TW571600B - Organic electroluminescent device - Google Patents

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TW571600B
TW571600B TW089121972A TW89121972A TW571600B TW 571600 B TW571600 B TW 571600B TW 089121972 A TW089121972 A TW 089121972A TW 89121972 A TW89121972 A TW 89121972A TW 571600 B TW571600 B TW 571600B
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TW089121972A
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Johannes Nicolaas Huiberts
Loic Cyril Andre Mourier
De Weijer Peter Van
Coen Theodorus Hube Liedenbaum
Delden Martinus Hermanus W Van
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Koninkl Philips Electronics Nv
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    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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    • HELECTRICITY
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Description

經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 571600 A7 ------------- 五、發明說明(1 ) 本發明係有關一種電光裝置,該電光裝置包含至少一個 ’、’、頁示元件,竣頭示元件包含由有機材料構成的至少一個電 光層,該電光層係夾在兩個導體層之間,該裝置被配置成 一個二極體,而當有一電場施加到該層時,該裝置即產生 光。 本發明進一步係有關一種製造此種電光裝置之方法。 電光(Electr〇luminescent ;簡稱eL)裝置是一種利用電激發 光的現象之裝置,而當將該裝置適當地連接到一電源時, 汶裝置即發出光。如果該光發射源自於一有機材料,則將 該裝置稱爲一有機電光裝置。尤其可將一有機EL裝置用來 作爲一種具有一較大發光表面積之薄型光源,例如一液晶 顯示器或一手錶的背光。如果一有機EL裝置包含若干可或 不可獨立定址的EL元件,則亦可將該EL裝置用來作爲一顯 示器。 〜 利用有機層作爲el元件中的一EL層是習知的技術。—種 類別的該等習知有機層通常包含一共軛發光化合物。該化 合物可以是諸如一香豆素等的低分子染料、或諸如聚(亞苯 乙晞)等的高分子化合物。該EL元件亦包含兩個電極,而这 兩個電極係與該有機層接觸。施加一適當的電壓時,負泰 極(亦即陰極)將放射電子,且正電極(亦即陽極)將放射電洞 。這些電子及電洞的重新結合可產生光。如 个成t 疋件的 .形式是由多層構成的一堆疊,則至少一個電極應可透過所 放射的光。一種用於陽極的習知透光電極材料是諸如氧4 銦錫(ITO)。習知的陰極材料尤其是鋁、鋇、華、 。 较·報、 -4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) " ------- --------^---------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 571600
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(2 ) 鋰:鋁、或鈣。除了ITO之外,習知的陽極材料是諸如金及 鉑。如有必要,該EL元件亦可包含由諸如噁二唑或三級胺 構成的額外有機層,這些額外的有機層係用來改善電荷傳 送或電荷射出。 歐洲專利申請案ΕΡ-Α- 0 893 939中揭示了 一種在開頭段 落中所述及類型的EL裝置,該專利申請案説明了一種電光 顯不裝置,眾電光顯示裝置包含在一基材上形成的一有機 電光元件、及夾在各陰極與各陽極間之一有機化合物層組 。該有機化合物層組具有由至少_種有機化合物形成的疊 層電光機能層。該有機電光顯示裝置進一步包含一用來包 封孩有機電光元件之氣密式外殼,且在該氣密式外殼本身 與該有機電光元件之間形成一空間,並且將該有機電光元 件與外部空氣隔離。 如EP-A- 0 893 939所揭示的,可能稍有灰塵黏著在該有 機EL元件的風險。因爲該有機EL機能層具有次微米等級的 極小厚度’所以在透光電極(陽極)與後面電極(陰極)之間有 可此發生因灰麈而造成的短路。用來避免短路的傳統對策 是清洗基材的表面並使該表面平滑。然而,由於無法完美 地清洗基材表面,所以仍然有發生短路的可能性。 此外’當澄氣或氧氣等物質經由諸如陰極層中之缺陷而 滲入有機層時’所造成的影響可能劣化該有機電光機能層。 爲了降低短路的風險,EP-A- 0 893 939採用一種用來填 滿該氣密式外殼内的空間之填充氣體。該填充氣體包含至 少一種助燃氣體。該助燃氣體氧化該陰極材料中圍繞一短 本紙張尺度適用中國國豕標準(CNS)A4規格(210 X 297公楚) :--------------------訂---------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 571600 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 五、發明說明(3 ) 路的部分,以便形成一絕緣體, ^ U而抑制短路的發生。助 燃氣體是-種氣體氧化劑,本身不會自燃,但是協助並他 材料的燃燒。習知的助燃氣體包括諸如氧氣、二氧化氮、 臭氧、虱氣、氧化亞氮、氟氣、三氟 必要性的填充氣體封裝意指對有機電光裝置"的未7架構 加上了相當大的限制。 本發明I目的在於提供一種如第_段所述的高可靠性有 機電光裝置,其中大幅降低了在該裝置的使用期限結束前 發生故障的風險。 爲達到此一目的,該有機電光裝置之特徵在於:當該電 光層接受到範圍在1 — 10伏特的一逆偏壓時,在每平方釐米 的電光表面積中之漏電流係小於10微安。該每平方釐米的 電光表面積中小於10微安的漏電流是通過在工作中可發光 的電光層區域之漏電流。被稱爲雜訊的漏電流中之不穩定 性最好是有一小於0.02的雜訊位準,尤其最好是小於0017 。爲了取得該雜訊的量測値,係以InQrm將量測値標準化, 其中情形將於下文中説明之。我們發現:符合此項準則的 裝置具有一較低的風險會在其使用期限結束前故障。 本發明係基於下列的認知:不只是漏電流,不穩定的漏 電流也可能是將發生諸如短路等的早期故障之前兆。當該 電光裝置被配置成一個二極體,且該二極體係在逆偏壓之 下工作時,該漏電流是經過該二極體的電Ά °爲了將該漏 電流中的不穩定性特徵化,係以下文所述之方式決定一雜 訊位準: -6- 表紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) ---------f------- —訂---------線·· (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) 571600 A7
五、發明說明(4 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 a.在一預定的時間間隔(此處爲丨〇秒)中,在被配置爲一個 二極體的該電光裝置上設定一預定的逆向電壓(此處爲1 伏)。 b·對一電光裝置的漏電流進行抽樣(此處爲每隔〇丨秒抽樣 一次,因而得到1 〇〇個量測値)。 c ·利用下列方程式計算在某一逆向電壓上的雜訊: NOISED I AI(t=2.5s) | + | AI(t=2.6s) | + | AI(t=9.8s) | )/74)/Inorm 其中| △ I(t=2.5s) I是在設定逆向電壓之後於時間t = 2.5秒上所量測的漏電流與於時間t = 2.5秒上所量測的 漏電流間之差異之正値。且係以下列方程式決定L :
In〇rm -(I(t=2.5s) + I(t=2.6s) + ·.. + i(t=9 9s))/75 由於在局邵漏電路徑的電阻上進行局部加入的影響,而 造成電流的改變,所以捨棄前25點的量測値。 d·在10秒後切斷該逆向電壓。 e·然後針對在被配置爲一個二極體的該電光裝置上施加的 2'3'4'5'6'7'8、7、6、5、4、3、2、及1伏逆向 電壓,重複程序步驟a至d。並針對每一逆向電壓決定該 雜訊。 f.泫雜訊量測的最大値即是在申請專利範圍第2項所用的裝 置之雜訊位準。 該標準化程序可在不必顧及漏電流的差異的情形下比較 不同裝置的雜訊位準。 在根據本發明的該裝置中,當該電光層接受4伏的逆偏蜃 時,漏電流最好是每平方釐米的電光表面積小於〇5微安。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公楚) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 571600 五、發明說明(5 ) 被稱爲雜訊的漏電流中之不穩定性最好是具有一小於0 0 0 6 的雜訊位準。在該等裝置中,少於1%的裝置會發生早期故 障。 在一組樣本中,該等量測値可得出在雜訊位準的高度與 早期故障的發生上有一明顯的相關性。然而,對於該量測 而言,係以最佳的方式處理該等裝置。漏電流是相當小, 且所發現的相關性指出:要對不穩定的行爲負責的漏電路 徑與要對大邵分的漏電流負貴的漏電路徑相同。由於不穩 足性的順序即是該特定漏電路徑的漏電流之順序,所以該 標準化程序將可得到可靠的結果。可以在不必顧及漏電流 的差異之情形下比較不同裝置的雜訊位準(這就是要使用該 標準化程序的原因)。然而,在一實際的生產情形中,無法 使處理達到最佳化。該漏電流將會大丨〇倍,且流經不穩定 的漏電路徑之電流只佔總漏電流的一部分。因此,在非最 佳處理狀況下得到的裝置之雜訊位準量測値可能是非常地 不可靠。 該漏電流大約與逆向電壓的平方成正比。諸如並非源自 電光層的背景漏電流等的其他漏電流則在漏電流與逆向電 壓之間大約呈線性的關係。總之,當該裝置接受範圍在1 — 10伏的一逆偏壓時,研究漏電流的非線性成分,即可區分 出該漏電流及其他的漏電流。尤其當較大的背景漏電流妨 礙了一可靠的雜訊値之決定時,最好是不要採用InQrm,而 是要將V2標準化。此處的V2是在量測時的逆向電壓之平方 。在根據本發明的裝置中,漏電流中之不穩定性最好是具 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) III I I I I I · I I I I I I I ^ « — — — — — — I— ^_wl (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 571600 Α7 ___ Β7 五、發明說明(6 ) 有一小於8.33 nA/V2的雜訊位準。對V2標準化將可得到一個 被稱爲N〇ISE(V)的數字,該N〇ISE(V)係與所述的雜訊 (NOISE)成正比。我們發現:0.020的NOISE大約相當於 8.33nA/V2的NOISE(V),而 0.006 的NOISE大約相當於2.50 iiA/V2的NOISE(V)。該N〇ISE(V)尤其適用於諸如矩陣顯示 器等具有較大背景電流之電光裝置。 在非最佳處理狀況下施加到該等裝置的一預先調整程序 對漏電流及漏電流中之不穩定性都有顯著的影響,這是令 人詫異的。 爲了達到此一目的,一種製造一電光裝置的方法之特徵 在於:該裝置接受一至少爲每微米電光層厚度有1〇〇伏的逆 向電場。 當建立該逆向電場時,一漏電流即開始流動。對於某些 裝置而言,該漏電流是非常大的,且將隨著時間而增加, 而且必須因不可靠而拒收此種裝置。其他的裝置則顯示該 漏電泥係隨著時間而減小,此即意指有某一類的修補機制 。該漏電流的局部路徑似乎被關閉了或被摧毁了。該裝置 接文逆向電場,直到漏電流減小到該預先調整程序開始時 的漏電流之10%爲止。 建立用於該程序的逆向電場所用之精確電壓是不太重要 的,或者換言之,有相當寬範圍的電壓可使該程序以類似 的方式運作。此點是重要的,這是因爲目前所用製程所容 泎不同裝置的電光層之厚度變化是相當大(10%)。該電場等 於所施加的電壓除以該厚度。 -9- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(21G χ 297公爱)- ------- 4.--------------------訂---------線 f請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 571600 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(8 ) 圖1是一聚合物LED裝置之示意圖。在左端(損壞)及右端 (導電粒子)上示出兩條可能的漏電流路徑。 圖2示出對四個裝置的漏電流量測之結果,圖中示出其中 一個裝置(S4)有較大的不穩定性。圖中插入的表示出該等特 定裝置的電光層之不同厚度。 圖3示出一雜訊量測的一量測周期實例。係每隔丨〇秒鐘改 變電壓一次。在電流的量測過程中,係在〇1秒的時間間隔 上採取量測點。 圖4示出在一電壓(-4伏)下的一電流量測實例。 圖5示出對用於圖2所示I-V量測的相同裝置所作的一雜訊 量測實例。請注意,具有不穩定漏電流的樣本(樣本〇4)有較 咼的雜訊位準。另一方面,雖然所量測出的ι_ν曲線並未示 出樣本15的任何不穩定狀態(圖2),但是樣本15的雜訊位準 也是較高的。在低於2伏及高於9伏時的雜訊位準是較低的 。在延長的工作中,樣本15及樣本〇4都發生了故障。 圖6示出在圖3及4所示一量測中的一個電場上發現的最大 雜訊位準之一相關性。對於不同的裝置而言,可在不同的 電場上發現該最大値。以X軸上的一正方形標示出在一加速 使用期限量測(在T = 363 K且溼度爲50%下,使用期限爲 250小時)中在該裝置的使用期限結束前發生短路之樣本。 粗線指示在該準則中目前所使用的位準。 圖7示出當使用4伏的逆偏壓時具有在圖形的該點附近的 一間隔中的漏電流之樣本數。該間隔的範圍係自到前一點 的半途之漏電流至到次一點的半途之漏電流。在—15伏下執 -11 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) —一---------—i—^---------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 571600 五、發明說明(9 ) 行琢預先碉整程序之後,產生兩個顯著不同的群體。請注 思X軸的對數刻度。第一群體所具有之漏電流係在2微安與 2.5微安I間,而第二群體所具有之漏電流係在5〇〇微安與5 毫安之間。在該預先調整程序之前,是無法區別這兩個群 體的(請亦參閱圖8)。 圖8 出在茲預先調整程序之前及之後的各樣本。垂直軸 表7F琢等裝置的雜訊位準,而水平軸則表示在4伏的逆向電 壓下的漏電流。在執行預先調整之前,係在一群點中找到 所有的裝置;而在執行預先調整之後,清楚地示出兩個不 同的群體。 聚合物發光二極體(P〇lymer Light Emitting Di〇de;簡稱 PLED)在本質上是一種厚度通常在i〇〇奈米的接近完美之絕 緣體,该PLED係爽在兩個導體(電極)之間。對於本文所述 的該等裝置而言,這些層係完全與空氣隔離。該裝置的結 構類似於一電容,且其表現方式也很像電容。此外,由於 各圍繞電極的功函數差異(接近2電子伏特),所以該裝置也 有二極體的所有特性。在前向偏壓時,電流自該等電極注 入時,將流經絕緣材料。當所使用的其中一個電極是一透 光導體時,該電流將部分被轉換爲光,而自該裝置射出。 在一電流驅動的PLED裝置中會發生早期故障的一個主要原 因即是出現了一通過該薄絕緣體(電光層)的平行漏電路徑。 在驅動電壓分別低於或高於該裝置的内建電壓時,該漏電 路徑載送⑴總驅動電流或(ii)驅動電流的一大部分。使用者 對故障的第一種感知是光強度突然降到零,而對故障的第 -12- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------------訂---------線 41^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 571600 A7
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 強度的減弱,但是在許多情形中, ^不穩定的(閃爍的)狀態。應要避免這兩種情形。 :視漏電流的行爲,即可研究出漏電路徑。在逆偏壓(本 出,二:的所有結果都使用4伏)下操作該裝置,即可量測 出$亥漏% 。夕大石 A. 、 …、,典法建立漏電流的大小與早期故障的 發生間之一明碹粕奶从 又|早的 、、二 月萑相關性。目前已下了很大的工夫在改良製 h些裝置的製程,尤其在改良清潔程序這方面,而試圖 解決該問題。1已證明無法排除早期故障發生的主要原因 ^於:與製造時出現的不同類型的粒子之尺寸比較時,該 電光層的較小厚度。由於此種較小的厚度是大部分客户規 格要求的PLED之低電壓作業必需的,所以一選擇準則是必 要的,以便區分出好的裝置(在裝置的使用期限結束前不會 發生早期故障)與壞的裝置(在裝置的使用期限結束前會發生 早期故障)。 如前文所述,已明確地指出不穩定的漏電流(在逆向電壓 下)是發生早期故障的前兆。在故障之後,漏電流中的不穩 定性之大小係在該漏電流的絕對値左右,且此種情形係發 生在10伏逆向電壓之下的電壓(圖2)。可將接觸區局部化爲 一個圍繞一缺陷的損壞區域(通常直徑爲1微米)(圖1 ),且可 在顯微鏡下看到該損壞區域。該損壞區域的外緣上之暫賤 短路引發這些不穩定性。在發生短路的瞬間,電容中儲存 的電荷流經該短路。在該較小的接點中所散發的大量電力 將造成該短路及部分圍繞材料的損壞,因而將產生較大的 缺陷。已可利用目視看出該缺陷。發生不穩定的瞬間,沿 13- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公楚) I-------— — — — — t_!-----^ (請先閱讀背面之注音?事項再填寫本頁) A7 五、發明說明(11 )
著一短路的邊緣可I 周圍増加。可將該程序’比”火因而將使損壞區域的 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 電場下,較大的靜電火偷程序。在較強的 %力~造成接點的穩定。雖然容許較大 的漏私泥泥過,但是該 办曰、达 关”名大到足以在不會有過量的局部 熱f之情形下載送這虺 、、々 一属私心。蜎汪意,在本發明的聚人 物LED裝置中發現的不 令变月的永口 心疋丨生非吊颏似於在有機LED裝置中
發現的不穩定性,因而太女蛴、十,认.住, T
本又所述的準則亦可用於有機OLED 裝置的情形。 在更接近的檢視下,我們發現:這些不穩定性也存在於 -杈小的標度,且這些不穩定性的大小與使用期限測試中 早期故障的發生之間可能示出一相關性。由於這此不穩定 性多少有些隨機的本質’所以可在某一時間間隔範圍中量 測這些不狀性,只要該時間間隔超過所用裝置的^時間 即可。必須在這些不穩定性最強的範圍(小於1〇伏)中的若干 逆向電壓下執行該量測(圖3所示實例)。在該實例中,使用 在各電流量測之間有0.1秒的時間間隔。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在-個電場(電I)下進行的-電流量測實例係示於圖4。 在一個電場中,係將雜訊界定爲超過。要在數個電場下進 行量測的原因是顧及在一個電場上進行的一延長量測對雜 訊位準所具有的穩定效應。在某一段時間之後改變電場的 作法多少會對該裝置有”考驗”的作用。涵蓋〇與一 8伏間之範 圍(圖4所示之實例),以便確定已找出該特定裝置的最大雜 訊位準(圖5)。在該準則中使甩該最大雜訊位準(圖6)。 圖6所示之量測示出:在一組8 5個樣本中,雜訊位準的高 -14- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱〉 571600 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 Α7 Β7 五、發明說明(12 ) 度與早期故障的發生之間有一明確的相關性。然而,對於 孩量測而言,係以最佳的方式處理該裝置。漏電流相當小 ’且所發現的相關性示出要對不穩定的行爲負責的漏電路 徑與要對大部分的漏電流負責的漏電路徑相同。因爲不移 足性大約等於該特定漏電路徑的漏電流,所以標準化程序 將可得到可靠的結果。可以在不必顧及漏電流的差異之情 形下比較不同裝置的雜訊位準(這就是要使用該標準化程序 的原因)。然而,在一實際的生產情形中,無法使處理達到 最佳化。該漏電流將會大10倍,且流經不穩定的漏電路徑 之電流只佔總漏電流的一部分。在非最佳處理狀況下得到 的裝置之量測値並未示出圖6所發現之相關性。爲了能夠使 用該雜訊準則。必須施加一預先調整程序。 使本發明的裝置在某一段時間中接受一較高的逆向電壓 ,即可預先調整該裝置。該預先調整程序對一群體的pled 裝置中的漏電流之分佈有顯著的影響。對於一範圍寬廣的 預先調整電壓而言,在該預先調整程序之後得到了兩個明 確區分的群組(圖7、圖8)。用於該程序的精確電壓是不太重 要的,或者換言之,有相當寬範圍的電壓可使該程序以類 似的方式運作。此點是重要的,這是因爲目前所用製程所 容許不同裝置的電光層之厚度變化是相當大(1〇%)。該電場 等於所施加的電壓除以該厚度。如果有機層上的電場太強 ,則將造成損壞。另一方面,當施加太低的電場時,在該 預先ί周整程序之後將不會出現兩個不同的群體。現在已發 現一個寬度在5伏的電恩區域’其中可在不會損壞裝置的情 -15- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------------------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 571600 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明說明(13 ) 形下施加一較高的逆向電壓。 圖8示出在該預先調整程序之前及之後所量測雜訊與漏電 流間之關係圖。除了出現兩個不同的群體之外,在不必顧 及標準化程序之情形下,具有較大漏電流的樣本也顯示有 較高的雜訊位準之狀況也是相當顯著。該標準化程序將造 成在這些較大的漏電流下對雜訊位準的壓制,但是這些樣 本的不穩定性顯然高到使雜訊位準仍然比,,良好”裝置的雜 訊位準高出許多。一般而言,我們知遒使裝置接受一較強 的電場時將會有以下三種可能的效應: 在第一種效應中,可改善若干樣本的情況。漏電路徑消 失了,且減小了漏電流。我們強制該等裝置進入一種可適 用雜訊準則或不穩定的漏電路徑也要對漏電流負貴的狀況。 在第一種效應中’損壞了若干裝置的漏電路徑,因而造 成更大的漏電流。 在第三種效應中,在太強的電場下,可能發生暫時性的 穩定。可以下文所述之方式認知這些裝置。在第一次施加 一強電場之後,這些裝置表現地好像是強況改善的樣本(小 的漏電流)。當在一段時間中再度施加一強電場時,在量測 之後將發現漏電流已增加到一較大的値。只有在過強的電 場下才會發生此種情形。 目前所用的選擇準則將拒收在預先調整程序之後於—4伏 笔壓下漏電Ά大於5微士的所有裝置。對其餘的群體執行一 雜訊置測’並拒收雜訊位準大於0.0 0 6的所有裝置。對有2 3 〇 裝置的一群體之結果係示於圖9。係將處理條件故意設定在 -16- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) :i—一-------------訂---------線# (請先閱讀背面之注咅?事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 571600 A7 B7 五、發明說明(14 ) 預期在使用期限結束之前會有大量短路發生的一位準。在 以一旋轉塗佈(spin coating)製程施加聚合物層之前,對聚 合物溶液絕非最佳方式的過遽,即可得到上述的結果。 圖9示出實際上有三個群體: —具有較大的漏電流及較高的雜訊位準之一群體(右上方的 方塊)。較大的漏電流使這些裝置不適於使用。在使用 期限實驗中,超過90%的這些裝置會發生早期故障。 —具有較小的漏電流但有較高的雜訊位準之一群體(左上方 的方塊)。在使用期限實驗中,大約有3〇%到4〇%的這些 裝置會發生早期故障。 --具有較小的漏電流及較低的雜訊位準之一群體(左下方的 方塊)。在使用期限實驗中,所有的裝置都未受損。 除了使用10毫安的驅動電流之外,在相同的條件下,量 測於使用期限實驗中被測試的一較大群體之裝置,即可得 到一較穩固的統計基礎。亦可自該群體中選出良好的裝置 。在使用期限測試中,並未在該群組中偵測到任何早期故 障,而在參考群组中則有20%到30%的裝置發現早期故障。 可將該群組的(拒收)裝置中之早期故障局部化,且將早期故 障的原因歸諸於電光層中之缺陷(粒子)。 縱使在處理狀況絕非最佳化的情形中,前文所述的準則 也可故卩早水準自接近3 〇 %減少到小於1 %。 總結而言,本發明提供了一種用來選擇高可靠性的有機 LED裝置足工具,其中降低了在該裝置的使用期限結束之 前發生故障的風險。該工具包含下列步驟: ---------------------訂---------線# (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) -17-
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(0使忒裝置在電光層之上接受一強電場。因而將該等裝 置分成兩個明確隔離的群體,亦即具有較小漏電流(在 逆向電壓作業中流經該電光層的電流)之一群體、以及 具有較大漏電流之一群體。在該步驟中,係根據一電 泥準則而選擇該第一群體。 (Η)偵測被稱爲雜訊的該漏電流中之不穩定性。已證實尤 其在1與10伏間之逆向驅動電壓下將發生這些不穩定性 這些不穩定性是衡量在作業中發生早期故障的一量 測値。在該步驟中,係根據一雜訊準則而選擇該等裝 置。 —ΓΙ:-------MW--------訂------------線# (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製

Claims (1)

  1. 571600
    571600 A8 B8 C8 D8
    申請專利範圍 " 顯示元件,該顯示元件包含由有機材料構成的至少一個
    本紙張尺度適 )71600
    電光膚厚度至少170伏特。 •如申叫專利範圍第7項之方法,更包括一步驟··當施加一 1:10伏特範圍之逆向偏壓至該層時,使在步騾勾中所製 造足孩電光裝置具有一1〇-15伏特範圍之逆向電壓,以改 變所觀測到之漏電流。 11·如申凊專利範圍第8項之方法,纟中如果當該層施加有一 〇伏特範圍中之逆向偏壓時,施加該逆向電場,而使 該漏包/礼減少,則會繼續施加該逆向電場,直到該漏電 =小於每平方釐米電光表面面積i 0微安,或者如果施加 該逆向私場,而使該漏電流增加,則拋棄該電光裝置, 並且重新執行步驟a)。 12· -種測試一電光裝置之方法,該方法包括下列步驟: a) 施加一逆向電壓至一具有至少一顯示元件之電光裝置 ,孩顯示元件包括至少一有機材料之電光層,該電光 層夾在兩個導體層之間,該裝置被配置成一二極體, 而當有一電場施加至該層诗,該裝置即產生光; b) 當施加該逆向電壓至步驟a)中所製造之該電光裝置時 ,以連續時間點測量該裝置之漏電流; c) 從該組電流量測計算一雜‘位準,該雜訊位準代表一 泫漏電流中之稱為雜訊之不穩定之位準; )將在步驟c)中所计算之雜訊位準與一目標雜訊位準做 比較;以及 e)如果步驟c)中所計算之該雜訊位準等於或超過該目標 雜訊位準,則代表該電光裝置測試失敗,否則代表該 -3- 571600 A8 B8 C8 D8 、申請專利範圍 電’光裝置通過測試。 13. —種測試一電光裝置之設備,該設備包括: a) —電壓供應器,用以施加一逆向電壓至一具有至少一 顯示元件之電光裝置,該顯示元件包括至少一有機材 料之電光層,該電光層係夾於兩個導電層之間,該裝 置被配置成一二極體,而當有一電場施加到該層時, 該裝置即產生光; b) 測量裝置,用以在施加該逆向電壓至該電光裝置時, 以一些連續時間點方式測量該裝置之漏電流; c) 計算裝置,用以從該組電流量測計算一雜訊位準,該 雜訊位準代表該漏電流中稱為雜訊之不穩定之位準; d) 比較裝置,因以將步驟c)中所計算之雜訊位準與一 目標雜訊位準做比較;以及 e) 指示裝置,如果步驟c)所計算之雜訊位準等於或超過 該目標、位準,則其指示該電光裝置測試失敗,否則 指示該電光裝置通過測試。 -4 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 X 297公釐)
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