JP4819677B2 - Iii族元素窒化物結晶の製造方法、それに用いる製造装置、およびそれらにより得られた半導体素子 - Google Patents

Iii族元素窒化物結晶の製造方法、それに用いる製造装置、およびそれらにより得られた半導体素子 Download PDF

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Description

本発明は、III族元素窒化物結晶の製造方法、それに用いる製造装置、およびそれらにより得られた半導体素子に関する。
窒化ガリウム(GaN)は、青色や紫外光を発光する半導体素子の材料として注目されている。青色レーザーダイオード(LD)は、高密度光ディスクやディスプレイに応用され、また青色発光ダイオード(LED)は、ディスプレイや照明などに応用される。また、紫外線LDは、バイオテクノロジーなどへの応用が期待され、紫外線LEDは、蛍光灯の紫外光として期待されている。
LDやLED用のGaN結晶は、通常、サファイア基板上に、気相エピタキシャル成長法を用いてGaN結晶をヘテロエピタキシャル成長させることによって形成されている。この方法で得られるGaN結晶の転位密度は、通常、108cm-2〜109cm-2であるため、得られる結晶の品質に問題がある。この問題を解決する方法として、例えば、ELOG(Epitaxial lateral overgrowth)法が開発されている。この方法によれば、転位密度を105cm-2〜106cm-2程度まで下げることができる。しかし、この方法は、工程が複雑であるという問題がある。
一方、気相エピタキシャル成長ではなく、液相で結晶成長を行う方法も検討されている。しかしながら、GaN結晶の融点における窒素の平衡蒸気圧は10000atm(10000×1.013×105Pa)以上であるため、GaN結晶を液相で成長させるためには、1200℃で8000atm(8000×1.013×105Pa)という過酷な条件にする必要があった。この問題を解決するために、Naフラックスを用いる方法が開発されている。この方法によれば、比較的穏やかな条件でGaN結晶を得ることができる。さらに、アンモニアを含む窒素ガス雰囲気下において、GaとNaとの混合物を加圧加熱して溶融させ、この融液を用いて96時間の育成させることにより、1.2mm程度の最大結晶サイズの単結晶が得られている(例えば、特許文献1参照)。
また、反応容器と結晶成長容器とを分離し、自然核発生を抑えて大型の結晶を成長させる方法が提案されている(例えば、特許文献2参照)。
しかしながら、GaNをはじめとするIII族元素窒化物の分野では、さらなる成長レートおよび品質の向上が求められている。
特開2002−293696号公報 特開2003−300798号公報
そこで、本発明の目的は、成長レートを向上し、高品質で大きな結晶を短時間で育成できるIII族元素窒化物結晶の製造方法、それに用いる製造装置、およびそれらにより得られた半導体素子を提供することである。
上記目的を達成するために、本発明の製造方法は、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素と窒素とを含む原料液中において、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱して前記原料液中の窒素とIII族元素とを反応させ結晶を成長させる結晶成長工程を有するIII族元素窒化物結晶の製造方法であって、前記結晶成長工程に先立ち、さらに、原料調製工程を有し、前記原料調製工程が、窒素含有ガス雰囲気下、雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方を前記結晶成長工程の条件よりも高く設定して、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液中に窒素を溶解させて前記原料液を調製する工程であることを特徴とする。
本発明の製造装置は、III族元素窒化物結晶の製造装置であって、加熱手段、加圧手段、窒素含有ガス供給手段、結晶成長容器、原料調製容器および原料移送手段を有し、前記結晶成長容器および前記原料調製容器は、前記原料移送手段を介して連結され、前記結晶成長容器および前記原料調製容器には、それぞれ、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段が配置されており、前記原料調製容器内を、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱し、前記原料調製容器内において、III族元素とアルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とを含む融液を調製し、前記融液中への窒素の溶解を行って原料液を調製し、この原料液を、前記原料移送手段により、前記原料調製容器から前記結晶成長容器に移送し、前記結晶成長容器内を、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱し、前記結晶成長容器内において、前記原料液中の窒素とIII族元素とを反応させ、III族元素窒化物結晶を成長させて製造する装置であり、前記原料調製容器内の雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方が、前記結晶成長容器よりも高く設定されることを特徴とする。
本発明者等は、III族元素窒化物結晶の成長について一連の研究を重ねた。その過程で、従来の方法の場合、結晶成長初期にまったく結晶が成長しない時間が長時間にわたって存在し、この初期の結晶成長にまったく寄与しない時間は、結晶成長条件にもよるが、例えば、24時間〜48時間程度と全成長時間の20%〜50%程度と非常に長い時間であることを突き止めた。このように、結晶成長に寄与しない時間が存在することにより、実質的に結晶成長している時間が短くなり、その結果、成長した結晶の膜厚を成長時間(成長に寄与しない時間を含む)で割ったみかけの結晶成長速度が小さくなる。つまり、大型結晶や厚膜結晶を成長させる時に、所望の大きさの結晶を得るための時間が長くなる。本発明者等は、さらなる研究の過程で、結晶成長初期にまったく結晶が成長しない時間が生じる要因として、III族元素を含む融液中に窒素が溶解するために十分な時間が必要であるということを突き止めた。そこで、この知見に基づき、さらに研究を重ねた結果、本発明に到達したのである。つまり、結晶成長に先立ち、予め、雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方を結晶成長条件よりも高く設定することにより、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液中に窒素を強制的に溶解させ、原料液を調製する(原料調製工程:この状態では融液(原料液)中のIII族元素窒化物結晶は飽和又は未飽和状態である)。その後、例えば、前記原料液の温度を、所望の温度に低下させて、融液中のIII族元素窒化物結晶の状態を飽和又は未飽和状態から過飽和状態とすることにより、所望の雰囲気温度および雰囲気圧力で結晶成長を行う(結晶成長工程:この状態では融液中のIII族元素窒化物結晶は過飽和状態である)。または、前記原料調製工程の後、雰囲気圧力を所望の圧力まで降下させて、結晶成長を行う。このように、原料調製工程を行うことで、融液中に窒素を溶解させる段階から雰囲気温度および雰囲気圧力を結晶成長条件に保持する従来の方法と比較して、過飽和状態になるまでの時間を短縮できる。したがって、本発明によれば、成長時間に寄与しない時間を短縮またはほとんどない状態で、III族元素窒化物結晶の結晶成長を開始させることができる。なお、雰囲気圧力を所望の圧力まで降下させる場合、その直後においては、融液中のIII族元素窒化物結晶は飽和又は未飽和状態であるが、雰囲気圧力を前記所望の圧力で一定時間保持することにより、融液(原料液)中に窒素がさらに溶解し、前記融液中のIII族元素窒化物結晶が過飽和状態となって結晶成長が開始する。前記原料調製工程における融液への窒素の溶解は、例えば、雰囲気温度、雰囲気圧力、ガス供給方法(例えば、ガスフローおよびバブリング等)、および超音波等を利用することにより、より一層短時間で行うことができる。また、前記結晶成長工程において、結晶成長中における雰囲気圧力および雰囲気温度を一定にすることや、それらを穏やかに変化させること等により、例えば、III族元素窒化物結晶が3次元的に成長した場合であっても、結晶成長速度を一定とすることが可能となる。その結果、例えば、得られる結晶における不純物濃度等の変化の少ない高品質な結晶をより早く成長させることができる。
本発明の製造方法は、前述のように、原料調製工程と結晶成長工程とを含む製造方法である。原料調製工程において、雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方を結晶成長工程の条件より高く設定することにより、前記融液中に窒素を溶解させて原料液を調製する(この状態では、融液(原料液)中のIII族元素窒化物結晶は飽和又は未飽和状態である)。そして、いったん前記雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方を降下させて前記原料液中のIII族元素窒化物結晶を過飽和状態とし、前記原料液中でIII族元素窒化物結晶を成長させる。前記雰囲気温度のみを降下させる場合、この操作のみで、速やかに前記原料液中のIII族元素窒化物結晶を過飽和状態にでき、結晶成長に寄与しない時間を大幅に短縮して結晶成長を開始できる。雰囲気圧力のみを降下させる場合、その直後の原料液中のIII族元素窒化物結晶は飽和又は未飽和状態である。しかしながら、この圧力を一定時間保持することにより、原料液中に窒素がさらに溶解し、過飽和状態となって結晶成長が開始するため、結晶成長に寄与しない時間を短縮して結晶成長を行うことができる。この場合、雰囲気温度のみ降下させる場合と比較して、高い雰囲気温度で結晶成長させることができ、その結果、不純物の取り込みの少ない条件で結晶成長させることができる。また、雰囲気圧力および雰囲気温度を同時に降下させて、前記原料液中のIII族元素窒化物結晶を過飽和状態とし、結晶成長させてもよい。
本発明における雰囲気温度は、前記原料調製工程において、例えば、800℃〜1100℃の範囲であり、好ましくは850℃〜1000℃であり、このような温度範囲とすることで、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の蒸発を抑制でき、III族元素窒化物結晶を効率よく溶解できる。前記結晶成長工程において、例えば、600℃〜1000℃の範囲であり、好ましくは800℃〜950℃である。また、前記原料調製工程および前記結晶成長工程の雰囲気温度の差は、例えば、20℃〜200℃であり、好ましくは50℃〜100℃である。
本発明における雰囲気圧力は、前記原料調製工程において、例えば、2atm〜100atm(2×1.013×105Pa〜100×1.013×105Pa)の範囲であり、好ましくは10atm〜70atm(10×1.013×105Pa〜70×1.013×105Pa)であり、このような圧力範囲とすることで、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の蒸発を抑制でき、かつ、比較的安価な圧力容器を用いてIII族元素窒化物結晶を効率よく溶解できる。前記結晶成長工程において、例えば、2atm〜100atm(2×1.013×105Pa〜100×1.013×105Pa)の範囲であり、好ましくは25atm〜50atm(25×1.013×105Pa〜50×1.013×105Pa)である。また、前記原料調製工程および前記結晶成長工程の雰囲気圧力の差は、例えば、0.1atm〜30atm(0.1×1.013×105Pa〜30×1.013×105Pa)であり、好ましくは0.5atm〜20atm(0.5×1.013×105Pa〜20×1.013×105Pa)である。
本発明において、結晶成長工程中に雰囲気温度を変化させる場合、前記原料調製工程から前記結晶成長工程に切り替えた後、前記結晶成長工程の雰囲気温度を徐々に降下させ、所定の結晶成長の温度に設定することが好ましい。前記雰囲気温度の降下は、例えば、連続的であってもよいし、段階的であってもよい。また、段階的に雰囲気温度を降下させる方法としては、例えば、いったん雰囲気温度を降下させた後、一定時間その温度に保ち、再度温度を降下させ、これらを繰り返し行う方法や、降下速度を変化させる方法等があげられる。前記降下速度を変化させる場合、2段階に変化させてもよいし、それ以上の段階に変化させてもよい。前記雰囲気温度の降下速度は、例えば、0.05℃/時間〜30℃/時間とし、好ましくは0.1℃/時間〜5℃/時間であり、より好ましくは0.1℃/時間〜1℃/時間である。
本発明において、結晶成長工程中に雰囲気圧力を変化させる場合、前記原料調製工程から前記結晶成長工程に切り替えた後、前記結晶成長工程の雰囲気圧力を徐々に上昇させ、所定の結晶成長の圧力に設定することが好ましい。前記雰囲気圧力の上昇は、例えば、連続的であってもよいし、段階的であってもよい。また、段階的に雰囲気圧力を上昇させる場合、例えば、いったん雰囲気圧力を上昇させた後、一定時間その温度に保ち、再度圧力を上昇させ、これらを繰り返し行う方法や、上昇速度を変化させる方法等があげられる。前記上昇速度を変化させる場合、2段階に変化させてもよいし、それ以上の段階に変化させてもよい。また、前記雰囲気温度の降下および雰囲気圧力の上昇は、単独で行ってもよいし、同時に行ってもよい。前記雰囲気圧力の上昇速度は、例えば、0.01atm/時間〜0.3atm/時間(0.01×1.013×105Pa/時間〜0.3×1.013×105Pa/時間)とし、好ましくは0.05atm/時間〜0.1atm/時間(0.05×1.013×105Pa/時間〜0.1×1.013×105Pa/時間)である。
このように、結晶成長中に雰囲気温度を徐々に降下させること又は雰囲気圧力を徐々に上昇させることで、さらに実質的な結晶成長速度を早くすることができる。また、これらの双方を同時に行うことにより、結晶成長速度をより一層早くすることができる。本発明において、実質的な結晶成長速度は、例えば、5μm/時間〜100μm/時間であり、好ましくは10μm/時間〜50μm/時間である。なお、本発明における実質的な結晶成長速度とは、結晶成長が実際に開始してから終了するまで(結晶成長に寄与しない時間を除く)に成長した1時間あたりの結晶の厚みを意味する。
結晶成長工程において、前記雰囲気温度の降下速度や前記雰囲気圧力の上昇速度は、一定でもよいが、変化させてもよい。例えば、結晶成長中期から後期において、前記雰囲気温度の降下速度や、雰囲気圧力の上昇速度を徐々に大きくしてもよい。このように変化させることにより、結晶形状が3次元的に大きくなった場合でも、ある軸(例えば、C軸)方向の結晶成長速度をほぼ一定(すなわち、前記融液中のIII族元素窒化物結晶の過飽和度をほぼ一定)に保ち、結晶品質を結晶成長開始時と結晶成長後期とにおいて、同一の品質とすることが可能となる。雰囲気温度を変化させる場合、例えば、まず、結晶成長の初期では0.05℃/時間で降下させ、後期には3℃/時間として降下させることが好ましく、より好ましくは、結晶成長の初期では0.1℃/時間で降下させ、後期には1℃/時間として降下させることである。また、雰囲気圧力を変化させる場合、例えば、結晶成長の初期では0.01atm/時間(0.01×1.013×105Pa/時間)で上昇させ、後期には0.3atm/時間(0.3×1.013×105Pa/時間)で上昇させることが好ましく、より好ましくは、結晶成長の初期では0.05atm/時間(0.05×1.013×105Pa/時間)で上昇させ、後期には0.1atm/時間(0.1×1.013×105Pa/時間)で上昇させることである。
本発明の原料調製工程において、前記原料液を、前記III族元素窒化物結晶の飽和又は未飽和状態にしておくことが好ましい。未飽和状態とは、原料液中へのIII族元素窒化物結晶の溶解がまだ可能である状態を意味する。前記原料液中におけるIII族元素窒化物の溶解度は、例えば、0.01at.%〜5at.%であり、好ましくは0.2at.%〜1at.%であり、前記原料液中の窒素濃度は、例えば、0.01at.%〜5at.%であり、好ましくは0.2at.%〜1at.%である。
本発明の原料調製工程において、前記融液(原料液)の液面に、前記窒素含有ガスをフローさせることにより、窒素含有ガスを供給することが好ましい。フローは、例えば、前記窒素含有ガスを融液液面に供給することにより行うことができる。また、フローさせる窒素含有ガスの流量は、例えば、マスフローコントローラや流量計等で制御することができる。
本発明の原料調製工程において、前記融液中で前記窒素含有ガスをバブリングさせることにより、窒素含有ガスを供給することが好ましい。バブリングにより、融液と窒素含有ガスとが接触する気液界面積を増加させ、融液中への窒素の溶解効率をより一層向上できるからである。さらに、バブリングによる対流によって、例えば、融液中の窒素濃度を均一化できる。バブリングは、例えば、窒素含有ガスを融液内に直接供給することにより行うことができる。バブリングさせる窒素含有ガスの流量は、窒素含有ガスをフローさせる場合と同様に、例えば、マスフローコントローラや流量計等で制御することができる。前記バブリングにより供給するバブルの大きさは、特に制限されないが、できる限り小さくすることが好ましく、例えば、マイクロバブル(例えば、直径100μm以下)およびナノバブル(例えば、直径100nm以下)が好ましい。このようにバブルを小さくすることにより、融液と窒素含有ガスとが接触する気液界面積がより一層増加し、融液中への窒素の溶解効率を向上させ、融液中のアルカリ金属等の蒸発を抑制できる。また、前記バブリングに加えて、前記融液に超音波を印加することが好ましい。これにより、前記バブリングにより供給された窒素含有ガスのバブルが、例えば、超音波の節の位置で固定され、より一層長い時間、バブルを融液中に滞在させることやバブル径をより微細化できるため、窒素の溶解効率をより一層向上できる。なお、III族元素を含む融液中に、例えば、アンモニアガスをバブリングしてIII族元素窒化物結晶を得る方法としては、例えば、特開平10−7496号公報および米国特許第6066205号明細書等に開示されている。しかし、これら方法では、III族元素窒化物結晶が過飽和状態の融液中で窒素含有ガスがバブリングされるため、不均一核が発生したり、成長した結晶中に不均一核が不純物として取り込まれるという問題があった。しかしながら、本発明では、III族元素窒化物結晶が飽和又は未飽和状態の融液中で窒素含有ガスをバブリングするため、このような問題が生じることもなく、かつ、前述のような効果が得られるのである。
本発明において、結晶成長工程の実施前に加え、結晶成長工程の実施中および実施後の少なくとも一方において、前記原料調製工程を実施することや、前記原料調製工程と前記結晶成長工程とを同時に実施すること等により、結晶成長を連続して行うことが好ましい。例えば、窒素を溶解させた融液(原料液)を別途準備し、それを適宜追加して結晶成長工程を行ってもよい。また、結晶の取り出し時、結晶仕込み時等においても原料調製工程を連続して行うことにより、その後、結晶成長を連続して行うことができ、製造効率をより一層向上できる。
本発明において、前記アルカリ金属は、例えば、ナトリウム(Na)、リチウム(Li)、カリウム(K)、ルビジウム(Rb)およびセシウム(Cs)等があげられ、好ましくはナトリウム(Na)である。これらは1種類で使用してもよいし、2種類以上を併用してもよい。前記アルカリ土類金属としては、例えば、カルシウム(Ca)、マグネシウム(Mg)、ベリリウム(Be)、ストロンチウム(Sr)およびバリウム(Ba)があげられ、好ましくはカルシウム(Ca)、ストロンチウム(Sr)およびバリウム(Ba)であり、より好ましくはカルシウム(Ca)である。これらは1種類で使用してもよいし、2種類以上を併用してもよい。なお、本発明において、アルカリ土類金属とは、カルシウム(Ca)、マグネシウム(Mg)、ベリリウム(Be)、ストロンチウム(Sr)およびバリウム(Ba)を含むものとする。なお、本発明において、前記融液は、ドーパントとして、例えば、ケイ素(Si)、亜鉛(Zn)およびマグネシウム(Mg)等のn型およびp型ドーパントを含んでいてもよい。
本発明において、前記III族元素が、Al、GaおよびInであることが好ましく、なかでもGaを使用して、GaN結晶を製造することがより好ましい。
本発明において、前記原料液中に含まれる窒素の窒素源は特に限定されるものではなく、例えば、窒素含有ガス、原料液中に混入させた窒素化合物等であってもよい。前記窒素含有ガス(反応ガス)は、例えば、窒素(N2)ガス、アンモニア(NH3)ガス等があげられ、いずれか一方のみを使用してもよいし、混合して使用してもよい。前記窒素含有ガス(反応ガス)は、例えば、不活性ガス(例えば、Ar、HeおよびNe)および水素ガス等を含んでいてもよい。前記窒素含有ガス(反応ガス)源として、ヒドラジン(H2NNH2)を使用してもよいし、前記融液中にヒドラジンに混入させ、これを窒素源として使用してもよい。窒素含有ガス(反応ガス)源として、ヒドラジンを使用する場合、ヒドラジンは空気中180℃でアンモニアおよび窒素に分解することから、例えば、ヒドラジンを加熱して得られたガスをそのまま窒素含有ガスとして供給してもよいし、窒素(N2)ガスおよび前記不活性ガス等のキャリアガスで希釈して供給してもよい。また、本発明では、前記反応ガスとは別に、加圧用の加圧ガスを供給してもよく、この場合の加圧ガスとしては、例えば、前述の不活性ガス等があげられる。前記加圧ガスは、前記反応ガスと混合して供給してもよいし、別系統で独立して供給してもよい。
本発明において、前記結晶成長工程では、結晶成長容器内で結晶成長反応を行い、前記原料調製工程では、原料調製容器内で、前記アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液への窒素の溶解を行って原料液を調製し、前記原料調製容器から前記原料液を前記結晶成長容器に移送し、ここで結晶成長させることが好ましい。前記原料調製容器と前記結晶成長容器とは、分離していてもよいし、一体化していてもよい。一体化した容器である場合、例えば、1つの反応容器内に、原料調製容器部と結晶成長容器部とを有し、前記原料調製容器部と前記結晶成長容器部とが連通し、原料調製容器部の原料液が結晶成長容器部に移送可能な容器等があげられる。この場合、原料液の移送が簡単になるという特徴がある。前記原料調製容器と前記結晶成長容器とを分離して、別個の圧力容器に配置する場合、結晶成長の前後(例えば、結晶の取り出し時、結晶仕込み時等)においても原料を調製できるため、製造効率をより一層向上できる。この場合、前記原料調製容器の個数は、特に制限されず、1つであってもよいし、複数であってもよいが、複数の原料調製容器を使用することが好ましい。また、複数の原料調製容器を使用する場合、複数の原料調製容器で窒素を溶解させたて得られた原料液を、パイプ等を介して別の容器にいったん回収し、その後、結晶成長容器に移送することが好ましい。前記原料調製容器および前記結晶成長容器に使用する材質は、特に制限されないが、例えば、BN、AlN、アルミナ、SiC、および、グラファイトならびにダイヤモンドライクカーボン等の炭素系材料が使用でき、好ましくはアルミナである。
次に、本発明の製造装置は、前述のように、III族元素窒化物結晶の製造装置であって、加熱手段、加圧手段、窒素含有ガス供給手段、結晶成長容器、原料調製容器および原料移送手段を有し、前記結晶成長容器および前記原料調製容器は、前記原料移送手段を介して連結され、前記結晶成長容器および前記原料調製容器には、それぞれ、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段が配置されている。前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下において、前記原料調製容器内の雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方を、前記結晶成長容器よりも高く設定して、前記原料調製容器を加圧加熱し、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液を調製し、前記融液中への窒素の溶解を行って原料液を調製する。この原料液を、前記原料移送手段により、前記原料調製容器から前記結晶成長容器に移送し、前記結晶成長容器内を、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱し、前記原料液中の窒素とIII族元素とを反応させ、III族元素窒化物結晶を成長させて製造する。なお、前記特許文献2(特開2003−300798号公報)には、結晶成長領域と混合融液保持領域とが分離した装置であって、前記混合融液保持領域では、不活性気体雰囲気下でIII族元素とアルカリ金属との混合融液を形成すること、前記結晶成長領域では、窒素雰囲気下で前記混合融液からIII族元素窒化物結晶の製造することが記載されている。前記混合融液保持領域は不活性気体雰囲気下であり、窒素含有ガスは含まれないため、得られる混合融液には、窒素は含まれない。したがって、同文献の装置を用いた場合、結晶成長領域において、混合融液に窒素を溶解させた後、III族元素窒化物結晶を成長させることになり、結晶成長領域において、結晶が成長しない時間が長時間にわたって存在することになる。それに対し、本発明の製造装置によれば、原料調製容器において、窒素を溶解させた融液を、前記原料移送手段により、結晶成長容器に移送するため、結晶成長容器において結晶成長に寄与しない時間を著しく短縮できる。その結果、見かけの結晶成長速度をより一層大きくすることができる。
原料調製容器および結晶成長容器を分離する場合、例えば、第1の圧力容器と第2の圧力容器とを有し、前記第1の圧力容器内には前記結晶成長容器が配置され、前記第2の圧力容器内には前記原料調製容器が配置される例があげられる。このように、結晶成長容器と原料調製容器とを別々の圧力容器に配置させることにより、結晶成長の前後(例えば、結晶の取り出し時、結晶仕込み時等)においても原料を調製することが可能となり、結晶成長に寄与しない時間の削減に加えて、より一層製造効率を向上できる。
本発明の製造装置において、前記加熱手段には、例えば、抵抗加熱ヒータ、RF加熱ヒータ等が使用でき、前記加圧手段には、例えば、窒素含有ガスにより加圧する手段等がある。また、例えば、N2ガスのみを、窒素含有ガス(反応ガス)および加圧ガスとして使用する場合、ガス系統にガス精製装置を配置してもよい。前記装置に、さらに、温度調整手段および圧力調整手段の少なくとも一方が配置されていることが好ましい。これらにより、例えば、前記加熱手段または前記加圧手段を制御し、原料調製容器および結晶成長容器の温度および圧力を制御できる。
本発明の製造装置において、前記原料移送手段により、窒素が溶解した融液(原料液)を、前記原料調製容器から前記結晶成長容器に移送する方法としては、例えば、第2の圧力容器の雰囲気圧力をわずかに第1の圧力容器の雰囲気圧力よりも高くする方法、ポンプを用いた移送等があげられる。前記原料移送手段としては、例えば、W、Ta等の金属製のパイプ、BN、SiC等により内壁をコートしたパイプ等が使用できる。なお、前記原料移送手段において、原料液中のIII族元素窒化物結晶を飽和又は未飽和状態とすることにより、原料を移送したとしても、不均一核の発生を防止できる。
本発明の製造装置において、さらに、ガスフロー手段を有することが好ましい。これにより、前記原料調製容器の融液液面において、前記窒素含有ガスをフローすることが可能となり、前記融液への窒素溶解速度をより一層向上できる。前記ガスフロー手段は、例えば、前記窒素含有ガスを融液液面に供給する手段等があげられる。
本発明の製造装置において、原料調製容器の個数は、特に制限されず、1つであってもよいし、複数であってもよいが、複数の原料調製容器を使用することが好ましい。これにより、前記原料調製容器の融液と前記窒素含有ガスとが接触する気液界面積を大きくすることができる。また、複数の原料調製容器を使用する場合、例えば、原料ため等の容器を有し、複数の原料調製容器で窒素を溶解させて得られた原料液を、パイプ等を介して前記原料ためにいったん回収し、結晶成長容器に移送することが好ましい。前記原料調製容器、前記結晶成長容器および前記原料ために使用する材質は、特に制限されないが、例えば、BN、AlN、アルミナ、SiC、および、グラファイトならびにダイヤモンドライクカーボン等の炭素系材料が使用でき、好ましくはアルミナである。
本発明の製造装置において、前記ガスフロー手段に加えて、又は、前記ガスフロー手段に代えて、ガスバブリング手段を有することが好ましい。これにより、前記原料調製容器の融液において前記窒素含有ガスをバブリングすることが可能となり、前記融液への窒素溶解速度を、より一層向上できる。前記ガスバブリング手段は、例えば、融液中に窒素含有ガスを供給する手段等があげられる。バブリングにより、融液と窒素含有ガスとが接触する気液界面積を増加させ、融液中への窒素の溶解効率をより一層向上でき、さらに、バブリングによる対流によって、例えば、融液中の窒素濃度を均一化できるからである。バブリングは、例えば、窒素含有ガスを、融液中に供給することにより行うことができる。バブリングさせる窒素含有ガスの流量は、窒素含有ガスをフローさせる場合と同様に、例えば、マスフローコントローラや流量計等で制御することができる。前記バブリングにより供給するバブルの大きさは、特に制限されないが、できる限り小さくすることが好ましく、例えば、マイクロバブル(例えば、直径100μm以下)およびナノバブル(例えば、直径100nm以下)が好ましい。このようにバブルを小さくすることにより、融液と窒素含有ガスとが接触する気液界面積が増加し、融液中への窒素の溶解効率が向上し、融液中のアルカリ金属等の蒸発を抑制できる。また、前記バブリングに加えて、前記融液に超音波を印加することが好ましい。これにより、前記バブリングにより供給された窒素含有ガスのバブルが、例えば、超音波の節の位置で固定され、より一層長い時間、バブルを融液中に滞在させることやバブル径をより微細化できるため、窒素の溶解効率をより一層向上できる。
本発明の半導体素子は、前述の製造方法により得られた結晶を含むものである。
前記半導体素子が、例えば、LEDや半導体レーザ等の発光デバイス、パワーデバイスや高周波アンプ等の電子デバイス等であることが好ましい。
本発明の製造方法および装置を、以下の実施形態を用いて説明する。
(実施形態1)
本実施形態では、III族元素としてGaを使用し、アルカリ金属として金属Naを使用し、窒素含有ガスとして窒素(N2)ガスを使用して、GaN結晶を成長させる。その方法について、図7を用いて説明する。図7は、本発明の製造方法に使用する装置の構成の一例を示す構成図である。同図に示すように、この装置は、圧力容器51、ガス供給装置21、流量調整器22および圧力調整器24を主要構成要素とし、前記圧力容器51内には、反応容器11が収納可能で、その側面には、加熱用ヒータ30が配置されている。前記圧力容器51には、流量調整器22および圧力調整器24がパイプを介してそれぞれ接続されており、前記流量調整器22の他端には、ガス供給装置21がパイプを介して接続されている。
まず、反応容器11内に、GaおよびNaを配置する。そして加熱用ヒータ30および圧力調整器24を用いて、圧力容器51内の雰囲気温度を900℃〜1050℃(結晶成長工程より、例えば、50℃〜200℃高い温度)、雰囲気圧力を40atm(40×1.013×105Pa)として、NaおよびGaを含む融液中に窒素を急速に溶解させ、融液内の窒素濃度を所望の窒素濃度とする(原料調製工程)。圧力容器51内の窒素供給量は、流量調整器22を用いて調整する。その後、圧力容器51内の雰囲気圧力を40atm(40×1.013×105Pa)に保持した状態で、雰囲気温度を850℃に降下させ、前記融液中でGaN結晶を成長させる(結晶成長工程)。その結果、原料加熱開始から結晶成長が開始するまでの時間が、例えば、10時間〜30時間と、従来の方法の1/5倍から1/2倍程度にまで大幅に短縮される。本実施形態における、雰囲気温度の時間変化の一例を図1に示し、成長膜厚と時間との関係を、その一例として図2に示す。なお、従来の方法により結晶を成長させた場合の成長膜厚と時間との関係も図2に合わせて示す。また、見かけの成長速度は、例えば、15μm/時間となり、従来の方法の1.5倍程度早くすることができる。
(実施形態2)
本実施形態では、III族元素としてGaを使用し、アルカリ金属として金属Naを使用し、窒素含有ガスとして窒素(N2)ガスを使用して、GaN結晶を成長させる。まず、雰囲気圧力を60atm〜70atm(60×1.013×105Pa〜70×1.013×105Pa)(結晶成長中の雰囲気圧力より、例えば、20atm〜30atm(20×1.013×105Pa〜30×1.013×105Pa)高い圧力)、雰囲気温度を850℃として、1時間〜5時間保持し、GaおよびNaを含む融液中に窒素を急速に溶解させ、融液内の窒素濃度を所望の窒素濃度とする(原料調製工程)。そして、雰囲気温度を850℃に保持した状態で、雰囲気圧力を40atm(40×1.013×105Pa)に降下させ、前記融液中でGaN結晶を成長させる(結晶成長工程)。その結果、原料加熱開始から結晶成長が開始するまでの時間が、例えば、10時間〜20時間と、従来の方法の1/5倍から1/2倍程度にまで大幅に短縮される。本実施形態における、雰囲気圧力の時間変化の一例を図3に示す。また、見かけの成長速度は、例えば、15μm/時間にできる。なお、原料調製工程において、雰囲気圧力を60atm〜70atm(60×1.013×105Pa〜70×1.013×105Pa)、雰囲気温度を850℃とした場合、平衡状態では窒素が過飽和の状態となる。しかしながら、窒素供給時間が、例えば、1時間〜5時間と短時間であれば、融液中のIII族元素窒化物濃度(窒素濃度)は飽和濃度以下であるため、原料調製工程では、結晶成長は開始しない。
(実施形態3)
本実施形態では、まず、実施形態1と同様に原料調製工程を行い、雰囲気温度を降下させた後、結晶成長工程において、0.2℃/時間〜1.5℃/時間で雰囲気温度をさらに降下させる。その結果、実質的な結晶成長速度がより早くなり、例えば、25μm/時間にできる。本実施形態における、雰囲気温度の時間変化の一例を図5に示し、成長膜厚と時間との関係を、その一例として図4に示す。なお、従来の方法により結晶を成長させた場合の成長膜厚と時間との関係も図4に合わせて示す。なお、雰囲気温度を降下させる方法は、特に時間に対して直線的に降下させる必要はなく、段階的に降下させてもよい。また、前記降下速度を、例えば、0.1℃/時間〜1.5℃/時間の範囲で徐々に大きくしてもよい。
(実施形態4)
本実施形態では、まず、実施形態2と同様に原料調製工程を行い、雰囲気圧力を降下させた後、結晶成長工程において、0.05atm/時間〜0.3atm/時間(0.05×1.013×105Pa/時間〜0.3×1.013×105Pa/時間)で雰囲気圧力を上昇させる。その結果、実質的な結晶成長速度が、より早くなり、例えば、20μm/時間にできる。本実施形態における、雰囲気圧力の時間変化の一例を図6に示す。なお、雰囲気圧力を上昇させる方法は、特に時間に対して直線的に上昇させる必要はなく、段階的に上昇させてもよい。また、前記上昇速度を、例えば、0.05atm/時間〜0.3atm/時間(0.05×1.013×105Pa/時間〜0.3×1.013×105Pa/時間)の範囲で徐々に大きくしてもよい。
なお、前記実施形態1から4は必ずしも別々に行う必要はなく、例えば、原料調製工程において、雰囲気温度の上昇と雰囲気圧力の上昇とを同時に行うことにより、より効率的に融液中に窒素を溶解させることができる。
また、結晶成長工程において、雰囲気温度の降下と雰囲気圧力の上昇とを同時に行うことにより、結晶成長速度をより早くすることができる。また、結晶成長中期から後期において、雰囲気圧力の上昇速度を徐々に大きくしてもよい。例えば、結晶がバルク状の場合、結晶は3次元的に成長するため、前述のように結晶成長中期から後期において、雰囲気圧力の上昇速度を徐々に大きくすることにより、結晶成長の駆動力(過飽和度)を一定とし、1つの結晶軸方向の成長速度を一定にすることもできる。
(実施形態5)
本発明の製造装置の構成の一例を、図8を用いて説明する。図8に、本発明の製造装置の一例を示す。同図に示すように、この装置は、第1の圧力容器50、第2の圧力容器52、原料移送手段16、圧力調整器24および26、流量調整器22ならびにガス供給装置21および20を主要構成要素とする。第1の圧力容器50および第2の圧力容器52の中には、それぞれ、結晶成長容器14および原料調製容器12が収納可能で、それらの容器(14および12)の側面には加熱用ヒータ30が配置されている。そして、第1の圧力容器50および第2の圧力容器52は、原料移送手段16により接続されており、原料移送手段16には加熱用ヒータ34が配置されている。第1の圧力容器50には、ガス供給装置20と圧力調整器26とがパイプを介してそれぞれ接続され、第2の圧力容器52には、ガス供給装置21、流量調整器22および圧力調整器24がパイプを介してそれぞれ接続されている。
前記原料移送手段16は、例えば、NaやIII族元素と反応しにくい材質のパイプ等を使用することが好ましく、具体例としては、WおよびTa等の金属製のパイプ、BNやSiC等により内壁をコートしたパイプ等があげられる。なお、同図において、原料調製容器と結晶成長容器とは空間的に分離しているが、本発明の製造装置の構成は、これに限定されるものではなく、原料調製容器と結晶成長容器とを同一育成炉内の別の場所に配置してもよいし、これらの容器が一体化していてもよい。これらの容器が一体化することで、原料調製容器から結晶成長容器への原料の移送をより一層容易にすることができる。
図8に示す製造装置を用いたIII族元素窒化物結晶の製造について、III族元素としてGaを使用し、アルカリ金属としてNaを使用し、窒素含有ガスとして窒素(N2)ガスを使用した場合を例にとり説明する。
まず、予め、結晶成長容器14に、所望の量のGaとNaとを配置する。窒素含有ガスを、ガス供給装置20から圧力調整器26に供給し、圧力調整器26により所望の圧力に調整して第1の圧力容器50に導入する。そして、第1の圧力容器50の雰囲気温度を、結晶成長工程より高い温度、例えば、900℃〜1050℃とし、雰囲気圧力を40atm(40×1.013×105Pa)として、前記GaとNaとを溶解して融液を調製し、前記融液中に窒素を溶解させる(原料調製工程)。このとき、結晶成長容器14内の融液は、窒素は溶解しているが、GaNは未飽和の状態である。なお、前記窒素を十分に溶解させた融液を原料調製容器12で予め作製し、原料移送手段16を用いて、それを結晶成長容器14に移送させて使用してもよい。
次に、第1の圧力容器50の雰囲気温度を800℃、雰囲気圧力を30atm(30×1.013×105Pa)に降下させ、融液中で結晶を成長させる(結晶成長工程)。このとき、第2の圧力容器52の雰囲気温度を900℃、雰囲気圧力を30.1atm〜31atm(30.1×1.013×105Pa〜31×1.013×105Pa)とすることが好ましい。また、窒素を溶解させた原料調製容器12内の融液を移送させるために、第2の圧力容器52の雰囲気圧力を、第1の圧力容器50の雰囲気圧力よりもわずかに高くすることが好ましい。
図9に、圧力容器52内の構成の一例を示す。同図に示すように、第2の圧力容器52内には、原料調製容器12が配置され、その側面には、加熱用ヒータ30が配置されている。前記圧力容器52には、その上部壁面を貫通した状態で撹拌手段74が取り付けられ、前記撹拌手段74の一端には、回転導入手段76を介して駆動手段72が配置されている。前記撹拌手段74の他端は、原料調製容器12内の融液内に配置可能であって、前記駆動手段72および前記回転導入手段76を介して、前記撹拌手段74を駆動することにより、原料調製容器12内の融液を撹拌できる。前記原料調製容器12には、ガス導入管23および原料移送手段16が配置され、前記原料移送手段16により、窒素を溶解させた融液(原料液)は、結晶成長容器(図示せず)に移送可能である(矢印A方向)。前記ガス導入管23の一端には、流量調整器22を介してガス供給装置21が配置されている。窒素は融液液面から拡散するので、融液液面(気液界面)の窒素濃度が濃くなる傾向がある。このようにプロペラ等の撹拌手段で原料調製容器中の原料液を撹拌すること等により、原料調製容器中の原料液の窒素濃度をより均一にできる。プロペラの材料は、原料融液に溶解しないものであれば特に制限されず、例えば、タングステン、タンタル、アルミナ、イットリア等があげられる。なお、原料調製容器は、飽和又は未飽和状態の雰囲気温度および雰囲気圧力に設定されているので、撹拌により、不均一核が発生することはない。
