状の凹所23bを形成することも可能である。この場合には、誘電体基板22の一表面部を覆う蓋体29を省略することができる。これによって部品点数を削減し、高周波半導体装置の製作コストの低減を図ることができる。また回路基板23Bの凹所自体を省略することも可能である。
図7は、本発明の第4の実施形態に係る高周波半導体装置20Cを、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。ただし第1〜第3のいずれかの実施形態と同一の部材には同一の符号を付し、その詳細な説明は省略する。第4の実施形態に係る高周波半導体装置20C(第4半導体装置20Cという)は、高周波半導体素子21が搭載された誘電体基板22と、回路基板23と、外部筐体49とを有する。外部筐体49は、高熱伝導率であるアルミニウム合金またはマグネシウム合金などの金属材料から成る。前記外部筐体49に、誘電体基板22および回路基板23が収められた構造になっている。すなわち回路基板23の第3のグランド層34が外部筐体49の内壁面部49aに接続された状態となっている。ただし、外部筐体49には、誘電体基板22の一表面部の面積よりもやや小さい孔部49bが形成されている。平面アンテナ36は、貫通孔39および孔部49bを介して電波のやり取りをするように構成されている。この孔部49bを利用して誘電体基板22および回路基板23を、外部筐体49に収容し得る構成になっている。
以上説明した第4半導体装置20Cによれば、高周波半導体素子21から発生した熱は、接地用ビアホール27を介して、順次、第1のグランド層28、第1のビアホール30、第1の補助グランド層31、接着材層35、第2のグランド層32、第2のビアホール33、第3のグランド層34へと伝導する。さらに熱は第3のグランド層34から外部筐体49へと伝導する。この外部筐体49は、少なくとも誘電体基板22および回路基板23を収容可能な構成になっているので、空気と接する表面積も大きく、放熱効果も高い。そのため、高周波半導体素子21から発生した熱は、蓋体29で覆われる空間に滞留することはない。したがって高周波半導体素子21は、熱による特性劣化を未然に防止することができる。それ故、高周波半導体素子21を安定して動作させることができる。外部筐体49の材料としては、前述の金属材料が好ましいが、その他の金属材料、ABSまたはアクリルなどの樹脂材料およびその他の樹脂材料の少なくともいずれか1つでもよい。
図8は、本発明の実施形態に係る送信装置50および受信装置51の構成を概略示す図である。送信装置50は、変調信号源52、偶高調波ミキサ53、帯域通過フィルタ54、パワーアンプ55、平面アンテナ56、逓倍器57および基準信号源58を有する。変調信号源52は、映像およびデータを出力するものであり、たとえば放送衛星、通信衛星の中間周波数信号を出力する機能を有する。受信装置51は、チューナ59、偶高調波ミキサ60、帯域通過フィルタ61、ローノイズアンプ62、平面アンテナ63、逓倍器64および基準信号源65を有する。
前記送信装置50のうち逓倍器57、偶高調波ミキサ53、帯域通過フィルタ54、パワーアンプ55および平面アンテナ56が第1のミリ波パッケージ66内に収容されている。これとともに受信装置51のうちの逓倍器64、偶高調波ミキサ60、帯域通過フィルタ61、ローノイズアンプ62および平面アンテナ63が第2のミリ波パッケージ67内に収容されている。第1および第2のミリ波パッケージ66,67が、高周波半導体装置に相当する。
前記送信装置50において、変調信号源52で生成される中間周波信号は、0.5GHz以上2GHz以下を占めており、偶高調波ミキサ53の中間周波信号用端子に入力される。基準信号源58で発生する周波数3.75GHzの正弦波信号は、8逓倍器57によって周波数が8倍された30GHzの正弦波の局発信号となり、偶高調波ミキサ53の局発信号用端子に入力される。そして中間周波信号と局発信号とは偶高調波ミキサ53内で混合される。この偶高調波ミキサ53から発生する信号のうち、周波数60.5GHz以上62GHz以下の高周波信号のみが帯域通過フィルタ54を通過し、パワーアンプ55に入力されて増幅され、平面アンテナ56から高周波電波として放射される。
前記送信装置50の平面アンテナ56から放射された高周波電波は、受信装置51の平面アンテナ63で受信されて高周波信号となり、ローノイズアンプ62で増幅される。この増幅された高周波信号は、帯域通過フィルタ61を通過して、偶高調波ミキサ60の高周波信号用端子に入力される。この受信装置51においては、前記送信装置50と同様に、基準信号源65と8逓倍器64とによって生成された周波数30GHzの正弦波の信号は、偶高調波ミキサ60の局発信号端子に入力される。そして入力された高周波信号は、偶高調波ミキサ60の内部で局発信号と混合され、周波数0.5GHz以上2GHz以下の中間周波信号に再び変換される。前記偶高調波ミキサ60で変換された中間周波信号は、チューナ59に入力されて、該チューナ59により所望の情報に変換される。
送信装置50の平面アンテナ56と受信装置51の平面アンテナ63とを、共用することも可能である。送信装置50の8逓倍器57と受信装置51の8逓倍器64とを、共用することも可能である。すなわちアンテナ一体化無線通信装置である高周波半導体装置以外の部分は、送信装置50および受信装置51で共用することも可能である。
以上説明した送信装置50および受信装置51では、高周波半導体素子から、誘電体基板を経て回路基板にいたる伝熱経路が形成される高周波半導体装置を備えているので、次のような効果を奏する。送信装置50および受信装置51は、高い放熱効果を有し、放熱対策としてのヒートシンク、ヒートパイプ、放熱シートといった放熱部品を使用する必要がない。そのため、システム設計の自由度を下げることなく機器の小形化を図ることが可能となる。
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他のいろいろな形態で実施できる。したがって、前述の実施形態はあらゆる点で単なる例示に過ぎず、本発明の範囲は特許請求の範囲に示すものであって、明細書本文には何ら拘束されない。さらに、特許請求の範囲に属する変形や変更は全て本発明の範囲内のものである。
本発明の第1の実施形態に係る高周波半導体装置を、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。 回路基板に臨む誘電体基板の一表面部を示す平面図である。 誘電体基板に臨む回路基板の一表面部の実装部周辺を示す平面図である。 第1の実施形態を部分的に変更した変更形態に係る回路基板の実装部周辺を示す平面図である。 本発明の第2の実施形態に係る高周波半導体装置を、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。 本発明の第3の実施形態に係る高周波半導体装置を、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。 第3の実施形態を部分的に変更した変更形態に係る高周波半導体装置を、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。 本発明の第4の実施形態に係る高周波半導体装置を、基板の厚み方向に延びる仮想平面で切断して見た断面図である。 本発明の実施形態に係る送信装置および受信装置の構成を概略示す図である。 従来の高周波半導体装置の断面図である。
符号の説明
20 第1半導体装置
21 高周波半導体素子
22 誘電体基板
23 回路基板
27 接地用ビアホール
28 第1のグランド層
30 第1のビアホール
31 第1の補助グランド層
32 第2のグランド層
33 第2のビアホール
34 第3のグランド層
35 接着材層
36 平面アンテナ
49 外部筐体
50 送信装置
51 受信装置
66 第1のミリ波パッケージ
67 第2のミリ波パッケージ

