JP5137843B2 - Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品 - Google Patents

Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品 Download PDF

Info

Publication number
JP5137843B2
JP5137843B2 JP2008541729A JP2008541729A JP5137843B2 JP 5137843 B2 JP5137843 B2 JP 5137843B2 JP 2008541729 A JP2008541729 A JP 2008541729A JP 2008541729 A JP2008541729 A JP 2008541729A JP 5137843 B2 JP5137843 B2 JP 5137843B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
inlet part
gas inlet
compartments
chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008541729A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009516777A5 (ja
JP2009516777A (ja
Inventor
ケッペレル、ヨハネス
Original Assignee
アイクストロン、エスイー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アイクストロン、エスイー filed Critical アイクストロン、エスイー
Publication of JP2009516777A publication Critical patent/JP2009516777A/ja
Publication of JP2009516777A5 publication Critical patent/JP2009516777A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5137843B2 publication Critical patent/JP5137843B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45523Pulsed gas flow or change of composition over time
    • C23C16/45525Atomic layer deposition [ALD]
    • C23C16/45544Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
    • C23C16/45548Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction
    • C23C16/45551Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus having arrangements for gas injection at different locations of the reactor for each ALD half-reaction for relative movement of the substrate and the gas injectors or half-reaction reactor compartments
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45572Cooled nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45574Nozzles for more than one gas
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth
    • C30B25/14Feed and outlet means for the gases; Modifying the flow of the reactive gases

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は、1又は複数の基板を薄膜で被覆する方法に関する。その薄膜の成分は、少なくとも2種のガスの形態でガス入口部品を用いてプロセスチャンバへ与えられ、それらのガスは、互いに上下に配置されたガス入口の各室内へそれぞれ導入され、そこから各々のガス出口を経てプロセスチャンバへと流入する。それらのガス出口は、プロセスチャンバに開口している。
さらに、本発明は、CVD反応装置のガス入口部品、又はCVD反応装置に関する。そのガス入口部品は、互いに上下に配置された少なくとも2つの室を備えており、各室の下壁にガス出口開口の始端がそれぞれ設けられ、それらのガス出口開口はガス供給のためにプロセスチャンバに開口している。各プロセスガスは供給ラインを用いて各室にそれぞれ移送される。プロセスチャンバの底部は、回転駆動可能な基板ホルダで形成されている。
特許文献1に開示されたCVD反応装置は、シャワーヘッド状のガス入口部品を有しており、それにより複数のプロセスガスをプロセスチャンバに供給可能である。このガス入口部品の下側には、複数のガス出口開口があり、それらは実質的に円形の面内に均一に分布し、それらのガス出口開口は、ガス入口部品の下方に位置する基板ホルダの方に向いて開口している。被覆される複数の基板は、この基板ホルダの上に載置され、回転駆動され、かつ回転中心の周りに環状に分布している。基板ホルダは、適宜のヒーターを用いて下方から加熱されてもよい。ガス入口部品は、互いに上下に配置された複数の室を備えている。下側の室は、冷却媒体室を形成しており、これを通って冷却媒体が流れることにより、ガス入口部品の下側を、ガス入口部品から出るプロセスガスの反応温度より低い温度に冷却する。この冷却媒体室の上方には、ガス入口部品の断面の上方の大部分を占有している、互いに気密状態となるように分離された2つの室がある。この断面は、概ね回転対称である。2つの室の各々には、異なるプロセスガスが供給される。2つのプロセスガスの一方は水素化物、例えば、NH、アルシンまたはホスフィンである。他方のプロセスガスは、有機金属化合物であり、V族とIII族、または、II族とVI族を主要成分とする化合物の多層を、基板上に堆積することができる。2つの室の各々は、ガス出口通路によりガス入口部品の下側に連通している。その他の開始物質を用いる場合もある。特に有機金属の開始物質である。
いわゆるALD法は、公知技術として開示されている。この方法においては、2つのプロセスガスが、プロセスチャンバ内に同時には供給されず、交互に供給される。任意であるが、一方のプロセスガスと他方のプロセスガスをそれぞれ導入する中間時点で、プロセスチャンバにパージガスを供給してもよい。この方法の目的は、基板上に、多成分のうちの1つからなる実質的に単層を交互に堆積させることである。例えば、III族成分又はII族成分を堆積させ、その後、V族成分又はVI属成分の単層を堆積させる。この方法により、完全に均一な層厚を得ることができるとされている。
特許文献2は、III-V化合物の薄膜を基板上に堆積させるCVD反応装置を開示している。特許文献2においては、ガス入口部品がプロセスチャンバ内に延び、水平面内に位置している。ガス入口部品の冷却された部材が、プロセスチャンバの中央に延びており、その底部が基板ホルダを形成している。水素化物、例えば、アルシンやホスフィンは、ガス入口部品の下側からプロセスチャンバ内に流れ出る。水素化物は、基板に対して径方向に流れるために、そこで水平方向に放散する。この出口開口の上方には、さらに別のガス出口開口が、ガス入口部品の全周囲に亘って設けられており、これを通して、例えばTMGである有機金属化合物がプロセスチャンバ内に入る。
特許文献3は、シャワーヘッド反応装置を開示しており、ガス入口部品の複数の室は、櫛状に配置された通路により形成されている。
特許文献4は、互いに上下に配置された2つの室をもつガス入口部品を開示しており、各室が、複数の出口開口によりプロセスチャンバに向いた壁に連通している。それぞれの出口開口は、個別に閉鎖することが可能である。
特許文献5に開示されたガス入口部品には、径方向に延びるガス分配通路が設けられ、ガスの空間的に均一な分布を確保している。
特許文献6に開示されたガス入口部品は、複数の室が、1つの面上であって中心から異なる径方向位置に配置されており、それにより、ガス出口面の中央領域を通ってプロセスチャンバに導入されるガスの組成が、ガス出口面の周辺領域を通って導入されるガスの組成と異なるようにできる。
特許文献7に開示されたCVD反応装置は、プロセスチャンバの周囲壁からプロセスチャンバ内にプロセスガスが供給される。プロセスガスは、径方向外側から中心に向かって水平方向にプロセスチャンバ内を流れる。プロセスチャンバの異なる部分から、異なるガスを導入することもできる。基板ホルダは回転しているので、基板ホルダ上に載置された基板は、次々に異なるガスの相に曝されることが可能となる。回転速度により、暴露時間を制御することも可能である。
米国特許No.5,871,586号明細書 独国特許公開No.100 43 601号公報 米国特許公開No.2005/0158469号公報 特開平3−170675号公報 米国特許No.5,950,925号明細書 米国特許No.6,800,139号明細書 米国特許No.4,976,996号明細書 独国特許公開No.100 43 601号公報 独国特許公開No.101 53 463号公報
本発明の目的は、均一な薄膜を作製するために、上述の方法及び上述の装置を発展させることである。
上記の目的は、特許請求の範囲で特定された発明により解決される。各請求項は、基本的に課題に対する独立した解決手段を示している。
方法の請求項は、ガス入口部品の特定の構成と、室を複数の区画に適切に分割することの結果として、異なるプロセスガスの、プロセスチャンバ内への周方向に変位した送り込みが可能となる。異なるプロセスガスが、別々に、プロセスチャンバの周方向の異なる部分へと流れ込むように構成されている。従って、ガス入口部品の下方にある円周経路上で回転する基板は、異なるプロセスガスに交互に曝されることになり、それにより、プロセスチャンバ内のガスを周期的に変化させることなく、一種のALD法が可能となる。このことは、プロセスガスを供給される周囲の各区画同士の間にパージ・ゾーンが設けられる場合には、特に有用である。パージ・ゾーンにおいては、不活性ガス若しくは他のパージガスをプロセスチャンバ内に供給することができる。また、パージガス又は不活性ガスがガス入口部品の中心を通ってプロセスチャンバ内に供給される場合にも、有用であることが判明した。パージガスの流れは、個々のプロセスガスとの混合を完全に避けることができるように設定される。その一方で、この装置は、各室の全ての区画に同じプロセスガスを供給する場合には、一般的な方法を実行することができる。双方のプロセスガスは、各ポイントにおいてガス入口部品の下側から流れ出る。異なる2つのプロセスガスをともにプロセスチャンバ内へ供給する区画はない。そして、これらの反応ガスの間で実際に気相反応が生じる。
ガス入口部品に関する請求項は、2つの室の各々が少なくとも2つの区画に分割され、そして、それらの室の区画が、実質的に重なるように互いに上下に配置されている。ここで、パージガスの出口開口をガス入口部品の下側に設けてもよく、それは各区画の間の隔壁のある領域である。パージガスを各区画内に導入するためには、径方向のパージガス供給ラインにより櫛状に複数の開口と連通させれば十分である。これらの個別の開口は、プロセスチャンバへパージガスを供給するために必要に応じて使用される。これにより、プロセスチャンバ内へ異なるプロセスガスを流し込むための隣り合う区画同士の間が、ガスカーテンにより分離される。しかしながら、2つの室の一方における1つの区画、または、2つの室の互いに上下に配置された2つの区画が、パージガスをプロセスチャンバに導入するために用いられてもよい。
本発明の第1の態様においては、各室が2つの区画に分割されている。区画同士を分離する各室の隔壁は、円形ディスク形状であり、ガス入口部品を横断するライン上に位置することが好ましい。これらの隔壁は、互いに上下に配置されている。しかしながら、互いに上下に配置されているこれらの隔壁を、十字形にまたは星形に配置することも可能である。これらの区画は、異なる円周角で延在していてもよい。小さい区画と大きい区画を設けてもよい。より大きな円周角を占める区画は、プロセスガスをプロセスチャンバ内に供給するために用いられる。より小さい区画、すなわちプロセスチャンバの中心または中央区画の周りにおいてより小さい円周角を占める区画は、パージガスをプロセスチャンバ内に供給するために用いられる。
基板ホルダの回転速度は、周囲領域においてプロセスチャンバ内にプロセスガスを供給する区画を基板が通過する間に、化合物の単層がその基板の表面上にちょうど堆積するような速度に適合させられる。この方法は、基板表面上で本質的に単層としてのみ濃縮されて自己制限的に成長するようなプロセスガスを用いる場合に特に有用である。基板の回転は、異なる化合物が基板上に交互に堆積する結果をもたらす。プロセスガスがプロセスチャンバ内に交互に流れ込むための個々の区画が、パージ・ゾーンで分離されている場合は、反応種は、多層膜及び結晶を形成するべく互いに反応するための十分な時間を確保できる。
シャワーヘッド状に構成されたガス入口部品に関する上記のコンセプトは、特許文献8または特許文献9に開示されたガス入口部品についても、適用可能である。これらにおいても、複数の室が互いに上下に配置されている。しかしながら、それらの室は、プロセスチャンバの天井部と底部の間に配置されている。ガス入口部品の2つの室には、垂直方向に延在するガス供給ラインを用いてプロセスガスが供給される。その後、これらのプロセスガスは、個々の室における関係する区画に流入し、ガス入口部品から水平方向に流れ出るが、周方向において異なる方向である。半円形の出口開口が設けられ、それらは互いに上下に配置されている。しかしながら、室の個数に応じて、円の4分の1または3分の1の形状をもつ出口開口を設けてもよい。
さらに、互いに別々になっているプロセスガスの出口開口を、パージガスが出てくるゾーンにより分離してもよい。出口開口から出るプロセスガスは、プロセスチャンバ内を径方向に流れ、かつガス入口部品の周囲に集められた基板の上を流れる。結晶を形成する反応生成物は、気相反応により、または表面反応により生成される。
複数の室の個々の区画に対し、各室に割り当てられたプロセスガスをそれぞれ供給するためのガス混合器は、第1のプロセスガス用の第1のガス計測器と、第2のプロセスガス用の第2のガス計測器とを具備する。第1のプロセスガスは、上述の金属水素化物のいずれかでもよい。第2のプロセスガスは、有機金属化合物でもよい。ガス混合器は、切替バルブ機構を備えている。この切替バルブ機構を用いて、各室の全ての区画に、その室に割り当てられたプロセスガスを供給することができる。例えば、上側の室の全ての区画に水素化物を供給し、下側の室の全ての区画に有機金属化合物を供給する。水素化物及び有機金属化合物は、基本的に、キャリアガスとともに各室に供給される。キャリアガスは、例えば、水素、窒素、または希ガスである。しかしながら、切替バルブ機構により、各室の選択された区画にのみ、その室に割り当てられたプロセスガスを供給してもよい。それぞれのプロセスガスを供給されたこれらの区画は、互いに上下に配置されてはいないが、互いに周方向に配置されている。プロセスガスを供給されない他の区画には、パージガスが供給される。パージガスは、それぞれの構成物質とともにガス入口部品の下側からプロセスチャンバ内に入る。これらのゾーンは周方向に交互に形成されており、異なるプロセスガスが、そして任意にパージガスのみが、プロセスチャンバ内に供給される。
本発明の実施例について、添付の図面を参照して以下に説明する。
CVD反応装置は、ガス入口部品が設けられており、ガス混合システムを備えている。この種のガス混合システムの幾つかの構成要素は、図4に示されている。これらは、本発明を説明するために必要な構成要素である。H1とH2は、例えばNH、ASH、PHなどの水素化物のためのガス計測器である。これらの計測器H1及びH2は、マスフローコントローラ及びバルブからなる。ガス入口部品の室2の区画2aは、ガス計測器H1により水素化物を供給される。ガス計測器H2により供給される水素化物は、切替バルブ16が適切な位置にあるときに室2の第2の区画2bに供給され、よって室2には水素化物が供給される。ガス計測器MO1は、室1の区画1bに有機金属化合物を供給する。ガス計測器MO2は、切替バルブ17が適切な位置にあるときに室1の区画1aに有機金属化合物を供給する。このような操作中に、双方のプロセスガスが、ガス入口部品の下側の、実質的にあらゆる箇所から流れ出る。一般的に必要である脱気ラインは、明確とするために図示していない。
切替バルブ16、17が切り替えられたならば、下側の室の区画2aに上記のように水素化物が流れ込むが、ガス計測器PHにより供給されるパージガスが、隣に位置する室2bに流れ込む。切替バルブ17が適切な位置にあるとき、ガス計測器PHにより供給されるパージガスが、室2aの上側に位置する室1aに流れ込む一方、対角線上で室2aの反対側に位置する室1bに有機金属化合物が流れ込む。この結果、有機金属化合物は、ガス入口部品の下側の、"b"で示された各室のゾーンに流れ込み、水素化物は、"a"の各室に関係する周囲のゾーンに流れ込む。
各室における2つより多い区画のためのガス混合システムは、相応に嵩高になると思われる。その場合、適切に増設した切替バルブ16、17及び相応に増設したガス計測器を備える。
図1及び図2に示したガス入口部品は、実質的に、天井板と、2つの中間板5、6と、底板8とをもつステンレス鋼のハウジングからなる。2つの室1、2が形成され、互いに上下に配置され、室1は2つの区画1a、1bを形成している。区画1a、1bの各々は、断面において実質的に半円筒形状であり、互いの気密性を保持して隔壁13により分離されている。供給ライン11aは、区画1a内に開口し、供給ライン11bは、区画1b内に開口している。
室1の下壁5は、複数の小管により底板8に連結されている。底板8はガス入口部品の下面を形成している。これらの小管はガス出口通路3を形成しており、室1内に導入されたプロセスガスまたはパージガスが、これらの小管を通してガス入口部品の下側に配置されたプロセスチャンバ7に流れ込むことができる。
第2の室2は、上側の室1の下壁5の下側に位置する。第2の室2もまた、複数の小管によりガス入口部品の底板8に連結されている。これらの小管は、下壁6を起点とするガス出口通路4を形成しており、室2内に導入されたプロセスガスまたはパージガスが、これらの小管を通してプロセスチャンバ7に流れ込むことができる。
プロセスチャンバ2は、横断して延びる隔壁14により2つの区画2a、2bに分割されている。個々のガス供給ライン12a、12bは、各区画2a、2bに割り当てられ、それぞれを通してプロセスガスまたはパージガスを区画2a、2bに供給可能である。
2つの室1、2の下側には、第3の室15があるが、これは分割されていない。ガス出口通路3、4を形成する全ての小管は、この室15を貫通している。この室15には冷却媒体が流され、この冷却媒体がガス入口部品の底板8及び小管を冷却する。
ガス入口部品の底板8の下側には、基板ホルダ9があり、例えばグラファイトから形成されている。基板ホルダ9は、ガス入口部品の下側に実質的に一致するように配置されており、ほぼ円形ディスク形状を有している。基板ホルダ9は、図示しない駆動要素によりその軸9’の周りに回転可能である。基板10は、基板ホルダ9上に、環状に配置されており、ガス入口部品のガス出口面の下で回転させられる。
例えば、区画2aに水素化物が供給され、隣に位置する区画2bにパージガスが供給され、区画2aの対角線上の上側に位置する区画1bには有機金属化合物が供給され、その隣に位置する区画1aにパージガスが供給される場合、異なるプロセスガスが、ガス入口部品のガス出口面の異なるゾーンからプロセスチャンバ7に流れ込む。水素化物は、区画2aの下側にあってほぼ180°に亘って延在する周方向ゾーンにおいてプロセスチャンバ7に流れ込む。有機金属化合物は、その隣に位置して同様にほぼ180°に亘って延在する周方向ゾーンにおいてプロセスチャンバに流れ込む。パージガスは、図示しないパージ入口通路により2つのゾーンの間に導入することができる。このような反応室の操作中に、基板ホルダ9が回転させられると、基板ホルダ上の基板10は、一方または他方のプロセスガスに交互に曝されることになる。
図5及び図6に示したガス入口部品の実施例においては、各室1、2がそれぞれ、全部で9個の区画1a〜1i、及び、区画2a〜2iを備えている。
この実施例においては、個々の区画1a〜1i、及び、区画2a〜2iを分離する隔壁13a〜13i、及び、隔壁14a〜14iが、順次、配列されている。
2つの室1、2の各々は、互いに上下に配置され、中央区画1i、2iをそれぞれ有する。中央区画1i、2iは、それぞれ環状壁13a、14aにより囲まれている。この中央区画1i、2iは、室1、2に割り当てられたプロセスガスまたはパージガスのいずれかを供給可能である。それにより、プロセスチャンバ7内に、パージされたプロセスガスのない中央空間が得られる。
中央区画1i及び中央区画2iは、径方向に延びる複数の隔壁13b〜13i及び隔壁14b〜14iでそれぞれ囲まれている。これらの隔壁13b〜13i及び隔壁14b〜14iは、これらの室を横切って延在している。区画1a〜1h及び区画2a〜2hは、それぞれ隔壁により形成され、互いに周方向に順次配置されている。区画1a、1b、1c、1dは、相対的に大きな円周角に亘って延在するように形成されている。室1のこれらの区画に対応して重なるように、室2は、区画2a〜2dを形成している。プロセスガスは、十字形に形成されたこれらの区画1a〜1d及び2a〜2dを通ってプロセスチャンバ7内に供給される。これもまた、交互形式で行われる。これにより、例えば、反対側に位置する区画1aと区画1cに有機金属化合物が供給される。これに対し、区画1bと区画1dにはパージガスが供給される。これらの区画1b、1dは、区画1a、1cとはそれぞれ90°変位した位置にある。室2においては、区画2aと区画2cにパージガスが供給される。区画2bと区画2dは、パージされる区画1bと区画1dの下に位置し、水素化物を供給される。
パージガスの区画1e〜1h及び区画2e〜2hは、これらよりも大きい円周角で延在する区画1a〜1d及び区画2a〜2dの間に配置されている。これらの区画1e〜1h及び区画2e〜2hには、それぞれ室1及び室2に割り当てられたプロセスガス、または、パージガスを選択的に供給してもよい。
図5及び図6に示したガス入口部品の場合、全てのプロセスガスが、複数の区画への適切な供給により混合されてプロセスチャンバ7内に供給されることができる。上述のものとは異なるガス混合システムの切替位置においては、選択された区画にのみプロセスガスが供給され、選択されていない区画にはパージガスが供給される。これにより、プロセスチャンバ7内に周方向のゾーンが形成される。この場合、基板は、水素化物または有機金属化合物に曝される。
図7及び図8に示したさらに別の実施例は、いわゆる星形反応装置用である。この場合、ガス入口部品は、プロセスチャンバ7の中央にある。プロセスチャンバは、プロセスチャンバ天井板19を備え、この天井板は中央開口を具備し、この中央開口を通してガス入口部品がプロセスチャンバの内部に突出している。ガス入口部品は、特別に水冷されている。プロセスチャンバの底板9は、ガス入口部品及びプロセスチャンバ天井板19の下方に位置し、この基部が基板ホルダにより形成されている、基板ホルダはその中心軸9’の周りに回転駆動される。複数の基板が、基板ホルダ9の領域上においてガス入口部品を囲むように配置されている。これらの基板は、それぞれのサセプターに順次載置され、適宜の手段により回転駆動される。ガス入口部品から流出したガスは、プロセスチャンバ内で径方向に流れる。
これらの図は、ガス入口部品の概略のみを示している。異なるプロセスガス、特に水素化物と有機金属化合物が、ガスの供給ラインを通り垂直方向にガス入口部品を通過することが適切である。このために、ガス入口部品は、外管22を備え、この外管の内部には更に小さい径をもつ内管21が配置されている。これらにより形成された二重管は、縦方向に延在する隔壁13、14により、供給ライン11a、11b及び12a、12bに分割されている。有機金属化合物は、外側の供給ライン11a、11bを通って第1のチャンバ1a、1bに流れ込む。このチャンバは、2つの区画1a、1bを形成し、これらの区画は共通の水平面内に位置して半円形状に延在している。これらの区画は、供給ライン11a、11bの終端部分を形成している。
内管21は、同様に、区画2a、2bを形成し、これらの区画は共通の水平面内に位置して半円形状に延在している。これらの区画は、実質的に供給ライン12a、12bの終端部分を形成している。
図7の断面に示されるように、区画1aは、区画2aの垂直方向上側に位置している。区画1bは、区画2bの垂直方向上側に位置している。中央の内管21は、管終端へ向かってコーン形状に拡がって、プロセスチャンバ7内に突出している。これにより、区画1a、2a及び区画1b、2bの間の隔壁を形成している。
区画1a、1bは、出口開口3を有し、これらは周方向の180°に亘る面に延在している。これらの出口開口3は、互いに反対側を向き、キャリアガスにより移送された有機金属化合物のプロセスガスをプロセスチャンバ7内に放出する役割を果たす。水素化物は、区画2a、2bの出口開口4を通りプロセスチャンバ内に入る。これらの出口開口4は、出口開口3の下方に位置し、周方向の180°に亘る面に延在している。
この実施例における操作は、上述の実施例の操作に対応する。区画1a、1b及び区画2a、2bへプロセスガスをそれぞれ供給することができる。これに替えて、プロセスガスを、区画1a及び2aにのみ供給してもよい。その場合、希ガスのみが区画1b及び2aに供給される。
基板ホルダ9が、その軸9’の周りに回転するとき、その上に載置された基板は、一方または他方のプロセスガスを含む各ガス相内に交互に入ることになる。
図9〜図12に示した実施例は、図7及び図8に示した実施例の変形形態である。ここでも、プロセスガスは、区画1a、1b、2a、2bから水平方向に流れ出る。しかしながら、前述の実施例とは異なり、ここでは、各区画1a、1b及び各区画2a、2bからの出口開口3、4が、パージガス開口20により分離されている。パージガスは、中央の管18により供給される。パージガス管18は、隔壁14の中央にある。パージガス管18は、ガス入口部品の終端部分で拡がっており、これを通してパージガスは、直径の反対側にそれぞれ位置する出口開口20からプロセスチャンバ内に流れ込む。
図示しない実施例においては、中央部分にプロセスガス供給ラインをさらに付加してもよく、これは、ガス入口部品の終端部分に開口する。これは、冒頭に述べた背景技術と同様である。例えば、水素化物を、この中央のガス供給ラインを通してプロセスチャンバに供給してもよく、これは背景技術と同様である。その場合、異なる有機金属化合物を、異なる円周角に亘って延在する各区画を通してプロセスチャンバに供給してもよい。つまり、例えばインジウムまたはガリウムを含む有機金属化合物を、プロセスチャンバ内の異なる部分に供給できる。その際、水素化物は、プロセスチャンバにあらゆる方向、すなわち360°に亘って供給される。
開示された全ての態様は、(それ自体)が本発明に関連するものである。関係する添付の優先権書類(先の出願の複写)の開示内容もまた、本願の特許請求の範囲におけるこれらの書類の態様を含める目的で、本願の開示に全て含まれるものとする。
寸法を示さない、符号1a、1bで示す区画をもつ室1を有するガス入口部品の平面図であり、これらの区画は通路3によりガス入口部品の下側に連通している。 寸法を示さない、図1のラインII−IIの断面図である。 図2のラインIII−IIIの断面図である。 図1及び図2に示したガス入口部品の室1、2の区画1a、1b、2a、2bへのガス供給のための、ガス混合器を単純な例を示す図である。 寸法を示さない、第2の実施例のガス入口部品の上側の室1を通る断面図である。 図5のラインVI−VIの断面図である。 本発明のさらに別の実施例のプロセスチャンバを通る断面図である。 図7のラインVIII−VIIIの断面図である。 さらに別の実施例についての図7に相当する図である。 図9のラインX−Xの断面図である。 図9及び図10に示した実施例におけるガス入口部品の側面図である。 図11のラインXII−XIIの断面図である。

Claims (16)

  1. 少なくとも2つのプロセスガスの形態として薄膜の成分がガス入口部品によりプロセスチャンバ(7)内に供給され、前記ガスは前記ガス入口部品における互いに上下に配置された室(1,2)にそれぞれ供給され、それらの室から、プロセスチャンバ(7)内に開口しているガス出口開口(3, 4)を通り前記プロセスチャンバ(7)内に流れ込む、基板を薄膜で被覆する方法において、
    2つの前記室の各々が少なくとも2つの区画(1a, 1b; 2a, 2b)にそれぞれ分割され、2つの前記室における前記区画が実質的に重なるように互いに上下に配置されており、2つの前記プロセスガスが、周方向において互いに分離されて前記プロセスチャンバに流れ込むことにより、前記プロセスチャンバ(7)の底部を形成する基板ホルダ(9)上に環状に載置された前記基板(10)が、前記基板ホルダ(9)がその軸(9')の周りに回転することで、異なる前記プロセスガスに交互に曝されることを特徴とする方法。
  2. 互いに上下に配置されていない前記区画(1a, 2b)のみに対してプロセスガスが供給され、それ以外の前記区画(1b, 2a)に対してパージガスが供給されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
  3. 第1の複数の区画(1e, 1f, 1g, 1h)が、プロセスガスを供給される第2の複数の区画(1a, 2b, 1c, 2d)の間に位置するように周方向に配置されており、前記第1の複数の区画(1e, 1f, 1g, 1h)にパージガスが供給され、前記パージガスの出口は前記ガス入口部品の下側にあることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
  4. CVD反応装置におけるガス入口部品であって、互いに上下に配置された少なくとも2つの室(1, 2)と、前記室の下壁(5, 6)を起点としてガス供給のためにプロセスチャンバ(7)内にそれぞれ開口するガス出口開口(3, 4)とを備え、プロセスガスは、供給ライン(11, 12)により前記室(1, 2)に供給され、前記プロセスチャンバの底部は、回転駆動可能な基板ホルダ(9)により形成される、前記ガス入口部品において、
    前記少なくとも2つの室(1, 2)が、少なくとも2つの区画(1a, 1b; 2a, 2b)にそれぞれ分割され、異なる前記室(1,2)における前記区画(1a, 1b; 2a, 1b)が実質的に重なるように互いに上下に配置され、かつ前記区画がそれぞれ供給ライン(11a, 11b; 12a, 12b)を具備することを特徴とするガス入口部品。
  5. 複数の前記区画(1a, 1b; 2a, 2b)の間の隔壁の領域に、パージガス出口開口を配置したことを特徴とする請求項4に記載のガス入口部品。
  6. 回転対称な前記基板ホルダ(9)の軸(9')の周りに複数の基板(10)が環状に配置されていることを特徴とする請求項4または5に記載のガス入口部品。
  7. 前記室(1,2)が、星形または十字形となるように、複数の前記区画(1a-1i; 2a-2i)に分割されていることを特徴とする請求項4〜6のいずれかに記載のガス入口部品。
  8. プロセスガスまたはパージガスを選択的に供給するための中央区画(1i, 2i)を備えたことを特徴とする請求項4〜7のいずれかに記載のガス入口部品。
  9. 複数の前記区画(1a-1h; 2a-2h)が、プロセスチャンバ(7)に対しパージガスまたはプロセスガスのいずれかを供給するために、周方向に分布して配置されていることを特徴とする請求項4〜8のいずれかに記載のガス入口部品。
  10. 複数の前記区画(1a-1i; 2a-2i)を互いに気密性を保持して分割する隔壁(13,14)が、互いに上下に配置されていることを特徴とする請求項4〜9のいずれかに記載のガス入口部品。
  11. 冷却媒体室(15)が前記室(1, 2)の下側に配置され、前記冷却媒体室の底板(8)が前記ガス入口部品の下面を形成することを特徴とする請求項4〜10のいずれかに記載のガス入口部品。
  12. 前記ガス出口開口(3, 4)が、前記ガス入口部品の下面に開口する通路であり、前記ガス入口部品の下面が、前記プロセスチャンバ(7)の天井面を形成していることを特徴とする請求項4〜11のいずれかに記載のガス入口部品。
  13. 前記ガス出口開口 (3, 4)が、前記ガス入口部品の周方向に延在する開口であって互いに上下に配置されており、前記ガス入口部品がプロセスチャンバ(7)内に突出していることを特徴とする請求項4〜12のいずれかに記載のガス入口部品。
  14. パージガス供給ライン(18)の出口開口(20)が、複数の前記区画(1a, 1b, 2a, 2b)のガス出口開口(3, 4)の間に配置されていることを特徴とする請求項4〜13のいずれかに記載のガス入口部品。
  15. 第1のプロセスガスのための第1のガス計測器(H1, H2)と、第2のプロセスガスのための第2のガス計測器(MO1, MO2)と、切替バルブ機構(16, 17)とを具備するガス混合器を備え、前記ガス混合器により、いずれかの室(1, 2)の全ての区画(1a-1i; 2a-2i)に対し同じプロセスガスを供給するか、または、互いに上下に配置されていない選択された区画(1a-1i; 2a-2i)のみに対し各室に割り当てられたプロセスガスを供給することを特徴とする請求項4〜14のいずれかに記載のガス入口部品。
  16. 請求項4〜15のいずれかに記載のガス入口部品と、いずれかの室(1, 2)の全ての区画(1a-1i; 2a-2i)に対し同じプロセスガスを供給するか、または、互いに上下に配置されていない選択された区画(1a-1i; 2a-2i)のみに対し各室に割り当てられたプロセスガスを供給するか、を選択的に行うガス混合器と、前記ガス入口部品の下方に配置されて中心軸の周りに回転可能な基板ホルダ(9)と、を備えたCVD反応装置。
JP2008541729A 2005-11-22 2006-11-21 Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品 Expired - Fee Related JP5137843B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005055468A DE102005055468A1 (de) 2005-11-22 2005-11-22 Verfahren zum Abscheiden von Schichten in einem CVD-Reaktor sowie Gaseinlassorgan für einen CVD-Reaktor
DE102005055468.7 2005-11-22
PCT/EP2006/068712 WO2007060159A1 (de) 2005-11-22 2006-11-21 Verfahren zum abscheiden von schichten in einem cvd-reaktor sowie gaseinlassorgan für einen cvd-reaktor

