JP5137843B2 - Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品 - Google Patents
Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5137843B2 JP5137843B2 JP2008541729A JP2008541729A JP5137843B2 JP 5137843 B2 JP5137843 B2 JP 5137843B2 JP 2008541729 A JP2008541729 A JP 2008541729A JP 2008541729 A JP2008541729 A JP 2008541729A JP 5137843 B2 JP5137843 B2 JP 5137843B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- inlet part
- gas inlet
- compartments
- chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000007736 thin film deposition technique Methods 0.000 title 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 266
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 160
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 46
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims description 44
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 20
- 239000002826 coolant Substances 0.000 claims description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 6
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 19
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 17
- -1 NH 3 Chemical class 0.000 description 4
- XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N Phosphine Chemical compound P XYFCBTPGUUZFHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N arsane Chemical compound [AsH3] RBFQJDQYXXHULB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010574 gas phase reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229910000073 phosphorus hydride Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- 210000005239 tubule Anatomy 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052987 metal hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004681 metal hydrides Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45544—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
- C23C16/45548—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction
- C23C16/45551—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction for relative movement of the substrate and the gas injectors or half-reaction reactor compartments
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45572—Cooled nozzles
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45563—Gas nozzles
- C23C16/45574—Nozzles for more than one gas
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
- C30B25/14—Feed and outlet means for the gases; Modifying the flow of the reactive gases
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
特許文献1に開示されたCVD反応装置は、シャワーヘッド状のガス入口部品を有しており、それにより複数のプロセスガスをプロセスチャンバに供給可能である。このガス入口部品の下側には、複数のガス出口開口があり、それらは実質的に円形の面内に均一に分布し、それらのガス出口開口は、ガス入口部品の下方に位置する基板ホルダの方に向いて開口している。被覆される複数の基板は、この基板ホルダの上に載置され、回転駆動され、かつ回転中心の周りに環状に分布している。基板ホルダは、適宜のヒーターを用いて下方から加熱されてもよい。ガス入口部品は、互いに上下に配置された複数の室を備えている。下側の室は、冷却媒体室を形成しており、これを通って冷却媒体が流れることにより、ガス入口部品の下側を、ガス入口部品から出るプロセスガスの反応温度より低い温度に冷却する。この冷却媒体室の上方には、ガス入口部品の断面の上方の大部分を占有している、互いに気密状態となるように分離された2つの室がある。この断面は、概ね回転対称である。2つの室の各々には、異なるプロセスガスが供給される。2つのプロセスガスの一方は水素化物、例えば、NH3、アルシンまたはホスフィンである。他方のプロセスガスは、有機金属化合物であり、V族とIII族、または、II族とVI族を主要成分とする化合物の多層を、基板上に堆積することができる。2つの室の各々は、ガス出口通路によりガス入口部品の下側に連通している。その他の開始物質を用いる場合もある。特に有機金属の開始物質である。
本発明の第1の態様においては、各室が2つの区画に分割されている。区画同士を分離する各室の隔壁は、円形ディスク形状であり、ガス入口部品を横断するライン上に位置することが好ましい。これらの隔壁は、互いに上下に配置されている。しかしながら、互いに上下に配置されているこれらの隔壁を、十字形にまたは星形に配置することも可能である。これらの区画は、異なる円周角で延在していてもよい。小さい区画と大きい区画を設けてもよい。より大きな円周角を占める区画は、プロセスガスをプロセスチャンバ内に供給するために用いられる。より小さい区画、すなわちプロセスチャンバの中心または中央区画の周りにおいてより小さい円周角を占める区画は、パージガスをプロセスチャンバ内に供給するために用いられる。
基板ホルダの回転速度は、周囲領域においてプロセスチャンバ内にプロセスガスを供給する区画を基板が通過する間に、化合物の単層がその基板の表面上にちょうど堆積するような速度に適合させられる。この方法は、基板表面上で本質的に単層としてのみ濃縮されて自己制限的に成長するようなプロセスガスを用いる場合に特に有用である。基板の回転は、異なる化合物が基板上に交互に堆積する結果をもたらす。プロセスガスがプロセスチャンバ内に交互に流れ込むための個々の区画が、パージ・ゾーンで分離されている場合は、反応種は、多層膜及び結晶を形成するべく互いに反応するための十分な時間を確保できる。
さらに、互いに別々になっているプロセスガスの出口開口を、パージガスが出てくるゾーンにより分離してもよい。出口開口から出るプロセスガスは、プロセスチャンバ内を径方向に流れ、かつガス入口部品の周囲に集められた基板の上を流れる。結晶を形成する反応生成物は、気相反応により、または表面反応により生成される。
CVD反応装置は、ガス入口部品が設けられており、ガス混合システムを備えている。この種のガス混合システムの幾つかの構成要素は、図4に示されている。これらは、本発明を説明するために必要な構成要素である。H1とH2は、例えばNH3、ASH3、PH3などの水素化物のためのガス計測器である。これらの計測器H1及びH2は、マスフローコントローラ及びバルブからなる。ガス入口部品の室2の区画2aは、ガス計測器H1により水素化物を供給される。ガス計測器H2により供給される水素化物は、切替バルブ16が適切な位置にあるときに室2の第2の区画2bに供給され、よって室2には水素化物が供給される。ガス計測器MO1は、室1の区画1bに有機金属化合物を供給する。ガス計測器MO2は、切替バルブ17が適切な位置にあるときに室1の区画1aに有機金属化合物を供給する。このような操作中に、双方のプロセスガスが、ガス入口部品の下側の、実質的にあらゆる箇所から流れ出る。一般的に必要である脱気ラインは、明確とするために図示していない。
Claims (16)
- 少なくとも2つのプロセスガスの形態として薄膜の成分がガス入口部品によりプロセスチャンバ(7)内に供給され、前記ガスは前記ガス入口部品における互いに上下に配置された室(1,2)にそれぞれ供給され、それらの室から、プロセスチャンバ(7)内に開口しているガス出口開口(3, 4)を通り前記プロセスチャンバ(7)内に流れ込む、基板を薄膜で被覆する方法において、
2つの前記室の各々が少なくとも2つの区画(1a, 1b; 2a, 2b)にそれぞれ分割され、2つの前記室における前記区画が実質的に重なるように互いに上下に配置されており、2つの前記プロセスガスが、周方向において互いに分離されて前記プロセスチャンバに流れ込むことにより、前記プロセスチャンバ(7)の底部を形成する基板ホルダ(9)上に環状に載置された前記基板(10)が、前記基板ホルダ(9)がその軸(9')の周りに回転することで、異なる前記プロセスガスに交互に曝されることを特徴とする方法。 - 互いに上下に配置されていない前記区画(1a, 2b)のみに対してプロセスガスが供給され、それ以外の前記区画(1b, 2a)に対してパージガスが供給されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 第1の複数の区画(1e, 1f, 1g, 1h)が、プロセスガスを供給される第2の複数の区画(1a, 2b, 1c, 2d)の間に位置するように周方向に配置されており、前記第1の複数の区画(1e, 1f, 1g, 1h)にパージガスが供給され、前記パージガスの出口は前記ガス入口部品の下側にあることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- CVD反応装置におけるガス入口部品であって、互いに上下に配置された少なくとも2つの室(1, 2)と、前記室の下壁(5, 6)を起点としてガス供給のためにプロセスチャンバ(7)内にそれぞれ開口するガス出口開口(3, 4)とを備え、プロセスガスは、供給ライン(11, 12)により前記室(1, 2)に供給され、前記プロセスチャンバの底部は、回転駆動可能な基板ホルダ(9)により形成される、前記ガス入口部品において、
前記少なくとも2つの室(1, 2)が、少なくとも2つの区画(1a, 1b; 2a, 2b)にそれぞれ分割され、異なる前記室(1,2)における前記区画(1a, 1b; 2a, 1b)が実質的に重なるように互いに上下に配置され、かつ前記区画がそれぞれ供給ライン(11a, 11b; 12a, 12b)を具備することを特徴とするガス入口部品。 - 複数の前記区画(1a, 1b; 2a, 2b)の間の隔壁の領域に、パージガス出口開口を配置したことを特徴とする請求項4に記載のガス入口部品。
- 回転対称な前記基板ホルダ(9)の軸(9')の周りに複数の基板(10)が環状に配置されていることを特徴とする請求項4または5に記載のガス入口部品。
- 前記室(1,2)が、星形または十字形となるように、複数の前記区画(1a-1i; 2a-2i)に分割されていることを特徴とする請求項4〜6のいずれかに記載のガス入口部品。
- プロセスガスまたはパージガスを選択的に供給するための中央区画(1i, 2i)を備えたことを特徴とする請求項4〜7のいずれかに記載のガス入口部品。
- 複数の前記区画(1a-1h; 2a-2h)が、プロセスチャンバ(7)に対しパージガスまたはプロセスガスのいずれかを供給するために、周方向に分布して配置されていることを特徴とする請求項4〜8のいずれかに記載のガス入口部品。
- 複数の前記区画(1a-1i; 2a-2i)を互いに気密性を保持して分割する隔壁(13,14)が、互いに上下に配置されていることを特徴とする請求項4〜9のいずれかに記載のガス入口部品。
- 冷却媒体室(15)が前記室(1, 2)の下側に配置され、前記冷却媒体室の底板(8)が前記ガス入口部品の下面を形成することを特徴とする請求項4〜10のいずれかに記載のガス入口部品。
- 前記ガス出口開口(3, 4)が、前記ガス入口部品の下面に開口する通路であり、前記ガス入口部品の下面が、前記プロセスチャンバ(7)の天井面を形成していることを特徴とする請求項4〜11のいずれかに記載のガス入口部品。
- 前記ガス出口開口 (3, 4)が、前記ガス入口部品の周方向に延在する開口であって互いに上下に配置されており、前記ガス入口部品がプロセスチャンバ(7)内に突出していることを特徴とする請求項4〜12のいずれかに記載のガス入口部品。
- パージガス供給ライン(18)の出口開口(20)が、複数の前記区画(1a, 1b, 2a, 2b)のガス出口開口(3, 4)の間に配置されていることを特徴とする請求項4〜13のいずれかに記載のガス入口部品。
- 第1のプロセスガスのための第1のガス計測器(H1, H2)と、第2のプロセスガスのための第2のガス計測器(MO1, MO2)と、切替バルブ機構(16, 17)とを具備するガス混合器を備え、前記ガス混合器により、いずれかの室(1, 2)の全ての区画(1a-1i; 2a-2i)に対し同じプロセスガスを供給するか、または、互いに上下に配置されていない選択された区画(1a-1i; 2a-2i)のみに対し各室に割り当てられたプロセスガスを供給することを特徴とする請求項4〜14のいずれかに記載のガス入口部品。
- 請求項4〜15のいずれかに記載のガス入口部品と、いずれかの室(1, 2)の全ての区画(1a-1i; 2a-2i)に対し同じプロセスガスを供給するか、または、互いに上下に配置されていない選択された区画(1a-1i; 2a-2i)のみに対し各室に割り当てられたプロセスガスを供給するか、を選択的に行うガス混合器と、前記ガス入口部品の下方に配置されて中心軸の周りに回転可能な基板ホルダ(9)と、を備えたCVD反応装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005055468A DE102005055468A1 (de) | 2005-11-22 | 2005-11-22 | Verfahren zum Abscheiden von Schichten in einem CVD-Reaktor sowie Gaseinlassorgan für einen CVD-Reaktor |
DE102005055468.7 | 2005-11-22 | ||
PCT/EP2006/068712 WO2007060159A1 (de) | 2005-11-22 | 2006-11-21 | Verfahren zum abscheiden von schichten in einem cvd-reaktor sowie gaseinlassorgan für einen cvd-reaktor |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009516777A JP2009516777A (ja) | 2009-04-23 |
JP2009516777A5 JP2009516777A5 (ja) | 2009-12-24 |
JP5137843B2 true JP5137843B2 (ja) | 2013-02-06 |
Family
ID=37728376
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008541729A Expired - Fee Related JP5137843B2 (ja) | 2005-11-22 | 2006-11-21 | Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20100003405A1 (ja) |
EP (1) | EP1951931B1 (ja) |
JP (1) | JP5137843B2 (ja) |
KR (1) | KR20080075198A (ja) |
CN (1) | CN101313086B (ja) |
AT (1) | ATE493521T1 (ja) |
DE (2) | DE102005055468A1 (ja) |
TW (1) | TW200728495A (ja) |
WO (1) | WO2007060159A1 (ja) |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7879401B2 (en) * | 2006-12-22 | 2011-02-01 | The Regents Of The University Of Michigan | Organic vapor jet deposition using an exhaust |
KR101409890B1 (ko) * | 2007-07-26 | 2014-07-02 | 주식회사 원익아이피에스 | 가스공급장치, 이를 구비한 박막증착장치 및 이를 이용한박막증착방법 |
US8334015B2 (en) * | 2007-09-05 | 2012-12-18 | Intermolecular, Inc. | Vapor based combinatorial processing |
JP2011500961A (ja) | 2007-10-11 | 2011-01-06 | バレンス プロセス イクウィップメント,インコーポレイテッド | 化学気相成長反応器 |
US8668775B2 (en) * | 2007-10-31 | 2014-03-11 | Toshiba Techno Center Inc. | Machine CVD shower head |
US8129288B2 (en) * | 2008-05-02 | 2012-03-06 | Intermolecular, Inc. | Combinatorial plasma enhanced deposition techniques |
KR101004927B1 (ko) * | 2008-04-24 | 2010-12-29 | 삼성엘이디 주식회사 | Cvd용 샤워 헤드 및 이를 구비하는 화학 기상 증착 장치 |
KR100957492B1 (ko) * | 2008-05-06 | 2010-05-17 | 주식회사 휘닉스 디지탈테크 | 소스 가스와 반응 가스의 배기 속도와 퍼지 가스의 배기속도를 다르게 하는 가스 분사 헤드와 상기 가스 분사헤드를 구비하는 원자층 박막 증착 장치 |
JP4661990B2 (ja) * | 2008-06-27 | 2011-03-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置、成膜方法、基板処理装置及び記憶媒体 |
US9121096B2 (en) * | 2008-10-10 | 2015-09-01 | Alta Devices, Inc. | Concentric showerhead for vapor deposition |
DE102008055582A1 (de) * | 2008-12-23 | 2010-06-24 | Aixtron Ag | MOCVD-Reaktor mit zylindrischem Gaseinlassorgan |
KR101064210B1 (ko) * | 2009-06-01 | 2011-09-14 | 한국생산기술연구원 | 막증착 진공장비용 샤워헤드 |
DE102009043840A1 (de) | 2009-08-24 | 2011-03-03 | Aixtron Ag | CVD-Reaktor mit streifenförmig verlaufenden Gaseintrittszonen sowie Verfahren zum Abscheiden einer Schicht auf einem Substrat in einem derartigen CVD-Reaktor |
KR101108879B1 (ko) * | 2009-08-31 | 2012-01-30 | 주식회사 원익아이피에스 | 가스분사장치 및 이를 이용한 기판처리장치 |
KR101625078B1 (ko) * | 2009-09-02 | 2016-05-27 | 주식회사 원익아이피에스 | 가스분사장치 및 이를 이용한 기판처리장치 |
WO2011044451A2 (en) * | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Applied Materials, Inc. | Multi-gas centrally cooled showerhead design |
US20120052216A1 (en) * | 2010-08-27 | 2012-03-01 | Applied Materials, Inc. | Gas distribution showerhead with high emissivity surface |
CN101914762B (zh) * | 2010-08-31 | 2013-03-06 | 广东省中科宏微半导体设备有限公司 | 一种用于金属有机物化学气相沉积设备的进气喷头结构 |
DE102011056589A1 (de) * | 2011-07-12 | 2013-01-17 | Aixtron Se | Gaseinlassorgan eines CVD-Reaktors |
US20130145989A1 (en) * | 2011-12-12 | 2013-06-13 | Intermolecular, Inc. | Substrate processing tool showerhead |
KR101327458B1 (ko) * | 2012-01-10 | 2013-11-08 | 주식회사 유진테크 | 냉각 방식의 샤워헤드 및 이를 구비하는 기판 처리 장치 |
CN102534559A (zh) * | 2012-02-10 | 2012-07-04 | 中国科学院半导体研究所 | 用于金属有机气相沉积设备的进气喷头 |
KR101481540B1 (ko) * | 2012-10-11 | 2015-01-13 | 전북대학교산학협력단 | 화학기상 증착장치 |
US10316409B2 (en) | 2012-12-21 | 2019-06-11 | Novellus Systems, Inc. | Radical source design for remote plasma atomic layer deposition |
JP6115244B2 (ja) * | 2013-03-28 | 2017-04-19 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置 |
US9677176B2 (en) * | 2013-07-03 | 2017-06-13 | Novellus Systems, Inc. | Multi-plenum, dual-temperature showerhead |
FR3010092B1 (fr) * | 2013-09-02 | 2017-05-26 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de traitement de la surface libre d'un materiau |
JP6298383B2 (ja) * | 2014-08-19 | 2018-03-20 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置及び半導体装置の製造方法 |
US10023959B2 (en) | 2015-05-26 | 2018-07-17 | Lam Research Corporation | Anti-transient showerhead |
JP6664993B2 (ja) | 2016-03-01 | 2020-03-13 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 成膜装置 |
JP6608332B2 (ja) * | 2016-05-23 | 2019-11-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置 |
US10604841B2 (en) | 2016-12-14 | 2020-03-31 | Lam Research Corporation | Integrated showerhead with thermal control for delivering radical and precursor gas to a downstream chamber to enable remote plasma film deposition |
US20190032211A1 (en) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | Lam Research Corporation | Monolithic ceramic gas distribution plate |
DE202017105481U1 (de) | 2017-09-11 | 2018-12-12 | Aixtron Se | Gaseinlassorgan für einen CVD- oder PVD-Reaktor |
JP2021505766A (ja) | 2017-12-08 | 2021-02-18 | ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation | 遠隔プラズマ膜蒸着を可能にするためにラジカルおよび前駆体ガスを下流チャンバに供給するための改良された孔パターンを備える統合シャワーヘッド |
US11189502B2 (en) * | 2018-04-08 | 2021-11-30 | Applied Materials, Inc. | Showerhead with interlaced gas feed and removal and methods of use |
KR102576220B1 (ko) * | 2018-06-22 | 2023-09-07 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 처리 장치 및 박막 처리 방법 |
CN108878326A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-11-23 | 德淮半导体有限公司 | 注入器及其包含注入器的工艺装置 |
TWI689618B (zh) * | 2018-10-04 | 2020-04-01 | 漢民科技股份有限公司 | 應用於半導體設備之氣體噴射裝置 |
KR20210127768A (ko) * | 2019-03-11 | 2021-10-22 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 기판 프로세싱 챔버들을 위한 덮개 조립체 장치 및 방법들 |
CN110408910B (zh) * | 2019-08-16 | 2020-08-28 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 高通量气相沉积设备及气相沉积方法 |
DE102019129789A1 (de) | 2019-11-05 | 2021-05-06 | Aixtron Se | Verfahren zum Abscheiden einer zweidimensionalen Schicht sowie CVD-Reaktor |
DE102019133023A1 (de) * | 2019-12-04 | 2021-06-10 | Aixtron Se | Gaseinlassvorrichtung für einen CVD-Reaktor |
CN112090602B (zh) * | 2020-09-24 | 2021-11-16 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 半导体工艺设备及其进气结构 |
CN113403609B (zh) * | 2021-06-16 | 2023-08-15 | 苏州矩阵光电有限公司 | Mocvd腔体结构的控制方法 |
CN115110037B (zh) * | 2022-06-23 | 2024-01-12 | 北海惠科半导体科技有限公司 | 蒸发镀膜装置的镀膜方法和蒸发镀膜装置 |
Family Cites Families (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4976996A (en) * | 1987-02-17 | 1990-12-11 | Lam Research Corporation | Chemical vapor deposition reactor and method of use thereof |
JPH03170675A (ja) * | 1989-11-28 | 1991-07-24 | Mitsubishi Electric Corp | 化学気相成長装置 |
US5225366A (en) * | 1990-06-22 | 1993-07-06 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Apparatus for and a method of growing thin films of elemental semiconductors |
JPH05152208A (ja) * | 1991-11-29 | 1993-06-18 | Fujitsu Ltd | 半導体製造装置 |
US5338362A (en) * | 1992-08-29 | 1994-08-16 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for processing semiconductor wafer comprising continuously rotating wafer table and plural chamber compartments |
JP3144664B2 (ja) * | 1992-08-29 | 2001-03-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及び処理方法 |
US5453124A (en) * | 1992-12-30 | 1995-09-26 | Texas Instruments Incorporated | Programmable multizone gas injector for single-wafer semiconductor processing equipment |
JP3181171B2 (ja) * | 1994-05-20 | 2001-07-03 | シャープ株式会社 | 気相成長装置および気相成長方法 |
GB9411911D0 (en) * | 1994-06-14 | 1994-08-03 | Swan Thomas & Co Ltd | Improvements in or relating to chemical vapour deposition |
US5950925A (en) * | 1996-10-11 | 1999-09-14 | Ebara Corporation | Reactant gas ejector head |
US6080446A (en) * | 1997-08-21 | 2000-06-27 | Anelva Corporation | Method of depositing titanium nitride thin film and CVD deposition apparatus |
US6086677A (en) * | 1998-06-16 | 2000-07-11 | Applied Materials, Inc. | Dual gas faceplate for a showerhead in a semiconductor wafer processing system |
JP4487338B2 (ja) * | 1999-08-31 | 2010-06-23 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜処理装置及び成膜処理方法 |
JP3962509B2 (ja) * | 1999-09-16 | 2007-08-22 | 株式会社東芝 | 気相成長装置 |
KR100390961B1 (ko) * | 1999-12-29 | 2003-07-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀플럭스 존 샤워 헤드 및 이를 적용하는 케미커리인핸스드 화학기상증착 장비 |
JP2001023910A (ja) * | 2000-01-01 | 2001-01-26 | Fujitsu Ltd | 半導体製造装置 |
JP4817210B2 (ja) * | 2000-01-06 | 2011-11-16 | 東京エレクトロン株式会社 | 成膜装置および成膜方法 |
KR100458982B1 (ko) * | 2000-08-09 | 2004-12-03 | 주성엔지니어링(주) | 회전형 가스분사기를 가지는 반도체소자 제조장치 및 이를이용한 박막증착방법 |
DE10043601A1 (de) * | 2000-09-01 | 2002-03-14 | Aixtron Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Abscheiden insbesondere kristalliner Schichten auf insbesondere kristallinen Substraten |
WO2002045561A2 (en) * | 2000-11-20 | 2002-06-13 | Applied Epi, Inc. | Surface sealing showerhead for vapor deposition reactor having integrated flow diverters |
US20030000924A1 (en) * | 2001-06-29 | 2003-01-02 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method of gas injection sequencing |
KR100427996B1 (ko) * | 2001-07-19 | 2004-04-28 | 주식회사 아이피에스 | 박막증착용 반응용기 및 그를 이용한 박막증착방법 |
TW573053B (en) * | 2001-09-10 | 2004-01-21 | Anelva Corp | Surface processing apparatus |
DE10153463A1 (de) * | 2001-10-30 | 2003-05-15 | Aixtron Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Abscheiden insbesondere kristalliner Schichten auf insbesondere kristallinen Substraten |
KR100450068B1 (ko) * | 2001-11-23 | 2004-09-24 | 주성엔지니어링(주) | Cvd 장치의 멀티섹터 평판형 샤워헤드 |
US6861094B2 (en) * | 2002-04-25 | 2005-03-01 | Micron Technology, Inc. | Methods for forming thin layers of materials on micro-device workpieces |
US7153542B2 (en) * | 2002-08-06 | 2006-12-26 | Tegal Corporation | Assembly line processing method |
JP4324663B2 (ja) * | 2002-09-05 | 2009-09-02 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | シャワーヘッド及びシャワーヘッドを用いた半導体熱処理装置 |
DE10247921A1 (de) * | 2002-10-10 | 2004-04-22 | Aixtron Ag | Hydrid VPE Reaktor |
JP4256698B2 (ja) * | 2003-03-10 | 2009-04-22 | サムコ株式会社 | 多層薄膜製造装置及び製造方法 |
JP2005019606A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Anelva Corp | プラズマ処理装置におけるガスシャワーヘッドまたはターゲットプレートを電極に固定する装置 |
EP1667217A1 (en) * | 2003-09-03 | 2006-06-07 | Tokyo Electron Limited | Gas treatment device and heat readiting method |
JP4306403B2 (ja) * | 2003-10-23 | 2009-08-05 | 東京エレクトロン株式会社 | シャワーヘッド構造及びこれを用いた成膜装置 |
KR100513920B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2005-09-08 | 주식회사 시스넥스 | 화학기상증착 반응기 |
JP4451684B2 (ja) * | 2004-03-17 | 2010-04-14 | キヤノンアネルバ株式会社 | 真空処理装置 |
CN102154628B (zh) * | 2004-08-02 | 2014-05-07 | 维高仪器股份有限公司 | 用于化学气相沉积反应器的多气体分配喷射器 |
-
2005
- 2005-11-22 DE DE102005055468A patent/DE102005055468A1/de not_active Withdrawn
-
2006
- 2006-11-21 EP EP06830060A patent/EP1951931B1/de not_active Not-in-force
- 2006-11-21 AT AT06830060T patent/ATE493521T1/de active
- 2006-11-21 US US12/094,254 patent/US20100003405A1/en not_active Abandoned
- 2006-11-21 WO PCT/EP2006/068712 patent/WO2007060159A1/de active Application Filing
- 2006-11-21 CN CN2006800436442A patent/CN101313086B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-21 DE DE502006008626T patent/DE502006008626D1/de active Active
- 2006-11-21 KR KR1020087015092A patent/KR20080075198A/ko not_active Application Discontinuation
- 2006-11-21 JP JP2008541729A patent/JP5137843B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-22 TW TW095143160A patent/TW200728495A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2007060159A1 (de) | 2007-05-31 |
CN101313086B (zh) | 2011-10-19 |
EP1951931B1 (de) | 2010-12-29 |
EP1951931A1 (de) | 2008-08-06 |
US20100003405A1 (en) | 2010-01-07 |
DE502006008626D1 (de) | 2011-02-10 |
DE102005055468A1 (de) | 2007-05-24 |
KR20080075198A (ko) | 2008-08-14 |
ATE493521T1 (de) | 2011-01-15 |
CN101313086A (zh) | 2008-11-26 |
TW200728495A (en) | 2007-08-01 |
JP2009516777A (ja) | 2009-04-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5137843B2 (ja) | Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品 | |
US20030203626A1 (en) | Apparatus and method for forming thin layers of materials on micro-device workpieces | |
TWI417415B (zh) | 化學氣相沉積流動入口元件及方法 | |
US7648578B1 (en) | Substrate processing apparatus, and method for manufacturing semiconductor device | |
US6821347B2 (en) | Apparatus and method for depositing materials onto microelectronic workpieces | |
TWI404821B (zh) | 用於大量沉積材料於微特徵工件上之微特徵工件處理裝置以及方法 | |
US6533867B2 (en) | Surface sealing showerhead for vapor deposition reactor having integrated flow diverters | |
KR101716678B1 (ko) | Cvd 반응기 그리고 코팅을 증착시키는 방법 | |
US20080029028A1 (en) | Systems and methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers | |
JP2008255493A (ja) | 原子層堆積装置及び方法 | |
JP5009167B2 (ja) | 平板内に設けられた予備室を有するガス分配装置 | |
US20080217170A1 (en) | Sputtering system | |
US6818249B2 (en) | Reactors, systems with reaction chambers, and methods for depositing materials onto micro-device workpieces | |
JP2008172083A (ja) | 気相成長装置および気相成長方法 | |
KR101334643B1 (ko) | 박막증착장치 | |
KR102267923B1 (ko) | 증착 장치 | |
JP2009516077A (ja) | Ald反応容器 | |
JP5031910B2 (ja) | 気相成長装置 | |
KR20090012395A (ko) | 박막증착장치 | |
JP2023504612A (ja) | Cvdリアクタ用のガス導入装置 | |
US20220307136A1 (en) | Apparatus for supplying gas and apparatus for processing substrate using the same | |
CN115852343A (zh) | 一种进气分配机构及具有其的cvd反应设备 | |
JP2003226976A (ja) | ガスミキシング装置 | |
JP2023540932A (ja) | 2つの供給箇所を有するcvdリアクタのガス入口部材 | |
KR20120079443A (ko) | 박막 증착 방법 및 박막 증착 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091102 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20091102 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120605 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120719 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121023 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121113 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151122 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |