JP5303823B2 - 圧電素子 - Google Patents
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Description
[圧電素子の製造]
まず、図2に示すステップS11〜S16を実施して、圧電材料の原料組成物の粉体を得た。この際、原料組成物中の圧電体セラミックスの原料化合物は、焼成後に(Pb0.96 Sr0.04)[Ti0.465 Zr0.535]O3+0.5質量%WO3の組成を有する圧電体セラミックスが得られるように調製した。また、圧電材料中のリン元素の原料化合物としては、P2O5を用いた。
圧電体セラミックスの原料化合物を、Pb[(Zn1/3 Nb2/3)0.1 Ti0.435 Zr0.465]O3の組成を有する圧電体セラミックスが得られるように調製したこと以外は、製造例1と同様にして圧電体層上に電極層を備えるサンプルを得た。この製造例2においても、製造例1と同様に、原料組成物におけるP2O5の添加量を0、20、50、200、500、1000及び1500ppmに変化させて、No.1〜7のサンプルを製造した。
電極ペースト中の金属として、Ag:Pd=7:3の比率を有する金属に代え、Cuを用いたこと以外は、製造例1と同様にして圧電体層上に電極層を備えるサンプルを得た。これにより、金属としてCuのみを含む電極層が形成された。この製造例3においては、P2O5の添加量を0又は200ppmとして、No.1及び2のサンプルを製造した。
[特性評価]
製造例1及び製造例2でそれぞれ得られた各種のサンプルを用い、以下に示すようにして、これらの圧電体層における厚さ方向の焼結度の差を確認した。すなわち、サンプルの端面(積層方向に平行な面)について、その幅方向の中央付近における、(1)電極層近傍領域、(2)厚さ方向の中央領域、及び、(3)電極層と反対側の端面近傍領域、の3つ領域を、それぞれ走査型電子顕微鏡で観察した。かかる観察により、各領域に形成されている粒子の平均粒子径をそれぞれ求めた。
製造例1のNo.1及びNo.4のサンプルについて、蛍光X線分析により、圧電体層中のAg含有量を厚さ方向に分析した。その結果、No.1のサンプルでは、電極層と反対側の端面近傍領域のAg含有量は、電極層近傍領域に対して30%程度であった。これに対し、No.4のサンプルでは、電極層近傍領域と、電極層と反対側の端面近傍領域とで、ほぼ同じAg含有量であった。
Claims (4)
- リン元素を含有しない圧電材料から主として構成される圧電体層、及び、前記圧電体層を挟むように配置されたAg又はCuを含む一対の電極層を少なくとも備える素体と、
前記素体の積層方向の少なくとも一方の端面に設けられた、主として圧電材料から構成される保護層と、を備え、
前記保護層における前記圧電材料は、リン元素を含む、
ことを特徴とする圧電素子。 - 前記リン元素は、前記保護層における前記圧電材料中、P2O5に換算してモル基準で50〜1000ppm含まれている、ことを特徴とする請求項1記載の圧電素子。
- 前記素体は、前記圧電体層と前記電極層とが交互に複数積層されたものである、ことを特徴とする請求項1又は2記載の圧電素子。
- 前記圧電体層における前記圧電材料は、リン元素を含み、且つ、
前記保護層は、前記圧電体層が複数積層されて形成されたものである、ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の圧電素子。
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