JP5275444B2 - Euvマイクロリソグラフィ用の投影照明系 - Google Patents
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Description
本発明により、投影照明と同期して視野ファセットミラーを照明するための走査デバイスは、通常は損失が伴うEUV光源における多くの場合に小さい発散角を拡幅する必要なく投影照明装置の照明光学系を用いる可能性をもたらすことが認められた。照明光学系における開口数は、走査デバイスを用いて全てを一度にではなく、例えば、行毎の走査を用いて逐次満たされる。通常、多くのEUV光源は、そのような照明光学系の連続走査照明がマッピング品質に対する制限を生じない程の高い繰返し数を有することが認められている。物体視野全体が規定の照明強度で照明された時には、投影照明周期が経過している。
請求項4に記載のシンクロトロン放射線ベースのEUV光源、及び特に自由電子レーザ(FEL)は、特に高いビーム輝度を有する。FELの代替形態として、ウィグラー又はアンジュレーターを用いることができる。通常、シンクロトロン放射線ベースのEUV光源は小さい発散角を有し、この発散角は、走査デバイスによって有利に拡大することができる。通常、シンクロトロン放射線ベースのEUV光源は、極めて高い繰返し数を有し、それによって本発明による走査デバイスとの有利な組合せが可能になる。
一例として、請求項5から請求項7に記載の走査デバイスは、レーザRGBディスプレイ又はレーザテレビジョンセットの開発との関連で公知であり、最も高い偏向周波数を必要とする時でさえも、ビーム偏向において有効であることが証明されている。
請求項10に記載の強度変調器は、特に、物体視野上での使用光に対して強度分布に影響を与えるか又は補正するのに用いることができる。視野ファセットミラーの全ての視野ファセットが、同じ強度分布が印加された使用光を有する場合には、それによって物体視野にわたって対応する強度分布が生じる。
請求項13から請求項15に記載の配列は、EUVシンクロトロン光源の平均電力全体の効率的な利用を可能にする。
対応する状況が、請求項16に記載の配列に当て嵌まる。
単一ファセットの形態とすることができる請求項18に記載の視野成形ミラーは、多重ファセット設計を不要にする。
図面を参照して本発明の例示的な実施形態を以下により詳細に説明する。
投影照明装置1内での照明及びマッピングに対して、使用放射線束3が用いられる。使用放射線束3は、更に説明することになる走査デバイス6を用いて、投影照明装置1の照明光学系5に適合する開口角4の範囲内で照明される。光源2から始まり、使用放射線束3は、5mradよりも小さい発散を有する。照明光学系5の中間焦点面6a内には、走査デバイス6が配置される。走査デバイス6の後ろでは、使用放射線束3は、最初に視野ファセットミラー7上に入射する。図2を参照して走査デバイス6に関する詳細を以下に説明する。
使用放射線束3は、特に、2mradよりも小さく、好ましくは、1mradよりも小さい発散を有する。視野ファセットミラー7上での使用放射線束のスポットサイズは、約4mmである。
図示していない照明光学系5の実施形態では、特に、投影光学系16の入射瞳が適切な位置にある場合に、ミラー10,11,及び12を不要にすることができ、それによって投影照明装置内で使用放射線束3に対する対応した伝達率の増大が生じる。
視野ファセット8の長辺は、走査方向yに対して直角にある。視野ファセット8のアスペクト比は、同様に矩形又は弓形形状にあるとすることができるスロット形の物体視野14のアスペクト比に対応する。
物体視野14の領域内にある物体平面15は、使用放射線束3を反射する図1には示していないレチクルを含む。
投影光学系16は、物体視野14を像平面18内の像視野17へとマップする。投影照明では、この像平面18は、投影照明中に投影照明装置1を用いて照明される感光層を保持する図示していないウェーハを含む。
投影照明中には、レチクル及びウェーハの両方が図1のy方向に同期して走査される。ウェーハは、投影照明中に、典型的に200mm/sの走査速度でy方向に走査される。
走査デバイス6は、使用放射線束3を掃引方式で反射し、x’軸に対して平行な行送り軸19の回りに、かつこの行送り軸に対して直角な列走査軸20の回りに傾斜させることができる走査ミラーである。両方の軸19、20が、走査デバイス6の反射ミラー面21内に置かれる。図2では、行送り軸19は、x’軸に対して平行である。図2では、列走査軸20は、y’軸に対して平行である。
ミラー面21と視野ファセットミラー7の間の間隔は、約1mである。
複数の照明光学系5を用いることが意図される場合には、多角形スキャナ22に対する要求は、例えば、視野ファセット8の合計数を100個の視野ファセットに低減することによって低減される。
ファセットミラー区画25に関連付けられた瞳ファセットミラー31は、円形領域内に完全に照明される。この照明は、照明光学系5の瞳が均一に満たされる従来照明環境として公知のものである。
ファセットミラー区画26に関連付けられた瞳ファセットミラー32は、環状に、すなわち、リング形方式で照明される。
ファセットミラー区画28に関連付けられた瞳ファセットミラー34は、瞳ファセットミラー32と同等の方式で環状に、すなわち、リング形方式で照明され、同じリング直径が与えられるとすれば、瞳ファセットミラー34の照明におけるリング幅は、瞳ファセットミラー32の照明におけるリング幅のマグニチュードの約半分である。
ファセットミラー区画30に関連付けられた瞳ファセットミラー36は、瞳ファセットミラー31と同等の方式で照明されるが、より小さな照明直径を有し、それによって照明光学系5を用いて瞳ファセットミラー36において得られる最大照明角度は、瞳ファセットミラー31から35における他の照明光学系5の最大照明角度と比較して小さい。
行送り、すなわち、視野ファセットミラー7の異なる行の間の変更は、図2の右下に示している視野ファセットミラー7の列に対して平行に変位したファセットミラー39における反射を用いて代替的に達成することができる。
ファセットミラー39の変位方向は、y方向に対して平行である。使用放射線束3のファセットミラー39のファセット40のうちの1つの上での出現点によっては、使用放射線束3は、視野ファセットミラー7の別の行へと偏向される。図2は、5つのファセット40を有するファセットミラー39を示している。この図は、単純化したものである。図3に示しているファセットミラー7を照明するには、75個のファセットを有するファセットミラー39を必要とする。この場合、ファセットミラー39に、ファセット凸状体の形状、特に、ファセット球面が設けられるように、75のファセットを用いたこのファセットは、列走査軸20の周囲の周方向のファセットと組み合わせることができる。ファセットの代わりに、十分に小さい使用放射線束3は、連続する外形を有するファセットミラー39を製造することも可能にし、ファセット面は連続変移部を有し、ファセット面の間にいかなる鋭い縁部も持たない。これらの緩やかな変移部の間の平面区画は、鋭い縁部を有する実施形態におけるものと同じ法線ベクトルを有する。
視野ファセットミラー7にわたって掃引を行う際に、使用放射線束3の偏向の偏向速度を変更することにより、強度変調器41を用いた強度変調に対応する効果を得ることができる。例示的に、各視野ファセット8の中心が視野ファセット8の右手及び左手の2つの縁部よりも迅速に掃引されるように、視野ファセットミラー7が、変化する偏向速度で走査される場合には、その結果として使用放射線束3は物体視野14に印加され、縁部と比較して中心に低い強度で印加される。
一例として、光源2の強度変調は、放射線パルスを遮断することにより、レーザ機能を乱すことにより、例えば、特定的に共振器を離調することにより、及び/又はレーザ周波数を変調することによって可能である。
物体視野14内の各視野点は、それに関連付けられた個々の視野ファセット8上に近似的に共役な点を有する。使用放射線束3の放射線パルスが、それらがそうでなければ特定の視野点に関連付けられたこれらのファセット点に印加される度に抑制される限り、関連の視野点において照明強度に影響を与えることができる。物体視野14の重ね合わせ照明に向けてN個の視野ファセット8が用いられている場合には、視野ファセット8のうちの1つのファセット点における照明を抑制することによって1/Nの相対精度で補正を提供することができる。
2 EUVシンクロトロン光源
3 EUV使用光
5 照明光学系
6 走査デバイス
14 物体視野
16 投影光学系
17 像視野
Claims (17)
- EUV使用光(3)を生成するためのEUV光源(2)を有し、
前記使用光(3)を用いて物体視野(14)を照明するための照明光学系(5)を有し、
前記物体視野(14)を像視野(17)内にマップするための投影光学系(16)を有する、
EUVマイクロリソグラフィのための投影照明装置(1)であって、
使用光(3)を投影照明周期と同期して偏向させることによって物体視野(14)を照明するための走査デバイス(6)を特徴とし、
前記使用光(3)のための強度変調器(41)を特徴とする装置。 - EUV使用光(3)を生成するためのEUV光源(2)を有し、
前記使用光(3)を用いて物体視野(14)を照明するための照明光学系(5)を有し、
前記物体視野(14)を像視野(17)内にマップするための投影光学系(16)を有する、
EUVマイクロリソグラフィのための投影照明装置(1)であって、
使用光(3)を投影照明周期と同期して偏向させることによって物体視野(14)を照明するための走査デバイス(6)を特徴とし、
前記走査デバイス(6)を用いて照明される複数の物体視野を特徴とする装置。 - EUV使用光(3)を生成するためのEUV光源(2)を有し、
前記使用光(3)を用いて物体視野(14)を照明するための照明光学系(5)を有し、
前記物体視野(14)を像視野(17)内にマップするための投影光学系(16)を有する、
EUVマイクロリソグラフィのための投影照明装置(1)であって、
使用光(3)を投影照明周期と同期して偏向させることによって物体視野(14)を照明するための走査デバイス(6)を特徴とし、
前記走査デバイスは、2自由度によって作動的傾斜可能な視野成形ミラーを有することを特徴とする装置。 - 前記照明光学系(5)は、前記物体視野(14)に対する照明角度分布を規定するための複数の瞳ファセットを有する少なくとも1つの瞳ファセットミラー(9)を有することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記照明光学系(5)は、前記照明される物体視野(14)に対する形状を規定するための複数の視野ファセットを有する少なくとも1つの視野ファセットミラー(7)を有することを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 用いられる前記EUV光源(2)は、シンクロトロン放射線ベースの光源、特に、自由電子レーザであることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記走査デバイス(6)は、単一ミラー面(21)を有する少なくとも1つの作動的傾斜可能ミラーを有することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記走査デバイスは、少なくとも1つの多角形ミラー(22)を有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記走査デバイス(6)は、少なくとも1つのミラー(39)を有し、これは、前後に平行移動的に移動させることができ、かつ互いに対して傾斜するように配置された少なくとも2つの反射面(40)を有することを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記強度変調器(41)は、前記走査デバイス(6)による前記偏向と同期して前記使用光(3)の強度に影響を与えることを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記強度変調器(41)は、前記使用光(3)の前記強度が単一視野ファセット(8)にわたる掃引中に影響を受けるように作動されることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記強度変調器(41)は、前記使用光(3)の前記強度が前記瞳ファセットミラー上の掃引と同期して影響を受けるように作動されることを特徴とする請求項10又は請求項11に記載の投影照明装置。
- 前記走査デバイス(6)は、前記使用光(3)の前記偏向の偏向速度が同期方式で変更されるように作動されることを特徴とする請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- それぞれ関連付けられた物体視野、投影光学系、及び像視野を有する複数の瞳ファセットミラー(31から36)を特徴とする請求項13に記載の投影照明装置。
- 前記複数の瞳ファセットミラー(31から36)は、1つのかつ同じ視野ファセットミラー(24)によって照明されることを特徴とする請求項14に記載の投影照明装置。
- 前記走査デバイス(22,6)によって交互に照明される複数の視野ファセットミラーを特徴とする請求項4から請求項15のいずれか1項に記載の投影照明装置。
- 前記視野ファセットミラー(7)は、視野ファセット(8)の行向き及び列向きアレイを有することを特徴とする請求項4から請求項16のいずれか1項に記載の投影照明装置。
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