KR20030010368A

KR20030010368A - 테스트 배선을 갖는 유기 el 소자

Info

Publication number: KR20030010368A
Application number: KR1020010045282A
Authority: KR
Inventors: 남위진
Original assignee: 씨엘디 주식회사
Priority date: 2001-07-26
Filing date: 2001-07-26
Publication date: 2003-02-05
Also published as: KR100437656B1

Abstract

본 발명은 유기 EL 소자의 테스트 배선에 관한 것으로 투명기판위에 ITO로 형성되는 양극층은 상기 유기 EL 소자의 다수개의 스캔 라인(Scan Line)과 각각 연결되어 일정한 길이를 가진 다수개의 로우패드와, 상기 유기 EL 소자의 다수개의 시그널라인(Signal Line)에 각각 연결되는 일정한 길이를 가진 다수개의 컬럼패드와, 상기 다수개의 로우패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 로우 프루빙패드와, 상기 컬럼패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 컬럼 프루빙패드를 포함하며, 상기 로우패드와 컬럼패드의 단말에 콘택홀을 가지도록 형성된 절연층과, 상기 절연층 위에 상기 로우패드 및 컬럼패드와 직교하고 상기 콘택홀을 가리지 않으며 일정간격과 두께를 가지고 형성된 다수개의 격벽과, 상기 격벽위의 모든 면 및 상기 로우 프루빙패드와 컬럼 프루빙패드의 단말부가 덮이며 상기 격벽 보다는 얇은 두께로 형성된 음극층을 구비하여 포토리소그라피 공정을 하지 않아도 되는 유기 EL소자에 적합한 테스트 배선의 구조를 제공한다.

Description

테스트 배선을 갖는 유기 EL소자{Organic Electroluminescent Device Having Shorting Bar for Aging and Panel Test}

본 발명은 유기 EL 소자에 관한 것으로서, 특히 유기 EL 소자를 스크라이브(scribe) 공정 전의 전체 기판상태에서 에이징(aging) 및 패널 테스트(panel test)가 가능한 테스트 배선의 구조에 관한 것이다.

도 1은 통상의 TFT-LCD 패널의 쇼팅바 구성도이다.

종래의 TFT-LCD 패널에서는 TFT 어레이를 형성할 때 동시에 쇼팅바를 패터닝 한다. 격자 구조의 TFT 어레이(Array)의 다수개 데이터 라인(Data line)에는 데이터 오드라인(Odd line)(3-1)과 데이터 이븐라인(Even line)(3-2)이 한 쌍을 이루어 순차적으로 연결되고, 상기 데이터 오드라인(3-1)과 데이터 이븐라인(3-2)에는 데이터 오드패드(Odd pad)(1-1)와 데이터 이븐패드(Even pad)(1-2)가 각각 연결된다. 상기 다수개의 데이터 오드패드(1-1)의 다른 일 측은 모두 하나의 라인으로 형성된 데이터 오드 쇼팅바(5-1)에 모두 연결되고 상기 다수개의 데이터 이븐패드(1-2)의 다른 일 측은 하나의 라인으로 형성된 데이터 이븐 쇼팅바(Shorting bar)(5-2)에 모두 연결된다. 데이터 오드 쇼팅바(5-1) 및 데이터 이븐 쇼팅바(5-2)의 종단에는 데이터 오드 프루빙패드(7-1)와 데이터 이븐 프루빙패드(7-2)가 형성된다.

격자 구조의 TFT 어레이의 다수개의 게이트 라인(Gate line)에는 게이트 오드라인(4-1)과 게이트 이븐라인(4-2)이 한 쌍을 이루어 순차적으로 연결되고, 상기게이트 오드라인(4-1)과 게이트 이븐라인(4-2)에는 게이트 오드패드(2-1)와 게이트 이븐패드(2-2)가 각각 연결된다. 상기 다수개의 게이트 오드패드(2-1)의 다른 일측은 모두 하나의 라인으로 형성된 게이트 오드 쇼팅바(6-1)에 모두 연결되고 상기 다수개의 게이트 이븐패드(2-2)의 다른 일 측은 하나의 라인으로 형성된 게이트 이븐 쇼팅바(6-2)에 모두 연결된다. 게이트 오드 쇼팅바(6-1) 및 게이트 이븐 쇼팅바(6-2)의 종단에는 게이트 오드 프루빙패드(8-1)와 게이트 이븐 프루빙패드(8-2)가 형성된다.

상술한 종래의 TFT-LCD패널의 쇼팅바는 포토리소그라피 방식으로 형성한다. 현재 상태는 데이터 오드 쇼팅바(5-1), 데이터 이븐 쇼팅바(5-2), 게이트 오드 쇼팅바(6-1) 및 게이트 이븐 쇼팅바(6-2)는 TFT어레이를 테스트 할 때만 필요하고 실제 제품에서는 필요치 않은 부분이므로 더미(Dummy)부로 형성한후 테스트 후에는 잘라내어 제거한다.

그러나, 유기 EL 소자에 있어서, 양극층 이후에 형성되는 유기물층은 수분에 매우 취약하기 때문에 포토리소그라피 공정을 사용할 수 없다. 즉 테스트를 하기 위해서는 원하는 신호를 각각의 라인에 분배하기 위하여 최소한 두개 이상의 도전막을 양극층과 음극층을 연결하도록 형성하여야 하지만 음극층은 유기물층을 형성한 후에 새도우 마스크를 사용한 증착공정으로 진행하여 포토리소그라피 방법을 사용하는 통상의 쇼팅바 형성방법인 포토리소그라피 공정을 진행 할 수 없다.

상술한 문제점으로 인하여 유기 EL 장치는 쇼팅바를 포함하지 않으며, 따라서 그 신뢰도를 테스트하기 위한 에이징(aging) 및 점등 검사는 일반적으로 스크라이빙과 브레이킹(scribing ＆ breaking) 공정 후에 실시하였다. 즉 패널(panel) 또 셀(cell) 상태에서 에이징 및 점등검사가 이루어졌다.

종래의 유기 EL 장치의 에이징 및 점등 검사는 스크라이빙과 브레이킹 공정을 마친 후 패널 상태의 제품에 올 쇼트 지그(all short jig)등을 사용하여 전압 및 전류를 인가하여 점등 상태를 점검하고, 에이징 패리트(aging pallet)에도 동일한 지그를 장착하여 장시간 동안 에이징을 실시한다. 즉 신뢰도 검사는 절단된 각각의 패널 및 셀 상태에서 이루어지는 것이다.

그러나 패널의 크기가 소형이고 하나의 원판에서 다수개의 패널이 생산될 때 에이징 공정 및 점등검사 공정의 처리용량을 산정하기 어려우며, 에이징 공정 및 점등검사 공정의 처리용량을 늘리기 위한 장비의 증설 및 작업자의 추가배치로 생산원가를 상승시키는 원인이 되며 생산 모델이 변경 될 경우에는 유휴 설비가 발생되는 문제점을 가진다.

따라서, 본 발명은 에이징 공정 및 점등검사 공정을 위한 특별한 장비를 필요치 않으며 유기 EL 소자에 포토리소그라피 공정이 필요 없이 쇼팅바를 구성할 수 있는 테스트 배선을 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 유기 EL소자의 테스트 배선은 투명기판위에 ITO로 형성되는 양극층을 가지며 이 양극층은 상기 유기 EL 소자의 다수개의 스캔 라인(Scan Line)과 각각 연결되어 일정한 길이를 가진 다수개의 로우패드와, 상기 유기 EL 소자의 다수개의 시그널 라인(Signal Line)에 각각 연결되는 일정한 길이를 가진 다수개의 컬럼패드와, 상기 다수개의 로우패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 로우 프루빙패드와, 상기 컬럼패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 컬럼 프루빙패드를 포함하며, 상기 로우패드와 컬럼패드의 단말에 콘택홀을 가지도록 형성된 절연층과, 상기 절연층 위에 상기 로우패드 및 컬럼패드와 직교하고 상기 콘택홀을 가리지 않으며 일정간격과 두께를 가지고 형성된 다수개의 격벽과, 상기 격벽위의 모든 면 및 상기 로우 프루빙패드와 컬럼 프루빙패드의 단말부가 덮이며 상기 격벽보다는 얇은 두께로 형성된 음극층을 포함하여 상기 음극층은 절연층의 콘택홀을 통하여 상기 로우패드 및 컬럼패드는 각각 상기 로우 프루빙패드와 상기 컬럼 프루빙패드와 전기적으로 연결한다.

도 1은 통상의 TFT-LCD 패널의 쇼팅바 구성도

도 2는 본 발명의 제 1 실시예(단색)에 따른 테스트 배선의 평면도,

도 3a 및 도 3b는 도 2의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도.

도 4는 본 발명의 제 2 실시예(풀-컬러)에 따른 테스트 배선의 평면도,

도 5a 및 도 5b는 도 5의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도.

도 6은 본 발명의 제 3 실시예(단색)에 따른 테스트 배선의 평면도,

도 7a 및 도 7b는 도 5의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도.

도 8은 본 발명의 제 4 실시예(풀-컬러)에 따른 테스트 배선의 평면도.

도 9a 및 도 9b는 도 8의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도

〈 도면의 주요 부분에 대한 참조번호의 설명 〉

1-1 : 데이터 오드패드 1-2 : 데이터 이븐패드

2-1 : 게이트 오드패드 2-2 : 게이트 이븐패드

3-1 : 데이터 오드라인 3-2 : 데이터 이븐라인

4-1 : 게이트 오드라인 4-2 : 게이트 이븐라인

5-1 : 데이터 오드 쇼팅바 5-2 : 데이터 이븐 쇼팅바

6-1 : 게이트 오드 쇼팅바 6-2 : 게이트 이븐 쇼팅바

7-1 : 데이터 오드 프루빙패드 7-2 : 데이터 이븐 프루빙패드

8-1 : 게이트 오드 프루빙패드 8-2 : 게이트 이븐 프루빙패드

11 : 로우패드 11-1 : 오드 로우패드

11-2 : 이븐 로우패드 12 : 컬럼패드

12-1 : 레드패드 12-2 : 그린패드

12-3 : 블루패드 12-4 : 오드 컬럼패드

12-5 : 이븐 컬럼패드 13 : 로우 쇼팅바

13-1 : 오드 로우 쇼팅바 13-2 : 이븐 로우 쇼팅바

14 : 컬럼 쇼팅바 14-1 : 레드 쇼팅바

14-2 : 그린 쇼팅바 14-3 : 블루 쇼팅바

14-4 : 오드 컬럼 쇼팅바 14-5 : 이븐 컬럼 쇼팅바

15 : 로우 프루빙패드 15-1 : 오드 로우 프루빙패드

15-2 : 이븐 로우 프루빙패드 16 : 컬럼 프루빙패드

16-1 : 레드 프루빙패드 16-2 : 그린 프루빙패드

16-3 : 블루 프루빙패드 16-4 : 오드 컬럼 프루빙패드

16-5 : 이븐 컬럼 프루빙패드 21 : 양극층

22 : 절연층 23 : 격벽

24 : 음극층 25 : 투명기판

31 : 콘택홀 41 : 절단선

42 : 유기 EL 패널부 43 : 테스트 더미부

이하 도면을 참고하여 본 발명을 상세히 설명한다.

[제 1 실시예]

도 2는 본 발명의 제 1 실시예(단색)에 따른 테스트 배선의 평면도이고, 도 3a 및 도 3b는 도 2의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도이다.

제 1 실시예는 단색(Mono Color) 유기 전계발광 표시소자에 적용되는 경우이다.

본 발명의 제 1 실시예에 따른 유기 EL 소자의 테스트 배선은 투명기판(25)위에 ITO로 양극층(21)이 형성된다. 이때 형성되는 양극층(21)은 다음과 같은 패턴을 가지고 형성된다. 유기 EL 소자(이하, OELD)의 다수개의 스캔 라인(Scan Line)과 각각 연결되는 로우패드(11)가 동일한 길이를 가지고 형성되며, OELD의 다수개의 시그널 라인(Signal Line)에 각각 연결되는 컬럼패드(12)가 로우패드(11)와는 다른 길이로 일정하게 형성되며, 로우패드(11)와 전기적으로 연결될 로우 프루빙패드(15)가 일 측에 형성되고, 컬럼패드(12)와 전기적으로 연결될 컬럼 프루빙패드(16)가 형성된다.

상기 로우패드(11)와 컬럼패드(12)상에는 절연층(22)이 형성되는데 이때 각각의 로우패드(11)와 컬럼패드(12)의 단말에 콘택홀(31)을 가지도록 절연층(22)이 패터닝 된다.

절연층(22)위에는 로우패드(11)와 컬럼패드(12)와 직교하고 콘택홀(31)을 가리지 않고 일정간격을 가진 격벽(23)이 일정두께(2~10㎛)로 형성된다.

상기 격벽(23)위의 모든 면 및 로우 프루빙패드(15)와 컬럼 프루빙패드(16)의 단말부가 덮이도록 음극층(24)이 패터닝 된다. 이때 음극층(24)은 격벽(23)보다 현저히 얇은 두께를 가지도록 형성한다.

도 3a에서 보면 패터닝 되는 음극층(24)이 절연층(22)의 콘택홀(31)을 통하여 양극층(21)의 로우패드(11) 및 컬럼패드(12)와 전기적으로 연결된다. 또한 로우프루빙패드(15)와 컬럼 프루빙패드(16)상에는 절연층(22)이 형성되어 있지 않으므로 일 측에서 직접 음극층(24)과 전기적으로 연결된다. 따라서 상기 형성되는 음극층(24)은 로우 쇼팅바(13)와 컬럼 쇼팅바(14) 역할을 한다.

도 3b에서 보면 격벽(23)에 의하여 로우 쇼팅바(13)와 컬럼 쇼팅바(14)가 전기적으로 분리되어 있다.

이와 같이 형성된 OELD의 테스트 패널은 로우 프루빙패드(15)와 컬럼 프루빙패드(16)에 OELD 패널이 동작 할 수 있는 적절한 신호를 탐침을 통하여 인가하여 점등검사와 에이징 공정을 실시 할 수 있다.

상기와 같은 테스트 공정을 거친 후 절단선(41)을 따라서 절단을 하게 되면 OELD 패널부(42)와 테스트 패널부(43)로 나누어져 실제 제품에서는 테스트 패널부(43)가 분리되어진다.

[제 2 실시예]

도 4는 본 발명의 제 2 실시예(풀-컬러)에 따른 테스트 배선의 평면도이고, 도 5a 및 도 5b는 도 4의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도이다.

제 2 실시예는 풀-컬러(Full Color) OELD에 적용되는 경우이다.

본 발명의 제 2 실시예에 따른 OELD의 테스트 배선은 투명기판(25)위에 ITO로 양극층(21)이 형성된다. 이때 형성되는 양극층(21)은 다음과 같은 패턴을 가지고 형성된다. OELD의 다수개 스캔 라인(Scan Line)파 각각 연결되는 로우패드(11)가 동일한 길이를 가지고 형성되며, OELD의 각각의 색을 표현하는 다수개의 시그널 라인(Signal Line)에 각각 연결되는 레드패드(12-1), 그린패드(12-2) 및 블루패드(12-3)가 로우패드(11)와는 서로 다른 길이를 가지고록 형성되며, 로우패드(11)와 전기적으로 연결될 로우 프루빙패드(15)가 일 측에 형성되고,

레드패드(12-1)와 전기적으로 연결될 레드 프루빙패드(16-1), 그린패드(12-2)와 전기적으로 연결될 그린 프루빙패드(16-2) 및 블루패드(12-3)와 전기적으로 연결될 블루 프루빙패드(16-3)가 형성된다.

상기 로우패드(11)와 레드패드(12-1)와 그린패드(12-2) 및 블루패드(12-3)상에는 절연층(22)이 형성되는데 이때 각각의 로우패드(11)와 레드패드(12-1)와 그린패드(12-2) 및 블루패드(12-3)의 단말에 콘택홀(31)을 가지도록 절연층(22)이 패터닝 된다.

절연층(22)위에는 로우패드(11), 레드패드(12-1), 그린 패드(12-2) 및 블루패드(12-3)와 직교하고 콘택홀(31)을 가리지 않고 일정간격을 가진 격벽(23)이 일정두께(2~10㎛)로 형성된다.

상기 격벽(23)위의 모든 면 및 로우 프루빙패드(15), 레드 프루빙패드(16-1), 그린 프푸빙패드(16-2) 및 블루 프루빙패드(16-3)의 단말부가 덮이도록 음극층(24)이 패터닝 된다. 이때 음극층(24)은 격벽(23)보다 현저히 얇은 두께를 가지도록 형성한다.

도 5a에서 보면 패터닝 되는 음극층(24)이 절연층(22)의 콘택홀(31)을 통하여 양극층(21)의 로우패드(11), 레드패드(12-1), 그린 패드(12-2) 및 블루패드(12-3)와 전기적으로 연결된다. 또한 로우 프루빙패드(15), 레드 프루빙패드(16-1), 그린프루빙패드(16-2) 및 블루 프루빙패드(16-3) 상에는 절연층(22)이 형성되어 있지 않으므로 일 측에서 직접 음극층(24)과 전기적으로 연결된다. 따라서 상기 형성되는 음극층(24)은 로우 쇼팅바(13), 레드 쇼팅바(14-1), 그린 쇼팅바(14-2) 및 블루쇼팅바(14-3) 역할을 한다.

도 5b에서 보면 격벽(23)에 의하여 로우 쇼팅바(13), 로우 쇼팅바(13), 레드 쇼팅바(14-1), 그린 쇼팅바(14-2) 및 블루 쇼팅바(14-3)는 각각 전기적으로 분리되어 있다.

이후의 테스트 과정은 실시예 1과 대동소이 하므로 설명을 생략한다.

[제 3 실시예]

도 6은 본 발명의 제 3 실시예(단색)에 따른 테스트 배선의 평면도이고, 도 7a 및 도 7b는 도 6의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도이다.

제 3 실시예는 단색(Mono Color) OELD에 적용되는 경우이다.

본 발명의 제 3 실시예에 따른 OELD의 테스트 배선은 투명기판(25)위에 ITO로 양극층(21)이 형성된다. 이때 형성되는 양극층(21)은 다음과 같은 패턴을 가지고 형성된다. OELD의 다수개의 스캔 라인(Scan Line)을 홀수 번째와 짝수 번째로 나누어 각각 연결되는 오드 로우패드(11-1)와 이븐 로우패드(11-2)가 서로 다른 길이를 가지고 형성되며, OELD의 다수개의 시그널 라인(Signal Line)의 홀수 번째와 짝수 번째로 나누어 각각 연결되는 오드 컬럼패드(12-4)와 이븐 컬럼패드(12-5)는 서로 다른 길이로 형성되며, 오드 로우패드(11-1)와 전기적으로 연결될 오드 로우 프루빙패드(15-1), 이븐 로우패드(11-2)와 전기적으로 연결될 이븐 로우 프루빙패드(15-2), 오드 컬럼패드(12-1)와 전기적으로 연결될 오드 컬럼 프루빙패드(16-4) 및 이븐 컬럼패드(12-2)와 전기적으로 연결될 이븐 컬럼 프루빙패드(16-5)가 일 측에 형성된다.

상기 오드 로우패드(11-1), 이븐 로우패드(11-1), 오드 컬럼패드(12-1) 및 이븐 컬럼패드(12-2)상에는 절연층(22)이 형성되는데 이때 각각의 상기 오드 로우패드(11-1), 이븐 로우패드(11-2), 오드 컬럼패드(12-1) 및 이븐 컬럼패드(12-2)의 단말에 콘택홀(31)을 가지도록 절연층(22)이 패터닝 된다.

절연층(22)위에는 오드 로우패드(11-1), 이븐 로우패드(11-2), 오드 컬럼패드(12-1) 및 이븐 컬럼패드(12-2)와 직교하고 콘택홀(31)을 가리지 않으며 일정간격을 가진 격벽(23)이 일정두께(2~10㎛)로 형성된다.

상기 격벽(23)위의 모든 면 및 오드 로우 프루빙패드(15-1), 이븐 로우 프루빙패드(15-2), 오드 컬럼 프루빙패드(16-4) 및 이븐 컬럼 프루빙패드(16-5)의 단말부가 덮이도록 음극층(24)이 패터닝 된다. 이때 음극층(24)은 격벽(23)보다 현저히 얇은 두께를 가지도록 형성한다.

도 7a에서 보면 패터닝 되는 음극층(24)이 절연층(22)의 콘택홀(31)을 통하여 양극층(21)의 오드 로우패드(11-1), 이븐 로우패드(11-2), 오드 컬럼패드(12-1) 및 이븐 컬럼패드(12-2)와 전기적으로 연결된다. 또한 오드 로우 프루빙패드(15-1), 이븐 로우 프루빙패드(15-2), 오드 컬럼 프루빙패드(16-4) 및 이븐 컬럼 프루빙패드(16-5) 상에는 절연층(22)이 형성되어 있지 않으므로 일 측에서 직접 음극층(24)과 전기적으로 연결된다. 따라서 상기 형성되는 음극층(24)은 로우 쇼팅바(13)와 컬럼 쇼팅바(14) 역할을 한다.

도 7b에서 보면 격벽(23)에 의하여 오드 로우 쇼팅바(13-1), 이븐 로우 쇼팅바(13-2), 오드 컬럼 쇼팅바(14-4) 및 이븐 컬럼 쇼팅바(14-5)가 전기적으로 분리되어 있다.

이와 같이 로우 쇼팅바 및 컬럼 쇼팅바를 홀수 번째와 짝수 번째로 나누어 구성하면 테스트 공정시 OELD패널부 내부의 인접한 라인의 단락 상태도 검사 할 수 있다.

[제 4 실시예]

도 8은 본 발명의 제 4 실시예(풀-컬러)에 따른 테스트 배선의 평면도이고, 도 9a 및 도 9b는 도 4의 A-A' 및 B-B'를 도시한 단면도이다.

제 4 실시예는 풀-컬러(Full Color) OELD에 적용되는 경우이다.

본 발명의 제 4 실시예에 따른 OELD의 테스트 배선은 OELD의 다수개의 스캔 라인(Scan Line)을 홀수 번째와 짝수 번째로 나누어 각각 연결되는 오드 로우패드(11-1)와 이븐 로우패드(11-2)가 서로 다른 길이를 가지고 형성되며, 오드 로우패드(11-1)와 전기적으로 연결될 오드 로우 프루빙패드(15-1)와 이븐 로우패드(11-2)와 전기적으로 연결될 이븐 로우 프루빙패드(15-2)가 각각 구성되는 것이 제 2 실시예와 다르고 다른 구성은 모두 같다.

이와 같이 로우 쇼팅바를 홀수 번째와 짝수 번째로 나누어 구성하면 테스트 공정시 OELD 패널부 내부의 인접한 라인의 단락 상태도 검사 할 수 있다.

상기 실시예를 참고하면 더 많은 조합으로의 구성은 통상의 기술을 가진 자가 쉽게 구성할 수 있다.

따라서, 본 발명은 포토리소그라피 공정이 적용될 수 없는 유기 EL 소자에 적합한 테스트 배선의 구조를 제공하여 스크라이빙과 브레이킹(scribing ＆ breaking) 공정 이전에 테스트를 실시할 수 있어 에이징 및 점등검사의 처리용량을 늘리기 위한 장비의 증설 및 작업자의 추가배치가 필요 없으므로 생산 단가를 낮추는 효과가 있다.

Claims

단색의 유기 EL 소자에 있어서,

투명기판위에 ITO로 형성되는 양극층은

상기 유기 EL 소자의 다수개의 스캔 라인(Scan Line)과 각각 연결되어 일정한 길이를 가진 다수개의 로우패드와,

상기 유기 EL 소자의 다수개의 시그널 라인(Signal Line)에 각각 연결되는 일정한 길이를 가진 다수개의 컬럼패드와,

상기 다수개의 로우패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 로우 프루빙패드와, 상기 컬럼패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 컬럼 프루빙패드를 포함하는 패턴으로 형성되며, 상기 양극층의 로우패드와 컬럼패드 상부에 일정한 콘택홀을 가지도록 형성된 절연층과,

상기 절연층 위에 상기 로우패드 및 컬럼패드와 직교하고 상기 콘택홀을 가리지 않으며 일정간격과 두께를 가지고 형성된 다수개의 격벽과,

상기 격벽위의 모든 면 및 상기 로우 프루빙패드와 컬럼 프루빙패드의 단말부가 덮이며 상기 격벽 보다는 얇은 두께로 형성된 음극층을 구비하며

상기 음극층이 상기 절연층의 콘텍홀을 통하여 상기 로우패드 및 컬럼패드를 각각 상기 로우 프루빙패드와 상기 컬럼 프루빙패드와 전기적으로 연결하는 것이 특징인 유기 EL 소자의 테스트 배선.
청구항 1에 있어서,

상기 컬럼패드는 상기 EL 소자의 다수개의 시그널 라인(Signal Line)의 홀수 번째와 짝수 번째로 나누어 각각 연결되며 그 길이가 서로 다른 다수개의 오드 컬럼패드와 이븐 컬럼패드를 구비하는 것이 특징인 유기 EL 소자의 테스트 배선.
청구항 1에 있어서,

상기 컬럼 프루빙패드는 상기 오드 컬럼패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 오드 컬럼 프루빙패드와 상기 이븐 컬럼패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 이븐 컬럼 프루빙패드를 구비하는 것이 특징인 유기 EL 소자의 테스트 배선.
풀-컬러 유기 EL 소자에 있어서,

투명기판위에 ITO로 형성되는 양극층은 상기 풀-컬러 유기 EL 소자의 다수개 스캔라인(Scan Line)과 각각 연결되는 일정한 길이로 형성된 다수개의 로우패드와,

상기 풀-컬러 유기 EL 소자 각각의 색을 표현하는 다수개의 시그널 라인(Signal Line)에 각각 연결되며 각각 길이가 다르고 쌍을 이루어 다수개가 형성되는 레드패드, 그린패드 및 블루패드와,

상기 다수개의 로우패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 로우 프루빙패드와, 상기 다수개의 레드패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 레드 프루빙패드와, 상기 다수개의 그린패드와 전기적으로 연결이 가능한 하나의 그린 프루빙패드와, 상기 다수개의 블루패드와 전기적으로 연결이 가능한 블루 프루빙패드를 포함하며 상기 양극층의 로우패드, 레드패드, 그린패드 및 블루패드 상부에 콘택홀을 구비하여 형성되는 절연층과,

상기 절연층 위에는 상기 로우패드, 레드패드, 그린 패드 및 블루패드와 직교하고 상기 콘택홀을 가리지 않고 일정간격과 두께를 가지고 형성된 다수개의 격벽과,

상기 격벽 위의 모든 면 및 상기 로우 프루빙패드, 레드 프루빙패드, 그린 프푸빙 패드 및 블루 프루빙패드의 단말부 상부가 덮이고 상기 격벽 보다는 얇은 두께로 형성된 음극층을 구비하며, 상기 음극층이 상기 절연층의 콘텍홀을 통하여 상기 로우패드, 레드패드, 그린 패드 및 블루패드와 상기 로우 프루빙패드, 레드 프루빙패드, 그린 프푸빙패드 및 블루 프루빙패드를 각각 전기적으로 연결하는 것이 특징인 유기 EL 소자의 테스트 배선.
청구항 1 및 청구항 4에 있어서,

상기 음극층은 상기 격벽에 의하여 전기적으로 분리되어 각각 서로 다른 쇼팅바로 구성되는 것이 특징인 유기 EL 소자의 테스트 배선.
청구항 1 및 청구항 4에 있어서,

상기 로우패드는 상기 유기 EL 소자의 다수개의 스캔 라인(Scan Line)을 홀수 번째와 짝수 번째로 나누어 각각 연결되며 그 길이가 서로 다른 오드 로우패드와 이븐로우패드를 구비하는 것이 특징인 유기 EL 소자의 테스트 배선.
청구항 1 및 청구항 4에 있어서,

상기 로우 프루빙패드는 상기 오드 로우패드와 전기적으로 연결이 가능한 오드 로우 프루빙패드와, 상기 이븐 로우패드와 전기적으로 연결이 가능한 이븐 로우 프루빙패드를 구비하는 것이 특징인 유기 EL 소자의 테스트 배선.