JP4800621B2 - 超短レーザパルスを使用したレーザシステム - Google Patents
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Description
アール.トレビーノ外(R. Trebino et al.)、「超短レーザパルスの測定」、オプティックス&フォトニクスニュース第23巻(Optics & Photonics News 23)、2001年6月
超短レーザパルスを使用した本発明のレーザシステム21の第一の実施形態は、図1に図示されている。システム21は、フェムト秒レーザ23と、上流格子25と、上流凸面鏡27と、レーザビームパルス整形器29と、下流凹面鏡31と、下流格子33と、検出機器35と、パーソナルコンピュータ37とを含む。パーソナルコンピュータ37は、マイクロプロセッサに基づく電気制御システムと、メモリと、出力画面と、データ記憶装置と、入力キーボードと、リムーバブルディスクとを有する。更に具体的には、検出機器は、分光計39である。レーザビーム43のバーストやパルスは、レーザ23から放出され、光学素子25、27、31、及び33を通り、更には、分光計39による検出及び感知とパーソナルコンピュータ37での更なる評価、分析、比較、及びその後の制御のためにパルス整形器29を通る。
本発明の第六の好適な実施形態で利用される反射パルス整形システム121は、図15に図示されており、フェムト秒レーザ123と、上流プリズム125と、部分的に円筒形又は部分的に球形の鏡133と、フーリエ面のパルス整形鏡129と、オフセット又はピックオフ鏡131とを含む。上流プリズム125は、放出されたレーザビームパルスの色を最初に分散させる役割を果たし、一方、鏡133は、パルス整形鏡129に向けて、この分散レーザビームパルスを焦点合わせし、平行化し、その向きを変える役割を果たす。パルス整形鏡129は、所定又は固定のパルス整形面、或いはコンピュータ制御可変形鏡を有する。
本発明の第二の好適な実施形態では、レーザ励起又はイオン化のためのレーザシステム221を光干渉断層計(「OCT」)で使用する。一般に、図6は、システム221のOCT用途を例示しており、これには、フェムト秒レーザ223と、レーザビーム整形器229と、ヒト又は動物組織標本241と、光学ゲート251と、画像253とが存在する。レーザ223は、1ピコ秒より短いレーザビームパルスを放出する。整形器229は、三つの部分、即ち、位相マスク要素257を挟む二つの分散要素255で構成される。整形器229は、以降更に詳細に説明するように、ヒト又は動物のDNAに損傷を与える可能性のある多光子励起を本質的に防止する。弾道光子をゲートで制御し、断層計で使用するための画像を描画するために、非整形レーザビームパルスが使用される。光学ゲートは、倍周波数結晶、或いは液体二硫化炭素内のカーゲート、によるアップコンバートによって達成できる。例示のシステム221の構成は、透過画像を想定しており、同じ結果は、代替として、後方散乱画像によっても達成できる。画像253は、ヒト又は動物標本の内部器官のX線タイプの画像のように見えるが、有害な三光子の被曝はない。OCTにおける整形パルスの使用は、優れた画像のためのレーザ強度の増加を提供すると同時に、健康な組織の多光子励起によって発生する悪影響を防止する。後で説明するMIIPSプロセスは、有利なことに、ヒト又は動物組織内の各種色素やその他の化合物を活性化し、化合物特異的又は機能的なOCTないし顕微鏡検査を達成するために使用できる。
本発明の第三の好適な実施形態では、同じく221に示したようなレーザ励起又はイオン化のためのシステムを光力学療法(「PDT」)で使用する。一般に、図6は、システム221のPDT用途も例示しているが、光学ゲート251及び画像253は必要ない。整形器229は、二光子励起を可能にするが、三光子励起を本質的に防止する。整形器229は、健康な組織の損傷を防止する治療剤のレーザ誘起活性を強化する。本発明のレーザビームパルス整形の使用は、例えば、本明細書に援用する2000年3月28にFisherらに対して発行された米国特許第6,042,603号「分子作用物質の光子活性における選択性を改良する方法」において開示されたような従来の方法により実用可能なものと比較して、PDT用途での優れた制御及び結果を提供する。代替として、パルス整形器は、治療剤の存在に関係なく、多光子遺伝子療法又は破壊のために、健康な組織に損傷を与えることなく、癌細胞を標的とするように調整できる。有利なことに、後で説明するMIIPSプロセスを使用して、特定の薬剤又は化学物質のみを活性化でき、或いは、レーザビームパルスの位相調整及び関連する非線形スペクトル調整に基づいて、レーザパルスを公知の深度までヒト又は動物組織内に入射させることができる。
本明細書に全ての用途で応用されるように、蛋白質を含む大分子における一光子又は多光子プロセスの選択的制御は、大きな帯域幅を有する短パルスにおいて発生する多光子パルス内干渉を最大限に利用することに基づいた単純なパルス整形方法を使用することで可能となる。結果は、二桁に近い強度の(裸眼で明確に見える)コントラスト比と共に、堅牢で試料に依存しない並はずれた制御レベルを示す。こうした大きなコントラスト比によって、望ましくない光子及びその他のビーム特性を更に正確にキャンセル制御することが可能となり、各パルスによって引き起こされる非線形遷移が制御されるようになる。鏡129(図15参照)のような受動的光学要素に、単純な位相関数を組み込むことが可能であるため、こうした適用例においては、初期設定後、コンピュータ制御パルス整形器の複雑さや費用を必要としないが、依然としてシステムは利用可能である。
本発明では、(a)チャープマスクパルス整形器と、(b)マスクパルス整形器のための位相対周波数の平滑関数との組み合わせにより、大分子、蛋白質、及びその他の凝縮相材料に最適化された「多光子パルス内干渉」として説明される現象を最大限に利用する。以下の式は、適切な位相マスクを見つけるための予測の便宜を与えるものである。二光子遷移の確率は、任意のパルス形状について、次のように計算できる。
搬送波周波数ω0及び遅い振幅E0(t)を有する電界について、次の通りとなる。
遷移の複素振幅は、次の通りである。
図10を参照すると、本発明のレーザ励起システム421の代替実施形態は、フェムト秒レーザ423と、光ファイバ451と、レーザビームパルス整形機器429と、レーザビームパルス非整形機器453と、光スイッチ又はセンサ並びに関連回路や電気制御ユニットを含むレシーバ441とを利用する。レーザ423は、それぞれが1psより短い一連のレーザビームパルスを、接続されたファイバ451へ放出する。パルス整形機器429は、固定されたパルス特性変更形状を備えた既定マスクタイプ(計算された正弦波表面形状を備えるもの等)であり、ファイバ451に接続された三つの要素、即ち、回折格子を組み込んだファイバ等の分散要素455と、ドープガラス又はポリマシートを使用して作成可能な位相マスク要素457と、スペクトル的に分散した光を受け入れ、再びファイバ451に結合するための、要素455と同様だが反転された分散要素459とを有する。
本発明の多光子パルス内干渉位相走査(以降「MIIPS」)システム及び方法は、フェムト秒レーザパルスのスペクトル位相を特徴づける。この単一ビームの方法では、反復又は反転手順なしで、二次及び三次位相変調の大きさ及び符号(言い換えると、線形及び二次チャープ)を直接取り出せる。MIIPSは、チャープ超短パルスからの正確な位相の取り出しを達成する。二次高調波スペクトルはパルス内の全周波数の相対位相に依存するため、MIIPSでは、同期自己相関、ビーム分割、又は時間遅延を必要としない。パルスの振幅は、通信レシーバ内の分光計から直接取得される。fsレーザ123(図15参照)からのパルス内の全周波数成分の位相を正確に決定するために、A.M.Weinerの「空間光変調を使用したフェムト秒パルス整形」、Rev. Sci. Instrum. 71、第1929-1960頁(2000年)において説明されるもののようなパルス整形器を利用して、後で更に説明するように、この情報を直接得られるように設計された基準位相関数を導入する。この整形パルスは、薄SHG結晶507(図15参照)によって周波数が倍加され、出力は、分光計503に向けられる。
MIIは、SHG、和周波数発生、差周波数発生、又は四波混合等、一つの非線形光学プロセスが施される限り、自己スイッチングパルスを形成するのに使用可能であり、
MIIPSは、具体的には二次及び三次位相歪みについて、自動レーザ最適化を可能にするのに使用可能であり、
MIIPSは、パルス特徴づけに使用可能であり、
MIIPSは、光学素子によって誘導された位相変調を測定するのに使用可能であり、同様に、基板の厚さを測定するのに使用可能であり、
MIIPSは、位相内に格納された情報(アドレス及び/又はメッセージ)をデコーディングするのに使用可能であり、
MII現象を最適化するために動作する整形器は、自己デコードメッセージをエンコード可能であり、
MIIは、fsパルスからの三光子によるDNAの損傷を防止するために使用可能であり、
MIIは、明確な特定の深度でPDT作用物質の活性化を最適化するために使用可能である。
(1)「二光子吸収発色団に基づく新しい感光性樹脂及び三次元微細加工及び光ストレージへの応用」、B. H. Cumpston, J. E. Ehrlich, L. L. Erskine, A. A. Heikal, Z.-Y. Hu, I.-Y. S. Lee, M. D. Levin, S. R. Marder, D. J. McCord, J. W. Perry, H. Rockel,及びX.-L. Wu、Mat. Res. Soc. Symp. Proc.、第488巻、「有機固体材料の電気、光学、及び磁気特性IV」(MRS、ワレンデール、1998年)、第217頁、及び、
(2)「三次元光データストレージ及び微細加工のための二光子重合開始剤」、B. H. Cumpston, S. Ananthavel, S. Barlow, D. L. Dyer, J. E. Ehrich, L. L. Erskine, A. A. Heikal, S. M. Kuebler, I.-Y. Sandy Lee, D. McCord-Maughon, J. Qin, H. Rockel, M. Rumi, X.-L. Wu, S. R. Marder及びJ. W. Perry、Nature、近刊。多光子パルス内干渉は、有利なことに、この非線形光重合を強化するのに使用できると考えられる。
Claims (60)
- レーザビームパルスを放出するように動作可能なレーザと、
前記レーザビームパルスを、エンコードされた特性を含んで整形するように動作可能なパルス整形器と、
前記整形されたレーザビームパルスを複数の周波数ごとに分離するように動作可能な結晶と、
前記結晶における特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御するソフトウェアと、
前記結晶により分離された前記整形されたレーザビームパルスの複数の周波数の前記エンコードされた特性を検出するように動作可能な検出機器と、
前記エンコードされた特性をデコードするように動作可能な前記検出機器に接続されたユニットと、
を備えるシステム。 - 前記レーザビームパルスは、ルーティングアドレスを含んだ前記エンコードされた特性を含んで整形される、請求項1記載のシステム。
- 前記レーザビームパルスは、複数のルーティングアドレスを含む前記エンコードされた特性を含んで整形され、次の、後続する複数のルーティングアドレスを含む前記エンコードされた特性を含んだレーザビームパルスも、前記レーザから放出され、前記パルス整形器によって、整形される、請求項2記載のシステム。
- 前記レーザビームパルスは、通信メッセージデータを含んでエンコードされる、請求項2記載のシステム。
- 前記システムは、更に、
メイン送信コントローラと、
前記メイン送信コントローラに接続された複数の遠隔の初期送信源とを備え、
前記メイン送信コントローラは、前記パルス整形器に、複数の連続するレーザビームパルスを能動的に異なる態様でエンコードさせるように動作可能である、請求項1記載のシステム。 - 自己相関及び干渉法に依らずに非同期の態様で前記特性をデコードするために、前記結晶及び検出機器を含むレシーバに対してエンコード済み光信号を送信すべく、前記メイン送信コントローラとレーザとパルス整形器は、メイン通信トランスミッタとして機能する、請求項5記載のシステム。
- 前記システムは、更に、前記パルス整形器から前記レーザビームパルスを搬送する光ファイバケーブルを備える、請求項1記載のシステム。
- 前記パルス整形器は、基板に一定の波形が成形されている請求項1記載のシステム。
- 前記レーザは、持続時間11フェムト秒未満のレーザビームパルスを送信するように動作可能である、請求項1記載のシステム。
- レーザビームパルスと、
前記パルスを変化させるように動作可能なパルス整形器と、
前記パルス整形器によって整形された前記パルスを収束位相整合角度で受け取り、その後、前記パルスを、個々に分離された色周波数へ発散させるように動作可能な光学コンポーネントと、
前記光学コンポーネントにおける特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御するソフトウェアと、
を備えるシステム。 - 前記システムは、更に、送信制御ユニットと、前記送信制御ユニットに接続され、入力信号を送信する複数の通信源とを備え、前記送信制御ユニットは、前記通信源から受信した前記入力信号に従って複数の連続したレーザビームパルスをエンコードするために、前記パルス整形器の態様を変化させるように動作可能である、請求項10記載のシステム。
- 前記システムは、更に、前記パルス整形器から前記レーザビームパルスを搬送する光ファイバケーブルを備える、請求項10記載のシステム。
- レーザビームパルスを放出するように動作可能なレーザと、
エンコード済み通信データを含むように前記レーザビームパルスの少なくとも一つの特性を変更するように動作可能な暗号化器と、
変更済みパルス特性を非同期の態様でデコードするように動作可能な遠隔配置された解読器と、
前記解読器における特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記暗号化器の位相を制御するソフトウェアと、
を備える通信システム。 - 前記暗号化器は、通信トランスミッタ内に配置されたパルス整形器である、請求項13記載のシステム。
- レーザビームパルスを放出するように動作可能なレーザと、
前記レーザビームパルスの位相変調を発生させるように動作可能な光学素子と、
前記位相変調パルスを受信し、周波数領域における前記位相変調の(a)大きさ及び(b)符号の少なくとも一方を決定するように動作可能なユニットと、
前記ユニットにおける特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記光学素子の位相を制御するソフトウェアと、
を備えるシステム。 - 後続のレーザビームパルスは、組織に対する光力学療法のために使用される、請求項15記載のシステム。
- 後続のレーザビームパルスは、送信源から遠隔配置された受信源へデータを通信するために使用される、請求項15記載のシステム。
- レーザビームパルスを放出するように動作可能なレーザと、
前記レーザから放出された前記レーザビームパルスの位相を修正するように動作可能な第一の機器と、
修正されたレーザビームパルスの位相において搬送された通信データを解釈するように動作可能な第二の機器であって、少なくとも二次高調波発生を分離する特性を有する結晶を含む第二の機器と、
前記結晶における特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記第一の機器の位相を制御するソフトウェアと、
を備える通信システム。 - 前記第一の機器は、レーザビームパルス整形器を含む、請求項18記載の通信システム。
- レーザビームパルスと、
前記パルスの特性を変更するように動作可能なパルス整形器と、
整形された前記レーザビームパルスを受け取るように動作可能な光学コンポーネントと、
学習アルゴリズムなしに、自動的かつ計算された方法で、前記光学コンポーネントにおける特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御する動作可能な機器と、
を備えるレーザシステム。 - 前記機器は、前記パルスが非線形光学プロセスを受ける際に前記パルスが自己スイッチングを起こさせるようにする、請求項20記載のシステム。
- 前記非線形光学プロセスは、二次高調波発生を含む、請求項21記載のシステム。
- 前記非線形光学プロセスは、和周波数発生を含む、請求項21記載のシステム。
- 前記非線形光学プロセスは、差周波数発生を含む、請求項21記載のシステム。
- 前記非線形光学プロセスは、四波混合を含む、請求項21記載のシステム。
- 二次位相歪みは、それが存在する場合には、感知され、自動的に最小化される、請求項20記載のシステム。
- 光学コンポーネントによって引き起こされた位相変調が測定される、請求項20記載のシステム。
- 前記システムは、更に、上記整形されたパルスを受信するように動作可能な検出器を備える、請求項20記載のシステム。
- 前記検出器は、CCDカメラを含む、請求項28記載のシステム。
- 生体組織で使用するシステムであって、
高ピーク強度レーザビームパルスと、
前記生体組織上へ前記パルスを放出する前に、前記パルスの特性を変更するように動作可能な機器と、
前記生体組織における特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記動作可能な機器の位相を制御するソフトウェアと、
を備え、
各パルスによって引き起こされる非線形遷移が制御される、前記システム。 - 前記機器は、パルス整形器を使用し、前記組織における所望の励起物質は、二光子吸収を受ける、請求項30記載のシステム。
- 前記パルスは、51フェムト秒未満の持続時間を有する、請求項30記載のシステム。
- 前記システムは、更に、前記組織を通過する整形されたパルスによって生じた光学断層撮影画像を生成する、請求項30記載のシステム。
- 前記機器は、治療物質による二光子吸収を強化し、隣接する健康な組織の、三光子励起による損傷(three photon induced damage)を実質的に防止するパルス整形器である、請求項30記載のシステム。
- 前記機器は、前記ビームを変調するように動作可能な位相変調マスクを含む、請求項30記載のシステム。
- 前記パルスは、前記生体組織における特定の分子を改変又は破壊するために、目標とする多光子損傷を強化するように整形される、請求項30記載のシステム。
- 前記多光子パルス内干渉は、所望の光力学療法の作用物質を所望の組織深度で活性化するように作用可能である、請求項30記載のシステム。
- レーザビームを使用する方法であって、
(a)レーザによりレーザビームパルスを放出するステップと、
(b)パルス整形器により前記レーザビームパルスを、エンコードデータを含んで整形するステップと、
(c)ソフトウェアにより、レシーバ内で特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御するステップと、
(d)前記レシーバによって前記データを非同期の態様でデコードするステップと、
を備える方法。 - 更に、持続時間50フェムト秒未満であるパルスの大きさ及び符号を取得するステップを備える、請求項38記載の方法。
- レーザビームを使用する方法であって、
(a)レーザによりレーザビームパルスを放出するステップと、
(b)パルス整形器により前記レーザビームパルスを整形するステップと、
(c)ソフトウェアにより、結晶内で特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御するステップと、
(d)前記結晶を介して前記整形されたパルスを送信するステップと、
(e)前記整形されたレーザビームパルスの特性を非同期の態様で測定するステップと、
を備える方法。 - 更に、光学素子で前記レーザビームパルスの位相変調を発生させるステップと前記レーザビームパルスにおける位相変調の大きさ及び符号を取得するステップを備える、請求項40記載の方法。
- 更に、持続時間50フェムト秒未満であるパルスの位相の大きさ及び符号を取得するステップを備える、請求項40記載の方法。
- 更に、前記整形されたレーザビームパルスの未知の位相を分析するために、前記整形されたレーザビームパルスに公知の基準位相を導入するステップを備える、請求項40記載の方法。
- 更に、非線形光学プロセスを特徴づけるように動作するコンピュータと分光計とで前記整形されたレーザビームパルスの位相を分析するステップを備える、請求項40記載の方法。
- パルス整形方法であって、
(a)レーザによりレーザビームパルスを放出するステップと、
(b)前記レーザビームパルスをパルス整形器に入射させるステップと、
(c)前記パルス整形器により整形された前記レーザビームパルスを、光学コンポーネントが受け取るステップと、
(d)学習アルゴリズムなしに、自動的かつ計算された方法で、ソフトウェアにより、前記光学コンポーネントにおける特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御するステップと、
を備える方法。 - 前記レーザビームパルスは、51フェムト秒未満のパルス持続時間を有する請求項45記載の方法。
- 自動的に望ましくないパルス特性を補正するステップを、更に備える請求項45記載の方法。
- レーザビームパルスを放出可能なレーザと、
自動的に前記レーザビームパルスのスペクトル位相歪みを計測し補正する光学ユニットと、を備え、
前記光学ユニットは、結晶と、パルス整形器と、前記結晶における特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御するコントローラと、を備える
システム。 - 前記レーザビームパルスは、51フェムト秒未満のパルス持続時間を有する請求項48記載のシステム。
- 選択的に三光子以上の励起を削減することを更に含む請求項48記載のシステム。
- 前記光学ユニットはパルス整形器を含む請求項48記載のシステム。
- 前記光学ユニットは変換限界パルスを生成する請求項48記載のシステム。
- 前記光学ユニットは二次高調波生成結晶と前記パルスの二次高調波スペクトルを測定する分光計とを含む請求項48記載のシステム。
- 前記光学ユニットは基準位相関数を前記レーザビームパルスに導入して出力し、該出力は周波数が2倍にされ、二次高調波スペクトルが分光計によって検出され、前記コントローラは前記位相歪みを検出し、前記光学ユニットが次の位相関数を導入する場合は、前記レーザビームパルスの位相歪みを補正するために前記位相歪みを引算する請求項48記載のシステム。
- 51フェムト秒未満のパルス持続時間を有するレーザビームパルスを放出可能なレーザと、
前記レーザビームパルスのスペクトル位相を制御可能なパルス整形器と、
前記整形されたレーザビームパルスをスペクトル的に分散するように動作可能な結晶と、
前記結晶によりスペクトル的に分散された、前記整形されたレーザビームパルスの二次高調波を検出可能な検出器と、
該パルス整形器と該検出器とに接続され、前記結晶における特定の多光子プロセスを最大化又は最小化させるべく、前記パルス整形器の位相を制御するコントローラと、
を備えるシステム。 - 前記レーザビームパルスは、10フェムト秒未満のパルス持続時間を有する請求項55記載のシステム。
- 選択的に三光子以上の励起を削減することを更に含む請求項55記載のシステム。
- 前記パルス整形器において較正された基準スペクトル位相を使用して、後続のパルス内の未知のスペクトル位相を検出する請求項55記載のシステム。
- 前記後続のレーザビームパルスの検出された未知のスペクトル位相を、後続のパルスのスペクトル位相歪みをキャンセルする補正位相を計算するために使用する請求項55記載のシステム。
- 前記パルス整形器と前記コントローラとを使用し、パルス制御の品質を向上するために後続のレーザビームパルスに多光子パルス内干渉位相走査を繰返し実行する請求項55記載のシステム。
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