KR20030044657A - 유기 전기발광 패널 및 그의 결함 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 유기 EL 패널과 그의 결함 검사 방법은, 패시브 매트릭스(passive matrix) 형태의 유기 EL 패널 제작 후에 패널의 성능을 검사하기 위해 패널과 구동회로를 연결하기 이전에, 즉 에이징(aging) 이전에 캐소드 격벽(separator)과 유기 EL 다이오드의 불량을 에이징(aging) 이전에 별도의 연결 장치 및 테스트 장치 없이 전압원과 전류계(multi-meter)를 이용하여 쉽게 검사할 수 있다.

Description

유기 전기발광 패널 및 그의 결함 검사 방법{Organic electroluminescence panel and method for detecting fail thereof}
본 발명은 유기 EL(organic electroluminescence) 패널과 그의 결함을 검사하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 패시브 매트릭스(passive matrix) 형태의 유기 EL 패널 제작 후에 패널의 성능을 검사하기 위해 패널과 구동회로를 연결하기 이전에, 즉 에이징(aging) 이전에 캐소드 격벽(separator)과 유기 EL 다이오드의 불량을 동시에 검사하는 유기 EL 패널과 그의 결함 검사 방법에 관한 것이다.
유기 전기발광(organic electroluminescence) 디스플레이는 저전압 구동, 높은 발광 효율, 넓은 시야각, 빠른 응답속도 등의 장점이 있기 때문에 고화질의 동영상을 표현할 수 있는 차세대 평판 디스플레이 기술 중의 하나로서 기술 개발이 활발하게 진행되고 있다.
유기 EL 소자는 ITO와 같은 투명 전극인 양극과 일함수(work function)가 낮은 금속(Ca, Li, Al : Li, Mg : Ag 등)을 사용한 음극 사이에 유기 박막층이 있는 구조로 구성된다.
이러한 유기 EL 소자에 순방향의 전압을 인가하면 양극과 음극에서 각각 정공(hole)과 전자(electron)가 주입되고, 주입된 정공과 전자는 결합하여 엑시톤(excition)을 형성하고, 엑시톤이 발광 재결합(radiative recombination)하여 전기 발과 현상을 일으킨다.
유기 EL 소자는 다층 박막 구조로 제작하는데, 그 이유는 유기 물질의 경우 정공과 전자의 이동도가 크게 차이가 나므로 정공 전달층(HTL)과 전자 전달층(ETL)을 사용하면 정공과 전자가 발광층(EML)으로 효과적으로 전달될 수 있기 때문이다. 즉, 발광층(EML)에서 정공과 전자의 밀도가 균형을 이루도록 하면 발광 효율이 높기 때문이다.
또한, 음극에서 발광층(EML)으로 주입된 전자가 정공 전달층(HTL)과 발광층(EML)의 계면에 존재하는 에너지 장벽에 의해 유기 발광층(EML)에 갇히게 되어 재결합 효율이 향상된다.
도 1은 일반적인 유기 EL 패널의 레이아웃을 나타낸 평면도이다.
도 1을 참조하면, 복수개의 캐소드 라인(11-17)이 일정 간격을 두고 횡렬(row) 배열되고, 스크라이빙(scribing) 라인(40) 외각에서 그 한쪽 끝은 공통으로 연결되고, 각 캐소드 라인(11-17) 사이는 캐소드 격벽(21-28)에 의해 각각 분리된다. 각 캐소드 라인(11-17)은 콘택(41)에 의해 전극이 연결된다. 또한, 애노드 라인(31-36)이 캐소드 라인(11-17)에 직각으로 종렬(column) 배열된다.
여기서, 봉인 라인(seal-line) 내부가 실제 유기 EL 패널이 형성되는 영역이고, 실제 화면이 나타나는 영역은 액티브 어레이(43) 영역이 된다.
캐소드 라인(11-17)이 한쪽 방향에서 공통 연결되어 있기 때문에, 캐소드 격벽(21-28) 공정에서 불량이 발생하여 각 캐소드 라인(11-17) 사이가 전기적 절연이 되지 않으면, 모든 캐소드 라인(11-17)을 연결시켜 스캔(scan) 신호를 인가하여야만 이러한 불량을 검출할 수 있다.
따라서, 모든 스캔 라인에 신호를 인가함에 따라 별도의 검사 장비와 복잡한 검사 공정이 추가되어 검사 비용 및 검사 시간이 지연되는 문제점이 있다.
이와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 캐소드 라인 불량을 전압원과 전류계를 이용하여 검사하여 검사 시간 및 비용을 줄이는 것이다.
본 발명의 다른 목적은, 애노드 라인 불량을 전압원과 전류계를 이용하여 검사하여 검사 시간 및 비용을 줄이는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은, 정공 수송층(HTL)의 누설 전류의 정도를 측정하여 다이오드의 결함 여부를 전압원과 전류계를 이용하여 검사하여 검사 시간 및 비용을 줄이는 것이다.
도 1은 일반적인 유기 전기 발광 패널의 레이아웃을 나타낸 평면도.
도 2는 본 발명에 따른 유기 전기 발광 패널의 레이아웃을 나타낸 평면도.
도 3은 도 2의 평면도에서 캐소드 라인에 전압을 인가하였을 경우 패널의 등가 회로도.
도 4a 내지 도 4c는 도 3의 등가회로에서 홀수 번째 캐소드 라인의 공통 연결된 패드에 인가하는 전압(VCC)에 대한 홀수 번째 캐소드 라인에서 짝수 번째 캐소드 라인으로 흐르는 전류(ICC)의 특성 곡선을 나타낸 그래프.
도 5는 도 2의 평면도에서 첫 번째 애노드 라인의 공통 연결된 패드에 양의 전압을 인가하고, 두 번째 애노드 라인의 공통 연결된 패드가 접지전압에 연결된 경우의 A-A' 단면을 나타낸 단면도.
도 6은 도 2의 평면도에서 애노드 라인에 전압을 인가하였을 경우 패널의 등가회로도.
도 7a 내지 도 7c는 도 6의 등가 회로에서 첫 번째 애노드 라인의 공통 연결된 패드에 인가하는 전압(VAA)에 대한 첫 번째 애노드 라인에서 두 번째 애노드 라인으로 흐르는 전류(IAA)의 특성 곡선을 나타낸 그래프.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >
10, 11-17 : 캐소드 라인10A, 10B : 캐소드 패드
21-28 : 캐소드 격벽(separator)
30, 31-36 : 애노드 라인30A, 30B : 애노드 패드
40 : 스크라이빙 라인(scribing line)
41 : 콘택(contact)42 : 봉인 라인(seal-line)
43 : 액티브 어레이(active array)
50 : 기판(substrate)
60 : 정공 전달층(HTL)
70 : 발광층(EML)
C1-C3, C11-C14 : 캐패시터
R1-R3, R11-R14 : 저항
D1-D6, D11-D14 : 다이오드
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 유기 EL 패널은, 복수개의 캐소드 라인이 일정 간격을 두고 횡렬(row) 배열되고,
상기 각 캐소드 라인 사이는 캐소드 격벽에 의해 각각 분리되고,
상기 복수개의 캐소드 라인의 홀수 번째 캐소드 라인은 스크라이빙 (scribing) 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 패드가 형성되고,
상기 복수개의 캐소드 라인의 짝수 번째 캐소드 라인은 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 패드가 형성되고,
상기 캐소드 라인에 직각으로 애노드 라인이 종렬(column) 배열되고,
상기 세 개(R, G, B)의 애노드 라인씩 한쪽 끝단이 교번적으로 위아래로 공통 연결되어 각각 전압이 인가될 수 있는 패드가 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한 상기 목적을 달성하기 위한 유기 EL 패널의 결함 검사 방법은, 복수개의 캐소드 라인의 홀수 번째 캐소드 라인은 스크라이빙(scribing) 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 제1 캐소드 패드가 형성되고, 상기 복수개의 캐소드 라인의 짝수 번째 캐소드 라인은 스크라이빙 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 제2 캐소드 패드가 형성되고, 세 개(R, G, B)의 애노드 라인씩 위쪽의 한쪽 끝단이 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 복수개의 제1 애노드 패드 및 세 개(R, G, B)의 애노드 라인씩 아래쪽의 한쪽 끝단이 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 복수개의 제2 애노드 패드가 형성된 유기 EL 패널의 결함 검사 방법에 있어서,
상기 제1 캐소드 패드와 제2 캐소드 패드 사이에 일정 전압을 인가하여, 상기 제1 캐소드 패드와 제2 캐소드 패드 사이에 흐르는 전류를 검출하여 상기 제1 캐소드 패드와 제2 캐소드 패드 사이에 인가된 일정 전압에 대한 상기 검출된 전류의 양에 따라 상기 유기 EL 패널의 결함여부를 판단하는 캐소드 라인 검사 단계; 및
상기 각 제1 애노드 패드와 각 제2 애노드 패드 사이에 일정 전압을 인가하여 상기 제1 애노드 패드와 제2 애노드 패드 사이에 흐르는 전류를 검출하여 상기 제1 애노드 패드와 상기 제2 애노드 패드 사이에 인가된 일정 전압에 대한 상기 검출된 전류의 양에 따라 상기 유기 EL패널의 결함여부를 판단하는 애노드 라인 검사 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
상술한 목적 및 기타의 목적과 본 발명의 특징 및 이점은 첨부도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통해 보다 분명해 질 것이다.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명에 따른 유기 EL 패널의 전기적 결함을 검사하기 위한 유기 EL 패널의 레이아웃을 나타낸 평면도이다.
도 2를 참조하면, 애노드 라인(31-36)이 종렬(column) 배열되고, 세 개(R,G, B)의 애노드 라인(31-33, 34-36)씩 한쪽 끝단이 교번적으로 위아래로 공통 연결되어 각각 패드(30A, 30B)가 형성된다. 각 캐소드 라인(11-17)은 콘택(41)에 의해 전극이 연결된다. 또한, 짝수 번째의 캐소드 라인(12, 14, 16)에는 스캔 패드의 반대 방향에 금속을 이용하여 콘택(41)에 의한 보조 전극을 형성하여, 유기 EL 패널의 결함을 검사할 때 사용한다.
여기서, 봉인 라인(seal-line) 내부가 실제 유기 EL 패널이 형성되는 영역이고, 실제 화면이 나타나는 영역은 액티브 어레이(43) 영역이 된다.
애노드 라인(31-36)에 직각으로 복수개의 캐소드 라인(11-17)이 일정 간격을 두고 횡렬(row) 배열되고, 각 캐소드 라인(11-17) 사이는 캐소드 격벽(21-28)에 의해 각각 분리된다.
복수개의 캐소드 라인(11-17)의 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)은 스크라이빙(scribing) 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 패드(10A)가 형성되고, 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16)은 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 패드(10B)가 형성된다. 이러한 패드(10A, 10B)는 유기 기판을 스크라이빙 (scribing) 한 후 설계된다.
도 3은 캐소드 라인(11-17)에 대한 전기적 결함을 검사하기 위해 캐소드 라인(11-17)에 전압이 인가되었을 경우의 유기 EL 패널의 등가 회로도이다. 여기서는, 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)의 공통 연결된 패드(10A)에 양의 전압이 인가되고, 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16)의 공통 연결된 패드(10B)가 접지전압에 연결되고, 애노드 라인(30)은 플로우팅 상태(floating state)로 유지된다.여기서 패드(10A)에 인가되는 양의 전압은 50V(volt) 이하의 전압원이 사용된다.
도 3을 참조하면, 애노드 라인(30)을 기준으로 각 캐소드 라인(11-17)이 다이오드(D1-D6)를 형성하여 순방향(D2, D4, D6)과 역방향(D1, D3, D5)으로 대칭으로 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)과 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16) 사이에 연결되고, 캐소드 격벽(22, 23, 24)이 정상일 경우 캐패시터(C1-C3)가 형성되고, 결함이 발생할 경우 저항(R1-R3)이 형성되어 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)과 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16) 사이에 연결된다.
따라서, 캐소드 격벽(21-28)을 형성할 때 결함이 발생하게 되면 결함이 발생한 캐소드 격벽(21-28)의 양쪽에 배치된 캐소드 라인(11-17)을 통해 매우 큰 오믹(ohmic) 전류가 흐르게되므로, 캐소드 격벽(21-28)의 결함이 발생한 패널을 쉽게 검출할 수 있다.
도 4a 내지 도 4c는 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)의 공통 연결된 패드(10A)에 인가하는 전압(VCC)에 대한 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)에서 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16)으로 흐르는 전류(ICC)의 특성 곡선을 나타낸 그래프이다.
도 4a는 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)과 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16) 사이에 형성된 다이오드(D1-D6) 특성은 정상이지만, 캐소드 격벽(21-28)의 절연 불량이 발생한 경우의 그래프이다.
따라서, 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)의 공통 연결된 패드(10A)에 바이어스 전압(VCC)을 인가할 때 캐소드 격벽(21-28)이 절연 불량이기 때문에 캐소드격벽(22, 23, 24)이 저항(R1-R3)으로 형성되어 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)과 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16) 사이에 오믹 전류(short current)가 흐르게 된다.
도 4b는 캐소드 격벽(21-28)의 절연 상태는 정상이지만, 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)과 애노드 라인(30)에 의해 형성된 역방향 다이오드(D1, D3, D5)가 단락(short)되어 결함이 발생한 경우의 그래프이다.
따라서, 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)의 공통 연결된 패드(10A)에 바이어스 전압(VCC)을 인가하면, 순방향 다이오드 특성 곡선이 나타난다. 즉, 순방향 다이오드(D2, D4, D6)의 문턱전압(Vth) 이상의 바이어스 전압(VCC)이 인가되면 인접한 캐소드 라인의 발광층(EML)에서 애노드 라인에 대해 픽셀들이 교번적으로 발광이 관측되는 불량이 발생한다.
도 4c는 캐소드 격벽(21-28)의 절연 상태는 정상이지만, 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16)과 애노드 라인(30)에 의해 형성된 순방향 다이오드(D2, D4, D6)가 단락(short)되어 결함이 발생한 경우의 그래프이다.
따라서, 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)의 공통 연결된 패드(10A)에 바이어스 전압(VCC)을 인가하면, 역방향 다이오드 특성 곡선이 나타난다. 즉, 역방향 다이오드 파괴 전압(VBD)보다 작은 전압에서는 낮은 오믹 누설 전류가 흐르지만, 인가되는 전압과 상관없이 픽셀이 발광하지 않게 된다. 그러나, 홀수 번째 캐소드 라인(11, 13, 15, 17)의 공통 연결된 패드(10A)에 접지전압을 연결하고, 짝수 번째 캐소드 라인(12, 14, 16)에 바이어스 전압(VCC)을 인가하는 경우에는 순방향 다이오드 특성이 나타나기 때문에 인접한 캐소드 라인의 발광층(EML)에서 애노드 라인에 대해 픽셀들이 교번적으로 발광이 관측되는 불량이 발생한다.
도 5는 도 2에 도시된 본 발명에 따른 유기 EL 패널에서 애노드 라인 패턴의 전기적 결함과 정공 전달층(ETL)(60)의 누설 전류 정도를 검사하기 위해 첫 번째 애노드 라인(31-33)의 공통 연결된 패드(30A)에 양의 전압을 인가하고, 두 번째 애노드 라인(34-36)의 공통 연결된 패드(30B)가 접지전압에 연결된 경우의 A-A' 단면을 나타낸 단면도이다.
도 5를 참조하면, 기판(50)위에 애노드 라인들(31-36), 양의 전압이 인가된 첫 번째 애노드 라인(31-33)이 공통 연결된 패드(30A) 및 접지전압에 연결된 두 번째 애노드 라인(34-36)이 공통 연결된 패드(30B)가 형성된다.
각 애노드 라인들(31-36) 사이 및 그 상부에 정공 전달층(HTL)(60)이 형성된다.
정공 전달층(60) 상부에는 캐소드 라인(10)과 애노드 라인(31-36)의 교차점에 발광층(EML)(70)이 형성된다.
발광층(70) 상부에는 캐소드 라인(10)이 형성된다.
따라서, 첫 번째 애노드 패드(30A)의 각 애노드 라인(31, 32, 33)과 캐소드 라인(10) 및 발광층(70)에 의해 순방향 다이오드가 각각 형성되고, 두 번째 애노드 패드(30B)의 각 애노드 라인(34, 35, 36)과 캐소드 라인(10) 및 발광층(70)에 의해 역방향 다이오드가 각각 형성된다.
도 6은 애노드 라인 패턴의 결함 및 발광층(EML)의 누설전류 정도를 검사하기 위해 애노드 패드(30A, 30B)에 전압을 인가하였을 경우의 유기 EL 패널의 등가 회로도이다. 여기서는, 첫 번째 애노드 라인(31-33)의 공통 연결된 패드(30A)에 양의 전압을 인가하고, 두 번째 애노드 라인(34-36)의 공통 연결된 패드(30B)를 접지전압에 연결하고, 캐소드 라인(10)을 플로우팅 상태(floating state)로 유지한다.
도 6을 참조하면, 캐소드 라인(10)을 기준으로 각 애노드 라인(31-36)이 다이오드(D11-D14)를 형성하여 순방향(D11, D13)과 역방향(D12, 14)으로 대칭으로 첫 번째 애노드 라인(31-33)의 공통 연결된 패드(30A)와 두 번째 애노드 라인(34-36)의 공통 연결된 패드(30B) 사이에 연결되고, 애노드 라인 패턴과 정공 전달층(HTL)(60)이 정상일 경우 각각 캐패시터(C11, C13 및 C12, C14)를 형성하고 결함이 발생할 경우 저항(R11, R13 및 R12, R14)이 되어 첫 번째 애노드 라인(31-33)의 공통 연결된 패드(30A)와 두 번째 애노드 라인(34-36)의 공통 연결된 패드(30B) 사이에 연결된다.
따라서, 애노드 라인(31-38) 패턴과 정공 전달 층(HTL)(60)을 형성할 때 결함이 발생하게 되면 결함이 발생한 애노드 라인 패턴과 정공 전달층(HTL)(60)을 통해 매우 큰 오믹(ohmic) 전류가 흐르게되므로, 애노드 라인 패턴과 정공 전달층(HTL)(60)의 결함이 발생한 패널을 쉽게 검출할 수 있다.
도 7a 내지 도 7c는 첫 번째 애노드 패드(30A)에 인가하는 전압(VAA)에 대한 첫 번째 애노드 패드(30A)에서 두 번째 애노드 패드(30B)로 흐르는 전류(IAA)의 특성 곡선을 나타낸 그래프이다.
도 7a는 첫 번째 애노드 패드(30A)와 두 번째 애노드 패드(30B) 사이에 형성된 다이오드(D11, D12) 특성 및 정공 전달층(60)은 정상이지만, 애노드 라인(31-36) 패턴에 결함이 발생한 경우의 그래프이다.
따라서, 첫 번째 애노드 패드(30A)에 바이어스 전압(VAA)을 인가할 때 애노드 라인(31-36) 패턴이 단락(short)되어 절연 불량이기 때문에 첫 번째 애노드 패드(30A)와 두 번째 애노드 패드(30B) 사이에 저항(R11, R13)이 형성되어 오믹 전류(short current)가 흐르게 된다.
도 7b는 애노드 라인(31-38) 패턴은 정상이지만, 정공 전달층(60)을 통한 누설 전류가 있는 경우의 그래프이다.
따라서, 첫 번째 애노드 패드(30A)에 바이어스 전압(VAA)을 인가하면, 정공 전달층(60)에 의해 저항(R12, R14)이 형성되어 그 저항(R12)에 해당하는 오믹 특성 곡선이 나타난다.
도 7c는 애노드 라인 패턴과 첫 번째 애노드 패드(30A)와 두 번째 애노드 패드(30B) 사이에 형성된 다이오드(D11-D14) 특성이 정상이고, 정공 전달층(60)을 통한 누설전류가 없는 경우의 그래프이다.
따라서, 첫 번째 애노드 패드(30A)에 바이어스 전압(VAA)을 인가하면, 역방향 다이오드 특성 곡선이 나타난다. 즉, 역방향 다이오드 파괴 전압(VBD)보다 작은 전압에서는 낮은 오믹 누설 전류가 흐르지만, 인가되는 전압과 상관없이 픽셀이 발광하지 않게 된다. 또한, 두 번째 애노드 패드(30B)에 바이어스 전압(VAA)을 인가하는 경우에도, 역방향 다이오드 특성 곡선이 나타난다. 즉, 역방향 다이오드 파괴 전압(VBD)보다 작은 전압에서는 낮은 오믹 누설 전류가 흐르지만, 인가되는 전압과상관없이 픽셀이 발광하지 않게 된다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 유기 EL 패널과 그의 결함 검사 방법은, 캐소드 격벽, 애노드 라인 패턴 및 유기 발광 다이오드의 결함과, 정공 전달층(HTL)의 누설 전류를 에이징(aging) 이전에 별도의 연결 장치 및 테스트 장치 없이 전압원과 전류계(multi-meter)를 이용하여 쉽게 검사할 수 있는 효과가 있다.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (6)

  1. 일정 간격을 두고 횡렬(row) 배열된 복수개의 캐소드 라인;
    상기 각 캐소드 라인 사이를 각각 전기적으로 분리시키는 복수개의 캐소드 격벽; 및
    상기 캐소드 라인에 직각으로 종렬(column) 배열된 복수개의 애노드 라인을 포함하는 유기 EL 패널에 있어서,
    상기 복수개의 캐소드 라인의 홀수 번째 캐소드 라인은 스크라이빙(scribing) 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 제1 캐소드 패드가 형성되고,
    상기 복수개의 캐소드 라인의 짝수 번째 캐소드 라인은 스크라이빙(scribing) 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 제2 캐소드 패드가 형성되고,
    상기 복수개의 애노드 라인 중에서 세 개(R, G, B)의 애노드 라인씩 한쪽 끝단이 교번적으로 위아래로 공통 연결되어 각각 전압이 인가될 수 있는 애노드 패드가 형성되는 것을 특징으로 하는 유기 EL 패널.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 캐소드 패드는 기판을 스크라이빙(scribing) 한 후 설계되는 것을 특징으로 하는 유기 EL 패널.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수개의 캐소드 라인 중에서 짝수 번째 캐소드 라인의 양끝단에 금속을 이용하여 전극을 연결하는 콘택을 형성하고,
    상기 복수개의 캐소드 라인 중에서 홀수 번째 캐소드 라인의 한쪽 끝단에 금속을 이용하여 전극을 연결하는 콘택을 형성하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 패드.
  4. 복수개의 캐소드 라인의 홀수 번째 캐소드 라인은 스크라이빙(scribing) 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 제1 캐소드 패드가 형성되고, 상기 복수개의 캐소드 라인의 짝수 번째 캐소드 라인은 스크라이빙 라인 외각에서 한쪽 끝단이 모두 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 제2 캐소드 패드가 형성되고, 세 개(R, G, B)의 애노드 라인씩 위쪽의 한쪽 끝단이 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 복수개의 제1 애노드 패드 및 세 개(R, G, B)의 애노드 라인씩 아래쪽의 한쪽 끝단이 공통 연결되어 전압이 인가될 수 있는 복수개의 제2 애노드 패드가 형성된 유기 EL 패널의 결함 검사 방법에 있어서,
    상기 제1 캐소드 패드와 제2 캐소드 패드 사이에 일정 전압을 인가하여, 상기 제1 캐소드 패드와 제2 캐소드 패드 사이에 흐르는 전류를 검출하여, 상기 제1 캐소드 패드와 제2 캐소드 패드 사이에 인가된 일정 전압에 대한 상기 검출된 전류의 양에 따라 상기 유기 EL 패널의 결함여부를 판단하는 캐소드 라인 검사 단계;및
    상기 각 제1 애노드 패드와 각 제2 애노드 패드 사이에 일정 전압을 인가하여, 상기 제1 애노드 패드와 제2 애노드 패드 사이에 흐르는 전류를 검출하여, 상기 제1 애노드 패드와 상기 제2 애노드 패드 사이에 인가된 일정 전압에 대한 상기 검출된 전류의 양에 따라 상기 유기 EL패널의 결함여부를 판단하는 애노드 라인 검사 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 유기 EL 패널 결함 검사 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 캐소드 라인 검사 방법의 상기 제1 캐소드 패드와 제2 캐소드 패드 사이에 인가된 일정 전압은, 전압원을 사용하여 50 V 이하인 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 패널의 결함 검사 방법.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 애노드 라인 검사 방법의 상기 제1 애노드 패드와 제2 애노드 패드 사이에 인가된 일정 전압은, 전압원을 사용하여 50 V 이하인 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 유기 EL 패널의 결함 검사 방법.
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