JP5352170B2 - 検査用ソケット - Google Patents
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Description
該メッキ被膜を介して該第1プローブと導通する第1領域と、該メッキ被膜を介して該第2プローブと導通し、該第1領域と電気的に隔てられ第2領域と、に画定するパターンは、該第1面及び該第2面の該メッキ被膜を部分的に除去することにより形成され、該電子部品の電極は、該第1領域及び該第2領域のそれぞれと接続される検査用ソケットが提供される。
本発明による検査用ソケットは、例えば図1に示されるように、RF信号用プローブ1SIG、グランド用プローブ1GND及び電源用プローブ1POW(ここでは便宜的に低周波・低速信号用のプローブも同等に扱う)を挿入し得る貫通孔5が形成された樹脂材料などの絶縁性材料からなる支持ブロック2を有し、その支持ブロック2の外表面及び貫通孔5の露出面にはメッキ被膜10が設けられる。この支持ブロック2の貫通孔5には、信号用プローブ1SIG、グランド用プローブ1GND、および電源用プローブ1POWが挿入され、この支持ブロック2の一面(上面)11側(図1に示される例では図の上側)に設けられる図示しないICなどの被検査デバイスの電極端子と、この支持ブロック2の他面(下面)12側(図1に示される例では図の下側)に設けられる図示しない検査装置と接続された配線基板の配線端子とを各プローブ1で接続することにより検査が為される。
支持ブロック表面に施したパターンにチップコンデンサが実装できるために、信頼性と耐久性の高い部品実装可能な検査用ソケットが実現できる。また、チップコンデンサとプローブが直接接合されていないので、双方に余計なストレスがかからず、信頼性と耐久性が向上する。また、チップコンデンサまでパターンを引き出すため、プローブのピッチ間隔の長さよりも大きい、又は小さいチップコンデンサを実装できる。また、プローブとチップコンデンサとの接続の自由度が高まり、パターンの引き出し方によっては隣同士のプローブに限らず、任意のプローブとチップコンデンサを接続可能である。また、プローブを交換してもチップコンデンサの再実装が不要となる。また、チップコンデンサを広い場所で実装できるので、実装作業の難しさがない。さらに、チップコンデンサの大きさの制限が殆どないために、自由に仕様が設定できる。
図8は、電源用プローブとグランド用プローブの2つのプローブとチップコンデンサを接続する様子を示している。第2実施形態では、第1実施形態と同様に支持ブロック上にチップコンデンサが配置される。
図9は、電源用プローブとグランド用プローブの2つのプローブとチップコンデンサを接続する様子を示している。第3実施形態では、第1実施形態及び第2実施形態とは異なり保持板にチップコンデンサが配置される。
1GND グランド用プローブ
1SIG 信号用プローブ
1POW 電源用プローブ
2 支持ブロック
3 保持板
5 貫通孔
9 チップコンデンサ
10 メッキ被膜
11 上面
12 下面
13 グランドチューブ
14、15 溝部
16、17 プランジャ
18 金属パイプ
19 スプリング
21 貫通孔
22 凹部
Claims (5)
- 第1面、該第1面と反対側の第2面、及び該第1面と該第2面を連通する第1貫通孔及び第2貫通孔を有し、該第1面、該第2面、該第1貫通孔及び該第2貫通孔は、導電性のメッキ被膜で覆われ、絶縁性材料からなる支持ブロックと、
該第1面側に設けられる被検査デバイスの端子と該第2面側に設けられる検査装置に接続された端子とを電気的に接続するための、該第1貫通孔に設けられ該第1貫通孔の該メッキ被膜と導通する第1プローブ及び該第2貫通孔に設けられ該第2貫通孔の該メッキ被膜と導通する第2プローブと、
前記支持ブロックに半田付けで実装された電子部品と、を有し、
該メッキ被膜を介して該第1プローブと導通する第1領域と、該メッキ被膜を介して該第2プローブと導通し、該第1領域と電気的に隔てられた第2領域と、に画定するパターンは、該第1面及び該第2面の該メッキ被膜を部分的に除去することにより形成され、該電子部品の電極は、該第1領域及び該第2領域のそれぞれと接続されることを特徴とする検査用ソケット。 - 前記電子部品は、該第1面側に配置されることを特徴とする請求項1記載の検査用ソケット。
- 前記第1プローブ及び第2プローブは、導電性カバーに覆われ、該導電性カバーを介して該第1貫通孔及び該第2貫通孔の該メッキ被膜と導通することを特徴とする請求項1記載の検査用ソケット。
- 前記第1プローブは電源用のプローブであり、前記第2プローブはグランド用のプローブであることを特徴とする請求項1記載の検査用ソケット。
- 前記電子部品は、コンデンサであることを特徴とする請求項1記載の検査用ソケット。
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