JP4819677B2 - Iii族元素窒化物結晶の製造方法、それに用いる製造装置、およびそれらにより得られた半導体素子 - Google Patents
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Description
本実施形態では、III族元素としてGaを使用し、アルカリ金属として金属Naを使用し、窒素含有ガスとして窒素(N2)ガスを使用して、GaN結晶を成長させる。その方法について、図7を用いて説明する。図7は、本発明の製造方法に使用する装置の構成の一例を示す構成図である。同図に示すように、この装置は、圧力容器51、ガス供給装置21、流量調整器22および圧力調整器24を主要構成要素とし、前記圧力容器51内には、反応容器11が収納可能で、その側面には、加熱用ヒータ30が配置されている。前記圧力容器51には、流量調整器22および圧力調整器24がパイプを介してそれぞれ接続されており、前記流量調整器22の他端には、ガス供給装置21がパイプを介して接続されている。
本実施形態では、III族元素としてGaを使用し、アルカリ金属として金属Naを使用し、窒素含有ガスとして窒素(N2)ガスを使用して、GaN結晶を成長させる。まず、雰囲気圧力を60atm〜70atm(60×1.013×105Pa〜70×1.013×105Pa)(結晶成長中の雰囲気圧力より、例えば、20atm〜30atm(20×1.013×105Pa〜30×1.013×105Pa)高い圧力)、雰囲気温度を850℃として、1時間〜5時間保持し、GaおよびNaを含む融液中に窒素を急速に溶解させ、融液内の窒素濃度を所望の窒素濃度とする(原料調製工程)。そして、雰囲気温度を850℃に保持した状態で、雰囲気圧力を40atm(40×1.013×105Pa)に降下させ、前記融液中でGaN結晶を成長させる(結晶成長工程)。その結果、原料加熱開始から結晶成長が開始するまでの時間が、例えば、10時間〜20時間と、従来の方法の1/5倍から1/2倍程度にまで大幅に短縮される。本実施形態における、雰囲気圧力の時間変化の一例を図3に示す。また、見かけの成長速度は、例えば、15μm/時間にできる。なお、原料調製工程において、雰囲気圧力を60atm〜70atm(60×1.013×105Pa〜70×1.013×105Pa)、雰囲気温度を850℃とした場合、平衡状態では窒素が過飽和の状態となる。しかしながら、窒素供給時間が、例えば、1時間〜5時間と短時間であれば、融液中のIII族元素窒化物濃度(窒素濃度)は飽和濃度以下であるため、原料調製工程では、結晶成長は開始しない。
本実施形態では、まず、実施形態1と同様に原料調製工程を行い、雰囲気温度を降下させた後、結晶成長工程において、0.2℃/時間〜1.5℃/時間で雰囲気温度をさらに降下させる。その結果、実質的な結晶成長速度がより早くなり、例えば、25μm/時間にできる。本実施形態における、雰囲気温度の時間変化の一例を図5に示し、成長膜厚と時間との関係を、その一例として図4に示す。なお、従来の方法により結晶を成長させた場合の成長膜厚と時間との関係も図4に合わせて示す。なお、雰囲気温度を降下させる方法は、特に時間に対して直線的に降下させる必要はなく、段階的に降下させてもよい。また、前記降下速度を、例えば、0.1℃/時間〜1.5℃/時間の範囲で徐々に大きくしてもよい。
本実施形態では、まず、実施形態2と同様に原料調製工程を行い、雰囲気圧力を降下させた後、結晶成長工程において、0.05atm/時間〜0.3atm/時間(0.05×1.013×105Pa/時間〜0.3×1.013×105Pa/時間)で雰囲気圧力を上昇させる。その結果、実質的な結晶成長速度が、より早くなり、例えば、20μm/時間にできる。本実施形態における、雰囲気圧力の時間変化の一例を図6に示す。なお、雰囲気圧力を上昇させる方法は、特に時間に対して直線的に上昇させる必要はなく、段階的に上昇させてもよい。また、前記上昇速度を、例えば、0.05atm/時間〜0.3atm/時間(0.05×1.013×105Pa/時間〜0.3×1.013×105Pa/時間)の範囲で徐々に大きくしてもよい。
本発明の製造装置の構成の一例を、図8を用いて説明する。図8に、本発明の製造装置の一例を示す。同図に示すように、この装置は、第1の圧力容器50、第2の圧力容器52、原料移送手段16、圧力調整器24および26、流量調整器22ならびにガス供給装置21および20を主要構成要素とする。第1の圧力容器50および第2の圧力容器52の中には、それぞれ、結晶成長容器14および原料調製容器12が収納可能で、それらの容器(14および12)の側面には加熱用ヒータ30が配置されている。そして、第1の圧力容器50および第2の圧力容器52は、原料移送手段16により接続されており、原料移送手段16には加熱用ヒータ34が配置されている。第1の圧力容器50には、ガス供給装置20と圧力調整器26とがパイプを介してそれぞれ接続され、第2の圧力容器52には、ガス供給装置21、流量調整器22および圧力調整器24がパイプを介してそれぞれ接続されている。
第2の圧力容器52内の構成のさらにその他の例を、図11を用いて説明する。同図に示すように、第2の圧力容器52内に原料調製容器12が配置され、その側面にはヒータ30が配置されている。原料調製容器12には、それぞれ、ガス導入管23および原料移送手段16が配置され、前記原料移送手段16により、窒素を溶解させた融液(原料液)は、結晶成長容器(図示せず)に移送可能である(矢印A方向)。前記ガス導入管23の一端には、流量調整器22を介してガス供給装置21が配置され、他端は、原料調製容器12の壁面を貫通した状態で配置されている。このガス導入管23を通じて、原料調製容器12内に窒素含有ガスが導入される。なお、前記原料調製容器から前記結晶成長容器への融液(原料液)の移送は、例えば、第2の圧力容器と第1の圧力容器との間の圧力差で行うことができる。
本実施形態では、本発明の製造装置の構成のさらにその他の例を、図14を用いて説明する。この例は、原料調製容器と結晶成長容器とを一体化した容器であり、1つの容器が原料調製容器部と結晶成長容器部とに区切られた二重構造の例である。同図において、図8と同一箇所には、同一の符号を付している。同図に示すように、この装置は、圧力容器53、圧力調整器24、流量調整器22およびガス供給装置21を主要構成要素とする。前記圧力容器53には、原料調製容器兼結晶成長容器15が収納可能であり、前記容器15の側面および底面には、加熱用ヒータ30が配置されている。前記圧力容器53には、流量調整器22および圧力調整器24がパイプを介してそれぞれ接続され、前記流量調整器22には、ガス供給装置21がパイプを介して接続されている。
12 原料調製容器
13 原料液ため
14 結晶成長容器
15 原料調製容器兼結晶成長容器
16 原料移送手段
17 パイプ
20、21 ガス供給装置
22 流量調整器
23 ガス導入管
24、26 圧力調整器
27 キャップ
28 熱遮断板
29 超音波発生器
30、34 加熱用ヒータ
42、48、49 孔
43 仕切り板
44 蓋
45 シード結晶
46 結晶成長容器部
47 原料調製容器部
50 第1の圧力容器
51、53 圧力容器
52 第2の圧力容器
72 駆動手段
74 撹拌手段
76 回転導入手段
90 半導体レーザ
91 基板
92 コンタクト層
93 クラッド層
94、96 光ガイド層
95 多重量子井戸層
97 クラッド層
98 コンタクト層
99 絶縁膜
100 p側電極
101 n側電極
A 原料移送方向
B ガス供給方向
Claims (25)
- アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素と窒素とを含む原料液中において、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱して前記原料液中の窒素とIII族元素とを反応させ結晶を成長させる結晶成長工程を有するIII族元素窒化物結晶の製造方法であって、
前記結晶成長工程に先立ち、さらに、原料調製工程を有し、
前記原料調製工程が、窒素含有ガス雰囲気下、雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方を前記結晶成長工程の条件よりも高く設定して、アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液中に窒素を溶解させて前記原料液を調製する工程であり、
前記原料調製工程において、その雰囲気温度を800℃〜1100℃の範囲に設定し、その雰囲気圧力を2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)の範囲に設定し、前記結晶成長工程において、その雰囲気温度を600℃〜1000℃の範囲に設定し、その雰囲気圧力を2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)に設定する製造方法。 - 前記原料調製工程から前記結晶成長工程に切り替えた後、前記結晶成長工程の雰囲気温度を徐々に降下させることにより所定の結晶成長の温度に設定する請求項1記載の製造方法。
- 前記雰囲気温度の降下速度を、0.05℃/時間〜30℃/時間の範囲に設定する請求項2記載の製造方法。
- 前記原料調製工程から前記結晶成長工程に切り替えた後、前記結晶成長工程の雰囲気圧力を徐々に上昇させることにより所定の結晶成長の圧力に設定する請求項1記載の製造方法。
- 前記雰囲気圧力の上昇速度を、0.01atm/時間〜0.3atm/時間(0.01×1.013×105Pa/時間〜0.3×1.013×105Pa/時間)の範囲に設定する請求項4記載の製造方法。
- 前記原料調製工程において、前記原料液を、前記III族元素窒化物結晶の未飽和状態にしておく請求項1記載の製造方法。
- 前記原料調製工程の前記融液の液面において、前記窒素含有ガスをフローさせる請求項1記載の製造方法。
- 前記原料調製工程において、前記融液中で前記窒素含有ガスをバブリングさせる請求項1記載の製造方法。
- 前記原料調製工程において、前記融液中でマイクロバブルの前記窒素含有ガスをバブリングさせる請求項1記載の製造方法。
- 前記原料調製工程において、前記融液に超音波を印加する請求項8記載の製造方法。
- 結晶成長工程の実施前に加え、結晶成長工程の実施中および実施後の少なくとも一方において、前記原料調製工程を実施する請求項1記載の製造方法。
- 前記結晶成長工程では、結晶成長容器内で結晶成長を行い、前記原料調製工程では、原料調製容器内で、前記アルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とIII族元素とを含む融液への窒素の溶解を行って原料液を調製し、前記原料調製容器から前記結晶成長容器に前記原料液を移送し、ここで結晶成長させる請求項1記載の製造方法。
- 前記原料調製容器と前記結晶成長容器とが一体化している請求項12記載の製造方法。
- 前記III族元素が、Al、GaおよびInからなる群から選択される少なくとも一つである請求項1記載の製造方法。
- 前記III族元素が、Gaであり、前記III族元素窒化物結晶が、GaN結晶である請求項1記載の製造方法。
- III族元素窒化物結晶の製造装置であって、
加熱手段、加圧手段、窒素含有ガス供給手段、結晶成長容器、原料調製容器および原料移送手段を有し、
前記結晶成長容器および前記原料調製容器は、前記原料移送手段を介して連結され、
前記結晶成長容器および前記原料調製容器には、それぞれ、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段が配置されており、前記原料調製容器内を、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱し、前記原料調製容器内において、III族元素とアルカリ金属およびアルカリ土類金属の少なくとも一方とを含む融液を調製し、前記融液中への窒素の溶解を行って原料液を調製し、この原料液を、前記原料移送手段により、前記原料調製容器から前記結晶成長容器に移送し、前記結晶成長容器内を、前記加熱手段、前記加圧手段および前記窒素含有ガス供給手段により、窒素含有ガス雰囲気下、加圧加熱し、前記原料液中の窒素とIII族元素とを反応させ、III族元素窒化物結晶を成長させて製造し、
前記原料調製容器内の雰囲気温度および雰囲気圧力の少なくとも一方が、前記結晶成長容器よりも高く設定され、
前記原料調製容器の雰囲気温度が800℃〜1100℃の範囲に設定され、その雰囲気圧力が2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)の範囲に設定され、前記結晶成長容器内の雰囲気温度が600℃〜1000℃の範囲に設定され、その雰囲気圧力が2atm〜100atm(2×1.013×10 5 Pa〜100×1.013×10 5 Pa)に設定される製造装置。 - さらに、第1の圧力容器と、第2の圧力容器とを有し、前記第1の圧力容器内には前記結晶成長容器が配置され、前記第2の圧力容器内には前記原料調製容器が配置されている請求項16記載の製造装置。
- さらに、温度調整手段および圧力調整手段の少なくとも一方を有する請求項16記載の製造装置。
- さらに、ガスフロー手段を有し、これにより、前記原料調製容器の融液液面において、前記窒素含有ガスをフローさせることが可能である請求項16記載の製造装置。
- 前記原料調製容器を複数有し、これにより、前記原料調製容器の融液と前記窒素含有ガスとが接触する面積を大きくする請求項16記載の製造装置。
- さらに、ガスバブリング手段を有し、これにより、前記原料調製容器の融液中において、前記窒素含有ガスをバブリングさせることが可能である請求項16記載の製造装置。
- 前記ガスバブリング手段により、前記原料調製容器の融液中において、マイクロバブルの窒素含有ガスをバブリングさせることが可能である請求項21記載の製造装置。
- さらに、超音波発生手段を有し、前記超音波発生手段が前記原料調製容器に配置されている請求項21記載の製造装置。
- さらに、撹拌手段を有し、これにより、前記原料調製容器の融液中において、融液を撹拌可能である請求項16記載の製造装置。
- 前記原料調製容器および前記結晶成長容器として、前記原料調製容器と前記結晶成長容器とが一体化した原料調製容器兼結晶成長容器を有し、前記原料調製容器兼結晶成長容器は、原料調製容器部と結晶成長容器部とに区切られ、前記原料移送手段として、原料調製容器部と結晶成長容器部との間に貫通孔が形成され、前記貫通孔により原料が移送される請求項16記載の製造装置。
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