Claims (5)

  1. 高周波半導体素子と、該高周波半導体素子が搭載される誘電体基板と、回路基板とを少なくとも備え、前記誘電体基板を回路基板に実装して成る高周波半導体装置であって、
    高周波半導体素子から、誘電体基板を経て回路基板にいたる伝熱経路が形成され
    誘電体基板の前記回路基板に臨む一表面部には、平面アンテナが設けられ、
    前記回路基板には、前記平面アンテナを開放するように貫通孔が形成され、
    前記伝熱経路は、誘電体基板の前記一表面部に設けられ、前記貫通孔を囲繞するように配設されるグランド層を含むことを特徴とする高周波半導体装置。
  2. 前記伝熱経路は、誘電体基板および回路基板にそれぞれ設けられるグランド層を含むことを特徴とする請求項1に記載の高周波半導体装置。
  3. 前記伝熱経路は、誘電体基板に設けられるグランド層と、回路基板に設けられるグランド層との間に設けられる導電性材料から成る層を含むことを特徴とする請求項2に記載の高周波半導体装置。
  4. 請求項1記載の高周波半導体装置を備えることを特徴とする送信装置。
  5. 請求項1記載の高周波半導体装置を備えることを特徴とする受信装置。
JP2005126932A 2004-04-30 2005-04-25 高周波半導体装置、送信装置および受信装置 Expired - Fee Related JP4684730B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005126932A JP4684730B2 (ja) 2004-04-30 2005-04-25 高周波半導体装置、送信装置および受信装置
US11/115,213 US7372149B2 (en) 2004-04-30 2005-04-27 High frequency semiconductor apparatus, transmitting apparatus and receiving apparatus

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004136402 2004-04-30
JP2005126932A JP4684730B2 (ja) 2004-04-30 2005-04-25 高周波半導体装置、送信装置および受信装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005340790A JP2005340790A (ja) 2005-12-08
JP4684730B2 true JP4684730B2 (ja) 2011-05-18

Family

ID=35493943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005126932A Expired - Fee Related JP4684730B2 (ja) 2004-04-30 2005-04-25 高周波半導体装置、送信装置および受信装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7372149B2 (ja)
JP (1) JP4684730B2 (ja)

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004032371A1 (de) * 2004-06-30 2006-01-26 Robert Bosch Gmbh Elektronische Schaltungseinheit
JP4185499B2 (ja) 2005-02-18 2008-11-26 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP4654942B2 (ja) * 2006-02-28 2011-03-23 ミネベア株式会社 面状照明装置
JP2009536447A (ja) * 2006-04-20 2009-10-08 エヌエックスピー ビー ヴィ Led照明用途に用いられるサブマウント内の電子デバイスの断熱
US7838976B2 (en) * 2006-07-28 2010-11-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having a semiconductor chip enclosed by a body structure and a base
JP4294670B2 (ja) * 2006-09-15 2009-07-15 シャープ株式会社 無線通信装置
US7675465B2 (en) * 2007-05-22 2010-03-09 Sibeam, Inc. Surface mountable integrated circuit packaging scheme
US7728774B2 (en) * 2008-07-07 2010-06-01 International Business Machines Corporation Radio frequency (RF) integrated circuit (IC) packages having characteristics suitable for mass production
EP2178119B1 (en) * 2008-10-20 2018-06-20 QUALCOMM Incorporated Surface mountable integrated circuit package
CN102246616A (zh) * 2008-12-12 2011-11-16 株式会社村田制作所 电路模块
US8554136B2 (en) 2008-12-23 2013-10-08 Waveconnex, Inc. Tightly-coupled near-field communication-link connector-replacement chips
JP5556072B2 (ja) * 2009-01-07 2014-07-23 ソニー株式会社 半導体装置、その製造方法、ミリ波誘電体内伝送装置
KR101580925B1 (ko) * 2009-04-28 2015-12-30 삼성전자주식회사 칩온 보드 타입의 패키지
US8169060B2 (en) * 2010-03-29 2012-05-01 Infineon Technologies Ag Integrated circuit package assembly including wave guide
CN102751419A (zh) * 2011-04-21 2012-10-24 瑷司柏电子股份有限公司 具有内建散热部的共烧陶瓷基板及具该基板的发光二极管
US8901688B2 (en) * 2011-05-05 2014-12-02 Intel Corporation High performance glass-based 60 ghz / mm-wave phased array antennas and methods of making same
WO2012174350A1 (en) 2011-06-15 2012-12-20 Waveconnex, Inc. Proximity sensing and distance measurement using ehf signals
TWI633766B (zh) 2011-10-21 2018-08-21 奇沙公司 用於非接觸的訊號編接的裝置和系統
US20130278468A1 (en) * 2012-04-20 2013-10-24 Wilocity Arrangement of millimeter-wave antennas in electronic devices having a radiation energy blocking casing
WO2014026089A1 (en) 2012-08-10 2014-02-13 Waveconnex, Inc. Dielectric coupling systems for ehf communications
CN106330269B (zh) 2012-09-14 2019-01-01 凯萨股份有限公司 具有虚拟磁滞的无线连接
US9252491B2 (en) 2012-11-30 2016-02-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Embedding low-k materials in antennas
EP2932556B1 (en) 2012-12-17 2017-06-07 Keyssa, Inc. Modular electronics
EP2974504B1 (en) 2013-03-15 2018-06-20 Keyssa, Inc. Ehf secure communication device
US9172131B2 (en) * 2013-03-15 2015-10-27 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Semiconductor structure having aperture antenna
EP2974057B1 (en) 2013-03-15 2017-10-04 Keyssa, Inc. Extremely high frequency communication chip
JP6400108B2 (ja) * 2014-08-26 2018-10-03 三菱電機株式会社 高周波モジュール
WO2017111767A1 (en) 2015-12-22 2017-06-29 Intel Corporation Microelectronic devices designed with integrated antennas on a substrate
CN110611160B (zh) * 2016-01-30 2021-08-03 华为技术有限公司 一种贴片天线单元及天线
JP6524985B2 (ja) 2016-08-26 2019-06-05 株式会社村田製作所 アンテナモジュール
MY191810A (en) * 2016-12-21 2022-07-16 Intel Corp Slot antenna on a printed circuit board (pcb)
KR102029332B1 (ko) * 2017-04-05 2019-10-07 엘에스산전 주식회사 기판장치
CN108879114A (zh) * 2017-05-16 2018-11-23 华为技术有限公司 集成天线封装结构和终端
JP6579396B2 (ja) * 2017-07-18 2019-09-25 株式会社ダイレクト・アール・エフ 半導体装置、及び基板
KR102126773B1 (ko) * 2018-05-15 2020-06-25 주식회사 위츠 무선 충전용 방열 부재 및 이를 구비하는 전자 기기
CN109149068B (zh) * 2018-08-12 2021-04-02 瑞声科技(南京)有限公司 封装天线系统及移动终端
CN111566876B (zh) * 2018-10-18 2021-07-30 阿莫技术有限公司 具有腔体结构的天线封装组件
US11336032B2 (en) * 2020-05-15 2022-05-17 Raytheon Company Reactive array

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08148839A (ja) * 1994-11-21 1996-06-07 Nippondenso Co Ltd 混成集積回路装置
JPH1098287A (ja) * 1996-09-19 1998-04-14 Toshiba Corp 回路基板モジュールの冷却装置およびこの冷却装置を有する携帯形電子機器
JP2002198852A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Sharp Corp アンテナ一体化ミリ波回路
JP2005158792A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 Miyoshi Electronics Corp 高周波モジュール

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08250913A (ja) 1995-03-15 1996-09-27 Honda Motor Co Ltd Mmicパッケージ組立
US6400576B1 (en) * 1999-04-05 2002-06-04 Sun Microsystems, Inc. Sub-package bypass capacitor mounting for an array packaged integrated circuit
US6624508B2 (en) * 2000-01-03 2003-09-23 Sophia Wireless, Inc. High frequency, low cost package for semiconductor devices
JP4623850B2 (ja) * 2001-03-27 2011-02-02 京セラ株式会社 高周波半導体素子収納用パッケージおよびその実装構造
JP3818864B2 (ja) * 2001-03-30 2006-09-06 ユーディナデバイス株式会社 高周波半導体装置
JP3890947B2 (ja) * 2001-10-17 2007-03-07 松下電器産業株式会社 高周波半導体装置
JP2003163459A (ja) * 2001-11-26 2003-06-06 Sony Corp 高周波回路ブロック体及びその製造方法、高周波モジュール装置及びその製造方法。
TW531866B (en) * 2002-02-27 2003-05-11 Apack Comm Inc Monolithic microwave integrated circuit chip package with thermal via

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08148839A (ja) * 1994-11-21 1996-06-07 Nippondenso Co Ltd 混成集積回路装置
JPH1098287A (ja) * 1996-09-19 1998-04-14 Toshiba Corp 回路基板モジュールの冷却装置およびこの冷却装置を有する携帯形電子機器
JP2002198852A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Sharp Corp アンテナ一体化ミリ波回路
JP2005158792A (ja) * 2003-11-20 2005-06-16 Miyoshi Electronics Corp 高周波モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
US20060017157A1 (en) 2006-01-26
US7372149B2 (en) 2008-05-13
JP2005340790A (ja) 2005-12-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4684730B2 (ja) 高周波半導体装置、送信装置および受信装置
US6236366B1 (en) Hermetically sealed semiconductor module composed of semiconductor integrated circuit and antenna element
US6809688B2 (en) Radio communication device with integrated antenna, transmitter, and receiver
US7239222B2 (en) High frequency circuit module
JP3734807B2 (ja) 電子部品モジュール
JP5446718B2 (ja) 半導体装置、半導体装置の製造方法、無線伝送システム
JP3649168B2 (ja) Rf回路一体型アンテナおよびそれを用いたアンテナモジュールおよびそれを備えた通信機
JPH10303640A (ja) アンテナ装置
JP2003338577A (ja) 回路基板装置
WO2020153068A1 (ja) アンテナモジュール及び通信装置
JP2004342948A (ja) 電子部品モジュール
JP2002280809A (ja) 高周波部品及び高周波伝送路変換回路の一体化構造
JP5179570B2 (ja) 高周波モジュールおよびその製造方法ならびに該高周波モジュールを備えた送信器、受信器、送受信器およびレーダ装置
CN219513349U (zh) 通信装置
JP2798070B2 (ja) 複合マイクロ波集積回路
JP4480570B2 (ja) 誘電体共振器アンテナおよび配線基板ならびに電子装置
JP3556470B2 (ja) 高周波用モジュール
JP4038285B2 (ja) 高周波集積回路用パッケージ
JP2006094542A (ja) アンテナ素子を内蔵する半導体モジュール
JP2003168918A (ja) アクティブスロットアンテナ及びアクティブスロットアレーアンテナ及びそれを用いた送信装置と受信装置
JPH08274512A (ja) マイクロ波半導体集積回路装置
JP5414364B2 (ja) 高周波基板および高周波モジュール
JP5093137B2 (ja) 高周波モジュール
US20230299482A1 (en) Antenna device
US20240047846A1 (en) Antenna module

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070822

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100223

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100416

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110208

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110209

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140218

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4684730

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees