JP5384590B2 - 有機エレクトロルミネセント装置 - Google Patents
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Description
a 所定の時間間隔(ここでは10秒)の間、ダイオードとして構成されたエレクトロルミネセント装置に所定(ここでは1V)の逆電圧が設定される。
b エレクトロルミネセント装置の漏れ電流が、(ここでは0.1秒ごとに、100個の測定値を与えるように)サンプリングされる。
c 以下の式を用いて、ある逆電圧におけるNOISEが計算される。
d 逆電圧が10秒間オフにされる。
e 続いて、ダイオードとして構成されたエレクトロルミネセント装置に関して、2、3、4、5、6、7、8、7、6、5、4、3、2及び1Vの逆電圧についてaないしdの一連の工程が繰り返される。各逆電圧について、NOISEが決定される。
f NOISEの測定値の最大値が、請求項2に用いられるような装置のノイズレベルである。
Claims (11)
- 発光ダイオードを製造する方法であって、
a)2つの導電層に挟まれた、有機材料の少なくとも1つのエレクトロルミネセント層を具備し、前記エレクトロルミネセント層に電界が与えられた場合に光を発する発光ダイオードを供給するステップと、
b)前記発光ダイオードの漏れ電流を測定するステップと、
c)前記漏れ電流に関する選択基準に基づいて発光ダイオードを選択するステップと、
を含み、
前記選択するステップが、当該発光ダイオードについて、所定の時間ごとに順次測定された前記漏れ電流の複数の測定値を入力し、隣り合う時点間の前記測定値の差分をそれぞれ求め、各差分の平均を正規化したものを前記漏れ電流の不安定さを示すノイズレベルとし、前記ノイズレベルが所定値より小さい場合当該発光ダイオードを選択することを含む、方法。 - 前記選択するステップにおいて、前記エレクトロルミネセント層が1ないし10ボルトの範囲内の逆バイアスを印加されたときに、当該測定された漏れ電流がエレクトロルミネセントの表面積1cm2当たり10μAより小さい発光ダイオードが選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記選択するステップにおいて、前記エレクトロルミネセント層が4ボルトの逆バイアスを印加されたときに、前記漏れ電流が、エレクトロルミネセントの表面積1cm2当たり0.5μAよりも小さい発光ダイオードが選択される、請求項2に記載の方法。
- 前記選択するステップにおいて、前記漏れ電流の不安定さを示すノイズレベルが0.02より小さい場合、当該発光ダイオードが選択され、前記ノイズレベルが、
NOISE = ((|ΔI(t = 2.5 s)| + |ΔI(t = 2.6 s) |+...+|ΔI(t=9.8 s) |)/74)/Inorm
Inorm= (I (t=2. 5 s) +I (t=2. 6s) +... +I (t=9. 9s))/75
によって表わされる、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の方法。 - 0.006より小さいノイズレベルを有する発光ダイオードが選択される、請求項4に記載の方法。
- 前記ノイズレベルが、Inormに代わって、前記測定中に印加される逆電圧の二乗であるV2によって正規化され、
前記選択するステップにおいて、8.33nA/V2より小さいノイズレベルを有する発光ダイオードが選択される、請求項4に記載の方法。 - 前記ステップb)において、前記発光ダイオードの前記エレクトロルミネセント層の厚さ1μm当たり100ボルト以上の逆電界を印加した後、前記漏れ電流が測定される、請求項1乃至6のいずれか1項に記載の方法。
- 前記逆電界は、前記エレクトロルミネセント層の厚さ1μm当たり170ボルト以上である、請求項7に記載の方法。
- 発光ダイオードを製造する方法であって、
a)2つの導電層に挟まれた、有機材料の少なくとも1つのエレクトロルミネセント層を具備し、前記エレクトロルミネセント層に電界が与えられた場合に光を発する発光ダイオードを供給するステップと、
b)前記発光ダイオードの漏れ電流を測定するステップと、
c)前記エレクトロルミネセント層が1ないし10ボルトの範囲内の逆バイアスを印加されたときに、当該測定された漏れ電流がエレクトロルミネセントの表面積1cm2当たり10μA以上である場合、当該発光ダイオードを排除し前記ステップa)及びb)を繰り返すステップと、
を有し、
前記ステップc)が、当該発光ダイオードについて、所定の時間ごとに順次測定された前記漏れ電流の複数の測定値を入力し、隣り合う時点間の前記測定値の差分をそれぞれ求め、各差分の平均を正規化したものを前記漏れ電流の不安定さを示すノイズレベルとし、前記ノイズレベルが所定値以上である場合当該発光ダイオードを排除することを含む、方法。 - 前記ステップc)において、前記漏れ電流の不安定さを示すノイズレベルが0.02以上である場合、当該発光ダイオードが排除され、前記ノイズレベルが、
NOISE = ((|ΔI(t = 2.5 s)| + |ΔI(t = 2.6 s) |+...+|ΔI(t=9.8 s) |)/74)/Inorm
Inorm= (I (t=2. 5 s) +I (t=2. 6s) +... +I (t=9. 9s))/75
によって表わされる、請求項9に記載の方法。 - 発光ダイオードをテストする方法であって、
a)2つの導電層に挟まれた、有機材料の少なくとも1つのエレクトロルミネセント層を具備し、前記エレクトロルミネセント層に電界が与えられた場合に光を発する発光ダイオードを供給するステップと、
b)前記エレクトロルミネセント層に逆バイアスをかけたときに得られる、当該漏れ電流の不安定さを示すノイズレベルを判定するステップであって、前記ノイズレベルが、
NOISE = ((|ΔI(t = 2.5 s)| + |ΔI(t = 2.6 s) |+...+|ΔI(t=9.8 s) |)/74)/Inorm
Inorm= (I (t=2. 5 s) +I (t=2. 6s) +... +I (t=9. 9s))/75
によって表わされる、ステップと、
c)当該判定されたノイズレベルを最大許容ノイズレベルに対して比較するステップと、
d)前記最大許容ノイズレベルを超えた場合には当該発光ダイオードを「不合格」とし、それ以外は「合格」として分類するステップと、
を有する方法。
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