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009516777A JP2009516777A (ja) 2009-04-23
JP2009516777A5 JP2009516777A5 (ja) 2009-12-24
JP5137843B2 true JP5137843B2 (ja) 2013-02-06

Family

ID=37728376

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008541729A Expired - Fee Related JP5137843B2 (ja) 2005-11-22 2006-11-21 Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品

Country Status (9)

Country Link
US (1) US20100003405A1 (ja)
EP (1) EP1951931B1 (ja)
JP (1) JP5137843B2 (ja)
KR (1) KR20080075198A (ja)
CN (1) CN101313086B (ja)
AT (1) ATE493521T1 (ja)
DE (2) DE102005055468A1 (ja)
TW (1) TW200728495A (ja)
WO (1) WO2007060159A1 (ja)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7879401B2 (en) * 2006-12-22 2011-02-01 The Regents Of The University Of Michigan Organic vapor jet deposition using an exhaust
KR101409890B1 (ko) * 2007-07-26 2014-07-02 주식회사 원익아이피에스 가스공급장치, 이를 구비한 박막증착장치 및 이를 이용한박막증착방법
US8334015B2 (en) * 2007-09-05 2012-12-18 Intermolecular, Inc. Vapor based combinatorial processing
JP2011500961A (ja) 2007-10-11 2011-01-06 バレンス プロセス イクウィップメント,インコーポレイテッド 化学気相成長反応器
US8668775B2 (en) * 2007-10-31 2014-03-11 Toshiba Techno Center Inc. Machine CVD shower head
US8129288B2 (en) * 2008-05-02 2012-03-06 Intermolecular, Inc. Combinatorial plasma enhanced deposition techniques
KR101004927B1 (ko) * 2008-04-24 2010-12-29 삼성엘이디 주식회사 Cvd용 샤워 헤드 및 이를 구비하는 화학 기상 증착 장치
KR100957492B1 (ko) * 2008-05-06 2010-05-17 주식회사 휘닉스 디지탈테크 소스 가스와 반응 가스의 배기 속도와 퍼지 가스의 배기속도를 다르게 하는 가스 분사 헤드와 상기 가스 분사헤드를 구비하는 원자층 박막 증착 장치
JP4661990B2 (ja) * 2008-06-27 2011-03-30 東京エレクトロン株式会社 成膜装置、成膜方法、基板処理装置及び記憶媒体
US9121096B2 (en) * 2008-10-10 2015-09-01 Alta Devices, Inc. Concentric showerhead for vapor deposition
DE102008055582A1 (de) * 2008-12-23 2010-06-24 Aixtron Ag MOCVD-Reaktor mit zylindrischem Gaseinlassorgan
KR101064210B1 (ko) * 2009-06-01 2011-09-14 한국생산기술연구원 막증착 진공장비용 샤워헤드
DE102009043840A1 (de) 2009-08-24 2011-03-03 Aixtron Ag CVD-Reaktor mit streifenförmig verlaufenden Gaseintrittszonen sowie Verfahren zum Abscheiden einer Schicht auf einem Substrat in einem derartigen CVD-Reaktor
KR101108879B1 (ko) * 2009-08-31 2012-01-30 주식회사 원익아이피에스 가스분사장치 및 이를 이용한 기판처리장치
KR101625078B1 (ko) * 2009-09-02 2016-05-27 주식회사 원익아이피에스 가스분사장치 및 이를 이용한 기판처리장치
WO2011044451A2 (en) * 2009-10-09 2011-04-14 Applied Materials, Inc. Multi-gas centrally cooled showerhead design
US20120052216A1 (en) * 2010-08-27 2012-03-01 Applied Materials, Inc. Gas distribution showerhead with high emissivity surface
CN101914762B (zh) * 2010-08-31 2013-03-06 广东省中科宏微半导体设备有限公司 一种用于金属有机物化学气相沉积设备的进气喷头结构
DE102011056589A1 (de) * 2011-07-12 2013-01-17 Aixtron Se Gaseinlassorgan eines CVD-Reaktors
US20130145989A1 (en) * 2011-12-12 2013-06-13 Intermolecular, Inc. Substrate processing tool showerhead
KR101327458B1 (ko) * 2012-01-10 2013-11-08 주식회사 유진테크 냉각 방식의 샤워헤드 및 이를 구비하는 기판 처리 장치
CN102534559A (zh) * 2012-02-10 2012-07-04 中国科学院半导体研究所 用于金属有机气相沉积设备的进气喷头
KR101481540B1 (ko) * 2012-10-11 2015-01-13 전북대학교산학협력단 화학기상 증착장치
US10316409B2 (en) 2012-12-21 2019-06-11 Novellus Systems, Inc. Radical source design for remote plasma atomic layer deposition
JP6115244B2 (ja) * 2013-03-28 2017-04-19 東京エレクトロン株式会社 成膜装置
US9677176B2 (en) * 2013-07-03 2017-06-13 Novellus Systems, Inc. Multi-plenum, dual-temperature showerhead
FR3010092B1 (fr) * 2013-09-02 2017-05-26 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositif de traitement de la surface libre d'un materiau
JP6298383B2 (ja) * 2014-08-19 2018-03-20 株式会社日立国際電気 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
US10023959B2 (en) 2015-05-26 2018-07-17 Lam Research Corporation Anti-transient showerhead
JP6664993B2 (ja) 2016-03-01 2020-03-13 株式会社ニューフレアテクノロジー 成膜装置
JP6608332B2 (ja) * 2016-05-23 2019-11-20 東京エレクトロン株式会社 成膜装置
US10604841B2 (en) 2016-12-14 2020-03-31 Lam Research Corporation Integrated showerhead with thermal control for delivering radical and precursor gas to a downstream chamber to enable remote plasma film deposition
US20190032211A1 (en) * 2017-07-28 2019-01-31 Lam Research Corporation Monolithic ceramic gas distribution plate
DE202017105481U1 (de) 2017-09-11 2018-12-12 Aixtron Se Gaseinlassorgan für einen CVD- oder PVD-Reaktor
JP2021505766A (ja) 2017-12-08 2021-02-18 ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation 遠隔プラズマ膜蒸着を可能にするためにラジカルおよび前駆体ガスを下流チャンバに供給するための改良された孔パターンを備える統合シャワーヘッド
US11189502B2 (en) * 2018-04-08 2021-11-30 Applied Materials, Inc. Showerhead with interlaced gas feed and removal and methods of use
KR102576220B1 (ko) * 2018-06-22 2023-09-07 삼성디스플레이 주식회사 박막 처리 장치 및 박막 처리 방법
CN108878326A (zh) * 2018-06-27 2018-11-23 德淮半导体有限公司 注入器及其包含注入器的工艺装置
TWI689618B (zh) * 2018-10-04 2020-04-01 漢民科技股份有限公司 應用於半導體設備之氣體噴射裝置
KR20210127768A (ko) * 2019-03-11 2021-10-22 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 기판 프로세싱 챔버들을 위한 덮개 조립체 장치 및 방법들
CN110408910B (zh) * 2019-08-16 2020-08-28 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 高通量气相沉积设备及气相沉积方法
DE102019129789A1 (de) 2019-11-05 2021-05-06 Aixtron Se Verfahren zum Abscheiden einer zweidimensionalen Schicht sowie CVD-Reaktor
DE102019133023A1 (de) * 2019-12-04 2021-06-10 Aixtron Se Gaseinlassvorrichtung für einen CVD-Reaktor
CN112090602B (zh) * 2020-09-24 2021-11-16 北京北方华创微电子装备有限公司 半导体工艺设备及其进气结构
CN113403609B (zh) * 2021-06-16 2023-08-15 苏州矩阵光电有限公司 Mocvd腔体结构的控制方法
CN115110037B (zh) * 2022-06-23 2024-01-12 北海惠科半导体科技有限公司 蒸发镀膜装置的镀膜方法和蒸发镀膜装置

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4976996A (en) * 1987-02-17 1990-12-11 Lam Research Corporation Chemical vapor deposition reactor and method of use thereof
JPH03170675A (ja) * 1989-11-28 1991-07-24 Mitsubishi Electric Corp 化学気相成長装置
US5225366A (en) * 1990-06-22 1993-07-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Apparatus for and a method of growing thin films of elemental semiconductors
JPH05152208A (ja) * 1991-11-29 1993-06-18 Fujitsu Ltd 半導体製造装置
US5338362A (en) * 1992-08-29 1994-08-16 Tokyo Electron Limited Apparatus for processing semiconductor wafer comprising continuously rotating wafer table and plural chamber compartments
JP3144664B2 (ja) * 1992-08-29 2001-03-12 東京エレクトロン株式会社 処理装置及び処理方法
US5453124A (en) * 1992-12-30 1995-09-26 Texas Instruments Incorporated Programmable multizone gas injector for single-wafer semiconductor processing equipment
JP3181171B2 (ja) * 1994-05-20 2001-07-03 シャープ株式会社 気相成長装置および気相成長方法
GB9411911D0 (en) * 1994-06-14 1994-08-03 Swan Thomas & Co Ltd Improvements in or relating to chemical vapour deposition
US5950925A (en) * 1996-10-11 1999-09-14 Ebara Corporation Reactant gas ejector head
US6080446A (en) * 1997-08-21 2000-06-27 Anelva Corporation Method of depositing titanium nitride thin film and CVD deposition apparatus
US6086677A (en) * 1998-06-16 2000-07-11 Applied Materials, Inc. Dual gas faceplate for a showerhead in a semiconductor wafer processing system
JP4487338B2 (ja) * 1999-08-31 2010-06-23 東京エレクトロン株式会社 成膜処理装置及び成膜処理方法
JP3962509B2 (ja) * 1999-09-16 2007-08-22 株式会社東芝 気相成長装置
KR100390961B1 (ko) * 1999-12-29 2003-07-10 주식회사 하이닉스반도체 듀플럭스 존 샤워 헤드 및 이를 적용하는 케미커리인핸스드 화학기상증착 장비
JP2001023910A (ja) * 2000-01-01 2001-01-26 Fujitsu Ltd 半導体製造装置
JP4817210B2 (ja) * 2000-01-06 2011-11-16 東京エレクトロン株式会社 成膜装置および成膜方法
KR100458982B1 (ko) * 2000-08-09 2004-12-03 주성엔지니어링(주) 회전형 가스분사기를 가지는 반도체소자 제조장치 및 이를이용한 박막증착방법
DE10043601A1 (de) * 2000-09-01 2002-03-14 Aixtron Ag Vorrichtung und Verfahren zum Abscheiden insbesondere kristalliner Schichten auf insbesondere kristallinen Substraten
WO2002045561A2 (en) * 2000-11-20 2002-06-13 Applied Epi, Inc. Surface sealing showerhead for vapor deposition reactor having integrated flow diverters
US20030000924A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-02 Tokyo Electron Limited Apparatus and method of gas injection sequencing
KR100427996B1 (ko) * 2001-07-19 2004-04-28 주식회사 아이피에스 박막증착용 반응용기 및 그를 이용한 박막증착방법
TW573053B (en) * 2001-09-10 2004-01-21 Anelva Corp Surface processing apparatus
DE10153463A1 (de) * 2001-10-30 2003-05-15 Aixtron Ag Verfahren und Vorrichtung zum Abscheiden insbesondere kristalliner Schichten auf insbesondere kristallinen Substraten
KR100450068B1 (ko) * 2001-11-23 2004-09-24 주성엔지니어링(주) Cvd 장치의 멀티섹터 평판형 샤워헤드
US6861094B2 (en) * 2002-04-25 2005-03-01 Micron Technology, Inc. Methods for forming thin layers of materials on micro-device workpieces
US7153542B2 (en) * 2002-08-06 2006-12-26 Tegal Corporation Assembly line processing method
JP4324663B2 (ja) * 2002-09-05 2009-09-02 独立行政法人産業技術総合研究所 シャワーヘッド及びシャワーヘッドを用いた半導体熱処理装置
DE10247921A1 (de) * 2002-10-10 2004-04-22 Aixtron Ag Hydrid VPE Reaktor
JP4256698B2 (ja) * 2003-03-10 2009-04-22 サムコ株式会社 多層薄膜製造装置及び製造方法
JP2005019606A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Anelva Corp プラズマ処理装置におけるガスシャワーヘッドまたはターゲットプレートを電極に固定する装置
EP1667217A1 (en) * 2003-09-03 2006-06-07 Tokyo Electron Limited Gas treatment device and heat readiting method
JP4306403B2 (ja) * 2003-10-23 2009-08-05 東京エレクトロン株式会社 シャワーヘッド構造及びこれを用いた成膜装置
KR100513920B1 (ko) * 2003-10-31 2005-09-08 주식회사 시스넥스 화학기상증착 반응기
JP4451684B2 (ja) * 2004-03-17 2010-04-14 キヤノンアネルバ株式会社 真空処理装置
CN102154628B (zh) * 2004-08-02 2014-05-07 维高仪器股份有限公司 用于化学气相沉积反应器的多气体分配喷射器

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007060159A1 (de) 2007-05-31
CN101313086B (zh) 2011-10-19
EP1951931B1 (de) 2010-12-29
EP1951931A1 (de) 2008-08-06
US20100003405A1 (en) 2010-01-07
DE502006008626D1 (de) 2011-02-10
DE102005055468A1 (de) 2007-05-24
KR20080075198A (ko) 2008-08-14
ATE493521T1 (de) 2011-01-15
CN101313086A (zh) 2008-11-26
TW200728495A (en) 2007-08-01
JP2009516777A (ja) 2009-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5137843B2 (ja) Cvd反応装置における多層薄膜堆積方法及びcvd反応装置のガス入口部品
US20030203626A1 (en) Apparatus and method for forming thin layers of materials on micro-device workpieces
TWI417415B (zh) 化學氣相沉積流動入口元件及方法
US7648578B1 (en) Substrate processing apparatus, and method for manufacturing semiconductor device
US6821347B2 (en) Apparatus and method for depositing materials onto microelectronic workpieces
TWI404821B (zh) 用於大量沉積材料於微特徵工件上之微特徵工件處理裝置以及方法
US6533867B2 (en) Surface sealing showerhead for vapor deposition reactor having integrated flow diverters
KR101716678B1 (ko) Cvd 반응기 그리고 코팅을 증착시키는 방법
US20080029028A1 (en) Systems and methods for depositing material onto microfeature workpieces in reaction chambers
JP2008255493A (ja) 原子層堆積装置及び方法
JP5009167B2 (ja) 平板内に設けられた予備室を有するガス分配装置
US20080217170A1 (en) Sputtering system
US6818249B2 (en) Reactors, systems with reaction chambers, and methods for depositing materials onto micro-device workpieces
JP2008172083A (ja) 気相成長装置および気相成長方法
KR101334643B1 (ko) 박막증착장치
KR102267923B1 (ko) 증착 장치
JP2009516077A (ja) Ald反応容器
JP5031910B2 (ja) 気相成長装置
KR20090012395A (ko) 박막증착장치
JP2023504612A (ja) Cvdリアクタ用のガス導入装置
US20220307136A1 (en) Apparatus for supplying gas and apparatus for processing substrate using the same
CN115852343A (zh) 一种进气分配机构及具有其的cvd反应设备
JP2003226976A (ja) ガスミキシング装置
JP2023540932A (ja) 2つの供給箇所を有するcvdリアクタのガス入口部材
KR20120079443A (ko) 박막 증착 방법 및 박막 증착 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091102

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091102

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120605

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120719

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121023

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121113

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151122

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees