JP4693972B2 - レーザ顕微鏡 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、標本の多光子吸収による化学反応又は蛍光を検出する走査型の多光子励起のレーザ顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、レーザ顕微鏡として、極短パルスレーザビームを観察対象の標本に照射し、標本の多光子吸収による化学反応又は蛍光を検出する多光子励起走査型レーザ顕微鏡が知られている。
【0003】
ところで、多光子励起現象は単位面積、単位時間当たりの光子密度のn乗(2光子励起の場合はn=2、3光子励起の場合はn=3)に比例した確率で発生するため、多光子励起法の光源には通常サブピコ秒オーダの極短パルスのレーザビームが用いられる。
【0004】
しかし、このようなサブピコ秒のパルスレーザビームは完全に単波長ではなく、そのパルス幅と相関を持つある波長幅を有する。一般的に光が光学系を通過する場合、波長が短いほど媒質中での速度は遅く、波長が長いほど媒質中の速度は速くなる。従って、上述のようにパルスレーザビームが波長幅を有していると、光学系を通過する際、波長によって通過時間に差が生じることとなり、その結果、光学系に入射する前のパルス幅に比べ、光学系を通過した後のパルス幅が広がってしまう、所謂チャープが発生する。
【0005】
このことは、前述のように多光子励起現象は、光子密度に依存するため、チャープに原因する標本面でのパルス幅の広がりによって、多光子励起現象が発生する確率を低下させ、結果、得られる蛍光が暗くなってしまう。
【0006】
この問題を解決する手段として、パルス幅調整手段、いわゆるプレチャープコンペンセーションを用いることが知られている。このプレチャープコンペンセーションは、プリズムペア、もしくはグレーティングペア、またはこれらを組合せた光学系で、パルスレーザの長波長光を短波長光より遅らせて入射させることで、光学系を通過した後のパルス幅の広がりを補正するようにしている。
【0007】
一方、多光子励起法を走査型レーザ顕微鏡に用いた場合、通常択一的に選択される複数の対物レンズ及びその他の光学系(プリズム又はミラーなど)を有している。これら複数の対物レンズ及びその他の光学系は、それぞれで光路長及び材質が異なるため、どの対物レンズ及びその他の光学系を選択するかでパルス幅の広がりは異なり、そのため最適な条件で多光子励起法を行なうには、対物レンズ及びその他の光学系を選択する毎に、プレチャープコンペンセーションを調整する必要がある。
【0008】
また、上述したようにパルス幅の広がりは、パルスレーザビームの波長にも依存するため、パルスレーザビームの波長が可変な場合は、波長を変更する毎に同様にプレチャープコンペンセーションを調整する必要がある。
【0009】
そこで、従来、プレチャープコンペンセーションの調整を最適化する方法として、特開平10−318924号公報および特開平11−326775公報に開示されたものが知られている。
【0010】
このうち特開平10−318924公報には、対物レンズに対して標本を挟んで反対側のコリメート光学系と、パルス幅を測定するオートコリレータを備えて、標本上のパルス幅を測定しながらプレチャープコンペンセーションを調整することが開示されている。
【0011】
また、特開平11−326775公報には、各対物レンズの光路長に対応した補正光学部材を備えておき、対物レンズの選択に対応して補正光学部材を選択して光路に配置することが開示されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、特開平10−318924公報の方法では、標本の近傍にコリメート光学系及びオートコリレータを配置することから装置が大型化してしまう。このため、例えば標本に電極を刺して行なうパッチクランプを行ないながら観察するような場合、標本の周りに作業スペースを確保するのが難しくなるなどの問題が生じる。
【0013】
また、特開平11−326775公報の方法では、対物レンズの数に加え、プリズムやミラーなど他の選択光学系がある場合は、これらの数だけ補正光学部材が必要となり装置が大型化してしまう。また、全ての光学系に対応させて補正光学部材を多数用意することも困難である。また、補正光学部材は切換えるのみで、細かい調整ができないため、波長可変レーザビームを使用した場合に全ての波長域でプレチャープコンペンセーションを最適に調整することが難しいという問題もある。
【0014】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、標本位置でのレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短にする最適なパルス幅調整を行うことができるレーザ顕微鏡を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の発明は、レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、前記レーザ光源から発せられる前記極短パルスレーザビームの波長を認識するレーザ波長認識手段と、レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、前記レーザ波長認識手段により認識された前記レーザ波長に対応する前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、を具備したことを特徴としている。
【0016】
請求項2記載の発明は、レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光路に対して挿脱可能な光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、前記レーザ光源から発せられる前記極短パルスレーザビームの波長を認識するレーザ波長認識手段と、前記光路に挿入された前記光学部材の種類を認識する光学部材認識手段と、レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、前記レーザ波長認識手段により認識された前記レーザ波長と前記光学部材認識手段により認識された前記光学部材とに対応する前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、を具備したことを特徴としている。
【0017】
請求項3記載の発明は、レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光路に対して挿脱可能な光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長および前記光路に挿入する前記光学部材の種類を指定する入力手段と、レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、前記入力手段により指定された前記レーザ波長および前記光学部材に対応する前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、を具備したことを特徴としている。
【0018】
請求項4記載の発明は、レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、前記標本が発する光の光量を検出する光量検出手段と、前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長を認識するレーザ波長認識手段と、前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、前記レーザ波長認識手段により認識されたレーザ波長が変化したことが認識されると、前記光量検出手段で検出される前記光量を増加させるように前記パルス幅調整手段による前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅の調整を制御する制御手段と、を具備したことを特徴としている。
【0019】
請求項5記載の発明は、レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、前記標本が発する光の光量を検出する光量検出手段と、前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長を指定する入力手段と、前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、前記入力手段により前記レーザ光源から発せられる前記極短パルスレーザビームの前記波長の指定が指定されると、前記光量検出手段で検出される前記光量を増加させるように前記パルス幅調整手段による前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅の調整を制御する制御手段と、を具備したことを特徴としている。
請求項6記載の発明は、レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長を指定する入力手段と、レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、前記入力手段により指定された前記レーザ波長に対応させた前記光学部材の前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、を具備したことを特徴としている。
【0020】
この結果、本発明によれば、極短パルスレーザの波長変更や対物レンズなどの光学部材の光路に対する挿脱による変更があっても、チャープコンペンセーションが適切に調整され、常に標本面でのレーザパルス幅が最短になるように極短パルスレーザのパルス幅の調整が制御されるので、最適な条件での観察を行うことができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に従い説明する。
【0022】
(第1の実施の形態)
図1は、本発明が適用される走査型の多光子励起のレーザ顕微鏡の概略構成を示している。図において、1は極短パルスレーザビームを発生する極短パルスレーザ光源1で、極短パルスレーザ光源1から出射した極短パルスレーザビームは、コリメートレンズ2で平行ビームに整形され、後述するプレチャープコンペンセーション調整装置14を介してスキャナユニット3へ入射し、ガルバノミラー5で2次元に振られて投影レンズ8を透過して顕微鏡本体9へ入射される。顕微鏡本体9に入射したレーザビームは、偏向部材10で顕微鏡光軸へ偏向され、結像レンズ11、対物レンズ12を通って標本13に結像する。
【0023】
標本13では対物レンズ12の焦点で多光子励起現像が起こり蛍光を発する。この蛍光は、再び対物レンズ12に取込まれ、結像レンズ11、投影レンズ8を通った後、ガルバノミラー5で固定ビームに戻され、さらにダイクロイックミラー4でレーザビームと分離され、投影レンズ6により受光素子であるフォトマルチプライヤ7に投影され受光され、図示しないコンピュータで処理され画像として構築される。
【0024】
この場合、顕微鏡本体9の対物レンズ12は、倍率の異なる複数の対物レンズ12a〜12cからなり、これら対物レンズ12a〜12cは、レボルバ15に設けられ、選択的に光路上に切換え可能になっている。また、結像レンズ11と対物レンズ12との間の光路には、微分干渉プリズム16が挿脱可能に設けられている。
【0025】
対物レンズ12a〜12cには、それぞれフラグ17a〜17cが設けられ、レボルバ15には、フラグ17a〜17cを検知することで、光路中に位置される対物レンズ12a〜12cを認識するセンサ18が設けられている。また、微分干渉プリズム16にもフラグ19が設けられ、顕微鏡本体9には、フラグ19を検知することで、微分干渉プリズム16が光路中に位置されることを認識するセンサ20が設けられている。
【0026】
そして、これらセンサ18および20は、コントローラ21に接続されている。コントローラ21には、記憶装置22およびプレチャープコンペンセーション調整装置14が接続されている。
【0027】
記憶装置22は、極短パルスレーザ光源1のパルスレーザビームの波長に対する対物レンズ12a〜12cおよび微分干渉プリズム16のそれぞれのチャープ量を記憶したものである。
【0028】
コントローラ21は、センサ18および20の検知出力から光路中の対物レンズ12a〜12cの種類および微分干渉プリズム16の有無を認識し、この認識結果に基づいて記憶装置22から対応する対物レンズ12a〜12cおよび微分干渉プリズム16のチャープ量を読み出すとともに、補正すべきチャープ量を求め、プレチャープコンペンセーション調整装置14に出力するようにしている。
【0029】
プレチャープコンペンセーション調整装置14は、公知の技術であるプリズムペア若しくはグレーティングペア、又はこれらの組合せからなり、これらを駆動装置141により駆動することで、チャープ量を調整可能にしたもので、予め光路上に位置される固定光学部材、ここでは、ダイクロイックミラー4、投影レンズ8および結像レンズ11などのチャープ量を初期調整量として設定していて、この初期調整量に対してコントローラ21より与えられる補正すべきチャープ量だけ駆動装置141によりプレチャープコンペンセーションを調整し、極短パルスレーザビームのパルス幅の広がりを調整するようにしている。
【0030】
このような構成において、極短パルスレーザ光源1から極短パルスレーザビームが出射すると、上述したと同様にして対物レンズ12を通って標本13に結像され、対物レンズ12の焦点で多光子励起現像が起こり蛍光が発せられ、この蛍光は、再び対物レンズ12に取込まれ、ダイクロイックミラー4、投影レンズ6を介してフォトマルチプライヤ7で受光され、コンピュータにより構築された画像から標本13の観察が行われる。
【0031】
この状態から、観察条件を変更するため、レボルバ15により光路上に位置される対物レンズ12a〜12cを切換え、図示するように対物レンズ12bを光路上に位置させ、同時に、微分干渉プリズム16を光路上に挿入したとすると、対物レンズ12bは、センサ18により認識され、微分干渉プリズム16は、センサ20により認識され、これらの検知出力は、コントローラ21に送られる。
【0032】
コントローラ21では、センサ18および19の検知出力から、対物レンズ12bと微分干渉プリズム16を認識し、記憶装置22から対応する対物レンズ12bおよび微分干渉プリズム16のチャープ量を読み出すとともに、補正すべきチャープ量を求め、この補正情報をプレチャープコンペンセーション調整装置14に出力する。
【0033】
これにより、プレチャープコンペンセーション調整装置14では、予め設定されている初期調整量に対して補正すべきチャープ量だけ駆動装置141によりプレチャープコンペンセーションを調整し、極短パルスレーザビームのパルス幅の広がりを調整するようになり、標本13上におけるパルスレーザビームのパルス幅は、短くなるように、望ましくは最短に調整される。
【0034】
従って、このようにすれば、対物レンズ12a〜12cの選択的な光路上への切換え、微分干渉プリズム16の光路上への挿脱に応じて、これらのチャープ量の変化が自動的に補正され、チャープコンペンセーションが適切に調整されるようになるので、常に標本13上のレーザビームパルス幅を短く、望ましくは最短に保つことができ、最適な条件での観察を行うことができる。
【0035】
(第2の実施の形態)
図2は本発明の第2の実施の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には、同符号を付している。
【0036】
この場合、極短パルスレーザ光源31は、波長変更機構32を有していて、極短パルスレーザビームの波長を任意に可変できる構成になっていて、観察に使用する蛍光色素の吸収波長に合わせて波長を変更して極短パルスレーザビームを発振するようになっている。
【0037】
極短パルスレーザ光源31より発振された極短パルスレーザビームの光路の途中にはミラー33が配置され、極短パルスレーザビームの一部を分岐して、スペクトラムアナライザヘッド34を介して波長認識手段であるスペクトラムアナライザ35に入射するようにしている。このスペクトラムアナライザ35は、極短パルスレーザ光源31より発振される極短パルスレーザビームの波長を認識するものである。
【0038】
記憶装置22は、光路中に位置される各光学部材、図示例ではダイクロイックミラー4、投影レンズ8、結像レンズ11、対物レンズ12などの分散データを記憶している。コントローラ21は、スペクトラムアナライザ35で認識された極短パルスレーザビームの波長と記憶装置22に記憶された各光学部材の分散データからチャープ量を演算により求め、プレチャープコンペンセーション調整装置14に出力する。そして、プレチャープコンペンセーション調整装置14は、あらかじめ基準となる極短パルスレーザの波長に対する光路上の各光学部材のチャープ量を初期調整値として設定していて、この初期調整量とコントローラ21より与えられるチャープ量の差分を求め、この差分だけ駆動装置141によりプレチャープコンペンセーションを調整して、極短パルスレーザビームのパルス幅の広がりを調整する。
【0039】
従って、このようにすれば、極短パルスレーザ光源31の極短パルスレーザビームの波長を変更しても、チャープ量の変化が自動的に補正され、チャープコンペンセーションが適切に調整されるようになるので、常に標本13上のレーザのパルス幅を短く、望ましくは最短に保つことができ、最適な条件での観察を行うことができる。
【0040】
(第3の実施の形態)
図3は、本発明の第3の実施の形態の概略構成を示すもので、図1および図2と同一部分には、同符号を付している。
【0041】
この場合、第1の実施の形態で述べたと同様に複数の対物レンズ12a〜12cがレボルバ15に切換え可能に設けられ、また、微分干渉プリズム16が光路に対して挿脱可能に設けられている。さらに対物レンズ12a〜12cには、それぞれフラグ17a〜17cが設けられ、レボルバ15には、フラグ17a〜17cを検知するセンサ18が設けられ、各対物レンズ12a〜12cの切換えを検知可能にしている。また、微分干渉プリズム16にはフラグ19が設けられ、顕微鏡本体9には、フラグ19を検知するセンサ20が設けられ、微分干渉プリズム16の光路に対する挿脱を検知可能にしている。
【0042】
一方、第2の実施の形態で述べたと同様に極短パルスレーザ光源31は、波長変更機構32により波長変更可能になっており、この波長を変更されたパルスレーザビームの一部ははミラー33を介してスペクトラムアナライザヘッド34に入射され、スペクトラムアナライザ35で波長が認識される。
【0043】
記憶装置22は、対物レンズ12a〜12c、微分干渉プリズム16などの分散データを記憶している。コントローラ21は、スペクトラムアナライザ35で認識された極短パルスレーザビームの波長と、光路上に位置される対物レンズ12a〜12cおよび微分干渉プリズム16に対応して記憶装置22に記憶された分散データからチャープ量を演算により求め、補正情報としてプレチャープコンペンセーション調整装置14に出力する。そして、プレチャープコンペンセーション調整装置14は、あらかじめ基準となる極短パルスレーザビームの波長に対する光路上の固定光学部材のチャープ量を初期調整値として設定していて、この初期調整量に対して補正すべきチャープ量だけ駆動装置141によりプレチャープコンペンセーションを調整し、極短パルスレーザビームのパルス幅の広がりを調整する。
【0044】
従って、このようにすれば、光路に対する対物レンズ12a〜12cの切換え、微分干渉プリズム16の挿脱、さらには極短パルスレーザ光源31の極短パルスレーザビームの波長を変更に対しても、チャープ量が自動的に補正され、チャープコンペンセーションが適切に調整されるようになるので、常に標本13上のレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短に保つことができ、最適な条件での観察を行うことができる。
【0045】
(第4の実施の形態)
図4は、本発明の第4の実施の形態の概略構成を示すもので、図3と同一部分には、同符号を付している。
【0046】
この場合、複数の対物レンズ12a〜12cは、モータ36を有する電動レボルバ37に保持され、また微分干渉プリズム16もモータ38により挿脱可能に設けられている。さらに極短パルスレーザ光源31は、電動の波長変更機構32を備えている。
【0047】
これらモータ36、38および波長変更機構32は、コントローラ21に接続され、入力手段としての操作装置39にてリモートコントロールができるよう構成されている。この場合、操作装置39に入力された光学部材の指定情報及び、レーザ波長の指定情報は、コントローラ21を介してそれぞれのモータ36、38を駆動させるとともに、波長変更機構32を制御する。
【0048】
記憶装置22は、対物レンズ12a〜12c、微分干渉プリズム16などの分散データを記憶している。コントローラ21は、操作装置39からの光学部材の指定情報およびレーザ波長の指定情報に基づいて、極短パルスレーザビームの波長に対応して記憶装置22に記憶された分散データと対物レンズ12a〜12cおよび微分干渉プリズム16に対応して記憶装置22に記憶された分散データからチャープ量を演算により求め、補正情報としてプレチャープコンペンセーション調整装置14に出力する。プレチャープコンペンセーション調整装置14は、あらかじめ基準となる極短パルスレーザビームの波長に対する光路上の固定光学部材のチャープ量を初期調整値として設定していて、この初期調整量に対して補正すべきチャープ量だけ駆動装置141によりプレチャープコンペンセーションを調整し、極短パルスレーザビームのパルス幅の広がりを調整する。
【0049】
従って、このようにすれば、光路に対する対物レンズ12a〜12cの切換え、微分干渉プリズム16の挿脱、さらには極短パルスレーザ光源31の極短パルスレーザビームの波長を変更を、外部の操作装置39によりリモートで操作できるとともに、このリモート操作により生じたチャープ量の変化が自動的に補正され、チャープコンペンセーションが適切に調整されるようになるので、常に標本13上のレーザビームパルス幅を短く、望ましくは最短に保つことができ、最適な条件での観察を行うことができる。
【0050】
(第5の実施の形態)
図5は、本発明の第5の実施の形態の概略構成を示すもので、図1と同一部分には、同符号を付している。
【0051】
この場合、複数の対物レンズ12a〜12cがレボルバ15に切換え可能に設けられ、また、微分干渉プリズム16が光路に対して挿脱可能に設けられている。さらにレボルバ15には、対物レンズ取付け部に対応する位置に、それぞれフラグ40a〜40cが設けられ、レボルバ15には、フラグ40a〜40cを検知するセンサ18が設けられ、レボルバ15の回転操作、つまり各対物レンズ12a〜12cの切換えを検知可能にしている。また、微分干渉プリズム16にフラグ19が設けられ、顕微鏡本体9には、フラグ19を検知するセンサ20が設けられ、微分干渉プリズム16の光路に対する挿脱を検知可能にしている。
【0052】
コントローラ21は、センサ18によりレボルバ15による対物レンズ12a〜12cの切換え、またはセンサ20により微分干渉プリズム16の光路に対する挿脱を検知すると、操作されたことを記憶しておき、その次に画像取得が実行されたときに、フォトマルチプライヤ7の出力を監視しながらプレチャープコンペンセーション調整装置14の駆動装置141を駆動させ、フォトマルチプライヤ7の出力が増加する位置、望ましくは最大になる位置を探し、そこで駆動機構141を停止させる。つまり、フォトマルチプライヤ7の出力が大きくなるところがチャープ量の補正が最適であり、標本13上のパルス幅が短く、望ましくは最短になっている。
【0053】
従って、このようにすれば、光路に対する対物レンズ12a〜12cの切換え、微分干渉プリズム16の挿脱に対して、チャープ量が自動的に補正され、常に標本13上のレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短に保つことができるので、最適な条件での観察を行うことができる。
【0054】
(第6の実施の形態)
図6は、本発明の第6の実施の形態の概略構成を示すもので、図5と同一部分には、同符号を付している。
【0055】
この場合、複数の対物レンズ12a〜12cは、モータ36を有する電動レボルバ37に保持され、また微分干渉プリズム16もモータ38により挿脱可能に設けられている。これらモータ36、38は、コントローラ21に接続され、操作装置39にてリモートコントロールができるよう構成されている。
【0056】
コントローラ21は、電動レボルバ37による対物レンズ12a〜12cの切換え指示または微分干渉プリズム16の挿脱指示が操作装置39より入力されると、操作されたことを記憶しておき、その次に画像取得動作が実行されたときに、フォトマルチプライヤ7の出力を監視しながらプレチャープコンペンセーション調整装置14の駆動装置141を駆動させ、フォトマルチプライヤ7の出力が大きく、望ましくは最大になる位置を探し、そこで駆動機構114を停止させる。つまり、フォトマルチプライヤ7の出力が大きく、望ましくは最大になるところで、チャープ量の補正が最適で、標本13上のパルス幅が短く、望ましくは最短になっている。
【0057】
従って、このようにすれば光路に対する対物レンズ12a〜12cの切換え、微分干渉プリズム16の挿脱を、外部の操作装置39によりリモートで操作できるとともに、このリモート操作により生じたチャープ量の変化が自動的に補正され、常に標本13上のレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短に保つことができるので、最適な条件での観察を行うことができる。
【0058】
なお、上述した実施の形態では、挿脱及び又は交換可能な光学部材として対物レンズ12と微分干渉プリズム16について述べたが、これに限定されるものでなく、その他のレンズ、ミラー、プリズム等の光学部材においても同様に適用できる。また、プレチャープコンペンセーションの手法は図示例で述べたプリズムペアに限定されるものでなく、グレーティングペアあるいはこれらの組合せによる手法においても同様である。また、波長を可変可能にした極短パルスレーザ光源31は、1台のみで連続的に波長を可変できるものに限られず、複数のレーザをコンバイナにてコントロールするシステムにおいてレーザを切り換えて使用する装置も同様に適用できる。また、レーザ顕微鏡は多光子励起現象で発生する蛍光を観察するタイプの走査型のレーザ蛍光顕微鏡に限定されるものでなく、パルスピークでの高エネルギーを利用して標本の微細加工を行なうレーザ顕微鏡についても同様に適用できる。また、本発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の本質を逸脱しない範囲で、種々変更可能であり、例えば、実施の形態を夫々組み合わせることも可能である。
【0059】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、標本位置でのレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短にする最適なパルス幅調整を行うことができ、最適な条件下での観察を行うことができるレーザ顕微鏡を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概略構成を示す図。
【図2】本発明の第2の実施の形態の概略構成を示す図。
【図3】本発明の第3の実施の形態の概略構成を示す図。
【図4】本発明の第4の実施の形態の概略構成を示す図。
【図5】本発明の第5の実施の形態の概略構成を示す図。
【図6】本発明の第6の実施の形態の概略構成を示す図。
【符号の説明】
1、31…極短パルスレーザ光源
2…コリメートレンズ
3…スキャナユニット
4…ダイクロイックミラー
5…ガルバノミラー
6…投影レンズ
7…フォトマルチプライヤ
8…投影レンズ
9…顕微鏡本体
10…偏向部材
11…結像レンズ
12a〜12c…対物レンズ
13…標本
14…プレチャープコンペンセーション調整装置
15…レボルバ
16…微分干渉プリズム
17a〜17c、19、40a〜40c…フラグ
18、20…センサ
21…コントローラ
22…記憶装置
32…波長変更機構
33…ミラー
34…スペクトラムアナライザヘッド
35…スペクトラムアナライザ
36、38…モータ
37…電動レボルバ
39…操作装置
Claims (6)
- レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、
前記レーザ光源から発せられる前記極短パルスレーザビームの波長を認識するレーザ波長認識手段と、
レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、
前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、
前記レーザ波長認識手段により認識された前記レーザ波長に対応する前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、
を具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。 - レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光路に対して挿脱可能な光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、
前記レーザ光源から発せられる前記極短パルスレーザビームの波長を認識するレーザ波長認識手段と、
前記光路に挿入された前記光学部材の種類を認識する光学部材認識手段と、
レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、
前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、
前記レーザ波長認識手段により認識された前記レーザ波長と前記光学部材認識手段により認識された前記光学部材とに対応する前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、
を具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。 - レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光路に対して挿脱可能な光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、
前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長および前記光路に挿入する前記光学部材の種類を指定する入力手段と、
レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、
前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、
前記入力手段により指定された前記レーザ波長および前記光学部材に対応する前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、
を具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。 - レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、
前記標本が発する光の光量を検出する光量検出手段と、
前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長を認識するレーザ波長認識手段と、
前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、
前記レーザ波長認識手段により認識されたレーザ波長が変化したことが認識されると、前記光量検出手段で検出される前記光量を増加させるように前記パルス幅調整手段による前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅の調整を制御する制御手段と、
を具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。 - レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、
前記標本が発する光の光量を検出する光量検出手段と、
前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長を指定する入力手段と、
前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、
前記入力手段により前記レーザ光源から発せられる前記極短パルスレーザビームの前記波長の指定が指定されると、前記光量検出手段で検出される前記光量を増加させるように前記パルス幅調整手段による前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅の調整を制御する制御手段と、
を具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。 - レーザ光源から発せられる波長変更可能な極短パルスレーザビームを、光学部材を介して標本に照射するレーザ顕微鏡において、
前記レーザ光源から発せられる極短パルスレーザビームの波長を指定する入力手段と、
レーザ波長に対応させた前記光学部材の分散データを記憶した記憶手段と、
前記極短パルスレーザビームのパルス幅を調整するパルス幅調整手段と、
前記入力手段により指定された前記レーザ波長に対応させた前記光学部材の前記分散データを前記記憶手段から読み込み、読み込んだ該分散データに基づいてチャープ量を求め、該チャープ量により前記標本面での前記極短パルスレーザビームの前記パルス幅が短くなる方向に前記パルス幅調整手段による該極短パルスレーザビームの該パルス幅の調整を制御する制御手段と、
を具備したことを特徴とするレーザ顕微鏡。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000301443A JP4693972B2 (ja) | 2000-09-29 | 2000-09-29 | レーザ顕微鏡 |
US09/966,922 US6697196B2 (en) | 2000-09-29 | 2001-09-28 | Laser microscope and laser pulse width control method |
US10/744,433 US6943944B2 (en) | 2000-09-29 | 2003-12-22 | Laser microscope and laser pulse width control method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000301443A JP4693972B2 (ja) | 2000-09-29 | 2000-09-29 | レーザ顕微鏡 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002107635A JP2002107635A (ja) | 2002-04-10 |
JP2002107635A5 JP2002107635A5 (ja) | 2007-12-06 |
JP4693972B2 true JP4693972B2 (ja) | 2011-06-01 |
Family
ID=18782980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000301443A Expired - Fee Related JP4693972B2 (ja) | 2000-09-29 | 2000-09-29 | レーザ顕微鏡 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6697196B2 (ja) |
JP (1) | JP4693972B2 (ja) |
Families Citing this family (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7609731B2 (en) * | 2001-01-30 | 2009-10-27 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | Laser system using ultra-short laser pulses |
US8208505B2 (en) * | 2001-01-30 | 2012-06-26 | Board Of Trustees Of Michigan State University | Laser system employing harmonic generation |
US7973936B2 (en) * | 2001-01-30 | 2011-07-05 | Board Of Trustees Of Michigan State University | Control system and apparatus for use with ultra-fast laser |
AU2002245345A1 (en) | 2001-01-30 | 2002-08-12 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | Control system and apparatus for use with laser excitation or ionization |
US7450618B2 (en) * | 2001-01-30 | 2008-11-11 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | Laser system using ultrashort laser pulses |
US7567596B2 (en) * | 2001-01-30 | 2009-07-28 | Board Of Trustees Of Michigan State University | Control system and apparatus for use with ultra-fast laser |
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JP4729269B2 (ja) * | 2004-06-01 | 2011-07-20 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
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JP5307439B2 (ja) * | 2007-04-23 | 2013-10-02 | オリンパス株式会社 | レーザ顕微鏡 |
JP4994940B2 (ja) * | 2007-05-09 | 2012-08-08 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
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JP4406108B2 (ja) * | 1998-03-11 | 2010-01-27 | オリンパス株式会社 | 多光子励起レーザ顕微鏡 |
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-
2000
- 2000-09-29 JP JP2000301443A patent/JP4693972B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-09-28 US US09/966,922 patent/US6697196B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-12-22 US US10/744,433 patent/US6943944B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6943944B2 (en) | 2005-09-13 |
US20040136060A1 (en) | 2004-07-15 |
US6697196B2 (en) | 2004-02-24 |
US20020080477A1 (en) | 2002-06-27 |
JP2002107635A (ja) | 2002-04-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070926 |
|
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110223 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140304 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4693972 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |