JP5077502B2 - 電気電子部品封止用樹脂組成物、電気電子部品の製造方法および電気電子部品封止体 - Google Patents
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Description
(1)
結晶性ポリエステル系エラストマー(A)、
フェノール変性アルキルベンゼン樹脂(B1)および/またはフェノール樹脂(B2)、
ポリオレフィン樹脂(C)、
を含有し、
水分率0.1%以下に乾燥して220℃に加熱し圧力1MPaを付与し、孔径1.0mm、厚み10mmのダイより押し出したときの溶融粘度が5dPa・s以上3000dPa・s以下である電気電子部品封止用樹脂組成物。
(2)
前記結晶性ポリエステル系エラストマー(A)が、ポリエーテル成分が共重合されている結晶性ポリエステル樹脂(A1)、ポリカーボネート成分が共重合されている結晶性ポリエステル樹脂(A2)、および、ポリラクトン成分が共重合されている結晶性ポリエステル樹脂(A3)からなる群から選ばれる1種または2種以上の混合物である、(1)に記載の電気電子部品封止用樹脂組成物。
(3)
前記フェノール変性アルキルベンゼン樹脂(B1)がアルキルフェノール変性型アルキルベンゼン樹脂であり水酸基価が100当量/106g以上である(1)または(2)に記載の樹脂組成物。
(4)
前記フェノール樹脂(B2)がノボラック型フェノール樹脂であり水酸基価が100当量/106g以上である(1)〜(3)のいすれかに記載の樹脂組成物。
(5)
前記結晶性ポリエステル系エラストマー(A)100重量部に対し、フェノール変性アルキルベンゼン樹脂(B1)とフェノール樹脂(B2)の合計が0.1〜100重量部、およびポリオレフィン樹脂(C)が0.1〜100重量部配合されている(1)〜(4)のいずれかに記載の樹脂組成物。
(6)
アルミニウム板に対する、−40℃30分と80℃30分の冷熱サイクルを1000サイクル付加前後のT型剥離強度保持率が50%以上である(1)〜(5)のいずれかに記載の電気電子部品封止用樹脂組成物。
(7)
アルミニウム板に対する初期T型剥離強度が0.5N/mm以上である、(1)〜(6)のいずれかに記載の電気電子部品封止用樹脂組成物。
(8)
(1)〜(7)のいずれかに記載の樹脂組成物を、加熱して混練した後、電気電子部品を挿入した金型に樹脂組成物温度130℃以上260℃以下かつ樹脂組成物圧力0.1MPa以上10MPa以下で注入する、電気電子部品封止体の製造方法。
(9)
(1)〜(7)のいずれかに記載の樹脂組成物で封止された電気電子部品封止体。
セイコー電子工業株式会社製の示差走査熱量分析計「DSC220型」にて、測定試料5mgをアルミパンに入れ、蓋を押さえて密封し、一度250℃で5分ホールドした後、液体窒素で急冷して、その後−150℃から250℃まで、20℃/minの昇温速度で測定した。得られた曲線の変曲点をガラス転移温度、吸熱ピークを融点とした。
<密着強度試験>
密着強度試験片の作成方法
0.5mm厚のアルミ板(TP技研株式会社製A5052)を70mm×70mmの大きさに切断し、表面をアセトンで拭いて油分を取り除いた。次いでこのアルミ板を平板成型用金型(金型内面寸法:幅100mm×長さ100mm×厚み5mm)の内部に固定し、アルミ板の一辺に幅10mmのセロハンテープを貼りつけた。次いでスクリュー型ホットメルト成型加工用アプリケーター(井元製作所製竪型低圧押し出し成型機IMC−18F9)を用いて100mm×100mmの面の中心に設けたゲートから封止用樹脂組成物を注入し、成型を行った。成型条件は、成型樹脂温度220℃、成型圧力3MPa、保圧圧力3MPa、冷却時間15秒、吐出回転を50%設定(最大吐出を100%として)とした。成型物を離型し、各々がセロハンテープ貼りつけ部を有する幅20mmの短冊状となるように切断し、密着強度試験片を得た。
前記密着試験片を23℃、相対湿度50%の雰囲気下にて3時間以上100時間以内保管した。次いで、セロハンテープ貼りつけ部よりアルミ板と樹脂を剥離させ、T型剥離強度を測定した。引張速度は50mm/分とした。
評価基準 AAA:T型剥離強度2.0N/mm以上
AA :T型剥離強度2.0N/mm未満1.0N/mm以上
A :T型剥離強度1.0N/mm未満0.5N/mm以上
B :T型剥離強度0.5N/mm未満
初期密着性を評価したのと同様にして作成した密着強度試験片に対して、−40℃で30分、次いで80℃で30分の環境下におくことを1サイクルとする1000サイクルの環境負荷を与え、次いで常温常湿で一昼夜静置した後、T型剥離強度を測定した。下記数式(1)で定義されるT型剥離度保持率Iを算出し、下記評価基準に従って表示した。
AA :T型剥離強度保持率Iが80%未満70%以上
A :T型剥離強度保持率Iが70%未満50%以上
B :T型剥離強度保持率Iが50%未満
初期密着性を評価したのと同様にして作成した密着強度試験片に対して、−40℃で30分、次いで150℃で30分の環境下におくことを1サイクルとする1000サイクルの環境負荷を与え、次いで常温常湿で一昼夜静置した後、T型剥離強度を測定した。下記数式(2)で定義されるT型剥離度保持率IIを算出し、下記評価基準に従って表示した。
AA :T型剥離強度保持率IIが80%未満70%以上
A :T型剥離強度保持率IIが70%未満50%以上
B :T型剥離強度保持率IIが50%未満
樹脂および封止用樹脂組成物の溶融粘度の評価方法
島津製作所製、フローテスター(CFT−500C型)にて、220℃に設定した加熱体中央のシリンダー中に水分率0.1%以下に乾燥した樹脂または封止用樹脂組成物を充填し、充填1分経過後、プランジャーを介して試料に荷重を加え、圧力1MPaで、シリンダー底部のダイ(孔径:1.0mm、厚み:10mm)より、溶融した試料を押出し、プランジャーの降下距離と降下時間を記録し、溶融粘度を算出した。
平板成型用金型を使用し、ホットメルト成型加工用アプリケーターとして井元製作所製低圧成型アプリケーターIMC−18F9を用いて封止用樹脂組成物からなる平板(100mm×100mm×10mm)を成型し、離型後の平板を目視観察してバリ、ヒケおよびショートショットの有無を下記評価基準に従って表示した。なお、ゲート位置は100mm×100mmの面の中心とし、成型条件は、成型樹脂温度220℃、成型圧力3MPa、保圧圧力3MPa、冷却時間15秒、吐出回転50%設定とした。
評価基準 AAA:完全に充填され、バリもヒケもない。
AA :完全に充填されるが、若干のバリが発生する。
A :ショートショット無く充填されるが、ヒケ有り。
B :ショートショット有り。
スクリュー型ホットメルト成型加工用アプリケーター(井元製作所製竪型低圧押し出し成型機IMC−18F9)を用いて100mm×100mmの面の中心に設けたゲートから封止用樹脂組成物を注入し、成型を行い、2mm厚の平板を作製した。成型条件は、成型樹脂温度220℃、成型圧力3MPa、保圧圧力3MPa、冷却時間15秒、吐出回転を50%設定(最大吐出を100%として)とした。得られた平板を打ち抜き加工してJIS3号型ダンベルを作製し、JIS K6251の測定方法に従って引張破断伸度を測定し、その値を「初期引張破断伸度」とした。また、同様に作成したダンベルを150℃雰囲気下で1000時間処理し、一昼夜常温常湿下に静置した後に、同様に引張破断伸度測定を実施し、その値を「150℃、1000時間負荷試験後の引張破断伸度」とした。引張破断伸度保持率は下記の式2に従って算出し、下記評価基準に従って表示した。
AA :引張破断伸度保持率65%未満50%以上
A :引張破断伸度保持率50%未満30%以上
B :引張破断伸度保持率30%未満
TPA:テレフタル酸
NDC:ナフタレンジカルボン酸
BD:1,4−ブタンジオール
PTMG1000:ポリテトラメチレンエーテルグリコール(数平均分子量1000)
PTMG2000:ポリテトラメチレンエーテルグリコール(数平均分子量2000)
PCL:ポリカプロラクトン(数平均分子量850)
PBT:ポリブチレンテレフタレート
PBN:ポリブチレンナフタレート
ポリオレフィンA:エクセレンVL EUL731、住友化学(株)製、エチレン−α−オレフィン共重合体、密度0.90、MFR10g/10分。
ポリオレフィンB:アドマーSF−600、三井化学(株)製、接着性ポリオレフィン、密度0.88、MFR3.3g/10分。
ポリオレフィンC:ハイゼックス 2100J、(株)プライムポリマー製、高密度ポリエチレン、密度0.93、MFR5.8g/10分。
フェノール変性アルキルベンゼン樹脂A:ニカノールHP−150、フドー(株)製、フェノール変性キシレン樹脂、水酸基価3035当量/106g。
フェノール変性アルキルベンゼン樹脂B:ニカノールHP−100、フドー(株)製、フェノール変性キシレン樹脂、水酸基価2500当量/106g。
フェノール変性アルキルベンゼン樹脂C:ニカノールL5、フドー(株)製、フェノール変性キシレン樹脂(EO付加タイプ)、水酸基価625当量/106g。
フェノール樹脂A:CKM2400 昭和高分子(株)製、ノボラック型フェノール樹脂、水酸基価9000当量/106g。
フェノール樹脂B:EP4020 旭有機材工業(株)製、クレゾールノボラック型フェノール樹脂、水酸基価9250当量/106g。
撹拌機、温度計、溜出用冷却器を装備した反応缶内にテレフタル酸100mol%に対し、グリコール成分のトータルを100mol%としたとき、1,4−ブタンジオール60mol%量仕込む。その後、テトラブチルチタネートトータル仕込み量を100質量部としたとき、0.25質量部を加え、170〜220℃で2時間エステル化反応を行った。エステル化反応終了後、数平均分子量1000のポリテトラメチレングリコール「PTMG1000」(三菱化学社製)を残り40mol%分仕込み、さらに、ヒンダードフェノール系酸化防止剤「イルガノックス1330」(チバガイギー社製)を0.5質量部投入し、255℃まで昇温する一方、系内をゆっくり減圧にしてゆき、60分かけて255℃で665Paとした。そしてさらに133Pa以下で30分間重縮合反応を行い、ポリエステル樹脂I−Aを得た。このポリエステル樹脂I−Aの融点は165℃で、溶融粘度は500dPa・sであった。
ポリエステル樹脂I−Aの製造例と同様にして、但し原料の種類と比率を変更して反応を行い、ポリエステル樹脂I−B〜Dを得た。これらのポリエステル樹脂I−B〜Dの組成と物性を表1に示した。
電気電子部品封止用樹脂組成物I−1は、ポリエステル樹脂I−A100質量部、ポリオレフィン樹脂Aを20質量部、エポキシ樹脂Aを10質量部を均一に混合した後、二軸押し出し機を用いてダイ温度220℃において溶融混練することによって得た。ポリエステル樹脂組成物I−2〜26は、ポリエステル樹脂組成物I−1と同様な方法によって、但し配合成分および比率を変更して、調製した。それぞれの組成を表2および表3に示した。
封止用樹脂組成物として封止用樹脂組成物I−1を用い、<溶融特性試験>、<密着強度試験>を実施した。<溶融特性試験>において、846dPa・sと良好な溶融特性であった。<密着強度試験>において、アルミ板密着試験片について、初期密着強度は1.2MPa、冷熱サイクル試験後は1.0MPa、と、すべての項目において高い密着強度保持率を示す良好な結果となった。結果を表2に示した。
封止用樹脂組成物として封止用樹脂組成物I−2〜9を用い、実施例I−1と同様にして<溶融特性試験>、<密着強度試験>を実施した。評価結果を表2に示した。
封止用樹脂組成物として封止用樹脂組成物I−10を用い、実施例I−1と同様にして<溶融特性試験>、<密着強力試験>を実施した。<溶融特性試験>において、3414dPa・sであり成型可能範囲外であり、<密着強度試験>において、アルミ板密着試験片について、初期密着強度は0.9MPa、冷熱サイクル試験後は0.7MPaと必要特性を満たし、かつ密着強度保持率も満たすが、低圧成型評価にて、ショートによる成型不良が発生し不良となった。評価結果を表3に示した。
封止用樹脂組成物として封止用樹脂組成物I−11を用い、実施例I−1と同様にして<溶融特性試験>、<密着強度試験>を実施した。<溶融特性試験>において、273dPa・sで成型可能範囲であり、<密着強度試験>において、アルミ板密着試験片について、初期密着強度は0.8MPa、冷熱サイクル試験後は0.1MPaとなり必要特性を満たさず不良となった。評価結果を表3に示した。
封止用樹脂組成物として封止用樹脂組成物I−12〜15を用い、実施例I−1と同様にして<溶融特性試験>、<密着強度試験>を実施した。評価結果を表2に示した。評価結果を表3に示した。
ポリ(ヘキサメチレンカーボネート)ジオール(数平均分子量2000)100質量部とジフェニルカーボネート9.6質量部とを反応容器に仕込み、温度205℃、130Paで反応させた。2時間後、内容物を冷却し、生成したポリマーを取り出し、脂肪族ポリカーボネートジオールAを得た。脂肪族ポリカーボネートジオールAの数平均分子量は13000であった。
脂肪族ポリカーボネートジオールAの製造例において、ポリ(ヘキサメチレンカーボネート)ジオールをポリ(テトラメチレンカーボネート)ジオール(数平均分子量2000)に変更し、その他は同様にして、脂肪族ポリカーボネートジオールBを得た。脂肪族ポリカーボネートジオールBの数平均分子量は13000であった。
ハードセグメント成分である数平均分子量20000のポリブチレンテレフタレート(PBT)100質量部とソフトセグメント成分である脂肪族ポリカーボネートジオールA150質量部とを、230℃〜245℃、130Pa下で1時間攪拌し、樹脂が透明になったことを確認した。その後、窒素気流下でフェニルホスホン酸をリン原子として60ppm添加し、微減圧下(>300Pa)で10分撹拌した後、内容物を取り出し冷却した。次いで、ラスミットLGを0.3部、Irganox1010を0.3部を加え、250℃で混練して、ポリエステル樹脂組成物II−Aを得た。ポリエステル樹脂組成物Aは主に末端ビニル基13eq/tonを有する結晶性ポリエステル樹脂からなるものであった。
ポリエステル樹脂組成物II−Aの製造例と同様にして、但しハードセグメント成分とソフトセグメント成分の種類と配合量を変更し、ポリエステル樹脂組成物II−B〜Eを得た。ポリエステル樹脂組成物II−B〜Eの組成と物性を表1に示した。
撹拌機、温度計、溜出用冷却器を装備した反応缶内にテレフタル酸100モル部、1,4−ブタンジオール75モル部、テレフタル酸と1,4−ブタンジオールの合計重量に対して0.25重量%のテトラブチルチタネートを仕込み、170〜220℃で2時間エステル化反応を行った。エステル化反応終了後、数平均分子量1000のポリテトラメチレングリコール「PTMG1000」(三菱化学社製)を25モル部、ヒンダードフェノール系酸化防止剤「イルガノックス1330」(チバガイギー社製)を0.5重量%投入し、250℃まで昇温する一方、系内をゆっくり減圧にしてゆき、60分かけて250℃で665Paとした。そしてさらに133Pa以下で30分間重縮合反応を行い、ポリエステル樹脂Fを得た。このポリエステル樹脂組成物Fの融点は190℃で、溶融粘度は500dPa・sであった。
ポリエステル樹脂組成物Fの製造例と同様にして、但し、テレフタル酸をナフタレンジカルボン酸に変更して、樹脂組成物Gを得た。ポリエステル樹脂組成物Gの組成と物性を表1に示した。
ポリエステル樹脂組成物A100質量部、ポリオレフィン樹脂A20質量部、エポキシ樹脂A10質量部を均一に混合した後、二軸押し出し機を用いてダイ温度220℃〜240℃において溶融混練することによって、電気電子部品封止用樹脂組成物II−1を得た。別記した方法により、電気電子部品封止用樹脂組成物II−1の溶融特性、初期密着性、冷熱サイクル耐久性および耐熱老化性を評価した。<溶融特性試験>において、1000dPa・sと良好な溶融特性であった。<密着強度試験>において、初期密着強度は1.0MPa、冷熱サイクル試験後は1.0MPa、T型剥離強度保持率は100%となった。また、<高温長時間負荷試験>において、引張破断伸度保持率は75%であった。評価結果を表5に示した。
実施例II−1と同様にして、但し配合を表5〜表7のように変更し、電気電子部品封止用樹脂組成物II−2〜16を製造し、評価した。評価結果を表5〜表7に示した。
ポリエステル樹脂I−Aの製造例と同様にして、但し原料の種類と比率を変更して反応を行い、ポリエステル樹脂III−A〜Cを得た。これらのポリエステル樹脂I−B〜Dの組成と物性を表1に示した。
実施例I−1と同様にして、但し配合を表9のように変更して、電気電子部品封止用樹脂組成物II−2〜16を製造し、評価した。評価結果を表9に示した。
Claims (9)
- 結晶性ポリエステル系エラストマー(A)、
フェノール変性アルキルベンゼン樹脂(B1)および/またはフェノール樹脂(B2)、
ポリオレフィン樹脂(C)、
を含有し、
水分率0.1%以下に乾燥して220℃に加熱し圧力1MPaを付与し、孔径1.0mm、厚み10mmのダイより押し出したときの溶融粘度が5dPa・s以上3000dPa・s以下である電気電子部品封止用樹脂組成物。 - 前記結晶性ポリエステル系エラストマー(A)が、ポリエーテル成分が共重合されている結晶性ポリエステル樹脂(A1)、ポリカーボネート成分が共重合されている結晶性ポリエステル樹脂(A2)、および、ポリラクトン成分が共重合されている結晶性ポリエステル樹脂(A3)からなる群から選ばれる1種または2種以上の混合物である、請求項1に記載の電気電子部品封止用樹脂組成物。
- 前記フェノール変性アルキルベンゼン樹脂(B1)がアルキルフェノール変性型アルキルベンゼン樹脂であり水酸基価が100当量/106g以上である請求項1または2に記載の樹脂組成物。
- 前記フェノール樹脂(B2)がノボラック型フェノール樹脂であり水酸基価が100当量/106g以上である請求項1〜3のいずれかに記載の樹脂組成物。
- 前記結晶性ポリエステル系エラストマー(A)100重量部に対し、フェノール変性アルキルベンゼン樹脂(B1)とフェノール樹脂(B2)の合計が0.1〜100重量部、およびポリオレフィン樹脂(C)が0.1〜100重量部配合されている請求項1〜4のいずれかに記載の樹脂組成物。
- アルミニウム板に対する、−40℃30分と80℃30分の冷熱サイクルを1000サイクル付加前後のT型剥離強度保持率が50%以上である請求項1〜5のいずれかに記載の電気電子部品封止用樹脂組成物。
- アルミニウム板に対する初期T型剥離強度が0.5N/mm以上である、請求項1〜6のいずれかに記載の電気電子部品封止用樹脂組成物。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の樹脂組成物を、加熱して混練した後、電気電子部品を挿入した金型に樹脂組成物温度130℃以上260℃以下かつ樹脂組成物圧力0.1MPa以上10MPa以下で注入する、電気電子部品封止体の製造方法。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の樹脂組成物で封止された電気電子部品封止体。
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