図10に、第2の圧力容器52内の構成のその他の例を示す。同図に示すように、第2の圧力容器52内には、原料調製容器12が複数個配置され、その側面には、加熱用ヒータ30が配置されている。各原料調製容器12には、それぞれ、ガス導入管23およびパイプ17が配置され、前記パイプ17の先端には、原料液ため13が配置されている。前記原料液ため13には、原料移送手段16が配置され、前記原料移送手段16により、窒素を溶解させた融液(原料液)は、結晶成長容器(図示せず)に移送可能である(矢印A方向)。前記ガス導入管23の一端には、流量調整器22を介してガス供給装置21が配置され、他端の先端が、前記原料調製容器12内の融液液面に位置するように配置され、その液面で窒素含有ガスが供給可能である(矢印B方向)。このように原料調製容器12を複数配置することにより、融液と窒素含有ガスとが接触する気液界面積を大きくすることができる。さらに、窒素含有ガスを融液液面でフローさせることにより、融液への窒素溶解速度をより早くすることができる。
図8、図9および図10の製造装置を使用することで、見かけの成長速度を、例えば、従来の方法の1.5倍〜2倍に上昇させることが可能となる。
(実施形態6)
第2の圧力容器52内の構成のさらにその他の例を、図11を用いて説明する。同図に示すように、第2の圧力容器52内に原料調製容器12が配置され、その側面にはヒータ30が配置されている。原料調製容器12には、それぞれ、ガス導入管23および原料移送手段16が配置され、前記原料移送手段16により、窒素を溶解させた融液(原料液)は、結晶成長容器(図示せず)に移送可能である(矢印A方向)。前記ガス導入管23の一端には、流量調整器22を介してガス供給装置21が配置され、他端は、原料調製容器12の壁面を貫通した状態で配置されている。このガス導入管23を通じて、原料調製容器12内に窒素含有ガスが導入される。なお、前記原料調製容器から前記結晶成長容器への融液(原料液)の移送は、例えば、第2の圧力容器と第1の圧力容器との間の圧力差で行うことができる。
このようにガス導入管23を配置することで、原料調製容器12内の融液中で窒素含有ガスをバブリングすることができ、かつ、融液中に窒素をより一層早く溶解することができる。そのため、より早く結晶成長を開始させることができる。本装置の構成により、実施形態5と同様な条件でGaN結晶を成長させた場合、結晶成長が開始するまでの時間を、例えば、3時間未満にできる。この結果、見かけの結晶成長速度を、従来と比較して、例えば、2倍〜2.5倍程度早くできる。なお、原料調製容器12内は、前記実施形態5と同様に未飽和の状態に保たれているので、窒素の溶解は速やかに実現させることができる。また、不均一核発生などの微結晶が原料調製容器12内で発生することもない。
窒素含有ガスをバブリングさせる際、融液中への窒素の溶解効率を向上させる観点から、融液中にバブルをできる限り長時間滞在させることが好ましく、その方法としては、例えば、前記ガス導入管の先端にキャップを配置することにより、バブルの大きさを小さくする方法があげられる。その方法について、図12を用いて説明する。図12は、原料調製容器12の周辺部の構成の一例を示す構成図であって、同図において、図11と同一箇所には、同一の符号を付している。同図に示すように、原料調製容器12には、ガス導入管23および原料移送手段16が、それぞれ壁面を貫通した状態で配置されている。前記ガス導入管23の先端にはキャップ27が配置されており、ガス導入管23の先端に配置したキャップ27を介して窒素含有ガスを融液中に供給することにより、バブルの大きさを制御(例えば、小さく)できる。バブルの大きさを小さくすることにより、融液と窒素含有ガスとの接触面(気液界面積)を増加させることができる。さらに、バブルの大きさを小さくすることで、融液の粘性およびブラウン運動の影響等により、融液中におけるバブルの滞在時間を延ばすことができる。これらの結果、融液中への窒素の溶解効率を向上することができるため、より少ないガス流量で、より多くの窒素を融液中に溶解できる。したがって、融液中に同量の窒素を溶解にあたってもより少ないガス流量でよいので、融液中のアルカリ金属やアルカリ土類金属の蒸発をより軽減できる。さらに、ガス流量を少なくすることにより、対流が比較的穏やかになるため、原料調製工程における融液中のIII族元素窒化物結晶が多少過飽和状態となっても、融液中に不均一核が発生しにくいという効果もある。
前記バブルの大きさは、例えば、前記キャップ27の孔径や、供給するガスの流量等で調整でき、バブルの大きさを小さくする場合は、例えば、孔径の小さいキャップを使用すればよい。例えば、前記孔径を数μm〜数100μm、流量を50cc/分〜5000cc/分として窒素含有ガスを供給した場合、数μm〜数100μmの径を有するバブルを融液中に供給できる。前記キャップ27としては、例えば、多孔質アルミナ等の多孔質セラミック、タングステンおよびタンタル等由来の金属キャップ等があげられる。
また、融液中にバブルをできる限り長時間滞在させる方法としては、前記ガス導入管の先端にキャップを配置する方法に加えて若しくは代えて、超音波を利用する方法があげられる。その方法について、図13を用いて説明する。図13は、原料調製容器の周辺部の構成のその他の例を示す構成図であって、同図において、図12と同一箇所には、同一の符号を付している。同図に示すように、原料調製容器12の右壁面には、原料移送手段16が壁面を貫通した状態で配置され、原料調製容器12の下部には、熱遮断板28を介して、超音波発生器29が配置されている。原料調製容器12の底面にその先端が位置するように、ガス導入管23が、原料調製容器12の上部方向から配置され、前記ガス導入管23の先端にはキャップ27が配置されている。超音波発生器29を用いて原料調製容器12内の融液に超音波を印加することにより、ガス導入管23から供給されたバブルは、例えば、超音波の節の位置で固定される。その結果、より一層長い時間、バブルを融液中に滞在させることができ、窒素の溶解効率をより一層向上できる。
(実施形態7)
本実施形態では、本発明の製造装置の構成のさらにその他の例を、図14を用いて説明する。この例は、原料調製容器と結晶成長容器とを一体化した容器であり、1つの容器が原料調製容器部と結晶成長容器部とに区切られた二重構造の例である。同図において、図8と同一箇所には、同一の符号を付している。同図に示すように、この装置は、圧力容器53、圧力調整器24、流量調整器22およびガス供給装置21を主要構成要素とする。前記圧力容器53には、原料調製容器兼結晶成長容器15が収納可能であり、前記容器15の側面および底面には、加熱用ヒータ30が配置されている。前記圧力容器53には、流量調整器22および圧力調整器24がパイプを介してそれぞれ接続され、前記流量調整器22には、ガス供給装置21がパイプを介して接続されている。
原料調製容器兼結晶成長容器15の構成の一例を、図15に示す。同図に示すように、原料調製容器兼結晶成長容器15は、蓋44によりその上部が閉塞可能である。前記原料調製容器兼結晶成長容器15内部は、仕切り板43によって、結晶成長容器部46と原料調製容器部47とに区切られた二重構造であり、結晶成長容器部46には、シード結晶45が配置可能である。仕切り板43の下部(原料調製容器兼結晶成長容器15の底面付近)には、原料調製容器部47内の融液が、結晶成長容器部46に移送可能なように孔42が形成されている。原料調製容器部47には、その下部(原料調製容器兼結晶成長容器15の底面付近)にその先端が位置するように、ガス導入管23が配置されている。また、前記蓋44には、原料調製容器部47および結晶成長容器部46にそれぞれ対応するように孔48および49が形成されており、この孔48から、原料調製容器兼結晶成長容器15内の窒素含有ガス等が排出可能である。前記結晶成長容器部46の蓋44に形成された孔49は、圧力容器53の気圧と、結晶成長容器部46の圧力とを均一にするためのものである。
図14および図15に示す装置を用いた、III族元素窒化物結晶の製造について、以下に説明する。予め、原料調製容器兼結晶成長容器15内に、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方と、III族元素とを配置する。加熱用ヒータ30および圧力調整器24を用いて、原料調製容器兼結晶成長容器15を加圧加熱し、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液を調製する。この際、原料調製容器部47の温度が、結晶成長容器部46の温度よりも、例えば、数℃〜数十℃高い状態となるように設定する。次に、ガス導入管23を通じて窒素含有ガスをバブリングすることにより、原料調製容器部47内の融液中で、前記融液に窒素を溶解させて原料液を調製する。原料調製容器部47内の融液の窒素濃度の上昇およびバブリング等により、原料調製容器部47内の窒素を含む融液(原料液)が、孔42を通じて、結晶成長容器部46に拡散する。この例においては、この孔42が、前記原料移送手段となる。結晶成長容器部46の温度は、前述の通り、原料調製容器部47の温度よりも低いため、前記窒素を含む融液は過飽和状態となり、シード結晶45表面で結晶成長が開始する。このように、原料調製容器部47と結晶成長容器部46とを1つの容器とすることにより、装置をコンパクトにすることができ、かつ、融液の移送が、極めて容易になる。また、結晶成長容器部46の下側から、高濃度の窒素を含む融液(原料液)を移送することにより、融液と仕切り板43との界面、融液の液面等における窒素濃度を低くすることができ、その結果、不均一核の発生を、より一層低減できる。なお、本実施形態ではシード結晶45を立てた状態で配置したが、これに限定されるものではなく、シード結晶45を横にした状態で結晶成長容器部46の底面に配置しもよいし、シード結晶45を斜めに配置してもよい。
以下に、本発明のIII族元素窒化物半導体素子について、実施例を用いて説明する。
本発明の方法で作製した結晶を基板として用い、半導体レーザを作製した。半導体レーザ90の構造を図16に示す。
まず、前記実施形態1と同様にして作製したGaN結晶を基板91として用い、その基板91上に、キャリア濃度が5×1018cm-3以下(例えば0.7×1018cm-3)になるようにドーパントとしてSiを添加したn形GaN層92を形成した。GaN系の結晶(GaとNとを含む結晶)では、ドーパントとしてSiを添加した場合、Gaの空孔が増加する傾向がある。このGaの空孔は容易に拡散するため、この上にデバイスを作製すると寿命などの点で悪影響を与える。したがって、キャリア濃度が5×1018cm-3以下になるようにドーパントの量を制御し、信頼性の高いデバイスを作製した。
次に、n形GaN層92上に、n形Al0.07Ga0.93Nからなるクラッド層93とn形GaNからなる光ガイド層94とを形成した。ついで、Ga0.8In0.2Nからなる井戸層(厚さ約3nm)とGaNからなるバリア層(厚さ6nm)とによって構成された多重量子井戸(MQW)を活性層95として形成した。そして、p形GaNからなる光ガイド層96とp形Al0.07Ga0.93Nからなるクラッド層97と、p形GaNからなるコンタクト層98とを形成した。これらの層は公知の方法(例えば、MOCVD法)で形成できた。半導体レーザ90はダブルへテロ接合型の半導体レーザであり、MQW活性層におけるインジウムを含む井戸層のエネルギーギャップが、アルミニウムを含むn形およびp形クラッド層のエネルギーギャップよりも小さい。一方、光の屈折率は、活性層95の井戸層が最も大きく、以下、光ガイド層、クラッド層の順に小さかった。
コンタクト層98の上部には、幅が2μm程度の電流注入領域を構成する絶縁膜99が形成した。p形のクラッド層97の上部およびp形のコンタクト層98には、電流狭窄部となるリッジ部を形成した。p形のコンタクト層98の上側には、コンタクト層98とオーミック接触するp側電極100を形成した。n形GaN基板91には、n形GaN基板91とオーミック接触するn側電極101を形成した。
前記方法で製造した半導体レーザのデバイス評価を行った。その結果、得られた半導体レーザに対して、p側電極とn形電極との間に順方向の所定の電圧を印加すると、MQW活性層にp側電極から正孔、n側電極から電子が注入され、MQW活性層において再結合し光学利得を生じて、発振波長404nmでレーザ発振を起こした。本発明の製造法により得られるGaN結晶は、欠陥密度が小さいので信頼性が高く、強い光出力でも素子劣化のない発光素子が実現できる。
なお、本実施例では、GaN単結晶基板を用いて半導体装置を作成したが、基板上に作製する光デバイスの使用波長に対して吸収の少ない基板を供給することが望ましい。そのため、紫外線領域の半導体レーザや発光ダイオード用基板としては、Alが多く含まれ短波長域の光吸収が少ないAlxGa1-xN(0≦x≦1)単結晶を形成することが好ましい。本発明では、Gaの一部を他のIII族元素に置き換えることによって、このようなIII族元素窒化物結晶を形成することも可能である。
以上説明したように、本発明によれば、結晶成長時間を短縮でき、高品質で低コストな基板を提供できる。また、本発明の製造方法および製造装置により得られるGaN単結晶基板は、気相成長(例えば、HVPE)等で作製した基板と比較して転位密度が小さく、半導体レーザの高出力化や長寿命化に極めて有利となる。
図1は、本発明の一実施形態における時間と雰囲気温度との関係を示すグラフである。 図2は、本発明の前記一実施形態における時間と成長膜厚との関係を示すグラフである。 図3は、本発明のその他の実施形態における時間と雰囲気圧力との関係を示すグラフである。 図4は、本発明のさらにその他の実施形態における時間と成長膜厚との関係を示すグラフである。 図5は、本発明のさらにその他の実施形態における時間と雰囲気温度との関係を示すグラフである。 図6は、本発明のさらにその他の実施形態における時間と雰囲気圧力との関係を示すグラフである。 図7は、本発明の前記一実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図8は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図9は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図10は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図11は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図12は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図13は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図14は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図15は、本発明のさらにその他の実施形態において使用する製造装置の構成図である。 図16は、本発明の実施例におけるIII族元素窒化物半導体素子の断面図である。
符号の説明
11 反応容器
12 原料調製容器
13 原料液ため
14 結晶成長容器
15 原料調製容器兼結晶成長容器
16 原料移送手段
17 パイプ
20、21 ガス供給装置
22 流量調整器
23 ガス導入管
24、26 圧力調整器
27 キャップ
28 熱遮断板
29 超音波発生器
30、34 加熱用ヒータ
42、48、49 孔
43 仕切り板
44 蓋
45 シード結晶
46 結晶成長容器部
47 原料調製容器部
50 第1の圧力容器
51、53 圧力容器
52 第2の圧力容器
72 駆動手段
74 撹拌手段
76 回転導入手段
90 半導体レーザ
91 基板
92 コンタクト層
93 クラッド層
94、96 光ガイド層
95 多重量子井戸層
97 クラッド層
98 コンタクト層
99 絶縁膜
100 p側電極
101 n側電極
A 原料移送方向
B ガス供給方向

Claims (25)

  1. アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素と窒素とを含む原料液中において、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱して前記原料液中の窒素とIII族元素とを反応させ結晶を成長させる結晶成長工程を有するIII族元素窒化物結晶の製造方法であって、
    前記結晶成長工程に先立ち、さらに、原料調製工程を有し、
    前記原料調製工程が、窒素含有ガス雰囲気下、雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方を前記結晶成長工程の条件よりも高く設定して、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液中に窒素を溶解させて前記原料液を調製する工程であり、
    前記原料調製工程において、その雰囲気温度を800℃〜1100℃の範囲に設定し、その雰囲気圧力を2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)の範囲に設定し、前記結晶成長工程において、その雰囲気温度を600℃〜1000℃の範囲に設定し、その雰囲気圧力を2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)に設定する製造方法。
  2. 前記原料調製工程から前記結晶成長工程に切り替えた後、前記結晶成長工程の雰囲気温度を徐々に降下させることにより所定の結晶成長の温度に設定する請求項1記載の製造方法。
  3. 前記雰囲気温度の降下速度を、0.05℃/時間〜30℃/時間の範囲に設定する請求項2記載の製造方法。
  4. 前記原料調製工程から前記結晶成長工程に切り替えた後、前記結晶成長工程の雰囲気圧力を徐々に上昇させることにより所定の結晶成長の圧力に設定する請求項1記載の製造方法。
  5. 前記雰囲気圧力の上昇速度を、0.01atm/時間〜0.3atm/時間(0.01×1.013×105Pa/時間〜0.3×1.013×105Pa/時間)の範囲に設定する請求項4記載の製造方法。
  6. 前記原料調製工程において、前記原料液を、前記III族元素窒化物結晶の未飽和状態にしておく請求項1記載の製造方法。
  7. 前記原料調製工程の前記融液の液面において、前記窒素含有ガスをフローさせる請求項1記載の製造方法。
  8. 前記原料調製工程において、前記融液中で前記窒素含有ガスをバブリングさせる請求項1記載の製造方法。
  9. 前記原料調製工程において、前記融液中でマイクロバブルの前記窒素含有ガスをバブリングさせる請求項1記載の製造方法。
  10. 前記原料調製工程において、前記融液に超音波を印加する請求項記載の製造方法。
  11. 結晶成長工程の実施前に加え、結晶成長工程の実施中および実施後の少なくとも一方において、前記原料調製工程を実施する請求項1記載の製造方法。
  12. 前記結晶成長工程では、結晶成長容器内で結晶成長を行い、前記原料調製工程では、原料調製容器内で、前記アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液への窒素の溶解を行って原料液を調製し、前記原料調製容器から前記結晶成長容器に前記原料液を移送し、ここで結晶成長させる請求項1記載の製造方法。
  13. 前記原料調製容器と前記結晶成長容器とが一体化している請求項12記載の製造方法。
  14. 前記III族元素が、Al、GaおよびInからなる群から選択される少なくとも一つである請求項1記載の製造方法。
  15. 前記III族元素が、Gaであり、前記III族元素窒化物結晶が、GaN結晶である請求項1記載の製造方法。
  16. III族元素窒化物結晶の製造装置であって、
    加熱手段、加圧手段、窒素含有ガス供給手段、結晶成長容器、原料調製容器および原料移送手段を有し、
    前記結晶成長容器および前記原料調製容器は、前記原料移送手段を介して連結され、
    前記結晶成長容器および前記原料調製容器には、それぞれ、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段が配置されており、前記原料調製容器内を、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱し、前記原料調製容器内において、III族元素とアルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とを含む融液を調製し、前記融液中への窒素の溶解を行って原料液を調製し、この原料液を、前記原料移送手段により、前記原料調製容器から前記結晶成長容器に移送し、前記結晶成長容器内を、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱し、前記原料液中の窒素とIII族元素とを反応させ、III族元素窒化物結晶を成長させて製造し、
    前記原料調製容器内の雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方が、前記結晶成長容器よりも高く設定され
    前記原料調製容器の雰囲気温度が800℃〜1100℃の範囲に設定され、その雰囲気圧力が2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)の範囲に設定され、前記結晶成長容器内の雰囲気温度が600℃〜1000℃の範囲に設定され、その雰囲気圧力が2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)に設定される製造装置。
  17. さらに、第1の圧力容器と、第2の圧力容器とを有し、前記第1の圧力容器内には前記結晶成長容器が配置され、前記第2の圧力容器内には前記原料調製容器が配置されている請求項16記載の製造装置。
  18. さらに、温度調整手段および圧力調整手段の少なくとも一方を有する請求項16記載の製造装置。
  19. さらに、ガスフロー手段を有し、これにより、前記原料調製容器の融液液面において、前記窒素含有ガスをフローさせることが可能である請求項16記載の製造装置。
  20. 前記原料調製容器を複数有し、これにより、前記原料調製容器の融液と前記窒素含有ガスとが接触する面積を大きくする請求項16記載の製造装置。
  21. さらに、ガスバブリング手段を有し、これにより、前記原料調製容器の融液中において、前記窒素含有ガスをバブリングさせることが可能である請求項16記載の製造装置。
  22. 前記ガスバブリング手段により、前記原料調製容器の融液中において、マイクロバブルの窒素含有ガスをバブリングさせることが可能である請求項21記載の製造装置。
  23. さらに、超音波発生手段を有し、前記超音波発生手段が前記原料調製容器に配置されている請求項21記載の製造装置。
  24. さらに、撹拌手段を有し、これにより、前記原料調製容器の融液中において、融液を撹拌可能である請求項16記載の製造装置。
  25. 前記原料調製容器および前記結晶成長容器として、前記原料調製容器と前記結晶成長容器とが一体化した原料調製容器兼結晶成長容器を有し、前記原料調製容器兼結晶成長容器は、原料調製容器部と結晶成長容器部とに区切られ、前記原料移送手段として、原料調製容器部と結晶成長容器部との間に貫通孔が形成され、前記貫通孔により原料が移送される請求項16記載の製造装置。
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