JP5327932B2 - 超電導コーティング材料の製造方法 - Google Patents

超電導コーティング材料の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5327932B2
JP5327932B2 JP2007029775A JP2007029775A JP5327932B2 JP 5327932 B2 JP5327932 B2 JP 5327932B2 JP 2007029775 A JP2007029775 A JP 2007029775A JP 2007029775 A JP2007029775 A JP 2007029775A JP 5327932 B2 JP5327932 B2 JP 5327932B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
condition
value
laser beam
pulses
coating material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007029775A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008198396A (ja
Inventor
貢 相馬
哲男 土屋
俊弥 熊谷
謙一 塚田
邦彦 小柳
孝 海老沢
英彦 大津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Steel Works Ltd
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Japan Steel Works Ltd
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Steel Works Ltd, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical Japan Steel Works Ltd
Priority to JP2007029775A priority Critical patent/JP5327932B2/ja
Priority to DE112008000019T priority patent/DE112008000019T5/de
Priority to PCT/JP2008/051814 priority patent/WO2008096728A1/ja
Priority to CN2008800005830A priority patent/CN101542641B/zh
Priority to US12/227,840 priority patent/US8716189B2/en
Publication of JP2008198396A publication Critical patent/JP2008198396A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5327932B2 publication Critical patent/JP5327932B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1204Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
    • C23C18/1208Oxides, e.g. ceramics
    • C23C18/1216Metal oxides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1229Composition of the substrate
    • C23C18/1245Inorganic substrates other than metallic
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/125Process of deposition of the inorganic material
    • C23C18/1295Process of deposition of the inorganic material with after-treatment of the deposited inorganic material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/14Decomposition by irradiation, e.g. photolysis, particle radiation or by mixed irradiation sources
    • C23C18/143Radiation by light, e.g. photolysis or pyrolysis
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/01Manufacture or treatment
    • H10N60/0268Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
    • H10N60/0296Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers
    • H10N60/0324Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers from a solution
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N60/00Superconducting devices
    • H10N60/01Manufacture or treatment
    • H10N60/0268Manufacture or treatment of devices comprising copper oxide
    • H10N60/0296Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers
    • H10N60/0548Processes for depositing or forming copper oxide superconductor layers by deposition and subsequent treatment, e.g. oxidation of pre-deposited material

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
  • Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)

Description

本発明は、電力輸送、電力機器、情報機器分野で用いる超電導物質の製造方法、より詳
しくは超電導物質をコーティングした超電導材料膜(限流器、マイクロ波フィルタ、テー
プ材料、線材)の製造方法に関する。
従来、超電導物質を構成する金属元素を含む有機化合物溶液を基板に塗って乾燥(1)後
、有機成分の分解工程(2)(仮焼成)、超電導物質の形成工程(3)(本焼成)は全て熱エネ
ルギーにより行われていた(特許文献1参照)。
また、金属酸化物(超電導を示さない)を作製するにあたり、金属有機酸塩ないし有機金
属化合物M m R n (ただしM=Si、Ge、Sn、Pbの4b族元素、Cr、Mo、Wの6a族元素、Mn、Tc、Reの7a族元素:R=CH、CH、CH、CHなどのアルキル基、あるいはCHCOO−、CHCOO−、CHCOO−、CHCOO−などのカルボキシル基、あるいはCOのカルボニル基:m、nは整数)を可溶性溶媒に溶かし、あるいは液体のものはそのまま、当該溶液を基板上に分散塗布した後、酸素雰囲気下でエキシマレーザを照射することを特徴とする、エキシマレーザによる金属酸化物および金属酸化物薄膜の製造方法は知られている(特許文献2)。
さらに、従来塗布熱分解法として知られているような高温下で熱処理することなく、基板
上に金属酸化物(超電導を示さない)を製造する方法であり、金属有機化合物(金属有機
酸塩、金属アセチルアセトナト、炭素数6以上の有機基を有する金属アルコキシド)を溶
媒に溶解させて溶液状とし、これを基板に塗布した後に、乾燥させ、波長400nm以下のレ
ーザ光を照射することにより基板上に金属酸化物を形成することを特徴とする金属酸化物
の製造方法が知られている(特許文献3)。
ここでは、金属有機化合物を溶媒に溶解させて溶液状とし、これを基板に塗布した後に、
乾燥させ、波長400nm以下のレーザ光、例えば、ArF、KrF、XeCl、XeF、F2から選ばれるエキシマレーザを用いて照射することにより基板上に金属酸化物を形成することを特徴とする金属酸化物の製造方法が記載され、波長400nm以下のレーザ光の照射を、複数段階で行い、最初の段階の照射は金属有機化合物を完全に分解させるに至らない程度の弱い照射で行い、次に酸化物にまで変化させることができる強い照射を行うことも記載されている。
また、金属有機化合物が異なる金属からなる2種以上の化合物であり、得られる金属酸化
物が異なる金属からなる複合金属酸化物であって、金属有機酸塩の金属が、鉄、インジウ
ム、錫、ジルコニウム、コバルト、ニッケル、鉛から成る群から選ばれるものであること
も知られている。
またさらに、La、MnおよびCa、SrもしくはBaの各酸化物の原料成分を含む前駆体塗布液を被塗布物の表面に塗布して成膜した後、被塗布物表面に形成された薄膜を結晶化させて、組成式(La1−xM)MnO−δ(M:Ca、Sr、Ba、0.09≦x≦0.50)で表されるペロブスカイト型構造を有する複合酸化物膜(超電導を示さない)を形成する複合酸化物膜の製造方法において、前記前駆体塗布液を被塗布物の表面に塗布して成膜した後、被酸化物表面に形成された薄膜に対し波長が360nm以下である光を照射して薄膜を結晶化させることを特徴とする複合酸化物膜の製造方法が知られている(特許文献4参照)。
ここでは、被塗布物の表面に形成された薄膜に対して光を照射する光源として、ArFエ
キシマレーザ、KrFエキシマレーザ、XeClエキシマレーザ、XeFエキシマレーザ、YAGレーザの3倍波光またはYAGレーザの4倍波光を用い、被塗布物の表面に塗布される前駆体塗布液を、Laのアルカノールアミン配位化合物と、Mnのカルボン酸塩と、Mの金属またはアルコキシドとを、炭素数が1〜4である一級アルコール中で混合させ反応させて調製することが記載されている。
本発明者は、従来の超電導性材料の製造方法においては、金属有機化合物の熱分解および
超電導物質の熱処理形成を行う場合、多くの時間を要し、配向性の制御が困難であり、し
かも、実用支持体との反応が起こるため均一性が低下する事実に直面し、これを打開すべ
く、金属有機化合物の熱分解および超電導物質の熱処理形成を行うに際して、効率よく、
性能が高い超電導性材料の製造方法を見出し、既に特許出願している(特許文献5参照)

すなわち、酸化物が超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を支持体上に塗布し、乾
燥させる工程(1)と金属の有機化合物中の有機成分を熱分解させる仮焼成工程(2)の間に、
レーザ光を照射することを特徴とする超電導材料の製造方法である。
しかし、この発明による製造方法により、得られる超電導材料は、製造効率が良く、大量
生産に適し、超電導特性についても優れたものではあるが、膜厚約100nmのYBa2Cu3O7(YBCO)膜について言えば、せいぜい臨界電流密度の上限は、Jc=2.0MA/cm2程度のものであった。また、この発明においては、もっぱら、基板に超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面のみをレーザ光で単に照射していた。
特公平07−106905号公報 特許2759125号明細書 特開2001−31417号公報 特開2000−256862号公報 特願2006−185934号
従来の超電導材料の製造方法においては、金属有機化合物の熱分解および超電導物質の
熱処理形成を行う場合、多くの時間を要し、配向性の制御が困難であり、実用支持体との
反応が起こるため得られる超電導材料の均一性が低下していた。本発明は、金属有機化合
物の熱分解および超電導物質の熱処理形成を行うに際して、アブレーション等を起こすこ
となく効率よく、特性のより優れた大面積の超電導材料の製造方法を提供する。
上記目的を達成するために本発明は超電導材料の製造において、図1に示すように塗布熱分解法における熱処理過程の一部をレーザ光照射で置き換える。すなわち、本発明は、酸化物が超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を支持体上に塗布し、乾燥させる工程(1)、金属の有機化合物中の有機成分を熱分解させるための仮焼成工程(2)、超電導物質への変換を行う本焼成工程(3)を経てエピタキシャル成長させた超電導コーティング材料を製造する方法において、工程(1)と工程(2)の間で超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面にレーザ光を照射するに際し、レーザ光の強度Fを下記(条件1)の範囲内の任意の値に固定し、パルス数Pを下記(条件2)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、次に、パルス数Pを下記(条件2)の範囲内の任意の値に固定し、レーザ光の強度Fを(条件1)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、(条件1)5mJ/cm 2 ≦レーザ光の強度F≦50mJ/cm 2 (条件2)1≦パルス数P≦17800000そして、製造された複数のコーティング材料のそれぞれについて、アブレーションを起こしているか否かを調査し、アブレーションを起こしていないときには、そのコーティング材料の臨界電流密度Jcを測定して、製造された多数のコーティング材料についてのデータを収集し、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のパルス数Pの値と、パルス数Pの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のレーザ光の強度Fの値とを用いて、下記(条件4)におけるK とK の値を算出し、(条件4)log 10 P=K F+K そのK の値と、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、アブレーションを起こした最小のパルス数Pの値とを用いて、下記(条件5)におけるK の値を算出し、 (条件5) log 10 P=K F+K 算出したK とK とK の値から、(条件1)と(条件2)と(条件4)と(条件5)で囲まれる照射条件エリアを決定し、その照射条件エリアから、トータルエネルギー量の最小値と最大値とを計算して下記(条件3)とし、(条件3)0.03J/cm 2 ≦トータルエネルギー量≦89000J/cm 2 レーザ光の照射条件を(条件1)と(条件2)と(条件4)と(条件5)で囲まれる照射条件エリア内であって、(条件3)を満たす条件に設定することからなる超電導コーティング材料の製造方法である。 また、本発明は、酸化物が超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を支持体上に塗布し、乾燥させる工程(1)、金属の有機化合物中の有機成分を熱分解させるための仮焼成工程(2)、超電導物質への変換を行う本焼成工程(3)を経てエピタキシャル成長させた超電導コーティング材料を製造する方法において、工程(1)と工程(2)の間で超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面と反対側の面にレーザ光を照射するに際し、基板定数を実験的に決定し、レーザ光の強度Fを下記(条件1´)の範囲内の任意の値に固定し、パルス数Pを下記(条件2´)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、次に、パルス数Pを(条件2´)の範囲内の任意の値に固定し、レーザ光の強度Fを(条件1´)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、(条件1´)5mJ/cm 2 ≦レーザ光の強度F≦200mJ/cm 2 (条件2´)1≦パルス数P≦198000000そして、製造された複数のコーティング材料のそれぞれについて、アブレーションを起こしているか否かを調査し、アブレーションを起こしていないときには、そのコーティング材料の臨界電流密度Jcを測定して、製造された多数のコーティング材料についてのデータを収集し、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のパルス数Pの値と、パルス数Pの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のレーザ光の強度Fの値とを用いて、下記(条件4)におけるK とK の値を算出し、(条件4)log 10 P=K F+K そのK の値と、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、アブレーションを起こした最小のパルス数Pの値とを用いて、下記(条件5)におけるK の値を算出し、算出したK とK とK の値から、(条件1´)と(条件2´)と(条件4)と下記(条件5)で囲まれる照射条件エリアを決定し、(条件5)log 10 P=K F+K その照射条件エリアから、トータルエネルギー量の最小値と最大値とを計算して(条件3´)とし、(条件3´)(0.03J/cm 2 ×基板定数)≦トータルエネルギー量≦(89000J/cm 2 ×基板定数)レーザ光の照射条件を(条件1´)と(条件2´)と(条件4)と(条件5)で囲まれる照射条件エリア内であって、(条件3´)を満たす条件に設定することからなる超電導コーティング材料の製造方法である。
また、本発明においては、支持体を、ランタンアルミネート(LaAlO3)、チタン酸スト
ロンチウム(SrTiO3)、酸化ランタンストロンチウムタンタルアルミニウム((LaxSr1-x
)(AlxTa1-x)O3)、ネオジムガレート(NdGaO3)あるいはイットリウムアルミネート(YAlO3
)から選ばれる1種の単結晶基板とすることができる。これらの単結晶基板は、基板上に
超電導材料が良好にエピタキシャル成長出来る様に、超電導材料の格子定数と類似の格子
定数を持つ基板が選択される。
さらに本発明においては支持体を、酸化アルミニウム(Al2O3)、イットリア安定化ジルコ
ニア((Zr,Y)O2, YSZ)、酸化マグネシウム(MgO)、ランタンアルミネート(LaAlO3)、
チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)、酸化ランタンストロンチウムタンタルアルミニウム
((LaxSr1-x)(Al x Ta 1-x )O 3 )、ネオジムガレート(NdGaO3)あるいはイットリウムアルミ
ネート(YAlO3)から選ばれる1種の単結晶基板上に、酸化セリウム(CeO2)中間層を形成し
た基板とすることができる。この中間層は、中間層上に超電導材料が良好にエピタキシャ
ル成長出来る様に、超電導材料の格子定数と類似の格子定数を持つ中間層が選択される。
また本発明においては酸化物が超電導物質を形成する金属を、RE(REはYおよび希土
類元素)、およびAE(AEはアルカリ土類金属)それぞれから選ばれる1種以上および
Cuとすることができる。
さらに本発明は、金属の有機化合物を、β−ジケトナト、アルコキシド、ハロゲンを含
んでも良い有機酸塩から選ばれる1種以上とすることができる。
また本発明において、レーザ光の照射を、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を
塗布した面の反対側の面から行う場合、支持体が、ランタンアルミネート(LaAlO3)、あ
るいはイットリウムアルミネート(YAlO3)から選ばれる1種の単結晶基板であることが望
ましい。これらの単結晶基板は、基板上に超電導材料が良好にエピタキシャル成長出来る
様に、超電導材料の格子定数と類似の格子定数を持ちレーザ光の減衰率が低い基板を選択
することが望ましい。
さらに本発明において、レーザ光の照射を、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液
を塗布した面の反対側の面から行う場合、支持体が、酸化アルミニウム(Al2O3)、酸化マ
グネシウム(MgO)、から選ばれる1種の単結晶基板上に、酸化セリウム(CeO2)中間層を
形成した基板であることが望ましい。この中間層は、中間層上に超電導材料が良好にエピ
タキシャル成長出来る様に、超電導材料の格子定数と類似の格子定数を持つ中間層が選択
される。またこの中間層とこれらの単結晶基板はレーザ光の減衰率が低いものを選択する
ことが望ましい。
さらにまた本発明は、レーザ光の照射を、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面の反対側の面から行う場合、酸化物が超電導物質を形成する金属が、RE(R
EはYおよび希土類元素)、およびAE(AEはアルカリ土類金属)それぞれから選ばれ
る1種以上およびCuであることが望ましい。ここでは、金属の有機化合物がβ−ジケトナ
ト、アルコキシド、ハロゲンを含んでも良い有機酸塩から選ばれる1種以上を選択するこ
とが望ましい。
本発明の超電導材料の製造方法は、log10P=KF+Kとlog10P=K
F+Kにより、2つの直線式が同じ傾斜を有していることが判明した結果、アブレーシ
ョンが起きる範囲を容易に予測できるので、最適条件を容易に見出すことが出来、製造効
率が良く、大量生産に適し、しかも超電導特性が大幅に改善された大面積の超電導材料を
得ることができる。
本発明の典型的な例を図1に示す。超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を支持
体上に塗布し、乾燥工程と仮焼成工程の間で、レーザ光を照射する際に、超電導物質を形
成する金属の有機化合物溶液を塗布した面にレーザ光を照射し、レーザ光の強度、パルス
数、トータルエネルギー量(=レーザ光の強度×パルス数×基板定数;基板定数は支持体
による。塗布した面にレーザ光を照射する場合基板定数=1)を特定の範囲にすることを
特徴とする超電導材料の製造方法である。
超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面にレーザ光を照射する場合は、
5mJ/cm2≦レーザ光の強度≦50mJ/cm2
1≦ パルス数 ≦17800000
(0.03J/cm2×基板定数)≦トータルエネルギー量≦(89000J/cm2×基板定数)
かつ、次式の直線
log10P=KF+K
log10P=KF+K
(式中、Kは、初めて超電導物質への変換が起きる任意のPに対応するF点と、初めて
超電導物質への変換が起きる任意のFに対応するP点を結んだ傾斜であり、Kは、初め
超電導物質への変換が起きるF=5でのP点の値を傾斜Kに沿って外挿したF=0に
おけるP点の対数値であり、Kは、初めてアブレーションが起きるF=5でのP点の値
を傾斜Kに沿って外挿したF=0におけるP点の対数値であり、K>Kである。)
で囲まれた条件で行うと、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜がア
ブレーションにより消失することがない。
実施例1〜23、参考例1〜6においては、図6に示すとおり、
直線式は、
log10P=−0.13F+3.9
log10P=−0.13F+7.9
が得られた。
また、本発明において、基板定数とは、支持体の材質と厚さにより決定される1以上の
数であり、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面にレーザ光を照射す
る場合を1として、基板に金属の有機化合物溶液を塗布した面の反対側の面からレーザ光
を照射した場合、塗布した面と同じ効果が得られるトータルエネルギー量の倍数に相当す
る。
また、本発明の典型的な例を図2に示す。超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を
塗布した面の反対側の面にレーザ光を照射する場合は、
5mJ/cm2≦レーザ光の強度F≦200mJ/cm2
1≦ パルス数P≦198000000
(0.03J/cm2×基板定数)≦トータルエネルギー量≦(89000J/cm2×基板定数)
かつ、次式の直線
log10P=KF+K
log10P=KF+K
(式中、Kは、初めて超電導物質への変換が起きる任意のPに対応するF点と、初めて
超電導物質への変換が起きる任意のFに対応するP点を結んだ傾斜であり、Kは、初めて超電導物質への変換が起きるF=5でのP点の値を傾斜Kに沿って外挿したF=0に
おけるP点の対数値であり、Kは、初めてアブレーションが起きるF=5でのP点の値
を傾斜Kに沿って外挿したF=0におけるP点の対数値であり、K>Kである。)
で囲まれた条件で行うと、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜がア
ブレーションにより消失することがない。
超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面の反対側の面にレーザ光を照射
する場合は、基板定数は1より大きい数字になる。
例えば、レーザ光がKrFエキシマレーザであり、支持体が市販の酸化アルミニウム(Al2O3)
単結晶(サファイア)R面基板(厚さ0.5mm、片面研磨)に酸化セリウム(CeO2)中間層を
形成した基板で有る場合、基板定数は12であり、トータルエネルギー量は以下の範囲であ
り、なおかつ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜がアブレーション
により消失することがない。
0.36J/cm2≦トータルエネルギー量≦ 1068000J/cm2
実施例24〜41、参考例7〜12においては、図7に示すとおり、
直線式は、
log10P=−0.030F+4.1
log10P=−0.030F+8.3
が得られた。
またレーザ光がKrFエキシマレーザであり、支持体がランタンアルミネート(LaAlO 3
の単結晶基板(厚さ0.5mm、片面研磨)である場合、基板定数は約18.8であり、トータル
エネルギー量は以下の範囲であり、なおかつ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液
を塗布した膜がアブレーションにより消失することがない。
0.6J/cm2≦トータルエネルギー量≦1673000J/cm2
実施例42〜59、参考例13〜18においては、図8に示すとおり、
直線式は、
log10P=−0.0087F+2.22
log10P=−0.0087F+8.34
が得られた。
本発明では、以上の範囲で有機化合物をレーザ光により照射することにより、有機化合物
の分子結合を切断する効果が確認されており、高い超電導特性を有する超電導材料の製造
に極めて有効であることを初めて見出したものである。なお超電導特性は臨界電流密度Jc
で評価される。臨界電流密度とは、単位断面積1[cm2]当たりの超電導体に抵抗ゼロで流す
ことのできる最大の電流値と定義される。この値が高いほど抵抗ゼロで大電流を流せるの
で、超電導薄膜の実用上、最も重要な超電導特性である。
例えば金属の有機化合物溶液を基板にスピンコートし、溶媒除去のため恒温槽中130℃で
乾燥後、レーザチャンバー内の試料ホルダーに試料を装着し、大気中で室温または雰囲気
および温度を制御しながら塗布面にレーザ光をスキャンさせて照射する。
本発明の焼成プロセスは、乾燥工程、仮焼成工程、本焼成初期工程の各段階に大別され、
場合により種々各工程の条件は異なるが、典型的な一例としての温度プロファイルを図
3に示す。
金属有機化合物を塗布し乾燥させた膜に対してレーザ光をスキャンさせて照射し、さら
にレーザ光照射膜に対して適切な熱処理を施すことにより例えばYBCO膜を作製した場合について述べると次の効果が確認されている。
すなわちYBCOを生成する金属有機化合物の溶液を支持体上に塗布乾燥させる工程(1)後
、金属の有機化合物中の有機成分を熱分解させる仮焼成工程(2)の前段階においてレーザ
光を一方向にスキャンさせて照射することにより、低温で有機成分の分解が促進される。
従来の塗布熱分解法では、YBCO原料金属有機化合物の熱分解反応に要する時間が長いことが知られているが、本発明の超電導材料の製造方法は、熱分解反応プロセス時間の短縮化ができる。
エキシマレーザによるYBCO原料溶液塗布膜の分解反応の経時変化をフーリエ変換赤外分光法により測定した。
その結果を図4に示す。照射前に顕著に見られた3000cm-1付近のC-H振動の吸収ピーク
がKrFエキシマレーザによる17mJ/cm2、100Hz、オーバーラップ率99%、パルス数30000の一方向スキャン照射により消失しており、レーザ光のスキャン照射が金属有機化合物の分解に有効であることが示されている。
次に本発明の具体例を示し、さらに詳しく説明するが、本発明はこれら実施例に限定さ
れるものではない。
本発明の実施例で使用した基板、原料溶液は下記の様である。スキャン照射に用いたレ
ーザ光は下記の様である。
(1)基板
(K1)市販のランタンアルミネート(LaAlO3)(100)基板
(K2)市販のチタン酸ストロンチウム(SrTiO3)(100)基板
(K3)市販の酸化ランタンストロンチウムタンタルアルミニウム
((LaxSr1-x)(AlxTa1-x)O3)(100)基板
(K4)市販のネオジムガレート(NdGaO3)(110)基板
(K5)市販のイットリウムアルミネート(YAlO3)(110)基板
(KC1)市販の酸化アルミニウム(Al2O3)単結晶(サファイア)R面基板に酸化セリウ
ム(CeO 2 )中間層を形成した基板
(KC2)市販のイットリア安定化ジルコニア((Zr,Y)O2, YSZ)(100)にCeO2中間層を形成
した基板
(KC3)市販の酸化マグネシウム(MgO)(100) 基板にCeO2中間層を形成した基板
(KC4)市販のLaAlO3(100)基板にCeO2中間層を形成した基板
(KC5)市販のSrTiO3(100)基板にCeO2中間層を形成した基板
(KC6)市販の((LaxSr1-x)(AlxTa1-x)O3(100)基板にCeO2中間層を形成した基板
(KC7)市販のNdGaO3(110)基板にCeO2中間層を形成した基板
(KC8)市販のYAlO3(110)基板にCeO2中間層を形成した基板
なお、中間層は、周知の層形成手段例えば蒸着、スパッタ、パルスレーザ蒸着、塗布熱分
解法、塗布光分解法、ゾルゲル法等を利用して形成させることができる。
(2)塗布溶液
(Y1)モル比1:2:3のY,Ba,Cuのアセチルアセトナトをピリジンとプロピオン酸の
混合液に溶解し、真空エバポレータを用いて約80℃で溶媒の大部分を除去した後メタノ
ールに再溶解した溶液。
(YC1)Y1でモル比1:2:3のY,Ba,Cuのアセチルアセトナトの代わりにモル比0
.95:0.05:2:3のY,Ca,Ba,Cuのアセチルアセトナトとして調製した溶液。
(Y2)Y,Ba,Cuのナフテン酸塩のトルエン溶液をモル比1:2:3で混合した溶液。
(Y3)Y,Ba,Cuの2−エチルヘキサン酸塩のトルエン溶液をモル比1:2:3で混合し
た溶液。
(Y4)Y1でプロピオン酸の代わりにトリフルオロ酢酸として調製した溶液。
(Y5)Y,Ba,Cuのトリフルオロ酢酸塩のメタノール溶液をモル比1:2:3で混合した
溶液。
(D1)Y1でY−アセチルアセトナトの代わりにDy−アセチルアセトナトとして調製し
た溶液。
(E1)Y1でY−アセチルアセトナトの代わりにEr−アセチルアセトナトとして調製し
た溶液。
(3)レーザ光
(H1)KrFエキシマレーザ
(H2)XeClエキシマレーザ
(H3)ArFエキシマレーザ
塗布溶液Y1を基板KC1に4000rpm、10秒間でスピンコートし、溶媒除去のため恒温
槽中130℃で乾燥後、室温でレーザ光H1を塗布面に照射した。この際にはレーザ光の強
度が16.4mJ/cm2のレーザ光を一方向にスキャンさせながらそれぞれパルス数10000、20000、30000、40000照射した。
他の照射条件は下記のとおりであった。
室温、大気中
周波数 :100Hz
オーバーラップ率:99%

次に、このレーザ照射した試料を、あらかじめ500℃に保ったマッフル炉中に挿入し、3
0分間この温度に保って取り出す。ついで石英製管状炉中で以下の条件で本焼成を行う。
まず、酸素分圧を100ppmに調整したアルゴンと酸素の混合ガス流中で昇温速度毎分約16℃で770℃まで昇温し、この温度に45分間保ち、ガスを純酸素に切り替えてさらに30分間保った後、徐冷する。これらの工程における温度プロファイルを図5に示す。このようにして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について表1に示すJcが得られた。
Figure 0005327932
特にパルス数30000の場合、トータルエネルギー量492J/cm2であり、誘導法によるJc=6.4MA/cm2と良好な特性を示した。これは実用レベルとされる2.0〜3.0MA/cm2を大幅に上回る値であった。パルス数増加と共にJcが増加する傾向が見られた。
レーザ照射後の塗布膜表面を光学顕微鏡で観察した結果、10μm程度の菱状クラックが見
られた。
比較のため、実施例1においてレーザ照射を行わない他は同様にして作製した膜厚約100n
mのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
実施例1においてレーザ光の強度を11mJ/cm2、パルス数を500、トータルエネルギー量5.5J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=1.1MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を6mJ/cm2、パルス数を100000、トータルエネルギー
量600J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.8MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を7mJ/cm2、パルス数を9500000、トータルエネルギー量66500J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=5.5MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を25mJ/cm2、パルス数を10、トータルエネルギー量0.25J/cm2、オーバーラップ率90%とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.5MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を30mJ/cm2、パルス数を300、トータルエネルギー量9J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=1.5MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を26mJ/cm2、パルス数を20000、トータルエネルギー
量520J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.8MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を48mJ/cm2、パルス数を2、トータルエネルギー量0.1
0J/cm2、オーバーラップ率50%とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=1MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を45mJ/cm2、パルス数を10、トータルエネルギー量0.45J/cm2、オーバーラップ率90%とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=1.2MA/cm2であった。
実施例1においてレーザ光の強度を43mJ/cm2、パルス数を100、トータルエネルギー量4.3J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=1MA/cm2であった。
(参考例1)
実施例1においてレーザ光の強度を7mJ/cm2、パルス数を500とし、トータルエネルギー量3.5J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例2)
実施例1においてレーザ光の強度を15mJ/cm2、パルス数を50、オーバーラップ率98%、トータルエネルギー量0.75J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例3)
実施例1においてレーザ光の強度を25mJ/cm2、パルス数を2、オーバーラップ率50%、ト
ータルエネルギー量0.05J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例4)
実施例1においてレーザ光の強度を10mJ/cm2、パルス数を4000000、トータルエネルギー
量40000J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
(参考例5)
実施例1においてレーザ光の強度を35mJ/cm2、パルス数を10000、トータルエネルギー量350J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶
液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
(参考例6)
実施例1においてレーザ光の強度を45mJ/cm2、パルス数を300、トータルエネルギー量13.5J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
実施例1において塗布溶液をYC1、レーザ光の強度を10mJ/cm2、パルス数を2000、トータルエネルギー量20J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのY 0.95 Ca 0.05 Ba 2 Cu 3 O 7 膜について、誘導法によるJc=1MA/cm2であった。
実施例1において塗布溶液をY2、基板をK2、レーザ光の強度を15mJ/cm2、パルス数
を5000、トータルエネルギー量75J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=3.1MA/cm2であった。
実施例1において塗布溶液をY3、基板をK3、レーザ光の強度を10mJ/cm2、パルス数
を100000、トータルエネルギー量1000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=3.2MA/cm2であった。
実施例1において塗布溶液をY4、基板をK4、レーザ光の強度を15mJ/cm2、パルス数
を10000、トータルエネルギー量150J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=2.2MA/cm2であった。
実施例1において塗布溶液をY5、基板をK5、レーザ光の強度を20mJ/cm2、パルス数
を100、トータルエネルギー量2J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=1.2MA/cm2であった。
実施例1において塗布溶液をD1、基板をKC2、レーザ光の強度を20mJ/cm2、パルス
数を2000、トータルエネルギー量40J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのDyBa2Cu3O7膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cm2であった。
実施例1において塗布溶液をE1、基板をKC3、レーザ光の強度を25mJ/cm2、パルス
数を3000、トータルエネルギー量75J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのErBa 2 Cu 3 O 7 膜について、誘導法によるJc=1.0MA/cm2であった。
実施例1において基板をKC4、レーザ光をH2、レーザ光の強度を20mJ/cm2、パルス
数を20000、トータルエネルギー量400J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=4.2MA/cm2であった。
実施例1において基板をKC5、レーザ光をH3、レーザ光の強度を30mJ/cm2、パルス
数を3000、トータルエネルギー量90J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=3.2MA/cm2であった。
実施例1において基板をKC6、レーザ光の強度を35mJ/cm2、パルス数を100、トータ
ルエネルギー量3.5J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cm2であった。
実施例1において基板をKC7、レーザ光の強度を35mJ/cm2、パルス数を1000、トータルエネルギー量35J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=4.0MA/cm2であった。
実施例1において基板をKC8、レーザ光の強度を30mJ/cm2、パルス数を1000、トータルエネルギー量30J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=3.0MA/cm2であった。
上記実施例1から実施例23により図6の照射条件エリアでは良好なJcが得られることが
わかった。
図6の照射条件エリアでのトータルエネルギー量を計算すると、下記の不等式の範囲で
あった。
0.03J/cm2≦トータルエネルギー量≦89000J/cm2
塗布溶液Y1を基板KC1に4000rpm、10秒間でスピンコートし、溶媒除去のため恒温
槽中130℃で乾燥後、室温でレーザ光H1を縦方向にスキャンさせて照射した。ただし、
超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面の反対側の面からレーザ光H1を照射した。基板KC1の基板定数は12.0であった。
照射条件は下記のとおりであった。
室温、大気中
塗布面の反対側の面からレーザ光H1を照射
レーザ光の強度 :74mJ/cm2
周波数 :100Hz
オーバーラップ率 :99%
パルス数 :30000
トータルエネルギー量:20J/cm2
次に、このレーザ照射した試料を、あらかじめ500℃に保ったマッフル炉中に挿入し、3
0分間この温度に保って取り出す。ついで石英製管状炉中で以下の条件で本焼成を行う。
まず、酸素分圧を100ppmに調整したアルゴンと酸素の混合ガス流中で昇温速度毎分約16℃で770℃まで昇温し、この温度に45分間保ち、ガスを純酸素に切り替えてさらに30分間保った後、徐冷する。これらの工程における温度プロファイルを図5に示す。このようにして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について誘導法による臨界電流密度Jc=7.6MA/cm2が得られた。これは実用レベルとされる2.0〜3.0MA/cm2を大幅に上回る良好な値であった。
レーザ照射後の塗布膜表面を光学顕微鏡で観察した結果、10μm程度の菱状クラックが見
られた。菱状クラックの生成要因としては、紫外線レーザの照射により塗布膜を構成する
有機化合物(YBCO構成金属元素のアセチルアセトナト塩、残存溶媒であるピリジン、メタノール、プロピオン酸)の分子内結合が開裂し、大気中の酸素との反応により生成する低分子化合物(H2O、CO、CO等)がレーザ加熱により膨張・噴出したことによるものと考えられた。
実施例24においてレーザ照射を行わない他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
実施例24においてレーザ光の強度を10mJ/cm2、パルス数を10000、トータルエネルギー量100J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を7mJ/cm2、パルス数を1000000、トータルエネルギー量7000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=7.1MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を10mJ/cm2、パルス数を50000000、トータルエネルギー量500000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.2MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を60mJ/cm2、パルス数を400、トータルエネルギー量24J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を65mJ/cm2、パルス数を30000、トータルエネルギー量1950J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.9MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を70mJ/cm2、パルス数を500000、トータルエネルギー量35000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=4.8MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を110mJ/cm2、パルス数を100、トータルエネルギー量11J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を3000、トータルエネルギー量300J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.7MA/cm2が得られた。
実施例24においてレーザ光の強度を110mJ/cm2、パルス数を40000、トータルエネルギー量4400J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.5MA/cm2が得られた。
(参考例7)
実施例24においてレーザ光の強度を10mJ/cm2、パルス数を1000、トータルエネルギー量10J/cm 2 とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例8)
実施例24においてレーザ光の強度を50mJ/cm2、パルス数を100、トータルエネルギー量5J/cm 2 とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例9)
実施例24においてレーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を2、オーバーラップ率50%、トータルエネルギー量0.2J/cm 2 とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例10)
実施例24においてレーザ光の強度を20mJ/cm2、パルス数を100000000、トータルエネルギー量2000000J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
(参考例11)
実施例24においてレーザ光の強度を70mJ/cm2、パルス数を10000000、トータルエネルギー量700000J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
(参考例12)
実施例24においてレーザ光の強度を110mJ/cm2、パルス数を300000、トータルエネルギー量33000J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
実施例24において塗布溶液をYC1、レーザ光の強度を40mJ/cm2、パルス数を10000、
トータルエネルギー量400J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのY 0.95 Ca 0.05 Ba 2 Cu 3 O 7 膜について、誘導法によるJc=2MA/cm2であった。
実施例24において塗布溶液をY2、レーザ光の強度を40mJ/cm2、パルス数を100000、トータルエネルギー量4000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6MA/cm2であった。
実施例24において塗布溶液をY3、レーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を100、トータルエネルギー量10J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cm2であった。
実施例24において塗布溶液をY4、レーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を30000、トータルエネルギー量3000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.7MA/cm2であった。
実施例24において塗布溶液をY5、レーザ光の強度を80mJ/cm2、パルス数を10000、トータルエネルギー量800J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=4.0MA/cm2であった。
実施例24において塗布溶液をD1、レーザ光の強度を80mJ/cm2、パルス数を50000、トータルエネルギー量4000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのDyBa2Cu3O7膜について、誘導法によるJc=1.5MA/cm2であった。
実施例24において塗布溶液をE1、レーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を10000、トータルエネルギー量1000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのErBa2Cu3O7膜について、誘導法によるJc=1.0MA/cm2であった。
上記実施例24から実施例41により図7の照射条件エリアでは良好なJcが得られることが
わかった。
図7の照射条件エリアでのトータルエネルギー量を計算すると、下記の不等式の範囲で
あった。
0.36J/cm 2 ≦トータルエネルギー量≦1068000J/cm 2
塗布溶液Y1を基板K1に4000rpm、10秒間でスピンコートし、溶媒除去のため恒温
槽中130℃で乾燥後、室温でレーザ光H1を縦方向にスキャンさせて照射した。ただし、
超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面の反対側の面からレーザ光H1
を照射した。基板K1の基板定数は18.8であった。
照射条件は下記のとおりであった。
室温、大気中
塗布面の反対側の面からレーザ光H1を照射
レーザ光の強度 :80mJ/cm
周波数 :100Hz
オーバーラップ率 :99%
パルス数 :50000
トータルエネルギー量:4000J/cm2
次に、このレーザ照射した試料を、あらかじめ500℃に保ったマッフル炉中に挿入し、3
0分間この温度に保って取り出す。ついで石英製管状炉中で以下の条件で本焼成を行う。
まず、酸素分圧を100ppmに調整したアルゴンと酸素の混合ガス流中で昇温速度毎分約16℃で770℃まで昇温し、この温度に45分間保ち、ガスを純酸素に切り替えてさらに30分間保った後、徐冷する。これらの工程における温度プロファイルを図5に示す。このようにして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について誘導法による臨界電流密度Jc=8.2MA/cmが得られた。これは実用レベルとされる2.0〜3.0MA/cmを大幅に上回る良好な値であった。
レーザ照射後の塗布膜表面を光学顕微鏡で観察した結果、10μm程度の菱状クラックが見
られた。菱状クラックの生成要因としては、紫外線レーザの照射により塗布膜を構成する
有機化合物(YBCO構成金属元素のアセチルアセトナト塩、残存溶媒であるピリジン、メタノール、プロピオン酸)の分子内結合が開裂し、大気中の酸素との反応により生成する低分子化合物(H2O、CO、CO等)がレーザ加熱により膨張・噴出したことによるものと考えられた。
実施例42においてレーザ照射を行わない他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm)以下であった。
実施例42においてレーザ光の強度を10mJ/cm、パルス数を1000、トータルエネルギー量10J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を10mJ/cm、パルス数を100000、トータルエネルギー量1000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.1MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を20mJ/cm、パルス数を80000000、トータルエネルギー量1600000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=3.4MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を90mJ/cm、パルス数を100、トータルエネルギー量9J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.8MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を90mJ/cm、パルス数を10000000、トータルエネルギー量900000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=4.8MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を180mJ/cm、パルス数を100、トータルエネルギー量18J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=0.9MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を170mJ/cm、パルス数を50000、トータルエネルギー量8500J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=7.4MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を180mJ/cm、パルス数を1000000、トータルエネルギー量180000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=5.2MA/cmが得られた。
実施例42においてレーザ光の強度を100mJ/cm、パルス数を30000、トータルエネルギー量3000J/cm2にした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=6.0MA/cmが得られた。
(参考例13)
実施例42においてレーザ光の強度を10mJ/cm2、パルス数を100、トータルエネルギー量1.0J/cm 2 とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例14)
実施例42においてレーザ光の強度を70mJ/cm2、パルス数を20、オーバーラップ率を90%、
トータルエネルギー量1.4J/cm 2 とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例15)
実施例42においてレーザ光の強度を180mJ/cm2、パルス数を2、オーバーラップ率50%、トータルエネルギー量0.36J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJcは測定限界(0.1MA/cm2)以下であった。
(参考例16)
実施例42においてレーザ光の強度を30mJ/cm2、パルス数を300000000、トータルエネルギー量9000000J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
(参考例17)
実施例42においてレーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を60000000、トータルエネルギー量6000000J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
(参考例18)
実施例42においてレーザ光の強度を170mJ/cm2、パルス数を20000000、トータルエネルギー量3400000J/cm2とした他は同様にして作製したところ超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した膜はアブレーションにより消失し、YBCO膜は得られなかった。
実施例42において塗布溶液をYC1、レーザ光の強度を40mJ/cm2、パルス数を30000とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのY 0.95 Ca 0.05 Ba 2 Cu 3 O 7 膜について、誘導法によるJc=3MA/cm2であった。
実施例42において塗布溶液をY2、レーザ光の強度を50mJ/cm2、パルス数を30000、トータルエネルギー量1500J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=3.4MA/cm2であった。
実施例42において塗布溶液をY3、レーザ光の強度を70mJ/cm2、パルス数を100000、トータルエネルギー量7000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=3.5MA/cm2であった。
実施例42において塗布溶液をY4、レーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を10000、トータルエネルギー量1000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=1.5MA/cm2であった。
実施例42において塗布溶液をY5、レーザ光の強度を100mJ/cm2、パルス数を200000、
トータルエネルギー量20000J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのYBCO膜について、誘導法によるJc=4.0MA/cm2であった。
実施例42において塗布溶液をD1、レーザ光の強度を150mJ/cm2、パルス数を10000、トータルエネルギー量1500J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのDyBa2Cu3O7膜について、誘導法によるJc=1.0MA/cm2であった。
実施例42において塗布溶液をE1、レーザ光の強度を150mJ/cm2、パルス数を30000、トータルエネルギー量4500J/cm2とした他は同様にして作製した膜厚約100nmのErBa 2 Cu 3 O 7 膜について、誘導法によるJc=1.4MA/cm2であった。
上記実施例42から実施例59により図8の照射条件エリアでは良好なJcが得られることが
わかった。
図8の照射条件エリアでのトータルエネルギー量を計算すると、下記の不等式の範囲で
あった。
0.6 J/cm2≦トータルエネルギー量≦1673000J/cm2
本発明の超電導材料の製造方法は、製造効率が良く、大量生産に適し、しかも超電導特
性が優れた大面積の超電導性材料を得ることができるので、超電導材料の実用化にとって
重要な技術的意味を有するものであり、産業上の利用可能性が高いものである。
本発明による超電導膜の製造プロセス概略図。(塗布した面にレーザ光を照射する場合) 本発明による超電導膜の製造プロセス概略図。(塗布した面の反対側の面からレーザ光を照射する場合) 本発明の塗布乾燥工程後における焼成プロセス温度のプロファイル例。 塗布乾燥工程後におけるレーザ照射膜の赤外分光分析結果図。 塗布乾燥工程後におけるレーザ照射工程および焼成プロセス温度のプロファイル図。 溶液を塗布した面にレーザ光を照射する際の照射条件エリア。 溶液を塗布した面の反対側の面からレーザ光を照射する際の照射条件エリア。基板KC1(サファイアR面基板に酸化セリウム中間層を形成した基板)。 溶液を塗布した面の反対側の面からレーザ光を照射する際の照射条件エリア。基板K1(ランタンアルミネート(100)基板)。

Claims (10)

  1. 酸化物が超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を支持体上に塗布し、乾燥させる工程(1)、金属の有機化合物中の有機成分を熱分解させるための仮焼成工程(2)、超電導物質への変換を行う本焼成工程(3)を経てエピタキシャル成長させた超電導コーティング材料を製造する方法において、工程(1)と工程(2)の間で超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面にレーザ光を照射するに際し、
    レーザ光の強度Fを下記(条件1)の範囲内の任意の値に固定し、パルス数Pを下記(条件2)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、次に、パルス数Pを下記(条件2)の範囲内の任意の値に固定し、レーザ光の強度Fを(条件1)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、
    (条件1)5mJ/cm 2 ≦レーザ光の強度F≦50mJ/cm 2
    (条件2)1≦パルス数P≦17800000
    そして、製造された複数のコーティング材料のそれぞれについて、アブレーションを起こしているか否かを調査し、アブレーションを起こしていないときには、そのコーティング材料の臨界電流密度Jcを測定して、製造された多数のコーティング材料についてのデータを収集し、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のパルス数Pの値と、パルス数Pの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のレーザ光の強度Fの値とを用いて、下記(条件4)におけるK とK の値を算出し、
    (条件4)log 10 P=K F+K
    そのK の値と、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、アブレーションを起こした最小のパルス数Pの値とを用いて、下記(条件5)におけるK の値を算出し、
    (条件5)log 10 P=K F+K
    算出したK とK とK の値から、(条件1)と(条件2)と(条件4)と(条件5)で囲まれる照射条件エリアを決定し、その照射条件エリアから、トータルエネルギー量の最小値と最大値とを計算して下記(条件3)とし、
    (条件3)0.03J/cm 2 ≦トータルエネルギー量≦89000J/cm 2
    レーザ光の照射条件を(条件1)と(条件2)と(条件4)と(条件5)で囲まれる照射条件エリア内であって、(条件3)を満たす条件に設定することからなる超電導コーティング材料の製造方法。
  2. 酸化物が超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を支持体上に塗布し、乾燥させる工程(1)、金属の有機化合物中の有機成分を熱分解させるための仮焼成工程(2)、超電導物質への変換を行う本焼成工程(3)を経てエピタキシャル成長させた超電導コーティング材料を製造する方法において、工程(1)と工程(2)の間で超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面と反対側の面にレーザ光を照射するに際し、基板定数を実験的に決定し、レーザ光の強度Fを下記(条件1´)の範囲内の任意の値に固定し、パルス数Pを下記(条件2´)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、次に、パルス数Pを(条件2´)の範囲内の任意の値に固定し、レーザ光の強度Fを(条件1´)の範囲内で次第に大きな値に変えて、複数の超電導コーティング材料を製造し、
    (条件1´)5mJ/cm 2 ≦レーザ光の強度F≦200mJ/cm 2
    (条件2´)1≦パルス数P≦198000000
    そして、製造された複数のコーティング材料のそれぞれについて、アブレーションを起こしているか否かを調査し、アブレーションを起こしていないときには、そのコーティング材料の臨界電流密度Jcを測定して、製造された多数のコーティング材料についてのデータを収集し、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のパルス数Pの値と、パルス数Pの値を固定してコーティング材料を製造した時に、臨界電流密度Jcが0.1MA/cm 以上のコーティング材料が製造された最小のレーザ光の強度Fの値とを用いて、下記(条件4)におけるK とK の値を算出し、
    (条件4)log 10 P=K F+K
    そのK の値と、レーザ光の強度Fの値を固定してコーティング材料を製造した時に、アブレーションを起こした最小のパルス数Pの値とを用いて、下記(条件5)におけるK の値を算出し、
    算出したK とK とK の値から、(条件1´)と(条件2´)と(条件4)と下記(条件5)で囲まれる照射条件エリアを決定し、
    (条件5)log 10 P=K F+K
    その照射条件エリアから、トータルエネルギー量の最小値と最大値とを計算して(条件3´)とし、
    (条件3´)(0.03J/cm 2 ×基板定数)≦トータルエネルギー量≦(89000J/cm 2 ×基板定数)
    レーザ光の照射条件を(条件1´)と(条件2´)と(条件4)と(条件5)で囲まれる照射条件エリア内であって、(条件3´)を満たす条件に設定することからなる超電導コーティング材料の製造方法。
  3. 支持体が、ランタンアルミネート(LaAlO3)、チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)、酸化ランタンストロンチウムタンタルアルミニウム((LaxSr1-x)(AlxTa1-x)O3)、ネオジムガレート(NdGaO3)あるいはイットリウムアルミネート(YAlO3)から選ばれる1種の単結晶基板である請求項1又は請求項2に記載した超電導コーティング材料の製造方法。
  4. 支持体が、酸化アルミニウム(Al2O3)、イットリア安定化ジルコニア((Zr,Y)O2, YSZ)、酸化マグネシウム(MgO)、ランタンアルミネート(LaAlO3)、チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)、酸化ランタンストロンチウムタンタルアルミニウム((LaxSr1-x)(AlxTa1-x)O3)、ネオジムガレート(NdGaO3)あるいはイットリウムアルミネート(YAlO3)から選ばれる1種の単結晶基板上に、酸化セリウム(CeO2)中間層を形成した基板である請求項1ないし請求項3のいずれかに記載した超電導コーティング材料の製造方法。
  5. 酸化物が超電導物質を形成する金属が、RE(REはYおよび希土類元素)、およびAE(AEはアルカリ土類金属)それぞれから選ばれる1種以上およびCuである請求項1ないし請求項3のいずれかひとつに記載した超電導コーティング材料の製造方法。
  6. 金属の有機化合物がβ−ジケトナト、アルコキシド、ハロゲンを含んでも良い有機酸塩から選ばれる1種以上である請求項1ないし請求項5のいずれかひとつに記載した超電導コーティング材料の製造方法。
  7. レーザ光の照射を、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面の反対側の面から行い、支持体が、ランタンアルミネート(LaAlO3)、あるいはイットリウムアルミネート(YAlO3)から選ばれる1種の単結晶基板である請求項1又は請求項2に記載した超電導コーティング材料の製造方法。
  8. レーザ光の照射を、超電導物質を形成する金属の有機化合物溶液を塗布した面の反対側の面から行い、支持体が、酸化アルミニウム(Al2O3)、酸化マグネシウム(MgO)、から選ばれる1種の単結晶基板上に、酸化セリウム(CeO2)中間層を形成した基板である請求項1又は請求項2に記載した超電導コーティング材料の製造方法。
  9. 酸化物が超電導物質を形成する金属が、RE(REはYおよび希土類元素)、およびAE(AEはアルカリ土類金属)それぞれから選ばれる1種以上およびCuである請求項5ないし請求項8のいずれかに記載した超電導コーティング材料の製造方法。
  10. 金属の有機化合物がβ−ジケトナト、アルコキシド、ハロゲンを含んでも良い有機酸塩から選ばれる1種以上である請求項5ないし請求項9のいずれかひとつに記載した超電導コーティング材料の製造方法。
JP2007029775A 2007-02-08 2007-02-08 超電導コーティング材料の製造方法 Expired - Fee Related JP5327932B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007029775A JP5327932B2 (ja) 2007-02-08 2007-02-08 超電導コーティング材料の製造方法
DE112008000019T DE112008000019T5 (de) 2007-02-08 2008-02-05 Verfahren zum Herstellen von supraleitfähigen Oxidmaterial
PCT/JP2008/051814 WO2008096728A1 (ja) 2007-02-08 2008-02-05 超電導酸化物材料の製造方法
CN2008800005830A CN101542641B (zh) 2007-02-08 2008-02-05 超导氧化物材料的制造方法
US12/227,840 US8716189B2 (en) 2007-02-08 2008-02-05 Method of producing superconductive oxide material

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007029775A JP5327932B2 (ja) 2007-02-08 2007-02-08 超電導コーティング材料の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008198396A JP2008198396A (ja) 2008-08-28
JP5327932B2 true JP5327932B2 (ja) 2013-10-30

Family

ID=39681637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007029775A Expired - Fee Related JP5327932B2 (ja) 2007-02-08 2007-02-08 超電導コーティング材料の製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8716189B2 (ja)
JP (1) JP5327932B2 (ja)
CN (1) CN101542641B (ja)
DE (1) DE112008000019T5 (ja)
WO (1) WO2008096728A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5201518B2 (ja) * 2009-05-26 2013-06-05 株式会社日本製鋼所 超電導酸化物材料の製造方法及び装置
JP4917635B2 (ja) * 2009-08-17 2012-04-18 株式会社日本製鋼所 二層薄膜構造体、超電導物質三層薄膜構造体及びその製造方法
JP5445982B2 (ja) * 2009-12-09 2014-03-19 独立行政法人産業技術総合研究所 希土類超電導膜形成用溶液およびその製造方法
TWI509850B (zh) * 2014-05-16 2015-11-21 Ind Tech Res Inst 超導膜元件及超導膜元件之製備方法
US11158502B2 (en) * 2014-09-25 2021-10-26 Purdue Research Foundation Methods of forming nano-scale and micro-scale structured materials and materials formed thereby
CN113838965B (zh) * 2021-09-30 2024-01-30 上海电力大学 一种独立式高温超导薄膜的制备方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63250881A (ja) * 1987-04-07 1988-10-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 超電導体の作製方法
CN87101049A (zh) * 1987-05-23 1988-12-14 中国科学院上海冶金研究所 氧化物超导复合带材的制备方法
JPS6435806A (en) * 1987-07-31 1989-02-06 Hitachi Ltd Manufacture of superconducting membrane
JP2759125B2 (ja) * 1988-05-19 1998-05-28 ニチコン株式会社 エキシマレーザーによる金属酸化物および金属酸化物薄膜の製造方法
JPH02258695A (ja) * 1989-03-31 1990-10-19 Kokusai Chiyoudendou Sangyo Gijutsu Kenkyu Center 酸化物超電導体の製造方法
JPH07106905B2 (ja) 1989-12-27 1995-11-15 工業技術院長 超電導体の製造方法及び超電導体
JPH04104903A (ja) * 1990-08-21 1992-04-07 Kokusai Chodendo Sangyo Gijutsu Kenkyu Center 酸化物高温超電導薄膜の製造方法
US5310990A (en) * 1991-06-03 1994-05-10 The United Stated Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method of laser processing ferroelectric materials
JPH07106905A (ja) 1993-10-06 1995-04-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 発振子
JP3383838B2 (ja) 1999-02-25 2003-03-10 独立行政法人産業技術総合研究所 金属酸化物の製造方法及び微細パターンの形成方法
JP2000256862A (ja) 1999-03-10 2000-09-19 Kansai Research Institute 複合酸化物膜の製造方法
JP3612556B2 (ja) * 2000-09-01 2005-01-19 独立行政法人産業技術総合研究所 アルミナ単結晶基板の表面に形成された超伝導薄膜からなる超伝導体、及びアルミナ単結晶基板の表面に超伝導薄膜を形成する方法
JP4303925B2 (ja) * 2002-08-19 2009-07-29 篠田プラズマ株式会社 金属酸化膜の形成方法及びガス放電管の2次電子放出膜形成方法
JP4521693B2 (ja) * 2002-12-04 2010-08-11 住友電気工業株式会社 高温超電導厚膜部材およびその製造方法
JP2006185934A (ja) 2004-12-24 2006-07-13 Steady Design Ltd ツェナーダイオード用ウェハーおよびその製造方法
JP5219109B2 (ja) * 2005-08-10 2013-06-26 独立行政法人産業技術総合研究所 超電導材料の製造方法
CN100391022C (zh) * 2006-04-24 2008-05-28 西安理工大学 钇钡铜氧高温超导薄膜微细图形的制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008198396A (ja) 2008-08-28
US8716189B2 (en) 2014-05-06
CN101542641A (zh) 2009-09-23
US20090318296A1 (en) 2009-12-24
DE112008000019T5 (de) 2010-03-11
CN101542641B (zh) 2013-06-12
WO2008096728A1 (ja) 2008-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5219109B2 (ja) 超電導材料の製造方法
JP5740645B2 (ja) 配向ペロブスカイト酸化物薄膜
JP5327932B2 (ja) 超電導コーティング材料の製造方法
JP4258536B2 (ja) 結晶化金属酸化物薄膜の製造方法
JP4729766B2 (ja) 超電導酸化物材料の製造方法
JP3548801B2 (ja) 特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液組成物、希土類超電導膜製造用溶液組成物、特定金属錯体の非結晶固形物、特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液の製造方法、希土類超電導膜製造用溶液の製造方法、及び超電導薄膜の形成方法。
WO2011071103A1 (ja) 希土類超電導膜形成用溶液およびその製造方法
JP2009544143A (ja) 高Jc超伝導膜の製造方法およびそのために使用されるポリマー‐硝酸塩溶液
JP3851948B2 (ja) 超電導体の製造方法
DeSisto et al. Preparation and characterization of MgO thin films deposited by spray pyrolysis of Mg (2, 4-pentanedionate) 2
JP5066686B2 (ja) 超電導酸化物材料の製造方法
JP5453627B2 (ja) 内部応力を緩和した酸化物超電導体膜の製造方法
JP3548802B2 (ja) 特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液組成物、希土類超電導膜製造用溶液組成物、特定金属錯体の非結晶固形物、特定の金属種に特定の配位子を配位させた金属錯体を含む溶液の製造方法、希土類超電導膜製造用溶液の製造方法、及び超電導薄膜の製造方法。
JP4952956B2 (ja) 結晶化金属酸化物薄膜を備えた蛍光体
JP5721144B2 (ja) 超電導多層構造薄膜
JP2011253768A (ja) 酸化物超電導薄膜の製造方法
JP2011253766A (ja) 酸化物超電導薄膜の製造方法
JP5505867B2 (ja) 酸化物超電導薄膜の製造方法
JP3612556B2 (ja) アルミナ単結晶基板の表面に形成された超伝導薄膜からなる超伝導体、及びアルミナ単結晶基板の表面に超伝導薄膜を形成する方法
JP2011159453A (ja) 酸化物超電導薄膜の製造方法
JP2012123998A (ja) 酸化物超電導薄膜線材とその製造方法
JP5201518B2 (ja) 超電導酸化物材料の製造方法及び装置
JP2012003962A (ja) 酸化物超電導薄膜の製造方法
JP2012003965A (ja) 酸化物超電導薄膜の製造方法
KR20090093618A (ko) 유기금속증착용 전구용액 형성방법 및 이를 사용하는초전도 후막 형성방법

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110629

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110824

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111005

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20111216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130308

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130608

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130719

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5327932

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees